TWI382187B - 磁浮自動逆向工程設備及其檢測之方法 - Google Patents

Description

磁浮自動逆向工程設備及其檢測之方法

本發明係一種運用磁浮原理控制設備以及系統，其係運用磁浮原理設計於自動檢測電路板之設備上，並將電路板上的電子電路圖，以接點對接點量測的方式慢慢呈現電路圖的原貌，而達到自動檢測以及節省人員成本實用性目的。

按目前逆向工程之檢測(電路板接點對接點檢測量測的技術使呈現完整電路板之電路圖)係大多為人工將板子上的電子電路圖，以接點對接點量測的方式慢慢呈現電路圖的原貌，如果沒有經驗的人就必須耗費極龐大的時間進行逆向工程；舉例而言，如果電路板上有3點(點1、點2、點3)，操作者必須量測(點1－點2)、(點1－點3)(點2－點3)，而1000點需要測試499500次，而幾乎所有電路板皆大於1000個接點，而上述所有電路板接點進行良策檢驗時，必造成檢測人員耗時以及浪費人力進行檢測，且於檢測完畢後另需進行繪圖之動作，整體實施後必造成種種困擾，故有待改善。

另有業者針對電路板檢測設備進行設計，例如：台灣專利案093116918號『電子零件安裝用印刷電路板的檢查裝置以及圖案不良的確認方法』發明申請案，其為一種電子零件安裝用印刷電路板的檢查裝置，係就形成配線圖案的各工件的圖案不良的有無進行檢查的電子零件安裝用印刷電路板的檢查裝置，其特徵係：前述 檢查裝置具備對藉由將攝取前述工件所得的影像資料與主圖案比較的影像處理所檢出的配線圖案的不良部分進行確認的不良確認部；前述不良確認部具備：基於攝取於前述工件中區分設定的攝影範圍所得的影像資料，以影像顯示包含1個或以上的前述不良部分的該攝影範圍的顯示手段；以包含尺寸最大的前述不良部分的前述攝影範圍為優先順序，以影像顯示前述攝影範圍於前述顯示手段而控制的顯示控制手段；攝影範圍的全部的前述不良部分是否為擬似不良進行目視判斷的結果的選擇輸入的輸入手段。

而就上述設計而言只能夠針對影像顯示方式進行目視判斷電路圖影像不良之確認，而無法真正實際進行電路板所有接點與接點之間短路或通路檢測，另一方面無法自動檢測短路或通路之檢測後自動繪製電路圖式目的，故有待改良。

本發明人有鑑於此，為使達到能夠運用磁浮原理技術進行自動量測與電腦紀錄檢測各接點短路及通路，甚至於電腦設備能夠自動整理繪製成電路圖者，乃開發出一種符合上述條件之磁浮自動逆向工程設備及其檢測之方法者。

本發明之主要目的在於提供一種磁浮自動逆向工程設備及其檢測之方法，其包含：一磁浮檢測設備的磁浮框架、一檢測電路 板、一電腦設備、一影像擷取器、一步進捲線裝置以及一檢測電表儀器；其中，該磁浮框架內各層具有相互交錯設置之正負極磁性體以及影像擷取器，該各正負極磁性體由電流控制框架內所設之磁浮量測探針裝置，藉由正負極磁性體由電流控制框架內所設之磁浮量測探針裝置進行所檢測之檢測電路板位置之上下左右偏移動作，並將所檢測之資訊由檢測電表儀器傳送至電腦設備，並由電腦設備自動進行電路板之電路繪圖之動作。

其中，該浮動框架內所設置之影像擷取器擷取檢測電路板之影像後，並傳送檢測電路板之影像資訊至電腦設備內，該電腦設備接收後顯示於電腦設備上並供操作者設定檢測電路板各檢測之各接點，該檢測電路板各檢測之各接點由電腦設備設定完成後，並由電腦設備執行各磁浮量測探針裝置以及步進捲線裝置進行檢測檢測電路板之各檢測接點的上下左右以及角度位置檢測，並由一連結於檢測電表儀器之繼電器切換電路進行短路或是通路之檢測，並將所檢測資訊以及電路圖傳送回電腦設備進行儲存紀錄者。

