TW311905B - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- TW311905B TW311905B TW084106073A TW84106073A TW311905B TW 311905 B TW311905 B TW 311905B TW 084106073 A TW084106073 A TW 084106073A TW 84106073 A TW84106073 A TW 84106073A TW 311905 B TW311905 B TW 311905B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- particles
- nitrate
- plutonium
- hydroxide
- slurry
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 164
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 40
- SHZGCJCMOBCMKK-KGJVWPDLSA-N beta-L-fucose Chemical compound C[C@@H]1O[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H]1O SHZGCJCMOBCMKK-KGJVWPDLSA-N 0.000 claims description 32
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 30
- 239000012736 aqueous medium Substances 0.000 claims description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 229910002651 NO3 Inorganic materials 0.000 claims description 19
- NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N Nitrate Chemical compound [O-][N+]([O-])=O NHNBFGGVMKEFGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 19
- GHWSWLZMLAMQTK-UHFFFAOYSA-J [OH-].[OH-].[OH-].[OH-].[Pu+4] Chemical compound [OH-].[OH-].[OH-].[OH-].[Pu+4] GHWSWLZMLAMQTK-UHFFFAOYSA-J 0.000 claims description 18
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 18
- PAWQVTBBRAZDMG-UHFFFAOYSA-N 2-(3-bromo-2-fluorophenyl)acetic acid Chemical group OC(=O)CC1=CC=CC(Br)=C1F PAWQVTBBRAZDMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 17
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims description 17
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N sodium nitrate Chemical compound [Na+].[O-][N+]([O-])=O VWDWKYIASSYTQR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 15
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 15
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 9
- FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N potassium nitrate Chemical compound [K+].[O-][N+]([O-])=O FGIUAXJPYTZDNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 235000010344 sodium nitrate Nutrition 0.000 claims description 8
- 239000004317 sodium nitrate Substances 0.000 claims description 8
- 239000002609 medium Substances 0.000 claims description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 6
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 claims description 5
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 5
- 235000010333 potassium nitrate Nutrition 0.000 claims description 4
- 239000004323 potassium nitrate Substances 0.000 claims description 4
- -1 quaternary ammonium ions Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 3
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims 2
- PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N (1s,3r,4e,6e,8e,10e,12e,14e,16e,18s,19r,20r,21s,25r,27r,30r,31r,33s,35r,37s,38r)-3-[(2r,3s,4s,5s,6r)-4-amino-3,5-dihydroxy-6-methyloxan-2-yl]oxy-19,25,27,30,31,33,35,37-octahydroxy-18,20,21-trimethyl-23-oxo-22,39-dioxabicyclo[33.3.1]nonatriaconta-4,6,8,10 Chemical compound C1C=C2C[C@@H](OS(O)(=O)=O)CC[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@H]([C@H](C)CCCC(C)C)[C@@]1(C)CC2.O[C@H]1[C@@H](N)[C@H](O)[C@@H](C)O[C@H]1O[C@H]1/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/C=C/[C@H](C)[C@@H](O)[C@@H](C)[C@H](C)OC(=O)C[C@H](O)C[C@H](O)CC[C@@H](O)[C@H](O)C[C@H](O)C[C@](O)(C[C@H](O)[C@H]2C(O)=O)O[C@H]2C1 PCTMTFRHKVHKIS-BMFZQQSSSA-N 0.000 claims 1
- RQDQNSCVHDYULB-UHFFFAOYSA-N [Eu+4] Chemical compound [Eu+4] RQDQNSCVHDYULB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 61
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 29
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 26
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 238000010335 hydrothermal treatment Methods 0.000 description 18
- 229910052778 Plutonium Inorganic materials 0.000 description 15
- OYEHPCDNVJXUIW-UHFFFAOYSA-N plutonium atom Chemical compound [Pu] OYEHPCDNVJXUIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 12
- 238000001027 hydrothermal synthesis Methods 0.000 description 12
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 12
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 11
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 11
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 10
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 10
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 9
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 9
- ZQPKENGPMDNVKK-UHFFFAOYSA-N nitric acid;plutonium Chemical compound [Pu].O[N+]([O-])=O ZQPKENGPMDNVKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonium chloride Substances [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 7
- WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M Lithium hydroxide Chemical compound [Li+].[OH-] WMFOQBRAJBCJND-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 6
