TWI309300B - Pulling testing mechanism - Google Patents

Description

1309300 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種拉拔測試機構，特別是有關於一 種可提昇鍵帽拉拔測試可靠度之拉拔測試機構。 【先前技術】 一般來說，鍵盤上的键帽（keycap )常會因操作者不 當的施力而從鍵盤上脫落。因此，為了確保鍵帽在組裝於 鍵盤上後可穩固地與鍵盤結合在一起，必須對鍵帽進行拉 拔測試，以確保鍵盤的品質。 然而，目前對於键帽的拉拔測試皆是以人工之方式來 進行，如此會導致人力成本的增加以及降低鍵帽拉拔測試 的可靠度。 有鑑於此，本發明之目的是要提供一種拉拔測試機 構，以提昇鍵帽拉拔測試的可靠度。 【發明内容】 本發明基本上採用如下所詳述之特徵以為了要解決上 述之問題。也就是說，本發明包括一底座；一第一固定元 件’設置於該底座之上；一第二固定元件’設置於該底座 之上，並且係相對於該第一固定元件；一第一移動元件， 係以移動之方式連接於該第一固定元件；一第二移動元 件，係以移動之方式連接於該第二固定元件，並且係相對 於該第一移動元件；一第一旋轉桿，具有一第一桿體、一 第二桿體及一第一卡鉤，其中，該第一桿體係連接於該第 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 6 1309300 定J:7L:及該苐二桿體，該第二桿體係抵接於該第一固 接於該第延伸至該録之下，以及該第—卡鉤係連 具有一第：二’並且係位於該底座之下;-第二旋轉桿， 三桿體：第四捍體及一第二卡鉤，其中，該第 體;該第—移動元件及該第四桿體，該第四桿 =:第二固定元件，並且係延伸至該底座之下， 之下k、鉤仏連接於該第四桿體，並且係位於該底座 -’ _移動之方式抵接於該第 元二：弟二移動元件之間，其中，當該第三移動 兀知移劻時，該第一篇叙；4 μ •該ϋ + 移動元件係分別相 ㈣r 70件及該第二固定元件移動，該第二捍體 =昂-卡釣係藉甴該第—移動元件之移動而旋轉一第一 二度二及該第四桿體及該f二卡鈞係藉由該第二移動元 件之移動而旋轉一第二角度。 二 間 同時，根據本發明之拉拔測試機構，其更包括一第一 彈f生70件以及-第二彈性元件，其中，該第一彈性元件係 連接於該第-固定元件與該第一移動元件之間，以及該第 彈性7G件係連接於該第二固定元件触第二移動元件之 Λ 又在本發明中，該拉拔測試機構更包括一第一導禪以 及-第二導桿，係分別連接於該第一固定元件以及該第二 固定7G件’其巾，該第三移動元件係移動於該第—導桿及 該第二導桿之上。 又在本發財，該拉拔測試機構更包括—第—拉桿以 0798-Α21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 7 1309300 及一第二拉桿，係分別連接於該第一旋轉桿以及該第二旋 轉桿，用以分別拉拔該第一旋轉桿及該第二旋轉桿。 又在本發明中，該第一移動元件具有一第一定位槽， 該第二移動元件具有一第二定位槽，以及該第一桿體及該 第三桿體係分別設置於該第一定位槽及該第二定位槽之 中〇 又在本發明中，該第二桿體係位於該第一固定元件與 該第一移動元件之間，以及該第四桿體係位於該第二固定 Φ 元件與該第二移動元件之間。 又在本發明中，該第三移動元件具有一錐狀部，係抵 接於該第一移動元件及該第二移動元件，以及當該第三移 動元件移動時，該錐狀部係迫使該第一移動元件及該第二 移動元件分別相對於該第一固定元件及該第二固定元件移 動。 又在本發明中，該錐狀部與該第一移動元件係為互補 之構造，以及該錐狀部與該第二移動元件係為互補之構造。 • 為使本發明之上述目的、特徵和優點能更明顯易懂， 下文特舉較佳實施例並配合所附圖式做詳細說明。 【實施方式】 茲配合圖式說明本發明之較佳實施例。 請同時參閱第1A圖、第1B圖、第2圖、第3A圖及 第3B圖，本實施例之拉拔測試機構100主要包括有一底 座110、一第一固定元件120、一第二固定元件125、一第 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 8 1309300 一移動元件130、一第二移動元件140、兩個對稱之第一旋 轉桿150、兩個對稱之第二旋轉桿160、一第三移動元件 170、一第一彈性元件180、一第二彈性元件185、一第一 導桿19卜一第二導桿192、兩個對稱之第一拉桿193以及 兩個對稱之第二拉桿194。 如第1A圖、第1B圖、第3A圖及第3B圖所示，第一 固定元件120及第二固定元件125皆是設置於底座110之 上，並且第一固定元件120是相對於第二固定元件125。 _ 第一移動元件130及第二移動元件H0分別是以移動 之方式連接於第一固定元件120及第二固定元件125，同 時，第二移動元件140是相對於第一移動元件130。更詳 細的來說，如第2圖所示，第一彈性元件180是連接於第 一固定元件120與第一移動元件130之間，而第二彈性元 件185是連接於第二固定元件125與第二移動元件140之 間。如上所述，第一移動元件130可藉由第一彈性元件180 來相對於第一固定元件120移動，而第二移動元件140可 • 藉由第二彈性元件185來相對於第二固定元件125移動。 