其中，該磁浮量測探針裝置及磁浮框架連設步進捲線裝置，各步進捲線裝置係分別設於該磁浮框架斜對角之兩框柱以及各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上，並分別具有一第一捲線器、一 連結線、一第二捲線器、一第一步進馬達、一第二步進馬達以及一彈簧體，該第一捲線器係設於永久磁性體上，並於內部供連結線一端設置，該連結線另端設於第二捲線器內部，該各第二捲線器係設於磁浮框架斜對角之框柱內，另該第二捲線器於一側設有一定位之卡榫件，並於各第二捲線器上下兩端供第一步進馬達及第二步進馬達設置，該第一步進馬達及第二步進馬達設置於該磁浮框架斜對角之框柱內，其中，該第二步進馬達設彈簧體，另第一步進馬達可配合各磁浮量測探針裝置之永久磁性體進行上下高度位置移動。

為使 貴審查委員能進一步瞭解本創作特徵及其他目的，玆以較佳實施例附以圖式詳細說明如后，惟本圖例所說明之實施例係供說明之用，並非為專利申請上之唯一限制者。

請配合參閱第1圖至第10圖所示，本發明之磁浮檢測設備具有一磁浮框架10、兩磁浮量測探針裝置20、兩步進捲線裝置30、一檢測電路板A、一電腦設備B、一檢測電表儀器C以及一影像擷取器D，藉由磁浮框10內所設之正負極磁性體由電流以及各步進捲線裝置30同時控制兩磁浮量測探針裝置20上下左右旋轉移動，同時由影像擷取器E擷取檢測電路板A接點，並進行檢測電路板A上接點對接點量測的方式，將測試資訊由檢測電表儀器D傳送至電腦設備B，而將測試資訊繪整呈現檢測電路板A之電路圖的原貌於電腦設備B上，而達到自動檢測使用上之方便性以及實 用性目的；其中，該檢測電路板A、電腦設備B、檢測電表儀器C以及影像擷取器D係為習知構件，故不贅述。

