[go: up one dir, main page]

TWI361229B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TWI361229B
TWI361229B TW094129266A TW94129266A TWI361229B TW I361229 B TWI361229 B TW I361229B TW 094129266 A TW094129266 A TW 094129266A TW 94129266 A TW94129266 A TW 94129266A TW I361229 B TWI361229 B TW I361229B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
relief structure
layer
multilayer body
coating
designed
Prior art date
Application number
TW094129266A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200619434A (en
Inventor
Andreas Schilling
Wayne Robert Tompkin
Original Assignee
Ovd Kinegram Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ovd Kinegram Ag filed Critical Ovd Kinegram Ag
Publication of TW200619434A publication Critical patent/TW200619434A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI361229B publication Critical patent/TWI361229B/zh

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B27/00Layered products comprising a layer of synthetic resin
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/14Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B42BOOKBINDING; ALBUMS; FILES; SPECIAL PRINTED MATTER
    • B42DBOOKS; BOOK COVERS; LOOSE LEAVES; PRINTED MATTER CHARACTERISED BY IDENTIFICATION OR SECURITY FEATURES; PRINTED MATTER OF SPECIAL FORMAT OR STYLE NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; DEVICES FOR USE THEREWITH AND NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; MOVABLE-STRIP WRITING OR READING APPARATUS
    • B42D25/00Information-bearing cards or sheet-like structures characterised by identification or security features; Manufacture thereof
    • B42D25/30Identification or security features, e.g. for preventing forgery
    • B42D25/328Diffraction gratings; Holograms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1847Manufacturing methods
    • G02B5/1857Manufacturing methods using exposure or etching means, e.g. holography, photolithography, exposure to electron or ion beams
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09036Recesses or grooves in insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09045Locally raised area or protrusion of insulating substrate
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24479Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.] including variation in thickness
    • Y10T428/2457Parallel ribs and/or grooves

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
  • Materials For Medical Uses (AREA)
  • Prostheses (AREA)

Description

