TWI385368B - 光學鏡頭測試裝置 - Google Patents
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Description
本發明涉及光學鏡頭制程，尤其涉及一種光學鏡頭測試裝置。
隨著多媒體技術的飛速發展，數位相機、攝像機及帶有攝像頭的手機越來越受廣大消費者青睞，在人們對數位相機、攝像機及手機攝像頭拍攝物體的影像品質提出更高要求的同時，對數位相機、攝像機及帶有攝像頭的手機等產品需求量也在增加。
數位相機、攝像機及手機攝像頭等攝影裝置中，光學鏡頭係一個不可缺少的部件。數位相機、攝像機及手機攝像頭拍攝物體的影像品質主要取決於光學鏡頭的成像品質。對於光學鏡頭的製造而言，對光學鏡頭成像品質要求及把關的關鍵在於光學鏡頭的測試過程。
請參閱圖1，目前一般所採用的光學鏡頭測試裝置30由光源模組32、測試條紋圖樣34及一個取像模組36組成。光源模組32發出的光透過測試條紋圖樣34，用於提供測試光學鏡頭所需要的測試條紋圖樣。將待測光學鏡頭38放置在測試位處，用取像模組36獲取測試條紋圖樣34經光學鏡頭38所成的像。傳統的光學鏡頭測試裝置30由於光源模組32發出的光的不均勻性，可能會使得測試的結果出現較大的偏差。
有鑒於此，有必要提供一種能夠提高測試精度的光學鏡
頭測試裝置。
一種光學鏡頭測試裝置，依次包括：光源模組，測試條紋圖樣及取像模組。所述光源模組及測試條紋圖樣之間進一步包括一個均勻分佈有奈米級二氧化矽粒子的擴散板。
相對於先前技術，所述光學鏡頭測試裝置加入了含有奈米級粒子的擴散板，使得由光源模組發出的光經過擴散板後更加均勻，測量精度得到了提高。
下面將結合附圖對本發明作進一步詳細說明。
請參閱圖2，本發明實施例提供的光學鏡頭測試裝置10，其依次包括一個光源模組12，一個擴散板14，一個測試條紋圖樣16及一個取像模組18。
所述光源模組12一般係冷陰極螢光燈(Cold Cathode Fluorescent Lamp,CCFL)或者發光二極體(Light emitting diode,LED)陣列。
請參閱圖3，所述擴散板14包括基板140及形成在所述基板140上的擴散膜142。所述基板140的材料可選用光學級塑膠材料，如聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethyl Methacrylate，PMMA)，聚碳酸酯(Polycarbonate,PC)等。優選的，所述基板140的材料係光透過率高於90%的聚甲基丙烯酸甲酯。
所述擴散膜142採用PMMA或PC等製成，其中分佈有奈米級二氧化矽(silicon dioxide,SiO2)粒子144。擴散
膜142材料中奈米級SiO2粒子144的品質百分比為2%至30%，優選為5%至20%。擴散膜142的厚度為200奈米至20000奈米，優選為500奈米至2000奈米。奈米級SiO2粒子144的直徑範圍為10奈米至200奈米。其中奈米級二氧化矽粒子144可以是均勻分佈在擴散膜142中，也可以根據光源的分佈擴散其中。擴散板14對光源模組12發出的光起擴散作用，使得光源模組12發出的光經過擴散板14更加均勻。
所述測試條紋圖樣16由若干組具有不同空間頻率的黑白相間的條帶組成，其解析度範圍係每毫米36對線至每毫米200對線，優選係每毫米60對線至每毫米100對線。
所述取像模組18可以係電荷耦合器件(Charge Coupled Device,CCD)或互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal-oxide Semiconductor,CMOS)。取像模組18可在垂直於測試條紋圖樣16的方向移動，以便得到清晰的成像。所述取像模組18一般與一個資料處理裝置連接。
在使用時，由光源模組12發出的光通過擴散板14。擴散板14中的奈米級二氧化矽粒子144對光起擴散作用，使得從擴散板14發出的光更加均勻。將待測試的光學鏡頭20放置在測試條紋圖樣16與取像模組18之間。待測試的光學鏡頭20可以手動放置，也可以通過機器手等裝置放在測試臺上。擴散後的光透過測試條紋圖樣16經待測試光學鏡頭20成像在取像模組18上，對待測試的光學鏡頭20進行進一步測試。所述光學鏡頭測試裝置10加入了含有
奈米級粒子的擴散板14，使得由光源模組12發出的光經過擴散板14後更加均勻，測量精度得到了提高。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅係本發明之較佳實施例，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10、30‧‧‧測試裝置
12、32‧‧‧光源模組
14‧‧‧擴散板
16、34‧‧‧測試條紋圖樣
18、36‧‧‧取像模組
20、38‧‧‧光學鏡頭
140‧‧‧基板
142‧‧‧擴散膜
144‧‧‧二氧化矽粒子
圖1係傳統光學鏡頭測試裝置示意圖。
圖2係本發明的實施例提供的光學鏡頭測試裝置示意圖。
圖3係圖2中光學鏡頭測試裝置中擴散板的剖面示意圖。
10‧‧‧測試裝置
12‧‧‧光源模組
14‧‧‧擴散板
16‧‧‧測試條紋圖樣
18‧‧‧取像模組
20‧‧‧光學鏡頭
Claims (9)
- 一種光學鏡頭測試裝置，其依次包括：光源模組，測試條紋圖樣及取像模組，其中，所述光源模組及測試條紋圖樣之間進一步包括一個分佈有奈米級二氧化矽粒子的擴散板，所述擴散板包括基板及形成在所述基板上的擴散膜，所述奈米級二氧化矽粒子根據光源模組的分布擴散在所述擴散膜中。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述基板的材料係聚甲基丙烯酸甲酯或聚碳酸酯。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述基板的材料係光透過率高於90%的聚甲基丙烯酸甲酯。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述擴散膜的材料為奈米級二氧化矽粒子與甲基丙烯酸甲酯的混合物或奈米級二氧化矽粒子與聚碳酸酯的混合物。
- 如申請專利範圍第4項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述擴散膜的材料中，奈米級二氧化矽粒子的品質百分比為2%至30%。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述擴散膜的厚度係200奈米至20000奈米。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述擴散膜的厚度係500奈米至2000奈米。
- 如申請專利範圍第1項所述之光學鏡頭測試裝置，其中，所述奈米級二氧化矽粒子的直徑範圍係10奈米至200奈米。
- 一種光學鏡頭測試裝置，其依次包括：光源模組，測試條紋圖樣及取像模組，其中，所述光源模組發出的光經過一擴散板後照射在測試條紋圖樣上，所述擴散板分佈有奈米級二氧化矽粒子。
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