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TWI396191B - 處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法及其裝置 - Google Patents

處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法及其裝置 Download PDF

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TWI396191B
TWI396191B TW098116969A TW98116969A TWI396191B TW I396191 B TWI396191 B TW I396191B TW 098116969 A TW098116969 A TW 098116969A TW 98116969 A TW98116969 A TW 98116969A TW I396191 B TWI396191 B TW I396191B
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TW
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optical storage
storage medium
readback signal
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TW098116969A
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TW201034007A (en
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Chih Ching Yu
Ying Feng Huang
Ya Fang Nien
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Mediatek Inc
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Description

處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法及其裝置
本發明有關於處理讀取光儲存媒體(optical storage medium)所產生的讀回信號(readback signal)的方法和裝置。
光儲存媒體(例如唯讀光碟、可錄式光碟或可再寫光碟)已成為當前流行的資料載體。通常地，通過向記錄層(recording layer)發射雷射光束(laser beam)並接著偵測自該記錄層反射的信號來讀取該記錄層(即反射層)，以對所儲存資料進行複製。為保護記錄層(反射層)，通常於記錄層上形成保護層，例如由聚碳酸酯(polycarbonate)組成的保護層。因此，雷射二極體(laser diode)發射的雷射光束在到達記錄層(即反射層)前必須穿過保護層；類似地，自記錄層(即反射層)反射的雷射光束在光感測器(photo sensor)偵測到前必須穿過保護層。因此，光感測器偵測到的反射雷射光束的信號品質實際上受到保護層的影響。
然而，由於保護層表面上的刮痕、灰塵或者指紋，光碟可能存在缺陷區域。參考第1圖，第1圖為自光碟反射的信號產生的射頻(radio frequency,RF)信號示意圖，該光碟由於刮痕具有缺陷區域。當光碟的保護層具有刮痕時，刮痕可能嚴重損壞保護層的光傳輸特性。如圖所示，當光學讀寫頭向刮痕導致的缺陷區域發射雷射光束時，RF信號RF_1的一段信號部分P1大約消失(即信號幅度相當低)。因此，正確解碼RF信號的此信號部分P1非常困難。
參考第2圖，第2圖為光碟的反射信號所產生的射頻信號示意圖，該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。當光碟的保護層具有指紋或灰塵時，指紋或灰塵不會嚴重損壞保護層的光傳輸特性。如圖所示，當光學讀寫頭向指紋或灰塵導致的缺陷區域發射雷射光束時，RF信號RF_2的一段信號部分P2幅度比正常的信號低。因為與第1圖的信號部分P1相比，信號部分P2沒有完全消失(即信號幅度減小但是高於可接受的位準)，因此有可能解碼信號部分P2以獲得信號部分P2傳輸的資訊。然而，當信號部分P2的信號品質不滿足最低解碼需求時，也有可能解碼信號部分P2失敗。
參考第3圖，第3圖為光碟的反射信號所產生的另一射頻信號示意圖，該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。如圖所示，當光學讀寫頭向指紋或灰塵導致的缺陷區域發射雷射光束時，RF信號RF_3的一段信號部分P3有顯著的幅度變形。類似地，因為與第1圖的信號部分P1相比，信號部分P3沒有完全消失(即信號幅度減小但是仍高於可接受的位準)，因此有可能解碼信號部分P3以獲得信號部分P3傳輸的資訊。
如上所述，受指紋/灰塵影響的RF信號沒有完全消失。因此，如何處理受指紋/灰塵影響的RF信號以允許下面的解碼過程得以正確獲得受指紋/灰塵影響的RF信號傳輸的資訊成為設計者的重要難題。換句話說，需要一種改善讀取光儲存媒體上缺陷區域效能的方法和裝置，尤其是由指紋/灰塵導致的缺陷區域。
為了正確獲得受指紋/灰塵影響的RF信號傳輸的資訊，並改善讀取光儲存媒體上缺陷區域效能，尤其是由指紋/灰塵導致的缺陷區域，本發明提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法及其裝置。
本發明提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，包括：根據所述讀回信號實施缺陷偵測並產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及根據所述缺陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準。
本發明另提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，包括：一缺陷偵測區塊，用於根據所述讀回信號實施一缺陷偵測以產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及一參數校準區塊，耦接於所述缺陷偵測區塊，用於根據所述缺陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準。
本發明另提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，包括：根據所述讀回信號獲取所述光儲存媒體的識別資訊；對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準，據此獲取所述至少一個參數的一校準參數設置；以及記錄所述識別資訊指示的所述校準參數設置至一儲存設備。