1361229 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明關於一種多層體,具有一複製漆層,該複製漆 層中形成一種浮雕構造,則該製漆層設有一導電層。 【先前技術】 呈臈元件形式的多層體在許多領域被使用’例如當作 防偽70件以產生光學效果。它們也當作一電路的—部分使 用,或本身構成電路,例如電回路,這種電回路例於用於 當作所謂的RFID (射頻辨識)標籤,換言之,利用無線電 頻率辨識用的商品標籤,RF辨識一詞一般指在—發射應答 器(轉發器)(Transponder)(它與一物品或一個人相關) ’:靖取裝置之間的無接觸式RF通訊。在此,該發射應 各态,舉例而言,有一天線,該天線屬一共振電路,且/ 或與一半導體晶片連接。 對於應用目的,須在一臈元件之上或之中產生能導電 的構k,其尺寸很小。為此,要作個種不同的程序步驟, 其工作繁複,會造成環境污染或品質差,例如將導電層作 飾刻。舉例而言,利用蝕刻,則設在導電構造下方的半導 體層會受雜質污染,其中即使最少量的雜質原子就已有明 顯干擾作用。 由於要構建電回路,故一般需要將這些程序步驟作數 個循環’如此要作準確配合的製造,要有額外的成本。 【發明内容】 本叙明的目的在避免上述缺點,並提供具有構造化的 5 1361229 導電層的多層體,它們可用低成本製造,具有高準確度及 高解析度。 本發明這種目的’係由一種多層體達成,它具有一複 製漆層’其中在一個由座標軸乂與y夾成的平面中將一第 一浮雕構造在該多層體一第一區域中形成到該複製漆層 中’而在該多層體的第一區域中及在多層體的一相鄰之第 二區域中將一個導電鍍層施到該複製漆層上,該導電鑛層 具有值定的面積密度。該第一浮雕構造係為一種具有個別 構造元件的構造,個別構造元件的深度對寬度的比例很 大,特別是> 2,且設有至少一個垂直或近乎垂直的側翼, 該側翼延伸過該浮雕構造整段或近乎整段深度範圍,其在 第一浮雕構造的側翼上產生一些區域,在這些區域上Y該 施到第一浮雕構造上的導電鍍層,並不積集在其上或者積 集的層厚度很小,使得鍍層的導電性在侧翼的區域明顯變 小。此外本發明這本發明的係利用一種製造多層體的方法 達成,在此方法中,將一第一浮雕構造形成到該多層體的 第一區域中的一複製漆層中,並將一導電覆層以恆定的單 位面積密度施到該多層第一區域及相鄰的第二區域中的複 製漆層上。該第一浮雕構造的構造元件係具有大的深度對 寬度比例,其深度對寬度比例特別是大於二者,且至少具 有-垂直或乎垂直的側翼’纟中在第一浮雕構造的側翼: 產生一些區域,在這些區域上該施到第一浮雕構造上的導 電覆層並不集積在其上或集積的層厚度很小,使得在側翼 區域中的覆層的導電性明顯下降。 6 1361229 由於該第一浮雕構造設計成具有大的深度對高度比 例’且具有至少-垂直或近乎垂直的側翼,因此在浮雕構 造的側翼上產生一些區域,這些區域上,該施到浮雕構造 上的導電覆層不會沈積上去或者沈積的層厚度極小,使該 覆層在此側翼區域的導電性明顯減少,或在該處該覆層完 全中斷’在此特別有利的是可達成高解析度,換言之,可 設計成很細的導電構造,這是光學曝光接著作鞋刻的程序 所做不到的。此外可利用本發明準確調整導電性區域的面 積電阻’並用此方式將可讀取的資訊編碼到防偽元件中。 ^種純量的(無度量尺寸單位)深度對寬度比例係用 於代表構造特性的特徵點(特別代表微構造者)。它宜用 於=週期性的構造(例如具有鋸齒狀走勢者)。此處稱 為冰度」者’係為構造之先後相隨之最高與最低點之間 的距離’換言之,係、「波峰」與「波谷」間的距離。稱為 寬度者係二個相鄰的最高點(即二個「波峰」之間)的 ' 週J)此處,深度對寬度比例越大,則「波峰側 翼」越陡,即使非週期性的構造上也可使用該描述模形。 舉例而言,夕瓦炎τ m 1 二 了為不同方式分佈的線形區域,這些區域只 设計成「波谷I开彡4 ^ . f 工,八中二個波谷之間的距離可比波谷 义 夕4。。當上述定義正式使用時,所謂的深度對寬 度比例近乎為跫 n 、· ‘、、零且不能反映出該特別的物理性質。因此 當該作不同方式# 「波穴的,置的構造大致只由-「波谷」構成時, / =」的冰度對波谷的寬度要成比例。 儘官有上述之較宜情形,依本發明的製造方法仍成本 7 低廉’因為它避免了將導電路構造化的繁複程序步驟。 依本發明,第一浮雕構造計成座標X及/或y的一函 數,此函數使第-浮雕構造的深度周期性地沿χ方向及/ 或y方向改變。在此該函數宜造成至少有一垂直的側翼如 此沿邊緣該導電覆層以-定的輪廟以1此方式,該覆 層在第-浮雕構造上沿垂直於邊緣的方向不導電或電阻很 高。
覆層的厚度t(該覆層係在一個對水平線成—角度α 傾斜的斜側翼析出者)利用以下關係表示: t = t0 · cos a 在此,tG為在一水平面上析出的覆層的厚度。在此 依鍍覆材料而定作調整,使該傾斜的側翼不《「潤滑」 (v erschmieren ),換令夕,—―士…丄 換。之在該處沒有覆層材料或沈積 之層厚度比起平面面積來小很多,隨著厚度t。增加,在某 二h形而可在一些垂直或近乎垂直的側翼上沈積,例如, 如果覆層材料的粒子不在粒子流的共同軌跡上運動時就會 如此。最佳的值宜利用一系列試驗求出,厚度%的最佳值 的方向,係在第一浮雕構造的側翼造成一些區域,在這些 區域上,施到第一浮雕構造上的覆層不沈積或沈積的層厚 度很小,使得在側翼區域中,覆層的導電性很小。 未構造化的區域的厚度t〇要小於500奈米,且宜小於 5〇奈米。最佳的厚度t。宜藉磚驗決定,如此,即使施覆材 料對該施覆材料的電性質的影響也都可列入考慮。 1361229 如果所要施覆的浮雕構造的深度對寬度比例很大,則 該第一浮雕構造的垂直或近乎垂直的側翼上的區域(這些 區域上,施到第一浮雕構造上的導電覆層不沈積或後沈積 厚度很小,使該導電覆層的導電性在側翼的區域明顯減 少)的效果报有利地受到幫助,最好該浮雕構造的深度對 寬度比例> 2 » 如研九顯示,側翼的角度α的量可約與垂直線偏了 1 , 而不會使上述效果發生問題。 侧翼上的覆層的厚度t可藉選設角度α而調整。在此, §亥角度α也可為一曲線部段的斜角,該斜率可利用曲線的 第一導來式(Ableitung )(—次微分)決定。 