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TWI271608B - A low offset bandgap voltage reference - Google Patents

A low offset bandgap voltage reference Download PDF

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TWI271608B
TWI271608B TW094100747A TW94100747A TWI271608B TW I271608 B TWI271608 B TW I271608B TW 094100747 A TW094100747 A TW 094100747A TW 94100747 A TW94100747 A TW 94100747A TW I271608 B TWI271608 B TW I271608B
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TW
Taiwan
Prior art keywords
circuit
voltage
amplifier
transistors
current
Prior art date
Application number
TW094100747A
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English (en)
Other versions
TW200537270A (en
Inventor
Stefan Marinca
Original Assignee
Analog Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Analog Devices Inc filed Critical Analog Devices Inc
Publication of TW200537270A publication Critical patent/TW200537270A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI271608B publication Critical patent/TWI271608B/zh

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    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is DC
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is DC using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/30Regulators using the difference between the base-emitter voltages of two bipolar transistors operating at different current densities
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/01Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
    • G01K7/015Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions using microstructures, e.g. made of silicon

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Description

1271608 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 k 本發明係關於電壓參考電路,且特定言之係關於一種使 用能隙技術而實施之電壓參考電路。更特定言之,本發明 係關於一種提供具有對偏移之減少之敏感性之方法及電 路。 【先前技術】 一能隙電壓參考電路係基於具有相等及相反溫度係數TC _ 之兩電壓之相加。該第一電壓為一順向偏壓雙極電晶體之 一基極·發射極電壓。此電壓具有一約為_2·2 mV/c之負 . TC,且通吊被表示為對絕對溫度或ctat電壓之補償。與絕 、 對溫度成比例之該第二電壓或一 PTAT電壓係藉由放大以不 同電流密度操作之雙極電晶體之兩順向偏壓基極_發射極 接合點之電壓差(AVbe)來形成。關於包括先前技術方法之實 例之能隙電壓參考電路之更多資訊可在2〇〇3年2月27曰申 請之Stefan Marinca之同在申請中之美國專利第10/375,593 號中發現,其内容以引用方式併入本文中。 