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TWI282567B - Solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof - Google Patents

Solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof Download PDF

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TWI282567B
TWI282567B TW094143522A TW94143522A TWI282567B TW I282567 B TWI282567 B TW I282567B TW 094143522 A TW094143522 A TW 094143522A TW 94143522 A TW94143522 A TW 94143522A TW I282567 B TWI282567 B TW I282567B
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electrolytic capacitor
solid electrolytic
terminal
cathode
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Kazumasa Fujimoto
Sachiko Yoshino
Original Assignee
Sanyo Electric Co
Saga Sanyo Ind Co Ltd
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Description

1282567 ^九、發明說明: •【發明所屬之技術領域】 抑〃本發明係有關固體電解電容器及其製造方法,該電容 •二仏具有電容器元件,為由:於具有閥作用之金屬的表面 • 、y成有氧化被膜之陽極、設有具備閥作用的金屬之陰極、 以及設f於前述兩極間之隔件(separat〇r)捲繞形成者,並 -f ’於則述兩極間介設固體電解質,_,於前述陽極固 疋有於表面形成有氧化被膜之陽極用導線接頭(lad hb) 參端子,且於前述陰極固定有陰極用導線接頭端子之結構者。 【先前技術】 利用如钽或鋁等之具有閥作用之金屬之電解電容哭, 因為小型且可獲得到大的電容,故廣泛為一般所使用y尤 其,電解電容器之中,將聚D比,各(polypyrrole)系、聚嚷吩 (^polythiophene)系、聚苯胺(p〇lyaniUne)系等之導 ^ 性 高分子或TCNQ(四氰基對亞甲基苯醌)錯鹽使用於電解質 ⑩之固體電解電容器受到注目。 、 在此’前述固體電解電容器係如以下之方式所製造(彖 考下列專利文獻1)。 、夕 首先,分別將施行過化成處理之陽極用導線接頭端子 固定在進行鞋刻處理、化成處理後之銘落所構成之陽極, 以及將陰極用導線接頭端子固定在陰極之後,隔以隔離 紙,將前述陽極與陰極纏繞成圓筒狀而形成電容器元件, 並進行該電容器元件之切口化成與熱處理。接著,將前述 電容器元件浸潰在含有氧化劑與單體之溶液之後,藉由使 317529 5 1282567 : 其熱聚合,使導電性高分子層(固體電解質層)形成在電容 Γ 器元件之兩極間。接著,將電容器元件收納固定於鋁殼後, 密封銘殼之開口部,並進行時效(ag i ng)處理。最後,於電 容器之捲曲(curl)面插入座板,且將電容器之導線進行沖 壓加工、折曲而製造電極端子,藉此完成固體電解電容器。 —[專利文獻1]日本特開平6-310381號公報 - 【發明内容】 [發明所欲解決之課題] ❿ 在此,於前述固體電解電容器中,高耐壓品之要求、 需求於市場正逐漸高漲,但固體電解電容器與電解液型之 電解電容器相比較,有漏洩電流(LC)之自行修復功能不足 (較差)之課題。為使上述固體電解電容器高耐壓化,必須 事先將陽極箔之電介質氧化被膜之耐電壓提高(換句話 說,即提高陽極箔之化成(forming)處理電壓)。並且依同 樣的理由,於製造步驟中,必須於陽極箔之切口部分再度 進行化成處理。此外,切口部分之化成係為固體電解電容 ®器特有之處理,並非限定於高耐壓化之情況而進行者。 通常,於製造步驟中所進行之切口化成之化成處理電 壓,係以與陽極箔之化成處理電壓相同之電壓進行,但若 切口化成之化成處理電壓超過200V(尤其為230V),於使用 一般的陽極用導線接頭端子(化成處理電壓160V左右) 時,切口化成不穩定,陽極用導線接頭端子熔接部會大量 產生腐蝕等。結果,有固體電解電容器之LC特性不穩定之 課題產生。 6 317529 1282567 曰因此,本發明係為解決上述課題而研創者,其目的在 « 種藉由使切口化成穩定,並抑制陽極料線接頭端 子熔接部之腐蝕,而可使Lc特性穩定化之固體電 .及其製造方法。 口口 [用以解決課題之手段] 曰為了達成前述目的,本發明申請專利範圍第i項之發 明,係具有電容器元件,該電容器元件係由:於具有間作 屬的表面形成有氧化被膜之陽極;設有具備閥作用 i二之陰極;以及設置於前述兩極間之隔件捲繞形成 s,亚且,於前述兩極間介設固體電解質,同時,於前、求 μ於表面形成有氧化被膜之陽極用導線接頭= 固述陰極固定諸極科線制料之結構者的 二:=電谷:中,其特徵為:相對於前述陽極之氧化被 的比:二2述陽極用導線接頭端子之氧化被膜之厚度 的比卞係存在有75%以上、未滿100%之部份。 本卷明之發明人等發現,切口化成不穩定,以及陽極 用導線接頭端子炫接部腐飯 ^ , 瓸护工之原因,係在於陽極用導線接 太:::ί理電屢,相對於切口化成之化成處理電塵 接頭”之心’因使用於固體電解電容器之陽極用導線 么員而子之化成處理電壓係為贿,故當切口 因::Γ 化成,而使切口化成變為不穩定之同時, 陽極用導、動大電流於陽極用導線接頭端子,以致 用¥、,泉接頭端子之熔接部會腐蝕。 317529 7 1282567 - 因此,為使切口化成穩定化(使固體電解電容器高耐壓 -,)’陽極科線接頭端子係事先以陽減成之化成處理電 堡之75%以上之電壓,進行化成處理,亦#,相對於陽極 •之减被膜的厚度,限制陽極用導線接頭端子之氧化被膜 :Μ以上。藉此方式,切°化成之化成處 ,古%查(设定為與陽極之化成處理電壓同等之電壓)即使再 =子St切口化成穩定化之同時’因在陽極用導線接頭 “部:::電流’故可抑制陽極用導線接頭端子之炫 圍第1=範圍第2項之發明之特徵,係於申請專利範 明中’使用聚噻吩系L系、聚笨胺系 之…生尚分子或竭錯鹽’作為前述固體電解質。 苯胺解質,雖例示了聚噻吩系、料卜各系、聚 些。Η性高分子及_錯鹽,但本發明並不限於這 •圍第範圍第之發明之特徵,係於申請專利範 電解質。、|用聚嗥吩糸之導電性高分子作為前述固體 圍第項之發明之特徵’係於申請專利範 固弟1項至弟3項之發明中,陽極之氧化被膜之厚 X mu’錄前述陽極用導^、· 厚度中’係存在有Ux〜上、未被膜之 分。 木運& 5x 1〇 7m之部 若為上述構成,則可進一步發揮前述作用效果。 317529 8 1282567 .圍第二利5項之發明之特徵’係於申請專利範 ^ 别迷%極用導線接頭端子之氧化被膜之一部 刀$與則述陽極之氧化被膜同等的厚度。 方、、、、二化成處理之陽極用導線接頭端子中,在進行之後 2刀合1匕成日丁 ’因存在有與化成液接觸之部分,故在該部 ::W口化成時再度進行化成處理。因此,於該 二=極之氧化被膜之厚度為同等。