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TWI242463B - Apparatus and process for vacuum sublimation - Google Patents

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TWI242463B
TWI242463B TW092123728A TW92123728A TWI242463B TW I242463 B TWI242463 B TW I242463B TW 092123728 A TW092123728 A TW 092123728A TW 92123728 A TW92123728 A TW 92123728A TW I242463 B TWI242463 B TW I242463B
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TW
Taiwan
Prior art keywords
sublimation
temperature
vacuum
evaporation
finished product
Prior art date
Application number
TW092123728A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200507927A (en
Inventor
Shyue-Ming Jang
Sheng Yang
Bang-I Liou
Jun-Yi Chen
Long-Shuenn Jean
Original Assignee
Ind Tech Res Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ind Tech Res Inst filed Critical Ind Tech Res Inst
Priority to TW092123728A priority Critical patent/TWI242463B/zh
Priority to US10/660,715 priority patent/US7611548B2/en
Publication of TW200507927A publication Critical patent/TW200507927A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI242463B publication Critical patent/TWI242463B/zh
Priority to US11/907,548 priority patent/US20080044327A1/en

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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01DSEPARATION
    • B01D7/00Sublimation

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)

Description

1242463 欢、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於垂直式及水平式兩種高效能真空昇華設備及其方法, 適合大量製備高純度之化學品。 【先前技術】 μ隨著資訊電子業日益發達’對電子树品f之要求也愈來愈高,而影 響元件品質之时又以其所使狀化學品純度最為_,部份化學品由於 炫點高於分解溫度,_法以蒸齡加以純化。昇華純化法為—種獲得 高純度化學品之方法,可純化高溶點且具有昇華特性之化學物質,基於這 類物質之昇華特性,而以高真空加熱昇華進行純化,料過龍絕污染物 進入,在嚴格控制之操作條件下,可得到純度極高之產品以製造高品質之 電子元件。錢發光二減(⑽D)元件之製造必需個—些發光層原 # ^ : ^(8.^^4^)|g (Aluminum
Tri(S-HydroxyQ^^ , A]Qs) ^ : (Copper Ph她eyanine,_⑽)及電洞傳導層材料:Μ·雙苯基 (N,N,bispheny,NjN,b^ , 簡稱鹏)等’由於此類化學品之熔點大多高於分解溫度,因此無法使 用-般蒸齡純化’喊於其具有„之碰,喊线華法純化可 獲彳純料求龄之電子元件。 ’人生風月豆㈣什爭蒸氣,雖可降低系統真空度需求 ,但昇華 :4二3不什華之〜料’其視密度極低’容易隨惰性氣體漂流,使產品 受此㈣如染,故需設計高真空系統。此外有些原料,如⑽,其蒸 1242463 氣低’故纟、統真空度需達⑽11^,溫賴需高達6()()1,否則無法 右系統壓力太〶,則昇華所蒸發之氣體與系統中殘餘空氣相 棱將使幵華物落回蒸發槽,而形成局部蒸發冷凝循環,導致產品難以輸 出。=年麵著此學品絲量賴大,小量純化設備所生產之原料, 各批人間印時差不齊且製程產能已不符需求,目錄需設計可驗大量 生產之真空昇華純化設備。 現有專利文獻中所揭示之方法多偏重於促進昇華速率,而未顧及產品 純度,也未考叙量生錯職讀舰樣。在GLED補生產程序 中原料純度是製程成功之主要關鍵,如何獲得高純度之昇華產品,並可 大ϊ刼作,是此類設備之一大挑戰。 曰本ULVACJAPAN公司擁有之jp1〇15882〇專利,其設備可用於純 A1Q3及N,N’-雙苯基_N,N’,雙^甲基苯基)_聯苯胺 / bisphenyl-Ν,Ν-bis(3_methylphenyl)-benzidh^ 车材料其主要0又计為以惰性氣體充當導熱介質,以提升加熱之均勻度 與速率,但此方法易使產品受漂流之雜f污染且無法達到高真空度,不適 =純化低蒸氣壓之化學品,如CuPe。此外,類M_ Semi_duct〇r △司擁有之美國US5,377,429專利,揭示一種昇華裝置用於純化半導體業 之有機金屬化學品如··四—二甲基一胺鈦(她—咄福咖▲ 岳⑽[Ti(N(CH3)2)4] ’簡稱丁〇嫩丁),此裝置蒸發與凝結同於一立式 、行原料置方;底部混合陶究珠充當導熱材料,昇華槽以授拌裝置增 力傳了面積,条a上升凝結於才曹壁上方,昇華完成後再將成品刮下,此方 法在麟增加傳熱時,原㈣濺起污染產品,產品收集也不方便。日本新 曰鐵化學公司擁有之日本職〇〇937〇1之昇華設備專利,此設備用於純化 A1Q3等光電化學材料,其為一種蒸發與冷凝裝置分開之昇華裝置,並以 感應加熱方式分別控制溫度,此方法加熱效率差,無法達到高溫昇華之需 1242463 求(5〇〇C),不適合放大生產。德國Leybold-HemeusGmbH公司擁有之美 國US4,407,專利,其未指明設備適合用於純化何種產品,内容揭示二 種附有多組蒸發盤之昇華系統’在真空狀態下·盤邊吸取熱量導入盤 面’使盤面上薄層待昇華原料受熱蒸發,此種加熱法易產生盤面溫度不^ 勻之現象,產物純度不易提升。 【發明内容】 、為解決上述習知有關昇華純化技術之缺點,本發明之目的係提供垂直 空幵_備及其方法,較佳係適驗聽點低蒸氣壓材 "、I口里衣備純度高之化學品,並可解決習知技術之問題。 