如第1、2及3圖所示，該磁浮框架10係設為具多層中空框架體者，該磁浮框架10於底部設有一磁性體11，該磁性體11具供電流通過產生正極或負極之磁性原理者，該磁浮框架10於磁性體11上具一第一層12、一第二層13、一第三層14以及一第四層15之設計，該第一層12向相對端處排列設有數第一正極磁性體120以及數第一負極磁性體121，該第二層13於相對於第一層12之縱向相對端處排列設有第二正極磁性體130以及數第二負極磁性體131，該第三層14相同於第一層12設有數第三正極磁性體140以及數第三負極磁性體141，該第四層15相同於第二層12排列設有數第四正極磁性體150以及數第四負極磁性體151，另該磁浮框架10於四端處分別1設有一框柱16，並於頂部供檢測電路板B以及影像擷取器D設置，另於磁浮框架10內供磁浮量測探針裝置20設置，該磁浮量測探針裝置20連結於檢測電路板A、電腦設備B以及檢測電表儀器C；另如第2圖至第5圖所示，該各磁浮量測探針裝置20分別具有一圓盤形狀之永久磁性體21，該永久磁性體21具有正負極之磁性，該永久磁性體21正負極磁性係配合磁浮框架10底部之磁性 體11之磁性相應，並由磁性體11產生之電流大小控制永久磁性體21之上下作動，該永久磁性體21上設有一圓條狀之量測探針22，該量測探針22一端係彎成垂直90度角之轉接部220，該轉接部220直徑長於永久磁性體21的半徑，並於轉接部220朝上90度延伸出一由粗到細之檢測部221，另該量測探針22上相對於該磁浮框架10於磁性體11上之第一層12及第二層13分別穿設長方形狀之永久磁性件23、24，該各永久磁性件23、24分別相對於磁浮框架10上之第一層12及第二層13之正負極磁源設有正極磁性部230、240以及負極磁性部231、241，並由磁浮框架10上之第一層12及第二層13之正負極磁源大小控制各永久磁性件23、24之前後左右偏移；該各永久磁性件23、24內穿設之量測探針22係以轉動永久磁性體21中心；另如第5圖至第9圖所示，係為該各步進捲線裝置30一端係分別設於該磁浮框架10斜對角之兩框柱16，另端係分別設於各磁浮量測探針裝置20之永久磁性體21上；該各步進捲線裝置30分別具有一第一捲線器31、一連結線32、一第二捲線器33、一第一步進馬達34、一第二步進馬達35以及一彈簧體36，該第一捲線器31係設於永久磁性體21上，並於內部供連結線32一端設置，該連結線32另端設於第二捲線器33內部，該各第二捲線器33係設於磁浮框架10斜對角之框柱16內，另該第二捲線器33於一側 設有一定位之卡榫件330，並於各第二捲線器33上下兩端供第一步進馬達34及第二步進馬達35設置，該第一步進馬達34及第二步進馬達35設置於該磁浮框架10斜對角之框柱16內，其中，該第二步進馬達35設彈簧體36，另第一步進馬達34可配合各磁浮量測探針裝置20之永久磁性體21上下高度位置進行移動；其中，該各磁浮量測探針裝置20之永久磁性體21上之第一捲線器31內璧具有環繞齒狀之被動部310，該被動部310配合連結件32上之凸出齒狀之主動部320，該第一捲線器31可帶動磁浮量測探針裝置20之量測探針22，進行量測探針22之旋轉轉動；另請參考第10圖相對結構方塊圖所示，該浮動框架10內所設置之影像擷取器D擷取檢測電路板A之影像後，並傳送檢測電路板A之影像資言訊至電腦設備B內，該電腦設備B接收後顯示於電腦設備B上並供操作者設定檢測電路板A各檢測之各接點，該檢測電路板A各檢測之各接點由電腦設備B設定完成後，並由電腦設備B執行各磁浮量測探針裝置20以及步進捲線裝置30進行檢測檢測電路板A之各檢測接點的上下左右以及角度位置檢測，並由一連結於檢測電表儀器C之繼電器切換電路C1進行短路或是通路之檢測，並將所檢測資訊以及電路圖傳送回電腦設備進行儲存紀錄者。

另請參考第11圖至第15圖係為影像擷取設定以及檢測動作 圖所示，如第11圖所示，其該影像擷取器D擷取檢測電路板A影像後，由電腦設備B之游標進行檢測電路板A上之各接點點選，並於電腦設備B上形成一電路圖B1，另如第12圖所示，該電腦設備B點選後自動擷取各接點之中心位置，並且運用如下公式，H為磁場強度(安匝/米)＝Ni(電流X線圈匝數)/L(距離)計算所需之各磁浮量測探針裝置20及步進捲線裝置30移動之上下前後左右檢測距離位置所在，並由步進捲線裝置30之第一捲線器31、連結線32以及第二捲線器33進行各磁浮量測探針裝置20之永久磁性體21旋轉轉動至所需檢測之接點處，而由上述之整體結構及實施方法可達到有形以及無形之目的；有形：(1)增加逆向工程的可靠度，減少人為疏忽，避免重覆測試。

