TWI395208B - 用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置及方法 - Google Patents

Description

用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置及方法

本發明係有關於用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置及方法，更具體地，本發明係有關於使用校驗單元以選擇性地校驗已寫入儲存媒體中之資料之裝置及方法。

在對資料塊進行編碼及寫入儲存媒體(如光碟)之處理過程中，於一特定時間或於一個資料塊寫入儲存媒體時，使用校驗來檢測已寫入儲存媒體中之資料之準確度。當執行校驗時，停止編碼處理。由於無論已寫入儲存媒體中之資料之品質如何，寫入儲存媒體之所有資料均需要校驗，因此，當對準確之資料進行校驗時就造成了時間浪費。

為避免由於對所有已寫入儲存媒體中之資料進行校驗而造成之時間浪費，本發明目的之一在於提供一種用於將編碼資料寫入儲存媒體之裝置及方法，以選擇性地校驗已寫入儲存媒體中之資料來解決上述問題。

本發明提供一種用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，包含：一品質檢測信號產生器，用以產生一品質檢測信號；一缺陷判斷單元，耦接於該品質檢測信號產生器，該缺陷判斷單元用以依據該品質檢測信號產生一缺陷判斷結果；以及一校驗單元，耦接於該缺陷判斷單元，用以參考該缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入該儲存媒體中之該編碼資料。

本發明另提供一種用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，包含：產生一品質檢測信號；依據該品質檢測信號來產生一缺陷判斷結果；以及參考該缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入該儲存媒體中之該編碼資料。

利用本發明所提供之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置及方法，所能達到效果之一在於，由於無須對所有已寫入儲存媒體中之資料進行校驗，因此，節省了時間，並提高了對資料進行編碼及對編碼資料進行寫入處理之效率。

以下係根據多個圖式對本發明之較佳實施例進行詳細描述，本領域習知技藝者閱讀後應可明確了解本發明之目的。

在說明書及申請專利範圍當中使用了某些詞彙來指稱特定的組件。所屬領域中具有通常知識者應可理解，硬體製造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個組件。本說明書及申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及申請專利範圍當中所提及的「包含」為一開放式的用語，故應解釋成「包含但不限定於」。以外，「耦接」一詞在此包含任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述一第一裝置耦接於一第二裝置，則代表該第一裝置可直接電氣連接於該第二裝置，或透過其他裝置或連接手段間接地電氣連接至該第二裝置。說明書後續描述為實施本發明之較佳實施方式，然該描述乃以說明本發明之一般原則為目的，並非用以限定本發明之範圍。本發明之保護範圍當視所附之申請專利範圍所界定者為準。

請參照第1圖，第1圖為依據本發明一實施例之用於將資料塊進行編碼以產生編碼資料並用於該編碼資料寫入儲存媒體之裝置100之示意圖。如第1圖所示，裝置100包含品質檢測信號產生器110、缺陷判斷單元120及校驗單元130。品質檢測信號產生器110係用以依據儲存媒體之資訊產生品質檢測信號；缺陷判斷單元120耦接於品質檢測信號產生器110，且缺陷判斷單元120係用以依據該品質檢測信號來產生缺陷判斷結果；以及校驗單元130耦接於缺陷判斷單元120，且校驗單元130係用以參考該缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入儲存媒體中之編碼資料。這意味著，可能只有當該缺陷判斷結果指示已寫入儲存媒體中之編碼資料有可能具有解碼錯誤風險時，校驗單元130才須校驗已寫入儲存媒體中之資料。因此，相比校驗所有已寫入儲存媒體中之編碼資料而不考量發生解碼錯誤之風險可能性之做法，該校驗處理之執行更加有效率。

此外，在一些其他實施例中，該缺陷判斷結果可用於確定是否應停止將編碼資料寫入至儲存媒體中。當該缺陷判斷結果指示該編碼資料中出現較多錯誤時，則停止寫入編碼資料。相關描述為本領域具有通常知識者所能了解，簡潔起見，此處不再贅述。

