TWI363941B - Testing apparatus applicable for testing multiple units under test - Google Patents

Description

1363941 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種測試裝置，且特別是有關於一種能同 時測試多個待測板（Unit Under Test，UUT )的測試裝f。 【先前技術】 圖1是習知一種測試裝置的方塊圖。請參照圖丨，習知測 試裝置100包括一主機電腦（HostPC) 110、一測試板12〇以 及現％ 即 ％ 資訊系統（Shop Fi00r informati〇n SyStem，sfis ) 130。主機電腦no是電性連接至測試板12〇與現場即時資訊 系統130，而測試板12〇用以電性連接至一待測板5〇。 習知技術的測試步驟是透過主機電腦11〇啟動測試流 程，並藉由測試板120對待測板5〇進行測試。螂試完成後， 主機電腦no會將測試結果傳送至現場即時資訊系統13〇，而 現場即時資訊系統130會儲存測試結果。 習知技術中，每一測試板12〇是用以測試特定的待測板 50，所以在測試不同待測板5〇時需更換測試板 120。此外，

由於每-制板5G包料轉測部分，所以若制板5〇有升 級時，通常需研發新的延伸卡、在測試板12〇上新增元件或是 重新设計測試板12G，以完整測試待測板％的每—待測部分。 特別是’若制板50具有主動元件（如區域網路（LQcai

Netw_LAN)晶片）時’往往需要更換另—測試板或是新增 由於習知技術需研發許多測試板12〇，所以較耗費成本。 此外’在測試不同待測才反5〇時，需更換測試板12〇，所以較 為費時。另外，在習知技術中’主機電腦i i Q躲同時測試多 個待測板50，導致測試時間過長。 5 1363941 級排(Wireless Universal Serial Bus，Wireless USB ) 〇 在本發明之一實施例中’上述之可編程測試板具有多個連 接介面。 . 在本發明之一實施例中，上述之測試裝置更包括至少一輸 入單元，連接可編程測試板。 在本發明之一實施例中，上述之輸入單元包括一鍵盤及/ 或條碼掃描器（Barcode Scanner)。 在本發明之一實施例中，上述之主控電腦包括一主機電腦 • (HostpC)或一伺服器（Server)。 本發明之測試裝置中，主控電腦可控制至少一可編程測試 板以同時對多個待測板進行測試，所以能節省測試時間。此 外，。由於可編程測試板具有可編程系統晶片，所以可透過軟體 ，輯的方式，使可編程測試板能測試多種待測板，如此可以節 省研發測試板的成本。因此，本發明之測試裝置能降低測試成 本及測試時間。 “為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易 φ 懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。 【實施方式】 圖+2是本發明一實施例之測試裝置的示意圖。請參照圖 2，本實施例之測試裝置200適於測試多個待測板（如6〇a、 -6〇b、6〇C)。此測試裝置200包括一遠端連接單元21〇、多個 可編程測試板（如220a、220b、220c)以及一主控電腦23〇。 可編程測試板220a、220b、220c分別連接至遠端連接單元 210，而主控電腦230是連接至遠端連接單元21〇。每一可編 程測試板220a、220b、220c具有一可編程系統晶片222。每一 待測板60a、60b、60c適於連接至可編程測試板22〇a、22此、 7 1363941 220c其中之一。更詳細地說，待測板6〇a是連接至可編程測試 板220a ’待測板60b是連接至可編程測試板220b，而待測板 60c是連接至可編程測試板220c。 此外，主控電腦230内存有預設的多個測試流程，且主控 龟腦230適於根據待測板6〇a、60b、60c的種類來選取對鹿待 測板60a、60b、60c的測試流程，並控制可編程測試板22〇a、 220b、220c對待測板60a、60b、60c進行測試。換言之，主控 電腦230可選取用於測試待測板6〇a的測試流程，並控制可編 鲁程測试板220a，以對待測板60a進行測試。同樣地，主控電腦 230可選取用於測試待測板6〇b的測試流程，並控制可編程測 試板220b，以對待測板60b進行測試。主控電腦23〇可選取 用於測試待測板6〇c的測試流程，並控制可編程測試板22此， 以對待測板60c進行測試。 上述之測試裝置200中’每一可編程系統晶片222例如是 一現場可程式邏輯閘陣列晶片。域電腦230可為-主機電腦 或-飼服器。此外’主控電腦23〇及可編程測試板施、2施、 • 22〇c可透過傳輸線而與遠端連接單元21()連接，其中傳輸線 可為網路線。亦即，遠端連接單元21〇可為一集線器或一存取 點。另外’傳輸線並不限定於網路線，舉例來說，傳輸線還可 .以是通用序舰流排（Universal Sedal Bus, USB )。 • 土承上述主技包腦230還可透過一無線傳輸方式而連接至 =連接單元210 ’其中無線傳輸方式可以是-無線網路、-監牙、-紅外線或是—無線通用序列匯流排。此外，每一可編 =測試板22Ga、22%、2施具衫個連接介面224。這些連接 ^面224包括通用序列匯流排埠、通用型輸入/輸出璋（⑽― pose I/O Port) ~合測試工作組埠（加加了咖Acti〇n

Group 8 1363941

Port, JTAG Port)、乙太網埠（Ethernet Port)、無線網路介面、 音效埠、低電麗差動訊號（L〇w-Voltage Differential Signaling, LVDS)介面、列印終端埠（Line Print Terminal Port，LPT Port)、序列埠（COM Port)、PS/2埠以及視頻圖像陣列埠（Video Graphics Array Port，VGA Port)之至少其中之一。另外，使用 者可透過聯合測試工作組埠對可編程系統晶片222做編程跟 寫入的動作。 在本實施例中’測試裝置200可更包括多個輸入單元 • 240 ’而這些輸入單元240是分別連接可編程測試板220a、 220b、220c。此外，每一輸入單元240可包括一鍵盤及/或一 條碼掃描器。 以下將以測試待測板60a為例來說明本實施例之測試裝 置200的測試方法。此外，關於待測板6〇b、6〇c的測試方法 與待測板60a的測試方法相同，故在下文中將不詳細說明。 本员％例之測§式裝置200的測試方法如下：首先，由測試 人員透過連接至可編程測試板220a的輸入單元240輪入待測 % 板60a的種類至可編程測試板220a，且可編程測試板220a會 將待測板60a的資訊傳送至主控電腦23〇。更詳細地說，測二 人員可用鍵盤輸入待測板6〇a的種類（如輸入待測板6〇a的序 ' 旒）。此外，若待測板60a具有條碼62，則測試人員可透過 條碼掃描器掃描待測板60a的條碼62，以輸入待測板6〇a的種 類。 接者，主控電腦230可根據待測板6〇a的種類來選取用於 ，試待測板6Ga的測試流程’並將此測試流程傳送至可編程測 忒板220a，之後主控電腦230會控制可編程測試板22〇a，以 對待測板6Ga進行測試。在測試過程巾，可編程測試板如 9 1363941 係將測試狀態回報至主控電腦230，使得測試人員可透過主控 電腦230 了解測試狀態。 測試完成後，可編程測試板220a會將測試結果傳送至主 控電腦230。若待測板60a通過測試，則主控電腦230可直接 儲存測試結果。若待測板60a未通過測試，則測試人員可決定 疋否要重新測試’而若測試人員選擇不重新測試，則主控電腦 230會儲存測試結果。

在本實施例中，測試裴置200可更包括一現場即時資訊系 統250。此現場即時資訊系統250是連接至主控電腦230，而 主控電腦230可依需求決定是否將測試結果傳送至現場即時 資訊系統250。 在本貫施例之測試裂置200中，由於主控電腦230可控制 可編程測試板220a、220b、220c，以同時測試待測板60a、60b、 6〇c ’所以可節省測試時間。此外，可編程測試板m㈣匕、 220c^r具有多種連接介面224，以與多種待測板連接。而且， 由於每-可編程測試板22Ga、通、22Ge具有可編程系統晶 =222 ’所以可透—過主控電腦23()寫入測試程式於可編程系統 晶片222巾’使每—可編程測試板2施、2勘、歷能測試 多種待測板，如此能節省研發測試板的成本。另外，若待測板 有變更或升級’只需要更新主控電腦⑽中的峨流程並透過 主，電腦230新增或修改可編程系統晶片222的測試程式就可 Ϊ罟t關ΪΓ式。所以’相較於習知技術，本實施例之測試 " 不高製作多種測試板，所以能節省測試板的成本以及 更換測試板的時間。拖 換§之，本貫施例之測試裝置200可以降 低測S式成本及測試時間。 而〆主思的疋雖然在圖2 _是以三個可編程測試板220a、 1363941 220b、220c為例，但在本發明中，可編程測試板的數量可為 一個或多個。 雖然可編程測試板220a、220b、220c分別具有多個連接 介面224，但若這些連接介面224與待測板的連接介面不同 4，可透過擴充單元來連接待測板。此外，若可編程測試板 • 220a、220b、220c無法直接與待測板傳輸訊號時，亦可透過擴 充單元來與待測板傳輸訊號。以下將配合圖式說明具有擴充單 元之測試裝置的實施例。 • 圖3是本發明另一實施例之測試裝置的示意圖。請參照圖 3，相較於測試裝置200，測試裝置200,更包括多個擴充單元 260a、260b、260c。擴充單元260a是連接於可編程測試板22〇a 與待測板60d之間’擴充單元260b是連接於可編程測試板22〇1) - 與待測板60e之間，而擴充單元260c是連接於可編程測試板 220c與待測板60f之間。換言之，可編程測試板22〇a是透過 擴充單元260a而與待測板60d連接並傳輸訊號，可編程測試 板220b是透過擴充單元260b而與待測板60e連接並傳輸訊 ❿ 號’可編程測試板220c是透過擴充單元260c而與待測板6〇f 連接並傳輸訊號。 綜上所述’本發明之測試裝置至少具有下列優.黑占： 1.由於主控電細可控制至少一可編程測試板，以同時測試 多個待測板，所以能節省測試時間。 2.由於可編程測试板具有可編程系統晶片，所以可透過軟 體編輯的方式，使每一可編程測試板能測試多種待測板，如此 能節省研發測試板的成本。 3·若待測板有變更或升級’只需要更新主控電腦中的測試 々IL私並修改可編程系統晶片的程式就可以支援相關的測試。所 11 1363941 以，相較於習知技術，本發明之測試裝置可節省研發許多測試 板的成本。 ° 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定 本發明，所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之 精神和範圍内，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1是習知一種測試裝置的方塊圖。 圖2是本發明一實施例之測試裝置的示意圖。 圖3是本發明另一實施例之測試裝置的示意圖。 【主要元件符號說明】 50、60a ' 60b、60c、60d、60e、60f :待測板 62 :條碼 100、200、200’ ：測試裝置 110 :主機電腦 120 :測試板 130、250 :現場即時資訊系統 210 :遠端連接單元 220a、220b、220c :可編程測試板 222 :可編程系統晶片 224 :連接介面 230 :主控電腦 240 :輸入單元 250 :現場即時資訊系統 260a、260b、260c :擴充單元 12

Claims (1)

1363941 - ' _ — · 101 ¥ 3月6曰修正替換頁 十、申請專利範圍： 1.一種可對多待測板進行測試之測試裝置，適於測試至少 一待測板’該測試裝置包括： 一遠端連接單元； 至少一可編程測試板，連接至該遠端連接單元，且該待測 板適於連接至該可編程測試板，且該可編程測試板具有一可編 程系統晶片；以及 一主控電腦’連接至該遠端連接單元，該主控電腦内存有 ，設的多個測試流程，且該主控電腦適於根據該待測板的種類 來選取對應該制韻制試絲，並侧該可絲測試板對 該待測板進行測試。 2.如ΐ請專纖圍第丨項所狀可對乡制錢行測試之 /、'式震置’更包括—現場即時資訊系統，連接至該主控電腦。 測中料利顧第1項所述之可對多待測板進行測試之 過；㈣i更包括至少—擴充單元，其中該可編程測試板是透 μ擴充早70而連接到該待測板。 =置申= : = = = : 之 剛試第1獅狀謂料測板進行測試 6如申單元為—集線料—存取點。 測試裝置:中兮項所述之可對多待測板進行測試之 遠端電暇親1線賴方心連接至該 测試裝置，:二項:述之可對多待測板進行測試之 '〜挪輪方式包括—氣線網路一藍芽、〆 13 丄 丄 -:~~~—^ ΗΠ年3月6日修正替換頁 紅外線或是一無線通用序列匯流排。 -- 測試Sit利範圍第^項所述之可對多待測板進㈣試之 該可編程測試板具有多個連接介面。 測試震C π述之可對多待測板進行測試之 之測試展置，2述之可對多制板進行測試 11.如申請糞$丨# 盤及/或一條碼掃描器。 14 1363941 十一、圖式：

1画 15 1363941 r—_— - . · ' 101年3月ό日修正替換頁 i cdg 0>2丄'^時 v« 寸 zcsa- w-填 sii 0 0 f·漤 OSs 0, 0, \ ji :含. :聲 \ψ 1¾- ··.、，-\w lip" 如 潍: .jmifc： |观 i 可編程刺試板 可編程系統晶片 3 但 m ft f¥ Μ 4teL)· [Tff © m jjgh [?w 可編释測試板 可編輊系統晶片 3 ϋ_. 婵 ifnlj |1W [m 璁 1贺 [®" 4ί m 0 ./ 婆 % m u m mg 璐 # 个 wff細' 长詩— 篇5 €+Η· z 義 ,¾ 16 1363941 i ，101年3月6日修正替換頁 -OGZ P09 i i I CSI9

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