本發明另提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，包括：一光儲存存取區塊，用於讀取所述光儲存媒體以獲取所述讀回信號，並根據所述讀回信號獲取所述光儲存媒體的識別資訊；一參數校準區塊，耦接於所述光儲存存取區塊，用於對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準，據此獲取所述至少一個參數的一校準參數設置；一儲存設備；以及一控制區塊，耦接於所述參數校準區塊、所述光儲存存取區塊和所述儲存設備，用於記錄所述識別資訊指示的所述校準參數設置至所述儲存設備。
利用本發明能夠正確解碼讀回信號中包含的資訊並改善讀取光儲存媒體上缺陷區域效能。
以下為根據多個圖式對本發明之較佳實施例進行詳細描述，本領域習知技藝者閱讀後應可明確了解本發明之目的。
在說明書及後續的申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的組件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個組件。本說明書及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。以外，「耦接」一詞在此係包含任何直接及間接的電性連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電性連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地電性連接至該第二裝置。
第4圖為根據本發明一典型實施例的光儲存裝置的方塊示意圖。光儲存裝置300(例如光碟驅動器)包括轉軸馬達(spindle motor)302、光學讀寫頭304、伺服與功率控制區塊306、信號產生區塊308、讀取通道區塊310、缺陷偵測區塊312、參數校準區塊314和校準控制區塊316。當光儲存媒體(例如光碟301)載入光儲存裝置300，激活轉軸馬達302使光碟301以所需旋轉速率旋轉。光學讀寫頭304經由操作發射具有特定讀取功率的雷射光束至光碟301，以從光碟301讀取資料。若光碟301為可錄式光碟或可再寫光碟，光儲存裝置300的光學讀寫頭304可經由配置發射具有特定寫入功率的雷射光束至光碟301。光學讀寫頭304的操作由伺服與功率控制區塊306控制。應用至光學讀寫頭304的伺服控制機制和功率控制機制已為本領域的具有通常知識者所習知，這里不再贅述。
本實施例中，信號產生區塊308包括信號合成器(synthesizer)322和信號處理器324，其中信號處理器324包括極值追蹤單元(extreme value tracking unit)326和濾波單元328。根據自光碟301反射並接著由光學讀寫頭304中的光感測器(圖中未顯示)偵測的信號，信號合成器322產生讀回信號S1(例如RF信號)。信號處理器324處理讀回信號S1以產生已處理讀回信號(例如已處理RF信號)S2。信號處理器324中，極值追蹤單元326用於追蹤讀回信號S1的預設類型極值並產生極值追蹤結果，濾波單元328用於對極值追蹤結果實施濾波操作以產生已處理讀回信號S2。在一典型實施例中，極值追蹤單元326可使用峰值保持電路以追蹤讀回信號S1的峰值，濾波單元328可使用低通濾波器以濾除峰值保持電路輸出中的高頻組分。接著，已處理讀回信號S2進入下面的缺陷偵測區塊312以進行下一步信號處理，詳述如下。請注意，這里信號處理器324的實施僅為一個例子，本發明並不限於此。用於處理讀回信號S1以產生用於缺陷偵測區塊312的已處理讀回信號的信號處理器324可依據設計需求來使用。
在此典型實施例中，缺陷偵測區塊312包括第一截剪器(slicer)332、第二截剪器334和決策邏輯(decision logic)單元336。第一截剪器332用於依據第一截剪位準SL1截剪已處理讀回信號S2以產生第一截剪結果SR1，第二截剪器334用於依據第二截剪位準SL2截剪已處理讀回信號S2以產生第二截剪結果SR2，決策邏輯單元336依據第一截剪結果SR1和第二截剪結果SR2產生缺陷偵測結果S3。可參考第5圖，第5圖為缺陷偵測區塊312實施缺陷偵測的示意圖。如上所述，當光學讀寫頭304存取由刮痕導致的缺陷區域時，信號部分P1大約消失(即信號幅度相當低)；當光學讀寫頭304存取由指紋/灰塵導致的缺陷區域時，信號部分P2或P3沒有完全消失(即信號幅度減小但是高於可接受的位準)。因此，分別依據刮痕和指紋/灰塵所導致缺陷區域的信號特征，第一截剪位準SL1配置為低於第二截剪位準SL2。第一截剪位準SL1特別設計為識別刮痕導致的缺陷區域，而第二截剪位準SL2特別用於識別刮痕或指紋/灰塵導致的缺陷區域。在本實施例中，決策邏輯單元336對第一截剪結果SR1和第二截剪結果SR2實施互斥或(XOR)運算，據此產生缺陷偵測結果S3(即S3=SR1 XOR SR2)。如第5圖所示，缺陷偵測結果S3可指示僅由指紋/灰塵導致的缺陷區域。換句話說，依據特定應用的設計需求，根據第一截剪器332和第二截剪器334產生的截剪結果，決策邏輯單元336可配置為能鑒別(discriminate)刮痕導致的缺陷區域與指紋/灰塵導致的缺陷區域。然而，本發明並不僅限於此。使用一個或多個截剪器以識別光儲存媒體上的缺陷區域的任何應用依然遵從本發明之精神。
在第4圖所示的典型實施例中，缺陷偵測區塊312包括兩個個體截剪器。然而，在一種替代設計中，缺陷偵測區塊312可修改為包括一個截剪器和決策邏輯單元336。在第一週期，相應於特定磁軌區(track sector)截剪器使用第一截剪位準SL1截剪已處理讀回信號S2。第一截剪結果SR1發現的任何缺陷區域由決策邏輯單元336識別為刮痕導致的缺陷區域。在第二週期，相應於相同的特定磁軌區截剪器使用第二截剪位準SL2截剪已處理讀回信號S2。第二截剪結果SR2發現的任何缺陷區域由決策邏輯單元336識別為刮痕或指紋/灰塵導致的缺陷區域。藉此，在缺陷偵測區塊312中，相同的缺陷偵測結果可從使用相同的截剪器甚至單個截剪器的兩個連續的截剪操作中獲得。
在另一個替代設計中，缺陷偵測區塊312可修改為包含第二截剪器334和決策邏輯單元336。也就是說，在該替代設計刪除第一截剪器332，其中第一截剪器332用於產生可指示刮痕導致的缺陷區域的截剪結果。藉此，第二截剪結果SR2直接作為缺陷偵測區塊312產生的缺陷偵測結果S3。以使用高通濾波器處理讀回信號(即RF信號)S1中相應於指紋/灰塵導致的缺陷區域的信號部分為例。第1圖的信號部分P1可由第二截剪器334識別；然而，由於信號部分P1的信號幅度相當小，因此信號部分P1的高通濾波結果與未經濾波的信號部分P1大約相同。換句話說，即使缺陷偵測結果是第二截剪結果SR2而非第一和二截剪結果SR1和SR2的組合邏輯結果，高通濾波結果仍然相同。