品質檢測信號產生器110偵測該儲存媒體之品質來獲取該儲存媒體之資訊，並依據該儲存媒體之資訊來產生品質檢測信號，所產生之該品質檢測信號用以提供指示有可能發生解碼錯誤之儲存媒體中之區域之資訊。以光碟作為該儲存媒體之示例，該儲存媒體之資訊可為從光碟反射之光強度、光碟之反射率或關於光碟品質之其他資訊。另外，該儲存媒體之資訊也可為聚焦誤差信號、追蹤誤差信號或其他伺服控制信號。

請參照第2圖，第2圖為依據第1圖所示之缺陷判斷單元120之第一實施例之方塊示意圖。如第2圖所示，缺陷判斷單元120包含奇偶字碼重映射器(even and odd codeword remapper)210、計數器222、計數器224以及檢測電路230，其中，檢測電路230包含比較模組232及檢測點控制器234。如第2圖所示之缺陷判斷單元120之詳細操作如下所述，此處係以一藍光光碟(如blu-ray disc)作為儲存媒體之一示例，然本發明並不以此為限。

當向藍光光碟寫入原始資料塊時，首先對該原始資料塊執行交錯操作以產生一交錯資料塊。然後，對該交錯資料塊進行編碼並寫入該藍光光碟。該原始資料塊與該交錯資料塊之大小之定義，以及該交錯操作之定義，上述定義之描述參見藍光光碟之規格書(specification)，且本領域具有通常知識者應當理解該交錯操作，因此，此處省略進一步描述。

第3圖為一交錯資料塊之示意圖。如第3圖所示，該交錯資料塊包含152行(columns)，並且每行包含432列(rows)主資料與64列同位資料，其中，如第3圖所示之每個資料E(X，Y)為一位元組(byte)。該交錯資料塊之資料從左向右逐列順序寫入藍光光碟，也就是，依據位元組E(0，0)，E(0，2)，...，E(0，302)，E(0，1)，E(0，3)，...，E(0，303)，...，E(247，1)，E(247，3)，...，E(247，303)之順序寫入藍光光碟。另外，品質檢測信號產生器110所產生之該品質檢測信號指示當前資料，如有可能引發解碼錯誤之該記錄資料。在本實施例中，三列標識為「缺陷」之資料有可能引發解碼錯誤。

當寫在藍光光碟上之該資料需要被讀取並解碼時，需要對該交錯資料塊執行一去交錯操作以產生一去交錯資料塊(也就是原始資料塊)。請參照第4圖，第4圖為與如第3圖所示之交錯資料塊相關之一去交錯資料塊之示意圖。如第4圖所示，在本實施例中，當對該交錯資料塊執行去交錯操作後，該複數個字碼劃分為兩個字碼群，偶位字碼群與奇位字碼群，偶位字碼群如第4圖中之E(0，1)，E(1，1)...E(247，1)以及E(0，303)，E(1，303)...E(247，303)，奇位字碼群如第4圖中之E(0，0)，E(1，0)...E(247，0)以及E(0，302)，E(1，302)...E(247，302)。在第3圖所示結構中，三列「缺陷」標記橫穿該交錯資料塊，因此，每個偶位字碼具有兩個缺陷資料，如第4圖中之E(0，1)與E(215，1)，以及每個奇位字碼具有一個缺陷資料，如第4圖中之E(216，0)，其中，每個字碼定義為如第4圖所示之一個資料行，並且每個字碼包含216列主資料與32列同位資料。在本實施例中，第4圖中對資料塊之分群過程可視為一重映射過程。

奇偶字碼重映射器210用以對該品質檢測信號進行重映射來產生該偶位字碼群與奇位字碼群之資訊。每個字碼群之資訊包含相應字碼群中任意可能引發解碼錯誤之字碼之資料量。然後，計數器222與計數器224分別記錄偶位字碼群與奇位字碼群中任意可能引發解碼錯誤之字碼之資料量。在本實施例中，計數器222記錄一個計數值「2」(因為每個偶位字碼具有兩個缺陷資料)以及計數器224記錄一個計數值「1」(因為每個奇位字碼具有一個缺陷資料)。