如果第一浮雕構造設計成一座標的函數,則該浮雕構 造的設計特別簡單,特別是第一浮雕構造可為一種繞射式 構造,§曼有小的格柵週期,例如在5 〇奈米〜丨〇微米的範 圍。這種浮雕構造可為一種直線繞射格柵。 可用這種方式形成一直線極化器,週期長度宜為1〇〇 奈米〜800奈米。覆層厚度t〇<1〇奈米。由於第一浮雕構 造的有儘可能大的解析度,該直線極化器的設計不限於用 於在一振動平面中極化的設計。反而可用此方式形成具不 同極化方向的相B比鄰區域’其中該區域可設計成資料載體 形式。舉例而言,這些區域可形成一可用機器讀取的條紋 碼或設計成字母數字的記號或圖形的呈示的形式。這些區 域可在極化光中看到,例如當它們的朝向使其極化平面垂 直於亥入射或穿透的光線的極化平面朝向之時。如此它們 9 1361229 呈現黑暗,從背景浮現出來。也可設一種「解鎖碼」膜, 它在用未極化的光照射時,配合上述構造,可使隱藏的資 訊顯現。 但也可將第一浮雕構造設計成二個座標的函數形式, 其中該預設的垂直側翼設計成封閉的曲線形式。用此方 式,該施覆的覆層的導電性沿所用方向都中斷,該封閉曲 線宜設計成圓形、橢圓形、方形、長方形與菱形。 但也可使該封閉曲線循著一相鄰的第二區域的輪廓, 在該第二區域中’形成一第二浮雕構造。該第二構造宜設 計成平面狀。用此方式,該施在第二浮雕構造上的導電覆 層設計成全厚度b的電導體形式。由於一個做成任意輪廟 的第二導電區域可被一個不導電的第一區域包圍,故可用 此方式利用一共同的施覆步驟形成具有高準·度及高解析度 的任何幾何形狀的互相電絕緣的導線路徑。 本發明的其他有利的設計見於申請專利範圍附屬項。 該導電覆層宜設計成一金屬層形式,宜由電良導體構 成’如鋁、銅、銀或金。但該覆層也可設計成透明導電材 料形式,例如呈銦錫氧化物層(ITO)形式,它由於透明,故 宜用於形成「不可見J (隱形)導電路,例如用於顯示器 中者,依此相同原理’該電極層可形成作光伏特電、、也 (Fotovoltaik) 0 但也可將導電覆層設計得很薄,使它呈透明,例如厚 度1奈米〜100奈米.且宜5奈米〜30奈米。如果用此方 式形成「隱形」導電路以供小電流之用,例如用於液晶顯 10 丄北1229 不裔者’則這點可很有利。 特別疋在形成導電路時,可將覆層在導雪故 貫地中斷4此,較佳之層厚^可^導電路的邊緣確 圍。如以下™… 奈米〜50奈米範 情形可藉電鍍提高。 導職在有必要的 '亥夕層體宜設計成膜元件形, 特別蚤劫i c w 、 气例如呈轉印臈形式, 形式。* ,卞成層豐膜或貼紙膜(stickerfolie). 在此該膜元件也可由轉印& 成轉尸臈的所施覆的轉印層構 —可使s亥夕層體包含一剛性 嘴層。 泰貝層,例如一薄玻 利用::電覆層可用製造防偽元件的習知方法施覆,例如 方法=、電子束蒸鍍、或制電阻加熱作熱蒸鑛。這此 的特點為:該覆層利用噴灑以恆 對於 , 又幻早位面積岔度(相 卞於—個由座標軸x, 夾成 子以士… y Λ成料面)施覆。該原子或分 面)。 又九到°亥千面上(亦即所要施覆的表 該:子或分子宜垂直地跑到所要施覆的表面上,如此 不έ沈積到垂直或近乎垂直的侧翼上。 因此這種方法並非使原子或分子無方向性地析出,如 2們可不受側翼斜度影響地以大致均勻的層厚度沈積在 層中。 舉例而言’無方向性的析出’可為由氣相析出的作用。 該浮雕構造宜利用Uv複製在複製漆層中形成。 本發明的構造與本發明的方法可用多種方式使用,且 11 特別是當-繞射式膜 的-部分,則特別有利。 電路或本身為-電回路
利用HI明可將聚合物電子電路中的半導體構件的電極層 構造化,利用本發明可達成高解析度。此外, rRFTn_, θ導電路或其他電構件,例如rFID標鐵 射頻辨識)用的線圈與電容用上述方式形成。在 此特別有利的一點為,利用本發明,可廉價地提供製造此 類構造的技術,而廢品率(Ausschu㈣很低。由於利用 本發明可達成細的構造化,故可用此方式使半導體構件的 界限頻率進一步明顯提高。 該導電覆層可電鍍加厚並用此方式施一導電性特別好 的表面層,或將析出之層的厚度增加以減少電阻。上述之 析出方法宜適用於薄層的施覆。如事實顯示者,在電鍍時, «亥浮雕構造並不改變,換言之,不導電的區域並不被蓋住。
利用本發明的方法,可製造其他構件,如直線極化器, 特別廉價地做成膜產品方式。 以下本發明利用數個實施例配合圖式說明。 【實施方式】 第1圖顯示一多層體,設計成一膜元件形式,以下稱 膜元件(11)。膜元件(11)有一載體膜(10)、一撕離層(20)、 一護漆層(21)、一具有浮雕構造(25)(26)的複製層(22)、及 設在浮雕構造(25)(26)上的覆層(23 l)(23n)以及一粘著層 (24)〇浮雕構造(26)設計成平面浮雕構造形式。浮雕構造比 一般者(例如用於在防偽元件中產生光學效果而形成的浮 12 丄 ,構造)大許多倍的有效表面積。浮雕構造(25)設計成蜿
Ui , 目 士 ’ /、有垂直於該平面浮雕構造(26)的表面的側翼。在 此A靶例中,它係沿一座標方向延伸,用此方式該平坦 覆的覆層(23η)只設在該浮雕構造(25)之與平面浮雕構造 (26)表面平行的部段上,換言之這是一種沿一座標方向中 斷的覆層。這種浮雕構造(它設計成沿一座標方向中斷) 、下稱度空間浮雕構造。如第1圖所示,中斷部係設 计成貫仃者,而該設在平面浮雕構造(26)上的覆層(23丨)設 計成封閉者》 在圖示之實施例中可藉選擇材料及藉浮雕構造的設計 而產生不同效果。舉例而言’如果覆層(231)(23η)設計成金 屬層形式,則該覆層(23η)為不導電的金屬層,因為它在浮 雕構造之垂直侧翼上完全一貫地中斷。反之,施在平面浮 雕構造(26)上的金屬層則為可導電者,因為它不中斷。舉 例而言,覆層(23η)可利用濺鍍施覆,換言之,所用施覆方 鲁法中,粒子以近似相同的施覆方向跑到浮雕構造上。因此 在該平行於施覆方向的垂直侧翼上沒有粒子或粒子报少, 因此該處覆層(23η)中斷,或者其單位面積的電阻比起在垂 直側翼外的導電覆層(231)的電阻/(每單位面積)高得多, 例為至少高1 〇倍’且宜高1〇〇倍。 