- IYQHAABWBDVIEE-UHFFFAOYSA-N [Pu+4] Chemical class [Pu+4] IYQHAABWBDVIEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 206010013647 Drowning Diseases 0.000 description 5
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 150000001212 Plutonium Chemical class 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 5
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 5
- 238000000108 ultra-filtration Methods 0.000 description 5
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 4
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 4
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 4
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 4
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O Ammonium Chemical compound [NH4+] QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-O 0.000 description 3
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 description 3
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 3
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 3
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 3
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910021488 crystalline silicon dioxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 125000001453 quaternary ammonium group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 2
- OOGRSDXWXMYCFW-UHFFFAOYSA-J [Pu+4].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O Chemical compound [Pu+4].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O OOGRSDXWXMYCFW-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 2
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 2
- HSJPMRKMPBAUAU-UHFFFAOYSA-N cerium(3+);trinitrate Chemical compound [Ce+3].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O HSJPMRKMPBAUAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 2
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 2
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 2
- UTDLAEPMVCFGRJ-UHFFFAOYSA-N plutonium dihydrate Chemical compound O.O.[Pu] UTDLAEPMVCFGRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FLDALJIYKQCYHH-UHFFFAOYSA-N plutonium(IV) oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[Pu+4] FLDALJIYKQCYHH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- BNGXYYYYKUGPPF-UHFFFAOYSA-M (3-methylphenyl)methyl-triphenylphosphanium;chloride Chemical compound [Cl-].CC1=CC=CC(C[P+](C=2C=CC=CC=2)(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 BNGXYYYYKUGPPF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VZSRBBMJRBPUNF-UHFFFAOYSA-N 2-(2,3-dihydro-1H-inden-2-ylamino)-N-[3-oxo-3-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)propyl]pyrimidine-5-carboxamide Chemical compound C1C(CC2=CC=CC=C12)NC1=NC=C(C=N1)C(=O)NCCC(N1CC2=C(CC1)NN=N2)=O VZSRBBMJRBPUNF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WTFUTSCZYYCBAY-SXBRIOAWSA-N 6-[(E)-C-[[4-[2-(2,3-dihydro-1H-inden-2-ylamino)pyrimidin-5-yl]piperazin-1-yl]methyl]-N-hydroxycarbonimidoyl]-3H-1,3-benzoxazol-2-one Chemical compound C1C(CC2=CC=CC=C12)NC1=NC=C(C=N1)N1CCN(CC1)C/C(=N/O)/C1=CC2=C(NC(O2)=O)C=C1 WTFUTSCZYYCBAY-SXBRIOAWSA-N 0.000 description 1
- 238000004438 BET method Methods 0.000 description 1
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L Carbonate Chemical compound [O-]C([O-])=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M Chloride anion Chemical compound [Cl-] VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIPNSKYNPDTRPC-UHFFFAOYSA-N N-[2-oxo-2-(2,4,6,7-tetrahydrotriazolo[4,5-c]pyridin-5-yl)ethyl]-2-[[3-(trifluoromethoxy)phenyl]methylamino]pyrimidine-5-carboxamide Chemical compound O=C(CNC(=O)C=1C=NC(=NC=1)NCC1=CC(=CC=C1)OC(F)(F)F)N1CC2=C(CC1)NN=N2 NIPNSKYNPDTRPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IOVCWXUNBOPUCH-UHFFFAOYSA-N Nitrous acid Chemical compound ON=O IOVCWXUNBOPUCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L Sulfate Chemical compound [O-]S([O-])(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N Trioxochromium Chemical compound O=[Cr](=O)=O WGLPBDUCMAPZCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052770 Uranium Inorganic materials 0.000 description 1