然後，比較模組232分別比較儲存在計數器222及計數器224中之計數值與一預定值，以產生一缺陷判斷結果，其中，該預定值可以為一個字碼中所能允許之最大缺陷資料。若儲存在計數器222與計數器224中之計數值中之一個大於該預定值，則比較模組232產生之該缺陷判斷結果處於第一狀態，且停止繼續對該交錯資料塊進行編碼，停止繼續產生待寫入該儲存媒體之編碼資料以及停止繼續向該儲存媒體(如本實施例中之藍光光碟)寫入待寫入該儲存媒體之編碼資料，因此，校驗單元130開始校驗已寫入該藍光光碟之編碼資料。若儲存在計數器222與計數器224中之計數值均不大於該預定值，則比較模組232產生之該缺陷判斷結果處於第二狀態，裝置100繼續進行編碼並將待寫入該儲存媒體之編碼資料繼續寫入該藍光光碟。

需要注意，可於資料寫入處理之前設置該預定值，以及於資料寫入處理期間該預定值是固定的。然而，於資料寫入處理期間該預定值也可設置為可調式。例如，可依據寫入速率或儲存在該磁碟之導入區中之資訊所指示之磁碟類型來調整該預定值。

另外，檢測點控制器234用以控制比較模組232對計數值與該預定值進行比較之時間，該時間可設置為當遇到資料塊之邊界時、一固定時間之每個結束點或開始點。另外，該時間也可設置為當遇到缺陷下降緣時，如第3圖所示資料E(0，303)之後及資料E(216，302)之後。

請參照第5圖，第5圖為依據如第1圖所示缺陷判斷單元120之第二實施例之方塊示意圖。如第5圖所示，缺陷判斷單元120包含字碼重映射器510、計數器模組520及檢測電路530，其中，檢測電路530包含比較模組532及檢測點控制器534。第5圖所示缺陷判斷單元120之詳細操作如下所述，此處係以一藍光光碟作為儲存媒體之一示例，然本發明並不以此為限。

字碼重映射器510用以對該品質檢測信號進行重映射，以產生每個字碼之資訊。每個字碼之資訊包含可能引發解碼錯誤之字碼之資料量。例如，字碼重映射器510將第4圖中之資料塊重映射為304行(圖中未示)，因此，在本實施例中，計數器模組520配置有304個計數器，以及該304個計數器分別記錄每行中可能引發解碼錯誤之該複數個字碼之資料量。因此，每個計數器記錄一個計數值，該計數值指示可能引發解碼錯誤之相應字碼之資料量。

然後，比較模組532比較儲存在複數個計數器中之複數個計數值與一預定值，以產生一缺陷判斷結果。在一些實施例中，該預定值可以為一個字碼中允許之最大缺陷資料。若儲存在該複數個計數器中之複數個計數值中之一個大於該預定值，則比較模組532產生之該缺陷判斷結果係處於第一狀態，且停止繼續產生待寫入該儲存媒體之編碼資料並停止將待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該儲存媒體(如本實施例中之藍光光碟)，因此，校驗單元130開始校驗已寫入該藍光光碟之編碼資料。若儲存在計數器模組520中之所有計數值均不大於該預定值，則比較模組532產生之缺陷判斷結果處於第二狀態，且裝置100繼續進行編碼並將待寫入該儲存媒體之編碼資料繼續寫入該藍光光碟。

需要注意，可於資料寫入處理之前設置該預定值，以及於資料寫入處理期間該預定值是固定的。然而，於資料寫入處理期間該預定值也可設置為可調式。例如，可依據寫入速率或儲存在該磁碟之導入區中之資訊所指示之磁碟類型來調整該預定值。

另外，檢測點控制器534用以控制比較模組532對計數值與該預定值進行比較之時間，該時間可設置為當遇到資料塊之邊界時、一固定時間之每個結束點或開始點、或當遇到缺陷下降緣時，如第3圖所示資料E(0，303)之後及資料E(216，302)之後。

