TWI374275B - Testing method of multiband antenna - Google Patents
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Description
1374275 . ·
• TW4589PA 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 且特別是有關 本發明是有關於一種天線之測試方法， 於一種多頻天線之測試方法。 【先前技術】 傳統量測天線場型的方式係 '發射—特㈣率的盈線 W至待測天線，再控㈣測天線以逐步增加5度或！ = 地旋轉360度。之後’根據待測天線對應於各 個測心度之天線增錢製成—天線場_，並藉由天線 場型圖判斷待測天線於此測試頻率下的接收特性。、 然而’隨著不同的無線標準相繼出現，天線所需進行 驗證的測試頻率也越來越多。傳統量測天線場型的方式若 欲量測另-職頻率下的天線增益，則需重新設m 試頻率，再重新以逐步增加Q.5度或！度的方式原地旋轉 360度。如此一來，將大幅增加天線的驗證時間。 【發明内容】 本發明係有關於-種多頻天線之賴方法。此測試方 法根據頻粒料乡鼓線所需驗證料職頻率使得 多頻天線旋轉-圈後即完成所有測試頻率的驗證工作將 大幅地降低多頻天線的驗證時間。 根據本發明，提出一種多頻天線之測試方法。多頻天 線之測試方法包括：判斷多頻天線之測試角度是否小於預
TW4589PA 設角度；若測試角度小於 頻率等於第一預設頻率 ’根據頻率表設定測試 對應於第-預設頻率之第天線於測試角度時’ ηηΦ ' ie式、Ό果；判斷是否需改變測 + 根據頻率表設定測試頻 =第一Μ率，以獲得多頻天 應於第二預設頻率之第二測試結果。 肖又吟對 根據本發明，接中—a
绫之測狀測财法。多頻天 線之顧Μ包括：_乡縣社職 -預設值；若測試角度小於第 2疋幻於第 ，目，丨你 、第一預汉值，根據頻率表設定 ^式^等於第-預設頻率，以獲得多頻天線於測試角度 =對應於第-預設頻率之第一測試結果，其中第一預設 值為預設的測試角度；判斷多頻天線之設定測試頻率的次 數是否大於第二預設值；以及若設定測試頻率的次數大於 第-預設值而需改變測試頻率，根據頻率表設定測試頻率 等於第二預設頻率，以獲得多頻天線於測試角度時，對應
於第二預設頻率之第二職結果，其巾第二預設值為倾 的測試頻率個數。 其中該頻率表可以由使用者預先設定並儲存於控制 測試裝置的電腦内或直接儲存於内建有儲存空間的測試 裝置内，使得待測的多頻天線在驗證各測試頻率時不需要 加裝或改變天線測試系統的任何硬體裝置。 【實施方式】 凊參照第1圖，其繪示係為天線測試系統之方塊圖。 [S3 1374275
_ TW4589PA • 天線測試系統1 〇用以驗證多頻天線20。天線測試系統1 〇 包括測試裝置110、測試裝置12〇及電腦130。測試裝置 110及測試裝置120電性連接至電腦130 ’以測試多頻天 線20。其中’測試裝置11〇及測試裝置12〇例如分別為信 號產生器（Signal Generator, SG)及頻譜分析儀 (Spectrum Analyzer, SA)。 電腦130控制測試裝置no產生無線信號至多頻天線 20，測試裝置120根據多頻天線20接收之無線信號輸出 鲁測試資料。電腦13 0根據測試資料輸出測試結果，並根據 測試結果繪製天線場型。其中，測試結果例如為天線增 益。需特別說明的是，前述電腦130係存有一頻率表 (Frequency Table)，電腦130根據頻率表設定需驗證的 各測試頻率，使得多頻天線20僅需旋轉一圈後即能完成 所有測試頻率的驗證工作，將大幅地降低多頻天線20的 驗證時間。 請參照第2圖，其繪示係為一種頻率表之示意圖。前 ® 述頻率表例如為圖2所示。頻率表30可以包括等待時間 < Set Equipment wait time〉、總測試頻率個數〈Total Test Frequency Number〉、預設頻率 Freq、標準增益 Standard Gain 及頻讚位準 Spectrum Level。電腦 130 根 據等待時間< Set Equipment wait time〉設定測試裝置 120的等待時間，待該測試裝置的初始設定進入一穩定狀 態再開始進行頻率測試；而總測試頻率個數〈Total Test Frequency Number〉表示多頻天線20需進行驗證之測試頻 1374275
