TWI445301B - 傳送/接收電路以及傳送/接收電路阻抗校正方法 - Google Patents
傳送/接收電路以及傳送/接收電路阻抗校正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI445301B TWI445301B TW100107090A TW100107090A TWI445301B TW I445301 B TWI445301 B TW I445301B TW 100107090 A TW100107090 A TW 100107090A TW 100107090 A TW100107090 A TW 100107090A TW I445301 B TWI445301 B TW I445301B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- current
- transmitter
- output voltage
- variable impedance
- impedance module
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 28
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 26
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 19
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L25/00—Baseband systems
- H04L25/02—Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
- H04L25/0264—Arrangements for coupling to transmission lines
- H04L25/0278—Arrangements for impedance matching
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Transmitters (AREA)
Description
本發明有關於傳送/接收電路以及相關的傳送/接收電路阻抗校正方法,特別有關於使用傳送/接收電路本身包含的元件來作阻抗匹配之傳送/接收電路以及相關的傳送/接收電路阻抗校正方法。
在網路通訊系統中,傳輸路徑上都需考慮阻抗匹配的問題。因為晶片內部的電阻會有漂移的狀況,所以需要一個可以校正阻抗匹配的電路來做到精準的阻抗匹配。其中一種做法為,提供一相當精確的校正電路來達到校正阻抗的目的。但是為了達到精確的校正,校正電路須佔據相當大的面積。舉例來說,美國專利號US6734302即揭露了此類的校正技術。
因此,本發明之一目的在於提供一傳送/接收電路以及校正此傳送/接收電路的方法,使傳送/接收電路中的阻抗可藉由傳送/接收電路中的元件而校正,避免習知技術中校正電路佔據較大面積的問題。
本發明之一實施例揭露了一種傳送/接收電路之阻抗校正方法,係使用於一傳送/接收電路上。此方法包含:將一第一電流輸入傳送器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據一預定電壓與一晶片之一內部電阻的比值而產生;將一第二電流輸入該傳送器而產
生一第二輸出電壓,其中該第二電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生;以及根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異來調整該第一可變阻抗模組。
本發明之另一實施例揭露了一種傳送/接收電路,包含:一傳送器;一接收器,其中該一傳送器和一接收器設置於一晶片中;一第一可變阻抗模組:以及一控制單元,用以控制一第一電流流入該接收器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據一預定電壓與該晶片之一內部電阻的比值而產生,該控制單元亦用以控制一第二電流流入該接收器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生,且該控制單元更根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異來調整該第一可變阻抗模組。
本發明之又一實施例揭露了一種傳送/接收電路之阻抗校正方法,係使用於一傳送/接收電路上。此阻抗校正方法包含:將一第一電流輸入該傳送器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據該預定電壓與該晶片之該內部電阻的比值而產生;將一第二電流輸入該傳送器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流對應於該第一電流;以及根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異來調整該第二可變阻抗模組。
