TWI249945B - A scanning module and scanning method - Google Patents

Description

1249945 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種掃描模組與方法，尤指一種將照明與成像之 共同光路以縮小體積的掃描模組，並藉由偏極板進行據光 1曰物細_質，錢—柯達_錄軸狀「投影 抱j 〇 【先前技術】 t 化的財已經在日_異的馳發展下強力且快 以f 來’在每年的電腦展、電子化大展等_容裡，可 二非u確地體會到每個展覽皆較前_個展覽技術更新、價格更便 便。因著上述的，即造成前述加速整個社會電子化 / 即因著電子產品的科技進化已到了幾乎是人人时 度，所以才會在近幾年問航％ 技結晶達到極高的生活水;：===作上，都可以利用這些科 經掃描後電子化。r為糊掃罐現有的影像 並行不,障的。 ，數位相機與掃描器各有其不同的應用而 然’請參考圖-績圖—B所示，傳統的掃描器在體積與耗能上 1249945 ——_, :: ’修，φ正^ .'η. 了.：ζ 」 仍然有可以發展的空間。如圖_A所示，係_習知技術的立體圖式。 一掃描器11係大概包括-掃描器本體15、一光學照明模組12、一文件 承載透鏡13、二導桿14 一電源供應n 16與—光罩17。該光學照明模 組12係-長條型，内有-長條型光源⑵。該電源供應器⑹系供應光 學照明模組12的電力，且藉由該二導桿M的導引，造成對該文件承載 透鏡13上的待掃描文件(圖中未示)進行影像的掃描。該光罩^係在掃 描進行時覆蓋在文件承載透鏡13上，除可以固定待掃描文件外，亦可 以防止掃描時有雜光進入掃描範圍而影響清晰度與對比度。請參關 一B所示，係該習知技術的側視圖。光學照明模組12中的一光源i2i 發出光路，照射在文件承載透鏡13上的待測文件後，再反射至光學照 明模組12之-第-反射鏡⑸、第二反射鏡153、第三反射鏡155，最 後經由一透鏡157而至一CCDl59。光學引擎12是可以自圖之左方移動 至圖之右方，以進行對文件的掃描。然，就以上所述，得知習用技術 中因著光學引擎12形狀成長方體狀、且CCD159係為一「線性」影像 擷取模組，因此需要驅動使光學照明模組12連同CCD159由文件承載 透鏡13的最左側移動至最右側，以便擷取整個「平面」的影像。相對 地在該掃描器本體15之内部會需要較大的空間，尤其以長、寬、高中 的咼方面的尺寸，因為長與寬的尺寸係為配合各種不同的掃描尺寸， 所以十分地佔空間。尤其，該光源121 (通常是螢光燈管）的長度必 須與文件承載透鏡13的橫向寬度相同，過大過長的光源121不僅佔空 間且更耗電，確實有進一步改進之需要。 以圖一A與圖一B所示的實施例中，光源12丨發出的光照射到文 件承載透鏡13，再反射至第一反射鏡ι51、第二反射鏡153、第三反射 鏡155 ’最後至透鏡157與CCD159。在這段光程中，或許因為遮光機 構的設計不良，將使部分光源121所發出的光直接散射至CCD159，而 Ι24·5: ! ^4 7； .日修環)正替換頁 質5本= 計將反射光中的雜質去除，以得到純化的光 貝將疋本發明另一個探討的重點。 糾’由於所有f_掃髓均顧峡絲長的光學設計方 射鏡、透鏡與CCD的位置均固定，因此也只能掃_ 尺寸之待知描原稿，例如A4、八3或其他尺 置該文件承載透鏡13上才有可能 气來tir◎並不能藉由變更掃描焦距（也就是改變光程長）的方 ^進仃g。而如何在财絲掃姆與 ΓΓ歎綱彳酬，蝴__目紅彳= 田」將更為本發明之再另一個探討重點。 【發明内容】 以較與方法，其第一目的係提供—掃描模組， J的功率沩耗篁與較小的體積進行掃描。 本發明之-種掃描模組與方法，其第二 紐計將掃描後的反射光進行與 知描後影像輸出的效果。 