- FJJCIZWZNKZHII-UHFFFAOYSA-N [4,6-bis(cyanoamino)-1,3,5-triazin-2-yl]cyanamide Chemical class N#CNC1=NC(NC#N)=NC(NC#N)=N1 FJJCIZWZNKZHII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QNJPYBOCFFOTGM-UHFFFAOYSA-J [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Pu+4] Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Pu+4] QNJPYBOCFFOTGM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- VMOIIQZIAQBUGK-UHFFFAOYSA-L [OH-].[OH-].[Au+2] Chemical class [OH-].[OH-].[Au+2] VMOIIQZIAQBUGK-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- QRGPRHDJXDGLIN-UHFFFAOYSA-J [Pu+4].[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O Chemical compound [Pu+4].[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O QRGPRHDJXDGLIN-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000008044 alkali metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000908 ammonium hydroxide Substances 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GHLITDDQOMIBFS-UHFFFAOYSA-H cerium(3+);tricarbonate Chemical compound [Ce+3].[Ce+3].[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O.[O-]C([O-])=O GHLITDDQOMIBFS-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- CQGVSILDZJUINE-UHFFFAOYSA-N cerium;hydrate Chemical compound O.[Ce] CQGVSILDZJUINE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000423 chromium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000002079 cooperative effect Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- JEGUKCSWCFPDGT-UHFFFAOYSA-N h2o hydrate Chemical compound O.O JEGUKCSWCFPDGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 1
- 150000004679 hydroxides Chemical group 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000010667 large scale reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- IIPYXGDZVMZOAP-UHFFFAOYSA-N lithium nitrate Chemical compound [Li+].[O-][N+]([O-])=O IIPYXGDZVMZOAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010955 niobium Substances 0.000 description 1
- GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N niobium atom Chemical compound [Nb] GUCVJGMIXFAOAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFLZOWIFJOBEPN-UHFFFAOYSA-N nitrate, nitrate Chemical compound O[N+]([O-])=O.O[N+]([O-])=O LFLZOWIFJOBEPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IOVCWXUNBOPUCH-UHFFFAOYSA-M nitrite group Chemical group N(=O)[O-] IOVCWXUNBOPUCH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000005304 optical glass Substances 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002978 peroxides Chemical class 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 238000000634 powder X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 1
- RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N silicic acid Chemical compound O[Si](O)(O)O RMAQACBXLXPBSY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 229940073455 tetraethylammonium hydroxide Drugs 0.000 description 1
- LRGJRHZIDJQFCL-UHFFFAOYSA-M tetraethylazanium;hydroxide Chemical compound [OH-].CC[N+](CC)(CC)CC LRGJRHZIDJQFCL-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 238000004627 transmission electron microscopy Methods 0.000 description 1
- DNYWZCXLKNTFFI-UHFFFAOYSA-N uranium Chemical compound [U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U][U] DNYWZCXLKNTFFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01D—COMPOUNDS OF ALKALI METALS, i.e. LITHIUM, SODIUM, POTASSIUM, RUBIDIUM, CAESIUM, OR FRANCIUM
- C01D17/00—Rubidium, caesium or francium compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C1/00—Ingredients generally applicable to manufacture of glasses, glazes, or vitreous enamels
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y30/00—Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01F—COMPOUNDS OF THE METALS BERYLLIUM, MAGNESIUM, ALUMINIUM, CALCIUM, STRONTIUM, BARIUM, RADIUM, THORIUM, OR OF THE RARE-EARTH METALS
- C01F17/00—Compounds of rare earth metals
- C01F17/20—Compounds containing only rare earth metals as the metal element
- C01F17/206—Compounds containing only rare earth metals as the metal element oxide or hydroxide being the only anion
- C01F17/224—Oxides or hydroxides of lanthanides
- C01F17/235—Cerium oxides or hydroxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K3/00—Materials not provided for elsewhere
- C09K3/14—Anti-slip materials; Abrasives
- C09K3/1409—Abrasive particles per se
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/60—Particles characterised by their size
- C01P2004/61—Micrometer sized, i.e. from 1-100 micrometer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/60—Particles characterised by their size
- C01P2004/62—Submicrometer sized, i.e. from 0.1-1 micrometer
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01P—INDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
- C01P2004/00—Particle morphology
- C01P2004/60—Particles characterised by their size
- C01P2004/64—Nanometer sized, i.e. from 1-100 nanometer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S516/00—Colloid systems and wetting agents; subcombinations thereof; processes of
- Y10S516/01—Wetting, emulsifying, dispersing, or stabilizing agents
- Y10S516/02—Organic and inorganic agents containing, except water
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Composite Materials (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Geology (AREA)
- Compounds Of Alkaline-Earth Elements, Aluminum Or Rare-Earth Metals (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Description
311905 A7 ___ B7 五、發明説明(i ) 發明背暑 發明範疇 本發明有關一種製備晶狀二氧化矽顆粒之方法,該顆 粒充作製造半導體之磨料或抛光材料,或供塑料、玻璃等 物使用之uv—射線吸收材料。 發明之討論 已知晶狀二氧化姉氧化矽型磨料或拋光材料比較之下 ,具有優越之磨触性。 曰本已審理專利公告案2 5 8 2/1 9 9 4號揭示一 種製造粒徑不大於3 0 OA之晶狀二氧化矽顆粒之方法, 包括鈽鹽與鹼物質氫氧化物或氨反應得到凝膠狀物質,濾 出該凝膠狀物質,洗除該凝膠狀物質中之雜質,添加酸並 進行熱液處理。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 曰本公開專利公告第5 0 2 6 5 6/1 9 8 8號揭示 一種製造粒徑由0.05至10#之稀土元素氧化物顆粒 之方法’包括將稀土元素化合物溶於液體介質中,該液體 介質保持於密閉容器中’而處於該介質之臨界壓力下低於 臨界溫度下,較佳於至少4 0大氣壓(a _t m s )壓力由 200至600 °C溫度下。 日本經審理專利公告第2 5 8 2 /1 9 9 4號之方法 藉姉鹽與鹼物質反應形成凝膠,且該參考資料揭示需進行 過濾及洗滌以去除所形成之凝膠中之雜質。該參考資料亦 揭示若不進行過濾及洗滌,則所得之溶膠變成不穩定,而 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) " -4 - 經濟部中央標準局貝工消費合作社釦发 i修正 S6. 5. i 衣年Λ 眛1 五、發明説明(2 ) 無法達成該發明。然而,於包括一連串步驟(包括熱液處 理)之方法中,於製程中採用過濾及洗滌步驟不利於製造 效率。 曰本公開專利公告第5 0 2 6 5 6/1 9 8 8號之方 法需要大規模之反應裝置,因爲溶有稀土元素化合物之液 體介質係於至少40a tm之髙壓下於200至600 °C 高溫下熱液處理。通常,用於製造反應裝置之材料爲不銹 鋼,但當於含腐蝕性物質之狀況下進行上述熱液處理#, 產生了由反應裝置之材料所衍生之雜質摻入產物中之問題 發明概述 本發明提供一種P不產生上述習知問題之情況下,有 效地製備晶狀二氧化鈽顆粒之方法 即,本發明提供一種製備粒徑由0.03至5#之二 氧化鈽(IV)顆粒之方法,包括以鹼物質將含有氫氧化鋪 (IV)及硝酸鹽之水性介質的pH調至範圍在8至1 1 , 並於加壓下於1 0 0至2 0 0 °C溫度下加熱該水性介質》 發明詳述 本發明所用之氫氧化姉定義爲化學式Ce (OH)4 •ηΗ20 (n = 0、1 · 0、1 . 5 或 2 . 0)且單獨 或混合使用。 本發明所用之水性介質一般爲水*但可使用水中混有 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝·
、1T -5 - 311905 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、 發明説明 (3 ) 少 量 水 溶 性 有 機 溶 劑 或 混 有 微 量 諸 如 鹼 金 屬 或 鹼 土 金 屬 等 雜 質 之 混 合 介 質 〇 本 發 明 所 用 之 氫 氧 化 鈽 可 爲 市 售 氫 氧 化 姉 或 可 爲 由 鈽 鹽 合 成 者 〇 合 成 之 氫 氧 化 姉 可 藉 添 加 鹼 物 質 於 處 於 水 性 介 質 中 之 鈽 ( IV ) 鹽 之 方 法 或 藉 於 水 性 介 質 中 使用 諸 如 過 氧 化 氫 等 氧 化 劑 將 鈽 ( ΠΙ ) 鹽 轉 化 成 姉 ( IV ) 鹽 並 添 加 上人 鹼 物 質 於 水 性 介 質 中 以 形 成 氫 氧 化 姉 之 方 法 而 製 備 〇 上 述 反 應 中 用 以 由 鈽 鹽 形 成 氫 氧 化 鈽 之 鈽 ( IV ) 鹽 實 例 有 硝 酸 鈽 、 氯 化 鈽 、 硫 酸 鈽 硝 酸 姉 ( IV ) 銨 等 而 特 佳 實 例 爲 硝 酸 姉 〇 鈽 ( Π ) 鹽 實 例 有 硝 酸 亞 姉 、 氣 化 亞 鈽 、 硫 酸 亞 鈽 、 碳 酸 亞 鈽 、 硝 酸 鈽 ( m ) 銨 等 但 特 佳 實 例 爲 硝 酸 亞 姉 0 上 述 鈽 鹽 可 單 獨 或 混 合 使 用 0 此 外 鹼 物 質 之 實 例 有 鹼 金 屬 氫 氧 化 物 諸 如 氫 氧 化 鋰 氫 氧 化 鈉 及 氫 氧 化 鉀 、 氨 > 胺 、 季 銨 氫 氧 化 物 等 但 特 佳 實 例 有 氣 、 氫 氧 化 鈉 及 氫 氧 化鉀 0 其 可 個 別 單 獨 或 混 合使 用 〇 由 鈽 鹽 合 成 氫 氧 化 姉 之 方 法 中 當 硝 酸 鈽 充 作 原 料 時 藉 反 應 於 水 性 介 質 中 形 成 氫 氧 化 鈽 及 硝 酸 鹽 因 此 含 有 氫 氧 化 姉 及 所 形 成 之 硝 酸 鹽 之 水 性 介 質 就 原 樣 用 於 本 發 明 方 法 中 〇 本 發 明 中 較 佳 使 用 莫 耳 比 C N 0 3") / ( C e 4 + — 由 1 至 6 較 佳 由 3 至 5 之 氣 氧 化 姉 及 硝 酸 m TFrT. 0 硝 酸 趨 Τί¥Γ. 實 例 有 硝 酸 敍 、 硝 酸 鋰 、 硝 酸 鈉 及 硝 酸 鉀 0 較 佳 實 例 有 硝 酸 銨 、 硝 酸 鈉 及 硝 酸 鉀 其 可 單 獨 或 混 合 使 用 〇 根 據 本 發 明 氧 化 姉 顆 粒 可 藉 使 上 述 氫 氧 化 姉 及 硝 酸 鹽 進 行 熱 液 反 應 而 製 備 〇 欲 進 行 熱 液 反 應 之 上 述 氫 氧 化 姉 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4坑格(210X297公釐) A7 B7 修正押.5. -7 衣年Λ ! 補t 五、發明説明(4 ) 及硝酸鹽係含於水性介質中,總濃度由0 . 0 1至6 5重 量%,較佳由1·0至50重量%。上述熱液反應係藉將 含有氫氧化鈽及硝酸鹽之水性介質之P Η調至範圍在8至 1 1 ,較佳在8 · 5至10,並加熱經調整之水性介質而 進行。ρ Η之調整係藉添加鹼物質於水性介質中而進行。 鹸物質之實例有鹸金靥氫氧化物,諸如氫氧化鋰、氫氧化 鈉及氫氧化鉀,氨、胺、季敍氫氧化物等,較佳爲氨、氫 氧化鈉及氫氧化鉀,其可單獨或混合使用。上述熱液反應 中,水性介質溫度較佳由1 0 0至2 0 0 °C,壓力由1至 3 Okg/cirf,特別是由1至1 5kg/crrf。該壓力可藉 施加外來壓力而得,但亦可藉水性介質之自發性蒸汽壓而 得。而且,反應時間通常爲1至1 0 0個小時,較佳由5 至5 0個小時》 _ 上述熱液反應中所用之反應裝置較佳爲具有鐵弗龍樹 脂或玻璃內壁之壓熱器,或施以玻璃內襯處理之壓熱器。 該壓熱器可於密閉系統中使用,但亦可於流動系統中使用 以提昇生產效率。 上述熱液反應所得之氧化鈽顆粒以漿液形式由壓熱器 取出,並可藉濾器分離該氧化姉顆粒。此時,由該壓熱器 取出之含有氧化鈽顆粒之漿液之pH爲0.5至10.5 ,而氧化姉濃度爲0 _ 005至25重量%,較佳由 0 . 4至2 0重量%。氧化姉顆粒之分離可藉使用壓熱器 之內壓使漿液通經濾器而有效地進行。所分離之氧化姉顆 粒可經洗除沈積於顆粒上之雜質。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ---------(裝------訂------^ ^ (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央橾準局員工消費合作社印裝 -7 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 ___B7 五、發明説明(c ) 0 本發明所得之氧化鈽顆粒通常粒徑爲〇 . 〇 3至5 # 且比表面積最高1 〇 〇 cma/g。當該氧化鈽顆粒充作磨 料或拋光材料時,其應較佳具有由〇 . 〇 5至5 v之粒徑 ’當該氧化鋪顆粒充作UV -吸收材料時,較佳應具有由 0 · 03至〇 . 〇5 v之粒徑。上述粒徑可藉採用離心沈 降系統之顆粒分佈測量機測量,而比表面積可藉氣體吸附 法(BET法)測量。當上述氧化姉顆粒於1 1 〇°c乾燥 且進行X -射線繞射分析時,繞射角度(20)於 28.6° 、47 · 5°及56 . 4°具有主要尖峰,而 本發明所得之氧化鈽顆粒已證明爲具有如ASTM卡之" 3 4 - 3 9 4"中所定義之立方晶系結晶之高晶性氧化鈽 顆粒。而且,藉透射型電子顯微鏡觀察上述氧化鈽顆粒, 證明爲藉化學鍵結平均粒徑由2 0至6 0mm之氧化鈽細粒 所得之粒徑由0.03至之多晶顆粒。此外,已證實 此種粒徑由0 . 0 3至5//之顆粒即使藉機械性外力將該 顆粒分散於水性介質中,仍不會再分裂成小於3 0 mm之細 粒。 根據本發明,由壓熱器取出之漿液可經洗滌並藉超濾 法濃縮製備含有氧化姉顆粒之磨蝕或拋光液體。氧化姉顆 粒之濃度可藉該超濾法濃縮成於漿液中由1 0至5 0重量 %。 而且,本發明所得之氧化姉顆粒可再分散於水性介質 或水和水溶性有機溶劑之混合溶劑中,以製備可充作磨鈾 或抛光液體之氧化鈽顆粒漿液。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210><297公釐) ^-----C ·裝------訂------^ (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) . 8 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 311805 A7 __ B7 五、發明説明(β ) 6 藉上述超濾法或再分散法所得之磨蝕或拋光液體可調 整至於由3至10之pH下含有濃度爲1 〇至5 0重量% 之氧化姉顆粒。本發明所得之含氧化姉顆粒之磨蝕或拋光 液體長時間放置時,部分顆粒沈降,但可藉攪拌輕易再分 散而回復原始狀態。因此,本發明磨蝕或拋光液體可於室 溫下穩定儲存至少一年。 根據本發明由壓熱器取出之粒徑由0 . 03至5 μ之 晶性氧化鈽顆粒之水性分散液可形成溶膠,藉於水性介質 中摻入莫耳比爲(NR4+) / ( C e 02) = 〇 _ 〇 〇 1 至1之季銨離子(NR 4+,R =烷基)而使氧化鈽顆粒穩 定分散於水性介質中。季銨離子之摻入可藉超濾洗滌並濃 縮該水性分散液,隨後添加氫氧化季銨,諸如氫氧化四甲 銨、氫氧化四乙銨等而進行。所製之氧化鋪溶膠含有固體 含量由0·005至25重量%之晶狀氧化姉顆粒且pH 由9 · 0至1 3 . 5。藉季銨離子安定化之氧化姉溶膠調 至所需濃度,且可於製造矽半導體或複合物半導體時充作 氧化矽絕緣膜或有機樹脂膜之磨蝕或拋光液體》 本發明係於鹼水性介質中藉氫氧化鈽與硝酸鹽之熱液 反應製造氧化姉顆粒。 本發明中,使用氯化物、硫酸鹽或碳酸鹽取代硝酸鹽 時’無法得到氧化鈽顆粒。該硝酸鹽具有控制於熱液反應 中所形成之顆粒之顆粒成長的功能。然而,若水性介質中 〔N 0 3-〕/〔 C e 4+〕莫耳比低於1 ,則顆粒成長不幸 地超過5#,若該莫耳比超過6,則粒徑不幸地小於 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. 、·ιτ 經濟部中央標準局員工消費合作社印装 修正 補充 本'V7 Α7 Β7 五 、發明説明 (7 ) 0 • 0 3 β 〇 本 發 明 中 用 以 將 水 性 介 質 之 P Η 調 至 範 圍 在 8 至 1 1 之 鹸 物 質 具 有促 進 於 熱 液 反 obi 中 所 形 成 之 顆 粒 的 顆 粒 成 長 之 功 能 〇 但 是 若 P Η 值 低 於 8 則 所 形 成 之 氧 化 鋪 之 產 率偏 低 ,若ρ Η值超過] L ] L, 則 粒 徑 不 幸 地 超 過 5 β 〇 本 發 明 中 若 熱 液 反 rrfrf 應 溫度 低 於 1 0 0 °c 則 氧 化 鈽 顆 粒 之 產 率 變 差 而 所 形 成 之 顆 粒 之 結 晶 性亦 變 差 〇 另 一 方 面 熱 液 反 應 可 於 高 於 2 0 0 °C 之 溫 度 下 進 行 但 若 反 應 溫 度 超 今思 過 2 0 0 °c 則 於 考慮 耐 熱 性 之 下 採 用 不 錄 鋼 充 作 壓 熱 器 之 材 料 〇 但 是 不 銹 鋼 有 時 會 於 此 種 髙 溫 高 壓 下 於 熱 液 反 應 中 腐 蝕 » 使 諸 如 鐵 、 鉻 、 鎳 、 鈷 或 其 化 合 物 等 雜 質 洗 提 於 水 性 介 質 中 0 所 提 出 之 雜 質 污 染 所 形 成 之 氧 化 姉 顆 粒 並 產 生 化 學 上 佳 之 影 響 0 但 是 本 發 明 中 熱 液 反 應 係 於 由 1 0 0 至 2 0 0 °c 之 溫 度 下 進 行 因 此 可 採 用 具 有 鐵 弗 龍 樹 脂 或 玻璃 內 壁 之 壓 熱 反 應 器 或 具 有 玻 璃 內 襯 處 理 之 壓 熱 器 0 本 發 明 中 若 反 應 壓 力 低於 1 kg / C Ιϊί 則 反 應 於 相 當 低 速 率 下 進 行 〇 另 — 方 面 可 於 超 過 3 0 kg / C ΠΪ 之 高 壓 下 進 行 反 應 然 而 此 情 況 下 考 慮 耐 壓 性 下 需 採 用 不 銹 鋼 製 之 反 應 器 並 產 生 上 述 問 題 〇 而 且 , 若 本 發 明 所 得 之 氧 化 鈽 顆 粒 之 粒 徑 小 於 0 0 3 β 則 當 其 於 漿液 形 式 充 作 磨 蝕 或 拋 光 材 料 時 之 磨 蝕 或 拋 光 性 能 變 得 極 低 〇 另 一 方 面 若 粒 徑 超 過 5 β ♦ 則 漿 液 中 之 顆 粒 沈 澱 並 附 聚 而 難 以 再 次 分 散 〇 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -10 - 311905 at _____B7 五、發明説明(8 ) 實施例 實施例1 3Og氫氧化姉及4·6g硝酸銨分散於80g純 水中。所得之水溶液含有莫耳比〔N 0 3-〕/〔 C e 〕 =4之氫氧化鈽及硝酸銨。該水溶液以10%氨水調至 pH7 · 7,並置入鐵弗龍製之1 20mj?壓熱器中,於 1 8 0°C溫度及1 〇kg/crrf壓力下進行熱液反應1 5小 時。完成反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓之條件,得到 含有淡黃色顆粒之PH7.2漿液。 藉過濾由漿液取出所得顆粒,並以純水洗滌。隨後, 藉離心沈降系統之顆粒分佈測量機(SA — CP3, Shimadzu Seisakusho K.K.所製)測量所得頼粒之平均粒 '徑,且發現爲0 . 33μ。所得氧化姉顆粒之產率爲 10 0%。 而且,當所得顆粒乾燥並進行X —射線繞射分析( 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁} J DX — 8 2 0 0 T,‘Nihon Denshi Κ.Κ.所製)時,繞 射角(20)主要尖峰位於28 .6° 、47.5°及 56· 4° ,且證實該顆粒對應於ASTM卡"34 -3 9 4^所定義之立方晶系氧化姉結晶之特性尖峰。而且 ,所得之氧化鈽顆粒分析偵測所含之雜質,但未測得鈽以 '外之金屬元素。此外,於2 9 0 °C脫氣後,氧化姉顆粒送 入比表面測量機("*Movosorb〃,Yuasa Ionics K.K.所 製)且證實比表面積爲7 lrri/g。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) ' -11 - 經濟部中央標準局貝工消費合作社印製 A7 —B7 五、發明説明(9) 實施例2 4 3 . 4 g硝酸亞铈及2 0 0 g純水置入燒杯中,並 於攪拌下加熱至沸騰狀態。隨後,於不造成溺沸下緩緩添 加29g 35%過氧化氫’將鈽(m)鹽氧化成姉(汉 )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔Ν Η 4 Ο Η〕/〔 Ce4+〕= 3之方式添加18g 28%氨水溶液,並將 水溶液調至PH9 .0。依此方式,得到含有莫耳比〔. N03_〕/〔Ce4+〕=3之硝酸銨及氫氧化鈽(iv)之 膠態沈澱之漿液。 8 5 g所得之漿液置入鐵弗龍所製之1 2 Omj壓熱 器中,並於1 5 0°C溫度及5kg/cma壓力下進行熱液處 理1 5個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓, 製得含淡黃色顆粒之pH 1 . 6漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依實 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0 . 54 a之高度晶狀 氧化鈽顆粒。所得氧化鈽顆粒之產率爲1 0 0%。而且, 根據雜質分析,未測得鈽以外之金屬元素。 實施例3 43 . 4g硝酸亞姉及200g純水置入燒杯中,並 於攪拌下加熱至沸騰狀態。隨後,於不造成傰沸下緩緩添
加4〇g 35%過氧化氫,將鈽(m)鹽氧化成鈽(IV )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔Ν Η 4 ◦ Η〕/〔 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS ) Α4規格(210Χ297公嫠) ------------ν 裝------訂------^ ^ (請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) -12 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 — ... --------- ----------- .. _ 五、發明説明(10)
Ce4+〕= 3之方式添加24g 28%氨水溶液,並將 水溶液調至PH9 5。依此方式,得到含有莫耳比〔 N〇3-〕/〔Ce4+〕= 3之硝酸銨及氫氧化铈(iv)之 膠態沈澱之漿液。 8 5 g所得之漿液置入鶬弗龍所製之1 2 Omj?壓熱 器中,並於1 8 0°C溫度及1 Okg/ciri壓力下進行熱液 處理1 5個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓 ,製得含淡黃色顆粒之PH9.4漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依實 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0 . 5 3 #之高度晶狀 氧化鈽顆粒。所得氧化姉顆粒之產率爲1 0 0%。 實施例4 4 3 3 g硝酸亞鈽及2 0 0 g純水置入燒杯中,並於 攪拌下加熱至沸騰狀態。隨後,於不造成湍沸下緩緩添加 2 9 0 g 35%過氧化氫,將姉(m)鹽氧化成鈽(IV )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔Ν Η 4 Ο Η〕/〔 Ce4+〕=3之方式添加182g 28%氨水溶液,並 將水溶液調至PH8 . 7。依此方式,得到含有莫耳比〔 NOS-〕/〔 C e4+〕=3之硝酸銨及氫氧化鈽(IV)之 膠態沈澱之漿液。 所得之漿液置入玻璃所製之3 J2壓熱器中,並於 1 7 0°C溫度及8kg/ciri壓力下進行熱液處理3 3個小 時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓,製得含淡黃 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4规格(210X297公釐) (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝· 'v_ -13 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 311905 A7 __ B7 五、發明説明(u) 色顆粒之Ρ Η 1 . 3漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依實 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0 . 2 9 ν之高度晶狀 氧化鈽顆粒。所得氧化姉顆粒之產率爲9 9%。 所得漿液經洗滌並藉超濾裝置濃縮,得到固體含量 20重量%之含晶狀氧化鈽顆粒之ρΗ5.0漿液。當該 漿液長時間放置時,部分顆粒沈降,故需於使用時藉攪拌 再分散。 而且,分析晶狀氧化鈽顆粒之漿液對氧化矽玻璃之磨 蝕或拋光性質,且證實拋光速率幾乎較市售氧化矽溶膠磨 蝕或拋光材料高2倍。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 實施例5 4 3 於攪拌下 加2 9 g )鹽。冷 C e 4+〕 水溶液調 N 0 3-〕 膠態沈澱 分離 p Η 8 12 0m .4 g硝酸亞 加熱至沸騰狀 3 5 %過氧 卻所得之水溶 =3之方式添 至 Ρ Η 8 . 9 /〔 C e 4+〕 之漿液。 所得之膠態沈 5漿液》8 5 又壓熱器中, 鈽及2 0 態。隨後 化氫,將 液,以莫 加2 4 g ^依此方 =3之硝 澱並以純 g所之漿 並於1 8 0 g純水 ,於不造 鈽(皿) 耳比〔N 2 8 % 式,得到 酸銨及氫 水洗滌, 液置入鐵 〇 °c溫度 置入燒杯中,並 成溺沸下緩緩添 鹽氧化成鈽(IV Η 40 Η ] /〔 氨水溶液,並將 含有莫耳比〔 氧化姉(IV )之 隨後再分散得到 弗龍所製之 及 1 0 kg / c πί 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) -14 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _B7___ 五、發明説明(12) 壓力下進行熱液處理1 5個小時。完全反應後’壓熱器回 復室溫及大氣壓,製得含淡黃色顆粒之PHI·6漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依實 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0 . 09#之高度晶狀 氧化鈽顆粒。所得氧化姉顆粒之產率爲8 8%。· 實施例6 4 3 3 g硝酸亞姉及2 0 0 0 g純水置入燒杯中’並 於攪拌下加熱至沸騰狀態。隨後,於不造成傰沸下緩緩添 加290g 35%過氧化氫,將鈽(m)鹽氧化成铈( _ IV )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔Ν Η 4 Ο Η〕/ 〔Ce4+〕= 3 · 5之方式添加213g 28%氨水溶 液,並將水溶液調至pH8 · 9。依此方式,得到含有莫 耳比〔N03-〕/〔 C e4+〕= 3之硝酸銨及氫氧化鈽( IV)之膠態沈澱之漿液。所得之漿液置入玻璃所製之3 5 壓熱器中,並於1 5 0°C溫度及6kg/Cnf壓力下進行熱 液處理1 5個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣 壓,製得含淡黃色顆粒之PH8.5漿液。所得細顆粒由 反應液濾出,並洗滌。所得顆粒依實例1方式分析,並證 實爲平均粒徑0 . 2 6 A之晶狀氧化姉顆粒。所得漿液經 洗滌並藉超濾裝置濃縮得到固體含量2 0重量%之含晶狀 氧化铈之pH5·5水性分散液。於所得之水性分散液中 添加莫耳比〔N (CH3)4 + /〔Ce04〕= 0 . 02 之 氫氧化四甲敍水溶液,得到含有晶狀氧化鋪顆粒之p Η 本紙張纽適用中國國家標準(CNS ) Α4祕(210Χ297公釐) --------一 —^.------IT-----} Ά (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -15 - A7 B7 __ 五、發明説明(ig) 1 1 . 9穩定水性溶膠。 該晶狀氧化姉之水性溶膠爲製造半導體時之優越磨蝕 或拋光液體。 對照例1 3.Og氫氧化姉及4.6g硝銨分散於8〇g純水 中,得到含有莫耳比〔N 0 3-〕/〔 C e 4+〕= 4之氫氧 化鈽及硝酸銨之水溶液。所製之水溶液以1 〇重量%氫氧 化鈉水溶液調至PHI 1 .7,置入鐵弗龍製之1 2 0 壓熱器中,並於1 8 0°C溫度及1 Okg/cm2壓力下 進行熱液處理1 5個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫 及大氣壓之條件,得到含淡黃色顆粒之pHl1.5之漿 液。 由漿液濾出所得顆粒,並以純水洗滌。隨後,該顆粒 以實例1之方式分析,並證實爲平均粒徑1 0 . 2 β之高 度晶狀氧化姉顆粒。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 n- m. -1-—. >^^^1 1^1 11^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 對照例2 3 . 0 g氫氧化姉分散於8 0 g純水中,所製之水溶 液以1 0重量%氫氧化鈉水溶液調至ρ Η 1 〇 · 0。所得 水溶液置入鐵弗龍製之1 2 Omj?壓熱器中,並於1 8 0 °C溫度及1 Okg/cm2壓力下進行熱液處理1 5個小時。 完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓之條件,得到含淡 黃色顆粒之PH9.5之漿液。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)~ — -16 - 經濟部中央梯準局員工消費合作社印製 A7 __^__B7_ 五、發明説明(14) 由漿液濾出所得顆粒,並以純水洗滌。隨後,該顆粒 以實例1之方式分析,並證實爲平均粒徑8 . Ο μ之高度 晶狀氧化姉顆粒。 對照例3 4 3 . 4 g硝酸亞姉及2 0 0 g純水置入燒杯中,並 於攪拌下加熱至沸騰狀態。隨後,於不造成溺沸下緩緩添 加29g 35%過氧化氫,將姉(皿)鹽氧化成姉(iv )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔Ν Η 4 Ο Η〕/〔 C e4+〕= 3之方式添加1 8g 28%氨水溶液。依此 方式,得到含有莫耳比〔N03-〕/〔 C e4+〕= 3之硝 酸銨及氫氧化姉(IV)之膠態沈澱之漿液。 分離所得之膠態沈澱物並以純水洗滌。經洗滌之膠態 沈澱物再次分散,所得漿液以稀硝酸調至pH5 . 〇。隨 後將8 5 g漿液置入鐵弗龍製之1 2 Omi2壓熱器中,並 於1 8 0 °C溫度及1 〇 kg / c rri壓力下進行處理1 5個小 時。反應完全後,壓熱器回復室溫及大氣壓條件,得到含 有淡黃色顆粒之pHO.8漿液。 由該漿液濾出所得之顆粒,並以純水洗滌》隨後,以 實例1之方式分析該顆粒,並證實爲平均粒徑0 . 〇2从 之髙晶性氧化鈽顆粒》 對照例4 _重複實例3之方法,不同處係於8 0°C溫度下進行熱 本紙張尺度適用中國國家梯準(CNS ) A4規格(210X297公釐j " (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂 線 311305 A7 B7 五、發明説明(15) 液處理,製得含淡黃色顆粒之PH9·2漿液。 由漿液濾出所得顆粒,以純水洗滌並乾燥。經乾燥之 顆粒進行粉末X -射線繞射分析,且證實爲低晶性之氧化 鈽顆粒。 對照例5
15 · 〇g硝酸亞銨溶於70g純水中,得到pH 3 . 8之水溶液。所得之水溶液置入鐵弗龍製12 0m义 壓熱器中,並於2 0 0 °C溫度及1 5kg/crri壓力下進行 熱液處理1 9個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大 氣壓之條件下,得到含白色顆粒之pHl.3之漿液。 由漿液濾出所得顆粒並以純水洗滌。隨後,以實例1 之方式分析該顆粒,並證實爲平均粒徑8 . 3 μ之高晶性 氧化姉顆粒。然而,氧化姉之產率極低,即3%。 對照例6 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 3 . 3 g硝酸亞銨溶於燒杯中之2 0 0 g純水中。 所得之水溶液置入不銹鋼製3 0 Omj?壓熱器中,並於 4 0 0°C溫度及3 0 Okg/crrf壓力下進行熱液處理1個 小時,得到含淡黃色顆粒之pHO . 8之漿液。 由漿液濾出所得顆粒並以純水洗滌。隨後,以實例1 之方式分析該顆粒,並證實爲平均粒徑0 . 1 2 //之高晶 性氧化鈽顆粒。然而,所得氧化姉經雜質分析時,相對於 氧化姉重量測得0 . 46%Fe及0 . 13%Cr。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -18 - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 _____B7 五、發明説明(16) 對照例7 - 4 3 · 4 g硝酸距姉及2 0 0 g純水置入燒杯中,並 於攪拌下加熱至沸騰狀態。隨後’於不造成傰沸下緩緩添 加29 g 3 5%過氧化氫’將鈽(瓜)鹽氧化成姉(ιγ )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔Ν Η 4 Ο Η〕/〔 C e4+〕= 1之方式添加6 g 2 8%氨水溶液,並將水 溶液調至PH7 ‘ 4。依此方式,得到含有莫耳比〔 N〇3 -〕/〔 C e4+〕=3之硝酸銨及氫氧化姉(iv )之 膠態沈澱之漿液。 8 5 g所得之漿液置入鐵弗龍所製之1 2 Om$壓熱 器中’並於1 5 0°C溫度及5kg/cma壓力下進行熱液處 理1 5個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓, 製得含淡黃色顆粒之PH1.4漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依實 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0.48ν之高度晶狀 氧化鈽顆粒。所得氧化鈽顆粒之產率爲3 8%。根據雜質 分析,未測得鈽以外之金屬元素。 如前述實例所述,當含有氫氧化姉及硝酸鹽之水性介 質pH調至介於1 〇 0至2 0 0°C間時,可於高產率下得 到粒徑由0 . 0 3至5 /z之髙純度髙晶性氧化姉顆粒。 另一方面,當含有氫氧化姉及硝酸鹽之水性介質pH 調至介於8至1 1時,無法得到具有所需途徑之氧化铈顆 粒。而且,當於低於1 0 〇°C之溫度下進行熱液處理時’ 本紙張尺度逋用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
In-n^f I— I n^l - I mu (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂 31x805 A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明(17) 無法得到高晶性氧化姉顆粒,當於超過2 0 0°C之溫度下 進行熱液處理時,因爲反應裝置腐蝕而於氧化姉顆粒中摻 入雜質。此外,使用僅含氫氧化姉之水性介質或僅含硝酸 鹽之水性介質時,無法得到具所需粒徑之顆粒。 根據本發明,使含有氫氧化鈽及硝酸鹽之水性介質於 鹼水性介質中進行熱液反應,可製得氧化姉顆粒。本發明 中’該熱液反應於壓熱器中由1 0 0至2 0 0°C之極低溫 下提供高晶性氧化姉顆粒。結果,本發明方法可於塑料:或 玻璃所製之簡便裝置中進行。而且,因爲本發明所用之熱 液反應溫度範圍不需使用諸如不銹鋼等鋼料所製之壓熱器 ’故不致因腐蝕性材料於高溫高壓條件下腐蝕而使鋼料衍 生金屬雜質摻入顆粒產物中。因此,可得到高純度氧化姉 顆粒’該高純氧化鈽顆粒適於充作製造半導體之磨蝕或拋 光材料。 本發明所得之高純度高晶性氧化鈽顆粒可廣泛充作生 製砂半導體或複合物半導體、電子材料,諸如氧化矽絕緣 膜或有機樹脂膜、光學纖維用之石英玻璃、光學玻璃用之 鈮酸鋰、諸如水晶、硝酸鋁、氧化鋁、鐵酸鹽或氧化鉻等 陶瓷材料、諸如鋁、銅、鎢或其合金等金屬材料、諸如礙 化鎢等硬金屬之磨蝕或拋光材料。 而且,本發明所得之晶狀氧化鈽顆粒可充作供吸收 UV射線之玻璃,吸收UV射線之高分子膜等用之吸收紫 外線材料,亦可用於改善塑料之耐候性。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -----------箱 裝-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 -20 - 丨補充 : 附件一A : 第84106073號專利申請案 中文補充實施例 民國86年5月呈