(2)縮短維修開發時程，減少逆向工程的人力與工時。

(3)增加業務量，排除因資料不完整或缺電路圖而無法接入的業務。

無形：(1)開拓磁學領域的專業技能，引入磁浮的技術，並提升我國磁學技術提升。

(2)延伸取代測台上需人工測試部分。

綜上所述，本發明確實可達到上述諸項功能，故本發明應符專利申請要件，爰依法提出申請。

A‧‧‧檢測電路板

B‧‧‧電腦設備

C‧‧‧檢測電表儀器

D‧‧‧影像擷取器

C1‧‧‧繼電器切換電路

10‧‧‧磁浮框架

11‧‧‧磁性體

12‧‧‧第一層

120‧‧‧第一正極磁性體

121‧‧‧第一負極磁性體

13‧‧‧第二層

130‧‧‧第二正極磁性體

131‧‧‧第二負極磁性體

14‧‧‧第三層

140‧‧‧第三正極磁性體

141‧‧‧第三負極磁性體

15‧‧‧第四層

150‧‧‧第四正極磁性體

151‧‧‧第四負極磁性體

16‧‧‧框柱

20‧‧‧磁浮量測探針裝置

21‧‧‧永久磁性體

22‧‧‧量測探針

220‧‧‧轉接部

221‧‧‧檢測部

23、24‧‧‧永久磁性件

230、240‧‧‧正極磁性部

231、241‧‧‧負極磁性部

30‧‧‧步進捲線裝置

31‧‧‧第一捲線器

310‧‧‧被動部

32‧‧‧連結線

320‧‧‧主動部

33‧‧‧第二捲線器

330‧‧‧卡榫件

34‧‧‧第一步進馬達

35‧‧‧第二步進馬達

36‧‧‧彈簧體

第1圖：係本發明之立體外觀示意圖。

第2圖：係本發明之第1圖局部分解示意圖。

第3圖：係本發明之第2局部立體示意圖。

第4圖：係本發明之第3圖剖面示意圖。

第5圖：係本發明之磁浮量測探針裝置立體示意圖。

第6圖：係本發明之步進捲線裝置示意圖。

第7圖：係本發明之磁浮量測探針裝置動作示意圖。

第8圖：係本發明之第6圖局部結構示意圖。

第9圖：係本發明之第8圖平面結構示意圖。

第10圖：係本發明之相對結構方塊示意圖。

第11圖：係本發明之第一擷取影像設定示意圖。

第12圖：係本發明之第二擷取影像設定示意圖。

第13圖：係本發明之第三擷取影像設定示意圖。

第14圖：係本發明之第四擷取影像設定示意圖。

第15圖：係本發明之第五擷取影像動作示意圖。

A‧‧‧檢測電路板

B‧‧‧電腦設備

C‧‧‧檢測電表儀器

D‧‧‧影像擷取器

C1‧‧‧繼電器切換電路

10‧‧‧磁浮框架

11‧‧‧磁性體

12‧‧‧第一層

120‧‧‧第一正極磁性體

121‧‧‧第一負極磁性體

13‧‧‧第二層

130‧‧‧第二正極磁性體

131‧‧‧第二負極磁性體

14‧‧‧第三層

140‧‧‧第三正極磁性體

141‧‧‧第三負極磁性體

15‧‧‧第四層

150‧‧‧第四正極磁性體

151‧‧‧第四負極磁性體

Claims (19)