此外,這種施覆方法的一特點為:該覆層相以恆定的 單位面積密度(相對於座標軸χ與y夾成的平面)施覆, 其中施覆方向宜可平行於該浮雕構造的側翼(它們垂直於 或近乎垂直於該平面朝向)。 13 136122" 浮雕構造⑼的高深度對寬部比例決定 :=高角度有關的設計的上述效果有-大部分= …由於高深度對寬度比例,而形成陡側 L:I:上:此一來粒子(它們與所設施覆方向_ 另影響因素為施在該平面浮雕構造(26)上的覆層厚 度。如研究顯示,對厚度小於5⑽奈米,上述效果就發生。 在平面浮雕構造上形成的導電覆層的厚度可小於50 ^米’俾在浮雕構造(26)巾得到垂直或近乎垂直的側翼, 這二側翼上至少局部地不形成導電覆層。 可將這種覆層設計成透明,例如厚度約1〇奈米。用 此方式形成的導電覆層*會將其下方的構造(例如lcd顯 示元件)隱藏住使之看不見。 。膜元件(11)係一種鐫印膜,例如一種熱鐫印膜。但也 可將該膜元件(11)設計成層疊膜或貼紙膜或電回路的載體 (特別是聚合路電回路)的形式。 舉例而言’載體膜(10)由一 PET或POPP膜構成,其 層厚度10//Π1〜50//m,且宜i9/zm〜23yme然後利用四 版印刷網格輥將撕離層(20)及護漆層(21)施到載體膜上。在 此’撕離層(20)與護漆層(21)的厚度宜為〇.2〜12y m,這 些層也可省卻。 然後將複製層(22)施覆上去。 複製漆層(22)宜由一種可輻射交聯的複製漆構成。最 好使用UV複製方法在複製漆層(22)中形成浮雕構造 14 1361229 (25胸。在此所用複製漆為—種可…硬化的漆。在此, 舉例而言將浮雕構造(25)(26)做人該可uv交聯的複製漆層 中的作業’係當該浮雕構造形成到該仍軟的或液態的漆層 中時㈣uv照射’或㈣卩uv交聯的漆層作部分照: 及硬化而達成。在此,如不採用彳uv交聯的漆也可使 用其他可用輻射線交聯的漆。 此外,也可使該複製漆層(22)由一透明熱塑性塑膠材 料構成*然後利用一鐫印工具將一浮雕構造鐫印到該製漆 層(22)中,或將數個浮雕構造〔例如浮雕構造(25)(26)〕鐫 印進去。 複製漆層(22)之所要選設的厚度係由該為浮雕構造(25) 所選設的廓形深度決定。須確定該複製漆層(22)有足夠厚 度,俾能形成浮雕構造(25)(26)。在此該複製漆層(22)的厚 度宜為0.1〜10"m。 舉例而言’複製漆層(22)在乾燥前利用一線網格凹版 印刷輥整面地以施覆重量2.2克/平方米施到該護漆層(21) 上。在此所選用複製漆的組成如下: (成份) (重量比例) 高分子PMMA樹脂 2000 石夕烧酮醇酸酯(Silikonalcyd)(無油) 300 非離子性交聯劑 50 低粘度硝化纖維 12000 甲苯 2000 二丙酮醇 2500 15 1361229 * 然後將複製漆層(22)在一乾燥通道中在1〇〇〜i2〇°C的 ,溫度乾燥。 然後’舉例而言利用一錄構成的陰模(Matriz )在約 130°C將浮雕構造(25)(26)鐫印進去,該陰模宜用電加熱。 在此,在鐫印後,在陰模從複製漆層(22)升起之前,陰模 可再冷卻。複雕構造(25)(26)鐫印進去後,複製漆層(22)的 複製漆利用交聯或其他方式硬化。 此外可利用燒蝕(Ablation )程序將浮雕構造(25)(26) φ 造到複製漆層(22)中》 在此,浮雕構造(25)(26)係在一道共同的施覆程序(例 如濺鍍)中施以該覆層(23 1)(23n)。 如第2圖所示,用於將覆層(23 1 )(23n)析出的施覆方向 係垂直於s亥平面浮雕構造(16)的表面朝向。在第2圖中該 施覆方向用箭頭(30)表示,在此該施覆方向係設成使材料 以恆定的面積密度析出到浮雕構造(25)(26)上,因此該程序 步驟的結果’在浮雕構造(25)(26)上的覆層(23 1 )(23n)的面 • 積密度係一樣且恆定者。因此,用此方式不需作預防措施 (Vorkehrung),舉例而言,用於將覆層(23 1 )(23n)的導電 性做成不同或產生覆層(23 1 )(23n)的幾何形狀。在此特別有 利的一點為:該覆層(23 l)(23n)的構造化作業可準確配合地 在一道製造步驟實施,且由於浮雕構造微構造化,可達到 特別高的解析度’例如用於製造電回路所需者。 然後將粘著層(24)施到覆層(23 1 )(23n)上。粘著層(24) 宜為一由可熱活化的粘著劑構成的層。但可各依防偽元件 16 1361229 (1 1)的應用而定,而省略粘著層(24)。 第3圖顯示一多層體的第二實施例呈一膜元件(12)形 式’具有一度空間浮雕構造,它與上述實施例不同處只在 浮雕構造的造蜜,因此相同的元件用相同圖號表示,膜元 件(12)並不設以第1圖的蜿蜒形浮雕構造(25),而設鋸齒形 的浮雕構造(125)。浮雕構造(125)有一第一側翼,垂直於該 平面式染雕構造(26)設置,並有一第二側翼,與第一側翼 設成一角度。用此方式’覆層(23η)只設在浮雕構造(125)的 第二側翼上,換言之,該覆層設計成中斷者。 第4圖顯示第3圖的浮雕構造(125)(26)的覆層。如上 文配合第2圖所述者,覆層(123η)與(231)係在一道共同製 造步驟中’例如利用濺鍍’施到浮雕構造(丨25)或(26)上。 如第4圖所明示者’在此,將覆層(123η)以小於該垂直於 施覆方向所設的浮雕構造(26)的厚度施到浮雕構造(125)的 傾斜的第二侧翼上。由於覆層(123η)被該浮雕構造(125)之 未施以材料的垂直的側翼中斷,因此舉例而言,如此所施 覆的金屬層係做成不導電者。 第5圖a的示意圖顯示一多層體的上視圖,它設計成 一膜元件(50),具有一度空間的浮雕構造,該構造在所示 實施例中鍍覆了金屬,在此,有一不導電區域(55)設有具 高深度對寬度比例的一度空間浮雕構造,如第1及第3圖 所示〔位置(25)及(125)〕,其中在第5圖中包含用黑色顯 示的導電平面區域(56) ’它們係導電路(Leiterbahn,英文: lead或conductor route),它們將電構件(圖未示)互相 17 1361229 接通。 