姊本U之目的係提供_種垂直式昇華設備,主要包含:—昇華管柱主 L原料支木,係用於放置欲蒸發之原料;一加熱蒸發裝置,係包覆蒸 μ之周1、可依不同蒸發物質控制加熱溫度使原料蒸發;-冷凝裝置r 華管柱主體之上端,可控制不同蒸發物質所需之冷凝溫 又,早"皿衣置,係用於保持蒸氣通道及成品溫度;及成品刮落裝置。 -]込原料支&之結構主要包含:數 橫桿係藉由兩_定胸〜—,、 ^ 發之原料。 、疋。該原料支架係置於蒸發管中,用以放置欲蒸 氣通:蒸氣通道保溫裝置及成品保溫裝置,其中蒸 ,七设方;瘵氣通道之出口處,以保持昇華基 :i:r 、免。P为昇華蒸氣在此處累積。 該成二置主要包含:中心軸,係用於上下移動及/或旋轉 架之下端之岐環之2^ Υ妓及織,其中該織係設置於中心支 圓周處,係用於刮落凝結於昇華管柱主體管壁之成品。 1242463 其中前述昇華管柱主體之下端係形 被成品到落裝置到落後即可落於成品储^槽中 =存槽,當凝結後之成品 其帽述垂直式昇華設備,進—步包含斷熱裳置,係以石英 似=料華管柱主體兩端及蒸發f怜離料管柱主體之_端,係 於使歼華设備内部保持一定之溫度。 、 其中前述垂直式昇華設備,進_步包含㊣ 裝置之管柱末端,並以〇型環鎖住以防止真空賴。、《置有斷熱 本發明之另-目的係提供一種水平式昇華設備,主要包含: ” 而毛g用方;連接真空抽氣系統,另一端之I总杪 -管端密封裝置,係__昇華管主二 昇華管柱主體達到-極佳之密閉性。 ^相喊官’使 其中前述原料载體係可為船型 體形狀皆可,並無特別之限制。 i型寺任何可放置原料之載 時,難㈣為職,當連接«餘域及兩端尾管 緊產型環旋轉銜接昇華管柱主體之兩端之螺紋,可以迫 種昇高效能之蒸氣收缝置’係裝設於前述兩 凝收集,使直/遠真空麵,絲凝結之_聽被低溫冷 ”王泵浦不雙污染,能長期使用不需清理。 用收集裝置’主要包含:-收集瓶’其内部填充鋼絲, “、、&冷之面積;—進氣管,伽於連接前述昇華真空設備,使 1242463 游離蒸氣導人收集瓶中;及-抽氣管,制於連接真空抽氣系統。 一本發明之再-目的係提供-種真空昇華純化方法,係用於前述垂 昇華純化設備,該方法包含下列步驟··將原料置於原料支架上·開啟直: 健抽真u啟»加錢置,使溫度朗原料昇華溫度;開啟各保^ f置,保持冷凝溫度;蒸發過程中每隔—段時間進行成品之到除收集^ 瘵發完全後降溫,將成品由成品儲存槽中取出。 本發明之另-目的係提供_種真空昇華純化方法,侧於前述水平式 昇華純化設備,财法包含刊步驟··將補置於補載射;將原料載 體置於昇華管柱主體中心、;兩端尾f旋緊密閉;開啟真空裝置抽真空;開 ,加熱蒸發裝置’控制料錄巾^及兩端之溫度;及蒸發完全後降溫破 真空’將成品刮出收集。 本t明之垂直式或水平式昇華設備,當用於純化A1Q3時之昇華純化之 條件為:蒸發溫度35〇〜4坑,較佳蒸發溫度為別〜·。C。冷凝溫度25〇 :35叱,健冷凝溫度為27Q〜3机,蒸發溫倾凝結温度高%〜剛。c。 糸統壓力為1〜丨χ 較⑽缝力為Q3〜i X爪611細。