但是,如此-來, ==接Γ子之一部分’即使於切口化成時再度進 化成陽極用導綠°上所边’由於切口化成之化成處理電壓與 、'、、接頭端+時之化成處理電壓之差異小 亦不會產生問題。 x 申月專矛J I巳圍第6項之發明之 =至第5項之發明令,額定電壓為聊=專利w 品。纟明係尤其適用於額定電屢在5GV以上之高耐壓 項之成=目的’本發明之申請專利範圍第7 右m 電解電容器之製造方法,係且備 猎由化成處理,於具有閥作 被膜,而製造陽搞夕门士 用之1屬的表面形成氧化 形成氧化被膜之第二::陽極用導線接頭端子之表面 子固定於前述陽和mi:::述陽極用導線接頭端 呈偌七田 、农♦用^線接頭端子固定於执古 /、備閥作用之金屬的陰極之第2步驟 疋於:有 陰極及於兩極間所設置 、Θ处除極與珂述 之第3步驟;進行1十Λ件加以捲繞而製得電容器元件 進仃則述電容器元件之切口化成之第4步驟; 317529 9 1282567 刖述:谷器元件含有固體電解質之第5步驟,而其 二;.:前述第1步驟中’相對於製造陽極時之化成處 以之4造陽極用導線接頭端子時之化成處 -率’係限制在75%以上。 乳化被膜之厚度與化成處理電壓成比例,係為一般所 因此’若為此種方法,則可容易地製造申請專利範 圍第1項之電解電容器。 造陽:二卜導時之化成處理電壓之製 負而子0守之化成處理電壓之比率為未達 相對於製造陽極時之 端子時之化成處理電壓之比率在刪:上 二;=用:接頭端子之氧化被膜時之化成處理電 V-專斧丨二至陽極箱之氧化被膜的厚度之故。 申印專利乾圍第8項之發明 圍第7項之發明中,於义、+c 钿於甲明專利乾 从 則述弟5步驟,使單體浸滲於電容 熱聚Ϊ侧電解質含於電容心 項之電解電容器。貝1了更4地製造申請專利範圍第1 申明專利觀圍第9項之發明之特徵 圍=項或第8項之發明中,額定電μ在5〇ν2專利乾 品。I明係尤其適用於額定電遷在咖以上之高耐麼 申請專利範圍第1 0項之發明 園第9項之發明中,製造陽極時之化成處理範 10 317529 ^ 1282567
電壓在225V 以上’製造陽極用I線接頭端+時之化成處理 [發明右之方法,則可容易地製造高耐壓之電解電容器° 線接Ϊ據本發明’藉由使切口化成穩定,且抑制陽極用導 ixitt炼接部之賴,而得到可使固體電解電容器之 特性%定化之良好的效果。 【實施方式】 / ▲以下將更詳細說明本發明,但本發明不受以下之 形態任何限定,於不變更苴 土 — 个文更具要曰之靶圍,可適當地變更並 于以實施。 —„第1圖仏使用於本發明之一例之固體電解電容器之電 /疋件立體g ’第2圖係本發明之—例之固體電解電容 裔之剖面圖。 j第2圖所示,於紹殼9内配置有電容器元件【,於 籲#電各元件1上,插入有密封用橡膠襯墊10。此外,鋁 立之開口 °卩係藉由侧擠與捲曲(cur 1)而密封,於此密封 ^上插入有塑膠製之座板丨1。於此座板11上,設置有電 極端子12 ’其係將個別電性連接於前述陰極2與陽極3之 後述的陰極用導線8、陽極用導線7加以沖壓加工、折曲 加工所形成者。 另一方面’如第1圖所示,前述電容器元件1係具有: 於表面為凹凸形狀之铭箱表面形成有氧化被膜之陽極3 ; 由表面為凹凸形狀之鋁箔所構成之陰極2 ;以及設在該等 317529
Cs) 11 1282567 :=2、3間之紙製的隔件4。而該等兩極2、3與隔件4 :係呈滾筒狀捲繞’而構成圓筒狀之電容器元件/,、: :為疋件1之捲繞端部’係貼著有固定用帶5。此外 ‘前述兩極2、3間,形成有聚噻吩系之導電性高分子; 纟此,第i圖中’6係為陽極用導線接頭端子,了曰 -,線’具體的結構如帛3圖所示,係為於由凸起(boss) 邛61與凸緣(rib)部62與扁平部63所構成之銘 用導線接頭端子6,炫接有陽極用導線7之結構^卜 •第3圖中,70係炼接部。此外,第1圖中,14係為㈣用 導線接頭端子,8為陰極 ’…、=極用 用^線具體的結構係與第3圖 =不之%_㈣接頭端子6及陽極科線7為同樣之社 陰極用導線接頭端子7未進行化成處理,而在 延點與%極用導線接頭端子6不同。 