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TWI293110B - Apparatus for and method of measuring image - Google Patents

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TWI293110B
TWI293110B TW095137726A TW95137726A TWI293110B TW I293110 B TWI293110 B TW I293110B TW 095137726 A TW095137726 A TW 095137726A TW 95137726 A TW95137726 A TW 95137726A TW I293110 B TWI293110 B TW I293110B
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Sang-Yoon Lee
Ee-Bae Choi
Mingu Kang
Ssang-Gun Lim
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Intekplus Co Ltd
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Description

1293110 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 一p本發明係關於一光學影像測量裝置以及一光學地測量 一影像的方法,尤指一用以在高速下取得一藉由光學系統 所拍攝的影像之影像測量裝置及其方法。 【先前技術】 笔子與機:械元件被要求做得更小更準確,而為了檢查 這些小型電子與機械元件的製程與生產狀態,它們的大 J尺寸升y狀以及表面照度(surface illuminance)都必 須被非常精確地測量。 •舉例來說,一電子元件,也就是一半導體晶圓以及被 製造於該半導體晶圓上的一積體電路之微圖樣 (micro-pattern)的大小、形狀、雷射標記的狀態、以及表面 照度,無法經由傳統的接觸式(contact_type)測量裝置加以 測量。此外,在使用一具有接觸探針之接觸式表面照度測 里衣置的h形下,接觸棟針的尖端會在被測量的物體表面 留下細微刮痕’而探針也很難取得有關面積的資訊。 為了解決上述的問題,本發明採用光學顯微鏡的二維 測量裝置與其方法及採用光學顯微鏡的三維測量裝置與其 方法,其係利用一光源發出具有一參考圖樣的入射光並投 射至被測量的物體,接著比較因物體的形狀而被修改的圖 樣,用以測量物體的形狀。 就二維形狀測I方法來說,近來使用疊紋圖樣(M〇ire pattern)的方法被廣泛地採用,採用疊紋圖樣的形狀測量方 法會形成干涉圖樣(interference pattern),其中二個或更多 個具有預先決定的組態之週期性圖樣會在被測量的物體 (以下稱為「物體」)的表面彼此重疊,藉由測量與分析該 干涉圖樣可取得有關物體高度的資訊。 5 1293110 . 第四圖所示的方塊圖說明在傳統光學形狀測量裝置中 用以取得影像的程序。 此一傳統光學形狀測量裝置包括一 CCD照相機100, 用以在影像擷取裝置205輸入一觸發訊號的時候拍攝一物 體的影像並加以輸出,複數個安裝在不同位置的燈具4〇〇 係被用來调整被量測物體的部份表面照度(surface illuminance),而一照明控制器(illuminating contr〇ller)300 係用以控制該等燈具4〇〇。照明控制器3〇〇係依據安裝於 電腦200上的影像擷取裝置205所產生的觸發訊號來控制 • 燈具400。 