* TW4589PA * 率個數。 當多頻天線2G旋轉至-測試角度時，前述電腦13〇 根據頻率表30之預設頻率Freci依序設定需驗證的各測試 頻率，使得多頻天線20僅諸轉—圈後即能完成所有測 試頻率的驗證工作。此外，前述電腦13〇根據頻率表3〇 之頻譜位準Spectrum Level設定測試裝置12〇，以量測無 線信號。電腦130並根據頻率表3〇之標準增益 Gain獲得對應之天線增益。 * 料照第3圖’其繪示係為依照本發明較佳實施例之 一種多頻天線之測試方法。測試方法係可應用於前述天線 測試系統ίο，且測試方法包括如下步驟：首先如步驟41〇 所示，初始化測試裝置110或測試裝置120。測試裝置11〇 或測試裝置120例如係根據設定檔（c〇nfigurati〇n Fiie) 進行初始化。 接著如步驟420所示，判斷多頻天線2〇之測試角度 疋否小於一預設值，其中預設值例如為36〇度。當判斷多 頻天線20之測試角度小於預設值，則執行步驟。於步 驟430中，電腦130根據頻率表3〇設定測試裝置11〇及 測试裝置12 0之測试頻率等於一預設頻率，以獲得多頻天 線20於此測試角度時，對應於此預設頻率之測試結果。 此外’電腦130更能根據頻率表30設定測試裝置12〇之 參考位準，以使測試裝置12〇準確地輸出測試資料。 跟著如步驟440所示，判斷是否需改變測試頻率。於 步驟440中係判斷測試頻率之設定次數是否大於該頻率老 m 1374275
- TW4589PA . 之總測試頻率個數，以判斷是否需改變測試頻率。當設定 次數不大於總測試頻率個數，即表示需改變測試頻率，並 重複執行步驟430。電腦130並根據頻率表30設定測試裝 置110及測試裝置120之測試頻率等於另一預設頻率，以 獲得多頻天線20於同一測試角度下，對應於此另一預設 頻率之測試結果。此外，電腦130更能根據頻率表30設 定測試裝置120之參考位準，以使測試裝置120準確地輸 出測試資料。 • 相反地，當設定次數大於總測試頻率個數，即表示不 需改變測試頻率。此時電腦130已依序將頻率表30中之 預設頻率設定完畢，電腦130並獲得同一測試角度下，所 有與頻率表30中之預設頻率相對應之測試結果。當設定 次數大於總測試頻率個數時，即可逐步增加多頻天線20 之測試角度，並重複執行步驟420。 當測試角度不小於預設值時，即表示多頻天線20已 旋轉一圈完畢。電腦130分別儲存各預設頻率對應之測試 ® 結果至不同的紀錄檔，並根據與排序於第一順位之測試頻 率相對應之測試結果繪製天線場型圖。而其他測試頻率僅 需經由一繪製軟體即能根據對應之記錄檔繪製出對應之 天線場型圖。 ' 請參照第4圖，其繪示係為前述步驟430之細部流程 圖。前述步驟430進一步更包括如下步驟：首先如步驟432 所示，電腦130根據頻率表30設定測試裝置110及測試 裝置120之測試頻率等於預設頻率。接著如步驟434所 1374275
. TW4589PA . 示，電腦130自測試裝置120讀取對應於此預設頻率之測 試貧料。跟者如步驟436所不，電腦130根據測試貢料計 算測試結果。由於電腦130根據頻率表30設定不同的預 設頻率至測試裝置110及測試裝置120，因此，電腦130 自測試裝置120讀取對應於不同預設頻率之測試資料。電 腦130根據對應於不同預設頻率之測試資料即計算出對應 於不同預設頻率的測試結果。 本發明上述實施例所揭露之多頻天線之測試方法，根 • 據頻率表設定多頻天線所需驗證的各測試頻率，使得多頻 天線旋轉一圈後即完成所有測試頻率的驗證工作，將大幅 地降低多頻天線的驗證時間。 综上所述，雖然本發明已以一較佳實施例揭露如上， 然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通 常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍内，當可作各種 之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請 專利範圍所界定者為準。 1374275 • ·
• · TW4589PA • 【圓式簡單說明】 ，：圖繪示係為天線測試系統之方塊圖。 第2圖繪示係為-種頻率表之示意圖。 第3圖繪示係為依照本發明較佳實施例之一種多頻 天線之測試方法。 第4圖繪示係為前述步驟43〇之細部流程圖。 •【主要元件符號說明】 10 :天線測試系統 20 :多頻天線 110、120 :測試裝置 130 :電腦
Claims (1)