I欠本备明之垂直式或水平式昇華設備,當用於純化鹏時之昇華純化之 in件為.讀溫度MO〜35〇〇c,較佳蒸發温度為別〜細。C 。冷凝溫度150 =叱,較佳冷凝溫度為m〜2耽,蒸發溫度較凝結溫料%〜貌。 糸統堡力為αΐ〜〗x 1G4mbar,較佳系統壓力為⑽3〜丨X瓜6士。 *欠本發明之垂直式或水平式昇華設備,當用於純化Cupc時之再華純化之 k件2 ·条發溫度500〜65〇°C,較佳蒸發溫度為550〜6〇〇°C。冷凝溫度400 么卜匕仏"被温度為430〜Wc,蒸發溫度較凝結溫度高50〜l〇〇°C。 糸統壓力為αι〜! x 1G.embai、較錄紐力為⑼3〜1 χ iG_6mbar。 -、中如述無論垂直式或水平式之昇華設備之真空昇華純化方法,其皆 10 1242463 可待原料完全昇華純化後再破真空取出原料。 本發明之目的键立可進行量產之高效能真空加熱昇華設備,昇華溫 度可達。㈣統真空度可達1Q.6mbap加熱昇華及冷凝溫度皆能調整控 制’以生纽純度產品。本發明之設備之熱傳導性及真空度皆能保持小型 设備之水準,而其操作之便雛及持續性·符合量產之需求,並且能維 持產品應有之純度,能進行商t運轉生產大量高純度之產品。 【實施方式】 θ本發明之垂直式昇華設備觸,如第_圖所示,該設備主要包含:一 昇華管柱主體1,係、以石英玻璃製成之空心圓柱體,可耐高溫及耐腐t 一原料支架2 ’係用於放置欲蒸發之原料;一加熱蒸發裝置3,係包覆落 發管4之周圍,可依不同蒸發物質控制加熱溫度使原料蒸發;一冷凝裝 置W系包覆於前述昇華管柱主體】之上端,可控制不同蒸發物質所需之 冷凝溫度,以_高純度之要求;保溫裝置6、7,魅含:蒸氣通道保 溫裝置6«品保溫裝置7,其中絲通道保温錢6銳覆於蒸氣通道 (圖未顯示)之出口處’以保持昇華蒸氣之溫度,使該蒸氣不斷往外輸 出至昇華管柱主體】。其中成品保溫裝置7係包覆於昇華管柱主…之下 端’以避免部分昇華蒸氣在此處累積;及—成品雕裳置8。 其中前述垂直式昇華設備100,進一步 入昇華管柱主體1之b、e兩端以及_管4之3斷級置9’係以石英棉填 使昇華設備_力_丨“㈣下之真==製成’細峨封口, 純化設備,進-步包含密封蓋10,俨=〜其中刖述垂直式昇華 八4置於各放置有斷 二個官柱末端,並以0型環(圖麵 二 、c 希亩曰“Μ „ . 貝伍以防止真空洩漏。本發明之 金直式㈣純化設備则藉由連接於昇梅主體!之真空抽氣口 ^ 1242463 氣’以達到適當之真空狀態。 其中前述之原料支架2之詳細構造如第二 第二A圖沿著A.A線之剖_ 弟―B圖係為 因〜” 原抖支架2包含··複數根橫桿2】及 疋衣2,趣數根橫桿21係藉由兩個固定環〜、、、 係置於蒸發管4中,用以支撐 (°亥原枓支架2 ^ π 次之原科。將原料由第一圖中a端營 /,、㈣2 4敬㈣,娜姻《置3之㈤ 度使原料受熱蒸發,蒸氣擴散至成品凝結區^ (即昇華管柱主體】t 過羊士 。皿τ 氣凝結於管壁。當凝結料厚度超 匕某限度<4 ’由於聽顧財(, -π日士 U降至喊結點,因此每隔 / 1 _成品爾置8,獅嫩向™·,即可將附 區91表面之昇華成品贿並推人成品儲存槽92中,其中前述 汁華管柱主體!之下端係形成一成品儲存槽92。在不破直空之情兄下 重覆刮除凝結成品之操作,直到原料支架2内之原料全部昇華完全妙 真空,·昇華管柱主體端管口,即可取得大量之高純錢 口 α ° 其中前述成品刮落裝置8之結構如第三八圖所示,第三關係為第 :他著Μ線之獅,該成品職置8係包含:_中心轴Μ, k用於上下移動及/或旋轉該成品到落裝置8 ;兩個 〇2 ,中心支架 幻,係由兩片狀玻璃交又組成;及_4,其中該鑛齒84係設置於中二 支架83之下端之固魏82之關處’制於刮落凝結於昇華管柱主^ 管壁之成品。 ^ 昇華管 本發明之水平式昇華設備200如第四圖所示,主要包人· 12 1242463 柱主體30 ; 一原料載體31,係置於前述昇華管柱主 从洛發之原料’· 一加熱蒸發裝置32,係包覆前述 不同洛發物質控制加熱溫度使原料蒸發; 體30中,用於放置 幵爭管柱主體3〇,可依 义、、 尾管33、34,係分別梦#於 管柱主體30之兩端’其中尾管34係用於連接真空抽氣二: 主體30 之密閉性 :幻係為封閉狀態;及-管端密封裝置35,係用於連接 之_前述兩魏管l34,_f柱主體 第五_顯示前述精柱主體π、兩端尾管%、μ、管端密則 之以牛分解圖,其中前述管端密封裝置%當連接昇華管柱主體a 兩而尾目33、34時,係將該螺帽搭配〇型環旋轉銜接 3〇兩端之螺紋36,可以迫緊產生極佳之密閉性。 