即使該不導電區域(55)只沿用x表示的座標方向被未 鍍覆的側翼中斷,且在部段(55k)〔在其中它沿y方向鄰界 到導電區域(56)〕中局部地短路,但它整體上的導電性比 起區域(56)的導電性來小的程度,係為次方度量級 (Grofierordnung > 英· order)者。 第5圖b中顯示,前述的受導電區域(56)造成的局部 短路如何避免。為此將該區域(55)分成區域(55χ)及(55y), 其浮雕構造沿X方向或沿y方向變化。如果那些導電區域(56) 非平行設置或設計成曲線狀’則可設這種設置方式。 但也可將利用本發明方法施覆的區域(56)藉電鍍而加 厚。因為區域(55)(55x)(55y)設計成不導電,故該處在電鍍 時不會有金屬析出。因此不須作附加預防措施,即可只使 導電區域(56)才會受電鍍加厚。用此方式,該導電的平面 區域(56)做成導電路(56),其「比電阻」比電鍍前更小。因 此可省卻將區域(55)(見第5圖a )形成到不同朝向的區域 (55x)及(55y)中的作業,因為區域(56)的導電性比區域(55) 的導電性大得多。 第5圖a與b中所示的區域可設計成透明者,例如當 該處設有报薄的金屬層時(其度量級在1 〇奈米程度), 各依金屬種類而異。 第6圓的示意圖顯示一多層體的上視圖,它設計成— 膜體(6〇) ’具有網格元件(62),該元件具有浮雕構造(65), 該構造有高的深度對寬度比例及垂直的側翼,該側翼構成 18 1361229 封閉的廓形曲線(65p)。在圖示實施例中,該廓形曲線設計 成圓形及菱形。膜體(6〇)鍍有金屬層(圖未示),它由於 序雕構造(65)之故並不導電。該浮雕構造係二度空間的浮 雕構造’它可避免上述由於導電區域造成之可能的短路的 缺點。如第6圖所明示’浮雕構造由同心排列的圓形構成, 它們係内接到方形的網格元件(62)中。用此方式,在網格 元件(62)的角落區域形成圓片段。依此方式,一角落區域 的圖片段和在此角落區域毗鄰的三個另外的網格元件(62) 的圍片段構成菱形的廟形曲線。 網格元件(62)可設計成具相同構形及大小,換言之, 設計成相同的三角形、方形或六角形。也可將網格元件(62) 設計成不同形狀,換言之,將膜元件(60)的面積利用具不 同構形及大小網格元件(62)填滿,只要該浮雕構造(65)的垂 直側翼構成封閉的曲線即可。 第7圖顯示一鍍有金屬的多層體,設計成膜元件(70) 形式,具有構造化的導體(導線)(76),導體被區域(75)圍 住,該區域設有具高的深度對寬度比例的浮雕構造。浮雕 構造可設計成一度空間的浮雕構造(見第5圖)或二度空 間的浮雕構造(見第6圖),具高的深度對寬度比例,較 佳者為二度空間的浮雕構造,而深度對寬度比例> 2。 膜元件(70)可設計成一微電子電回路的部分,例如設 計成一呈膜系統方式的聚合物電回路的部分。在此電回路 可如前述設計成透明者(見第5圖)。 在這種應用時,可將構造化的導體(76)的一個或數個 19 1361229 部段設以具有高的深度對寬度比例的浮雕構造’如此在這 種部段中導體(76)的導電性減小。用此方式,舉例而言, 可在導體(76)中形成電阻。 【圖式簡單說明】 第1圖係一本發明多層體的第一實施例的示意剖面 圖’設計成膜元件形式; 第2圖係第1圖中該膜元件的覆層的示意圖’具有一 金屬層; 第3圖係一本發明多層體的第二實施例的示意剖面 圖,設計成膜元件形式; 第4圖係第3圖的膜元件的覆層的示意圖,具一金屬 層; 第5圖係一多層體的一實施例的示意上視圖,設計成 具一度空間式浮雕構造的膜元件形式; 第6圖係一多層體的一實施例的上視圖,設計成具二 度空間式浮雕構造的膜元件形式; 第7圖係一多層體的一實施例的示意上視圖,設計成 具有導電路的膜元件形式。 【主要元件符號說明】 (10) 載體膜 (11) 膜元件 (20) 撕離層 (21) 護漆層 (22) 複製漆層 20 1361229
(231)(23n) 覆層 (24) 钻著層 (25)(26) 浮雕構造 (50) 膜元件 (55) 不導電區域 (55k) 部段 (55x)(55y) 區域 (56) 導電平面區域 (60) 膜體 (62) 網格元件 (65) 浮雕構造 (65p) 廍形曲線 (70) 膜元件 (75) 區域 (76) 導體 (123n) 覆層 (125) 浮雕構造 21

Claims (1)

1361229 十、申請專利範圍: 1 . 一種多層體(11)(12),具有一複製漆層(22),其中 在一個由座標軸X與y夾成的平面中將一第一浮雕構造 (25)(125)(65)在該多層體一第一區域中形成到該複製漆層 (22)中,而在該多層體(11)(12)的第一區域中及在多層體 (11)(12)的一相鄰之第二區域中將一個導電鐘層 (231)(23n)(123m)施到該複製漆層(22)上,該導電鍍層有恆 定的面積密度,其特徵在:
s亥第一浮雕構造(25)(125)(65)係為一種具有個別構造 凡件的構造,個別構造元件的深度對寬度的比例很大,特 別是> 2,且設有至少一個垂直或近乎垂直的侧翼,該侧 翼延伸過該浮雕構造整段或近乎整段深度範圍,其在第一 浮雕構造(25)(125)(65)的側翼上產生一些區域,在這些區 域上該施到第一浮雕構造上的導電鍍層(231)(23n)(123n)並 不積集在其上或者積集的層厚度很小,使得鍍層 (231)(23n)(123n)的導電性在側翼的區域明顯變小。 2 .如申請專利範圍第1項之多層體,其中: 該鐘層為一金屬層。 3 .如申請專利範圍第1項之多層體,其中: 該鍵層由一種透明導電材料——特別是銦-錫氧化物 (ITO)構成。 4 ·如申請專利範圍第1或第2項之多層體,其中: 該第一浮雕構造(25)(125)(65)由座標X及/或y的一 種函數構成,該函數使第一浮雕構造(25)(125)(65)的深度 22 1361229 沿X方向5¾、,+ 1 〇 ]4 y方向呈週期性改變。 如申請專利範圍第4項之多層體,其中: μ —浮雕構造(25)主要設計成座標X或y的矩形波 函數的形式。該函數使第-浮雕構造(25)的深度沿X方向 或y方向呈週期性變化。 