1374275 . TW4589PA 申請專利範圍： L 一種多頻天線之測試方法，包括： 值 (a)判斷該多頻天線之—測試角度是否小於一預設 一 （b)若該測試角度小於該預設值，根據一頻率表設定 等於一第一預設頻率’以獲得該多頻天線:該 、 又時，對應於該第一預設頻率之一第一測試結果； (c)判斷是否需改變該測試頻率；以及 頻率變該測試頻率，根據該解表衫該測試 产時_ 預設解，以獲得該多頻天線於該測試角 又時，對應於該第二預設頻率之一第二測試結果。 2. 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，更包括： (e)若該測試角度不小於該預設值， 測試結果及料二賴絲。 存該第 3. 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，更包括： 如該賴肖度不小於該預設值，根據該^測 δ式、、、°果繪製一天線場型圖。 4·如申請專利範圍第丨項所述之測試方 苴 忒步驟（a)中該預設值為36〇度。 ； 5.如申請專利範圍第丨項所述之測試 步驟（b)包括： 八甲5系 (bl)根據該頻率表設定該測試頻率等於該第一 頻率； (b2)讀取對應於該第一預設頻率之一第一測試資 13 in TW4589PA 料；以及 6 i Γ據。玄第—測試資料計算該第-測試姓果 步驟⑷包^ 項所述之測試方法，其中該 頻率⑻㈣該頻率表設定該測試頻率等於該第二預設 料；讀取對應於該第二預設頻率之一第二測試資 ί'Γϊ該第t測試資料計算該第二測試結果。 •如申凊專利範圍第 :驟率之 之一總測試頻率個數。 /須半表 8· *中請專利範圍第丨項所述 不需改變該測試頻率，則執行步驟⑷。 其中右 該步二^ 項所述之測試方法’其中於 Ύ更根據该頻率表設定一第一參考位準。 該步1〇.如申請專利範圍* 1項所述之測試方法’其中於 ，驟（d)中，更根據該頻率表設定一第二參考位準。 U.一種多頻天線之測試方法，包括： 值.（a)判斷該多頻天線之一測試角度是否小於一預設 〜、（b)若該測試角度小於該預設值，根據一頻率表設定 測，甙頻率等於一第一預設頻率，以獲得該多頻天線於該 ,°式角度時，對應於該第一預設頻率之一第一測試結果； 1374275 1 · . TW4589PA 表之設㈣是否大於該頻率 ⑷右脑说頻率之設定次數不大於 總測試頻率個數，妒姑 两手衣之及 $魏鮮㈣⑽職解等於一第 = /獲得該多頻天線於該測試角度時，對應於 該苐一預故頻率之一第二測試結果。 (e)右该測試頻率之設定次數大於 試頻率個數’則執行步驟⑷。 Μ表之U 紅.12· *申請專利範圍第11項所述之測試方法，更包 ίσ · ()若該’則试角度不小於該預設值， 測試結果及該第二測試結果。 ]儲存該第 二I3.如申請專利範圍第12項所述之測試方法，豆 2步驟⑴中係分別儲存該第一測試結果及該第二測試 、、’°至一第一記錄擋及一第二記錄檔。 14·如申請專利範圍第u項所述之測試方法，更包 ίϊΓ * (f )若該測試角度不小於該預設值，根據該第一測 嘁結果繪製一天線場型圖。 15·如申凊專利範圍第11項所述之測試方法，其中 ;該步驟（a)中該預設值為36〇度。 16·如申請專利範圍第11項所述之測試方法，苴中 該步驟（b)包括： /、T (bl)根據該頻率表設定該測試頻率等於該第一預設 {SI 15 1374275 ' TW4589PA 頻率； (b2)讀取對應於該第一預設頻率之一第一測試資 料；以及 ' (b3)根據該第一測試資料計算該第一測試結果。 17·如申請專利範圍第16項所述之測試方法，其中 該步驟（b 1)係根據該頻率表設定該第一預設頻率至一測 試裝置。 18. 如申請專利範圍第μ項所述之測試方法，其中 該步驟（b2)係自一測試裝置讀取該第一測試資料。 19. 如申請專利範圍第16項所述之測試方法其中 該步驟（b3)係由一電腦根據該第一測試資料計算該 測試結果。 μ 20·如申請專利範圍第1丨項所述之測試方法，其中 該步驟（d)包括： ’ (dl)根據該頻率表設定該測試頻率等於該第二預設 頻率； (d2)讀取對應於該第二預設頻率之一第二測試資 料，以及 、 (d3)根據該第二測試資料計算該第二測試結果。 ▲ 21·如申請專利範圍第2〇項所述之測試方法，苴 •亥步驟（dl)係根據該頻率表設定該第二預設頻 試裴置。 卞王一剧 22.如申請專利範圍第2〇項所述之測試 該步驟（d2)係自—測試裝置讀取該第 二測試資料。 中 13/4275 TW4589PA 該步範圍第Μ項所述之測試方法，其中 測試結2根據該第二測試資料計算該第二 於該專利範圍第U項所述之測試方法，其中 25 μ ’更根據該料表設定—第—參考位準。 師It 請專利範圍第11項所述之測試方法，盆中 〜d)中’更根據該頻率㈣定—第二參考位準。
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