同時,安裝於電腦200上的影像擷取裝置205會擷取 自CCJ3照相機1〇〇輪出的影像並傳輸該影像至一影像訊號 處理器207,影像擷取裝置205可以產生且輸出一觸發訊 號以便將照明控制器300以及CCD照相機1〇〇同步化,並 擷取CCD照相機1〇〇輸出的影像。 藉此’可以取得在物體p的掃瞄區域内的複數個高 度,以便測量物體P的不平坦情形。 • 燈具必須由觸發訊號開啟,且必須在同一時間拍攝物 ,的影像,這是因為被擷取的影像必須在燈具4〇〇開啟的 時候被擷取,用以取得被測量的物體表面之影像。 、曰為了參考之故,當一資料輪入裝置201輪入一個影像 , ’則畺開始命令時,影像訊號處理器207接收被擷取影像並 將6亥影像處理成影像訊號,以便顯示在一顯示器209上, 而控制為2⑽傳送該處理過的影像訊號給影像擷取裝置 2〇5 〇 在具有上述組態設定的傳統光學形狀測量裝置中,當 影像擷取裝置.蓋生觸發訊號時,CCD照相機拍攝並輸出影 6 1293110 像,設置於CCD照相機後端的影像擷取裝置擷取由CCD ' 照相機輸出的影像並傳送該影像,之後再次產生觸發訊 • 號。因此,要等一段長時間才能取得影像畫面。 舉例來說,如果擷取單一影像晝面的時間是0.03秒, 而傳送被擷取影像的時間是0.03秒,那麼拍攝與傳送10 個影像晝面的時間是(N +2) X 0.03秒,也就是12 X 0.06 =0.72 秒。 綜上所述,由於傳統的光學形狀測量裝置不容易快速 地取得被擷取的影像,測量物體的時間就沒有辦法被縮短。 *【發明内容】 因此,本發明係基於改善上述以及其他的問題,而本 發明的一個目的是提供一藉由一光學系統所擷取的影像用 以測量被測量物體的三維影像之測量裝置及其方法,其中 物體的影像被快速地擷取且可以高速的輸出該影像。 本發明的另一個目的是提供一影像測量裝置及其方 法,用以移除在測量過程中所產生的雜訊以及從物體邊緣 (edge)產生的高頻成份。 • 根據本發明,上述與其他的目的可藉由利用一光學系 統所擷取的一影像並測量一被測量物體之三維影像的裝置 而達成。該裝置包含一 CCD照相機,用以擷取該物體之影 像以及輸出該被擷取之影像;一燈具,用以提供該物體上 一擷取區域之照明光源;一照明控制器用以控制上述燈 具;一由光柵所形成之投射光柵;一投射光栅驅動單元, ' 用以調整該投射光栅與該物體之間的距離;一影像擷取裝 置,用以取得該CCD照相機所擷取之影像;一驅動訊號產 生器,用以根據該CCD照相機所產生的一致能訊號(enable signal),輸出一驅動訊號給照明控制器、^射光柵驅動單 7 1293110 • 象擷取裝置;以及一影像訊號處理器,利用擷 取衣置所傳迗之資料估計該物體之三維影像。 • 根據本發明,上述與其他的目的可藉由利用一光學系 統所擷取的影像以測量一被測量物體之三維影像的方法而 達,。該气法包括以下步驟:偵測來自CCD照相機之致能 訊號;同時輸出一驅動訊號給照明控制器,用以開啟燈具 以才又ί光源至该物體上,且輸出該驅動訊號給一投射光柵 控制器,用以調整投射光栅與該物體之間的距離,以及輸 出該驅動訊號給一影像擷取裝置,用以傳輪一被ccD照相 • 機擷取的影像至一影像訊號處理器;藉由重複偵測與輸出 步驟以儲存相移干涉圖樣;接著決定操取該物體的該步驟 是否已經完成,以及根據該結果,決定擷取步驟已經完成, 最後利用複數個被儲存的干涉圖樣資訊取得該被量測物體 之三維影像。 【實施方式】 以下將搭配附屬的圖表詳細說明本發明的實施例,俾 使熟悉此技藝者元全了解並達成本發明的概念。' 第一圖所示的示意圖說明本發明的一影像測量裝置的 光學系統組態。此一光學系統包括光學投射器(optical projector%,其利用一聚光透鏡(c〇ndenser丨⑽降用以聚