以如下之方式製造前述結構之固體電解電容哭。 於由”薄片切出之帶狀的紹箱進㈣刻處 。如上所述進行_處理,係為了將料表面粗面化, 二面積,且使靜電電容加大之故。接著,將紹箱浸 :化成:,且施加250V之電壓(將化成處_設為 此氧化紹而形成氧化銘被膜(化成被膜)。藉此方 極3。此外’以化成液而言’已知有磷酸鹽 I鹽、己二酸鹽等之溶液’但使用其他的酸鹽溶液亦可。 在此,氧化銘被膜之厚度,係每lv(伏特)化 壓(,加電厂堅)為14Xl〇〜係與化成處理電壓成正比, 故形成於前述陽極3之氧化紹被膜之厚度係如以下⑴式 317529 12 1282567 所示。 250χ 14χ 1(Γ丨0m=3· 5x l(T7m ···(〇 只刖返止極衣U步驟並行,以下列所示之條件,— 亦對鋁製之陽極用導線接頭端子6施加電壓(進行化成猎虎由 理),而形成氧化鋁被膜(化成被膜)。但是,此時1 之施加 1 壓設為200V,故形成於陽極用導線接頭端子β 私 膜之厚度係如以下(2)式所示。 虱 被 200x 14x 1 0~10m=2. 8x l〇-7m …⑵ • 但是,在陽極用導線接頭端子6之一部分(存在於第3 圖之二點鏈線之左側之部分)64,因於後述之切口化成時會 與化成液接觸,故以與陽極3之化成處理電壓同樣的 (250V)進行切口化成時,再度被化成。結果,於陽極^ 線2頭T子6之一部分64之氧化鋁被膜之厚度,係與形成 於丽述陽極3之氧化鋁被膜的厚度同樣為3. 5χ 。 接著,將前述陽極用導線接頭端子6藉由總孔加工 鲁(spot facing work)固定在前述陽極3,同時藉由總孔加 工將陰極用導線接頭端子14固定在由鋁箔所構成之陰極 2 〇 然後,將前述陽極3與陰極2,隔著為絕緣體的隔件4, 王滾筒狀捲繞,將捲繞末端以帶5止住,而製造電容器元 件1。在此,陽極3係如前所述,從鋁製薄片切出而製成, 故於陽極3之端面並未形成有氧化鋁被膜(電介質氧化被 膜)因此,將電谷器元件1之切口化成,以施加電壓Μ 〇v (與陽極3之化成處理電壓同樣之電壓)進行,亦於陽極之 13 317529 1282567 : 端面形成氧化鋁被膜。之後,將電容器元件1以280°C作 , 熱處理,使氧化鋁被膜之特性穩定。 接著,將電容器元件1浸潰在含有作為單體之3, 4-伸 乙基二氧基噻吩(3,4-ethylenedioxythiophene),與作為 氧化劑溶液之對曱苯績酸(p-toluenesul f onic acid)鐵之 丁醇(Butyl Alcohol)溶液後,進行熱聚合,於兩極2、3 間形成導電性高分子層,而完成電容器元件1。 之後,如第2圖所示,將如前所述所製造之電容器元 _件1收納於鋁殼9内,並且,於電容器元件1上之鋁殼9 内插入密封用橡膠襯墊10並予以固定之後,針對鋁殼9 之開口部,藉由施加側擠與捲曲進行密封。最後,進行時 效處理之後,於電容器之捲曲面插入塑膠製之座板11,並 且,進行電容器之導線7、8之沖壓加工、折曲加工而形成 電極端子12,藉此製成固體電解電容器。 如上所述製造之固體電解電容器之額定電壓為50V, 此外铭殼9之外形尺寸為直徑10· 0mm、高度8. 0mm。 •[實施例] (實施例1) 與用以實施前述發明之最佳形態同樣地製造固體電解 電容器。 以下將如上所述所製造之固體電解電容器稱為本發明 電容器A1。 (實施例2) 將對陽極3 (亦包含陽極之切口,此亦與以下之實施例 14 317529 1282567 3及比較例1至3同樣)與陽極用導線接頭端子6施加化成 ,處理時之施加電壓,個別設為麵、讀之外,與實施例 1同樣地製造固體電解電容器。 α下將如上所述所製造之固體電解電容器稱為本發明 電容器Α2。 