6 如申晴專利範圍第4項之多層體,其中: :第浮雕構造(125)設計成座標x或y的鋸齒波函數 的形式,該函數使第一浮雕構造(125)的深度沿x方向或y 馨方向呈週期性變化。 7.如申請專利範圍第4項之多層體,其中: 該第一浮雕構造(65)設計成座標x或y的矩形波函數 或鋸齒波函數的形式,該函數使第一浮雕構造(125)的深度 & X方向或y方向週期性改變,其中該函數的垂直的側翼 構成封閉的凸形曲線。 8 .如申請專利範圍第i或第2項之多層體’其中: 在相鄰的二個區域中有一第二浮雕構造(26)形成到該 •複製漆層(22)中。 9 .如申請專利範圍第8項之多層體,其中: 該第二浮雕構造(26)設計成大致平坦或具有小的深度 對寬度的比例。 1 0 .如申請專利範圍第8項之多層體,其中: 該第二浮雕構造(26)設計成座標的一種函數, s玄函數使浮雕構造(26)的深度沿x及/或丫方向變化,其 中此函數沒有垂直側翼。 23 1361229 .如申請專利範圍第i或第2項之多層體,其中·· 該施在第二浮雕構造上的覆層(231)為透明者。’、 12如申凊專利範圍第11項之多層體,其中: 該透明的覆層設計成金屬層形式,厚度為丨奈米〜100 奈米,且宜為5奈米〜3〇奈米。 13·如申請專利範圍第!或第2項之多層體,其中: 該多層體為—轉印膜,特別是-熱鐫印膜。 1 4 —種電路,特別是由聚合物構造形的電路,其 具有申請專利範圍第1項的多層體。 ” 1 5 種線性極化器,其具有申請專利範圍第丄項 的線性極化器’其具有申請專利範圍第1項的多層體。 1 6 .—種防偽7L件,其一些區域設計成申請專利範 圍第15帛的線性極化器的形式’其中這些區域設計成資 訊載體形式,特別是設計成條紋碼、字母數字符號、或影 像圖式形式。 1 7 . —種防偽文件,特別是鈔票、旋行護照、物品 標籤’其具有申請專利範圍第1項的多層體。 1 8 · —種製造多層(ιι)(12)的方法,在此方法中,將 一第一浮雕構造(25)(125)形成到該多層體(丨丨)(12)的第一區 域中的一複製漆層(22)中,並將—導電覆層(231)(23n)(123n) 以恆定的單位面積密度施到該多層體(11)(12)第一區域及相 鄰的第二區域中的複製漆層(22)上,其特徵在: 該第一浮雕構造(24)(125)的構造元件俾具有大的深度 對寬度比例,其深度對寬度比例特別是大於2者,且至少 24 1361229 具有一垂直式或近乎垂直的側翼,其中在第一浮雕構造 (25)(125)的側翼上產生一些區域,在這些區域上該施到第 一浮雕構造上的導電覆層(231)(2311)(12311)並不集積在其上 或集積的層厚度很小,使得在側翼區域中的覆層 (231)(23n)(l23n)的導電性明顯下降。 1 9 ·如申請專利範圍第18項之方法,其中: 該覆層(231)(23n)(123n)利用濺鍍施覆到複製漆上。 2 0 .如申請專利範圍第19項之方法,其中: 忒覆層(231)(23n)(123n)利用電子束蒸鍍施覆到該複製 漆層(22)上。 2 1 ·如申請專利範圍第20項之方法,其中: β玄覆層(231)(23n)(123n)利用電阻加熱作熱蒸鍍施覆到 該複製漆層(22)上。 2 2 ·如申請專利範圍第18或19項之方法,其中: 該覆層(231)(23n)(123n)用電鍍加厚。 2 3 ·如申請專利範圍第18項之方法,其中: 該浮雕構造利用紫外線複製形成在複製漆層(22)中。 十一、圖式: 如次頁。 25
TW094129266A 2004-08-30 2005-08-26 Multilayer body with differently microstructured areas provided with an electroconductive coating TW200619434A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004042111A DE102004042111A1 (de) 2004-08-30 2004-08-30 Mehrschichtiger Körper mit unterschiedlich mikrostrukturierten Bereichen mit elektrisch leitfähiger Beschichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200619434A TW200619434A (en) 2006-06-16
TWI361229B true TWI361229B (zh) 2012-04-01

Family

ID=35789315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094129266A TW200619434A (en) 2004-08-30 2005-08-26 Multilayer body with differently microstructured areas provided with an electroconductive coating

Country Status (13)

Country Link
US (1) US20080095986A1 (zh)
EP (1) EP1785016B1 (zh)
JP (1) JP4852547B2 (zh)
KR (1) KR101184096B1 (zh)
CN (1) CN100576974C (zh)
AT (1) ATE432607T1 (zh)
DE (2) DE102004042111A1 (zh)
ES (1) ES2327943T3 (zh)
MX (1) MX2007002118A (zh)
PL (1) PL1785016T3 (zh)
RU (1) RU2379861C2 (zh)
TW (1) TW200619434A (zh)