M主主祀 其曰中前爾載體31之構造如第六圖所示,將原料置於船型载體中 柱主體30中心’將兩端旋緊後由抽氣端之尾管別連接至 二:=抽真㈣力補㈣侧鎖_赌溫加熱。原料受 華^雜科錄主體3㈣職散並凝結於她溫區,待原料全部昇 華後降溫破真空並以到构將成品取出。 本發明之蒸氣收隸置4G如第七騎示 «充編2 ’用以增加蒸氣受冷之面積以提高二1集=和 •卿45配合。型環旋轉迫緊,係用於 二:二: 瘵氣導入收集瓶41中;及一爭^工叹備,使游离| 收集裝置⑽,_於輸種該蒸義 將未凝結之游嶋被低溫冷顧咖液 13 1242463 悲鼠同中)’使亩处爷、上 /、二汞浦不受污染,能長期使用不需清理。 備與發明之昇華設 較佳之狀況係、加裝此—要衣°又。但由於保4真空系統係、為重要之課題, 染真空系統。 ㈣絲裝置,避免自昇華管柱域外溢之蒸氣污 本u之再-目的係提供_種真料華純 昇華設備,該方法包含&侧“述垂直式 拙真空,之後再開二Γ 料置於原料支架上,開啟真空裝置 夂伴、、”冑m、、χ σ熱裝置,使溫度達到補昇華溫度,啊開啟 例如:蒸氣通道保溫裝置及成品崎置,以保二:: 4夕’由於錢愈冷會;聽於料f柱域 又 某限度後,由於凝钍„ 田减結枓厚度超過 此,每隔溫度便無法降至凝結點蒸發過程中,因 破直* 。订、之猶收集,待所有原料蒸發完全後即可降溫 八工,《品由成品儲存槽中取出,以獲得高度純化之成品。皿 本發明之另-目的係提供一種真空昇華純化方法,係 昇華設備’該方法包含下列步驟 、1^7、’式 置於昇華管柱主體中心,之後將兩端尾管將原料載體 再開啟加錄發裝置,㈣胸1 * 价開啟真空裝置抽真空, 1 、—衣置控制歼爭官柱中心及兩端之溫度,待原料蒸發6入 <降溫破真空’將成品到出收集,以獲得高度純化之成品。 4王 申請= 施删於進—步了解本發明之優點,細於限制本發明之 實施例1 將250克獨3置於垂直式昇華純化設備之蒸發區中,封閉管端密封 蓋,抽真空至3.2x 】G.W ’將加熱蒸發裝置加熱控溫於3坑,將^疑 裝置控溫於酿,減韻保題置控溫於赋,成品脑細空溫於 J4 1242463 120°C。昇華凝結過程中每隔_ ,,啟動成品刮落次。待昇華完 成日可,壓力下降至開始前之數 1請各加絲發裝置舰溫錢,待冷 部後取出成品170.5g,昇華收率行7 汁钱早68·2%,清除殘渣79 lg。 實施例2 將猶2〇〇克置方、水平式昇華設備之船型原料載體中,放入昇華管右 主體中心’ _尾__,由減端_魅_統抽直空^
4.5X川-w,將加熱蒸發裝置中心溫度加熱控溫於赋,外端 喊,娜小梅完絲恤屬g,__·5%,清二 52.4g。 一 實施例3 將⑽〇33〇克置於水平式昇華設備之船型原料載體中,放入昇華管柱 主體中心,將兩魏管旋緊_,由滅端尾鍵接至餘系統抽真空至 9·2χ 10 mbai ’將加熱洛發裝置之中心溫度加熱控溫於咖。c,外端控溫於 300C ’歼華完成取出成品241.8g,殘;^84.7g,昇華收率73 2%。
