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TWI385125B - 降低水中二氧化矽的方法 - Google Patents

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TWI385125B
TWI385125B TW097143028A TW97143028A TWI385125B TW I385125 B TWI385125 B TW I385125B TW 097143028 A TW097143028 A TW 097143028A TW 97143028 A TW97143028 A TW 97143028A TW I385125 B TWI385125 B TW I385125B
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Teh Ming Liang
Mao Sung Lee
Chi Chung Liao
Shwu Huey Perng
Chih Chun Chen
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Ind Tech Res Inst
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Description

降低水中二氧化矽的方法
本發明係有關於一種水回收處理的方法,且特別是有關於一種降低二氧化矽的方法。
隨著工業的蓬勃發展,對於水資源之需求大量提高,建立經濟有效的水回收處理系統是極為重要的。目前商業上最常用的水回收處理系統大多為逆滲透或電透析的方法,然而當水中的二氧化矽含量過高時,使用逆滲透法時,二氧化矽易於薄膜表面形成難以去除之結垢物,而使用電透析法時,又因為二氧化矽在中性pH時幾乎不帶電荷,因此同樣無法有效去除二氧化矽。為了解決上述問題,勢必需要一前處理方法,有效降低水中之二氧化矽含量。
台灣專利公開號200604108提出二氧化矽去除裝置與二氧化矽去除方法,其使用一種簡單的裝置,從逆滲透膜濃縮水將二氧化矽去除至飽和濃度以下,在有效防止逆滲透透膜濃縮水循環之二氧化矽剝落發生的同時,可以將原水的全部量可作為逆滲透膜透過水。
台灣專利00585843提供一種矽石系積垢之防止方法及防止裝置,其將冷卻循環水通過填裝1 μm~10 mm矽膠粒,藉此去除水中的二氧化矽。
德國專利DE 3940464提出一種降低海水之二氧化矽的方法,藉由控制鹼劑用量,使其pH值小於9,生成碳酸鈣與矽酸鹽之沉澱物,但不產生氫氧化鎂之沉澱物。
美國專利US 4276180提出一種降低工業廢水之二氧化矽的方法,其藉由活性鋁選擇性地移除二氧化矽。
目前去除二氧化矽的方法有石灰軟化法、陰離子交換樹脂法、矽膠吸附法等,然而上述方法皆有其應用之限制,無法被業界所採用。因此,業界亟需發展一種能有效降低水中二氧化矽的方法。
本發明提供一種降低水中二氧化矽的方法,包括下列步驟:將含有二氧化矽、鎂離子與鈣離子之原水導入一含擔體之流體化床反應槽內;添加一鹼性溶液到該流體化床反應槽內,使該流體化床反應槽內之pH值約為11~13,其中該擔體上形成一鹽類結晶;以及將該流體化床反應槽之流出水導入一後續處理系統。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明顯易懂,下文特舉出較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下:
本發明提供一種降低水中二氧化矽的方法,包括下述步驟,請參見第1圖,將含有二氧化矽、鎂離子與鈣離子之原水12導入一含有擔體16之流體化床反應槽106內,其中原水係來自於冷卻循環水,原水中二氧化矽的濃度約大於10 mg/L,而鎂離子與二氧化矽之莫耳比1,鈣離子與二氧化矽之莫耳比0.67。而流體化床反應槽106之擔體 16包括石英砂、磚粉、活性碳或上述之組合,其粒徑大小約為0.1~1mm,較佳範圍約為0.2~0.5 mm,其作用在於提供載體位置,讓後續之鹽類於此處形成結晶。
