TWI361269B - Lens measurement device and method for measuring lens - Google Patents

Description

1361269 ，九、發喃說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種透鏡量測裝置及其量測方法，更 詳而言之，係關於一種透鏡偏心與傾斜之量測裝置及其量 測方法。 【先前技術】 光學透鏡的種類繁乡，且ίϋ著其應用㈣及材料差 異，光學透鏡可以採用許多不同的方式量產；然而，益論 採取何種方式製造，光學透鏡的準確度一直是立 所 參數。 文口口貝 隨著光電產業的發展，光學透鏡的需求量亦曰益提 升’而為了滿足這龐大的需求量，快速量產光學透鏡之製 法不斷推陳出新。#’為了在快速量產的要求下同時能夠 維持光學透鏡的準確度，則光學透鏡準確度的量測技術遂 相形重要。Ε]此，透鏡製造與設計產業之相關人員於達到 =量產之目標後，應m考如何以快速簡便的檢驗 ，以及低廉的檢驗成本，而達到維持光學透鏡準確度 參閱我國發明專利第1264523號「透鏡偏心與傾斜之 ==方法與裝置」’其特徵在於，先使干涉儀之光 =—目對於仙透鏡的第—鏡面光μ —特定關係並紀錄 係數，再令該待測透鏡旋轉副度，而使該待測透鏡 Τ'鏡面光軸成另一特定關係並紀錄第二係數，最後比 乂〜卓-與第二係數，以計算出該第—鏡面與該第二鏡面 Π0759 5 1361269 ’光軸岛偏心與傾斜量β 上述測量透鏡光軸的偏心與 計算第—係數盥望-私也 、彳貝斜之方式，透過比對並 承数，、弟一知數之相對 鏡光軸的偏心量斑傾斜’、可準確求出該透 儀兩次’又要令該待測透鏡旋轉1δ〇/員=鏡與干涉 分析兩次參數才能得知該透鏡是·;且心要紀錄並 誤差。 疋否有偏心或傾斜產生之 由此可知，上述量測方式固

_ 、回热以準確的測旦山炸W

偏心數值或傾斜數值，作 ）、〗里出叙片 更要花費护進、类於 不但需旋轉透鏡180度， 成本與時二見計涉儀的時間，因而大幅增加其量測 本盘時：、、如二提出一種量測方式’以大幅增加其量測成 月w亚_易地於快速量產後同時檢測複數個待測 ’兄片，即為透鏡製造與設計產鞏 關鍵技術。 ㈣人貝1待發展的 【發明内容】 供一上述S知技*之缺點，本發明之主要目的在於提 i、一種透鏡量測裝置及其量測方法。 «亥透鏡里測裝置包括：平行光源；用以將該平行光束 2化為極化光束的第一極化片；用以產生第一待測光束的 :測鏡片；用以將第一待測光束極化為第二待測光束的第 -極化片；以及影像分析模組。其中，影像分析模組係用 =接收第二待測光束並取得其之影像資訊，再利用該影像 資=fl判斷出該待測鏡片之結構中心、與能量分布。 110759 6 1361269 • ’又έ亥待測鏡片可為單一光學透鏡鏡月、由複數個光學 % 透鏡鏡片串組而成的待測鏡片組、或複數個光學透鏡排列 组合而成的透鏡陣列。 其中’ έ亥單一光學透鏡鏡片之邊緣為圓形，且其結構 中心為該圓形之圓心，又其係一以通過該圓心的ζ_軸為 對稱軸之對稱結構；該待測鏡片組之邊緣為圓形’且該待 .測鏡片組之結構中心為該圓形之圓心，又其係一以通過該 圓的Ζ轴為對稱軸之對稱結構；該透鏡陣列包含複數 鲁個透鏡邊緣為圓形之圓形透鏡，且各該圓形透鏡之圓心為 其結構中心，又各該圓形透鏡係以通過其圓心的ζ_軸為 對稱軸之對稱結構。 ㈣逍鏡量測方法包括：⑴提供一平行光源、待測 鏡片、第-極化片、第二極化片；⑵使該平行光源通過 该第-極化片以產生平行極化光；（3)使該平行極化光通 過該待測鏡片以產生第一待測光束；⑷使該第一待測光 第I—極化片Μ產生第二待測光束；以及(5)分析 測光束之影像資訊，再抑該影像資訊判斷出該 的偏心與傾斜誤差。 彳進而“斤出該待測鏡片 i數值二°“像：6ίι為党度分布資訊、能量分布資訊或 r待測鏡片的邊緣，再利用該邊緣判斷出該=斷 再比對邊結構巾心與能量分布，進 偏心與傾斜誤差。 亥待測鏡月之 110759 7 1361269 .如此·，本發明之透鏡量測裝置與其量測方》，由於 =一“見的平行光源，依序通過第—極化片、待測鏡 二：弟二極化片以產生待測光束’再使影像分析模組分析 该待測S束之影像資訊，以判斷出該待測鏡片之結構中心 與能量分布，以㈣免除傳統使料直雷射錢所需之够 複校正，並能輕易地於快速量產後同時檢測複數個待測^ 片，進而大幅降低量測時間與其量測成本。 【實施方式】