本發明之再一實施例揭露了一種傳送/接收電路,包含:一傳送器;一接收器,其中該一傳送器和一接收器耦接至一晶片;一第一可變阻抗模組:以及一控制單元,用以控制一第一電流流入該接收器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據該預定電壓與該
晶片之該內部電阻的比值而產生,該控制單元亦控制一第二電流流入該接收器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流對應於該第一電流,且該控制單元更根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異來調整該第二可變阻抗模組。
藉由上述之實施例,可利用傳送/接收電路內部的阻抗來達到所須的阻抗匹配,因此可省下習知技術中阻抗匹配機制中所佔據的面積。
在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的元件。所屬領域中具有通常知識者應可理解,硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個元件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分元件的方式,而是以元件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語,故應解釋成「包含但不限定於」。以外,「耦接」一詞在此係包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此,若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置,則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置,或透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。
第1圖繪示了根據本發明之實施例的傳送/接收電路100。如第1圖所示,傳送/接收電路100包含一傳送器101、一接收器103、一可變阻抗模組105,其中傳送器101和接收器
103設置於一晶片中。晶片可透過傳送器101和連接墊107來傳送訊號,並透過接收器103和連接墊107來接收訊號。
而本發明所揭露的傳送/接收電路阻抗校正機制,如第2圖所示,可包含:
將一第一電流Ib輸入傳送器101於Vo處產生一第一輸出電壓Vob。其中Ib係根據一預定電壓與晶片之一內部電阻的比值而產生。在一實施例中,,Vbg為不隨著溫度變化和製程漂移而改變的一預定電壓,Rpoly為傳送器101和接收器103所設置之晶片的內部電阻,而K1為調整Ib值的一參數,亦可為1。
晶片的內部電阻包含了多種形態。較常見的為多晶電阻(poly resistor)和擴散電阻(diffusion resistor)。多晶電阻係由晶片中的多晶材質如多晶矽(poly silicon)等形成,而擴散電阻係由晶片中有經過擴散處理(diffusion process)的區域所形成。而在本發明的實際例中,均是以多晶電阻來舉例,並非用以限定本發明,本發明所揭露之概念亦可使用在其他形態的內部電阻中。
將一第二電流Ibx輸入傳送器101於Vo處產生一第二輸出電壓Vobx。其中Ibx係根據一預定電壓與之一預定電阻Rext的比值而產生。在一實施例中,,其中Rext為一預定電阻之電阻
值(或稱為晶片外部之精準電阻)。其中,K1和K2係為了調整Ib和Ibx的比例差。舉例來說,Rpoly和Rext可能為不同數量級(例如,102和104),因此可透過K1和K2來調整Ib和Ibx。
根據第一輸出電壓Vob以及第二輸出電壓Vobx來調整第一可變阻抗模組105。在一實施例中,係將第一輸出電壓Vob和第二輸出電壓Vobx的值傳送至接收器103中的類比數位轉換器(ADC、未繪示),分別解出Da和Dax值。然後可根據Da和Dax的差值來計算出晶片的內部電阻Rpoly的漂移值。由於在此實施例中,內部電阻Rpoly為多晶電阻,且可變阻抗模組105之材質與內部電阻之材質相同。因此可變阻抗模組105之漂移值與內部電阻Rpoly的漂移值相同,故可以一控制訊號(例如:控制碼字)來調整可變阻抗模組105之阻抗值,使其為期望之阻抗值。舉例來說,若內部電阻Rpoly漂移了10%,則可變阻抗模組105亦會調整10%來補償其漂移值。
在一實施例中,步驟2001至2005可被一控制單元或一控制碼來執行。
第3圖繪示了第1圖所示之傳送/接收電路100的詳細結構之其中一例。於第3圖所示的電路架構中,傳送/接收電路100係以小訊號模式的情況來表示。須注意的是,第3圖所示的電路架構及其運作方式僅用以舉例,並非用以限定本發明。如第3圖所示,傳送器101包含一放大器202。而電阻204係等效於晶片的內部電阻Rpoly。接收器103包含電阻201、203、放大器209以及類比數位轉換器
211。在此實施例中,Ib電流會使得傳送器101的輸出點Tx處之值等於先前所述的Vob而放大器209輸出點Rx的電壓值會等於-Vbg。然後,使Ibx電流流入傳送器101,會使得傳送器101的輸出點Tx處之值等於Vobx,而放大器209輸出點Rx的電壓值會等於-Vobx。接著,如前所述會將-Vbg和-Vobx傳送到類比數位轉換器211分別計算出相對的Dout,以算出晶片內部電阻Rpoly的漂移值,進而以一控制訊號CS來調整可變阻抗模組105。請留意,由於接收器之輸入阻抗相較於可變阻抗模組105為相當高的輸入阻抗。因此,可變阻抗模組105兩端之電壓實質上相等,所以Vo可置於可變阻抗模組105右端也可位於可變阻抗模組105左端,其並不影響後續有關Vo之恆等式。於此實施例中,可包含一電流切換單元221,其接收控制單元213的控制訊號在兩電流源217(Ib)和219(Ibx)進行切換,而控制單元213接收來自數位類比轉換器211的Dout和來進行電流源的切換動作,意即針對電流切換單元215進行切換動作,並根據Dout輸出控制訊號CS來調整可變阻抗模組105。
第4圖繪示了根據本發明之另一實施例的傳送/接收電路400。相較於第1圖所示的傳送/接收電路100,傳送/接收電路400除了傳送器301、接收器303以及可變阻抗模組305之外,更包含另一可變阻抗模組309(此例中為一可變電阻)以及一開關元件311。在傳送器301不運作時,傳送器301可予以關閉,並使開關311導通,使得可變阻抗模組309和接收器303之間可產生一導通路徑,使阻抗模組309提供所須的阻抗匹
配。藉此可省下讓傳送器301維持運作所須的能量。但可變阻抗模組309亦會因元件製程不同會有阻抗漂移的狀況,因此也需要校正的機制。
在此例中,係先將可變阻抗模組305依前述之調整機制調整完後,再對可變阻抗模組309進行調整。其調整機制可如第10圖所示般,包含:
將一第一電流Ib輸入傳送器而產生一第一輸出電壓Vob。其中Ib係根據一預定電壓與晶片之一內部電阻的比值而產生。在一實施例中,,Vbg為一預定電壓,Rpoly為傳送器101和接收器103所設置之晶片的內部電阻,而K為調整Ib值的一參數,亦可為1。
將一第二電流輸入傳送器而產生一第二輸出電壓Vobx,其中第二電流對應於第一電流。在一實施例中,第二電流的值等同於第2圖中的50%Ib+50%Ibx的值。
根據第一輸出電壓Vob以及第二輸出電壓Vobx之差異來調整可變阻抗模組309。在一實施例中,係將第一輸出電壓Vob和第二輸出電壓Vobx的值傳送至接收器303中的類比數位轉換器(ADC)
解出Db和Dbx。然後可根據Db和Dbx來計算出晶片的內部電阻Rpoly與預定電阻的差異值,並以一控制訊號(例如:控制碼字)來調整可變阻抗模組309。
於第5圖中將詳細解釋為何輸出電壓Vob和Vobx可以反應出可變阻抗模組309的阻值漂移狀況。當得知阻抗模組309的阻值漂移狀況後,可據以調整可變阻抗模組309。
第5圖繪示了第4圖所示之傳送/接收電路的詳細結構之其中一例。於第5圖所示的電路架構中,傳送/接收電路300係以小訊號模式的情況來表示。須注意的是,第5圖所示的電路架構及其運作方式僅用以舉例,並非用以限定本發明。在此實施例中,傳送器301包含一放大器401、電晶體403(此例中為一P型金氧半導體電晶體)以及電晶體405,電阻402係模擬晶片內部的電阻Rpoly。可變阻抗模組305一可變電阻407,此例中控制訊號CS係輸入至可變電阻407。接收器303包含類比數位轉換器409以及訊號衰減器411。
在此實施例中,因為電阻402(Rpoly)其數量級為K,而電阻407(RA)因為底下推導(2)亦等效為數量級K的電阻,而電阻309是為了傳送器關閉時的阻抗匹配,所以電阻309(RB)和電阻407是用不同的電阻串組成,所以才需要額外校正電阻309。而電阻309是要校正成和外接的傳輸線阻抗RL一致(通常在Ethernet領域中,RL=50ohm)。而為了由輸出電壓預測到電阻309的漂移[RB(real)=RB(design)*(1+y)],在一實施例中須滿足下列條件:
(1)Iin為50%Ib加上50%Ibx。若Ib設定成跟Ibx等量,可得到
Iin=K*Vbg*[1+1/(1+x)],其中(x為內部電阻漂移量)。
其推導如下:
將設定成K,即可得到Iin=K*Vbg*[1+1/(1+x)]。
(2)RA=RL*(1+N),輸出阻抗=傳輸線阻抗(RL)。
(3)RA須先被校正過。其校正方法可如前述之RA校正方法。
(4)Rpoly須“適當”的選擇。例如Rpoly=RL*N。
底下將詳細解釋當RA已校正完,要校正RB時,為何輸出電壓值Vo(第9圖中所示的Vob和Vobx)會含有RB漂移值『y』的資訊。而關於在此實施例中,為何可以採用前述的方式校正RA,亦將於第6圖中說明。
V X =I in ×R poly
其中N為電晶體403和405提供之電流量的比例。
因此,可得知Iin和Vo的關係式可由RA、RB和Rpoly來表示。
若將以及R poly =R L ×N×(1+x)代入前述Iin和Vout的關係式可得到下列關係式。其中RL為自307看出的傳輸線阻抗。理想上Rpoly應等於RL,但實際上會有x的漂移,且因為電晶體405之電流為電晶體403的N倍,故依電路學的原理可推得R poly =R L ×N×(1+x)。關於為何R A =R L ×(1+N),將另外描述。
由此可見輸出電壓Vo中可帶有Rb偏移量y的資訊。
底下將描述為何R A =R L ×(1+N)。
請再參照第5圖,若假設Iin接地且Vx為0,有一Iout自307流入,則可得到下列關係式:V X =0
輸出阻抗為RL,因此
第6圖繪示了第5圖所示之傳送/接收電路開路的狀況,其係為了說明第5圖僅校正RA時,為何分別輸入Ib和Ibx電流,可以讓輸出電壓含有RA漂移量x的資訊。
第6圖中的輸出電壓可如下所示。
當Iin灌入Ib電流,因Ib=K*Vbg/[Rpoly],所以輸出電壓為定值。
若當Iin灌入Ibx電流,因Ibx=K*Vbg/Rext,所以輸出電壓正比於(1+x)。因此,分別灌出Ib和Ibx時,輸出電壓可反映出Rpoly漂移的資訊。
除了第5圖中所述的電路架構外,本案的傳送/接收電路亦可如第7圖所示般,僅具有一電晶體403,而沒有電晶體405。第8圖繪示了第7圖所示之傳送/接收電路開路的狀況。
在第8圖中的輸出電壓可以下列之關係表示:V out =V x =I in ×R poly 若Rpoly製程時漂移為『x』則V out =I in ×R poly(design)×(1+x)
依據第6圖之描述,當Iin灌入Ib電流,因Ib=K*Vbg/[Rpoly*(1+x)],所以輸出電壓為定值。
若當Iin灌入Ibx電流,因Ibx=K*Vbg/Rext,所以輸出電壓正比於(1+x)。
而在第7圖和第8圖中,如何求出RB的漂移資訊可以下列方程式來表示:
當輸入傳送器之電流為兩倍Ib時,輸出電壓Vo和RB漂移『y』的關係導証如下,Rpoly電阻有漂移『x』→Rpoly(real)=Rpoly(design)*(1+x)。
RA已經被校正,所以不會有漂移現象,在此情況下,RA=RL。
RB電阻有漂移『y』→RB(real)=RB(design)*(1+y)=RL*(1+y)。
所以輸出電壓值Vout含有RB漂移『y』的資訊。
第9圖繪示了根據本發明之另一實施例的傳送/接收電路900。相較於第4圖所示的實施例,第9圖僅具有可變阻抗模組309而省略了可變阻抗模組305。而其阻抗校正方法可如第10圖所示。由於第10圖之步驟已詳述於上,故在此不再贅述。
藉由上述之實施例,可利用傳送/接收電路內部的阻抗來達到所須的阻抗匹配,因此可省下習知技術中阻抗匹配機制中所佔據的面積。
以上所述僅為本發明之較佳實施例,凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾,皆應屬本發明之涵蓋範圍。
100、300‧‧‧傳送/接收電路
101、301‧‧‧傳送器
103、303‧‧‧接收器
105、305、309‧‧‧可變阻抗模組
107、307‧‧‧連接墊
221、311‧‧‧開關元件
201、203、204、205、402‧‧‧電阻
207‧‧‧反相器
209、401‧‧‧放大器
211‧‧‧類比數位轉換器
213‧‧‧控制單元
215‧‧‧電流切換單元
217、219‧‧‧電流源
403、405‧‧‧電晶體
407‧‧‧可變電阻
409‧‧‧類比數位轉換器
411‧‧‧訊號衰減器
第1圖繪示了根據本發明之實施例的傳送/接收電路。
第2圖繪示了對應第1圖之實施例的傳送/接收電路之阻抗校正方法。
第3圖繪示了第1圖所示之傳送/接收電路的詳細結構之其中一例。
第4圖繪示了根據本發明之另一實施例的傳送/接收電路。
第5圖繪示了第4圖所示之傳送/接收電路的詳細結構之其中一例。
第6圖繪示了第5圖所示之傳送/接收電路開路的狀況。
第7圖繪示了第4圖所示之傳送/接收電路的詳細結構之其中一例。
第8圖繪示了第7圖所示之傳送/接收電路開路的狀況。
第9圖繪示了根據本發明之另一實施例的傳送/接收電路。
第10圖繪示了對應第9圖之實施例的傳送/接收電路之阻抗校正方法。
100‧‧‧傳送/接收電路
101‧‧‧傳送器
103‧‧‧接收器
105‧‧‧可變阻抗模組
107‧‧‧連接墊
Claims (17)
- 一種傳送/接收電路之阻抗校正方法,係使用於一傳送/接收電路上,該傳送/接收電路包含一第一可變阻抗模組、一傳送器以及一接收器,該方法包含:將一第一電流輸入該傳送器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據一預定電壓與一晶片之一內部電阻的比值而產生;將一第二電流輸入該傳送器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生;根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓的差異計算出該內部電阻的漂移值,並根據該漂移值來調整該第一可變阻抗模組以補償該漂移值。
- 如申請專利範圍第1項所述之阻抗校正方法,其中該第一可變阻抗模組和該內部電阻的材質相同。
- 如申請專利範圍第1項所述之阻抗校正方法,其中該傳送器包含:一第一電晶體,具有耦接至該第一可變阻抗模組之一第一端的一汲極。