其中,形成於陽極3之氧化紹被膜之厚度係如以下(3) 式所示,形成於陽極用導線接頭端子6之氧化铭被膜之厚 度係如以下(4)式所示。 • 400χ 14χ ΙΟ’πιϋ l〇’7m …⑶ 300x 14x 10 m=4. 2x l〇'7m ."(4) (實施例3) 將對陽極3與陽極用導線接頭端子6施加化成處理時 之施加電壓,個別設為45〇v、4〇〇v之外,與實施例工同樣 地製造固體電解電容器。 以下將如上所述所製造之固體電解電容器稱為本發明 $電容器A3。 其中,形成於陽極3之氧化鋁被膜的厚度係如以下(5) 式所示,形成於陽極用導線接頭端子6之氧化鋁被膜之厚 度係如以下(6)式所示。 450x 14x 10'10m=6. 3x l〇_7m …(5) 400x 14x 10_10m=5· 6x l〇-7m …(6) (比較例1) 將對陽極3與陽極用導線接頭端子6施加化成處理時 之施加電壓’個別設為250 V、l6〇V之外,與實施例i同 317529 15 1282567 樣地製造固體電解電容哭。 容器將如上所述所製造之固體電解電容器稱為比較電 其中’形成於陽極3之氧化鋁被膜之厚度係如以下⑺ :不:形成於陽極用導線接頭端子6之氧化鋁被膜之厚 度係如以下(8)式所示。 250x 14x 10'10m=3. 5x l〇 7m …⑺ 160xl4xl(rl°m=2.24xl〇-7m …⑻ # (比較例2) 將對陽極3與陽極用導線接頭端子6施加化成處理時 之施加電壓,個別設為4_、2〇〇V之外,與實施例1同樣 地製造固體電解電容器。 以下將如上所述所製造之固體電解電纟器稱為比 容器X2。 其中,形成於陽極3之氧化紹被膜之厚度係如以下(9)
式所示,形成於陽極用導線接頭料β之氧化銘被膜之厚 度係如以下(10)式所示。 400χ 14χ ΙΟ’π^δ.δχ l〇-7m …(9) (10) 200x 14x 10'l0m=2. 8x l〇'7m (比較例3) 將對陽極3與陽極用導線接頭端子6施加化成處理時
之施加電壓,個別設為45〇v、3〇〇v之外,與實施例i同樣 地製造固體電解電容器。 K 以下將如上所述所製造之固體電解電容器稱為比較電 317529 16 1282567 :容器X3。 " 其中’形成於陽極3之氧化鋁被膜的厚度係如以下(11) 式所不’形成於陽極用導線接頭端子6之氧化鋁被膜的厚 度係如以下(12)式所示。 450x 14x 10 πι=6. 3χ 10 7πι ··· (11) 300χ 14χ 10'10m=4. 2χ l〇'7m ---(12) (實驗1) 於别述本發明電容器A1至A3及比較電容器χ 1至 ⑩中,經調查切口化成步驟之腐蝕發生率,而將其結果表示 於表1。其中,試料數係設為各電容器20個。
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腐蚀發生率 1 (%) 1 ! 〇 〇 O (N m m o 〇〇 ms: iiiL 、°A 5 ^ ^ ..L 、 〇 〇 On 〇 o 卜 〇 in 00 寸 o Ό ^ ^r 〇〇 卜 OO Ό Ό 屮^ ifeyftiT *ζιΠΓ 寶 > 〇 〇 〇 o 〇 〇 〇 VO o o 〇 〇 (N m 寸 r—4 CN m /—N ^ > 'W 〇 〇 o 〇 o 〇 ^Γ) CN O 寸 cn 寸 in CN o 寸 寸 i 5 跻屮 〇 o On 〇 o 卜 ^楚 忘踩 铡雄 〇 〇〇 卜 OO 00 vo o m v〇 W ε ^w/ 卜 卜 卜 卜 卜 &0 野制 雄時 〇 Τ—Η X 〇〇 CM 4.2x10* b »—e X Ό 1.24x10 O t—< X OO CN 4.2x10' 蜥屮 S B r-· 1 ο 卜 ο 卜 1 〇 卜 b 卜 1 o 卜 ο 邀5 1—< X X 1—^ X X ’ ^ X 1·*"Η X in m ^T) VO ΓΛ m m MD m IT) Ό tytx tiT\0 as oVti 〇T\〇 as tiVO OTNO .