以下係藉由特定的具體實例說明本發明之實施方 式’熟悉此技藝之人士可由本說明書所揭示之内容：二也 瞭解本發明之其他優點與功效。本發明亦可藉由复他 的具體實例加㈣行或應用，本說明書巾的各項細節亦可 基於不同觀點與應用，在不悖離本發明之精神下進 修飾與變更。 @ 、以下之實施例係進—步詳細說明本發明之觀點，但並 非以任何觀點限制本發明之範嘴。 _第一實施例： r先’請參閱f ia圖，其為本發明之透鏡量測裝置 之第一實施例示意圖。如圖所示’本發明之透鏡量測^置 10包括：用以產生平行光束11G的平行光源u ;用以將 平行光束11〇極化為第一極化光120的第一極化片a ; 用以使第一極化光束120通過而產生第一待測光束13〇 的待測鏡片13 ;用以使第一待測光束13〇通過而產生第 二待測光束140的第二極化片14 ;與影像分析模組π。 110759 8 4 » 1361269 -其中，第二極化片14之極化方向可與該第—極化片 12之極化方向互相垂直，亦可使第二極化片14之極化方 向與該第一極化片12之極化方向互相平行。惟，於第一 極化片14之極化方向與該第一極化片12之極化方向互相 垂直之條件下，本發明之透鏡量測能達到較佳的識別效 杲0 又影像分析模組15係用以於接收第二待測光束J 4〇 並取得第二待測光束14〇之亮度分布資訊、能量分布資訊 及/或數值資訊等影像資訊後，以利用該些資訊判斷出待 測鏡片1 3之結構中心與能量中心，再比對結構心盥& 曰a >、月t* 里中心，以識別出待測鏡片！ 3之偏心與傾斜誤差。 請併同參閱第lb圖，其係用以顯示本發明之透鏡量 測方法之流程圖。如圖所示，本發明之透鏡量測方 括：於步驟si中，提供一平行光源u、第一極化片 待測鏡片13以及第二極化片14。接著進至步驟％。 於步驟S2中’使平行光源n之平行光束通過該 極化片12以產生平行極化光12〇。接著進至步驟幻。 以產：Γ二中::吏平行極化光12°通過該待測鏡 產生第一待測光束130。接著進至步驟S4。 於步驟S4中，使該第一待測光束j 3〇通過該 化片14以產生第二待測光| ^ ^ — 於步驟％中，=二者進至步驟S5。 析第一待測光束140之影像資却 心出之影像資訊判斷出待測鏡片η之結構* 110759 9 1361269 ·，。\需特別說明者，本發明主要係採用兩個概念··第一， □升d兄片的、.’σ構中心為其外圍輪廓之圓心；第二，以通過 ”、。構中〜的Ζ-軸為對稱的標準對稱圓形鏡片，其於平 4丁光軸之平饤光線射入後，其能量中心與其結構中心之影 像應重合於一點。 .'依據第一個概念，再請參閱第lc圖，其為本實施例 的光子透鏡!見片13的結構示意圖。本實施例採用之光學 透鏡鏡片13 ’其輪廓邊緣13a為圓形，其結構中心13b _即為輪廟邊緣13a所圍成圓形之圓心；且若該光學透鏡鏡 片13為標準透鏡’其應為一個以通過結構中心、⑽的z-軸13c為對稱軸之對稱結構。 ,再使平订光束U0通過單一光學透鏡鏡片13，並於 影像分析模組15呈現一個能清楚識別鏡片輪廓邊緣】％ 的圓形衫像，再令影像分析模組丨5利用該圓形影像求得 其圓心，即可定義出光學透鏡鏡片13的結構中心13b於 該影像之投影。 ' • $ -方面’依據有關於能量中心與對稱結構的第二個 概念，百先，請參閱第2a圖之光學鏡片極化量測示意圖， 與第2b圖之入射光與折射光示意圖，我們可以依據電磁 學原理：表示電磁波於邊界時需滿足電場連續之特性的司 乃爾定律（Snel l’s law): n〇sin0o =«j sing ;再以電磁波對於不同入射角對應不同的政幅改變的菲 淫耳方程式（Fresnel Equation): ίο 110759 I361269 » 1 = 2sm^cos^Q 尽sin(g+《）與 ^ 2 sin cos θ0