州乍用以增加 本發明之-種掃描模組與方法，其第三 可以使用較低成本線性掃減組以「投影/=、—~描模組， 範圍，進而達咖數位相機的功效。〜細」的方式掃描較大的 t上述之目的’本發明提供一種掃描模組與方法 成且包括：-光源、-第-胁板、—四分之—波長片、—光學 1?4#945日修(豕)正替換頁 t.'f _______________________________ _______ 單元、一影像感測裝置和一第二偏極板。該光源可以產生具有一第一 極性和-第二極性之雙極光，第一偏極板設置於該光源前並且只能通 過第一極性光。四分之一波長片將第一極性光的極性偏轉四分之一， 之後光學單元使偏轉後之第-極性光照在一欲掃描的物件處，並且由 四分之一波長片再次將反射光偏轉四分之一以轉換為第二極性光，並 入射至影像感測裝置以獲得該物件的影像。第二偏極板設置在光學單 π和影像感測裝置之間，且其只允許第二極性光通過，因此可隔絕該 光源對該影像感測裝置的影響。 以及該方法，包括下列步驟： 利用一光源發出光線，該光線含有相差二分之一相位的一第一極 性光和一第二極性光； 以一偏極板濾除第二極性光，僅剩第一極性光； 將第一極性光投射至欲掃描的物件處，擷取該物件的影像並且經 一轉換手段將第一極性光投射轉換成第二極性光反射至一影像感測 裝置； 該影像感測裝置接收第二極性光以獲取該物件的影像。 為進一步對本發明有更深入的說明，乃藉由以下圖示、圖號說明 及發明詳細說明，冀能對貴審查委員於審查工作有所助益。 【實施方式】 請參閱圖二所示，為本發明之掃描模組的第一較佳實施例。該 掃描模組，包括有：一光源21、一第一偏極板22、一光學單元29、一 反射鏡25、一影像感測裝置28和一第二偏極板27。光源21(在此較佳 1249945 實施例中，光源21其係由複數個LED組合成一線型光源，但亦可是其 他線型光源），光源21可以產生一雙極光，雙極光具有一第一極性和 一第二極性之光，其中第一極性光為p極化光、8極化光其中之一，第 二極性光也為P極化光、S極化光其中之一而且第一及第二極性光相差 二分之一相位。 第一偏極板22設置於光源21前且只允許第一極性光通過，當雙極 光通過第一偏極板22時，此時第二極化光將被隔絕，只允許第一極化 光通過，第一偏極板22為P極化或S極化之平板型偏極光束分光器 (Polarize beam splitter)或是P極化或3極化之稜鏡型偏極光束分光器 (Polarize beam splitter)其中之一。光學單元29會使第一極性光照在一 欲掃描的物件26處，並且將反射光轉換為第二極性光入射至影像感測 裝置28。光學單元29由一透鏡23和一四分之一波長片24所組成，兩者 皆設置在第一極性光的光學路徑上，透鏡23可將第一極性光聚集在一 欲掃描的物件26，四分之一波長片24可以將通過的光線位移四分之一 相位。 影像感測裝置28，接收第二極性光，以獲得物件26的影像。第二 偏極板27設置在光學單元29和影像感測裝置28之間，第二偏極板27 只允許第二極性光通過，第二偏極板27為P極化或S極化之平板型偏極 光束分光器或是P極化或S極化之稜鏡型偏極光束分光器其中之一。 在此較佳實施例，定義第一極性光為S極化光，第二極性光為p 極化光，然而亦可將第一極性光定義為P極化光，第二極性光定義為s 極化光。本發明之掃描模組作動時，光源21發出含有p極化光和3極化 光之光束，光束先穿透過第一偏極片22,藉由第一偏極片22的偏光特 性，會將p極化光濾除，僅剩S極化光可通過第一偏極片22，而S極化 光通過透鏡23，透鏡23可使S極化光聚焦並繼續通過一四分之一波長 1249945 片24。當S極化光通過該四分之一波長片24時，S極化光會經四分之一 相位的轉換’此處以S代表。此處之透鏡23與四分之一波長片24立位 置可互相調換，其達成之功效是相同的。然後，具s，極性的光會繼續 4進至反射鏡25 ’以改變光進行的方向至一待掃描物件26處。