一 (4 {ίφ 電容 種類 ι£ί〇3 ΤξιΠΓ ^ < ¥ CN 轵< Ί®3 m < A <·>< 馨 4 4 4 -D jj Jj 18 317529 9 1282567 • 纟前述们可知,相舞於於比較電容器Xi至X3產生 •多數的腐钱,於本發明電容器A1至A3中係完全沒產生腐 ^。因此,可知必須將相對於陽極之氧㈣被膜的膜厚之 .陽極用導線接頭端子之氧化紹被膜的膜厚(相對於陽極之 化成處理電屋之陽極用導線接頭端子之化成處理電屢)之 比率,限制在75%以上。 (實驗2) 於前述本發明電容器A1至A3及比較電容器χι至χ3, 鲁經調查初期LC特性,顯示其結果於表2。再者,試料數設 為各電容器20個,又,於表2中顯示有該等之平均值。
317529 19 1282567
ΙΛ rvi CO r-^1 OJ CD 卜 寸 CO CD CO T—< wmc Ϊ ^ iS £ ί i CD cr> σϊ CD cz> 卜 CD LO oo 寸 o CD 〇〇 卜 oo co LO CO ^ Q ^ ippr 野驗! 〇 C5 〇> c=> cr> CD 球㈣ 〇 〇 o CO 〇) 〇> Ονϊ CO r1· i oa CO 蜥屮 i£igt) τρ〇Γ /^\ <〇 C> 〇> o cr> cr> 忘 > LO CD in LO o m 'Vw^ CNI 呀 ^vf CM 跻®: A ^ ^ ^ ^ ^ ^ 卸 W + CD CD CI5 o 卜 CD ίΛ oo 却 CZ) CO 〇〇 卜 oo CO LO CD 岭ί萆 絮 卜 t o ,i 卜 1 CD Γ 丨< 卜 〇> r—t r- 1 o τ·__4 卜 1 CD 卜 CD r—H 雄p s X X X X X X 鎗, 屮 oo CN3 CO OJ oo CM t>0 CM 寸 L〇 03 (NJ 寸 /^N r- 1 卜 1 卜 1 r- 1 Γ- 1 卜 1 忘 s CD cr> o o o ◦ ·»—i I1 i > < T—H i—Η X X X X X X LO CO CO CO LO CO CO LO CO CO LO CO ttVtJ dTvd tsVCi ClTvQ 〇S/〇 CiTvO 铋 t)V& DT\0 nyo DT\0 ovo DTNO .Iffiil 妙 鉍 {4 as # tf^ml TJIBr W r-H 啊 CNI ^ c〇 itgn) * W x Λ») ^ ™ X m °° ™ x 滅 jJ 4 4 -4 20 317529 ⑧ 1282567 # / 由前述表2可知,與比較電容If XI至X3相比較,本 表月私谷為A1至A3的初期LC特性特別提高。因此,可知 頁將相對於陽極之氧化!呂被膜的膜厚之陽極用導線接頭 =子之氧化鋁被膜的膜厚(相對於陽極之化成處理電壓之 陽極用‘、、泉接頭鈿子之化成處理電壓)之比率,限制在75% • 以上。 [其他事項] ⑴於前述實施例中,雖於電極之母材使用㈣過㈣,但 當然亦可使用平坦的(未蝕刻)鋁箔。 ⑵雖於㈣電解質使用聚噻吩系導電性高分子,但並不限 定於此,當然亦可使用聚D比洛系、聚苯胺系等之導電性高 分子或TCNQ錯鹽。 (3)陽極用導線接頭端+ 接頭_早夕制Α 、之化成處理’係不論在陽極用導線 子之衣造的前後。亦即’製造陽極用導線接頭端子 雖=由將由料所構成之金屬薄片沖切而形成,作於 =之w騎化成處理,或沖切之後進行化成處理均可。 在料實施财,僅於陽㈣導線接頭端子進行化 成處理’但當_可於陰極用導線接頭端子進行 二㈣因ΪΓ述使用於陰極用導線接頭端子進行二 处里τ ’因可將兩導峻 的提高。 W綠接•而子共通化,故可謀求生產力 (4) 以具有閥作用之全屬 ^ 组、銳等。之係不㈣於前述銘’亦可為 (5) 陽極3與陽極之切 , 々刀口之化成處理’亚不限定於相同的電 317529 21 1282567 /接部之切口化成穩定’且抑制陽極用導線接頭端子熔 [產章/,最好是以相同的電壓進行兩者之化成處理。 菓上之利用可能性] •電子:Ϊ明譬如可作為於行動電話、筆記型電腦、PDA等 :【圖=::】電路基板之表面安裝… 、器==用於本發明之-例之固體電解電容器之電 •圖。弟2圖係為本發明之一例之固體電解電容器之剖面 弟3圖係為本發明之 導線接頭端子之平面圖。 【主要元件符號說明】 I 電容器元件 3 陽極 5 固定用帶 7 陽極用導線 9 鋁殼 II 座板 14 陰極用導線接頭端 例之固體電解電容器之陽極用 2 4 8 10 12 子 70 陰極 隔件 陽極用導線接頭端j 陰極用導線 橡膠襯墊 電極端子 炼接部 317529 22

Claims (1)

1282567 Λ 第94143522號專利申“:秦 申請專利範圍修正本 修(更)正替換頁| : (95年12月22日) .丨.一種固體電解電容器’係具有電容器元件,該電容器元 件為由:於具有閥作用之金屬的表面形成有氧化被膜之 陽極;設有具備閥作用之金屬之陰極;以及設置於前述 兩極間之隔件捲繞形成者,並且,於前述兩極間介設固 馨體電解質之同時,於前述陽極固定有於表面形成有氧化 被膜之陽極用導線接頭端子,於前述陰極固定有陰極用 導線接頭端子之結構者,其特徵為: 相對於前述陽極之氧化被膜之厚度,以前述陽極用 導線接頭端子之氧化被膜之厚度的比率係存在有75% 以上、未達100%之部分。 2.如申請專利範圍第i項之固體電解電容器,其中,使用 =噻吩系、爾系、聚苯胺系之導電性高分子或四氰 基對亞甲基苯醌(TCNQ)錯鹽,作為前述固體電解質。 .請專利範園第2項之固體電解電容器,其中,使用 汆II蕃吩系之導電性高分子作為前述固體電解質。 以=’别述陽極之氧化被膜之厚度為3. 5x:nr7m 上二前述陽極用導線接頭端子之氧化被膜的厚度 ;如申=直2. 8x10 m以上、未達3. 5xi(r7m之部分。 述第4項之固體電解電容器’其中,於前 用^線接頭端子之氧化被膜之一部分,係為與前 (修正本)317529 1 -1282567
述陽極之氧化被膜同等之厚度。 如申請專利範圍第i項至第^項中任一項之固體電解 電容器,其中,額定電壓為50V以上。 -種固體電解電容器之製造方法,係具有: 藉由化成處理,於具有閥作用之金屬的表面形成氧 化被膜而製造陽極之同時,於陽極用導線接頭端子之表 面形成氧化被膜之第1步驟; 、 分別將前述陽極用導線接頭端子固定於前述陽 極’將陰極料線接頭端子固定於設有具備閥作用 屬的陰極之第2步驟; 將前述陽極、前述陰極、及設置於該等兩極間之隔 件捲繞而製得電容器元件之第3步驟; ^ 進=前述電容器元件之切口化成之第4步驟;以及 使刖述電容器元件含有固體電解質之第5步驟,並 特徵為: 1 於前述第1步驟中,相對於製造陽極時之化成處理 電壓之衣迨陽極用導線接頭端子時之化成處理電壓的 比率,係限制在75%以上。 8·如申請專利範圍第7項之固體電解電容器之製造方 法,其中,於前述第5步驟中,使單體浸滲於電容器元 件之後,藉由熱聚合,使於電容器元件含有固體電解質。 9·=申请專利範圍第7項或第8項之固體電解電容器之製 造方法,其中,額定電壓為50V以上。、 10·如申請專利範圍第9項之固體電解電容器之製造方法,其 (修正本)317529 2 1282567 • 中,製造陽極時之化成處理電壓為300V以上,製造陽 ·- 極用導線接頭端子時之化成處理電壓為225V以上。 3 (修正本)317529
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