Ep sin^+^cos^i)。 其中s係表示與入射平面互相垂直之極化方向，p係表示 與入射平面互相平行之極化方向。 又基於菲淫耳方程式，將第1圖中第二待測光束之能 里以環斯向量（Jones vector)表示： 丑; •K KE\ 0 0. .0 1 _1 0. 0 0 cos^ sin〆 -sin¢5 cos^ cos 0 sin # sin ^ cos^ S 0 cos^ -sin# &ΐηφ cos沴 〇 〇 cos^ —sin 卢 1 〇 sin^ cos# 或 0 "中，Es與Ep為入射光水平與垂直電場之振幅大小，利 用璦斯向量以及菲涅耳方程式，即能充分表示光學鏡片極 化量測方法之模擬方程式。 *最後，依據亮度正比於電場平方的電磁學原理，可以 將牙過此一光學設備的亮度分布表示為： -^ (A = Ef sin2 φ cos2 φ f^ts - tp ^ o 抑其中，P為入射光對待測鏡片之入射高度。由於亮度 ^单位為瓦特每單位面積（灿/11]2)，因此對鏡片面積^ *即可以獲得it過此光學系統之能量。因此 it:之方程式’即可表示出能量分布情形，亦二 置分布之對稱狀況。 Π0759 1] 1361269 進一步推導，待測鏡片的能量中心可表示為： c {'xtoundaty , 、 ryhomdary , 、 χΐ(χ,γ)ώοάγ [ [ xl(x,y)dxdy X rybouhihiy rXbQu)^dQ7y l(x,-y)dxdy flux 與 fyboundary exbo^aidary C, yl{x,y)dxdy fyboundary rxhomdary y l[x.y)dxdy eyboundary fjkoimdaiy l{x9y)dxdy flux 其中，Cx與Cy分別代表光學鏡片之x方向與y方向的能 B量中心。 再請參閱第2c圖所示之偏心或傾斜鏡片的能量中心 與結構中心無法重合示意圖；如該圖所示，由於待測鏡片 產生偏心之誤差時，其亮度分布將會產生左右不平均的影 像結果，亦即能量中心與鏡片的結構中心無法重合。 此外，當待測鏡片產生傾斜之誤差時，其亮度分部亦 將會產生亮度面積扭曲以及面積不對稱之影像。因此，依 據本發明之技術，分析該第二待測光束之影像資訊，再將 _該影像資訊處理運算，即可快速得知鏡片傾斜與偏心之製 造誤差。 第二實施例： 請參閱第3a圖，其為本發明之透鏡量測裝置之第二 貫施例不意圖。本貫施例之設備與概念大致於第一實施例 相同，其差異點在於第一實施例中的待測鏡片13可以複 數個光學透鏡鏡片串組而成的待測鏡片組131取代之。換 言之，本實施例具有複數個待測鏡片，且該複數個待測鏡 12 110759 1361269 •片係構成有如常見之相機鏡頭的待測鏡片組13卜再利用 第一實施例中所揭露之裝置對待測鏡片組131進行量測。 再請參閱第3b圖，其為複數個光學透鏡鏡片串組而 成的待測鏡片組131之示意圖。