WO (1) WO2006024441A2 (zh)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006034095B4 (de) * 2006-07-20 2009-05-28 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Solarzelle auf Polymerbasis
DE102006050047A1 (de) 2006-10-24 2008-04-30 Giesecke & Devrient Gmbh Durchsichtssicherheitselement mit Mikrostrukturen
DE102007005416B4 (de) * 2007-01-30 2016-03-31 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Prägefolie und damit gebildeter Sicherheitsaufkleber
DE102007005088B4 (de) * 2007-02-01 2011-08-25 Leonhard Kurz GmbH & Co. KG, 90763 Solarzelle und Verfahren zu deren Herstellung
DE102007046679B4 (de) 2007-09-27 2012-10-31 Polyic Gmbh & Co. Kg RFID-Transponder
DE102008017652A1 (de) * 2008-04-04 2009-10-08 Leonhard Kurz Stiftung & Co. Kg Sicherheitselement sowie Verfahren zur Herstellung eines Sicherheitselements
JP5568973B2 (ja) * 2009-12-11 2014-08-13 凸版印刷株式会社 偽造防止媒体および偽造防止ラベル並びに物品
RU2416894C1 (ru) * 2010-04-12 2011-04-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Полет" Способ изготовления рельефных печатных плат
RU2551838C1 (ru) * 2014-01-28 2015-05-27 Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия войсковой противовоздушной обороны Вооруженных Сил Российской Федерации имени Маршала Советского Союза А.М. Василевского" Министерства Обороны Российской Федерации Многослойная печатная плата с двухслойным защитным покрытием
KR102209571B1 (ko) * 2014-12-31 2021-02-01 한국조폐공사 반투과성 편광이미지가 부가된 진위판정용 매체
FR3068563B1 (fr) * 2017-07-03 2019-10-04 Valeo Iluminacion Circuit electrique sur dispositif lumineux de vehicule
CN111103213B (zh) * 2019-04-19 2022-07-29 宁德时代新能源科技股份有限公司 涂层面密度检测装置和方法
CN111103214B (zh) * 2019-04-19 2022-07-29 宁德时代新能源科技股份有限公司 涂层面密度检测装置和方法
EP3965930A1 (de) 2019-05-10 2022-03-16 LEONHARD KURZ Stiftung & Co. KG Mikrofluidische anordnung, verfahren zu deren herstellung und messsystem umfassend die mikrofluidische anordnung sowie verwendung

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1013410A (fr) * 1950-03-02 1952-07-29 Cercle pour la fabrication du fromage
EP0609683A1 (en) * 1985-05-07 1994-08-10 Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha Relief hologram and process for producing a relief hologram
JPH0614579B2 (ja) * 1985-08-27 1994-02-23 三菱電線工業株式会社 金属芯基板及びその製造方法
JPS62134295A (ja) * 1985-12-06 1987-06-17 松下電器産業株式会社 Icカ−ド
JP3159558B2 (ja) * 1993-02-25 2001-04-23 関西ペイント株式会社 電波反射防止体及び電波反射防止方法
FR2716748B1 (fr) * 1994-02-25 1996-06-07 France Telecom Procédé de tapissage ou de remplissage par dépôt en phase gazeuse d'une structure en relief et application de ce procédé pour la fabrication d'éléments semi-conducteurs.