此外，第一移動元件130具有兩個對稱之第一定位槽131， 而第二移動元件140具有兩個對稱之第二定位槽141。 請同時參閱第1A圖、第1B圖、第2圖、第3A圖及 第3B圖，每一個第一旋轉桿150具有一第一桿體151、一 第二桿體152及一第一卡鉤153。第一桿體151是連接於 第一移動元件130及第二桿體152。第二桿體152是抵接 於第一固定元件120，並且第二桿體152乃是延伸至底座 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 9 1309300 110之下。第一卡鉤153是連接於第二桿體152，並且第一 卡鉤153是位於底座110之下。此外，值得注意的是，第 一桿體151是設置於第一移動元件130之第一定位槽131 之中，以及第二桿體152是位於第一固定元件120與第一 移動元件130之間。 每一個第二旋轉桿160具有一第三桿體161、一第四 桿體162及一第二卡鉤163。第三桿體161是連接於第二 移動元件140及第四桿體162。第四桿體162是抵接於第 φ 二固定元件125，並且第四桿體162乃是延伸至底座110 之下。第二卡鉤163是連接於第四桿體162，並且第二卡 鉤163是位於底座110之下。類似地，第三桿體161是設 置於第二移動元件140之第二定位槽141之中，以及第四 桿體162是位於第二固定元件125與第二移動元件140之 間。 第三移動元件170是以移動之方式抵接於第一移動元 件130與第二移動元件140之間。更詳細的來說，第三移 • 動元件170具有一錐狀部171，錐狀部171乃是同時抵接 於第一移動元件130及第二移動元件140。如上所述，錐 狀部171與第一移動元件130可以是為互補之構造，以及 錐狀部171與第二移動元件140亦可以是為互補之構造。 第一導桿191及第二導桿192是分別連接於第一固定 元件120及第二固定元件125，而第三移動元件170則是 移動於第一導桿191及第二導桿192之上。 每一個第一拉桿193是連接於每一個第一旋轉桿 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 10 !3〇93〇〇 5〇’而每-個第二拉桿194是連接於每—個第二旋轉桿 、f〇。此外’每-個第一拉桿193及每一個第二拉桿⑼ ^可選擇性地分別連接於-拉力計（未顯示）等拉力量測 裳置。 接下來說明以拉拔測試機構100對鍵帽進行拉拔 之運作方式。 … 、首先，如第3 B圖所示，先使第三移動元件i 7 〇沿第一 導仔191及第二導桿192往上移*，亦即，將第三移動元 ，Π0之錐狀部Π1先移動至第一移動元件丄如及第二移 動儿件140之上部。此時，第—移動元件13〇及第二移動 心牛⑽會因錐狀部171之推擠而分別朝向第—固定元件 匕〇及第二固定元件125移動，第一彈性元件⑽會被第 1定元件12G與第-移動元们3G所壓縮，以及第二彈 性=件185會被第二固定元件125與第二移動元件14〇所 壓縮。特別的是’隨著第—移動元件13〇及第二移動元件 14〇分別朝向第一固定元件12〇及第二固定元件125移 動，第一旋轉桿150之第二桿體152及第一卡鉤153會旋 轉—第一角度，以及第二旋轉桿16〇之第四桿體162及第 二卡鉤163會旋轉一第二角度（第一角度可以是等於第二 角度）。此時，兩第一卡鉤153及兩第二卡鉤163會彼此 平行。然後’可將裝配有鍵帽C之一鍵盤B置於拉拔測試 機構100之底座110之下，並使鍵帽C位於兩第一卡鉤153 及兩第二卡鉤163之間及之上。在此，兩第一卡鉤153及 兩第二卡鉤163是分別位於鍵帽c的四個角落附近’並且 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 11 1309300 兩第一卡鉤153及兩第二卡鉤163是與鍵帽C的邊緣平行。 接著，如第1B圖所示，使第三移動元件170沿第一導 桿191及第二導桿192往下移動，亦即，將第三移動元件 170之錐狀部171移動至第一移動元件130及第二移動元 件140之下部。此時，第一移動元件130及第二移動元件 140會因第一彈性元件180及第二彈性元件185所提供之 彈性恢復力而分別以遠離第一固定元件120及第二固定元 件125之方式移動。特別的是，隨著第一移動元件130及 φ 第二移動元件140分別以遠離第一固定元件120及第二固 定元件125之方式移動，第一旋轉桿150之第二桿體152 及第一卡鉤153會反向旋轉該第一角度，以及第二旋轉桿 160之第四桿體162及第二卡鉤163亦會反向旋轉該第二 角度。也就是說，兩第一卡鉤153及兩第二卡鉤163會同 時旋轉伸入鍵帽C之内。 然後，可選擇性地往上拉動第一拉桿193及/或第二拉 桿194，以使第一旋轉桿150及/或第二旋轉桿160被往上 • 拉動。此時，第一卡鉤153及/或第二卡鉤163即會卡入鍵 帽C之邊緣内，並往上拉動鍵帽C之邊緣。最後，藉由觀 察連接於第一拉桿193及/或第二拉桿194之拉力計等拉力 量測裝置所顯示之拉力讀值，即可得知鍵帽C與鍵盤B間 之結合強度是否合乎規範需求。 此外，值得注意的是，複數個拉拔測試機構100可以 並聯的方式組合在一起，如此一來，即可對一鍵盤上之複 數個或所有鍵帽同時進行拉拔測試。 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 12 1309300