需注意，使用一個或多個截剪器以發現刮痕或指紋/灰塵導致的缺陷區域的上述替代實施例均遵從本發明精神，並均屬於本發明所主張範圍。
簡言之，依據設計需求，缺陷偵測結果S3可設置為組合邏輯結果(例如第一截剪結果SR1和第二截剪結果SR2的XOR結果)、第一截剪結果SR1或第二截剪結果SR2。舉例來說，若對讀回信號S1進行高通濾波以促進相應於缺陷區域的信號部分的解碼時，第一截剪結果SR1和第二截剪結果SR2的組合邏輯結果或第二截剪結果SR2優先選擇為缺陷偵測結果S3以指示何時啟動調整高通濾波操作。進一步的詳細描述如下。
缺陷偵測區塊312產生的缺陷偵測結果S3傳輸至參數校準區塊314。參數校準區塊314根據輸入的缺陷偵測結果S3對與處理讀回信號S1相關的至少一個參數實施參數校準。光學讀寫頭304存取指紋/灰塵導致的缺陷區域時，第5圖所示的缺陷偵測結果S3通知參數校準區塊314，並且參數校準區塊314被賦能以依據設計需求校準至少一個讀取通道參數、至少一個伺服參數或讀取通道參數和伺服參數的組合。也就是說，參數校準區塊314調整在讀取通道區塊310中應用的讀取通道參數和/或在伺服/功率控制區塊306中應用的伺服參數。典型的讀取通道參數可以為截剪器帶寬、維特比(Viterbi)帶寬、鎖相迴路帶寬、部分回應最大似然(Partial Response Maximum Likelihood,PRML)靶標位準(target level)、解碼策略、RF信號高通濾波帶寬或RF信號幅度。伺服參數可以為聚焦增益(focus gain)或散焦設置(defocus setting)。請注意，上述參數例子僅用於說明本發明，並非用於限制本發明。任何相關於用於選擇性賦能至少一個參數的參數校準的缺陷偵測結果的實現均遵從本發明精神，並均屬於本發明所主張範圍。
並且，根據缺陷偵測結果S3，高通濾波器(high-pass filter,HPF)342也可被選擇性調整以對讀回信號S1進行高通濾波，其中高通濾波器342是通常於讀取通道區塊310中實現的典型組件。通常地，光學讀寫頭304正在對正常區域或缺陷區域進行存取時，高通濾波器342用於對輸入信號實施高通濾波；然而，本發明的一種實現中，光學讀寫頭304正在對缺陷區域進行存取時，高通濾波器342的濾波特性可以被調整。舉例來說，當光學讀寫頭304正在對例如指紋/灰塵導致的缺陷區域進行存取時，則調整高通濾波器342並且對讀回信號S1實施高通濾波以產生已濾波讀回信號S1’，接著解碼器344解碼從高通濾波器342接收的已濾波讀回信號S1’。換句話說，在一種實現中，當光學讀寫頭304存取根據缺陷偵測結果S3識別的缺陷區域時，可選擇性調整高通濾波器342並且賦能參數校準區塊314。如第2圖和第3圖所示，指紋/灰塵可能導致讀回信號S1中受影響的信號部分不對稱，這將增加解碼相應於指紋/灰塵導致的缺陷區域的信號部分的難度。因此，在本發明的典型實施例中，高通濾波器342也能夠使讀回信號S1中受影響的信號部分更對稱，促進相應於指紋/灰塵導致的缺陷區域的信號部分的解碼，其中高通濾波器342通常在讀取通道區塊310中實現並且在缺陷區域被存取時可以進行調整。簡言之，通過對讀回信號S1進行高通濾波並對讀取通道參數和/或伺服參數進行參數校準，第5圖所示信號部分P2或P3傳輸的資訊可成功解碼。
請注意，根據缺陷偵測結果對讀回信號的高通濾波進行選擇性調整或對至少一個參數(例如讀取通道參數或伺服參數)進行參數校準的任何應用均遵從本發明精神，並均屬於本發明所主張範圍。
在光儲存裝置300中，根據從處理讀回信號S1中獲取的信號品質指數S4，校準控制區塊316控制參數校準區塊314。舉例來說，信號品質指數S4可以為從讀回信號S1中獲取的同步信號的信號品質(例如SYNC_OK信號)或與解碼讀回信號S1相關的解碼品質(例如錯誤偵測碼EDC或正確解碼的標識，或解碼錯誤計數)。以SYNC_OK信號作為信號品質指數S4為例。當讀回信號S1具有足夠好的信號品質，可不間斷地獲得SYNC信號。也就是說，指示SYNC信號狀態的SYNC_OK信號將得到保持(例如保持在高邏輯位準)。然而，當讀回信號S1不具有滿足最小需求的信號品質時，SYNC信號將具有同步錯誤(sync loss)，結果SYNC_OK信號將具有低邏輯位準以指示如此狀況。由於SYNC_OK信號的特定信號特征，SYNC_OK信號可因此作為信號品質指數S4以指示參數校準是否已使用優化參數設置校準參數。
通常上，當解碼錯誤計數超過特定值時，讀回信號(例如RF信號)S1變得不可糾正，即是說，讀回信號S1具有較差的信號品質並且難以正確解碼。因此，當光碟301為CD時，C2解碼錯誤計數可作為信號品質指數；當光碟301為DVD或HD-DVD時，外碼同位(Parity of the Outer code,PO)解碼錯誤計數可作為信號品質指數；當光碟301為藍光光碟(Blu-ray disc,BD)時，長程碼(Long Distance Code,LDC)解碼錯誤計數可作為信號品質指數。如在相關領域中所習知的，DVD或HD-DVD的PO解碼和CD的C2解碼對信號品質更敏感。舉例來說，如果資料區塊的PO解碼錯誤計數或C2解碼錯誤計數等於1，則可能整個資料區塊的品質較差。請注意，即使DVD/HD-DVD的內碼同位(Parity of the Inner code,PI)解碼和CD的C1解碼對信號品質不如此敏感，並非意味著PI解碼錯誤計數/C1解碼錯誤計數不能作為信號品質指數。舉例來說，如果資料區塊的PI解碼錯誤計數或C1解碼錯誤計數大於錯誤累積定限(accumulation threshold)，則意味著在相同資料區塊中過多的解碼錯誤，該資料區塊由於讀回信號的較差信號品質可能不可校正。因此，PI解碼錯誤計數或C1解碼錯誤計數也可作為信號品質指數。
第6圖為第4圖所示的光儲存裝置300使用的參數校準方法的第一實施例流程圖。請注意，若結果實質上相同，無需嚴格按照第6圖所示的順序執行步驟。參數校準操作的流程包括下述步驟：
步驟600：開始。
步驟602：檢查缺陷偵測結果以決定光學讀寫頭是否將存取光儲存媒體(例如光碟)上的缺陷區域。如果是，執行步驟604；否則，執行步驟602，繼續監視缺陷偵測結果。
步驟604：賦能參數校準。
步驟606：通過指定校準參數設置校準至少一個參數，以代替參數的初始參數設置，其中至少一個參數包括讀取通道參數、伺服參數或二者的組合。
步驟608：檢查信號品質指數是否滿足預設標準。如果是，執行步驟612；否則執行步驟610。
步驟610：通過對參數指定另一校準參數設置以校準參數。執行步驟608。
步驟612：禁能參數校準。
步驟614：保持對參數的最終校準參數設置。
步驟616：檢查光學讀寫頭是否完成存取缺陷區域。如果是，執行步驟618；否則，執行步驟616繼續監視。
步驟618：將參數從校準參數設置恢復為初始參數設置。其中，校準參數設置由參數校準(由於存取缺陷區域而賦能)所指定。執行步驟602繼續監視缺陷偵測結果。
