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TWI364113B - Spintronic transistor - Google Patents

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TWI364113B
TWI364113B TW096126346A TW96126346A TWI364113B TW I364113 B TWI364113 B TW I364113B TW 096126346 A TW096126346 A TW 096126346A TW 96126346 A TW96126346 A TW 96126346A TW I364113 B TWI364113 B TW I364113B
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spin
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substrate
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Sanjeev Kaushal
Kenji Sugishima
Swaroop Ganguly
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Tokyo Electron Ltd
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D48/00Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
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Description

1364113 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 特別是關於具有自旋一 【先前技術】 本=使用了在以下參考列表中的f料的不 個說明書中將以括號内的數字來表示引用的文件。可衩珩正 參考列表
[1] A.T. Filip等人,側向幾何結構巾對於GaA 注入及偵測,超導體期刊:結合_的磁學,薦年严子自疋 [2] EJRashba’電子自旋注入理論 不匹配的_法,物理_ A,卷62,電羊 [3] D Connelly 等人’達到 m〇sfe 沒極的新路線’臓奈米科技會刊,卷3,第i二2==/。 [4] C. Wang # A > 40nm PtSi ^ Schottky M mAUk ^ 旌生f Tfrcs ’從鐵磁性金屬進人半導體的有效自 方疋庄入的條件,物理回顧B,卷64,麵年1〇月19日。 d [ϋ affm等人,mram的設計考量]bm j.把.& Dev.,卷50,第1期,2〇〇6年】月。 接網及μ· Tanaka’源極與汲極使用半金屬鐵磁性 接觸的自&金屬氧化物半導體場效電晶體。 年)。[8] MM· Rieger 及 p. v〇ig,物理回顧 B ’ 卷 48,14296 (】993 版#人’_F㈣㈣論㈣,第一 上面列出的參考職的各個參考資料的全部内容 ,均以參考 1364113 資料方式在此合併。 自,電子代表的是「以旋轉為基礎的電子」。除了電子的 二=自(iii代電子的電荷特性),自旋電子裝置利用的是電 子,有的自域性,以儲存及處理資訊。因為自旋電子裝置能夠 少於習知的以電荷為基礎的電子裝置的電子來表示資料,比 起=的微電子裝置,自旋電子裝置能夠可觀地縮小並錄快速。 費的察^的法則’也就㈣於最小的元件花 ΐ 電路的複雜度’母24個月就會增加—倍。為了要維持此 成長it度,半導體裝置需要變得更小。 、 f導體裝置製造上的困難是料定律實現的限姻素之一。 的微小尺寸造成操作上的問題:在^ =下的,部材射’電荷數量以及能階就會變得很重要 昨K ; r、〇罪义為了要維持性能,同樣地也要減小M0SFET的 ^界”著臨界電壓減小,電晶體不能被完全_,當電= 2 = Ϊ通的時候’會造成以次臨界漏電流的形式來消耗能量 的弱反Ϊ層。次臨界漏電流_耗會高達晶片總能量雜的半 小不同解決方法,以延和應巾閘極物理長度 點)。這料㈣概方法包括非 回ί ί =善多重閘極以及極薄的聰啦、以及不 如提高移動率的受應變si、升高的源極/汲極、 冋k閘極介電質、及金屬閘電極。 合需=極到達大約22nm (閘極物理長度9nm),就 ^ = 目前預料仍然是制⑽⑽作為技術 能ί新Ϊ:置 夠顯著加強單獨嶋〇S即能達到的系統性 ^句使用電子自旋的自旋電子裝置是達到此 且能ί發展朝向結合儲存體及邏輯、記憶體電晶體Ϊ建 構邏輯、零等待能量技術的新路線。更進一步,使=自= 1364113 密碼能夠貢獻長期發展的前景。 量子力學==之=:學=定理開始瓦解,且 量子技術必須取代或是支援習知』ί 固態量子計算的新途徑。 已知自㈣子學可以是 量的電子還具魏稱為自旋的角動 磁棒。電子的兩個狀態被稱;「:旋:巧》轉二的-個小. 讀出及寫人)半導體中賴子自旋極2實便達到(亦即, 提出 ^其中被佔據的最高能帶是完全自_咖; 能S也不可能“容 旋裝為基礎的材料來製造電子自 〇 【發明内容】 置問====目的為處理上述及/或其他習知的半導體裝

Claims (1)

1364113 101 年2 月 96126346(無劃線) 十、申請專利範圍: 1. 一種半導體裝置,包含: 一基板,包含^夕; 一通道區域,形成於該基板上; 一自旋注入器,形成於該塞板上之該通道區域之一第一侧, 並用來擴散一自旋極化電流到該通道區域中; 一自旋偵測器,形成於該基板上之讀通道區域之一第二侧, 並用以接收來自該通道區域的該自旋極化電流;及 一閘極’形成於該基板上之該通道區域之一範圍中.