在攫取 待掃描物件26的反射影像後，具有S’極與待掃描物件26反射影像的光 會再次通過原四分之一波長片24，因此，§極化光總共會改變二分之 一相位，轉變為P極化光，然後通過透鏡23與第二偏極片27，進入影 像感測裝置28。此時進入影像感測裝置28的光已經是單純的p極化 光。利用上述的第一偏極片22和第二偏極片27的偏光性，使得影像感 測裝置28不會受到光源21所發出之散射光的影響，可以使得兩者在有 限的空間内可以設置在一起或是設置在鄰近位置以達到節省空間之 功效（亦即，光源21的尺寸大小可以縮小成跟影像感測裝置28相同或 類似尺寸），亦可確保影像感測裝置28不會受到光源21的影響。此外 若是本發明之掃描模組實施於一掃描器時(圖未示），光源21發光面積 不需要配合掃描物件的尺寸，可以藉由透鏡23的光學特性將光源投射 範圍放大，以達到縮小光源體積之功效，此外，經由第一偏極片22、 四分之一波長片24與第二偏極片27所過濾、變換相位的光，主要係將 光中所含的雜訊與不同的波長過濾與轉換，因為這些雜訊與不同的波 長會影響掃描後影像輸出的品質，尤其是第二偏極片27所作用的是僅 容許P極化光可以進入，其它的光波全部擋下，故具有純化的作用。 由此’本實施例可適用於工程上需要極高解析度的領域。 請參閱圖三所示，為本發明之掃描模組的第二較佳實施例。掃描 模組包括有··一光源21、一第一偏極板22、一光學單元29、一旋轉反 射鏡25a、一影像感測裝置28和一第二偏極板27。在此較佳實施例中 與第一較佳實施例不同點在於此實施例中的旋轉反射鏡25a為可旋轉 10 1249945 ΓΤΐ :二替撗頁 之反射鏡，設置在第-極性光的絲路徑上，且可受—驅姆置 中未示）所驅動而以-適當速率做—旋轉位移。使得第—極性光入二 至旋轉反射鏡25a的入射角隨著旋轉反射鏡仏之旋轉位移而改厂 設當旋轉反射鏡25a初位置處時，第—極㈣經過时之_又 24後’轉換為S，極性的光’人射角為θ卜由於在光學原理上，同一 平面上反射角度為人射歧，所以s，極性的光投射在祕，但是當旋 轉反射鏡25a在Z2位置處時’入射角為θ2，s，極性的光投射在物件γ 處’隨著旋轉反射鏡25a的位移，可以改變掃描位置，上述的動作原 理可以達到藉由「線性」影像擷取模組（例如f見於制平 與 掃描器上之CCD等）來進行「面」的影像掃描工作，並增加掃描範^ 因此，藉由本發明之獨特設計，使用者將不需移動本發明之掃描模 組’只需將掃麟組固定在某—定餘置，藉_減賴旋轉便可 進行位於另一特定位置上之待掃描物件26的影「面」像掃描工作，而 係為一「投影式」之掃描效果。其他的作動原理則如同第一較佳實施 例所述，在此不加以贅述。 清參閱圖四，為本發明之掃描模組的第三較佳實施例。掃描模 、、且包括有·一光源21、一第一偏極板22、一透鏡23、一四分之一波長 片24、一影像感測裝置28和一第二偏極板2%。在此較佳實施例中與 第一較佳實施例不同點在於此較佳實施例具有不同配置位置以及第 二偏極板27a除了允許p極化光通過外，亦可將8極化光依照3極化光的 入射角度將其反射，使其通過透鏡23和四分之一波長片24至物件26 處。在攫取待掃描物件26的影像後，反射的光會再次通過原四分之一 波長片24 ’此時由於s極化光通過四分之一波長片24兩次，因此，s 極性光會改變二分之一相位，轉變為P極性光，然後通過透鏡23與第 二偏極片27，進入影像感測裝置28，影像感測裝置28即可獲得物件的 11 1249945 / r 影像。相同地，於此實施例中，該影像感測裝置28也可為一「線性」 影像擷取模組，而反射鏡25也可加裝驅動裝置使其旋轉而掃描物件％ 之「面」影像。 請參閱圖五所示，為本發明之掃描模組的第四較佳實施例。掃描 模組包括有：一光源21、一第一偏極板22、一光學單元29、一旋轉反 射鏡25b、一影像感測裝置28和一第二偏極板27。在此較佳實施例中 與第二較佳實施例不同點在於該旋轉反射鏡25b為一六邊形的反射鏡 面以及增加一校準透鏡50。該旋轉反射鏡25b且以一適當速率做轉 動，使得第-極性光人射錢轉反射鏡25b的人射舰雜轉反射鏡 25b之位移而改變，以進行「面」之掃描。該校準透鏡5⑽來校準旋 轉反射鏡25b轉糾人射肖度的非線性，以制較為線性之入射角 度’峨取一大面積的掃描顧。藉由此種技術，可使本發明之掃描 模組具有類似「數位攝影機（Digital Vide〇)」的功能。亦即，該具 有/、邊形反射鏡面（亦即有六個鏡面）的旋轉反射鏡2兄，其每一鏡 面在旋轉的過程中便會對某—特定的「面」進行掃描—次，並藉由影 像感測裝置28 (可為-「線性」影像擷取模組，例如一般平台式光學 掃描器常用之CCD)擷取該「面」之影像。如此一來，當^反射= 25b以特定速率朝同一方向持續轉動，例如每秒鐘旋轉三圈，則該影 像感測裝置28將每秒重複擷取該「自」影像18次。如此便可獲得該「面」 ^ (Digital Video) , ' 相較於習用技術之「平台式光學掃描器」僅能操取平面靜態掃描影 像、以及習用技術之「數位攝影機」必須使用高成本之「二維（面） 影像擷取肋」，本發僅姻「雜」影賴取模_可獲得「數 位攝影機」之動態攝影功能，其進步性確實不容懷疑。 請參閱圖六A所示，係本發明之光源第一較佳實施例。其中，係 12 1249945 厂一：；： ^7.-7 一LED晶粒模組31包括一LED晶粒叢311、一LED晶粒座313(圖中未 示)與一外殼315。每一LED晶粒叢311係由複數個LED所形成的，以 乓加強冗度。且因著LED晶粒叢311的光強度較一般光源為亮，故led 晶粒模組31的體積會較傳統的光源為小。圖六B所示係本發明之光源 第一較佳實施例側視圖。其中，每一個LED晶粒叢311皆植入LED晶 粒座313中，以求固定，並有電性連接至電源(圖中未示）。 請參閱圖七所示，係本發明之光源第二較佳實施例側視圖。本實 施例係第一較佳實施例之改良結構，其中，除了-LED晶粒改良模組 41包括-LED晶粒叢41卜-LED晶粒座413、一外殼415，更包括一 燈罩417。上述前三項元件其功能與第一較佳實施例的三元件相同， 然該燈罩417係一具有聚光的作用的表面，因燈罩417之表面係具有數 個凸面鏡平均分佈在每一個LED晶粒叢411對應位置，以強化每一個 led晶粒叢所發出光的均勻效果。 π參閱圖八所示，為本發明之方法其步驟包括如下： 步驟81:利用一光源發出光線，該光線含有相差二分之-相位的—第 一極性光和一第二極性光(Ρ極化光和S極化光）； ^ 以偏極板濾除第二極性光，僅剩第一極性光； ν驟83將第一極性光投射至欲掃描的物件處，操取該物件的影像並 ^經-轉換手段將第—極性光投㈣換成第二極性光反射至一影 像感測裝置； 〜 v:.衫像感測裝置接收第二極性光以獲取該物件的影像而該影 =像装_—電荷搞合裝置或是-CMOS檢測器。 該四換手段是利用一四分之一波長片’讓第一極性光通過 輕Μ娜錄件處’並且反射之光再讀職四分之— ,，使得第—極性光改變二分之-相位，轉換成第二極性光再送 13 I2S49945 ε;修(吏)正替換買 至影像感測裝置。 請參閱圖九所示，為圖四之第三較佳實施例立體示意圖式。經由 第二偏光板27a可直接將光源反射至待掃描物件26且具有將極性分離 的特性’加上透鏡23的聚焦與放大的作用，所攫取到的待掃描物件26 的影像，不但解析度高(係依據傅立葉光學理論；Fourier Optics Theory， 相同幾何光學架構下，偏極光的成像解析度高於非偏極化光的成像解 析度）’且可掃描的影像將不限於傳統掃描之1:1的比例；又因著偏極 化(即極性分離)的效果，影像愈加純化。本實施例可應用於掃描較大 物件，其原理如同投影機般，可進行甚至三公尺以上距離之物件的影 像掃描’且掃描尺寸不受關，甚至可能大至數公尺長寬之尺寸（當 然需有足夠光源亮度與投影距離、或是在適當環境例如暗房等），而 此種「投影式掃描」確實是所有習用技術所不及者。 