集由燈具21所產生的光束,並將光束透過投射光柵 (project^訂如叩)23與投射透鏡24,再經由反射鏡乃投 射至? P上’该光學系統並包括-第-光接收器(light 修改的光柵圖樣影像,該 圖k係=P表面二斤反射並透過一成像 6 fbnnmg !⑽)12,再以CCD照相機u擷取該影像。 在投射光柵23的一蜱, 一步提供以調整投射光栅23 〜投射光柵驅動單元26係進 與物體P之間的距離。 8 1293110 此外 λ、你、##光學系統可包括—第二光接收器3,用以透過 vision camera) 妙太方塊明本發明的影像測量裝置,根 △,^以护I取ϋ速率影像测量裝置包括一 CCD照相機 :;控制器4 :二=-的=區域之照明光源;-照 射光柵23,一投J光柵驅:開啟’-由光柵所組成之投 23與物體P之間的距離;影,象=壯26,用以調整投射光栅 照相機11擷取的麥像.一锯動、^置6’用以取得被CCD CCD照相機U 產像生的一 ,.用崎, 輸出-驅動訊號給照明控制器4 :::】1!11:1)’同% 以及影像擷取裝置6 ;以及—影像早兀26、 像擷取裝置6所傳送之資料估計該物像利用影 投射光柵驅動單元26係提供以衲敕 / =之間的距離’以改變被投射至物體 該驅==ΐ;二記 53 ’用以移除從數位類比轉換二:2之;J 與由W像擷取裝置6所取得之訊號中 出^ & 驅動訊號產生器54,用以產生一驅動訊^肩成彳刀,以及一 數位類比轉換器52係被設定用以降低雷 ,二而低喊波器53係被設定用以移除測 度貧訊時所產生的雜訊,以及從其邊緣產生的高^成^间 影像訊號處理器71接收被擷取影推*姑认_ 影像為影像訊號^便輸出影像在; _ ?只J里 9 1293110 者由資料輸入單元73脾旦/ a 則控制器74傳送影像、、量命令輸入至控制器74, 十一 _ j里開始命令給CCD照相機。 利用本發_影像測量方法,在 中,當偵測到來自心2測量物體之高度資訊的方法 訊號產生器5同時地於ψ、1目機之致能訊號時(S10),驅動 投射光栅驅動單㈣得訊號給照明控制器[ 號控制需要擷取對庫麥僮^像擷取裝置6,使得驅動訊 岑傻福敕像畫面所需的照明,並利用被擷取 =又 勺位置,以及傳送被擷取影像至景多像訊 號處理器71(S20)。 接著’當傳送給影像訊號處理器W的干涉圖樣資訊被 儲存而來自CCD照相機的致能訊號被偵測,以便取得相移 干涉圖樣(phase-shifted interference pattern),同時輸出影像 取得驅動訊號而得到擷取一對應的影像晝面所需的照明控 制,以及利用被擷取影像調整投射光柵位置之步驟(S10 與S20)會被重複執行(S3〇)。 接著’當完成擷取該物體影像的步驟(S40),就可以利 用複數個被儲存的干涉圖樣,進一步取得三維影像(S50)。 因此’根據本發明,當CCD照相機的致能訊號被偵測 時’照明與光栅同時被控制而影像會被取得並被傳送,如 此可降低取得影像所需要的時間,而可在高速下測量物體 的三維影像。 舉例來說,如果擷取單一影像晝面的時間是0.03秒, 而傳送被擷取影像的時間是0.03秒,那麼拍攝與傳送總共 1〇個影像圖框的時間是(1() + 15) X 〇.〇3 = 0.345。 換句話說,由於擷取N個影像所需的時間為(N + 1.5) X (榻取單一影像圖框的時間),因此當N大於2時,能夠比 1293110 傳統方法更高速地測量。更詳細地說,根據傳統方法,當 ’ N等於1,所需時間為(1 X 2 X 0.03) = 0.06秒,不過,根據 * 本發明,由於所需時間為(1 + 1·5) X 0.03 = 0.075秒,所以 當N大於2的時候,才能達到較高速的測量。 此外,根據本發明,當一最終影像進入照相機,而被 擷取影像被傳送給影像訊號處理器之前,一代表影像取得 步驟已經完成的訊號會被產生,所以,由於在取得最終影 像時影像會被同時地傳送,用以傳送最終影像的單一晝面 時間可被省下來,所以根據在此所用的測量模組,高速測 • 量只需(N + 0.5) X (擷取單一影像圖框的時間)的時間, 就可取得N個影像。 