如第二實施例所示，本發 明亦適用於測量複數個光學透鏡鏡片串組而成的待測鏡 片組131之偏心與傾斜誤差。 惟，待測鏡片组131的輪廓邊緣131a以圓形為佳， 亦使待測鏡片組131之結構中心131b為該圓形之圓心， 聲且若待測鏡片組131為標準待測鏡片組，其係以通過該圓 心的Z-軸131C為對稱軸之對稱結構。 第三實施例： 請參閱第4a圖，其為本發明之透鏡量測裝置之第三 實施例示意圖。本實施例之設備與概念大致於第一實施例 相同，其差異點在於第一實施例中的待測鏡片13可以一 組由複數個光學透鏡1320並列組合而成的透鏡陣列ι32 取代之。再請參閱第4b圖，其為複數個光學透鏡132〇 •排列組合而成的透鏡陣列132之示意圖。如第三實施例所 示’本發明亦適用於測量一組由複數個光學透鏡丨32〇排 列組合而成的透鏡陣列132之偏心與傾斜誤差。 惟’透鏡陣列132包含有複數個光學透鏡132〇，而 各光學透鏡1320的輪廓邊緣132a以圓形為佳，亦使光學 透鏡1320之結構中心132b為該圓形之圓心，且若待測鏡 片組132中的光學透鏡1320為標準待測鏡片組，該光學 透鏡1320係以通過該圓心的Z-軸132c為對稱軸之對稱 13 110759 J361269 •.結構。 - 第四實施例： 本貫施例可與上述第一至第三實施例相結合，於本實 .施例中，本發明之透鏡量測裳置1〇復包括固持件（未圖 .示），固持件係用以定位第一極化片12、待測鏡片13: ‘第二極化片14及/或待測鏡片组132於預設位置，並於 測過程中，維持第—極化片12、待測鏡片13、第二極化 片！4及/或待測鏡片、组132於預設位置。由於固持件之結 構為=知，且非本發明之技術特徵所在，故不予詳述之: 綜上所述’本發明之透鏡4測裝置與其量測方法 於私用厂般常見的平行光源，依序通過第一極化片待測 鏡片、第二極化片以產生待測光束，再使影像分析模㈣ 析㈣測光束之影像資訊，以判斷出該待測鏡片之結構中 =能量h，以達到免除傳統使用準直雷射光源所需之 ，^正，亚驗易地於快逮量產後同時檢測複數個待測 鏡片’進而大幅降低量測時間與其量測成本。 上述實施例僅例示性說明本發明之原理及 非用於限制本發明。任付嘹 文而 作 月之精神及料下，對上述實施例進行修飾盘改 此，本發明之權利保護範圍，應如後述之"專利 範圍所列。 、ι。月專利 【圖式簡單說明】 圖；第la圖為本發明之透鏡量測裝置之第一實施例示意 110759 14 1361269 -第lb圖為本發明之透鏡量測方法之流程圖； 第lc圖為本發明之透鏡量測方法之光學透鏡鏡片的 結構不意圖； 第2a圖為光學鏡片極化量測示意圖； 第2b圖為入射光與折射光示意圖； 第3 a圖為本發明之透鏡量測裝置之第二實施例示意 圖， 第3b圖為複數個光學透鏡鏡片串組而成的待測鏡片 0組之示意圖； 第4a圖為本發明之透鏡量測裝置之第三實施例示意 學透鏡排列組合而成的透鏡陣列 第4b圖為複數個光 之不意圖〇 【主要元件符號說明】 〇 透鏡量測裝置