接著添加一鹼性溶液14到一鹼液槽104中,鹼性溶液例如氫氧化鈉(NaOH)或氫氧化鉀(KOH)溶液,再將鹼性溶液14導入流體化床反應槽106中,使流體化床反應槽106之pH值約為11~13,較佳之pH為12。由於二氧化矽在水中的溶解度和pH值有關,當pH值愈高,則溶解度愈大,而在中性時,二氧化矽的溶解度最低,因此,本發明藉由控制流體化床反應槽106之pH值,使二氧化矽於pH 11~13的條件下離子化,再與水中的鎂離子與鈣離子反應,生成鹽類結晶於擔體上,鹽類結晶包括矽酸鎂(MgSiO3 )、矽酸鈣(Na2 Ca2 Si3 O9 )、氫氧化鎂(Mg(OH)2 )、碳酸鈣(CaCO3 )或上述之組合。上述擔體中之反應可於室溫下進行,溫度可為約20~35℃,但不以此為限,因溫度愈高時愈利於二氧化矽之離子化。此外,上述添加原水12與鹼性溶液14的順序,並不以此為限,此技藝人士可依實際應用之需求,對添加順序作適當的調整,例如同時添加原水12與鹼性溶液14,或者是先添加鹼性溶液14再添加原水12。
本發明藉由二氧化矽與鈣離子與鎂離子反應,於降低水中二氧化矽含量的同時,亦能有效降低水中鈣離子與鎂離子之含量。
之後,將流體化床反應槽106之流出水18導入一後續處理系統(圖中未標示),例如電透析(electrodialysis, ED)、 倒極式電透析(electrodialysis reversal, EDR)或逆滲透(reverse osmosis, RO)。藉由本發明之方法,可有效降低水中二氧化矽之含量,使二氧化矽之去除率約大於50%。
當擔體表面形成之結晶量逐漸增加,晶體粒徑會愈大,通常靠近反應槽下方之晶體粒徑較大,為了維持流體化及提供足夠結晶表面積,藉由定期將反應槽下方較大粒徑之鹽類結晶排出,然後再補充一些新的擔體至流體化床反應槽內,以維持二氧化矽的處理效率。
本發明之另一實施例,請參見第2圖,將含有二氧化矽、鎂離子與鈣離子之原水22導入一含有擔體28之流體化床反應槽208內,其中原水係來自於冷卻循環水,原水中二氧化矽的濃度約大於10 mg/L,而流體化床反應槽208之擔體28之種類與作用與第一實施例相同,在此不再贅述。
接著添加一鹼性溶液24與一含碳酸根之溶液26分別到一鹼液槽204與一碳酸根藥液槽206中,鹼性溶液例如氫氧化鈉(NaOH)或氫氧化鉀(KOH)溶液,而碳酸根之溶液例如碳酸鈉溶液或碳酸氫鈉溶液。再將兩種溶液24、26導入流體化床反應槽208中,使流體化床反應槽208之pH值約為11~13,較佳之pH為12。添加碳酸根之溶液26之目的在於增加水中的碳酸根濃度。當碳酸根濃度提高時,更能有效幫助碳酸鈣的沉澱,因此於降低水中二氧化矽的同時,也能達到有效降低水中鈣離子的濃度。此處需注意的是,第一實施例主要係藉由增加氫氧根(OH- )離子濃度而 增加pH值,而本實施例添加碳酸根溶液之用意主要係增加碳酸根離子的濃度,以幫助碳酸鈣結晶的生成。此外,上述添加原水12與鹼性溶液14的順序,並不以此為限,此技藝人士可依實際應用之需求,對添加順序作適當的調整,例如同時添加原水12與鹼性溶液14,或者是先添加鹼性溶液14再添加原水12。
之後,將流體化床反應槽208之流出水30導入一後續處理系統(圖中未標示),例如電透析(electrodialysis, ED)、倒極式電透析(electrodialysis reversal, EDR)或逆滲透(reverse osmosis, RO)。藉由本發明之方法,可有效降低水中二氧化矽之含量,二氧化矽之去除率約大於50%。
本發明之實施例可應用於水中同時含有二氧化矽、鈣離子與鎂離子的廢水中,例如應用於冷卻循環水回收利用、廢水處理或製程排水處理。再者,本發明藉由控制流體化床反應槽之pH值,使得二氧化矽於pH約為11~13的條件子離子化,而生成各種鹽類結晶,此方法不但能有效降低水中二氧化矽的含量,亦同時能達到降低鈣離子與鎂離子的效果。
【實施例】 【實施例1】人工配製之廢水
實驗裝置採用直徑2cm,高120cm之透明玻璃管柱,內填裝85cm高粒徑0.1~0.3mm石英砂(SiO2 )的擔體。利用氯化鈣、氯化鎂、矽酸鈉與碳酸氫鈉藥品配製含鈣、鎂、 矽之溶液模擬冷卻水原水,由反應槽下方導入,並同時注入氫氧化鈉以提高其pH值,而S1-S7中並加入碳酸氫鈉。數組實驗結果(S1~S9)如表1所示。反應槽pH需在11以上時(如S4,S5,S8,S9)對鈣、矽、鎂才會有明顯的處理效果。比較S4,S5與S8,S9(未添加碳酸氫鈉)之實驗結果,可知鹼度會影響鈣離子去除率,非氫氧根鹼度愈高時鈣離子去除率也較高。
【實施例2】實廠冷卻水
實驗裝置採用直徑2cm,高120cm之透明玻璃管柱,內填裝85cm高粒徑0.1~0.3mm石英砂的擔體。取實廠冷卻水塔冷卻循環水由反應槽下方導入,並同時注入液鹼以提高其pH值。數組實驗結果(S10~S13)如表2所示。S10實驗對二氧化矽、鎂離子與鈣離子皆有明顯的去除效果,矽離子去除率達88%。由於此冷卻循環水中碳酸根濃度低,鈣離子去除率也因而較低。在pH 11以上,矽離子與鎂離子去除率可達70%以上。
雖然本發明已以數個較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作任意之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界 定者為準。
12‧‧‧原水
14‧‧‧液鹼
16‧‧‧擔體
18‧‧‧流出水
22‧‧‧原水
24‧‧‧液鹼
26‧‧‧含碳酸根之溶液
28‧‧‧擔體
30‧‧‧流出水
102‧‧‧原水槽
104‧‧‧鹼液槽
106‧‧‧流體化床反應槽
202‧‧‧原水槽
204‧‧‧鹼液槽
206‧‧‧含碳酸根之藥液槽
208‧‧‧流體化床反應槽
第1圖為一實施例之示意圖,用以說明本發明之降低水中二氧化矽的方法。
第2圖為另一實施例之示意圖,用以說明本發明之降低水中二氧化矽的方法。
12‧‧‧原水
14‧‧‧液鹼
16‧‧‧擔體
18‧‧‧流出水
102‧‧‧原水槽
104‧‧‧鹼液槽
106‧‧‧流體化床反應槽

Claims (12)

  1. 一種降低水中二氧化矽的方法,包括下列步驟:將含有二氧化矽、鎂離子與鈣離子之原水導入一含擔體之流體化床反應槽內,其中該流體化床反應槽之擔體包括石英砂、磚粉、活性碳或上述之組合;添加一鹼性溶液到該流體床反應槽內,使該流體化床反應槽內之pH值約為11~13,其中該擔體上形成一鹽類結晶;以及將該流體化床反應槽之流出水導入一後續處理系統。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該鹽類結晶包括矽酸鎂、矽酸鈣、氫氧化鎂、碳酸鈣或上述之組合。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該流體化床反應槽之擔體粒徑大小約0.1~1 mm。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該流體化床反應槽內之溫度約為20~35℃。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該後續處理系統包括電透析(electrodialysis,ED)、倒極式電透析(electrodialysis reversal,EDR)或逆滲透(reverse osmosis,RO)。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該鹼性溶液包括氫氧化鈉溶液或氫氧化鉀溶液。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的 方法,尚包括將該鹽類結晶排出,再補充該擔體加入該流體化床反應槽內。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,尚包括:添加一含碳酸根之溶液導入到該流體化床反應槽內。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該含碳酸根之溶液包括碳酸鈉溶液或碳酸氫鈉溶液。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該原水之二氧化矽濃度約大於10 mg/L。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該流出水之二氧化矽去除率約大於50%。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之降低水中二氧化矽的方法,其中該原水係來自於冷卻循環水。
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