請參照第6圖，第6圖為依據如第1圖所示之缺陷判斷單元120之第三實施例之方塊示意圖。如第6圖所示，缺陷判斷單元120包含直接缺陷映射器610、計數器620及檢測電路630，其中，檢測電路630包含比較模組632及檢測點控制器634。結合第3圖與第4圖，如第6圖所示缺陷判斷單元120之詳細操作描述如下，此處係以一藍光光碟作為儲存媒體之一示例，然本發明並不以此為限。

直接缺陷映射器610用以直接對該品質檢測信號進行重映射，來產生可能引發解碼錯誤之資料列之數目，這意味著在第6圖所示之本實施例中不存在重映射過程(如第4圖所示之分群過程)。因此，計數器620記錄可能引發解碼錯誤之資料列之數目。在本實施例中，由於在第3圖中有三列資料可能引發解碼錯誤，因此，計數器620中儲存之計數值為「3」。

然後，比較模組632將儲存在計數器620中之計數值與一預定值進行比較，以產生一缺陷判斷結果，其中，該預定值可為一個字碼中允許之最大缺陷資料。若儲存在計數器620中之計數值大於該預定值，則比較模組632產生之缺陷判斷結果處於第一狀態，且停止繼續產生待寫入該儲存媒體之編碼資料並停止繼續將待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該儲存媒體(如本實施例中之藍光光碟)，因此，校驗單元130開始校驗已寫入該藍光光碟之該編碼資料。若儲存在計數器620中之計數值不大於該預定值，則比較模組632產生之該缺陷判斷結果處於第二狀態，且裝置100繼續進行編碼，並將待寫入該儲存媒體之編碼資料繼續寫入該藍光光碟。

需要注意，可於資料寫入處理之前設置該預定值，以及於資料寫入處理期間該預定值是固定的。然而，於資料寫入處理期間該預定值也可設置為可調式。例如，可依據寫入速率或儲存在該磁碟之導入區中之資訊所指示之磁碟類型來調整該預定值。

另外，檢測點控制器634用以控制比較模組632對計數值與該預定值進行比較之時間，該時間可設置為當遇到資料塊之邊界時，一固定時間之每個結束點或開始點，或當遇到缺陷下降緣時，如第3圖所示資料E(0，303)之後及資料E(216，302)之後。

另外，在本發明之另一實施例中，檢測點控制器634可從第6圖所示之缺陷判斷單元120中移除，以及該預定值可設置為零，這意味著無論是否偵測到缺陷，校驗單元130開始校驗該編碼資料。也就是說，當存在任何缺陷資料時(計數器620之計數值大於零)，停止繼續將待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該藍光光碟，且校驗單元130開始校驗已寫入該藍光光碟之編碼資料。該可選擇之設計落入本發明之範圍內。

請參照第7圖，第7圖為依據本發明之一實施例之將編碼資料寫入儲存媒體之一簡化流程圖。需要注意，本實施例提供之結果與上述實施例之結果大致相同，該步驟之實施並不僅限於嚴格依據如第7圖所示之精確順序進行。參照第7圖所示之流程圖，將該編碼資料寫入儲存媒體之操作如下：

步驟700：開始。

步驟702：產生一品質檢測信號。

步驟704：依據該品質檢測信號產生一缺陷判斷結果。

步驟706：參考該缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入儲存媒體中之該編碼資料。

需要注意，在本發明中，校驗單元(如第1圖所示之校驗單元130)參考缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入儲存媒體中之該編碼資料。然而，若儲存媒體之品質很差，應用本發明來對資料進行編碼及將編碼資料寫入該儲存媒體有可能效率很低。因此，在對資料進行編碼及將編碼資料寫入該儲存媒體之前，依據上述方法中之一個來檢測該儲存媒體，以確定該儲存媒體之寫入狀態。然後，確定是否實施本發明之對資料進行編碼及將編碼資料寫入儲存媒體之方法。