JPH07312322A (ja) * 1994-03-24 1995-11-28 Meidensha Corp 静止誘導電器の巻線成形方法
CH690067A5 (de) * 1995-08-10 2000-04-14 Ovd Kinegram Ag Verfahren zur Herstellung teilmetallisierter Gitterstrukturen.
RU2161382C2 (ru) * 1996-07-18 2000-12-27 НАГРА АйДи С.А. Способ изготовления печатных схем и печатная схема, изготовленная этим способом
GB9623185D0 (en) * 1996-11-09 1997-01-08 Epigem Limited Improved micro relief element and preparation thereof
JPH11186773A (ja) * 1997-12-25 1999-07-09 Sharp Corp 電磁波シールドキャビネット及びその製造方法並びに金型装置
DE19822075C2 (de) * 1998-05-16 2002-03-21 Enthone Gmbh Verfahren zur metallischen Beschichtung von Substraten
JP2000098132A (ja) * 1998-09-17 2000-04-07 Toppan Printing Co Ltd 電磁波シールド効果を有する偏光ビームスプリッタ
JP2000113151A (ja) * 1998-10-01 2000-04-21 Tomoegawa Paper Co Ltd ラベル状icカード
JP2000124663A (ja) * 1998-10-16 2000-04-28 Toyobo Co Ltd 電磁波シールドフィルム
JP2001256457A (ja) * 2000-03-13 2001-09-21 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法、icカード通信システム
DE10013410B4 (de) * 2000-03-17 2011-05-05 Ovd Kinegram Ag Laminat, insbesondere in Form von Karten, und Verfahren zu dessen Herstellung
US20020041009A1 (en) * 2000-07-05 2002-04-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Transmission line assembly chip and a manufacturing method thereof in a multi-chip module
JP2002356542A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Canon Inc ポリヒドロキシアルカノエートを含むカード
EP2289707B2 (en) * 2002-04-03 2021-06-09 De La Rue International Limited Optically variable security device and method
JP4019770B2 (ja) * 2002-04-05 2007-12-12 ソニー株式会社 衛星放送受信チューナーユニット、衛星放送受信フロントエンドユニット及び衛星放送受信装置
CN100572089C (zh) * 2002-07-18 2009-12-23 德国捷德有限公司 有价文件
JP2004077954A (ja) * 2002-08-21 2004-03-11 Dainippon Printing Co Ltd 真正性確認用媒体および真正性確認方法
US7001658B2 (en) * 2003-04-28 2006-02-21 Eastman Kodak Company Heat selective electrically conductive polymer sheet
DE10333255B3 (de) * 2003-07-21 2005-01-13 Leonhard Kurz Gmbh & Co. Kg Verfahren zur Erzeugung eines Flächenmusters hoher Auflösung
WO2005017570A2 (en) * 2003-08-06 2005-02-24 University Of Pittsburgh Surface plasmon-enhanced nano-optic devices and methods of making same
JP4747627B2 (ja) * 2004-07-23 2011-08-17 日立化成工業株式会社 回折型集光フィルム及びそれを用いた面光源装置

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004042111A1 (de) 2006-03-09
RU2379861C2 (ru) 2010-01-20
RU2007111712A (ru) 2008-10-10
PL1785016T3 (pl) 2009-10-30
CN101010995A (zh) 2007-08-01
CN100576974C (zh) 2009-12-30
JP4852547B2 (ja) 2012-01-11
WO2006024441A2 (de) 2006-03-09
JP2008511846A (ja) 2008-04-17
WO2006024441A3 (de) 2006-05-11
US20080095986A1 (en) 2008-04-24
DE502005007362D1 (de) 2009-07-09
EP1785016B1 (de) 2009-05-27
KR101184096B1 (ko) 2012-09-18
ATE432607T1 (de) 2009-06-15
ES2327943T3 (es) 2009-11-05
MX2007002118A (es) 2007-10-02
TW200619434A (en) 2006-06-16
EP1785016A2 (de) 2007-05-16
KR20070062535A (ko) 2007-06-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI361229B (zh)
JP4944200B2 (ja) 少なくとも一つの多層体の製造プロセスと多層体
CN101287594B (zh) 多层体及其制造方法
US9448674B2 (en) Making multi-layer micro-wire structure
US9226411B2 (en) Making multi-layer micro-wire structure
TW201526723A (zh) 多層壓印微線電路結構
US9513759B2 (en) Multi-layer micro-wire structure
TW200945445A (en) Methods of patterning a conductor on a substrate
US9085194B2 (en) Embossing stamp for optically diffuse micro-channel
US20140239504A1 (en) Multi-layer micro-wire structure
US8865292B2 (en) Micro-channel structure for micro-wires
TW201517234A (zh) 多層微線基板結構
US9426885B2 (en) Multi-layer micro-wire structure
US20140216783A1 (en) Micro-wire pattern with offset intersections
US9282647B2 (en) Method of making micro-channel structure for micro-wires
US9296013B2 (en) Making multi-layer micro-wire structure
RU2566928C2 (ru) Структура микрорельефа
US9061463B2 (en) Embossed micro-structure with cured transfer material method
Geddes et al. Transparent Metal Mesh Conductors
US20140272313A1 (en) Embossed micro-structure with cured transfer material
TWI668605B (zh) 導電網線圖案結構及其製程

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees