TWI336061B - Display apparatus and enable circuit thereof - Google Patents

Description

1336061 .· 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種顯示裝置及用以啟動測試該顯示裝置中之 待測試電路的致能電路。

【先前技術】 近年來，平面顯示器的發展越來越迅速，已經逐漸取代傳統 的陰極射線管顯示器。現今的平面顯示器主要有下列幾種：有機 發光二極體顯示器（Organic Light-Emitting Diodes Display ; OLED)、電漿顯示器(piasma Display Panel ; PDP)、液晶顯示器 (Liquid Crystal Display ; LCD)、以及場發射顯示器(Field Emissi〇n Display ; FED)等。不論是上述何種平面顯示器，製作時皆須對其 顯示陣列電路進行測試’以較製作丨來的平面顯示器能夠正;^ 運作。 中 _第1圖係為習知對於平面顯示器進行測試的示意圖 示器包含週邊電路1(U、顯示陣列1G3以及測試訊號輸 仍: 顯示陣列1G3包含了多條電極配線，週邊電路⑼係用^

些電極配線，而測試訊號輸入端105則電性連接 =輸入賴訊號至這些雜配_平蝴示 習知的平面顯示H在進行完職之後，會進行 將測試訊號輸入端105以及顯示陣列1〇3的示手、·只 免這些測試訊號輸入端105影響平面顯示器斷’以 此切除手續會增加生產平面顯示器所需的 J作。然而 何降低此-切除手續所產生的時間與成 ’因此要 需要努力的目標。 疋、式千面顯示器時 【發明内容】 5 1336061

本發明之一目的在於提供一種因應一致能訊號以啟動測試一 待測試電路之致能電路’該致能電路包含一二極體組以及一電晶 體組。該二極體組包含一第一接點以及一第二接點，該電晶體組 包含一第一接點、一第二接點以及一第三接點。其中，該電晶體 組之該第一接點連接至該待測試電路，該電晶體組之該第二接點 接收一測試訊號以測試該待測試電路，該電晶體组之贫笛二接太 連接至該二極體組之該第一接點，該二極體組之該第1接點接收 該致能訊號以啟動測試該待測試電路。 ”

本發明之另一目的在於提供一種顯示裝置，其包含一顯示陣 列、一二極體組以及一電晶體組。該二極體組包含一第一接點以 及一第二接點。該電晶體組包含一第一接點、一第二接點以及一 第三接點。其中，該電晶體組之該第一接點連接至該顯示陣列， 該電晶體組之該第二接點接收一測試訊號以測試該顯示陣列，該 電晶體組之該第三接點連接至該二極體組之該第一接點，該二極 ，組之該第二接點接收一致能訊號以啟動該二極體組及該電晶體

、本發明之電路可連接輸入的測試訊號以及該待測試電路 如連接測試訊號以及平面顯示器之顯示陣列，當本發明之電路 接收的致能訊號之電位達到足以啟動測試顯示陣列的準位時， 之電路輸入至該顯示陣列’進行測試。在 f Μ電路正，工作時，本發明之電路是沒有作㈣， 省略習知切斷顯示陣列與測試訊號輸入端的切除 生產平面顯示器所需的時間與成本。 進而降低 ㈣ϋ閱圖式及隨後描述之實施方式後，該技術領域具有通常 施本㈣之其他目的，纽本發明之技解段及實 【實施方式】 6 1336061

本發明之第一實施例如第2圖所示，係為一種有機發光二極 體陣列顯示裝置2，其包含一顯示陣列21及一致能電路。該致能 電路包含一二極體組23以及一電晶體組25，用以因應一致能訊號 22以啟動測試一待測試電路(即顯示陣列21)，顯示陣列21中之每 一個單元皆需要一個致能電路加以測試。二極體组23自含了 X少 一串聯二極體、-第-接點23a以及-第二接^點 25包含了一第一接點25a、一第二接點25b、一第三接點25c、一 第一電晶體251以及一第一電晶體253。第一電晶體251舍么"一 ^ 2510 ： 251a 251b , ^

極251a為;及極，第一極251b為源極。第二電晶體253包含一閘 極253c、一第一節點253a及一第二節點253b，在此實施例中， 第一節點253a為汲極’第二節點253b為源極。雖然此實施例以N 型電晶體為制，但P型電晶财可使狀^再者，本發明不限 制電晶體之機(如：非晶㊉、多晶_、微糾、單晶械上述材 料之混合物)及電晶體之類型(如：底閘型、頂閘型或類似之型式 各元件之連接關係說明如下。 、

^曰曰體組25之第一接點25a連接至顯示陣歹4 2卜電晶體組 25之第二接點25b接收一測試訊號2〇用以測試顯示陣列21，電 晶體組25之第三接點25c連接至二極體組23之第一接點23&，二 Ϊ體ϋ之第二接點23b接收致能訊號22以啟動該致能電路， 巧電曰曰體251之第-極251a連接至電晶體組25之第一接點 顯示陣列21的某—個單元，第—電晶體251之 第一極251 b連接至第二電晶體253之第一節點25如，第 25=.251c連接至電晶體組25之第三接點25c，亦即連接至 ί二之ί 一接點❿，第二電晶體253之第二節點雇連 接至電曰日體組25之第二接點25b，第二電 則接收致能訊號22。 斤^體253之閘極253c 一極由_目二減㈣所組成，但本發明不限制 -極體之個數’換言之，二極體組23亦可僅由單—二極體組成。 7 1336061 在本實施例中，二極體组23中之二極體是使用二極體方式連接之 電晶體來實現，也就是將其閘極與汲極相連來完成等同於二極體 之功能。 ' 欲啟動致能電路時，致能訊號22之電壓位準係由下列關係式 * 所決定： . Enable ^Vth+ (VD χ η) 其中，办係為致能訊號22之電壓位準，^係為第一電 晶體251之臨界電壓’匕係為二極體組23之單一二極體的順向偏 壓’《則為二極體組23之二極體個數，其中《為正整數y矣言之’ 鲁致能訊號22之電壓位準需大於第一電晶體251之臨界電壓以及二 極體組23中所有二極體之順向偏屋的總和，才足以同時開啟第一 電晶體251及第二電晶體253，使測試訊號2〇輸入顯示陣列21， 進而達成測試的目的。 一本發明之第二實施例如第3圖所示，係為一種液晶晝素陣列 顯示裝置3，其包含一顯示陣列31及一致能電路，該致能電路包 含一二極體組33以及一電晶體組35，用以因應一致能訊號32以 啟動測試顯示陣列31，顯示陣列31中之每一個單元需要一個致能 電路加以測試。二極體組33包含了一第一接點33a、一第二接點 # 3北、一第一二極體331、一第二二極體332以及一次二極體組 330。電晶體組35包含了一第一接點35a、一第二接點35b、一第 三接點35c、一第一電晶體35卜一第二電晶體352以及一次電晶 體組350。二極體組33同樣是使用二極體方式連接之電晶體來實 現。第一二極體331包含一第一極331a以及一第二極331b，第二 一極體332包含一第一節點332a以及一第二節點332b，次二極體 組33〇包含一第一端點330a以及一第二端點330b，第一電晶體 3M包含厂閘極351c、一第一極351a及一第二極3训，其中第一 極351a為汲極，第二極351b為源極。第二電晶體352包含一閘 極352c、一第一節點352a及一第二節點352b，其中第一節點35仏 8 1336061 =及極’第二節點3521)為源極。次電晶體組35〇包含一第一端點 鍊^ f 7及一第二端點35〇b。同樣地，雖然第二實施例以N型電晶 例’然而，P型電晶體亦可使用之。各元件之連接關係說明 ％之第一接點35a連接至顯示陣列31，電晶體組 0曰接Ϊ 接收一測試訊號3〇用以測試顯示陣列31，電 二二u接點35C連接至二極體組33之第一接點33a，二 、、’之第二接點3北接收致能訊號32以啟動致能電路。 點Μ第一^晶? 351之第一極351a連接至電晶體組35之第一接 i至電曰至顯f陣列31，第一電晶體351之閘極351。連 接點33Γ 之第二接點35c’亦即連接至二極體組33之第一 之第二極^晶ί組350之第一端點35〇a連接至第一電晶體351 έ ，第一電晶體352之第一節點352a連接至次電晶體 ί 第二電晶體352之第二== 3^二接點说’第二電晶魏之閘極似則接收 組330之第二端點概，笛—f队點迪連接至次二極體 二極體組33之第二接.點3^Γ極體332之第二節點332b連接至 體皆视中包含至少—串聯電晶體，每-個串聯電晶 體白匕3閘極，次二極體组33f)介七入芯丨、^叫干聊电日日 -個串::二極體皆包含-第二極，這、:^聯‘曰體’每 二極331b，攻啻a胁oca丄 义对7王矛一極體331之第 連接至次二極體〇 串354之間極354c 《弟串聯一極體333之第二極333b， 1336061 以此類推。 欲啟動致能電路時，致能訊號％之電壓位準可由於 例中所列之關係式而得，故不再贅述。 、只& 轉’欲峨齡物時，便將致能减之電壓位準 路的準位，測試訊號便可經由電晶體組輸 便不再輸入致能訊號，本發明之—時， 本發明可以省S知^'作’因此無縣致能電路切除。 手、，’進而降低生產平面顯示器所需的時間與成本。 明之用來例舉本發明之實施態樣，以及闡 釋本發 鱗。姉減此技術者 本發明之制關树賴线之範圍， 【圖式簡單說明】 ^1圖為習知之測試平面顯示器之示意圖； ^ 2圖為本發明之第—實_之電路圖；以及 第3圖為本發明之第二實施例之電路圖。 【主要元件符號說明】 103 :顯示陣列 101 :週邊電路 105 :測試訊號輸入端 2:有機發光二極體陣列顯示裝詈 22 :致能訊號 25 :電晶體組 23b :二極體組之第二接點 20 :測試訊號 21 一 21 ·顯示陣列 23 :二極體組 23a’·二極體組之第一接點 25a :電晶體組之第一接點 1336061

350b 351b 352a 352c 354c 次電晶體 25b .電晶體組之第二接點 251 :第一電晶體 251a:第一電晶體之第一極 251c:第一電晶體之閘極 253b ·第二電晶體之第二節點 3:液晶晝素陣列顯示裝置 31 :顯示陣列 33 :二極體組 33a :二極體組之第一接點 35a:電晶體組之第一接點 35c ··電晶體組之第三接點 331 :第一二極體 333 :第一串聯二極體 330b .次一極體組之第二端點 331b :第一二極體之第二極 332b .弟--極體之第二極 333b:第一串聯二極體之第二極 351 :第一電晶體 353 :第一串聯電晶體 350a .次電晶體組之第一姓里上 351a:第一電晶體之第一極” 351c :第一電晶體之閘極 352b :第二電晶體之第二節點 353c:第一串聯電晶體之閘極 25c:電晶體組之第三接點 253 :第二電晶體 251b :第一電晶體之第二極 253a:第二電晶體之第一節點 253c :第二電晶體之閘極 30 :測試訊號 32 :致能訊號 35 :電晶體組 33b ··二極體組之第二接點 35b :電晶體組之第二接點 330 :次二極體組 332 :第二二極體 330a:次二極體組之第一端點 331a:第一二極體之第一極 332a:第二二極體之第一極 350 :次電晶體組 352 :第二電晶體 354 :第二串聯電晶體 曰日體級之第二端 第-電晶體之第二:點 Π曰:曰體之第一節點 第一電日日體之閘極 第二串聯電晶體之閘極

Claims (1)

1. 第095129359號專利申請案 申請專利範圍替換本（無劃線版本，95年12月） 十、申請專利範圍： 月^日修(更)正本 1. 一種致能電路，用以因應一致能訊號以啟動測試一待測試電路 之’该致能電路包含： 一二極體组’包含一第一接點及一第二接點；以及 一電晶體組，包含一第一接點、一第二接點及一第三接點； 其中，該電晶體組之該第一接點連接至該待測試電路，該 電晶體組之該第二接點接收一測試訊號以測試該待測試電 路，該電晶體組之該第三接點’連接至該二極體組之該第一接 點，該二極體組之該第二接點接收該致能訊號。 2.如請求項1所述之致能電路，其中該電晶體組包含： 楚電晶體’包含—第一極、—第二極以及—閘極，該 萎一電曰曰體之該第一極連接至該電晶體組之該第一接點， 電晶體之該閘極連接至該電晶聽組之該第三接點 ;以及 極，ίίίί = ’包含一第一節點、一第二節點以及―閘 極，ΐ第一節點連接至該第一電晶體之該第二 L第二節點連接至該電晶體組之該第二接 ’ ^ 一電日日體之該閘極接收該致能訊號。 3 $二S所ί之致能電路’其中當欲開啟該致能電路時，今 致月』叙-電壓位準係由下列關係式決定： 吟4 Enable >VihHV〇xn) 臨界電壓 、中，^ble係為該電壓也準，Vth係為該第一電晶體之 係為該二極體組之二極體順向偏壓，η則 極體組之二極體個數。 〜苟該二 月》丨日修正替換頁 4.如請求項1所述之致能電路，其中該二極體組僅i j單一二極 5. 電路’其中該二極體組包含複數個二極 6. 如請求項1所述之致能電路，其巾該電晶體組包含： 一第一電晶體，包含一第一極、一第二極以及一問極，該 第-電晶體之該第-極連接至該電晶體組之該第—接點，第一 電晶體之該閘極連接至該電晶體組之該第三接點； 曰舻；ΪΪΪ體組，包含一第一端點以及一第二端點，該次電 曰曰體組^第-端點連接至該第_電晶體之該第二極；以及 代：ΐ二 ίί體，包含一第一節點、一第二節點以及-閘 Γ 體之該第—節點連接至該次電晶體組之該第二 ’二篦:5體之該第二節點連接至該電晶體組之該第二 接點，該n體之該閘極接收触能訊號。 7. 如請求j 6所述之致能電路，其巾該二極體組包含： -極;包含一第—極及一第二極，該第-二極體 之《亥第極連接至該二極體組之該第一接點； 體ί ’包含一第1點以及一第二端點，該次二 極體組^該第-、點連接至該第一二極體之該第二極；以及 極體二含一第—節點及一第二節點，該第二二 數個串聯二極體，每-串聯二極體包含-第二極; 8' 1336061 ——— 聯電晶體其中之一之該閘極分別連接至相對應該些串聯ϋ 體之該第二極。 9. 如請求項ό所述之致能電路，其中當欲開啟該致能電路時，該 致能訊號之一電壓位準係由下列關係式決定： Enable >Vlh+(VDx η) 其中，Enable係為該電壓位準，νΛ係為該第一電晶體之 臨界電壓，VD係為該二極體組之二極體順向偏壓，η則為該二 • 極體組之二極體個數。 — 10. 如請求項1所述之致能電路，其中該二極體組包含一以二極體 方式連接之電晶體。 11. 如請求項1所述之致能電路，其中該電晶體組中之電晶體同為 Ν型電晶體。 … 12. 如請求項丨所述之致能電路，其中該電晶體組中之電晶體 龜 ρ型電晶體。 13. 如請求項丨所述之致能電路，其中該待測試電路係為有 二極體陣列。 χ 14. 如請求項1所述之致能電路，其中該待測試電路係為液晶畫素 陣列。 —、 15. 一種顯示裝置，包含： 一顯示陣列； 3 1336061 __ .‘ 日修正替換頁 一二極體組，包含一第一接點及一第二接點；以及 _電晶體組，包含-第-接·點、一第二接點及一第三接點； . 其中，該電晶體組之該第一接點連接至該顯示陣列，該電 晶體組之該第二接點接收一測試訊號以測試該顯示陣列，該電 自體組，該第三接點連接至該二極體組之該第-接點，該二極 體組之該第二接點接收一致能訊號以啟動該二極體組及該電 • 晶體組。 16.如請求項15所述之顯示裝置，其中該電晶體組包含： 一第-電晶體，包含一第一極、一第二極以及一閘極 第-電晶體之該第-極連接至該電晶體組之該第一接點」 電晶體之該閘極連接至該電晶體組之該第三接點 ;以及 電晶體’包含—第—節點、—第二節點以及-間 極’ ^二電晶體之該第一節點連接至該第一電晶體之該 極’該=二電晶體之該第二節點連接至該電晶體組之該第二^ 點’該第二電晶體之該閘極接收該致能訊號。 所顯示裝置，其中當欲開啟該致能電路時， 該致月d叙-賴位準係由下列關係式決定： Enable >VthHVDxn) 臨πίί 為該電壓位準’ ％係為該第一電晶體之 ^ 〇係為該二極體組之二極體順向偏壓，n則為 極體組之二極體個數。 』勹成一 項Μ所述之顯示裝置，其中該二極體組僅包含單一二 4 1336061 正替 Μ 19·ϊΐ求li5所述之顯示衰置，其中該二極體” 極體，該些二極體串聯。 攸 20.如請所述之顯示裝置其中該電晶體組包含： 第一 ’包含-第-極、-第二極以及-閉極，該 人電日日體組，包含一第一端點以及一第二端點，該次電 晶體^該I一端點連接至該第一電晶體之該第二極；以及 桎，’包含一第一節點、一第二節點以及-閘 L i; 3之該第一節點連接至該次電晶體組之該第二 接5¾ ;第1雷=之該第二節點連接至該電晶體組之該第二 ..μ第一電阳體之該閘極接收該致能訊號。 21. 如請求J2G所述之顯示裝置，其中該二極體組包含： 之兮筮一搞’包含一第一極及一第二極，該第-二極體 之5亥第-極連接至該二極體組之該第一接點； 一次一極體組，包含一第一端點以一 極體^該第點連接至該第一二極體之一 極體之，；二…:，含一第-節點及-第二節點，該第二二 二極體之該第二節點連接至該二極體組之該j:，第- 22. 如請求項21所述之顯示裝置，其中 串聯電晶體，每-串聯電曰_句a二電曰曰體包數個 複數個串聯二極體，口：;體 =第體f:—』衡別連接至二以ΐ 5 1336061 糾 >月> 阳修正替換頁 23·ϊϊί項示敦置，其中當欲開啟^ 該致能訊號之-電壓位準係由下列關係式決定： E^ble>Vth+{V〇Xn) 臨為該電壓位準，^係為該第一電晶體之 極體組之二極體個數/之—極體順向偏壓，η則為該二 述之顯示裝置’其中該二極體組包含-以, 方式連接之電晶體 25.如請求項15所述之顯示裝置，其 為N型電晶體❶ 、 •極 電晶體組中之電晶體同 其中該電晶體組中之電晶體同 26.如請求項15所述之顯示裝置， 為Ρ型電晶體。 二極^1陣列„所述之顯不裝置，其中該顯示陣列係為有機發光 陣^求項15所述之顯示裝置，其中該顯示陣列係為液晶晝素 6