以光碟作為儲存媒體之示例，確定該光碟之寫入狀態之第一方法包含：將測試資料寫入該光碟之若干區域，並檢測一聚焦條件、反射或伺服控制性，以確定該光碟之寫入狀態。確定該光碟之寫入狀態之第二方法包含：將光碟重寫次數之數目記錄於一保留區，並透過從該保留區中獲取之資訊來確定寫入狀態。另外，當該光碟為一可錄式光碟(只支持單次寫入)時，該光碟之寫入狀態自然適用於應用本發明來進行編碼及將編碼資料寫入該光碟。

若該光碟之寫入狀態不適用於應用本發明之方法來進行編碼及將編碼資料寫入該光碟，則應用已寫入該光碟之每個資料塊均需校驗之相關方法。

上述之實施例僅用來例舉本發明之實施樣態，以及闡釋本發明之技術特徵，並非用來限制本發明之範疇。任何習知技藝者可依據本發明之精神輕易完成之改變或均等性之安排均屬於本發明所主張之範圍，本發明之權利範圍應以申請專利範圍為準。

100．．．裝置

110．．．品質檢測信號產生器

120．．．缺陷判斷單元

130．．．校驗單元

210．．．奇偶字碼重映射器

222、224、620．．．計數器

230、530、630．．．檢測電路

232、532、632．．．比較模組

234、534、634．．．檢測點控制器

510．．．字碼重映射器

520．．．計數器模組

610．．．直接缺陷映射器

700~706．．．步驟

第1圖為依據本發明一實施例之用於將資料塊進行編碼以產生編碼資料並用於該編碼資料寫入儲存媒體之裝置100之示意圖。

第2圖為依據第1圖所示之缺陷判斷單元120之第一實施例之方塊示意圖。

第3圖為一交錯資料塊之示意圖。

第4圖為與如第3圖所示之交錯資料塊相關之一去交錯資料塊之示意圖。

第5圖為依據如第1圖所示缺陷判斷單元120之第二實施例之方塊示意圖。

第6圖為依據如第1圖所示之缺陷判斷單元120之第三實施例之方塊示意圖。

第7圖為依據本發明之一實施例之將編碼資料寫入儲存媒體之一簡化流程圖。

100．．．裝置

110．．．品質檢測信號產生器

120．．．缺陷判斷單元

130．．．校驗單元

Claims (22)