其中’該通道區域包含一 SiGe/Si異質結構通道,該siGe/Si 異質結構通道用以作為定義該通道區域的一限制層,以及作為一 應變來源,該應變來源使Si傳導帶中的一簡併態^離,並影塑注 入電子的自旋動態。 2. 材料 如申請專利範圍* 1項之半導體裝置’其中該自旋注入器包含: 鐵磁性材料、及插入該鐵磁性材料與該基板之間的一介電 3·如申請專利範圍第i項之半導體裝置,其中該自旋偵測器包含: 一鐵磁性材料、及插入該鐵磁性材料與該基板之間的一介 材料。 4. =申請專利範圍第1項之半導體裝置,其中該基板包含矽、部 分空乏的絕緣層上覆矽、全部空乏的絕緣層上覆矽、或是虛擬 石夕鍺、或是其中兩個或更多個的結合。 5. 如申請專利範圍第1項之半導體裝置’其中該閘極包含: 一閘電極材料;及 插入該閘電極材料與該基板之間之一介電材料,其中 23 1364113 之一〇 該閘電極材料為聚合石夕或是金屬其中之一,且 該介電材料為二氧化矽、氮氧化石夕、及高k介電材料其中 101年2月15曰修正替換頁 %12«46(無劃線) 、 6該自旋注入器及 7. 嗲自如旌申利範圍第1項之半導體裝置’其中’該自旋注入器及 这自碇偵測器各包含一鐵磁性半導體。 ^如申請專利範圍第6項之半導體裝置,其中該自 自旋偵測器至少其中之一的該鐵磁性金屬包含C〇。彳° 。 L g請專利範_項之半導體裝置,其中該織雖金屬是由 10.如申請專利範圍第1項之半導體裝置,其中 該自旋注入器包含一固定之磁化結構, 該自 ,自旋偵測器包含一可切換之磁化結構,及 當該自旋偵測器之磁化平行於該自旋注入器之 凝極化電流從該自旋注入器流向該自旋制n。 時’ 如申請專利範圍第10項之半導體裝置,苴中, U如申請專利範圍第i項之半導體 ,偵測器至少其中之-包含在形成於該基二 24 1364113 101年2月15曰修正替換頁 96126346 (益畫ij 線) η.如申請專利範圍第1項之半導體裝置,其中該^ 該自旋侧器至少其中之-被升高到至少有—部份伸出高於該基 板。 Η·如申請專職圍第1項之轉體裝置,其巾該自旋注入 該自旋偵測器的該至少其中之一包含: & 形成於該基板上之一空乏型半導體層; 形成於該空乏型半導體層上的—介^層;及 形成於該介電層上之一鐵磁性層.。 如申請專機圍第1G項之半導體裝置,其中該自旋偵測器包 含. 一切換機構,用來切換該自旋偵測器之—磁化方向。 如申請專利翻第1項之半導體裝置,其中,該自旋注入器包 一穿隧障壁,用來最大化自旋注入, 其中該穿轉壁係選擇成滿足ΓΝ〇Ν/λΝ) <<re< N]N), 區祕匕非,,半導體區域中的—通道長度’ λ N是非磁性半導體 r°°曰3访穿、Λ旋擴散長度’〜是該通道區域中的一有效電阻,且 C疋該穿隧障壁之一穿隧電阻.,且 rc隨著該穿隨障壁的厚度而改變。 ί化第2項之半導鮮置,其t較紐料包含二 乳化石夕、虱乳化石夕、或是高k材料。 