應瞭解,對於在集極電流密度下以1/5〇之比率操作之一 對雙極電晶體而言,AVbe在室溫下大約為1〇〇 mV。因為一 CTAT電Μ通吊約為7〇〇 mV,應瞭解,為了平衡該ctaT電 壓,该AVbe需要被放大約5倍。然而,該Δν^電壓之放大具 有將偏移電壓包括於該ΡΤΑΤ電壓中之效應,且因此該參考 電壓精度可能X到影響。與使用雙極技術來實施之類似電 路相比,當該電路使用CMOS方法時此等誤差更大。效能中 98674.doc 1271608 之此差異可追溯至該事實:在簡單CMOS方法中,僅寄生雙 極電晶體可用,且基於MOS電晶體之放大器具有更大輸入 電壓偏移。 圖1為一習知CMOS實施例之能隙電壓參考之一實例。提 供三pMOS電晶體Ml、M2及M3,每一電晶體均具有相同寬 度/長度(W/L)之縱橫比。提供一第一及第二雙極電晶體Q1 及Q2,其中Q2較Q1具有更大發射面積。因此,qi與Q2以 不同電流密度操作(對該等兩者而言發射極電流相同)。耗接 至Q1及Q2兩者之一放大器A1使得該等兩輸入位準保持為 相同值,且因此在整個電阻器rl上發展一電壓。 為下列形式:
Vbe=(kT/q)(ln(n)) (1) 其中: k為玻耳茲曼常數; q為電子上之電荷; τ為絕對溫度(Kelvin)中之操作溫度(〇perating temperature); η為兩雙極電晶體之集極電流密度比。 藉由该電路提供之電壓參考Vref可被判定為⑴之基極-發 射極電壓加上r2倍之電壓降落。
Vref=VbeQ3 + (r2/rl)(AVbe) (2) 因為該輸入偏移電壓以係數1+r2/rl倍被產生至輸出端, 所以r2/rl之该標度值選擇為大約5,且因而該放大器偏移電 壓亦放大約一係數6倍。因此,應瞭解,對於每一丨輸入 98674.doc 1271608 電壓偏移而言,一約為6 mV之誤差被反映至該能隙參考 中。一種用於減少此偏移敏感性之方法為堆疊該等雙極電 晶體。然而,該堆疊受可用之淨空高度之限制,意即大多 數電路必須自一可用之2.6¥電源電壓而操作,且因此堆疊 之數目通常限於2或3。因此,儘管已知在放大器之輸入端 處堆疊電晶體,以產生之一多值,但因為此Δν^在該 放大器之該輸入端處之整個電阻器上產生,所以亦存在一 由該電路產生之偏移影響。 月b隙電壓參考電路中之另一誤差源可追溯至電阻器失 配。藉由檢查方程式(2)中之該等項可瞭解,電阻比(resist〇r ratio)中之任何誤差直接轉換為參考電壓。因此,需要最小 化此誤差源。 此外,另一誤差源可追溯至通常所謂之”曲率,,。此 次誤差組件。在一雙極電晶體中,在一 pTAT集極電流下偏 壓之基極-發射極電壓由下式給定: 〔r〇J To q [To] V3) 其中: vbe(T)為在一操作溫度下之雙極電晶體之基極-發射極電壓 之溫度依賴性; vbeG為在一參考溫度下之該雙極電晶體之基極_發射極電 壓; VG〇為在0K下之能隙電壓或基極_發射極電壓; 98674.doc 1271608 T〇為參考溫度;且 σ為飽和電流溫度指數。 方程式(3)之最後項對該曲率有影響,且理想時可被最小 化。 頒予 Infineon Technologies,AG之美國專利第 6,6〇5,987 遽中提供了在一具有低操作電壓環境中之能隙電路之實施 之一實例。該專利描述用於產生一具有一第一溫度依賴性 之第一部分電流之橫向電晶體之用途。此等橫向電晶體形 成放大器之一非對稱輸入對,且其集極電流驅動m〇S電 晶體之一第二對。源於此等橫向電晶體與M〇s電晶體之耦 接,需要該等M0S電晶體在低臨限電壓下操作,此需要使 用特殊CMOS方法之實施。此外,該電路需要多個電阻器之 使用,該等電阻器需要相互匹配。儘管此電路在僅具有可 用之低操作電壓環境中為有利的,但此電路不適於所有應 用(因為對電阻器匹配及MOS電晶體之實施之該等要求較 苛刻)。
Gregoire,Jr之美國專利第6 614 2〇9號中給出了一能隙參 考電路之實施之一實例,該電路特別設計用於減少所利用 之電阻器之數目。該專利描述一利用串聯耦接之多個ρτΑτ 源之能隙參考電路以產生一最終ΡΤΑΤ電壓。一雙極電晶體 之一電流偏壓之基極-發射極區域耦接於該最終ρ ΤΑΤ電壓 與該能隙電壓參考之—輸出端子之間,使得將該基極-發射 極電壓添加至該最終PTAT電壓,藉此產生—穩定電塵參 考。儘管此方法使得通常用於能隙電路中之電阻比減少, 98674.doc 1271608 但該方法具有許多缺陷。由於該電路不提供曲率校正,所 以需要產生一大ΔΚπΤΑΤ)來平衡基極_發射極電壓 (C TAT)。第6 614 2 0 9號美國專利藉由使用該專利之圖$中所 不之兩級架構來達成此平衡。所要之pTAT電㈣由均包括 放大器之初始PTAT源(參考區塊51〇)與一終端ρτΑτ源(參考 區塊530)之組合來提供。