新實施例A 3 0 · 2 g碳酸亞鈽及3 0 0 g純水置入燒杯中,並 於攪拌下將3 0 g之3 5%過氧化氫緩緩加入其中。將 4 3 . 3 g硝酸亞姉加入所得水溶液中,然後將所得混合 物加熱至沸騰狀態。隨後於不造成溺沸下緩緩加入6 0 g 之3 5%過氧化氫,以將姉(m)鹽氧化成鈽(iv)鹽。 冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔ΝΗ4ΟΗ〕/〔 c e4 + 〕=6之方式添加7 3 g 2 8%氨水溶液,並將水溶液 調至PH9 . 6。依此方式,得到含有莫耳比〔n〇3-〕 /〔 C e4+〕=2之硝酸銨及氫氧化鈽(IV)之膝態沈澱 之漿液。 8 5 g所得之漿液置入鐵弗龍所製之1 2 〇mj?壓熱 器中,並於1 8 0°C溫度及1 〇kg/cnf壓力下進行熱液 處理2 0個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣E ,製得含淡黃色顆粒之PH8·2漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依實 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0 . 3 5 w之高度晶狀 311905
氧化铈顆粒。所得氧化鈽顆粒之產率爲9 8%。 新實施例B 6 0 . 4 g碳酸亞铈及4 〇 〇 g純水置入燒杯中,並 於攪拌下將5 O g之3 5%過氧化氫緩緩加入其中。將 2 1 · 7 g硝酸亞鈽加入所得水溶液中,然後將所得混合 物加熱至沸騰狀態。隨後,於不造成溺沸下緩緩添加 6 0 g 35%過氧化氫,以將鈽(ΙΠ)鹽氧化成鈽(iv )鹽。冷卻所得之水溶液,以莫耳比〔NH4OH〕/ 〔Ce4+〕= 6之方式添加73g 28%氨水溶液,並 將水溶液調至PH9 . 6。依此方式,得到含有莫耳比 〔N03_〕/〔Ce4+〕=1之硝酸銨及氫氧化姉(IV) 之膠態沈澱之漿液。 8 5 g所得之漿液置入鐵弗龍所製之1 2 Οπιβ壓熱 器中,並於1 8 0°C溫度及1 〇kg/cma壓力下進行熱液 處理2 0個小時。完全反應後,壓熱器回復室溫及大氣壓 ,製得含淡黃色顆粒之PH8.0漿液。 所得顆粒由漿液濾出,並以純水洗滌。所得顆粒依® 例1方式分析,並證實爲平均粒徑0 . 3 Ομ之高度晶狀 氧化姉顆粒。所得氧化姉顆粒之產率爲9 0 %。 -2 -
Claims (1)
- ABCD 經濟部中央標準局員工消費合作社印褽 六、 申請專利範圍 i I 附 件 ; 第 84106073 號 專 利 串 請 案 1 » U 中 文 串 請 專 利 範 圍 修 正 本 1 ψ \ 民 國 86年 5月 修 正 1 r 請 1 I 1 一 種 製 備 粒 徑 由 0 . 0 3 微 米 至 1 • 5 微 米 之 氧 先 閱 1 | 1 1 化 姉 ( IV ) 顆 粒 之 方 法 > 其 包 括 以 驗 物 質 將 含 有 氫 氧 化 鈽 背 面 1 1 之 1 ( IV ) 及硝 酸 nyp* 鹽 之 水 性 介 質 的 P Η 調 整 成 範 圍 在 8 至 1 1 注 意 1 事 1 1 並 於 10 0 至 2 0 0 °c 溫 度 下 以 及 於 加 壓 下 加 熱 該 水 性 項 再 L 填 介 質 冩 本 裝 1 其 中氫 氧 化 鈽 ( IV ) 及 硝 酸 鹽 係 以 ( N 0 3~ ) / C 頁 '--- 1 1 C e 4 + 〕= 由 1 至 6 之 莫 耳 比 存 在 於 水 性 介 質 中 > 且 1 1 其 中該 硝 酸 鹽 爲 硝 酸 銨 、 硝 酸 鈉 、 硝 酸 鉀 或 其 混 合 物 1 | 0 訂 I 2 .如 串 請 專 利 範 圍 第 1 項 之 方 法 其 中 該 硝 酸 鹽 爲 1 1 I 硝 酸 駿 、硝 酸 鈉 硝 酸 鉀 或 其 混 合 物 〇 1 1 I 3 •如 串 請 專 利 範 圍 第 1 項 之 方 法 其 中 該 驗 物 質 爲 1 L .i, 1 氨 、 氫 氧化 鈉 、 氫 氧 化 鉀 或 其 混 合 物 〇 4 .一 種 溶 膠 其 可 在 矽 半 導 體 或 複 合 物 半 導 體 之 製 1 :1 程 中 充 作供 氧 化 矽 絕 緣 膜 或 有 機 樹 脂 膜 用 之 磨 蝕 或 抛 光 液 1 | 體 其 係由 水 性 介 質 及 安 定 地 分 散 於 該 介 質 中 之 晶 狀 氧 化 I 銪 ( IV )顆 粒 所 f-M. 構 成 , 其 中 該 顆 粒 係 藉 著 添 加 莫 耳 比 ( 1 I N R 4+) / ( C e 0 2) =由0 · 0 C 1 至1 之N R 4 + f 1 1 R 4 = =院基) 季銨離子於含有晶狀氧化鈽 IV ) 顆粒之水 1 1 性 分 散 液而 安 定 化 * 且 其 中 該 晶 狀 氧 化 姉 ( IV ) 顆 粒 爲 由 1 1 如 •申 請 專利 範 圍 第 1 項 之 方 法 所 製 備 0 1 1 尺 張 紙 尽 準 標 家 國 國 中 用 適 讀
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15847994 | 1994-07-11 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW311905B true TW311905B (zh) | 1997-08-01 |
Family
ID=15672645
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW084106073A TW311905B (zh) | 1994-07-11 | 1995-06-14 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5543126A (zh) |
| KR (1) | KR100379653B1 (zh) |
| TW (1) | TW311905B (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9328261B2 (en) | 2013-12-24 | 2016-05-03 | Asahi Glass Company, Limited | Polishing agent, polishing method, and manufacturing method of semiconductor integrated circuit device |
| CN109022767A (zh) * | 2018-09-28 | 2018-12-18 | 中国恩菲工程技术有限公司 | 稀土沉淀装置和稀土沉淀方法 |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5962343A (en) | 1996-07-30 | 1999-10-05 | Nissan Chemical Industries, Ltd. | Process for producing crystalline ceric oxide particles and abrasive |
| KR100759182B1 (ko) * | 1996-09-30 | 2007-09-14 | 히다치 가세고교 가부시끼가이샤 | 산화세륨 입자 |
| JP3333699B2 (ja) * | 1996-11-22 | 2002-10-15 | 仲道 山崎 | 連続水熱反応における原料粒子噴霧方法および装置 |
| JP3359535B2 (ja) * | 1997-04-25 | 2002-12-24 | 三井金属鉱業株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| TW365563B (en) * | 1997-04-28 | 1999-08-01 | Seimi Chem Kk | Polishing agent for semiconductor and method for its production |
| JPH11181403A (ja) * | 1997-12-18 | 1999-07-06 | Hitachi Chem Co Ltd | 酸化セリウム研磨剤及び基板の研磨法 |
| US6572449B2 (en) | 1998-10-06 | 2003-06-03 | Rodel Holdings, Inc. | Dewatered CMP polishing compositions and methods for using same |
| US6241586B1 (en) * | 1998-10-06 | 2001-06-05 | Rodel Holdings Inc. | CMP polishing slurry dewatering and reconstitution |
| US6447693B1 (en) | 1998-10-21 | 2002-09-10 | W. R. Grace & Co.-Conn. | Slurries of abrasive inorganic oxide particles and method for polishing copper containing surfaces |
| NZ511080A (en) | 1998-10-21 | 2003-05-30 | W | Aqueous alkaline (pH 10.8) slurries prepared from slurries with a particle size from 0.1-0.5 microns heated or autoclaved to increase abrasivity |
| EP1201725A4 (en) * | 1999-06-28 | 2007-09-12 | Nissan Chemical Ind Ltd | ABRASIVE COMPOUND FOR HARD DISK GLASS TRAY |
| US6204219B1 (en) * | 1999-07-29 | 2001-03-20 | W. R. Grace & Co.-Conn. | Thermally stable support material and method for making the same |
| US6443811B1 (en) * | 2000-06-20 | 2002-09-03 | Infineon Technologies Ag | Ceria slurry solution for improved defect control of silicon dioxide chemical-mechanical polishing |
| US6689178B2 (en) * | 2000-10-02 | 2004-02-10 | Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd. | Cerium based abrasive material and method for producing cerium based abrasive material |
| KR100450522B1 (ko) * | 2000-12-18 | 2004-10-01 | 주식회사 소디프신소재 | 초미분 산화 세륨 연마제의 제조 방법, 이에 의해 제조된연마제 및 이를 사용하여 기판을 연마하는 방법 |