1. 一種用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，該裝置包含：一品質檢測信號產生器，用以產生一品質檢測信號；一缺陷判斷單元，耦接於該品質檢測信號產生器，該缺陷判斷單元用以依據該品質檢測信號產生一缺陷判斷結果；以及一校驗單元，耦接於該缺陷判斷單元，用以參考該缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入該儲存媒體中之編碼資料。
2. 如申請專利範圍第1項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中，該品質檢測信號產生器偵測該儲存媒體之品質，以產生該品質檢測信號。
3. 如申請專利範圍第1項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中，當該缺陷判斷結果處於一第一狀態時，該用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置停止繼續將待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該儲存媒體，並且，該校驗單元開始校驗已寫入該儲存媒體中之編碼資料；以及當該缺陷判斷結果處於一第二狀態時，該用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置繼續將該待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該儲存媒體。
4. 如申請專利範圍第1項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該編碼資料來源於一資料塊，該資料塊包含複數個資料列，經由該品質檢測信號傳送之資訊指示解碼錯誤之資料，以及該缺陷判斷單元包含：一重映射器，用以依據一去交錯操作對該品質檢測信號進行重映射，來產生複數個字碼群，其中，該去交錯操作係對該資料塊進行以產生一去交錯資料塊，並且，該去交錯資料塊包含複數個字碼群，每個字碼群包含複數個字碼，以及每個字碼群之資訊包含一相應字碼群中任意引發解碼錯誤之字碼之一資料量；複數個計數器，其中每個計數器記錄一計數值，該計數值指示一相應字碼群中任意引發解碼錯誤之字碼之一資料量；以及一檢測電路，用以依據由該複數個計數器分別產生之複數個計數值，來產生該缺陷判斷結果。
5. 如申請專利範圍第4項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該檢測電路包含：一比較模組，耦接於該複數個計數器，該比較模組用以將該複數個計數值與一預定值做比較，來產生該缺陷判斷結果。
6. 如申請專利範圍第5項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該檢測電路更包含：一檢測點控制器，耦接於該比較模組，用以控制該比較模組對該複數個計數值與該預定值進行比較之時間。
7. 如申請專利範圍第6項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該進行比較之時間係位於該資料塊之一邊界處。
8. 如申請專利範圍第1項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中，該編碼資料來源於一資料塊，該資料塊包含複數個資料列，經由該品質檢測信號傳送之資訊指示解碼錯誤之資料，以及該缺陷判斷單元包含：一計數器，用以對引發解碼錯誤之複數個資料列之一數目進行計數，來產生一計數值；以及一檢測電路，耦接於該計數器，用以依據該計數值來產生該缺陷判斷結果。
9. 如申請專利範圍第8項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該檢測電路包含：一比較模組，耦接於該計數器，用以對該計數值與一預定值進行比較，來產生該缺陷判斷結果。
10. 如申請專利範圍第9項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該檢測電路更包含：一檢測點控制器，耦接於該比較模組，用以控制該比較模組對該計數值與該預定值進行比較之一時間。
11. 如申請專利範圍第10項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之裝置，其中該進行比較之時間係位於該資料塊之一邊界處。
12. 一種用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，包含：產生一品質檢測信號；依據該品質檢測信號來產生一缺陷判斷結果；以及參考該缺陷判斷結果來選擇性地校驗已寫入該儲存媒體中之該編碼資料。
13. 如申請專利範圍第12項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，產生該品質檢測信號之該步驟包含：偵測該儲存媒體之品質，來產生該品質檢測信號。
14. 如申請專利範圍第12項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，當該缺陷判斷結果處於一第一狀態時，停止繼續將待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該儲存媒體，並開始校驗已寫入該儲存媒體中之編碼資料，以及當該缺陷判斷結果處於一第二狀態時，繼續將該待寫入該儲存媒體之編碼資料寫入該儲存媒體。
15. 如申請專利範圍第12項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，該編碼資料來源於一資料塊，該資料塊包含複數個資料列，經由該品質檢測信號傳送之資訊指示解碼錯誤之資料，以及依據該品質檢測信號來產生該缺陷判斷結果之該步驟包含：依據一去交錯操作，對該品質檢測信號進行重映射以產生複數個字碼群之資訊，其中，該去交錯操作係對該資料塊進行以產生一去交錯資料塊，並且，該去交錯資料塊包含複數個字碼群，每個字碼群包含複數個字碼，以及每個字碼群之資訊包含一相應字碼群中任意引發解碼錯誤之字碼之一資料量；記錄一計數值，該計數值指示每個字碼群中任意引發解碼錯誤之字碼之一資料量；依據該複數個計數值來產生該缺陷判斷結果。
16. 如申請專利範圍第15項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，依據該複數個計數值來產生該缺陷判斷結果之該步驟包含：將該複數個計數值與一預定值進行比較，以產生該缺陷判斷結果。
17. 如申請專利範圍第16項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，依據該複數個計數值來產生該缺陷判斷結果之該步驟更包含：控制將該複數個計數值與該預定值進行比較之一時間。
18. 如申請專利範圍第17項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中該進行比較之時間係位於該資料塊之一邊界處。
19. 如申請專利範圍第12項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中該解碼資料來源於一資料塊，該資料塊包含複數個資料列，經由該品質檢測信號傳送之資訊指示解碼錯誤之資料，以及依據該品質檢測信號來產生該缺陷判斷結果之該步驟包含：對引發解碼錯誤之複數個資料列之一數目進行計數，以產生一計數值；以及依據該計數值產生該缺陷判斷結果。
20. 如申請專利範圍第19項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，依據該計數值產生該缺陷判斷結果之該步驟包含：將該計數值與一預定值進行比較，以產生該缺陷判斷結果。
21. 如申請專利範圍第20項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中，依據該計數值來產生該缺陷判斷結果之該步驟更包含：控制將該計數值與該預定值進行比較之一時間。
22. 如申請專利範圍第21項所述之用於編碼資料寫入儲存媒體之方法，其中該進行比較之時間係位於該資料塊之一邊界處。