歸因於該電路之組態,因為第二 放大器之兩輸入端具有-約為3AVbe(在室溫時大約為33〇 mV)之普通電壓,所以與第一放大器相比,第二放大器需 要-高淨空高度環境來有效地操作。此限制此能隙電屢參 考可被利用之應用。其次’對兩放大器之需要增加了用於 實施此-電路之模具(die)上所需之面積及所需之電源。此 外’由於不存在提供至該參考之曲率校正,因此所提供之 參考電壓之精度受限。此外’由於使用了兩個放大器,故 對偏移及雜訊之影響增加。 因此’需要提供一具有對電壓偏移之減少之敏感性且適 詩提供一電壓曲率校正之能隙電壓參考電路。進一步需 要提ί、具有對電阻器匹配或個別值之更少依賴性之電 路。亦需要提供—可用作溫度感應器(意即對溫度波動敏感) 之能隙參考電路。 【發明内容】 與該等先前技術相關聯之此等及其它問題可藉由根據本 ^明之電路及方法來解決。根據本發明之—第—實施例,
提供了一電路,复吝/4» ^ A ^ 八屋生一為之足夠高之值以減少對放 之而要,且藉此消除在該電路内被放大之内在誤差之問 98674.doc 1271608 題。電晶體之堆疊被提供於一放大器之輸入端處,且一單 獨電阻器被提供於該放大器之輸出端處,且被用於產生所 要之應瞭解’藉由在與該放大器之輸入端相對之輸 出端處提供電阻器,由該放A||之偏移之放大引起之誤^ 被消除。亦藉由使用一單一電阻器,由該等多個電阻器失 配引起之誤差可被消除。 ^ 本發明提供具有-放大器之電路,該放大器在其非反相 ,入端處具有一以第一電流密度操作之第一堆疊之雙極電 晶體’且在該放大器輸出端與其反相輸人端間之_反饋迴 路中提供-以較第-堆疊之電流密度更低之第二電流密度 操作之第二堆疊之雙極電晶體,使得由於該等兩堆疊間: 電流密度中之差異,在該放大器之該輸出端處反映了一辦 強之△〜’此增強之在麵接於該放大器之該輸出端血 -參考電位間之整個電阻器上得以發展。藉由將此窗電 壓添加至-平衡之CTAT電壓,該電路可被修改以用於產生 對溫度不敏感之電麼參考。若該PTAT電壓未重疊或未與 -平衡CTAT電壓組合’則該電路在該放大器之該輸出端處 提供-表示該電路中之溫度之值,一溫度感應器。 根據本發明之一實施例,提供了一能隙電壓參考電路, 其包括一具有第一及第二輸入節點之放大器,且在其一輸 出端處提供一參考電壓。此外,該電路包括至少兩對電晶 體’每-對電晶體均具有一適用於以與該第二電晶體之電 流密度不同之一電流密度來操作之第一電晶體,使得在使 用中,在每-對之該等兩電晶體之間產生基極_發射極電壓 98674.doc 1271608 △Vbe之差異。該等對經排列使得具有一第一電流密度之彼 等電晶體被提供至一耦接至該第一輸入節點之鏈中,且具 有第二電流密度之彼等電晶體被提供至一耦接至該第二輸 入節點之鏈中,每一對所提供之Δν^之組合在放大器之輸 出端處對增強之AVbe產生影響,該增強之AVbe在放大器之 輸出端處所提供之整個電阻器上產生。 希望提供三對電晶體,每一對電晶體產生(contdbute) 一 △Vbe組件,使得在該放大器之輸出端處之整個電阻器上產 生之增強之AVbe等於3AVbe。 為了最大化該3AVbe之影響之效應,該電路較佳地進一步 適用於產生一曲率校正電壓。可藉由驅動在第一電流密度 下以與絕對溫度成比例(PTAT)之電流操作之該等三個電晶 體及以一恆定電流操作之該等另外三個電晶體中之每一者 來提供此曲率校正電壓,該曲率校正電壓之和及3Δν^兩者 均被施加至該放大器之輸出端上之整個電阻器上,藉此校 正與該能隙電路相關聯之曲率。 該PTAT電流之產生較佳地藉由鏡面反射在放大器之輸 出端上之整個電阻器上界定之電流來實現,以驅動該等電 晶體中之每一者在該第一電流密度下操作。 在某些組悲中,遠等電晶體中之每一者於一 MOS製程實 施例中被提供’且在其它組態或實施例中,某些該等電晶 體於-雙極實施中被提供。應瞭解,此後者實施例亦可使 用CMOS方法來提供。 某二實施例可旎需要兩對待使用雙極電晶體而形成之電 98674.doc 1271608 晶體及使用橫向電晶體而形成之第三對電晶體。在此等實 施例中,該第三對電晶體可提供該放大器之一輸入級。希 望此一輸入級作為該放大器之一非對稱輸入級而被提供。 此外,該電路可包括一對耦接至該第三對電晶體之負載 電晶體’戎4負載電晶體適用於使通過該第三對電晶體之 電流相等。 在某些實施例中,該第三對電晶體兩者均使用一 pTAT電 流加以驅動。此一 PTAT電流可在該電路外部產生。 某些組態可提供使用一 MOS電晶體之放大器之第二級, 忒MOS電晶體由一 PTAT電流源驅動,且該]^〇!5電晶體耦接 至該等負載電晶體中之一者,且該等電晶體中之一者之集 極形成電晶體中之第三對。 在某些實施例中,該電路可包括在該放大器之輸出端處 提供之一 MOS電晶體,該MOS電晶體藉由一PTAT電流加以 驅動,该MOS電晶體之基極直接耦接至該放大器之輸出節 點,且發射極節點提供該電路之一輸出。在此等實施例中, 该MOS電晶體之源極可耦接至一雙極電晶體之發射極,雙 極電a曰體之集極被耦接至一參考電位,且雙極電晶體之基 極被耦接至該電阻器。 