請參閱圖十所示，本發明之掃描模組第五較佳實補。掃描模組 包括有：-光源9：1、-影像感測裝置92、一透鏡單元93和一反射鏡％。 光源91可產生光束並具有—隔離罩川以非封閉式環繞光源的四 周，離罩具911有一開口912，使得光束透過開口912以一第一光學 路徑96仃進’且透鮮元93位於第_光學職％上，並且將光束聚集 和利用反概94將光束反柩欲翻的物件轉，並且產生練物件 射光，該ΐ射光以—第二光學路徑97行進。影像感測裝置 2 —光轉徑97上以接收該反射光，喊得物件95的影像。 其中，影像❹m魏藉賴_物m 影響，因此不需偏極板與四分之_波長片之設置。一制裝置 :本發_實關’可知本發明在結構與體積方面，都有較以 二不同崎鱗；在採崎細雜與綠 大膽概念’更贿t咖咐蝴觸㈣1= 14 1249945 d u 的佳作。因此，綜上所述，本發明之結構特徵及各實施例皆已詳細揭 示，充分顯示出本發明案在目的及功效上均深富實施之進步性，極具 產業之利_值，且為目前市面上前所未見之朝，依專利法之精神 所述，本發明案完全符合新型專利之要件。 唯以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以之限定 本發明所實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍所作之均等變化 與修飾，皆應仍屬於本發明專利涵蓋之範圍内，謹請貴審查委員明 鑑，並祈惠准，是所至禱。 【圖式簡單說明】 圖一 A係一習知技術的立體圖式。 圖一 B係該習知技術的側視圖。 圖二係本發明之掃描模組的第—較佳實施例。 圖三係本發明之掃贿組的第二較佳實施例。 圖四係本發.掃鑛_第三触實施例。 圖五係本發明之掃賴_第啸佳實施例。 圖六A係本發明之光源第—較佳實施例上視圖。 圖六B係本發明之統第—健實細側視圖。 圖七係本_之統第二她實躺側視圖。 圖八係本發明之方法流程圖。 圖九係為圖四之第三較佳實施例立體示意圖式。 圖十係本發明之掃描模_第五她實施例。 1249945 【主要元件符號說明】

11掃描器 12光學引擎 121光源 13文件承載透鏡 14-導桿 15_掃描器本體 151-第一反射鏡 153-第二反射鏡 155-第三反射鏡 157-透鏡 159-CCD 16- 電源供應器 17- 光罩 21- 光源 22- 第一偏極板 23_透鏡 24- 四分之一波長片 25- 反射鏡 25a、25b-旋轉反射鏡 26- 待掃描物件 27- 第二偏極板 28_影像感測裝置 29-光學單元 31-LED晶粒模組 I2j9g45i日雜)正替換頁 311-LED晶粒叢 313-LED晶粒座 315-外殼 41 -LED晶粒改良模組 411-LED晶粒叢 413-LED晶粒座 415-外殼 417-燈罩

91- 光源 911- 隔離罩 912- 開口 92- 影像感測裝置 93- 透鏡單元 94- 反射鏡 95- 物件 96- 第一光學路徑

97- 第二光學路徑 步驟81〜步驟84-本發明方法的步驟 17

Claims (1)

1249945 •7 十、申請專利範圍： 1· 一種掃描模組，係包括： 一光源，可以產生雙極光，該雙極光束 極性之光； 來、有第-極性和-第二 -第-偏極板’設置於該光源前並且只能通過第—極 一=第使一欲掃描的物件處™^ 光轉換為第一極性光入射至影像感测裝置r 置’細第：錄光，蝴鳩 -第二偏極板’設置在該鱗單砂該影像_之 二偏極板只允許第二極性光通過； 之門δ亥第 其中，該影像感峨置藉㈣—及第二偏極板 影像感測裝置的影響。 2. 如申請項所述之掃_且，其 極性光相差二分之一相位。 _九和第一 3. 如申請專利顧扪項所述之掃描触，其 -透鏡，設置在該第-極性光的㈣疋干早疋包括有 聚焦於掃描的物件處。