綜上所述,本發明之昇華純化設備及方法,相較於習知之昇華純化之 設備及技術,具有更便利之操作方法,且由於其設備之改良能符合量產之 需求,亚且能轉產品應有之純度,能進行商業運轉生產大量高純度之產 品0 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任 何熟悉此技蟄者,在不脫離本發明之精神和範圍内,當可作各種之更動與 潤飾,因此,本發明之保護範圍,當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 15 1242463 【圖式簡單說明】 第一圖係顯示本發明垂直式昇華設備之示意圖。 第一A圖係顯示本發明之原料支架之側視示意圖。 第一B圖係顯示本發明之原料支架沿第二A圖a-A剖面線之剖面示意 第一A圖係顯示本發明之成品刮落裝置側視示意圖。 :二6圖係顯示本發明之成品到落裝置沿第三A圖Α·Α剖面線之剖面 ^四圖係顯示本發明水平式昇華設備之示意圖。 =圖_示本發明水平式昇較射昇華f柱主體、兩端尾管及技 圖
端密封裝置分解示意 圖軸示本發明原料載體之立體示意圖。 弟七圖係顯示本發明蒸氣收集裝置示意圖。 【主要凡件符號對照說明】 1…昇華管杈主體 -原料支架 加熱蒸發裝置 4〜蒸發管
5〜冷凝骏置 6〜’氣通道保溫裝置 〜成品保溫裝置 成品刮落裝置 9〜斷熱裝置 10〜密封蓋 16 1242463 11…真空抽氣口 21- --橫桿 22— 固定環 30…昇華管柱主體 31…原料載體 32…加熱条發裝置 33、34…尾管 35—管端密封裝置 36…螺紋 40…蒸氣收集裝置 41—收集瓶 42…鋼絲 43…進氣管 44…抽氣管 45…螺帽 81…中心軸 82…固定環 83—中心支架 84…鋸齒 91—成品;旋結區 92…成品儲存槽 1242463 100…垂直式昇華設備 200…水平式昇華設備

Claims (1)

1242463 拾、申請專利範圍 卜件7月今日修ο; (更)正替换頁| 1·一種垂直式昇華設備,包含 一昇華管柱主體; -原料支架,制於放置欲蒸發之原料; 質控制 —加熱蒸發《’係包覆祕f之朋,可鮮同 加熱溫度使原料蒸發; 〃、、心物 —冷«置,係包覆於前述昇華管柱主體之上端, 發物質所需之冷凝溫度; ^刺不同蒸 -保溫裝置,制於保持蒸氣通道及成品溫度;及 成品刮落裝置。 2. 如申請專纖圍第丨顧述之魅式昇雜備,其切述原料 結構主要包含:複數根橫桿及固定環,該複數根橫桿係、藉由兩個固^之 定,且该原料支架係置於前述蒸發管中,用以放置欲蒸發之原料。定衣固 3. 如申請專利範圍第1項所述之垂直式昇華設備,其中前述保溫妒 含:蒸氣通道保溫裝置及成品保溫裝置,其中蒸氣通道保溫裝置係勺费i 蒸氣通道之出口處,以保持昇華蒸氣之溫度,使該蒸氣不斷往外輪 j 華管柱主體。 μ 至幵 4·如申請專利範圍第3項所述之垂直式昇華設備,其中前述成品保严 裝置係包覆於前述昇華管柱主體之下端,以避免部分昇華蒸氣在此處累 積。 ’、 5.如申請專利範圍第1項所述之垂直式昇華設備,其中前述成品刮落裝 置主要包含:中心軸,係用於上下移動及/或旋轉該成品刮落裴置、固定環^ 中心支架及鋸齒。 19 1242463 r---™~i 年月日修(更)正替換頁 6.如申,專利範圍第5項所述之垂直式昇ϊΐ備,其中前述錯齒係設 置於中〜支*之下端之固定環之圓周處,制於刮落凝結於昇華管柱主體 管壁之成品。 7. 如山申請專纖圍第丨彻述之式昇華設備,其中前述昇華管柱主 體之下端係形成-成品儲存槽,當凝結後之成品被成品刮落裝置刮落後即 可落於成品儲存槽中收集。 ° 8. 如申睛專利範圍第丨項所述之垂直式昇華設備,係、進—步包含斷熱裝 置^係以石央棉製成,置於前述昇華管柱主體兩端及蒸發管中遠離昇華 管柱主體之-端,铜於使昇華設備内部保持—定之溫度。 9·如申請專利第丨項所述之垂直式昇華設備,係進—步包 蓋’係置於各放置躺減置之錄末端,如〇魏鎖住靖止真空茂 10· —種水平式昇華設備,包含: 一昇華管柱主體; 原料; 一原料載體,係置於前述昇華管柱主 體中,用於放置欲蒸發之 加熱蒸發裝置,係包覆前述昇華 _ 質控制加熱溫度使原料蒸發; ^柱主體可依不同蒸發物 一尾管,係分別裝設於前述昇 尾管用於連__㈣管輪賺^其中—端之 端尾管 -管職《置,制於連㈣述昇華管主體 使幵華管柱主體達到_極佳之密閉性。 之兩端與前述兩 11.如申請專利範圍第 10項所述之水平式昇華設備 其中前述原料載體 20 1242463 係可為船型、槽型、圓盤型等任何可放置原料之載體形狀皆可。 12·如申β專利明第1()項所述之水平式昇華設備,其中前述管端密封 裝置係為螺帽。 13. -種蒸氣收集裝置,包含: 收集瓶’其内部填充鋼絲,用以增加蒸氣受冷之面積; 、氣&,係用於連接前述昇華真空純化設備,使游離蒸氣導 入收集瓶中;及 抽氣管,係用於連接真空抽氣系統。 14·如申請專利範圍第 管柱主體與真空系统間, 浦不受污染。
13項所述之蒸氣收集裝置,其係裝設於前述昇華 將未凝結之游離蒸氣被低溫冷凝收集,使真空泵 15.-; 昇華触 將原料置於原料支架上; 開啟真空裝置抽真空; 開啟蒸發加熱裝置,使溫度制轉昇華溫度; 開啟各保溫裝置,保持冷凝溫度·, 洛發過程中每隔一段時間進行成品之刮除收集;及 蒸發完全後降溫,將成品由成品儲存槽中取出。 時二ΓΓ專利軸15項所述之真空昇華純化方法,當鎌純化叫 鮮、=㈣件為:蒸發溫度為35G〜峡,冷凝溫度㈣〜现t, '皿又又破結溫度向50〜贼,系統壓力為Μ财6和。 21 12 942463 17 由 4 击 l——1.........................................—一一——….—J ./ %專利範圍第15項所述之真空昇華純化方法,當用於純化Npb 時之昇華純化之條件為:蒸發溫度為25()〜35()。〇,冷凝溫度為15〇〜2贼, 療發溫度較凝結溫度高3Q〜8(rc,系統壓力為G H χ1().6—。 18.如申請專利範圍帛I5項所述之真空昇華純化方法 ,當用於純化CuPc 時之昇華純化之條件為:蒸發溫度為·〜65〇。〇,冷凝溫度為4⑻〜·c, 療發溫度缺結溫度高5()〜動。c,系統壓力為〜丨〜丨xiG_6mbar。 19· 一種真空昇華純化方法,係用於申請專利範圍第10項所述之水平式 畀華设備,該方法包含下列步驟: 將原料置於原料載體中; 將原料載體置於昇華管柱主體中心; 兩端尾管旋緊密閉; 開啟真空裝置抽真空; 開啟加熱蒸發裝置,控制昇華管柱中心及兩端之溫度;及 蒸發完全後降溫破真空,將成品刮出收集。 20·如申請專利範圍帛19項所述之真空昇華純化方法,當用於純化八咕 時之歼華、、、屯化之條件為·蒸發溫度為35〇〜彻^,冷凝溫度為㈣〜35叱,_ 蒸發溫度較凝結溫度高5G〜1()(rc,系統壓縣卜丨前6_批。 21·如申請專利範圍第19項所述之真空昇華純化方法,當用於純化 NPB時之昇華純化之條件為:蒸發溫度為,〜35()<t,冷凝溫度為15〇〜 250°C,蒸發溫度較凝結溫度高3〇〜8()。〇,系統壓力為ο」—僧6爪⑹。 22·如申請專利範圍第19項所述之真空昇華純化方法,當用於純化 CuPc時之昇華純化之條件為蒸發溫度為湖〜65〇。〇,冷凝溫度為權〜 500°C,蒸發溫度較凝結溫度高5〇〜削。c,系統壓力為〇」〜】χΐ〇Μ沉。 22
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