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TWI449995B - 顯示裝置 - Google Patents

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TWI449995B
TWI449995B TW101117413A TW101117413A TWI449995B TW I449995 B TWI449995 B TW I449995B TW 101117413 A TW101117413 A TW 101117413A TW 101117413 A TW101117413 A TW 101117413A TW I449995 B TWI449995 B TW I449995B
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sided tape
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wafers
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TW101117413A
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TW201341896A (zh
Inventor
Xiangchong Chen
Tung Shin Lin
Yuntao Guo
Cheng Min Tsai
Shihping Lin
Original Assignee
Au Optronics Suzhou Corp Ltd
Au Optronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Au Optronics Suzhou Corp Ltd, Au Optronics Corp filed Critical Au Optronics Suzhou Corp Ltd
Publication of TW201341896A publication Critical patent/TW201341896A/zh
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Description

顯示裝置
本發明是有關於一種顯示裝置。
近年來，由於電子、資訊工業的迅速發展，其相關之產品亦日益精密。就目前個人電腦領域觀之，除了尋求更高速、運算能力更強之計算功能之運算單元和各式各樣週邊設備之配合來滿足使用者需求外，針對輕薄短小之可攜式電腦亦為業界發展之重點領域。以液晶顯示器為例，其具有高畫質、體積小、重量輕、低電壓驅動、低消耗功率及應用範圍廣等優點，故廣泛地應用於可攜式電視、行動電話、攝錄放影機、筆記型電腦、桌上型顯示器等消費性電子產品中，成為顯示器的主流。
隨著人們對顯示裝置的厚度要求有越來越薄的趨勢，因此顯示裝置內的各主要元件(例如，面板模組、背光模組…等)也必須越做越薄。為滿足這項要求，亦有考量直接將液晶顯示器內部各元件盡可能做的更薄。舉例來說，現有採用超視角高清晰(Advanced Hyper-Viewing Angle,AHVA)顯示技術的平面內切換(In Plane Switching,IPS)液晶顯示器逐漸採用薄型的玻璃基板(厚度未達0.5mm)的機型。
在顯示裝置的玻璃覆晶構裝(Chip-On-Glass,COG)製程中，為了使背光模組的框架與面板模組的玻璃基板相互固定，背光模組的框架與面板模組的玻璃基板之間通常會 以整條雙面膠帶黏固。整條雙面膠帶黏固於玻璃基板的位置與晶片設置於玻璃基板上的位置分別位於玻璃基板的兩相對側，且相互對齊。
然而，厚度較薄的玻璃基板因為其結構較弱，容易因為其本身重量或玻璃覆晶構裝製程中雙面膠帶的黏附力等因素而受到局部的應力影響，且玻璃基板與晶片具有不同的脹縮係數，造成玻璃基板撓曲，進而使玻璃基板上對應於晶片的左上角或右上角的位置產生漏光現象，導致顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊(亦即，COG mura)。此外，以此種玻璃基板構成的顯示裝置在遇到不預期的衝擊時，也會造成端部破裂、缺口或發生玻璃基板整體斷裂的情形。雖亦有考量使用樹脂製的薄膜來代替玻璃基板的方案，然因受限於成膜溫度等的限制，實用上並不可行。
因此，發展出可降低玻璃基板的撓曲程度的組裝技術，是此業界必須刻不容緩投入探討與研究的課題。
為解決習知技術的問題，本發明的一技術樣態是一種顯示裝置，其主要係於背光模組的框架的承載面上貼附分段式的雙面膠帶。並且，在面板模組的薄膜電晶體陣列基板固定至框架時，本發明係使雙面膠帶對齊薄膜電晶體陣列基板上的晶片之間的間隔(亦即，取消正對晶片位置的雙面膠帶)，藉以有效改善薄膜電晶體陣列基板上對應於晶片的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並盡可能避 免顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。
根據本發明一實施方式，一種顯示裝置包含背光模組、面板模組及複數個雙面膠帶。背光模組包含框架。框架具有承載面。面板模組包含玻璃基板及複數個晶片。玻璃基板設置於承載面上。玻璃基板的側邊具有接合區。晶片設置於接合區之上。晶片與承載面分別位於玻璃基板的兩相對側。雙面膠帶設置於承載面與接合區之間。每一雙面膠帶對齊兩相鄰晶片之間的間隔。
於本發明的一實施例中，上述的每一雙面膠帶不與晶片於承載面上的垂直投影面重疊。於本發明的一實施例中，上述的晶片沿排列方向進行排列。每一雙面膠帶於排列方向上的長度為對應之間隔於排列方向上的寬度的1/4~1倍。
於本發明的一實施例中，上述的每一雙面膠帶於排列方向上的長度為對應之間隔於排列方向上的寬度的1/2~3/4倍。
於本發明的一實施例中，上述的每一雙面膠帶與兩相鄰晶片於承載面上的垂直投影面部分地重疊。於本發明的一實施例中，上述的晶片沿排列方向進行排列。每一雙面膠帶具有兩重疊部，分別對應兩相鄰晶片。每一重疊部於排列方向上的長度小於對應之晶片於排列方向上的長度的1/3倍~1/6倍。
於本發明的一實施例中，上述的每一重疊部於排列方向上的長度為對應之晶片於排列方向上的長度的1/6倍。
於本發明的一實施例中，上述的玻璃基板為薄膜電晶 體陣列基板。
以下將以圖式揭露本發明的複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示。
本發明的一技術態樣是一種顯示裝置。更具體地說，其主要係於背光模組的框架的承載面上貼附分段式的雙面膠帶。並且，在面板模組的薄膜電晶體陣列基板固定至框架時，本發明係使雙面膠帶對齊薄膜電晶體陣列基板上的晶片之間的間隔，藉以有效改善薄膜電晶體陣列基板上對應於晶片的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並盡可能避免顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。此外，上述漏光現象與分段式的雙面膠帶的長度有關。利用判別亮度不均勻的區塊之規格尺度並將其量化得到一JND(Just Noticeable Differences，臨界可視失真)值，未檢測到亮度不均勻的區塊者的JND值係小於1.8，依照檢測到亮度不均勻的區塊之程度的加重，JND值逐步遞增。本發明藉由將雙面膠帶的長度適當地縮減的作法，可有效降低JND值，且在面板模組的各個製程所測得之JND值的增量值亦會降低。
請參照第1圖。第1圖為繪示依照本發明一實施例的 顯示裝置1的剖面示意圖。
應用本發明的顯示裝置1的電子裝置可以是可攜式電腦裝置(例如，筆記型電腦、平板電腦…等)或是手持式電子裝置(例如，PDA、手機、遊戲機…等)，但並不以此為限。換言之，應用本發明的顯示裝置1的電子裝置可以是任何具有顯示功能的電子產品，只要對於降低其玻璃基板的撓曲程度以減輕漏光現象有需求，皆可應用本發明的概念導入顯示裝置1的設計中。以下將進行本發明的實施例的詳述。
如第1圖所示，於本實施例中，本發明的顯示裝置1主要包含有背光模組10以及面板模組12。顯示裝置1的背光模組10至少包含發光源100、導光板102、反射片104、電路板106、擴散片108、稜鏡層110、光學膜片112、背板114以及框架116。背光模組10的框架116以其外緣組合至背板114的內壁。背光模組10的框架116的邊緣承載於背板114上，並且背板114環繞於面板模組12外。背光模組10的反射片104承載於背板114上，並且背光模組10的導光板102設置於反射片104上。背光模組10的發光源100設置於背板114上並鄰近反射片104的側邊。
於本實施例中，背光模組10的發光源100為發光二極體(LED)，但並不以此為限。於另一實施例中，背光模組10的發光源100亦可為冷陰極管(Cold Cathode Fluorescent Lamp,CCFL)。背光模組10的電路板106與發光源100電性連接，並藉由背膠106a貼合於導光板102上。於一實施例中，背光模組10的電路板106可為軟性電路板，但並不 限於此。背光模組10的擴散片108、稜鏡層110以及光學膜片112依序設置於導光板102上，但本發明不以此為限，亦可任意增加或減少光學膜片。
顯示裝置1的面板模組12的邊緣承載於框架116上。顯示裝置1的面板模組12包含薄膜電晶體陣列基板120、彩色濾光片陣列基板122、上偏光片124以及下偏光片126。面板模組12的薄膜電晶體陣列基板120與彩色濾光片陣列基板122可由玻璃基板所製成。面板模組12的彩色濾光片陣列基板122與薄膜電晶體陣列基板120相互黏合。面板模組12的上偏光片124黏合至彩色濾光片陣列基板122上方。面板模組12的下偏光片126黏合至薄膜電晶體陣列基板120的下方。藉此，背光模組10的發光源100即可發射光線進入導光板102，並受反射片104反射以依序通過擴散片108、稜鏡層110、光學膜片112、下偏光片126、薄膜電晶體陣列基板120、彩色濾光片陣列基板122以及上偏光片124而離開面板模組12，進而可達到供使用者觀賞的功能。
如第1圖所示，於本實施例中，背光模組10的框架116具有承載面116a。面板模組12的薄膜電晶體陣列基板120設置於框架116的承載面116a上。薄膜電晶體陣列基板120的側邊具有接合區120a。於本實施例中，上述的接合區120a即為薄膜電晶體陣列基板120由彩色濾光片陣列基板122下方側向地朝向顯示裝置1的邊緣延伸而出的部份。顯示裝置1的面板模組12還包含複數個晶片128(第1圖中僅繪示一個)。面板模組12的晶片128設置於薄膜電 晶體陣列基板120的接合區120a之上。面板模組12的晶片128與框架116的承載面116a分別位於薄膜電晶體陣列基板120的兩相對側。顯示裝置1進一步包含雙面膠帶14。顯示裝置1的雙面膠帶14設置於框架116的承載面116a與薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a之間，用以使兩者相互貼合。
請參照第2A圖以及第2B圖。第2A圖為繪示第1圖中的薄膜電晶體陣列基板120與彩色濾光片陣列基板122的局部立體圖。第2B圖為繪示第2A圖中的薄膜電晶體陣列基板120與彩色濾光片陣列基板122的上視圖。
如第2A圖與第2B圖所示，於本實施例中，在面板模組12進行晶片128設置至薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a之上的模組前段(JIZOKU,JI)製程之後，兩者之間的受到局部應力影響，且薄膜電晶體陣列基板120與晶片128具有不同的脹縮係數，容易造成薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a撓曲，而並使薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a上對應於晶片128的左上角或右上角的位置(如第2B圖中虛線圓圈所示的區域)產生漏光現象，導致顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。並且，在面板模組12的薄膜電晶體陣列基板120設置於框架116的承載面116a上，並使得接合區120a與承載面116a上的雙面膠帶14貼合之後，接合區120a上對應於晶片128的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象會更嚴重，導致顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊往往會更加劇。
請參照第3圖。第3圖為繪示第1圖中的框架116、薄膜電晶體陣列基板120與彩色濾光片陣列基板122的立體分解圖。
如第3圖所示，為了改善上述的漏光現象，顯示裝置1進一步包含複數個雙面膠帶14。顯示裝置1的雙面膠帶14設置於框架116的承載面116a與薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a之間。顯示裝置1的每一雙面膠帶14隔著薄膜電晶體陣列基板120對齊兩相鄰晶片128之間的間隔G。換言之，本發明的顯示裝置1係採用了於背光模組10的框架116的承載面116a上貼附分段式的雙面膠帶14的作法，並使每一雙面膠帶14隔著薄膜電晶體陣列基板120對齊兩相鄰晶片128之間的間隔G，亦即，取消正對晶片128位置的雙面膠帶14。
請參照第4圖。第4圖為量測接合區120a分別採用分段雙面膠帶14與整條雙面膠帶於面板模組12與背光模組10組裝的不同製程階段中量化顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊之JND值對比圖。
如第4圖所示，此圖係於面板模組12與背光模組10組裝的不同製程階段(亦即，JI製程階段、面板模組12與背光模組10組裝階段以及顯示裝置1的完成品階段)分別以30組接合區120a採用分段雙面膠帶14以及30組接合區120a採用整條雙面膠帶所測量出顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊的JND值之平均值所製成的統計圖。由第4圖可以清楚地看出，在面板模組12與背光模組10組裝階段時，局部應力加劇而使得薄膜電晶體陣列基板 120的接合區120a可能產生撓曲現象，而採用本發明所提出的分段雙面膠帶14所測量出的JND值明顯的比習知採用整條雙面膠帶所測量出的JND值降低許多。同樣地，在顯示裝置1的完成品階段，薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a採用本發明所提出的分段雙面膠帶14所測量出的JND值也比習知採用整條雙面膠帶所測量出的JND值降低許多。由此可知，本發明的顯示裝置1採用於背光模組10的框架116的承載面116a上貼附分段式的雙面膠帶14的作法，確實可以有效地抑制薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a的撓曲現象，並可減輕接合區120a上對應於晶片128的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並有效避免顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。
請參照第5圖。第5圖為繪示接合區120a分別採用分段雙面膠帶14與整條雙面膠帶進行黏合後測量接合區120a於不同位置的翹曲度曲線圖。
如第5圖所示，曲線W1為接合區120a採用整條雙面膠帶進行黏合至框架116的承載面116a所測量出的翹曲度曲線(第5圖中的實線)，曲線W2為接合區120a採用本發明所提出的分段雙面膠帶14進行黏合至框架116的承載面116a所測量出的翹曲度曲線(第5圖中的虛線)。由第5圖可以清楚地看出，本發明的顯示裝置1採用於背光模組10的框架116的承載面116a上貼附分段式的雙面膠帶14的作法，確實可以有效地抑制薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a的翹曲程度，特別是接合區120a上對應於晶片 128之間的間隔G處的區域，亦即，第5圖中箭頭所指的區域。
此外，上述漏光現象與分段式的雙面膠帶14的長度有關，因此本發明將雙面膠帶14的長度適當地縮減，進而有效避免顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊的產生，而達到降低JND值的效果。以下將進一步詳述本發明的各實施例。
請參照第6A圖以及第6B圖。第6A圖為繪示依照本發明一實施例的框架116與接合區120a的局部立體分解圖。第6B圖為繪示第6A圖中的框架116與接合區120a的側視圖。
如第2圖、第6A圖與第6B圖所示，於本實施例中，顯示裝置1的每一不同長度的雙面膠帶14不與兩相鄰晶片128於承載面116a上的垂直投影面重疊。於本實施例中，面板模組12的晶片128沿排列方向D進行排列。晶片128之間的間隔G於排列方向D上的寬度以B表示。本發明為了嘗試將雙面膠帶14的長度適當地縮減以避免顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊的產生，而達到有效降低JND值，進行了以下實驗。
請參照第7圖。第7圖為繪示接合區120a分別採用不與兩相鄰晶片128於承載面116a上的垂直投影面重疊的不同長度的雙面膠帶14於面板模組12與背光模組10組裝的不同製程階段量化顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊之JND值對比圖。
如第7圖所示，此圖係於面板模組12與背光模組10 組裝的不同製程階段(亦即，JI製程階段、面板模組12與背光模組10組裝階段以及顯示裝置1的完成品階段)分別以20組接合區120a採用不與兩相鄰晶片128於承載面116a上的垂直投影面重疊的不同長度的雙面膠帶14(亦即，雙面膠帶14於排列方向D上的長度縮減為對應之間隔G於排列方向D上的寬度B的1/4倍、1/2倍、3/4倍以及1倍)所測量出顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊的JND值之平均值所製成的統計圖。在第4圖與第7圖的比對之下，可以清楚地看出，在面板模組12與背光模組10組裝階段時，局部應力加劇而使得薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a可能產生撓曲現象，而採用本發明所提出的不同長度的雙面膠帶14所測量出的JND值的平均值大體上皆低於2.3(如第7圖所示)，而習知採用整條雙面膠帶所測量出的JND值的平均值大體上都高於2.3(如第4圖所示)。同樣地，在顯示裝置1的完成品階段，薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a採用本發明所提出的分段雙面膠帶14所測量出的JND值的平均值大體上皆低於2.4(如第7圖所示)，而習知採用整條雙面膠帶所測量出的JND值的平均值大體上都高於2.4(如第4圖所示)。
由此可知，於本實施例中，顯示裝置1的每一雙面膠帶14於排列方向D上的長度縮減為對應之間隔G於排列方向D上的寬度B的1/4~1倍時，相較於習知採用整條雙面膠帶的作法，確實可以有效降低JND值，而較佳降低JND值的雙面膠帶長度範圍為每一雙面膠帶14於排列方向D上的長度縮減為對應之間隔G於排列方向D上的寬度B的 1/2~3/4倍時。另將上述實驗數據製作成如下表一，將各階段製程所測量出的JND值之平均值與JI製程的JND值之平均值相減可得到一JND增量值，由此可知每一雙面膠帶14於排列方向D上的長度縮減為對應之間隔G於排列方向D上的寬度B的1/4~1倍時，相較於習知採用整條雙面膠帶的作法，JND增量值較低。因此，本發明藉由將雙面膠帶14的長度適當地縮減至上述的長度範圍內，可有效地抑制薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a的撓曲現象，並可減輕接合區120a上對應於晶片128的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並盡可能避免顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。
請參照第8A圖以及第8B圖。第8A圖為繪示依照本發明一實施例的框架116與接合區120a的局部立體分解圖。第8B圖為繪示第8A圖中的框架116與接合區120a的側視圖。
如第2圖、第8A圖與第8B圖所示，於本實施例中，顯示裝置1的每一不同長度的雙面膠帶14與兩相鄰晶片128於承載面116a上的垂直投影面部分地重疊。於本實施例中，面板模組12的晶片128沿排列方向D進行排列。顯示裝置1的每一雙面膠帶14具有兩重疊部140，分別對應兩相鄰晶片128。晶片128的長度以A表示。晶片128之間的間隔G於排列方向D上的寬度以B表示。本發明為了嘗試將雙面膠帶14的長度適當地縮減以有效的降低JND值，進行了以下實驗。
請參照第9圖。第9圖為繪示接合區120a分別採用與兩相鄰晶片128於承載面116a上的垂直投影面部分地重疊的不同長度的雙面膠帶14於面板模組12與背光模組10組裝的不同製程階段量化顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊之JND值對比圖。
如第9圖所示，此圖係於面板模組12與背光模組10組裝的不同製程階段(亦即，JI製程階段、面板模組12與 背光模組10組裝階段以及顯示裝置1的完成品階段)分別以20組接合區120a採用與兩相鄰晶片128於承載面116a上的垂直投影面部分地重疊的不同長度的雙面膠帶14(亦即，雙面膠帶14的重疊部140於排列方向D上的長度縮減為對應之晶片128於排列方向D上的長度A的1/3倍、1/6倍以及1倍)所測量出顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊的JND值之平均值所製成的統計圖。在第4圖與第9圖的比對之下，可以清楚地看出，在面板模組12與背光模組10組裝階段時，局部應力加劇而使得薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a可能產生撓曲現象，而採用本發明所提出的不同長度的雙面膠帶14所測量出的JND值的平均值大體上皆低於2.3(如第9圖所示)，而習知採用整條雙面膠帶所測量出的JND值的平均值大體上都高於2.3(如第4圖所示)。同樣地，在顯示裝置1的完成品階段，薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a採用本發明所提出的分段雙面膠帶14所測量出的JND值的平均值大體上皆低於2.4(如第9圖所示)，而習知採用整條雙面膠帶所測量出的JND值的平均值大體上都高於2.4(如第4圖所示)。
由此可知，於本實施例中，顯示裝置1的雙面膠帶14的每一重疊部140於排列方向D上的長度縮減為對應之晶片128於排列方向D上的長度A的1/3倍~1/6倍時，相較於習知採用整條雙面膠帶的作法，確實可以獲得較低的JND值。另將上述實驗數據製作成如下表二，將各階段製程所測量出的JND值與JI製程的JND值相減可得到一JND 增量值，可得到雙面膠帶14的每一重疊部140於排列方向D上的長度縮減為對應之晶片128於排列方向D上的長度A的1/3倍~1/6倍時，相較於習知採用整條雙面膠帶的作法，JND增量值較低。因此，本發明藉由將雙面膠帶14的長度適當地縮減至上述的長度範圍內，可有效地抑制薄膜電晶體陣列基板120的接合區120a的撓曲現象，並可減輕接合區120a上對應於晶片128的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並盡可能避免顯示裝置1在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。
由以上對於本發明的具體實施例的詳述，可以明顯地看出，本發明的顯示裝置主要係於背光模組的框架的承載面上貼附分段式的雙面膠帶。並且，在面板模組的薄膜電晶體陣列基板固定至框架時，本發明係使雙面膠帶對齊薄膜電晶體陣列基板上的晶片之間的間隔(亦即，取消正對晶片位置的雙面膠帶)，藉以有效改善薄膜電晶體陣列基板上對應於晶片的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並盡可能避免顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。進一步來說，上述薄膜電晶體陣列基板上對應於晶片的左上角或右上角的位置產生漏光現象，主要是因為在面板模組進行晶片設置至薄膜電晶體陣列基板的接合區之上的模組前段製程之後，兩者之間的局部應力使得薄膜電晶體陣列基板的接合區撓曲所造成，進而導致液晶受應力影響而改變旋轉方向而使顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。本發明將雙面膠帶設置於框架的承載面上並對齊薄膜電晶體陣列基板上的晶片之間的間隔的作法，由於可減小薄膜電晶體陣列基板翹曲程度，因此可減輕薄膜電晶體陣列基板上對應於晶片的左上角或右上角的位置所產生的漏光現象，並盡可能避免顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊。此外，上述所產生亮度不均勻的區塊與分段式的雙面膠帶的長度有關。利用判別亮度不均勻的區塊之規格尺度並將其量化得到一JND值，未檢測到亮度不均勻的區塊者的JND值係小於1.8，依照檢測到亮度 不均勻的區塊之程度的加重，JND值逐步遞增。本發明藉由將雙面膠帶的長度適當地縮減的作法，可有效降低JND值，且在面板模組的各個製程所測得之JND值的增量值亦會降低。
雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作各種的更動與潤飾，因此本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
1‧‧‧顯示裝置
10‧‧‧背光模組
100‧‧‧光源
102‧‧‧導光板
104‧‧‧反射片
106‧‧‧電路板
106a‧‧‧背膠
108‧‧‧擴散片
110‧‧‧稜鏡層
112‧‧‧光學膜片
114‧‧‧背板
116‧‧‧框架
116a‧‧‧承載面
12‧‧‧面板模組
120‧‧‧薄膜電晶體陣列基板
120a‧‧‧接合區
122‧‧‧彩色濾光片陣列基板
124‧‧‧上偏光片
126‧‧‧下偏光片
128‧‧‧晶片
14‧‧‧雙面膠帶
140‧‧‧重疊部
D‧‧‧排列方向
G‧‧‧間隔
第1圖為繪示依照本發明一實施例的顯示裝置的剖面示意圖。
第2A圖為繪示第1圖中的薄膜電晶體陣列基板與彩色濾光片陣列基板的局部立體圖。
第2B圖為繪示第2A圖中的薄膜電晶體陣列基板與彩色濾光片陣列基板的上視圖。
第3圖為繪示第1圖中的框架、薄膜電晶體陣列基板與彩色濾光片陣列基板的立體分解圖。
第4圖為量測接合區分別採用分段雙面膠帶與整條雙面膠帶於面板模組與背光模組組裝的不同製程階段中量化顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊之JND值對比圖。
第5圖為繪示接合區分別採用分段雙面膠帶與整條雙面膠帶進行黏合後測量接合區於不同位置的翹曲度曲線圖。
第6A圖為繪示依照本發明一實施例的框架與接合區的局部立體分解圖。
第6B圖為繪示第6A圖中的框架與接合區的側視圖。
第7圖為繪示接合區分別採用不與兩相鄰晶片於承載面上的垂直投影面重疊的不同長度的雙面膠帶於面板模組與背光模組組裝的不同製程階段量化顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊之JND值對比圖。
第8A圖為繪示依照本發明一實施例的框架與接合區的局部立體分解圖。
第8B圖為繪示第8A圖中的框架與接合區的側視圖。
第9圖為繪示接合區分別採用與兩相鄰晶片於承載面上的垂直投影面部分地重疊的不同長度的雙面膠帶於面板模組與背光模組組裝的不同製程階段量化顯示裝置在顯示畫面時出現亮度不均勻的區塊之JND值對比圖。
116‧‧‧框架
116a‧‧‧承載面
120‧‧‧薄膜電晶體陣列基板
120a‧‧‧接合區
122‧‧‧彩色濾光片陣列基板
128‧‧‧晶片
14‧‧‧雙面膠帶
D‧‧‧排列方向
G‧‧‧間隔

Claims (8)

  1. 一種顯示裝置，包含：一背光模組，包含一框架，該框架具有一承載面；一面板模組，包含：一玻璃基板，設置於該承載面上，該玻璃基板的一側邊具有一接合區；以及複數個晶片，設置於該接合區之上，其中該些晶片與該承載面分別位於該玻璃基板的兩相對側；以及複數個雙面膠帶，設置於該承載面與該接合區之間，並且每一該些雙面膠帶對齊兩相鄰該些晶片之間的一間隔。
  2. 如請求項1所述之顯示裝置，其中每一該些雙面膠帶不與兩相鄰該些晶片於該承載面上的垂直投影面重疊。
  3. 如請求項2所述之顯示裝置，其中該些晶片沿一排列方向進行排列，每一該些雙面膠帶於該排列方向上的長度為對應之該間隔於該排列方向上的寬度的1/4~1倍。
  4. 如請求項3所述之顯示裝置，其中每一該些雙面膠帶於該排列方向上的長度為對應之該間隔於該排列方向上的寬度的1/2~3/4倍。
  5. 如請求項1所述之顯示裝置，其中每一該些雙面膠帶與兩相鄰該些晶片於該承載面上的垂直投影面部分地重疊。
  6. 如請求項5所述之顯示裝置，其中該些晶片沿一排列方向進行排列，每一該些雙面膠帶具有兩重疊部，分別對應兩相鄰該些晶片，並且每一該些重疊部於該排列方向上的長度小於對應之該晶片於該排列方向上的長度的1/3倍~1/6倍。
  7. 如請求項6所述之顯示裝置，其中每一該些重疊部於該排列方向上的長度為對應之該晶片於該排列方向上的長度的1/6倍。
  8. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該玻璃基板為一薄膜電晶體陣列基板。
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