綜上所述，以本發明所揭露之拉拔測試機構來對鍵盤 上之鍵帽進行拉拔測試不但可降低人力成本，其還可有效 提昇鍵帽拉拔測試的可靠度。 雖然本發明已以較佳實施例揭露於上，然其並非用以 限定本發明，任何熟習此項技藝者，在不脫離本發明之精 神和範圍内，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保 護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 079S-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 13 1309300 【圖式簡單說明】 第1A圖係顯示本發明之拉拔測試機構於一操作狀態 下之立體不意圖； 第1B圖係顯示根據第1A圖之前視示意圖； 第2圖係顯示根據第1B圖之A-A剖面示意圖； 第3A圖係顯示本發明之拉拔測試機構於另一操作狀 態下之立體示意圖；以及 第3B圖係顯示根據第3A圖之前視示意圖。 【主要元件符號說明】 100〜拉拔測試機構 110〜底座 120〜第一固定元件 125〜第二固定元件 130〜第一移動元件 131〜第一定位槽 • 140〜第二移動元件 141〜第二定位槽 150〜第一旋轉桿 151〜第一桿體 152〜第二桿體 153〜第一卡鉤 160〜第二旋轉桿 161〜第三桿體 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 14 1309300 162, -第四桿體 163、 d第二卡鉤 170、 〃第三移動元件 171- -錐狀部 180、 〃第一彈性元件 185- /第二彈性元件 191- /第一導桿 192〜 /第二導桿 193〜 /第一拉桿 194〜 /第二拉桿 B〜键 盤 C〜鍵 帽 ❿ 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 15