作為第1項之半導體裝置,其中該半導體I置是用 電何電日日體及一自旋電晶體,且 .25 1364113 101年2月15曰修正替換頁 %126M6(無劃線) 若施加於該閘極的電壓為高壓,且該自旋注入器及該自旋偵 測器^磁化是平行的’則該通道區域會通過一高量自旋極化電流, 如若施加於該閘極的電壓為高壓,且該自旋注入器及該自旋偵 測器之磁化是反平行的,則該通道區域會通過一低量自旋極化 流,及 如若施加於該閘極的電壓為低壓,且該自旋注入器及該自旋偵 測器之磁化是反平行的,則該通道區域會通過一低量自旋極化電 流。 19.——種半導體裝置,包含: 胃 -基板,包含石夕; 一通道區域,形成於該基板上; 、一自旋注入器,形成於該基板上之該通道區域之一第—側, 並用來擴散一自旋極化電流到該通道區域中; 、一自旋偵測器’形成於該基板上之該通道區域之一第二側, 並用以接收來自該通道區域的該自旋極化電流;及 一閘極,形成於該基板上之該通道區域之一範圍中; 其中該通道區域包含一逆行式摻雜構造。 φ 十一、圖式: 26 1364113 式 圖 画一
頁 第 •1364113 式 圊 00 2 (i °°< 應變矽能帶亂Vgs=0 00 ik 傳導帶 I 雜也台匕ρϋ ... ... ^ 位能 SS 1-; °° 40 0.60 0.80 1.00 1.20 1.40 1.60 距離(微米)圖2A 電子酿 V9876 76543210 IX iA 1X1A ix ix 1* (fi)議
00 5432ο 00 0.200 0.300 0.400 0.500 距離(微米)圖2B 第爻頁 (S ) 1364113 式 囷 2 I 應變矽能帶圖,Vgs=0.5 υ ο υ ο • · 1 ο I § § 1 ο ο-ο ο . 傳導帶 --------mmm------------------------- ^-—--- k 位能 1 _ M'Wb 1 mw · 0.20 0.40 0.60 0.80 1.00 1.20 1.40 1.60 距離(微米) 00 圖3A 電子濃度 ΛΟ 7 RW 4 3 Λζ 1 ^ ei 1X 1A iA ix 1A 1* ix IX 1Φ (I)譲
0.100 0.200 0.300 距離(微米) 0.400 0.500 °° 圖3B 第今頁 (S 1364113 囫式
圖4 源極 汲極 K 鄱 Ef,源極 、 Ec Ev
K Ν ef 汲極 第+頁 c S > 1364113
围式 汲極 源極
%汲極 圖6 C S > 1364113 式 圈 r*gl 画7 -siloar? Μ >霞8議 喵蘅爾嘸徊gs^tf-slj λ'ιιΙ t 0.05Γ„«Γ,《20Λ_ t 0.5L<『,<2f, 皿蠢i钶 1^ qN 「c 喵搦嘸猫@縛面 頁 _5> 第 1S 1364113
Γ25 30.CO5 40 45s55 SO 65 障壁電阻X面積rc (Ωοώ2) —**< -Μ-Κ ———人 ^ ^^ s画 A SHB 101年2月15日修正替換頁 96126346(無劃線) ON OFF ! ____ir'--- • -βίψίίί 4 =. = 1Λ3.-Τ.6-1Λ Ί_ΠΛ¥ = 100{α§二 %/ =萎=1Λ% 1·6·%c · 10— vv.r1 {0. cm). 一 1364113 圓式
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