如上所述,根據本發明,只要CCD照相機的致能訊號 被偵測到的時候,驅動訊號會同時地被輸出至燈具以及影 像擷取裝置,以便擷取一對應的晝面,就可以在高速下取 得被擷取影像。 另外,數位類比轉換器係被用於驅動訊號產生器,以 降低電腦的運算時間,而低通濾波器係被提供以移除在測 量物體的影像時所產生的雜訊以及從一邊緣產生的高頻成 • 份,使得被取得影像的精確度可被提昇。 儘管以上已透過本發明的較佳實施例加以說明,不過 熟悉此技藝者應可了解,在不悖離本發明的範疇與精神的 情況下,可根據附屬的申請專利範圍,對本發明進行各種 * 修改、附加或替代的動作。 【圖式簡單說明】 本發明的許多以及/或者其他型態和優點在透過以下 有關實施例的描述,並搭配附屬的圖表的說明下,變得更 為清楚,其中:… 11 1293110 第一圖所示的示意圖說明根據本發明的影像測量裝置 的一組態; 第二圖所示的方塊圖說明根據本發明的影像測量裝 置; 第三圖所示的流程圖說明根據本發明的影像測量方 法;以及 第四圖所示的方塊圖說明在一傳統光學形狀測量裝置 中取得影像的程序。 > 【主要元件符號說明】 1 第一光接收器 3 第二光接收器 4 照明控制器 5 驅動訊號產生器 6 影像擷取裝置 7 電腦 9 物體 11 CCD照相機 12 成像透鏡 21 燈具 22 聚光透鏡 23 投射光柵 24 光學投射器 25 反射鏡 26 投射光柵驅動單元 31 照相機 32 成像透鏡 33 反射鏡 51 記憶體 52 數位至類比轉換器 53 低通濾波器 54 驅動訊號產生器 71 影像訊號處理器 72 顯示器 73 資料輸入單元 74 控制器 100 CCD照相機 200 電腦 201 資料輸入單元 203 控制器 205 影像擷取單元 207 影像訊號處理器 209 顯示器 300 照明控制器 400 燈具 12

Claims (1)

1293110
、申請專利範圍: 一種藉由一光學系統所擷取的一影像用以测量一被 物體的一三維影像之影像測量裝置,該裝置包含: =2^相機,用以榻取該物體的影像以及輪出該被掏 -燈具,用以提供該物體上—擷取區域之昭 · 一照明控制器,用以控制該燈具; ”, 一投射光柵,由光栅所組成; 二 =柵驅動單元’用以調整該投射光柵與該物體之 ^影像操取裝置,用《取得被該CCD照相_取的該影 一驅動訊號產生器,用以根據 光柵驅動單元、以及該影I:;置亥照 一影像訊號處理器,用以從該 料估計該物體之一三維影像。,、像摘取衣置所傳送之資 2 如申請專利範圍第丨項之藉 ^ 像用以測量—被測量物體的由—三先予旦糸,所擷取的-影 置,其中該驅動訊號產生器包含:、、、衫像之影像測量裝 存控制產生:驅動訊號之參考資料; 訊號與i該影像峨比轉換ϋ輸出之-份;以及 取传之一訊號中之高頻成 13 1293110 外年?月)日修(更)正替換頁 一驅動訊號產生器,用以產生一驅動訊號。 3、一種藉由一光學系統所擷取的一影像測量一被測量物體 的一三維影像之方法,該方法包含以下的步驟: 偵測來自一 CCD照相機之一致能訊號; 同時輸出一驅動訊號給一照明控制器,用以開啟一燈具 以投射光束至該物體上,輸出該驅動訊號給一投射光柵 控制器,用以調整一投射光柵與該物體之間的距離,以 及輸出該驅動訊號給一影像擷取裝置,用以傳輸一被該 CCD照相機擷取的影像至一影像訊號處理器;藉由重複 該偵測與該輸出步驟以儲存相移干涉圖樣;決定擷取該 物體的該步驟是否已經完成;以及 當根據該擷取步驟是否已經完成的步驟之結果決定該擷 取步驟已經完成,利用複數個被儲存的干涉圖樣資訊取 得該物體之三維影像。 14
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