11 平行光源 110 12 120 13 平行光束 第一極化片 第一極化光 待測鏡片 130 第一待測光束 光學透鏡鏡片 13a 輪廓邊緣 13b 結構中心 15 110759 1361269 13c Z_轴 131 待測鏡片組 131a 輪靡邊緣 131b 結構中心 131c Z-轴 132 透鏡陣列 1320 光學透鏡 132a 輪廓邊緣 132b 結構中心 132c z_轴 14 第二極化片 140 第二待測光束 15 影像分析模組 S1-S5 步驟

Claims (1)

1. 第97111948Jfe專利申請案 100年11月ίΓ日修正替換頁 十、申請專利範圍： I 一種透鏡量測方法，其包括： (1) 提供一平行光源、待測鏡片、第一極化片以 及弟二極化片； (2) 使該平行光源通過該第一極化片，產生平行 極化光； (3 )使該平行極化光通過該待測鏡片，產生第一 待測光束； (4) 使該第一待測光束通過該第二極化片，產生 第二待測光束；以及 (5) 分析該第二待測光束之影像資訊，進而利用 該影像資訊判斷出該待測鏡片之結構中心與能量分 布，且比對該結構中心與該能量分布，並識別出該待 測鏡片之偏心與傾斜誤差。 2.如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，其中，該第 二極化片之極化方向與該第一極化片之極化方向相 互垂直。 3·如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，其中，該第 二極化片之極化方向與該第一極化片之極化方向相 互平行。 4·如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，其中，該影 像資訊為亮度分布資訊、能量分布資訊及/或其數值 資訊。 5.如申請專利範圍第4項之透鏡量測方法，其中，該齐 110759(修正版) 17 1361269 « · > * I--- 第97111948竺專利申請案 100年11月日修正替換頁 度分布資訊、能量分布資訊或其數值資訊，係依據 κ 严 1 0 'cosji sin〆 \ 〇' mm cos卢-sin〆 "1 0' KJ 0 0 _ -sin# cos# •0、 _sin 卢 cos# 0 0 Λ 以及 -^( Α Φ)=sin2 ψ cos2 φ {ts ~ tp )2 求得，其中，Es與ΕΡ為入射光水平與垂直電場之振幅 大小’ ρ為入射光對待測鏡片之入射高度。 如申請專利範圍第4項之透鏡量測方法，其中，該亮 度分布資訊、能量分布資訊或其數值資訊，係依據 V ss '0 0* cos彡 sin〆 wmm K 0 cos 衿一 sin 卢 •10, Es 0 1 —sin# cos# L° sin# cos 於 0 0 w _ S E irp. 以及 -^( Α Φ)=sin2 φ cos2 φ ^ 求付，其中，Es與ΕΡ為入射光水平與垂直電場之振幅 大小’ Ρ為入射光對待測鏡片之入射高度。 .如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，其中，步驟 (5)復包含依據該能量分佈求得能量中心。 申請專利範圍第γ項之透鏡量測方法，其中，該能 量中心由方程式： b pfbosmdary X fyhcundaiy Mbrntdaiy 少，幹Γ— I{x^dxdy fi似 與 110759(修正版) 18 第97111948號專利申讀索 1〇〇年11月日修iEj拖百 r m㈣场办 y 一pfboundaTy fxbmmdmy " — -----—一 ·> A A ^{x»y)^dy flux 求 得，又Cx*cy分別代表光學鏡片之x方向與y方向 的能量中心。 9·如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，其中，該步 驟（5)復包含利用該影像資訊判斷出該待測鏡片的 輪廓邊緣，再利用該輪廓邊緣判斷出該結構中心。 10·如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，其中，該待 測鏡片之輪廓邊緣為圓形，且該待測鏡片之結構中心 為該圓形之圓心。 U.如申請專利範圍第10項之透鏡量測方法，其中，該 待測鏡片係一以通過該圓心的Z-轴為對稱軸之對稱 結構。 12·如申請專利範圍第1項之透鏡量測方法，係具有複數 個待測鏡片，該複數個待測鏡片係構成待測鏡片組。 13·如申請專利範圍第12項之透鏡量測方法，其中，該 待測鏡片組為相機鏡頭。 14.如申請專利範圍第a項之透鏡量測方法，其中，該 待測鏡片組之輪廓邊緣為圓形，且該待測鏡片組之名士 構中心為該圓形之圓心。 如申請專利範圍第14項之透鏡量測方法，其中，該 待測鏡片組係一以通過該圓心的軸為對稱軸之^ 110759(修正版) 19 1361269 第 971画 1ρ . lb ., . L100年11月ίΓ曰修正卷气 16·如申请專利範圍第1項之透鏡量測方 測鏡片係一透鏡陣列。 =‘ 17.如申請專利範圍第16項之透鏡量測方法其中該 透鏡陣列包含複數個透鏡輪摩邊緣為圓狀圓形^ 鏡’且各該圓形透鏡之圓心為其結構中心。 18.如申請專利範圍第17項之透鏡量測方法，其中，各 該圓形透鏡係以通過其圓心的Z—軸為對稱軸之對 結構。

   19. 一種透鏡量測裝置，其至少包括： 平行光源’用以產生平行光束； 第一極化片，用以將通過該第一極化片之該平行 光束極化為第一極化光束； 待測鏡片，用以使該第一極化光束通過該待測鏡 片’進而產生第一待測光束； 第二極化片，用以將通過該第二極化片之該第一 待測光束極化為第二待測光束；以及 影像分析模組，用以接收該第二待測光束，並取 得該第二待測光束之影像資訊，再利用該影像資訊判 斷出該待測鏡片之結構中心與能量分布，且透過比對 該結構中心與該能量分布，進而識別出該待測鏡片之 偏心與傾斜誤差。 20.如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 第二極化片之極化方向與該第一極化片之極化方向 互相垂直。 20 110759(修正版) 1361269 « % * 第97111948號專利申請案 L 100年11月/S~日修正替換頁 .申凊專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 第二極化片之極化方向與該第一極化片之極化方向 互相平行。 22. 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 影像資訊為亮度分布資訊、能量分布資訊或其數值資 訊。 ' 23. 如申請專利範圍第22項之透鏡量測裝置，其中，該 影像分析模組復用以依據 < 一, Ί • ! cos^ sin^ cos卢-sin〆 •10· • , E. 0 0 m /-sin^ cos^_ L° _sin^ cos^ 0 0 “· UJ 以及 I(pJ) = El sin2 ^cos2 ¢5 -/^)2 求得該亮度分布資訊、能量分布資訊或其數值資訊， 又Es與EP為入射光水平與垂直電場之振幅大小，p為 入射光對待測鏡片之入射高度。 24.如申請專利範圍第22項之透鏡量測裝置，其中，該 影像分析模組復用以依據 ·< mrn s 0 0 cos^ sin^ \ 0' cos卢-sin〆" •1 0_ 'K Λ」 0 1 厂sin卢 cos沴 L° v. sing cos〇i 0 0 一 m E l pJ 以及 1{ρ,ψ) = E)sin2 -tpf 求得該亮度分布資訊、能量分布資訊或其數值資訊， 21 110759(修正版) 1361269 . _ / ' 第97111948號專利申請案 " 1〇〇年11月日修正替換頁 • 又Es與EP為入射光水平與垂直電場之振幅大小，p為 入射光對待測鏡片之入射高度。 25. 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 影像分析模組復用以依據該能量分佈求得能量中心。 26. 如申請專利範圍第25項之透鏡量測裝置，其中，該 影像分析模組復用以依據方程式： ^ybotmdofy ，τ/ \ , , fybomdary xcbaundary ( \ ,. χΙ(χ,γ)ώίφ> J I xl(x9y)dxcfy fxbotoidaiy

   I^x,y)dxdy flux 與 ffbmmdory fxbtmdmy w 、* Y pybomdaiy fxbmmdaiy .t Ϋ , I i y^y)^ j [ yl(x9y)dxdy y = 轉= ^ 求得 能量中心，又C X與C y分別代表光學鏡片之X方向與 y方向的能量中心。 27. 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 影像分析模組係透過該影像資訊判斷出該待測鏡片 的邊緣，再利用該邊緣判斷出該結構中心。 28. 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 待測鏡片之輪廓邊緣為圓形，且該待測鏡片之結構中 心為該圓形之圓心。 29. 如申請專利範圍第28項之透鏡量測裝置，其中，該 待測鏡片係一以通過該圓心的Z-軸為對稱轴之對稱 結構。 30. 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，係具有複 22 110759(修正版) 31. 32. 33. 34. 35. 36. 37. 第97111948號專利申請案 100年11月丨f日修正替換頁 數個待測鏡片，該複數個待測鏡片係構成待測鏡片 組。 如申請專利範圍第30項之透鏡量測裝置，其中，該 待測鏡片組為相機鏡頭。 如申請專利範圍第31項之透鏡量測裝置，其中，該 待測鏡片組之輪廓邊緣為圓形，且該待測鏡片組之結 構中心為該圓形之圓心。 如申請專利範圍第32項之透鏡量測裝置，其中，該 待測鏡片組係一以通過該圓心的2_軸為對稱軸之對 稱結構。 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置，其中，該 待測鏡片係一透鏡陣列。 如申請專利範圍第34項之透鏡量測裝置，其中，該 透鏡陣列包含複數個透鏡輪廓邊緣為圓形之圓形透 鏡’且各該圓形透鏡之圓心為其結構中心。 如申請專利範圍第35項之透鏡量測裝置，其中，各 該圓形透鏡係以通過其圓心的z_軸為對稱軸之對稱 結構。 如申請專利範圍第19項之透鏡量測裝置 持件，係用以定位並維持該第一極化片、 及/或該第二極化片於預設位置。 ’復包括固 該待測鏡片 110759(修正版) 23