Claims (1)

1309300 十、申請專利範圍： 種拉拔測試機構，包括： 一底座； 於該底座之上； 於該底座之上，並且係相對於 —第—固定元件，設置 —第二固定元件，設置 該第一固定元件； 一第—移動元件 元件； 知以移動之方式連接於該第一固定

元二件，細移動之方錢接於該第二固定 _^且係相對於該第—移動元件； -卡二:轉桿二具有一第一桿體、-第二桿體及-第 第二桿體:V.該弟一杯體係連接於該第-移動元件及該 延伸至兮底桿體係抵接於該第一固定元件，並且係 〒主这底座之下，以及 ^ 體，並且魏於該総之下1〜卡齡域於該第二桿 二卡釣^it軺仔具有一第三桿體、—第四桿體及一第 第四桿H Ί接於料二移動^件及該 延抵接於該第二固定元件，並且孫 ，。底座之下，以及該第二卡釣係連接於該第四桿 ，亚且係位於該底座之下；以及 -第三移動元件，係以移動之方式抵接於該第—移動 以牛與該第二移動元件之間，其中，當·三移動元件移 動時，該第一移動元件及該第二移動元件係分別相對於該 第一固定元件及該第二固定元件移動，該第二桿體及該第 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 16 1309300 -卡鉤係#由該第一移動 以及該第四桿體及該第二 動而旋轉一第二角度。

以及4第二彈性^件係於該第二固定 動元件之間。 >、逐罘—移 一移動元件之移動而旋轉一第—角度， 該第二卡釣係猎由該第二移動元件之移 』t如申睛專利範圍第1項所述之拉拔測試機構，更包 ^第&桿以及一第二導桿，係分別連接於該第—固定 7D件以及該第二固定元件，其中，該第三移動元件係移動 於該第一導桿及該第二導桿之上。 4·如申請專利範圍第1項所述之拉拔測試機構，更包 括一第一拉桿以及一第二拉桿，係分別連接於該第一旋轉 桿以及該第二旋轉桿，用以分別拉拔該第一旋轉桿及該第 二旋轉桿。 5. 如申請專利範圍第1項所述之拉拔測試應構，其中， 該第一移動元件具有一第—定位槽，該第二務動元件具有 一第二定位槽，以及該第—桿體及該第三桿體係分別設置 於該第一定位槽及該第二定位槽之中。 6. 如申睛專利範圍第1項所述之拉拔測試機構，其中， 該第二桿體係位於該第一固定元件與該第^務動元件之 間，以及該第四桿體係位於該第二固定元件與該第二移動 元件之間。 0798-A21518TWF(N2);C06004;HAWDONG 17 1309300 7. 如申請專利範圍第1項所述之拉拔測試機構，其中， 該第三移動元件具有一錐狀部，係抵接於該第一移動元件 及該第二移動元件，以及當該第三移動元件移動時，該錐 狀部係迫使該第一移動元件及該第二移動元件分別相對於 該第一固定元件及該第二固定元件移動。 8. 如申請專利範圍第7項所述之拉拔測試機構，其中， 該錐狀部與該第一移動元件係為互補之構造，以及該錐狀 部與該第二移動元件係為互補之構造。

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