如第6圖所示的流程所示，參數校準區塊314不會停止校準參數直到信號品質指數滿足預設標準。舉例來說，若SYNC_OK信號作為信號品質指數，只有當SYNC_OK信號沒有同步錯誤時，預設標準才被滿足。參考第7圖和第8圖。第7圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷區域時無參數校準被賦能的典型例子示意圖。第8圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷區域時有參數校準被賦能的典型例子示意圖。通過對讀取通道參數和/或伺服參數實施正確的參數校準，讀回信號S1可被正確解碼以獲得其中包含的資訊。如第4圖所示的光儲存裝置300使用的參數校準方法，本領域的習知技藝者在讀過上述段落後能夠了解第6圖所示的參數校準方法操作。進一步的描述這里不再贅述。
參考第9圖，第9圖為第4圖所示的光儲存裝置300使用的參數校準方法的第二實施例流程圖。請注意，若結果實質上相同，則無需嚴格按照第9圖所示的順序執行步驟。參數校準操作的流程包括下述步驟：
步驟900：開始。
步驟902：檢查缺陷偵測結果以決定光學讀寫頭是否將存取光儲存媒體(例如光碟)上的缺陷區域。如果是，執行步驟904；否則，執行步驟902，繼續監視缺陷偵測結果。
步驟904：賦能參數校準。
步驟906：通過指定校準參數設置校準至少一個參數，以代替參數的初始參數設置，其中至少一個參數包括讀取通道參數、伺服參數或二者組合。
步驟908：檢查信號品質指數是否滿足預設標準。如果是，執行步驟912；否則執行步驟910。
步驟910：通過對參數指定另一校準參數設置以校準參數。執行步驟908。
步驟912：禁能參數校準。
步驟914：保持對參數的最終校準參數設置。
步驟916：檢查光學讀寫頭是否完成存取與缺陷區域相關的磁軌(track)，並存取正常區域的至少一部分。如果是，執行步驟918；否則，執行步驟916繼續監視。
步驟918：將參數從校準參數設置恢復為初始參數設置。其中校準參數設置由參數校準(由於存取缺陷區域而賦能)所指定。執行步驟902繼續監視缺陷偵測結果。
第9圖所示的典型參數校準方法與第6圖所示的參數校準方法類似，主要區別在於將參數從校準參數設置恢復為初始參數設置的時機(即在參數校準之前的參數設置被賦能)。參考第10圖和第11圖。第10圖為根據第6圖所示的參數校準方法相應於缺陷區域和正常區域的參數設置示意圖。第11圖為根據第9圖所示的參數校準方法相應於缺陷區域和正常區域的參數設置示意圖。如第10圖和第11圖所示，在光碟301表面上有指紋FP，其中磁軌TK1和TK2受指紋FP影響。為簡潔和清楚起見，形成於光碟301上的螺旋狀磁軌以多個同心磁軌表示。關於第6圖所示的參數校準方法，校準參數設置PS1只有在光學讀寫頭304存取指紋FP導致的缺陷區域時才有效，初始參數設置PS0在光學讀寫頭304存取除缺陷區域外的正常區域時使用。假設光學讀寫頭304順序存取磁軌TK1-TK3(即從內磁軌TK1到外磁軌TK3)，並以第10圖和第11圖中箭頭符號所示的順時針方向沿著光碟301的螺旋狀磁軌移動。當光學讀寫頭304進入磁軌TK1的缺陷區域時，賦能參數校準以尋找最佳校準參數設置PS1；然而，一旦光學讀寫頭304離開缺陷區域，初始參數設置PS0立即恢復。類似地，當光學讀寫頭304進入磁軌TK2的缺陷區域時，賦能參數校準以尋找最佳校準參數設置PS1；然而，一旦光學讀寫頭304離開缺陷區域，初始參數設置PS0立即恢復。因為外部磁軌TK3不含任何指紋，光學讀寫頭304存取磁軌TK3時，使用初始參數設置PS0。
關於第9圖所示的參數校準方法，在光學讀寫頭304離開與缺陷區域相關的磁軌後，仍保持校準參數設置PS1。舉例來說，當光學讀寫頭304存取緊接著磁軌TK1上缺陷區域的正常區域時，校準參數設置PS1(於光學讀寫頭304存取磁軌TK1上缺陷區域時發現)仍然有效。若缺陷偵測區塊312可精確偵測光儲存媒體的缺陷區域，可使用第6圖所示的參數校準方法以獲得讀取光儲存媒體缺陷區域的最佳效能；然而，若缺陷偵測區塊312不能精確偵測光儲存媒體的缺陷區域，則可使用第9圖所示的參數校準方法以獲得讀取光儲存媒體缺陷區域的最佳效能。在一典型設計中，如第11圖所示校準參數設置PS1對至少一個磁軌有效。由於下一個磁軌TK2仍然受指紋FP影響，因此當光學讀寫頭304存取磁軌TK2(包括缺陷區域和正常區域)時不執行參數恢復。當光學讀寫頭304進入外部磁軌TK3時，因為缺陷偵測區塊312產生的缺陷偵測結果S3將通知參數校準區塊314磁軌TK3上無缺陷區域，所以參數恢復被賦能，將參數從校準參數設置PS1恢復為初始參數設置PS0。
請注意，第10圖和第11圖所示的例子僅為說明本發明，並非用於限制本發明。替代設計均遵從本發明之精神，並均屬於本發明所主張之範圍。此外本領域的習知技藝者在讀過上述段落後能夠充分了解第9圖所示的參數校準方法操作。進一步的描述這里不再贅述。
如上所述，參數校準區塊314可校準參數(例如讀取通道參數和/或伺服參數)為光學讀寫頭304存取的缺陷區域尋找最佳參數設置。在本發明的典型實施例中，當參數校準區塊314被賦能以校準與解碼讀回信號S1相關的至少一個參數時，應考慮光儲存媒體上缺陷區域的缺陷幅度。舉例來說，根據缺陷偵測結果S3，參數校準區塊314首先識別光儲存媒體(例如光碟301)上缺陷區域的缺陷幅度。當缺陷幅度與第一位準相符，參數校準區塊314實施參數校準以校準與處理讀回信號S1相關的第一參數；當缺陷幅度與第二位準相符，參數校準區塊314實施參數校準以校準與處理讀回信號S1相關的第二參數。換句話說，被校準的參數可根據缺陷幅度動態選擇。在一種替代實現中，當缺陷幅度與第一位準相符，參數校準區塊314通過第一參數設置實施參數校準以校準參數，當缺陷幅度與第二位準相符，參數校準區塊314通過第二參數設置實施參數校準以校準參數。換句話說，指定給被校準參數的參數設置可根據缺陷幅度動態選擇。
當考慮缺陷幅度時，由於缺陷幅度可提供參數校準的附加資訊，因此用於尋找最佳校準參數設置的校準時間可縮短。請注意，前述例子僅用於說明本發明，並非用於限制本發明。舉例來說，借助信號品質指數，參數校準可使用實驗-錯誤(try-and-error)方法或其它搜索算法以尋找最佳校準參數設置。可獲得尋找最佳參數設置的相同目標。
除實施參數校準以尋找滿足需求的校準參數設置外，本發明實施例也用於儲存校準參數設置，以改善光儲存裝置(例如光碟驅動器)的讀取效能，其中該校準參數設置包括與處理讀回信號相關的一個或多個參數的設置值。舉例來說，至少一個讀取通道參數或至少一個伺服參數或二者組合的設置值可使用參數校準獲得並儲存於儲存器中以備後面使用，其中讀取通道參數例如截剪器帶寬、維特比帶寬、鎖相迴路帶寬、PRML靶標位準、解碼策略、RF信號高通濾波帶寬或RF信號幅度，伺服參數例如聚焦增益或散焦設置。較佳地，可校準多個參數使光儲存裝置具有最佳讀取效能，這也同時導致對已載入光儲存媒體(例如光碟)完成初次(first-time)參數校準花費較長的時間週期。然而，由於光儲存媒體的校準參數設置記錄於光儲存裝置，當相同的光儲存媒體再次載入至光儲存裝置時，光儲存裝置因此可使用儲存於其中的校準參數設置改善將被解碼的讀回信號的信號品質。換句話說，參數校準(當讀回信號的信號品質由於光儲存媒體上的缺陷區域不能滿足需求時，參數校準被賦能以校準與自光儲存媒體讀取資料相關的多個參數)有可能導致觀察者可察覺的播放中斷。然而，獲得並儲存對參數的校準參數設置後，借助所儲存的由先前參數校準所獲得的校準參數設置，載入至光儲存裝置的相同光儲存媒體的接續播放會變得平滑，詳細操作如下所述。
第12圖為根據本發明另一典型實施例的光儲存裝置的方塊示意圖。光儲存裝置1200(例如光碟驅動器)包括光儲存存取區塊1202、控制區塊1204、參數校準區塊1206和儲存設備1208。當光儲存媒體(例如光碟1201)載入至光儲存裝置1200時，可操作光儲存存取區塊1202以存取記錄在光碟1201上的資訊。舉例來說，光儲存存取區塊1202包括轉軸馬達(例如第4圖所示的轉軸馬達302)、光學讀寫頭(例如第4圖所示的光學讀寫頭304)、伺服與功率控制區塊(例如第4圖所示的伺服與功率控制區塊306)、信號合成器(例如第4圖所示的信號合成器322)、讀取通道區塊(例如第4圖所示的讀取通道區塊310)，其中轉軸馬達以所需旋轉速率來旋轉光碟1201，光學讀寫頭發射具有特定讀取功率的雷射光束至光碟1201並偵測反射雷射光束，伺服與功率控制區塊控制光學讀寫頭的操作，信號合成器根據自光碟1201反射並接著由光學讀寫頭中的光感測器(圖中未顯示)偵測的信號產生讀回信號(例如RF信號)，讀取通道區塊對讀回信號實施高通濾波以產生已濾波讀回信號並解碼已濾波讀回信號以獲取儲存於光碟1201的資訊。此外，若光儲存裝置1200使用前述參數校準機制，光儲存存取區塊1202進一步包含附加組件，例如第4圖所示的極值追蹤單元326和濾波單元328。由於光儲存存取區塊1202可獲取儲存於光碟1201的資訊，本實施中的光儲存存取區塊1202也可自讀回信號中獲取光碟1201的識別資訊(identification information)。舉例來說，可自內容表(table of content)、控制資料區(data zone)或光碟1201檔案系統的獨特特征中獲取識別資訊。
參數校準區塊1206用於實施參數校準對與處理讀回信號相關的至少一個參數實施校準，以獲取校準參數設置。若光儲存裝置1200可使用前述的參數校準機制，則參數校準區塊1206可通過采用第4圖所示的參數校準區塊314實現。
控制區塊1204可經由配置當滿足特定條件時(例如由於存取光碟1201上的缺陷區域使得信號品質低於可接受的位準)激活參數校準區塊1206，並且光碟1201的識別資訊和由參數校準區塊1206為光碟1201所尋找的校準參數設置記錄於儲存設備1208(例如具有資料儲存能力的記憶體設備或其他組件)。也就是說，控制區塊1204將光碟1201的識別資訊所指示的校準參數設置記錄於儲存設備1208以備後用。類似地，若光儲存裝置1200可使用前述的參數校準機制，則第4圖所示的校準控制區塊316和缺陷偵測區塊312可於控制區塊1204中實現。
第13圖為第12圖所示的光儲存裝置1200使用的參數校準方法第一實施例的流程圖。請注意，若結果實質上相同，則無需嚴格按照第13圖所示的順序執行步驟。參數校準操作的流程包括下述步驟：
步驟1300：開始。
步驟1302：獲取光儲存媒體的識別資訊；
步驟1304：參考識別資訊以檢查是否已對光儲存媒體實施過至少一次參數校準。如果是，執行步驟1306；否則，執行步驟1310。
步驟1306：根據識別資訊，從儲存設備載入校準參數設置。
步驟1308：根據自儲存設備載入的校準參數設置，配置與處理讀回信號相關的至少一個參數。執行步驟1316。
步驟1310：檢查是否應當激活參數校準。如果是，執行步驟1312；否則，繼續檢查是否應當激活參數校準。
步驟1312：對與處理讀回信號相關的至少一個參數實施參數校準，因此，為光儲存媒體獲取校準參數設置。
步驟1314：記錄光儲存媒體的識別資訊所指示的校準參數設置於儲存設備。
步驟1316：結束。
在多數情況下，光儲存媒體的識別資訊是唯一的。因此，當載入光碟1201時，控制區塊1204可使用自內容表、控制資料區或光碟1201的檔案系統獨特特征中獲取的識別資訊檢查參數校準區塊1206是否對光碟1201實施過至少一次參數校準(步驟1302和1304)。特別地，當控制區塊1204激活參數校準區塊1206，對與處理讀回信號相關的至少一個參數實施參數校準時，獲取校準參數設置(步驟1312)，其中至少一個參數與處理由讀取光碟1201獲得的讀回信號相關。接著，控制區塊1204記錄識別資訊指示的校準參數設置至儲存設備1208(步驟1314)。因此，通過比較光碟1201的識別資訊與儲存設備1208中記錄的識別資訊，控制區塊1204能夠知道參數校準區塊1206之前是否已對光碟1201實施參數校準。當控制區塊1204發現參數校準區塊1206已對光碟1201實施過至少一次參數校準(即意味著儲存設備1208應當包含光碟1201的校準參數設置)，因此控制區塊1204自儲存設備1208載入光碟1201的校準參數設置，並藉由自儲存設備1208載入的校準參數設置配置光儲存存取區塊1202的一個或多個參數，而不管目前正在存取光碟1201的哪些區域或何時由於讀回信號的差信號品質而需求校準參數設置，其中讀回信號的差信號品質導致解碼錯誤或較高符號錯誤率。舉例來說，在一個實施例中，當光儲存裝置1200存取光碟1201的任何缺陷區域和正常區域，光儲存存取區塊1202使用自儲存設備1208載入的校準參數設置；然而，在另一個實施例中，只有當光儲存裝置1200存取光碟1201的缺陷區域時，光儲存存取區塊1202才使用自儲存設備1208載入的校準參數設置。
當控制區塊1204發現參數校準區塊1206還未對光碟1201實施參數校準(即意味著儲存設備1208中沒有光碟1201的校準參數設置)，因此控制區塊1204檢查參數校準是否應當被激活(步驟1304和1310)。舉例來說，當光儲存裝置1200將存取光碟1201的缺陷區域或讀回信號的信號品質較差(也就是說，發生解碼錯誤或符號錯誤率高於可接受的位準)，控制區塊1204激活參數校準區塊1206，以對與處理讀回信號相關的一個或多個參數實施參數校準，據此獲得校準參數設置，並且控制區塊1204將光碟1201的識別資訊指示的校準參數設置記錄於儲存設備1208(步驟1312和1314)。
若使用前述的參數校準機制，可使用第6圖所示步驟602以實現步驟1310，且可使用第6圖所示步驟604-612以實現步驟1312。在如此實施例中，一旦信號品質指數滿足一個標準，則停止參數校準。接著，校準參數設置儲存於儲存設備以備後用。然而，步驟1310中的參數校準並不限於此典型實施例。舉例來說，光儲存存取區塊1202包括與處理讀回信號相關的N個參數P1 -PN 。參數校準區塊1206可經由配置為參數P1 -PN 的中每一個尋找最優設置。在一個實施例中，控制區塊1204選擇參數P1 -PN 的所有最優設置作為記錄至儲存設備1208的校準參數設置；在一種替代實施例中，控制區塊1204選擇參數P1 -PN 的部分最優設置作為記錄至儲存設備1208的校準參數設置。舉例來說，只有參數P1 、P3 和PN-1 在信號品質中具有有效改善；因此，控制區塊1204只選擇參數P1 、P3 和PN-1 的最優設置作為記錄至儲存設備1208的校準參數設置。
此外，通過檢查光碟1201上相同資料區段(例如相同ECC區塊或相同磁軌)的信號品質(為避免信號品質錯誤判斷)，參數校準區塊1206校準與處理讀回信號相關的一個或多個參數。
並且，參數校準區塊1206實施參數校準的光碟區域的位址也可被記錄。據此，當光碟1201再次載入至光儲存裝置1200時，根據選擇的校準參數設置，控制區塊1204配置光儲存存取區塊1202的一個或多個參數，其中根據光儲存存取區塊1202當前存取的缺陷區域的位址選擇校準參數設置。舉例來說，光碟1201可能具有多個缺陷區域，每個缺陷區域的位址資料和校準參數設置均記錄至儲存設備1208。在一種替代設計中，光碟1201實際上被分成多個碟區(disc area)，每個碟區的位址資料和校準參數設置均記錄至儲存設備1208。
在第13圖所示的典型實施例中，自儲存設備1208載入的校準參數設置直接用於配置光儲存存取區塊1202的一個或多個參數無需再用其他的參數。本發明進一步提出一種替代設計，藉由自儲存設備1208載入的校準參數設置，該替代設計初始化與處理讀回信號相關的至少一個參數，實施參數校準以更新校準參數設置，並記錄新的校準參數設置以更新儲存設備1208中光碟1201的識別資訊所指示的舊校準參數設置。因此，即使於上次的參數校準中發現的校準參數設置不是最佳的，當前的參數校準可很快找到一個較優的校準參數設置，這是因為於當前的參數校準開始時，於上次的參數校準中發現的校準參數設置可作為初始參數設置。第14圖為第12圖所示的光儲存裝置1200使用的參數校準方法第二實施例的流程圖。請注意，若結果實質上相同，則無需嚴格按照第14圖所示的順序執行步驟。第二種參數校準操作的流程包括下述步驟：
步驟1400：開始。
步驟1402：獲取光儲存媒體的識別資訊。
步驟1404：參考識別資訊以檢查是否已對光儲存媒體實施過至少一次參數校準。如果是，執行步驟1406；否則，執行步驟1410。
步驟1406：根據識別資訊，從儲存設備載入校準參數設置。
步驟1408：根據自儲存設備載入的校準參數設置，配置與處理讀回信號相關的至少一個參數。
步驟1410：檢查是否應當激活參數校準。如果是，執行步驟1412；否則，繼續檢查是否應當激活參數校準。
步驟1412：對與處理讀回信號相關的至少一個參數實施參數校準，因此，為光儲存媒體獲取校準參數設置。
步驟1414：記錄光儲存媒體的識別資訊所指示的校準參數設置於儲存設備。
步驟1416：結束。
本領域的習知技藝者在讀過上述段落後能夠了解第13圖所示的每個操作步驟。進一步的描述這里不再贅述。
簡單總結，第12圖所示典型裝置和第13圖、第14圖所示典型方法的思想為儲存與處理讀回信號相關的一個或多個參數的校準參數設置，因此當再次載入相同光儲存媒體用於播放時可節省校準參數的時間。請注意，參數校準區塊1206實施的參數校準並不僅限於上述的典型實施方式。參數校準區塊1206可經由配置以使用任何可行參數校準機制，只要能夠改善光儲存裝置1200讀取效能的校準參數設置能夠成功實現。更特別地，無論實際應用何種參數校準機制以獲取與處理讀回信號相關的一個或多個參數的校準參數設置，任何光儲存裝置遵從本發明精神並屬於本發明範圍，其中光儲存裝置記錄光儲存媒體的識別資訊指示的校準參數設置於儲存設備。
各種變形、修改和所述實施例各種特征的組合均屬於本發明所主張之範圍，本發明之權利範圍應以申請專利範圍為準。
300．．．光儲存裝置
301．．．光碟
302．．．轉軸馬達
304．．．光學讀寫頭
306．．．伺服與功率控制區塊
308．．．信號產生區塊
310．．．讀取通道區塊
312．．．缺陷偵測區塊
314．．．參數校準區塊
316．．．校準控制區塊
322．．．信號合成器
324．．．信號處理器
326．．．極值追蹤單元
328．．．濾波單元
332．．．第一截剪器
334．．．第二截剪器
336．．．決策邏輯單元
342．．．高通濾波器
344．．．解碼器
1200．．．光儲存裝置
1201．．．光碟
1202．．．光儲存存取區塊
1204．．．控制區塊
1206．．．參數校準區塊
1208．．．儲存設備
600~618、900~918、1300~1316、1400~1416．．．步驟
第1圖為光碟的反射信號產生的射頻信號示意圖，該光碟由於刮痕具有缺陷區域。
第2圖為光碟的反射信號產生的射頻信號示意圖，該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。
第3圖為光碟的反射信號產生的另一射頻信號示意圖，該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。
第4圖為根據本發明一實施例的光儲存裝置的方塊示意圖。
第5圖為缺陷偵測區塊實施缺陷偵測的示意圖。
第6圖為第4圖所示的光儲存裝置使用的參數校準方法的第一實施例流程圖。
第7圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷區域時無參數校準被賦能的典型例子示意圖。
第8圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷區域時無參數校準被賦能的典型例子示意圖。
第9圖為第4圖所示的光儲存裝置使用的參數校準方法的第二實施例流程圖。
第10圖為根據第6圖所示的參數校準方法相應於缺陷區域和正常區域的參數設置示意圖。
第11圖為根據第9圖所示的參數校準方法相應於缺陷區域和正常區域的參數設置示意圖。
第12圖為根據本發明另一典型實施例的光儲存裝置的方塊示意圖。
第13圖為第12圖所示的光儲存裝置使用的參數校準方法第一實施例的流程圖。
第14圖為第12圖所示的光儲存裝置使用的參數校準方法第二實施例的流程圖。
600~618．．．步驟

Claims (28)

  1. 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，包括：根據所述讀回信號實施一缺陷偵測並產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及根據所述缺陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準；其中當所述參數校準由所述缺陷偵測結果所賦能而正在執行時，所述參數校準會透過指定多個不同的校準參數設置給所述至少一個參數直到滿足一預設標準，來校準所述至少一個參數。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中根據所述讀回信號實施所述缺陷偵測包括：處理所述讀回信號產生一已處理讀回信號；根據一第一截剪位準截剪所述已處理讀回信號，產生一第一截剪結果；以及根據所述第一截剪結果產生所述缺陷偵測結果。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之處理由讀取光儲存媒 體產生的讀回信號的方法，其中根據所述讀回信號實施所述缺陷偵測進一步包括：根據一第二截剪位準截剪所述已處理讀回信號，產生一第二截剪結果；以及根據所述第一截剪結果產生所述缺陷偵測結果包括：根據所述第一截剪結果和所述第二截剪結果產生所述缺陷偵測結果。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中所述至少一個參數為一讀取通道參數、一伺服參數或二者的一個組合。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中所述讀取通道參數為一截剪帶寬、一維特比帶寬、一鎖相迴路帶寬、一部分回應最大似然靶標位準、一解碼策略、一射頻信號高通濾波帶寬或一射頻信號幅度；所述伺服參數為一聚焦增益或一散焦設置。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中對所述至少一個參數實施所述參數校準包括：根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷 區域的一缺陷幅度；以及根據所述缺陷幅度實施所述參數校準。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，進一步包括：根據自處理所述讀回信號獲取的一信號品質指數，控制所述參數校準。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中根據所述信號品質指數控制所述參數校準包括：檢查所述信號品質指數是否滿足一預設標準；若所述信號品質指數滿足所述預設標準，禁能所述參數校準；以及若所述信號品質指數不滿足所述預設標準，控制所述參數校準以調整所述至少一個參數。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中所述信號品質指數包括從所述讀回信號中獲取的一同步信號的一信號品質或與解碼所述讀回信號相關的一解碼品質。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的方法，其中對所述至少一個參數實施所述參數校準包括：根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷區域；以及當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域時，賦能所述參數校準以校準所述至少一個參數；以及所述處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法進一步包括：若不存取所述缺陷區域，將所述至少一個參數從一校準參數設置恢復為一初始參數設置，其中，所述校準參數設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準所指定。
  11. 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，包括：根據所述讀回信號實施一缺陷偵測並產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺陷區域；根據所述缺陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準，其中對所述至少一個參數實施所述參數校準包括：根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷區域；以及 當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域時，賦能所述參數校準以校準所述至少一個參數；以及當不存取所述光儲存媒體與所述缺陷區域相關的磁軌並且存取一正常區域的至少一部分時，將所述至少一個參數從一校準參數設置恢復為一初始參數設置，其中所述校準參數設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準所指定。
  12. 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，包括：一缺陷偵測區塊，用於根據所述讀回信號實施一缺陷偵測以產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及一參數校準區塊，耦接於所述缺陷偵測區塊，用於根據所述缺陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準；其中當所述參數校準區塊由所述缺陷偵測結果所賦能而正在執行時，所述參數校準區塊會透過指定多個不同的校準參數設置給所述至少一個參數直到滿足一預設標準，來校準所述至少一個參數。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，進一步包括： 一信號產生區塊，包括：一信號合成器，用於根據自所述光儲存媒體反射的信號產生所述讀回信號；以及一信號處理器，耦接於所述信號合成器，用於處理所述讀回信號以產生一已處理讀回信號；其中，所述缺陷偵測區塊包括：一第一截剪器，耦接於所述信號產生區塊，用於根據一第一截剪位準截剪所述已處理讀回信號，產生一第一截剪結果；以及一決策邏輯單元，耦接於所述第一截剪器，用於根據所述第一截剪結果產生所述缺陷偵測結果。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中，所述缺陷偵測區塊進一步包括：一第二截剪器，耦接於所述信號產生區塊和所述決策邏輯單元，用於根據一第二截剪位準截剪所述已處理讀回信號，產生一第二截剪結果，其中所述決策邏輯單元根據所述第一截剪結果和所述第二截剪結果產生所述缺陷偵測結果。
  15. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中由所述參數校準區塊校 準的所述至少一個參數為一讀取通道參數、一伺服參數或二者的一個組合。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述讀取通道參數為一截剪帶寬、一維特比帶寬、一鎖相迴路帶寬、一部分回應最大似然靶標位準、一解碼策略、一射頻信號高通濾波帶寬或一射頻信號幅度；所述伺服參數為一聚焦增益或一散焦設置。
  17. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中根據所述缺陷偵測結果所述參數校準區塊識別所述光儲存媒體上一缺陷區域的一缺陷幅度；並且根據所述缺陷幅度實施所述參數校準。