糾于路徑上，使得該第—極性光可 4. 如申請專利範圍第3項所述之掃描模組，其中， 一四分之—波長片’設置麵-極性光的光學路徑上Γ該:之一 波長片可將通過之光進行四分之一相位轉換。 ㈣刀之 5，如申請專利範圍第4項所述之掃描模組，其中，該反射光亦會再欠 ^過該四分之-波長片以成為第二極性光後再進人該影像感測裝 6.如申料概_韻述之掃域組，其巾，所述之偏極板為ρ 極化或S極化之平板型偏極光束分光器或是p極化或§極化之棱鏡型 18 偏極光束分光it其中之-，且第二偏極板與第—偏極板的極性不 同。 7·如申請柄細綱所叙掃描触，射，_尺寸與設 置位置係接近於影像感測裝置。 8. 如申請專職㈣1獅述之聽池，其巾，該光_至少一個 發光二極體所組合成的。 9. 如申請補顧第1項之掃描模組，射，該光職為一線型 光源，且該雙極光包括有一p極光與_s極光。 10. 如申請專利範圍㈣所述之掃描模組，其中，影像感測裝置包含 有電荷耦合裝置或CMOS sensor。 η.如申請專利範圍第4項所述之掃描模組，其中，該光學單元更包括 有:旋轉鏡片，設置在第-極性光的光學路徑上，可改變該第一極 性，入射角度，使得該第一極性光射向隨著入射角度變化而改變影 像掃晦範圍，因此可使用「線性」影佩測裝絲擷取該物件之 掃描影傻。 」 12.如^細_U項所述之掃描模組，其中，該旋轉鏡片係為 夕邊形之反射鏡面’其可受驅動而朝—方向持續旋轉，並由 感測裝置對該物件進行「動態」影像擷取。 13^如申請專利範圍第4項所述之掃描模組，其中，該掃描模組係為「投 衫式」掃描模組。 14.如申請專利範圍第U項所述之掃描模組，其中，該絲單元更包 1有-校準透鏡’可讀正該旋轉·雜性，使得人射角度變= 季X為線性。 15·—種掃描方法，包括有·· 利用-光源發出光線，該光線含有相差二分之_相位的_第一極 19 1249945 I 性光和一第二極性光； 以一偏極板濾除第二極性光，僅剩第一極性光； 將第-極性光投射至欲掃描的物件處，娜該物件的影像並且和 -轉換手段將第—極性光投射轉換成第二極性光反射至―: 測裝置； 豕欢 该影像感測裝置接收第二極性光以獲取該物件的影像。 16.如申請專利範圍第15項所述之方法，其中，該轉換手段其係利用 —四分之-波長片，讓第-極性光通過該四分之—波長片投射至物 件處，並且反射之光再次通過該四分之一波長片傳送至影像感測裝 置。 Π.如申請專利範_16項所述之方法，其中，該四分之—波長片可 將入射光位移四分之一相位。 18一如申請專利範_17項所述之方法，其巾，該轉換手段其係利用 一四分之-波長片，讓第_極性光通職四分之—波長片投射至物 件處’並且反射之光歡通過該四分之—波長#，使得第―極性光 轉換二分之一相位。 仪如申請專利範圍第16項所述之方法，更包括一旋轉鏡片，設置在 第-極性光之-光學路徑上，可改變該第一極性光入射角度，使得 孩第極丨生光射向隨著入射角度變化而改變影像掃瞄範圍。 20·如申睛專利範圍第19項所述之方法，更包括有一校準透鏡，可以 k正該旋轉鏡片非線性，使得入射角度變化較為線性。 21·如申請專利範圍第16項所述之方法，其中，該第一極性光為愧化 光、S極化光其中之一。 22·如申請專利範圍第16項所述之方法，其中，該第二極性光為p極化 光、S極化光其中之一。 20 1249945

s修(雾)正替換頁 七、指定代表圖1 (一) 本案指定代表圖為：第（2)圖。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明： 21- 光源 22- 第一偏極板 23- 透鏡 24- 四分之一波長片 25_反射鏡 25a、25b-旋轉反射鏡 26- 待掃描物件 27- 第二偏極板 28- 影像感測裝置 29_光學單元 八、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的 化學式··