替代性實施例可以一雙極組態提供三對電晶體中之每一 對’該等三對電晶體提供一放大器之一輸入級,該放大器 一有輸出節點,其耦接至以一電壓跟隨器組態而提供之 雙極電晶體’且其中該電壓參考被提供於該放大器及該電 壓跟隨器之輸出端間之一節點處。 98674.doc •12- 1271608 本發明亦提供一能隙電壓參考電路,該電路適用於在其 一輸出端處提供一參考電壓,該參考電壓藉由所產生之 CTAT與PTAT電壓之組合而被提供,該CTAT電壓由一順向 偏壓電晶體之一基極_發射極電壓提供,且該pTAT電壓由多 倍(multiPle)AVb4壓提供,每一 電壓藉由一對以不同 電流雄、度操作之雙極電晶體而產生,該pTAT電壓藉由在— 放大器之一輸出端處提供之整個單一電阻器上施加之電流 單獨界定。 ^
本發明之另一實施例提供一能隙電壓參考電路,該電路 具有一具有第一及第二輸入節點之放大器,且在其一輸出 端處提供—參考電屢’每-輸人節點被搞接至具有至少兩 個電晶體之鏈中中該等電晶體經組態使得第_電晶體 之舍射極耗接至s二電晶體之基極H晶體之發射極 耦接至該放大器之輸入端,且每一電晶體之集極耦接至一 參考電位,且其中-第鏈中之彼等電晶體適用於以一第一 電流密度操作,且第二鏈中之彼等電晶體適用於以第二不 同之電流密度操作,使得第—與第二鏈中之電晶體間之基 極-發射極電壓中之差異被提供,該差異等於多倍△、,二 藉由在耦接至該放大器之輸出端之整個單獨負載電阻器上 提供之電流產生。 本發明之另一實施例接供_、、西危么h 貝犯W杈仏/皿度參考電路,該電路包括 -放大器,該放大器在其非反相輸入節點處具有以 流密度操作之至少一雙極電晶體’且在該放大器之 與其反相輸人節關之—反饋迴路巾具㈣㈣接至該非 98674.doc -13· 1271608 反相輸入端之電晶體之電流密度更低之第二電流密度操作 之至少一雙級電晶體,使得歸因於耦接至該等兩輸入端中 之每一者之該等電晶體之電流密度中之差異,在該放大器 之輸出端處反映一 ,且其中耦接至該放大器之該等輸 入節點中之每一者之電晶體由PTAT電流加以驅動,使得所 發展之AVbe電壓對溫度敏感,藉此提供一適用於提供一溫 度之量測之電壓參考電路。 參考為本發明之例示性實施例且不希望被理解為以任何 方式加以限制之下列圖式,可更好瞭解本發明之此等及其 它特徵。如熟習此項技術者所瞭解,可在不偏離本發明之 精神及範嘴之情況下對以下描述之例示性實施例做出修改 及改變。 【實施方式】 已參考圖1描述了先前技術。 圖2為根據本發明之一能隙電壓參考之實例。 該電路包括一根據標準技術之放大器八丨,該放大器適用 於保持其兩輸入端(一反相及一非反相輸入端)大體上處於 相同位準。熟習此項技術者將熟知一放大器之操作,且為 簡潔起見,在此將不作解釋。一第_Q1、第二Q2及第三Q3 電晶體被耦接至該放大器之非反相輸入端,且一相應組之 二個電晶體Q4、Q5及Q6被耦接至反相輸入端。此等組之三 個電晶體中之每一組均可看作為形成耦接至其個別輸入節 點之電晶體之鏈。每一 Q4、Q5及Q6之發射面積為Q1、Q2 及Q 3之發射面積之’’ η"倍。 98674.doc -14- 1271608 Q1、Q2及Q3經排列使得Q1之發射極耦接至Q2之基極, Q2之發射極耦接至Q3之基極,且Q3之發射極耦接至放大器 之非反相輸入端。類似地,Q4之基極搞接至Q5之發射極, Q5之基極耦接至Q6之發射極,且Q4之發射極耦接至放大器 A1之反相輸入端。每一電晶體之集極均接地。同樣,當雙 極電晶體藉由適當電流偏壓時,將自以高電流密度(Q1、 Q2、Q3)操作之雙極堆疊至以低電流密度(Q4、Q5、Q6)操 作之雙極堆疊發展基極-發射極電壓t之差異。該等對中之 每一對產生一 AVbe,且當組合時,可提供3AVbe差異。 在放大器之輸出端處,提供一第一 nMOS電晶體Ml。該 器件Μ1之閘極耦接至放大器之輸出端。Μ1之汲極耦接至二 極體連接之pMOS電晶體Μ5。在Ml之源極與另一電晶體Q7 之發射極間之一節點處提供該電路之參考電壓Vref。Q7之 基極耦接至另一pMOS電晶體M6之汲極,且越過一電阻器rl 而接地。Μ5及M6之閘極通常搞接且進一步躺接至另外三 pMOS電晶體M2、M3及Μ4之閘極,M2、M3及Μ4之源極耦 接至一電源電壓,且M2、M3及M4之汲極耦接至Ql、Q2及 Q3之發射極,藉此分別提供電流13、14及15。在Q4、Q5及 Q6之發射極處分別提供恆定電流16、17及18。 由於Q1/Q4、Q2/Q5及Q3/Q6之發射面積間之個別差異, 在整個rl上(across)反映三個AVbe之差異。應瞭解,在該放 大器之輸出端耦接之此單獨電阻器之存在足以產生所要之 三個AVbe。結果,藉由M5及M6鏡面反射之電流II及12為 PTAT電流。類似地,被迫進入電晶體Qb Q2及Q3之電流13、 98674.doc -15- 1271608 14及15亦為PTAT電流。