  18. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，進一步包括：一校準控制區塊，耦接於所述參數校準區塊，用於根據自處理所述讀回信號獲取的一信號品質指數，控制所述參數校準區塊。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述校準控制區塊檢查 所述信號品質指數是否滿足一預設標準；若所述信號品質指數滿足所述預設標準，禁能所述參數校準；並且若所述信號品質指數不滿足所述預設標準，控制所述參數校準以調整所述至少一個參數。
  20. 如申請專利範圍第18項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述信號品質指數包括從所述讀回信號中獲取的一同步信號的一信號品質或與解碼所述讀回信號相關的一解碼品質。
  21. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述參數校準區塊根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷區域；並且當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域時，校準所述至少一個參數；以及若不存取所述缺陷區域，所述參數校準區塊將所述至少一個參數從一校準參數設置恢復為一初始參數設置，其中所述校準參數設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準區塊所指定。
  22. 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，包括：一缺陷偵測區塊，用於根據所述讀回信號實施一缺陷偵測以產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示 所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及一參數校準區塊，耦接於所述缺陷偵測-44區塊，用於根據所述缺陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準，其中所述參數校準區塊根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷區域；以及當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域時，校準所述至少一個參數；以及當不存取與所述缺陷區域相關的所述光儲存媒體磁軌並且存取一正常區域的至少一部分時，所述參數校準區塊將所述至少一個參數從一校準參數設置恢復為一初始參數設置，其中所述校準參數設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準區塊所指定。
  23. 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，包括：根據所述讀回信號獲取所述光儲存媒體的識別資訊；對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準，以獲取所述至少一個參數的一校準參數設置；以及記錄所述識別資訊指示的所述校準參數設置至一儲存設備。
  24. 如申請專利範圍第23項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的方法，進一步包括：參考所述識別資訊以檢查是否已對所述光儲存媒體實施過至少一次所述參數校準；以及若已對所述光儲存媒體實施過至少一次所述參數校準，根據所述識別資訊從所述儲存設備加載所述校準參數設置，並且根據從所述儲存設備載入的所述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的所述至少一個參數；其中當還未對所述光儲存媒體實施所述參數校準時，實施所述參數校準的步驟和記錄所述校準參數設置的步驟。
  25. 如申請專利範圍第24項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法，其中根據從所述儲存設備載入的所述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的所述至少一個參數的步驟進一步包括：當需求所述參數校準時，執行實施所述參數校準的步驟，以更新從所述儲存設備載入的所述校準參數設置，並且執行記錄所述校準參數設置的步驟，以更新所述儲存設備中所述識別資訊指示的所述校準參數設置。
  26. 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，包括：一光儲存存取區塊，用於讀取所述光儲存媒體以獲取 所述讀回信號，並根據所述讀回信號獲取所述光儲存媒體的識別資訊；一參數校準區塊，耦接於所述光儲存存取區塊，用於對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準，以獲取所述至少一個參數的一校準參數設置；一儲存設備；以及一控制區塊，耦接於所述參數校準區塊、所述光儲存存取區塊和所述儲存設備，用於記錄所述識別資訊指示的所述校準參數設置至所述儲存設備。
  27. 如申請專利範圍第26項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述控制區塊進一步參考所述識別資訊以檢查所述參數校準區塊是否已對所述光儲存媒體實施過至少一次所述參數校準；若所述參數校準區塊已對所述光儲存媒體實施過至少一次所述參數校準，所述控制區塊從所述儲存設備加載所述識別資訊指示的所述校準參數設置，並且根據從所述儲存設備載入的所述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的所述至少一個參數；當所述參數校準區塊還未對所述光儲存媒體實施所述參數校準時，所述控制區塊激活所述參數校準以對所述光儲存媒體實施所述參數校準，並將所述參數校準區塊獲取的並由所述光儲存媒體的所述識別資訊指示的所述校準參數設置記錄至所述儲存設備。
  28. 如申請專利範圍第27項所述之處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝置，其中根據自所述儲存設備載入的所述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的所述至少一個參數後，當需求所述參數校準時，所述控制區塊進一步控制所述參數校準區塊以實施所述參數校準，以更新從所述儲存設備載入的所述校準參數設置，並且記錄已更新的所述校準參數設置，以更新所述儲存設備中所述識別資訊指示的所述校準參數設置。
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