1. 一種磁浮自動逆向工程設備，其包括：一磁浮框架，該磁浮框架內各層具有與各層相互交錯設置之正負極磁性體；至少兩磁浮量測探針裝置，各磁浮量測探針裝置分別具有一永久磁性體，該永久磁性體具有正負極之磁性，該永久磁性體正負極磁性係配合磁浮框架磁性體之磁性相應，該永久磁性體上設有一量測探針，該量測探針上相對於該磁浮框架於磁性體上之各層分別設一永久磁性件，該各永久磁性件分別1相對於磁浮框架上之各層之正負極磁源設各正極磁性部以及各負極磁性部；至少兩步進捲線裝置，該各步進捲線裝置係分別設於該磁浮框架以及各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上，並分別具有一第一捲線器、一連結線、一第二捲線器，該第一捲線器係設於各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上，並於內部供連結線一端設置，該連結線另端設於第二捲線器內部，該各第二捲線器係設於磁浮框架內；一檢測電路板，係設於該磁浮框架上；一電腦設備，連結於各步進捲線裝置以及各磁浮量測探針裝置；一檢測電表儀器，連結於該電腦設備、各步進捲線裝置及各磁浮量測探針裝置；以及一影像擷取器，設於該磁浮框架上，並連結於該電腦設備。
2. 如申請專利範圍第1項所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該量測探針一端係彎成垂直度角之轉接部，該轉接部直徑長於永久磁性體的半徑，並於轉接部朝上度延伸出一檢測部者。
3. 如申請專利範圍第1所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該各永久磁性件內穿設之量測探針係以永久磁性體中心轉動者。
4. 如申請專利範圍第1所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該第二捲線器於一側設有一定位之卡榫件，並於各第二捲線器上下兩端供第一步進馬達及第二步進馬達設置，該第一步進馬達及第二步進馬達設置於該磁浮框架斜對角之框柱內，其中，該第二步進馬達設一彈簧體，另第一步進馬達可配合各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上下高度位置進行移動者。
5. 一種磁浮自動逆向工程設備檢測之方法，其包括：一磁浮框架，該磁浮框架內各層具有與各層相互交錯設置之正負極磁性體；至少兩磁浮量測探針裝置，各磁浮量測探針裝置並由磁浮框架上之正負極磁性體產生之正負極磁源大小控制前後左右偏移；至少兩步進捲線裝置，該各步進捲線裝置係分別設於該磁浮框架以及各磁浮量測探針裝置上；一檢測電路板，設於該磁浮框架上；一電腦設備，連結於各步進捲線裝置以及各磁浮量測探針裝 置；一檢測電表儀器，連結於該電腦設備、各步進捲線裝置及磁浮量測探針裝置；一影像擷取器，設於該磁浮框架上並擷取檢測電路板影像，並連結於該電腦設備；藉由該浮動框架內所設置之影像擷取器擷取檢測電路板之影像後，並傳送檢測電路板之影像資訊至電腦設備內，該電腦設備接收後顯示於電腦設備上並供操作者設定檢測電路板各檢測之各接點，該檢測電路板各檢測之各接點由電腦設備設定完成後，並由電腦設備執行各磁浮量測探針裝置以及步進捲線裝置進行檢測檢測電路板之各檢測接點的上下左右以及角度位置檢測，並由一連結於檢測電表儀器之繼電器切換電路進行短路或是通路之檢測，並將所檢測資訊以及電路圖傳送回電腦設備進行儲存紀錄者。
6. 如申請專利範圍第5所述之磁浮自動逆向工程設備檢測之方法，其中，該影像擷取器擷取檢測電路板影像後，由電腦設備之游標進行檢測電路板上之各接點點選，並於電腦設備上形成一電路圖，另該電腦設備點選後自動擷取各接點之中心位置，並且運用如下公式，H為磁場強度(安匝/米)＝Ni(電流X線圈匝數)/L(距離)計算所需之各磁浮量測探針裝置及步進捲線裝置移動之上下前後左右檢測距離位置所在，並由步進捲線裝置之第一捲線器、連結線以及第二捲線器進行各磁浮量測探針裝置之永久 磁性體旋轉轉動至所需檢測之接點處者。