如上所述,被迫進入雙極電晶體q4、 Q5及Q6之電流16、17及18為恆定電流,其中該等電晶體Q4、 Q5及Q6以一比Ql、Q2或Q3低之電流密度操作。對於每一 個別對之電晶體而言,一負曲率電壓發展為該類型·· Vcurv=(kT/q)(ln(T/T0)) (4) 該PTAT電壓(3AVbe)及三個組合之曲率電壓之和兩者均 施加至整個rl上。當Q7亦在PTAT下偏壓時,該參考電壓等 於該曲率被移除時之VG0。 應瞭解,藉由堆疊三對電晶體於該放大器之該等輸入引 線中之每一者上產生一3AVbe電壓,且藉由偏壓該等以具有 PTAT電流之高電流密度操作之三個雙極電晶體,及偏壓該 等以具有恆定電流之低電流密度操作之雙極電晶體,可在 該電路内發展一内部曲率校正機制。 亦應瞭解,該放大器之偏移電壓僅在整個rl上反映,且 當rl在該放大器之輸出端上時,此偏移電壓不藉由放大器 產生或放大。 圖3顯示本發明之技術之另一實施例。在此實施例中,提 供一兩級放大器,且圖2之技術使用一不平衡對之橫向雙極 電晶體來實施,該等電晶體提供該放大器之第一級。該第 級包括一作為整體發射面積橫向PNP型電晶體而提供之 第一電晶體Q3及為相同類型但具有一為q3之發射面積之 ”以’倍之發射面積的第二電晶體Q4。Q3&Q4兩者均使用一 PTAT電流18偏壓,該電流18通常自一外部產生之電流源提 供。该負載電晶體MN1及MN2適用於使通過Q3及Q4之電流 98674.doc 16 1271608 相等。結果,第一 Δν^被發展至該放大器之第一級中。 Q 3之基極節點相當於圖2中所示之放大器之非反相輸入 端,且兩電晶體Q1及Q2在此堆疊。Q2之發射極耦接至⑴ 之基極,且Q1之發射極耦接至92之基極。〇1及卩2中之每一 者之集極接地。 類似地,Q4之基極節點相當於圖2中所示之放大器之反相 輸入端,且兩電晶體q5&Q6在此堆疊。卩5之發射極耦接至 Q4之基極,且卩6之發射極耦接至以之基極。以及如中之 每一者之集極接地。Q5及Q6中之每一者之發射面積為Q1 及Q2之發射面積之”n”倍。 圖3之放大器之第二級藉由一nM〇s電晶體MN3提供,該 電晶體MN3藉由一電流源15驅動。MN3之汲極亦耦接至]^1 之閘極。Μ1之源極耦接至pnp電晶體q7之發射極,且此普 通節點為該電路提供輸出節點Vref。Q7之基極經由電阻器 rl耦接至地,且亦耦接至pM〇s電晶體M6之汲極。M6之閘 極耦接至以二極體連接組態提供之另一 ρΜ〇;§電晶體“5之 閘極,藉此提供一電流反射鏡之主組件。應瞭解,儘管圖3 顯不作為主組件而組態之M5,但另一配置可適當組態M6 作為主組,而M5作為輔助器件。然而,如圖3所說明,M5 之汲極耦接至Ml之汲極,藉由M5與M6之組合而提供之反 射鏡亦耦接至M2及M3,其中M2及M3接著分別耦接至Q2及 Q1之發射極。同樣,經由ri產生之PTAT電流η作為12、13 及14被鏡面反射,藉此使用一 ΡΤΑτ電流來驅動組件qi、 Q2、Q3/Q4及Ml中之每一者,但組件q5Aq6耦接至一外部 98674.doc -17- 1271608 提供之電流源,該電流源期望地提供一主要(:1^丁電流。如 上詳細描述,該第一 AYbe在整個Q3&Q4上得以發展,且另 外兩個AVbe自Q1及Q2至Q5AQ6得以發展。 在整個Ql、Q2及Q3上發展之3AVbe〇)及在整個…、仍 及Q6上發展之3AVbe(n)以一類似參看圖2所描述之方式組 合,輸出電壓具有移除之曲率組件。此實施例與圖2中之實 施例之一差異在於Q3及Q4兩者均藉由相同,較佳ρτΑτ電流 18偏壓,而圖2之實施例中,形成第三對之該等電晶體中之 者藉由一恆定電流驅動,而其它藉由一 pTAT電流驅動。 由於藉由相同類電流驅動第三冑之電晶體兩者,該曲 率效應未兀全移除。該曲線效應藉由用一主要CTA丁電流驅 動Q5及Q6加以最小化。藉由標度值之pTA1^CTAT電流驅 動Q5及Q6實現了一具有所移除之能隙電壓電路所固有之 曲率之組合之輸出。 在一側具有一橫向電晶體且在另一側具有許多橫向電晶 _ 體之該放大器之第一級之排列克服橫向電晶體之一主要缺 點或缺陷。此係關於該事實:橫向電晶體具有兩集極,一 集極連接至基板且另一集極用作為”實際”集極。因此該總 集極電流在該等兩集極之間分裂,且對於相同發射極電流 而口 κ際集極中之電流具有一較大延伸。藉由使用許多 電晶體,此效應可被衰減。應瞭解由於圖3之電路僅具有提 供於該放大器之輸入引線上之兩額外電晶體,其可用於具 有更低能淨空高度能力之應用;相對於圖2中所需之三對, 邊放大器之輸入端上之兩對之實施例需要更少淨空高度, 98674.doc -18- 1271608 但是該電路仍提供所要之3 AVbe(兩外部的及一進入該放大 器輸入對的)。此外,由於圖3之電路之輸入級係基於雙極 電晶體且在圖2中該輸入級係基於MOS電晶體,因此圖3之 電路比圖2之電路產生更少之1 /f雜訊。 圖4展示根據本發明之另一實施例。在此實施例中,該技 術以一完全雙極排列而實施且提供一經緩衝之電壓參考。
Q1及Q2以一堆疊排列加以提供,且兩者均以二極體連接 之組態被提供。類似地,q5及q6以二極體連接之組態被提 供,其中每一者之基極直接耦接至其個別集極,Q6之基極 亦耦接至Q5之發射極。電流17(其為希望作為一主要〇了八丁 電流而提供且外部產生之恆定電流源)耦接至此對電晶 體。該放大器之第一級藉由電晶體Q3/Q4/Q8/Q9而提供,其 中Q3及Q4之共用發射極耦接至一外部產生之ρτΑτ電流 18。Q3及Q4之集極分別耦接至q8&q9之集極,其中以二 極體連接之組態被提供。Q9之集極亦耦接至另一電晶體 Q10之基極,該電晶體Q10提供該放大器之第二級。卩1〇亦 耦接至-外部提供之主要PTAT電流15。以一類似於膽電 晶體纽、奶及遍之方式,圖4之雙極實施例提供—作為一 電壓跟隨器而提供之雙極電晶體Q7, Q7之發射極耦接至一 電流反射鏡之-第-電晶體Qu,使得在整個η上產生之電 流12藉由Q13而鏡面反射為14,以驅師⑽。該電晶體 叫作為-主要鏡面被提供,且提供—々接至⑺之率極之 電流12。該電路之參考電塵在⑽師之基極間之一節點處 破提供,1同樣自該放大器之第二級直接排出(㈣。應瞭 98674.doc -19- 1271608 解此組態具有一非常低之偏移敏感性,且隨著pnp雙極電晶 體Q4之數目(η)增加而敏感性減少。 圖5展示使用圖2之該電路之一仿真之結果。自此結果之 -檢查將顯而易見,在自_4〇t至約85。〇之溫度範圍(此一參 考電路之正常操作條件)中,圖2之電路展示約為〇i4mV之 總電壓變化,其對應於約為i ppm,c之溫度係數。 應瞭解’本文中參考本發明之三個較佳實施例而描述之 内谷為一能隙參考電路,該參考電路不依賴電阻器匹配或 值且具有低偏移敏感度,且提供内部曲率校正。藉由自以 高電流密度比操作之三對電晶體及以低電流密度比操作之 三對電晶體提供足夠之電壓,不需要放大該,且 同樣地,該電路中固有之任何電壓偏移亦不需被放大。本 發明之電路僅在該放大器之輸出端處提供一電阻器,且由 於在此電阻器處產生偏移,因此不存在放大。 本發明之電路使用三對電晶體以針對每一對產生一 ^ 120 mV。應瞭解,若該參考被校正曲率,則該標的能隙電 堅為、力1 · 1 5 V。若5亥參考未補償曲率,則該標的電壓為約 125 V。對於該校正之參考之情況而言,一在室溫下M5v 電壓係基於約700 mV基極_發射極電壓(CTAT)之影響且作 為PTAT組件被提供之差異。此差異為所要之為ιΐ5ν_〇·7 ν=ο·45ν之ΡΤΑΤ電壓。結果,用於一對以不同電流密度操 作之雙極電晶體之所要AVk電壓為約45〇 mV/3 = 15〇 mV。 由於AYbe自ln(n)組件(參看方程式丨)而產生,藉由簡單地縮 放以不同電流密度操作之該等電晶體之比例,不易得到大 98674.doc -20- 1271608 於mmv之值。該等電晶體對中之每一對需要約〇·8ν,且 在夕數應用中,最小電源電壓為約2·6 V,藉此界定電晶體 =最大數目為3對。為了使用僅僅3AVbe且為了使得輸出電 昼處於該3AVbe具有_效應之位準,需要將該之該產 生與-曲率校正機制組合。若曲率校正未被提供,則該輸 出電壓將為在正常操作區域中具有一約為2·5 mv之弓形影 響之約1·25 V(石夕能隙)。藉由應用曲率校正,將在不具有一 弓形影響之情況下提供輸出„,且同樣藉由該⑽^提供 之影響,加顯著。應理解,$ 了實施此-能隙電壓參考電 路於單、級% i兄中(意即僅僅具有一個放大器),需要應用 一些曲率校正或藉由電晶體之堆疊產生之電壓將不足以補 償。 應瞭解,本發明使用一放大器,該放大器在其非反相輸 入端處具有-第一堆疊之雙極電晶體,該等電晶體以第一 電机禮度操作,且本發明於該放大器之輸出端與其反相輸 7端間之一反饋迴路中提供一第二堆疊之雙極電晶體,該 第一堆逢雙極電晶體以低於第一堆疊之電流密度之第二電 離孩、度操作。歸因於該等兩堆疊之電流密度中之差異,一 ^強之AVbe在δ亥放大器之輸出端處被反映。此p丁AT電堡在 耦接至該放大器之輸出端及一參考電位(通常為地面)之整 個電阻器上得以發展。若此PTAT電壓被添加至一平衡CTAT 電壓,可提供一對溫度敏感之電壓參考。然而,若該ρτΑτ 電壓未與一平衡CTAT電壓疊加或組合,則在整個電阻器上 發展之電壓對溫度不敏感-該電壓AVk直接與溫度波動相 98674.doc -21- 1271608 溫度感應器 Ο 關(參看方程式1)-且同樣該電路可用於提供
圖6展示如何根據本發明提供此一電路以提供一電覆參 考(即對溫度波動不敏感)及一溫度感應器(即給定關於晶片 上溫度之一輸入值)之簡化示意圖。提供一放大器,其具有 一反相及非反相輸人端。在該放大器之輸出端處,提供一 電阻器rl ’其麵接於該放大器之輸出端與地面之間。第一 堆疊二極體(Dl、D2、D3)被提供,且其輕接至該放大器之 非反相輸入端。此第一堆疊或鏈藉由一期望為一ρτΑτ電流 之電机13驅動。-第二鏈之二極體被提供於該反相輸入端 與該放大器之輸出端間之一反饋迴路中。此鏈藉由第二電 流16驅動,且其適用於以比第一堆疊之電流密度更低之第 -電流密度操作。應瞭解,相當地,適當組態之雙極電晶 體,可用於替代上文所述及說明之二極體。
在使用中,若該電路用作一對溫度不敏感之電壓參考, 則移除能隙電壓電路内在之任何曲線組件為重要之舉。應 瞭解,一 CTAT電壓提供一正曲線影響,該正曲線影響可藉 由將此一 CTAT電壓與一 ΡΤΑΊΓ電壓電流之負曲線組件相組 合來加以消除。此可藉由提供第二電流16作為一恆定電流 源來產生,使得當CTA 丁及ΡΤΑΤ電壓被添加時,每一者之曲 線組件將其他者消除。 若該電路用作溫度感應器,則不補償該電壓之溫度 變化為重要之舉。用於實現此之最簡易方法為亦作為一 ΡΤΑΤ電流而提供16,且期望使13 = 16。應瞭解,在作為一 溫度感應器之該實施例中,每一鏈中之二極體之數目取決 98674.doc -22- 1271608 於所要之標的PTAT電壓可為1、2、3或更大。應理解,當該 電路用作對溫度不敏感之電壓參考時,則當藉由一相當 CTAT電流平衡該PTAT電流時,所產生之△vbe為一適當足 夠高之值為重要的。然而,在其中該電路被用作為_溫度 感應器之貫例中’其不如此關鍵,且每一鍵中之二極體或 雙極電晶體之數目可取決於應用而加以選擇。進一步應理 解’當用於溫度感應器實施例中時,若兩電流13及16為外部 產生的’則對電阻器r 1之需要可消除。歸因於反饋迴路中 之二極體之提供,一倍或多倍之AVb〆依每一堆疊中之二極 體之數目而定)仍將產生於該放大器之輸出端處,藉此提供 用於監控溫度之所需要之訊號。 應理解,本發明已參考雙極電晶體之一特定PNp組態而 加以描述,且不希望本發明之應用侷限於此等組態。如熟 習此項技術者所瞭解,組態中之許多修改和改變可藉由以 NPN架構及其類似物之實施來達成。類似地,當以一ηΜ〇§ 或pMOS組態提供電晶體時,應瞭解,可在不偏離本發明之 精神及範疇之情況下完成修改以用於更改在每一組態中提 供哪一電晶體。此外,當本發明以一雙極實施例而描述時, 應瞭解,可藉由使用CMOS方法藉由使用塑料組件及其類似 物來提供此一實施例。應瞭解,本文中已描述了根據本發 明之一能隙電壓參考之例示性實施例。特定組件、特徵及 值已用於详細描述該電路,但不希望本發明以任何方式被 限制’除鑒於附加專利申請範圍認為是需要限制的之外。 類似地,當用於此說明書中時,所包含之該等字詞用於 98674.doc -23- 1271608 指定所述特徵、整數、步驟或組件之存在,但不排除一或 多個其它特徵、整數、步驟、組件或其群之存在或添$ " 【圖式簡單說明】 υ。 圖1為在CMOS技術中所提供之一能隙電壓參考電路之 典型先前技術組態之一實例; 圖2為根據本發明之一第一實施例之電路之一實例· 圖3為根據本發明之第二實施例之電路之一實例· 圖4為根據本發明之第三實施例之電路之一實例;
圖5為圖2之電路之效能之一仿真,其展示輸出參考電壓 圖6為展示使用二極體堆疊之本發明之實施例之—一 圖。 【主要元件符號說明】 A1 放大 器 Dl、D2、D3、D1、 D2、 D3 二極 體 11、12、13 > 14 ^ 15 電流 16、17、18 恆定 電 流 Ml、M2、 M3、M4 、M5 、M6 電晶 體 mnl、mn2 、mn3 負載 電 晶體 Q1、Q2、Q3、Q4、 Q5、 Q6、 Q7 電晶 體 、Q8、Q9 、Q10、Qll、 Q12、 Q13 rl、r2 電阻 器 98674.doc -24-

Claims (1)

1271608 、申請專利範圍: 一種能隙電壓參考雷& # ,八匕括一具有第一及第二輸入 即”、、 ^,且在其一輸出端處提供一參考電壓,此 外’該電路包括至少 兩對電日日體,每一對電晶體均具有 ^用於在-與該對之_第二電晶體之電流密度不同之 密度下操作之第-電晶體,使得在使用中,在每一 對之為等兩f晶體之間產生基極_發射極電壓中之一差異 △Vbe ’且其中該等對經排列使得彼等具有—第—電流密 度f電晶體提供於—㈣至該第—輸人節點之鏈中,且 彼等具有該第二電流密度之電晶體提供於一耦接至該第 ;輸入即點之鏈中’藉由每-對提供之該AVbe之組合在 口亥放大$之_輸出端處對—增強之產生影響,該增 強之W在提供於該放大器之該輸出端處之-整個電阻 器上產生。 •如明求項1之電路,其中提供三對電晶體,該等對中之每 -對產生-Δν^組份,使得在該放大器之該輸出端處之 谷亥整個電阻器上產生之該增強之等於。 3· 士哨求項2之電路’其進一步適用於藉由驅動在該第一電 流密度下以與絕對温度成比例(PTAT)之電流操作之該等 三個電晶體,及以一恆定電流操作之該等另外三個電晶 體來產生一曲率校正電壓,該曲率校正電壓之和及該 3 AVbe兩者均施加至該放大器之該輸出端上之該整個電 阻器上,藉此校正與該能隙電路相關聯之曲率,且提供 一對溫度不敏感之電壓參考輸出。 98674.doc 1271608 2求項3之電路’其中該PTAT電流藉由鏡面反射在該放 為之為輪出端上之該整個電阻器上界定之該電流而產 ^以驅動在該第一電流密度下操作之該等電晶體中之 每一者。 月求員1之電路,其中該等電晶體中之每一者提供於一 M〇s製程實施中。
“曰求員2之電路,其中該等對電晶體中之二對使用雙極 &體來形成,且該第三對使用橫向電晶體來形成。 月求員6之電路’其中該第三對提供該放大器之一輸入 月求員7之電路’其中該第三對提供該放大器之一非對 稱輸入級。 9. T請求項7之電路,其進—步包括—對㈣至該第三對電 :體之負载電晶體,該等負載電晶體適用於使通過該第 三對電晶體之該等電流相等。 1〇·如請求項7之電路,其中該第三對電晶體均藉由-PTAT 電流來驅動。 ^項1G之電路’其中所提供之該PTAT電流在該電路 之外部產生。 俗 12·項9之電路,其中該放大器之-第二級係藉由-由 /TAT電流源驅動之则電晶體來提供,該则 係搞接至該等負載雷a,φ 體 貝戟電曰曰體中之一纟,且該等電晶體中之 一者之集極形成該第三對電晶體。 13 ·如請求項1之雷, γ匕括一在該放大器之該輸出 98674.doc 1271608 端處提供之MOS電晶體,該M〇s電晶體藉由一ρτΑτ電流 來驅動,該MOS電晶體之該基極直接搞接至該放大器^ 該輸出節點,且該發射極節點提供該電路之一輸出。 14.如請求項13之電路,其中該刪電晶體之該源極叙接至 —雙極電晶體之該發射極,該雙極電晶體之該集極耦接 至一參考電纟,且該雙㈣晶冑之該基極輕接至該電阻 器。
如請求項2之電路,其中該等三對電晶體中之每一對係以 一雙極組態加以提供,該第三對提供一放大器之一輸入 級,該放大器具有一輸出節點,該輸出節點耦接至一以 一電壓跟隨器組態提供之雙極電晶體,且其中該電壓參 考提供於該放大器之該輸出端與該電壓跟隨器間之一節 點處。 16.如請求項2之電路,其冑一步適用於在該放大器之該輸出 端處提供一指示如在該電路上感測之溫度之電壓,藉此 提供一溫度感應器,指示該溫度之該電壓藉由用與絕對 溫度成比例(P TAT)之電流來驅動該第一及該第二鏈之電 晶體中之每-者來實現,該3Λν』用至該放大器之該輸 出端上之該整個電阻器上,藉此在一輸出節點處提供一 指示器件上之該溫度之電壓。 η•-種能隙電壓參考電路,其適用於在其—輸出端處提供 一參考電壓,該參考電壓藉由所產生之對絕對溫度(ctat) 及ΡΤΑΤ電壓之補償之組合來提供,該CTAT電壓藉由一順 向偏壓電晶體之一基極-發射極電壓提供,且該ρτΑτ電壓 98674.doc 1271608 藉由多倍^電壓提供,每一^電壓藉由一對在不同電 流密度下操作之雙極電晶體產生,該PTAT電壓藉由一在 一放大器之一輪出端處提供之一整個單一電阻器上應用 之電流單獨界定。 18.
19. -:能隙電壓參考電路’其具有一具有一第一及第二輸 入即點之放大器’且在其—輸出端處提供—參考電壓, 每一輸入節點均耗接至具有至少兩電晶體之—鏈,該等 電晶體經排列使得—第一電晶體之發射極箱接至一第二 電明體之基極’该第二電晶體之發射極耦接至該放大器 之该輸入端,且每一電晶體之集極耦接至一參考電位, 且其中一第一鏈中之彼等電晶體適用於在一第一電流密 度下操作’且—第二鏈中之彼等電晶體適用於在一第二 不同電流密度下操作,使得在該第一與該第二鏈中之電 晶體,之基極·發射極電壓中之—差異被提供,該差異等 於-多倍^,且係藉由在耦接至該放大器之該輸出端 之-整個單獨負载電阻器上所提供之該電流產生。 -種溫度參考電路’其包括一放大器,該放大器在其非 反相輸入節點處具有至少一可在一第一電流密度下操作 之雙極電晶體’且在該放大器之該輸出端與其反相輸入 節點間之-反饋迴路中具有至少一可在—低於輕接至該 非反相輸入端之該電晶體之電流密度之第二電流密度下 刼作之雙極電晶體,使得歸因於耦接至該等兩輸入端中 之每—者之該等電晶體之電流密度中之差異,在該放大 器之該輸出端處反映H,且其中㈣至該放大器之 98674.doc 1271608 該等輸入節點中之每一者之該等電晶體藉由pTAT電流來 驅動,使得所發展之該電壓對溫度㈣,藉此提供 一適用於提供一溫度量測之電壓參考電路。 20. 士叫求項19之電路’其中兩個或兩個以上電晶體以一耦 接至該放大器之該等輸入節點中之每一者之堆疊排列而 提供,每一堆疊中之該等電晶體間之電流密度中之差異 在该放大器之該輸出端處產生一增強之。 21. 如請求項19之電路,其中該等pTAT電流係在該電路外部 產生。 22·如請求項19之電路,其中該等ρτΑτ電流在該電路内被内 4產生,忒AVbe在耦接於該放大器之該輸出端與一參考 電位間之一整個單獨電阻器上得以發展。 23·如請求項20之電路,其中該增強之AVbe作為一 ρτΑτ電壓 在耦接於該放大器之該輸出端與一參考電位間之一整個 單獨電阻器上得以發展。
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