- 如申請專利範圍第3項所述之阻抗校正方法,其中該傳送器包含:一第二電晶體,具有耦接至該第一可變阻抗模組之一第二端的一汲極。
- 如申請專利範圍第1項所述之阻抗校正方法,其中該傳送/接收電路更包含一第二可變阻抗模組,該第二可變阻抗模組之一端耦接該傳送器以及該接收器,該阻抗校正方法包含:將一第三電流輸入該傳送器而產生一第三輸出電壓,其中該第三電流係根據該預定電壓與該內部電阻的比值而產生;將一第四電流輸入該傳送器而產生一第四輸出電壓;以及根據該第三輸出電壓以及該第四輸出電壓來調整該第二可變阻抗模組。
- 如申請專利範圍第5項所述之阻抗校正方法,其中該第四電流的值等於該第三電流的值加上一第五電流的值,其中該第五電流係根據該預定電壓與該預定電阻的比值而產生。
- 如申請專利範圍第5項所述之阻抗校正方法,更包含:當該傳送器傳送訊號時,使該第二可變阻抗模組和該接收器不產生導通路徑;以及當該傳送器不傳送訊號時,關閉該傳送器並使第二可變阻抗模組和該接收器產生一導通路徑。
- 一種傳送/接收電路之阻抗校正方法,係使用於一傳送/接收電路上,且該傳送/接收電路包含一可變阻抗模組、一傳送器以及一接收器,該可變阻抗模組之一第一端耦接該傳送器以及該接收器,而該可變阻抗模組之一第二端耦接一地電位,且該傳送/接 收電路之該傳送器和該接收器設置於一晶片中,該阻抗校正方法包含:將一第一電流輸入該傳送器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據該預定電壓與該晶片之一內部電阻的比值而產生;將一第二電流輸入該傳送器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流對應於該第一電流;以及根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異來調整該可變阻抗模組;其中該第二電流的值等於:(Ib+Ibx)*R,其中Ib為該第一電流的值,而Ibx代表一第三電流的值,R為一比例;其中該第三電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生。
- 一種傳送/接收電路,包含:一傳送器;一接收器;一第一可變阻抗模組,耦接該傳送器及該接收器:以及一控制單元,用以控制一第一電流流入該傳送器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據一預定電壓與一晶片之一內部電阻的比值而產生,該控制單元亦用以控制一第二電流流入該傳送器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生,且該控制單元更根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異計算出該內部電阻的漂移值,並根據該漂移值來調整該第一可變阻抗模組以補償該漂移值。
- 如申請專利範圍第9項所述之傳送/接收電路,其中該第一可變阻抗模組和該內部電阻的材質相同。
- 如申請專利範圍第9項所述之傳送/接收電路,其中該傳送器包含:一第一電晶體,具有耦接至該第一可變阻抗模組之一第一端的一源極。
- 如申請專利範圍第11項所述之傳送/接收電路,其中該傳送器更包含:一第二電晶體,具有耦接至該第一可變阻抗模組之一第二端的一汲極。
- 如申請專利範圍第9項所述之傳送/接收電路,其中該傳送/接收電路更包含一第二可變阻抗模組,該第二可變阻抗模組之一端耦接該傳送器以及該接收器,該阻抗校正方法包含:將一第三電流輸入該傳送器而產生一第三輸出電壓,其中該第三電流係根據該預定電壓與該內部電阻的比值而產生;將一第四電流輸入該傳送器而產生一第四輸出電壓;以及根據該第三輸出電壓以及該第四輸出電壓之差異來調整該第二可變阻抗模組。
- 如申請專利範圍第13項所述之傳送/接收電路,其中該第四電流的值等於該第三電流的值加上一第五電流的值,其中該第五電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生。
- 如申請專利範圍第13項所述之傳送/接收電路,其中該控制單元在當該傳送器傳送訊號時,使該第二可變阻抗模組和該接收器不產生導通路徑,且當該傳送器不傳送訊號時,關閉該傳送器並使第二可變阻抗模組和該接收器產生一導通路徑。
- 一種傳送/接收電路,包含:一傳送器;一接收器,其中該一傳送器和一接收器設置於一晶片中;一可變阻抗模組,耦接該傳送器及該接收器:以及一控制單元,用以控制一第一電流流入該接收器而產生一第一輸出電壓,其中該第一電流係根據該預定電壓與該晶片之一內部電阻的比值而產生,該控制單元亦控制一第二電流流入該接收器而產生一第二輸出電壓,其中該第二電流對應於該第一電流,且該控制單元更根據該第一輸出電壓以及該第二輸出電壓之差異來調整該可變阻抗模組;其中該第二電流的值等於:(Ib+Ibx)*R,其中Ib為該第一電流的值,而Ibx代表一第三電流的值,R為一比例;其中該第三電流係根據該預定電壓與一預定電阻的比值而產生。
- 如申請專利範圍第16項所述之傳送/接收電路,該控制單元在當該傳送器傳送訊號時,使該可變阻抗模組和該接收器不產生導通路徑,且當該傳送器不傳送訊號時,關閉該傳送器並使該可變阻抗模組和該接收器產生一導通路徑。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW100107090A TWI445301B (zh) | 2011-03-03 | 2011-03-03 | 傳送/接收電路以及傳送/接收電路阻抗校正方法 |
| US13/397,660 US8415971B2 (en) | 2011-03-03 | 2012-02-15 | Transceiving circuit and transceiving circuit resistance calibration method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW100107090A TWI445301B (zh) | 2011-03-03 | 2011-03-03 | 傳送/接收電路以及傳送/接收電路阻抗校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201238242A TW201238242A (en) | 2012-09-16 |
| TWI445301B true TWI445301B (zh) | 2014-07-11 |
Family
ID=46752938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW100107090A TWI445301B (zh) | 2011-03-03 | 2011-03-03 | 傳送/接收電路以及傳送/接收電路阻抗校正方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8415971B2 (zh) |
| TW (1) | TWI445301B (zh) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI500261B (zh) | 2012-03-07 | 2015-09-11 | Realtek Semiconductor Corp | 阻抗校正裝置與方法 |
| US8830710B2 (en) * | 2012-06-25 | 2014-09-09 | Eta Devices, Inc. | RF energy recovery system |
| US9515809B2 (en) * | 2012-12-06 | 2016-12-06 | Intel Corporation | Testing using analog near end loop back circuit |
| CN109428563B (zh) * | 2017-08-25 | 2022-11-22 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 阻抗校正装置及其方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002066269A2 (en) * | 2001-02-20 | 2002-08-29 | Siemens Vdo Automotive Corporation | Combined tire pressure monitoring and keyless entry receiver |
| US6734702B1 (en) | 2002-11-12 | 2004-05-11 | Texas Instruments Incorporated | Impedance calibration circuit |
| US7439760B2 (en) * | 2005-12-19 | 2008-10-21 | Rambus Inc. | Configurable on-die termination |
| US7423450B2 (en) * | 2006-08-22 | 2008-09-09 | Altera Corporation | Techniques for providing calibrated on-chip termination impedance |
| JP2008307007A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Bayer Schering Pharma Ag | 出生後のヒト組織由来未分化幹細胞から誘導したヒト多能性幹細胞 |
| US20090206886A1 (en) * | 2008-02-20 | 2009-08-20 | Micrel, Incorporated | Line Driver With Tuned On-Chip Termination |
| US7791367B1 (en) * | 2009-06-05 | 2010-09-07 | Freescale Semiconductor, Inc. | Driver with selectable output impedance |
-
2011
- 2011-03-03 TW TW100107090A patent/TWI445301B/zh active
-
2012
- 2012-02-15 US US13/397,660 patent/US8415971B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US8415971B2 (en) | 2013-04-09 |
| TW201238242A (en) | 2012-09-16 |
| US20120223736A1 (en) | 2012-09-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7816936B2 (en) | Apparatus for controlling substrate voltage of semiconductor device | |
| US20230232392A1 (en) | Transmitter and communication system | |
| CN102656798B (zh) | 仪器放大器校准方法、系统及设备 | |
| CN109428551B (zh) | 用于在收发器中提供偏置电压的方法和装置 | |
| TWI499885B (zh) | 固定電流產生電路及相關的固定電流產生方法 | |
| KR102715777B1 (ko) | 임피던스 교정 회로 및 방법 | |
| TWI445301B (zh) | 傳送/接收電路以及傳送/接收電路阻抗校正方法 | |
| US20140049414A1 (en) | Systems and methods for correcting an offset at an output of a digital to analog converter | |
| TWI642286B (zh) | 用於預測性決策回饋等化器之本體偏壓式截剪器設計 | |
| TW201820784A (zh) | 電阻校正電路與裝置 | |
| CN106685188A (zh) | 电源转换装置的参数设定电路以及电流产生方法 | |
| TWI500261B (zh) | 阻抗校正裝置與方法 | |
| US20210232170A1 (en) | Logarithmic current-to-voltage conversion circuit having temperature compensation function | |
| US6822501B2 (en) | Apparatus for correcting offset voltage | |
| US8289082B2 (en) | Circuit and method for adjusting an offset output current for an input current amplifier | |
| US10742175B2 (en) | Amplifier circuit, reception circuit, and semiconductor integrated circuit | |
| TWI271962B (en) | Network transmission unit with compensation feature | |
| TW201607246A (zh) | Cmos反相器的校正電路及校正方法 | |
| US7705661B2 (en) | Current control apparatus applied to transistor | |
| KR20160040798A (ko) | 저항성 소자 생성 장치 및 그를 이용한 slvs 출력 드라이버 | |
| US11489536B1 (en) | Input circuitry for an analog-to-digital converter, receiver, base station and method for operating an input circuitry for an analog-to-digital converter | |
| US10360870B2 (en) | Display driver, electro-optical device, and electronic apparatus | |
| TWI559682B (zh) | 通過電流調整來調整輸出阻抗以匹配傳輸線阻抗的驅動電路、驅動裝置及方法 | |
| KR20190094924A (ko) | 램프 신호 발생 장치 및 그를 이용한 씨모스 이미지 센서 | |
| US10218339B2 (en) | Voltage monitor with a trmimming circuit and method therefore |