7. 如申請專利範圍第5項所述之磁浮自動逆向工程設備檢測之方法，其中，該量測探針一端係彎成垂直度角之轉接部，該轉接部直徑長於永久磁性體的半徑，並於轉接部朝上度延伸出一檢測部者。
8. 如申請專利範圍第5所述之磁浮自動逆向工程設備檢測之方法，其中，該各永久磁性件內穿設之量測探針係以永久磁性體中心轉動者。
9. 如申請專利範圍第5所述之磁浮自動逆向工程設備檢測之方法，其中，該各步進捲線裝置具有一第二捲線器，該第二捲線器於一側設有一定位之卡榫件，並於各第二捲線器上下兩端供第一步進馬達及第二步進馬達設置，該第一步進馬達及第二步進馬達設置於該磁浮框架內，其中，該第二步進馬達設一彈簧體，另第一步進馬達可配合各磁浮量測探針裝置所設置之一永久磁性體上下高度位置進行移動者。
10. 一種磁浮自動逆向工程設備，其包括：一磁浮框架，該磁浮框架內各層具有與各層相互交錯設置之正負極磁性體；至少兩磁浮量測探針裝置，各磁浮量測探針裝置分別具有一永久磁性體，該永久磁性體具有正負極之一磁性，該永久磁性體正負極磁性係配合磁浮框架底部之磁性體之磁性相應，該永久磁性 體上設有一量測探針，該量測探針上相對於該磁浮框架於磁性體上之各層分別設一永久磁性件，該各永久磁性件分別相對於磁浮框架上之各層之正負極磁源設各正極磁性部以及各負極磁性部；至少兩步進捲線裝置，該各步進捲線裝置係分別設於該磁浮框架以及各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上，並分別具有一第一捲線器、一連結線、一第二捲線器，該第一捲線器係設於永久磁性體上，並於內部供連結線一端設置，該連結線另端設於第二捲線器內部，該各第二捲線器係設於磁浮框架內；一檢測電路板，係設於磁浮框架上；以及一電腦設備，連結於各步進捲線裝置以及磁浮量測探針裝置。
11. 如申請專利範圍第10項所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該各磁浮量測探針裝置所設置之一量測探針一端係彎成垂直度角之轉接部，該轉接部直徑長於永久磁性體的半徑，並於轉接部朝上度延伸出一檢測部者。
12. 如申請專利範圍第10所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該各磁浮量測探針裝置之數永久磁性件內穿設之量測探針係以轉動永久磁性體中心轉動者。
13. 如申請專利範圍第10所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該第二捲線器於一側設有一定位之卡榫件，並於各第二捲線器上下兩端供第一步進馬達及第二步進馬達設置，該第一步進馬達及第二步進馬達設置於該磁浮框架斜對角之框柱內，其 中，該第二步進馬達設一彈簧體，另第一步進馬達可配合各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上下高度位置進行移動者。
14. 如申請專利範圍第10項所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該電腦設備以及各步進捲線裝置與磁浮量測探針裝置連結於一檢測電表儀器以及一影像擷取器，其中，該影像擷取器設於磁浮框架上者。
15. 如申請專利範圍第14所述磁浮自動逆向工程設備，其中，該影像擷取器擷取檢測電路板影像後，由電腦設備之游標進行檢測電路板上之各接點點選，並於電腦設備上形成一電路圖，另該電腦設備點選後自動擷取各接點之中心位置，並且運用如下公式，H為磁場強度(安匝/米)＝Ni(電流X線圈匝數)/L(距離)計算所需之 各磁浮量測探針裝置及步進捲線裝置移動之上下前後左右檢測距離位置所在，並由步進捲線裝置之第一捲線器、連結線以及第二捲線器進行各磁浮量測探針裝置之永久磁性體旋轉轉動至所需檢測之接點處。
16. 一種磁浮自動逆向工程設備，其包括：一磁浮框架，係設為具多層中空框架體者，該磁浮框架於底部設有一磁性體，該磁性體具供電流通過產生正極或負極之磁性原理，該磁浮框架於磁性體上具一第一層、一第二層、一第三層以及一第四層之設計，該第一層向相對端處排列設有數第一正極磁性體以及數第一負極磁性體，該第二層於相對於第一層之縱向 相對端處排列設有第二正極磁性體以及數第二負極磁性體，該第三層相同於第一層設有數第三正極磁性體以及數第三負極磁性體，該第四層相同於第二層排列設有數第四正極磁性體以及數第四負極磁性體，另該磁浮框架於四端處分別設有一框柱；至少兩磁浮量測探針裝置，分別具有一永久磁性體，該永久磁性體具有正負極之磁性，該永久磁性體正負極磁性係配合磁浮框架底部之磁性體磁性相應，並由磁性體產生之電流大小控制永久磁性體之上下作動，該永久磁性體上設有一量測探針，該量測探針一端係彎成垂直度角之轉接部，該轉接部直徑長於永久磁性體的半徑，並於轉接部朝上延伸出一檢測部，另該量測探針上相對於該磁浮框架於磁性體上之第一層及第二層分別穿設各永久磁性件，該各永久磁性件分別相對於磁浮框架上之第一層及第二層之正負極磁源設有正極磁性部以及負極磁性部，並由磁浮框架上之第一層及第二層之正負極磁源大小控制各永久磁性件之前後左右偏移，該各永久磁性件內穿設之量測探針係以轉動永久磁性體中心；至少兩步進捲線裝置，各步進捲線裝置一端係分別設於該磁浮框架斜對角之框柱，另端係分別設於各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上；該各步進捲線裝置分別具有一第一捲線器、一連結線、一第二捲線器、一第一步進馬達、一第二-步進馬達以及一彈簧體，該第一捲線器係設於永久磁性體上，並於內部供連結線一 端設置，該連結線另端設於第二捲線器內部，該各第二捲線器係設於磁浮框架斜對角之框柱內，另該第二捲線器於一側設有一定位之卡榫件，並於各第二捲線器上下兩端供第一步進馬達及第二步進馬達設置，該第一步進馬達及第二步進馬達設置於該磁浮框架斜對角之框柱內，其中，該第二步進馬達設彈簧體，另第一步進馬達可配合各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上下高度位置進行移動；一檢測電路板，設於該磁浮框架上；一電腦設備，連結於各步進捲線裝置以及各磁浮量測探針裝置；一檢測電表儀器，連結於該電腦設備、各步進捲線裝置及磁浮量測探針裝置；一影像擷取器，設於該磁浮框架上並擷取檢測電路板影像，並連結於該電腦設備。
17. 如申請專利範圍第16項所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該各磁浮量測探針裝置之永久磁性體上之第一捲線器內璧具有環繞齒狀之被動部，該被動部配合連結件上之凸出齒狀之主動部，該第一捲線器可帶動磁浮量測探針裝置之量測探針，進行量測探針之旋轉轉動。
18. 如申請專利範圍第16項所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該浮動框架內所設置之影像擷取器擷取檢測電路板之 影像後，並傳送檢測電路板之影像資訊至電腦設備內，該電腦設備接收後顯示於電腦設備上並供操作者設定檢測電路板各檢測之各接點，該檢測電路板各檢測之各接點由電腦設備設定完成後，並由電腦設備執行各磁浮量測探針裝置以及步進捲線裝置進行檢測檢測電路板之各檢測接點的上下左右以及角度位置檢測，並由一連結於檢測電表儀器之繼電器切換電路進行短路或是通路之檢測，並將所檢測資訊以及電路圖傳送回電腦設備進行儲存紀錄者。
19. 如申請專利範圍第16項所述之磁浮自動逆向工程設備，其中，該影像擷取器擷取檢測電路板影像後，由電腦設備之游標進行檢測電路板上之各接點點選，並於電腦設備上形成一電路圖，該電腦設備點選後自動擷取各接點之中心位置，並且運用如下公式，H為磁場強度(安匝/米)＝Ni(電流X線圈匝數)/L(距離)計算所需之各磁浮量測探針裝置及步進捲線裝置移動之上下前後左右檢測距離位置所在，並由步進捲線裝置之第一捲線器、連結線以及第二捲線器進行各磁浮量測探針裝置之永久磁性體旋轉轉動至所需檢測之接點處。