| US6596042B1 (en) * | 2001-11-16 | 2003-07-22 | Ferro Corporation | Method of forming particles for use in chemical-mechanical polishing slurries and the particles formed by the process |
| WO2003044123A1 (en) * | 2001-11-16 | 2003-05-30 | Ferro Corporation | Particles for use in cmp slurries and method for producing them |
| KR100477939B1 (ko) * | 2002-04-15 | 2005-03-18 | 주식회사 엘지화학 | 단결정 산화세륨 분말의 제조방법 |
| KR100511943B1 (ko) * | 2003-05-22 | 2005-09-01 | 한화석유화학 주식회사 | 화학·기계 연마용 산화세륨 초미립자 농축액 및 이의제조방법 |
| KR100787346B1 (ko) | 2005-08-31 | 2007-12-18 | 주식회사 엘지화학 | 산화세륨의 제조방법 |
| CN100357362C (zh) * | 2005-12-26 | 2007-12-26 | 内蒙古科技大学 | 一种抛光用超细氧化铈的制备方法 |
| ATE546490T1 (de) * | 2006-12-28 | 2012-03-15 | Dow Corning Toray Co Ltd | Wärmehärtende silikonkautschukzusammensetzung |
| US8252087B2 (en) | 2007-10-31 | 2012-08-28 | Molycorp Minerals, Llc | Process and apparatus for treating a gas containing a contaminant |
| US8349764B2 (en) | 2007-10-31 | 2013-01-08 | Molycorp Minerals, Llc | Composition for treating a fluid |
| KR20120094896A (ko) * | 2009-07-06 | 2012-08-27 | 몰리코프 미네랄스, 엘엘씨 | 상처 드레싱에서 항균 장벽 및 살균제로 이용되는 세리아 |
| US9233863B2 (en) | 2011-04-13 | 2016-01-12 | Molycorp Minerals, Llc | Rare earth removal of hydrated and hydroxyl species |
| CN102730740B (zh) * | 2012-07-06 | 2014-03-12 | 南京信息工程大学 | 一种制备立方晶系氧化铈纳米晶的方法 |
| MX370462B (es) | 2014-03-07 | 2019-12-13 | Secure Natural Resources Llc | Oxido de cerio (iv) con propiedades de remocion de arsenico excepcionales. |
| SG11201908858SA (en) | 2017-03-27 | 2019-10-30 | Hitachi Chemical Co Ltd | Slurry and polishing method |
| WO2018179061A1 (ja) | 2017-03-27 | 2018-10-04 | 日立化成株式会社 | 研磨液、研磨液セット及び研磨方法 |
| KR102576637B1 (ko) | 2018-03-22 | 2023-09-07 | 가부시끼가이샤 레조낙 | 연마액, 연마액 세트 및 연마 방법 |
| WO2020021680A1 (ja) * | 2018-07-26 | 2020-01-30 | 日立化成株式会社 | スラリ及び研磨方法 |
| WO2020065723A1 (ja) | 2018-09-25 | 2020-04-02 | 日立化成株式会社 | スラリ及び研磨方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2617153B1 (fr) * | 1987-06-26 | 1991-04-05 | Rhone Poulenc Chimie | Procede d'obtention d'un oxyde cerique et oxyde cerique a nouvelles caracteristiques morphologiques |
| FR2617154B1 (fr) * | 1987-06-29 | 1990-11-30 | Rhone Poulenc Chimie | Procede d'obtention d'oxyde cerique et oxyde cerique a nouvelles caracteristiques morphologiques |
| JP2777044B2 (ja) * | 1993-04-19 | 1998-07-16 | 日産化学工業株式会社 | バリウムフェライト微粒子の製造方法 |
| US5389352A (en) * | 1993-07-21 | 1995-02-14 | Rodel, Inc. | Oxide particles and method for producing them |
-
1995
- 1995-06-14 TW TW084106073A patent/TW311905B/zh not_active IP Right Cessation
- 1995-06-15 US US08/490,612 patent/US5543126A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-06-28 KR KR1019950017864A patent/KR100379653B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9328261B2 (en) | 2013-12-24 | 2016-05-03 | Asahi Glass Company, Limited | Polishing agent, polishing method, and manufacturing method of semiconductor integrated circuit device |
| CN109022767A (zh) * | 2018-09-28 | 2018-12-18 | 中国恩菲工程技术有限公司 | 稀土沉淀装置和稀土沉淀方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR960004213A (ko) | 1996-02-23 |
| US5543126A (en) | 1996-08-06 |
| KR100379653B1 (ko) | 2003-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW311905B (zh) | ||
| Djuričić et al. | Nanostructured cerium oxide: preparation and properties of weakly-agglomerated powders | |
| US5938837A (en) | Cerium oxide ultrafine particles and method for preparing the same | |
| TW555696B (en) | Alumina powder, process for producing the same and polishing composition | |
| JP3837754B2 (ja) | 結晶性酸化第二セリウムの製造方法 | |
| CN103402909B (zh) | 使uo3和/或u3o8转化为水合uo4的方法 | |
| CN103030181A (zh) | 生产细碎赤铁矿和氧化铁红颜料的改进方法 | |
| EP1154952A1 (en) | Precipitation process | |
| JP4051726B2 (ja) | 酸性水性アルミナゾルの製造法 | |
| KR19990021989A (ko) | 구상으로 응집된 염기성 탄산 코발트(ii) 및 구상으로 응집된 수산화 코발트(ii), 그의 제조 방법 및 그의 용도 | |
| US8580226B2 (en) | Synthesis of sodium titanate and ion exchange use thereof | |
| Petrunin et al. | Synthesis of nanocrystalline high-temperature zirconia phases | |
| CN101668704B (zh) | 二氧化钛的水热制备方法 | |
| RU2136593C1 (ru) | Аморфное производное каолина и способ его получения | |
| JP4281943B2 (ja) | 板状アルミナ粒子の製造方法 | |
| JP5115039B2 (ja) | 低ソーダ微粒水酸化アルミニウム及びその製造方法 | |
| JP2005514314A (ja) | α−アルミナナノ粉末の製造方法 | |
| AU623087B2 (en) | Procedure for obtaining a colloidal dispersion of a compound of rare earth in an aqueous medium and product obtained | |
| CN109423692B (zh) | 一种硼酸铝晶须的合成工艺 | |
| KR20020011820A (ko) | 실리카졸의 제조방법 | |
| JPH028967B2 (zh) | ||
| JP6209072B2 (ja) | シリカ粒子の製造方法 | |
| JPS58213633A (ja) | 酸化アルミニウムの製造方法 | |
| Ladjouzi et al. | γ-radiation, chemical synthesis of Ce3+: Gd2Si2O7/SiO2 nanocomposite | |
| JP7165538B2 (ja) | リン回収材およびその製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |