TW202506017A

TW202506017A - 霧氣生成裝置

Info

Publication number: TW202506017A
Application number: TW112151682A
Authority: TW
Inventors: 隅井干城; 田村遼
Original assignee: 日商日本煙草產業股份有限公司
Priority date: 2023-08-09
Filing date: 2023-12-29
Publication date: 2025-02-16
Also published as: WO2025032771A1

Abstract

作為霧氣生成裝置的一例之吸嚐裝置(100)具備有：電源部(111)，係蓄積及供給電力；收容部(140)，係收容棒條型基材(150)；加熱部(121)，係使用從電源部(111)供給來的電力，對於收容於收容部(140)的棒條型基材(150)進行加熱；以及控制部(116)，係構成為可控制對於加熱部(121)的電力的供給，且可取得與加熱部(121)的溫度有關的參數。控制部(116)根據以預定的電力脈衝作為檢測用脈衝施加於加熱部(121)所得到的參數，而判定是否有不同於棒條型基材(150)之滯留物存在於收容部(140)內。

Description

霧氣生成裝置

本發明係關於霧氣生成裝置。

已知有一種吸嚐器，係例如使帶有香味成分的霧氣(aerosol，亦稱為氣溶膠)生成，讓使用者(user)可吸嚐生成的霧氣。如此的吸嚐器，典型的係從充電式電池等之電源供給電力給採用電阻式或感應加熱式的加熱器(heater)之加熱部，由加熱部對霧氣源(aerosol source)進行加熱而使霧氣生成。

例如，下述專利文獻1中揭示了如下技術：當霧氣生成裝置的控制部感測到用來清潔霧氣生成裝置的內部及/或外部之清潔裝置與霧氣生成裝置結合，就從一般模式切換到清潔模式。

[先前技術文獻]

[專利文獻]

[專利文獻1]日本特表2022-518121號公報

然而，如前述的吸嚐器之霧氣裝置的研究開發的歴史還不算長，從提供高品質的體驗給使用者的觀點來說還有改善的餘地。

本發明提供了能夠提供高品質的體驗給使用者之霧氣生成裝置。

本發明的一態樣係為一種霧氣生成裝置，係對於含有霧氣源的基材進行加熱來使霧氣(aerosol)生成之霧氣生成裝置，具備有：

電源部，係蓄積及供給電力；

收容部，係收容前述基材；

加熱部，係使用從前述電源部供給來的電力，對於收容於前述收容部之前述基材進行加熱；以及

控制部，係構成為可控制對於前述加熱部的電力的供給，且可取得與前述加熱部的溫度有關的參數，

前述控制部係根據以預定的電力脈衝作為檢測用脈衝施加於前述加熱部所得到的前述參數，而判定是否有滯留物存在於前述收容部內。

根據本揭示，可提供能夠提供高品質的體驗給使用者之霧氣生成裝置。

10:檢測用脈衝群

11:第一檢測用脈衝

12:第二檢測用脈衝

13:第三檢測用脈衝

20:線

21:箭號

22:箭號

30:線

31:線

40:預定範圍

100:吸嚐裝置(霧氣生成裝置)

111:電源部

112:感測器部

113:通知部

114:記憶部

115:通訊部

116:控制部

121:加熱部

140:收容部

141:內部空間

142:開口

143:底部

144:隔熱部

150:棒條型基材(基材)

151:基材部

152:吸口部

Pr1:吸煙用加熱設定資料

Pr2:清潔用加熱設定資料

S1~S11:步驟

圖1係示意地顯示本實施型態的吸嚐裝置100的一構成例之示意圖。

圖2係顯示吸嚐裝置100所具有的吸煙用加熱設定資料Pr1的一例之圖。

圖3係顯示在檢測動作中施加於加熱部121的電壓的時序變化的一例之圖。

圖4係顯示檢測動作中的加熱部121的電阻值的時序變化的第一例之圖。

圖5係顯示檢測動作中的加熱部121的電阻值的時序變化的第二例之圖。

圖6係顯示判定為有滯留物存在的條件的另一例之圖。

圖7係顯示在檢測動作中施加於加熱部121的電壓的時序變化的另一例之圖。

圖8係顯示控制部116執行的處理的一例之流程圖。

圖9係顯示吸嚐裝置100所具有的清潔用加熱設定資料Pr2的一例之圖。

以下，參照圖式來詳細說明本發明的霧氣生成裝置的一實施型態。以下說明的實施型態，係將本發明的霧氣生成裝置應用於吸嚐裝置的情況之例。圖式係依元件符號之方向顯示者。以下，將相同或類似的元件標以相同或類似的符號，並適當地省略或簡化其說明。

[1.吸嚐裝置的構成例]

圖1係示意地顯示本實施型態的吸嚐裝置100的一構成例之示意圖。圖1所示之本實施型態的吸嚐裝置100，係生成供使用者吸嚐的物質，讓使用者可吸嚐生成的物質之裝置。以下，以吸嚐裝置100所生成的物質為霧氣(aerosol)的情況為例進行說明，但吸嚐裝置100所生成的物質亦可為氣體。

如圖1所示，吸嚐裝置100係包含電源部111、感測器部112、通知部113、記憶部114、通訊部115、控制部116、加熱部121、收容部140及隔熱部144而構成。

電源部111係蓄積電力。而且，電源部111係根據控制部116的控制而供給電力給吸嚐裝置100的各構成元件。電源部111可構成為可利用從未圖示的外部電源接受的電力而充電。電源部111可由例如鋰離子二次電池等之充電式電池所構成。

感測器部112係取得與吸嚐裝置100有關的各種資訊。感測器部112係包含例如電容器麥克風等之壓力感測器、流量感測器或溫度感測器(例如熱敏電阻(thermistor))等而構成，取得隨著使用者的吸嚐而變化的值。舉一例來說，感測器部112可包含能夠取得由於使用者的吸嚐而產生的吸嚐裝置100內的壓力的變化之壓力感測器(也稱為「抽吸感測器(puff sensor)」)。舉另一例來說，感測器部112可包含能夠取得由於使用者的吸嚐而產生的空氣等的流量之流量感測器。感測器部112亦可包含能夠取得吸嚐裝置100內的預定的部位(例如電源部111或加熱部121)的溫度之溫度感測器。感測器部112還可包含例如操作按鈕或操作開關等之接受來自使用者的資訊的輸入(亦即操作)之輸入裝置而構成。

通知部113係將資訊通知給使用者。通知部113可由例如發光的發光裝置、顯示圖像的顯示裝置、輸出聲音的聲音輸出裝置或會振動的振動裝置等所構成。

記憶部114係記憶吸嚐裝置100進行動作所需的各種資訊(例如程式及資料)。記憶部114可由例如快閃記憶體(fresh memory)等之非揮發性的記憶媒體所構成。

通訊部115係可進行遵循有線或無線的任意的通訊規格的通訊之通訊介面。上述的通訊規格可採用例如利用Wi-Fi(註冊商標)、Bluetooth(註冊商標)、BLE(Bluetooth Low Energy，藍芽低功耗，註冊商標)、NFC(Near Field Communication，近場通訊)或LPWA(Low Power Wide Area，低功耗廣域)等之規格。

控制部116係發揮作為演算處理裝置及控制裝置之功能，依照記憶部114等中記憶的各種程式而控制吸嚐裝置100內的所有動作。例如，控制部116控制從電源部111供給到包含後述的加熱部121之各構成元件的電力供給。控制部116係藉由例如CPU(Central Processing Unit，中央處理單元)或微處理器(microprocessor)等電子電路而實現。舉一例來說，控制部116可藉由MCU(Micro Controller Unit，微控制單元)而實現。

收容部140係具有內部空間141，內部空間141收容棒條型基材150的一部分並保持棒條型基材150。收容部140具有使內部空間141與外部連通之開口142，收容從開口142插入內部空間141之棒條型基材150。例如，收容部140係為一端為該開口142另一端為底部143之筒狀體，而形成有柱狀的內部空間141。收容部140係連接有將空氣供給到內部空間141之空氣流路。空氣流入空氣流路的入口之空氣流入孔係配置於例如吸嚐裝置100的側面。空氣從空氣流路流出的出口之空氣流出孔係配置於例如該底部143。

棒條型基材150係為含有霧氣源之基材的一例，包含基材部151及吸口部152。基材部151係包含霧氣源。霧氣源係含有源自於菸草或非源自於菸草的香味成分。吸嚐裝置100為噴霧器(nebulizer)等之醫療用吸入器之情況，霧氣源可含有藥劑。霧氣源可為例如含有源自於菸草或非源自於菸草的香味成分之甘油(glycerin)及丙二醇(propylene glycol)等之多元醇類及水等之液體，亦可為含有源自於菸草或非源自於菸草的香味成分之固體。

在棒條型基材150由收容部140加以保持住(亦即收容於收容部140)的狀態，基材部151的至少一部分係收容於內部空間141，吸口部152的至少一部分係從開口142突出。當使用者含著從開口142突出的吸口部152進行吸嚐，空氣就經由未圖示的空氣流路流入內部空間141，最後與從基材部151生出的霧氣(aerosol)一起到達使用者的口內。

加熱部121係對霧氣源進行加熱，使霧氣源霧化而生成霧氣。圖1所示的例子，加熱部121係構成為膜狀加熱器(film heater)，並配置成覆蓋在收容部140的外周，膜狀加熱器係在膜內佈設由具有電阻值與溫度的相關性之發熱電阻體形成的導電路(track)而構成。加熱部121有來自電源部111的電力供給就會發熱。在有棒條型基材150插入收容部140(亦即內部空間141)的狀態使加熱部121發熱，就從外周對棒條型基材150的基材部151進行加熱，使霧氣生成。

加熱部121的發熱電阻體可採用例如鎳鉻合金(nichrome)或不鏽鋼之具有電阻值會與溫度上升成比例而變大的PTC(Positive Temperature Coefficient，正溫度係數)特性之材料。

隔熱部144係防止加熱部121發出的熱傳遞到其他的構成元件。例如，隔熱部144係由真空隔熱材或氣凝膠(aerogel)隔熱材等所構成。

以上，說明了吸嚐裝置100的一構成例。當然，吸嚐裝置100的構成並不限定於上述構成，還可採用以下例示的各種構成。

例如，加熱部121亦可構成為板狀，且配置成從收容部140的底部143突出到內部空間141。在此情況，板狀的加熱部121係插入棒條型基材150的基材部151，從內部對棒條型基材150的基材部151進行加熱。又例如，加熱部121亦可配置成覆蓋收容部140的底部143。再者，加熱部121亦可組合覆蓋於收容部140的外周之第一加熱部、板狀的第二加熱部及覆蓋收容部140的底部143之第三加熱部之中的兩者以上而構成。

又例如，收容部140亦可包含讓形成內部空間141之外殼的一部分開閉之鉸鍊等的開閉機構。以及，收容部140可藉由外殼之開閉而將插入內部空間141之棒條型基材150夾持住。在此情況，加熱部121可設於收容部140之該夾持部位，而以按壓著棒條型基材150的狀態進行加熱。

另外，使霧氣源霧化之手段亦可為感應加熱。在此情況，吸嚐裝置100係至少具有使磁場產生之線圈(coil)等的電磁感應源，來取代加熱部121。會在感應加熱下發熱的承熱器(susceptor)可設於吸嚐裝置100，亦可包含在棒條型基材150中。

[2.吸嚐裝置的動作例]

接著，說明吸嚐裝置100的動作例。

(2-1.霧氣的生成)

在吸嚐裝置100中，控制部116係回應例如使用者做出的霧氣生成要求，使加熱部121對於收容於收容部140之棒條型基材150進行加熱來使霧氣的生成進行。

霧氣生成要求可為例如將棒條型基材150插入收容部140之操作。就另一例而言，霧氣生成要求可為按壓設於吸嚐裝置100的操作按鈕之操作。霧氣生成要求並不限於對吸嚐裝置100的直接的操作，亦可為例如從可與吸嚐裝置100通訊之其他裝置(例如吸嚐裝置100的使用者的智慧手機，以下皆同)發送出預定資訊(例如指示要生成霧氣的資訊)之操作。

在霧氣的生成時，控制部116係根據例如預先準備的預定的加熱設定資料(heating profile，亦稱為加熱曲線)控制加熱部121的溫度而使霧氣的生成進行。加熱設定資料係為例如規定加熱部121的溫度的目標值(亦即目標溫度)的時序變化之資訊，預先記憶於記憶部114等中。

以下，將吸嚐裝置100所具有的加熱設定資料之中用於霧氣的生成之加熱設定資料稱為「吸煙用加熱設定資料Pr1」。另外，以下將根據吸煙用加熱設定資料Pr1之加熱部121的溫度控制稱為「加熱控制」。

吸煙用加熱設定資料Pr1係設計成例如使用者在吸嚐從棒條型基材150生成的霧氣之際所嚐到的香味會為最合適。根據如此的吸煙用加熱設定資料Pr1控制加熱部121的溫度而使霧氣的生成進行，可提供高品質的吸煙體驗(吸嚐體驗)給使用者。

圖2係顯示吸嚐裝置100所具有的吸煙用加熱設定資料Pr1的一例之圖。圖2中，縱軸表示加熱部121的溫度[℃]，橫軸表示時間[s]，更具體地說，係表示加熱控制開始後的經過時間。

如圖2所示，吸煙用加熱設定資料Pr1係例如規定與從0[s]到t1[s](t1>0)的經過時間對應的目標溫度為T1[℃]，規定與從t1[s]到t2[s](t2>t1)的經過時間對應的目標溫度為T2[℃](T2<T1)，規定與從t2[s]到t3[s](t3>t2)的經過時間對應的目標溫度為T3[℃](T3>T2)。

因此，控制部116進行根據圖2所示的吸煙用加熱設定資料Pr1之加熱控制，就使加熱部121先升溫到T1[℃]後暫時降溫到T2[℃]，然後再升溫到T3[℃]。控制部116在加熱控制開始後經過t3[s]，就使加熱控制結束。控制部116亦可在當加熱控制開始後進行了預定次數(例如15次)的吸嚐的情況，在該時點使加熱控制結束。

在吸嚐裝置100，設想為會有充分的量的霧氣產生之期間，亦稱為「可抽吸期間」。另外，加熱開始後到可抽吸期間開始為止的期間，亦稱為「預備加熱期間」。典型的，將加熱部121的溫度到達最初的目標溫度而設想加熱部121已變得足夠高溫的時期當作是可抽吸期間的開始時期。

圖2所示的例子，係加熱控制開始後經過時間從0[s]到t11[s]的期間為預備加熱期間，從t11[s]到t3[s]的期間為可吸嚐期間。其中，t11[s]係比設想的加熱部121的溫度到達最初的目標溫度T1[℃]的經過時間t10[s]大，比要開始降溫到T1[℃]之後的下一個目標溫度T2[℃]之經過時間t1[s]小。

更詳細說明根據加熱設定資料之加熱部121的溫度控制，則控制部116係根據與該溫度控制開始後的經過時間對應的目標溫度與加熱部121的實際的溫度(以下稱為「實際溫度」)的乖離，而控制加熱部121的溫度。具體而言，此時，控制部116係將加熱部121的溫度控制成使得加熱部121的實際溫度的時序變化與加熱設定資料所規定的目標溫度的時序變化一樣。

加熱部121的溫度控制可藉由例如公知的回授控制而實現。例如，控制部116使來自電源部111的電力，以經過脈衝寬度調變(PWM)或脈衝頻率調變(PFM)的脈衝的型態供給至加熱部121。在此情況，控制部116可藉由調整電力脈衝的負載比(duty ratio)而進行加熱部121的溫度控制。

在回授控制中，控制部116只要根據實際溫度與目標溫度之差分等，而控制供給至加熱部121的電力，例如上述的負載比即可。回授控制可為例如PID控制(Proportional-Integral-Differential Controller，比例積分微分控制)。或者，控制部116可進行單純的ON-OFF(導通-關斷)控制。例如，控制部116可執行加熱部121之加熱直到實際溫度到達目標溫度，並在實際溫度到達目標溫度就使加熱部121之加熱停止，實際溫度降到低於目標溫度就再度執行加熱部121之加熱。

加熱部121的溫度可藉由例如測量或推測構成加熱部121之發熱電阻體的電阻值來取得(亦即加以定量)。此係因為發熱電阻體的電阻值會隨著溫度而變化的緣故。發熱電阻體的電阻值可例如測量在發熱電阻體的電壓降低量來推估(亦即取得)。在發熱電阻體的電壓降低量，可藉由測量施加於發熱電阻體的電位差之電壓感測器來測定(亦即取得)。

(2-2.收容部140的狀態的判定)

然而，隨著吸嚐裝置100的使用，會有例如經長時間使用的棒條型基材150的一部分或從棒條型基材150掉出的菸草葉之類的物體(所謂的「煙蒂」)還滯留在收容部140內的情形。以下，將如此的滯留在收容部140內的物體稱為「滯留物」。

本說明書等中，只要沒有特別註明，否則收容於收容部140的棒條型基材150都不包含在滯留物中。更具體地說，本說明書等中的滯留物，主要設想的都是體積或熱容量比新品的棒條型基材150小的物體，只要沒有特別註明，係將收容於收容部140的棒條型基材150與滯留物視為不同的東西。

在有滯留物存在的狀態，想要使霧氣生成而使加熱部121升溫，就會有從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部140而難以去除的情形。假如有如此的事情發生，就可能給使用者不舒服的感覺，吸嚐裝置100提供給使用者的體驗的品質就可能會降低。因此，從提高吸嚐裝置100的商品性的觀點來說，希望能夠依據包含是否有滯留物存在之收容部140的狀態而使吸嚐裝置100適切地動作。

因此，在吸嚐裝置100，控制部116根據與加熱部121的溫度有關的參數而判定收容部140的狀態，並根據判定結果而控制吸嚐裝置100的動作。因而，可依據收容部140的狀態而使吸嚐裝置100適切地動作。而且，根據與加熱部121的溫度有關的參數而判定收容部140的狀態，與利用光學感測器等來判定收容部140的狀態的情況相比較，可用簡單構成來判定收容部140的狀態。

與加熱部121的溫度有關的參數的一例，係為加熱部121(更具體地說係構成加熱部121之發熱電阻體)的電阻值。以下，以與加熱部121的溫度有關的參數為加熱部121的電阻值為例進行說明。另外，本實施型態中，說明的是加熱部121具有PTC特性，加熱部121的電阻值係與加熱部121的溫度上升成比例而變大的情況。亦即，在以下的說明中的「加熱部121的溫度」與「加熱部121的電阻值」可相互替換解讀。

控制部116係根據將預定的電力脈衝(亦即「檢測用脈衝」)施加於加熱部121所得到的加熱部121的電阻值，來判定收容部140的狀態。因而，可用簡單的構成及控制來判定收容部140的狀態。更具體而言，控制部116判定是否有不同於棒條型基材150之滯留物存在於收容部140內，作為收容部140的狀態。換言之，控制部116係檢測收容部140內是否有滯留物。

例如，在有滯留物存在於收容部140內的情況，相較於沒有滯留物存在的情況，較會抑制施加檢測用脈衝於加熱部121之際的加熱部 121的溫度上升。此係因為施加檢測用脈衝於加熱部121之際產生的熱的一部分會被滯留物吸熱的緣故。因此，控制部116可根據將預定的檢測用脈衝施加於加熱部121所得到的加熱部121的電阻值(亦即加熱部121的溫度)來判定是否有滯留物存在於收容部140內。

例如，控制部116在施加檢測用脈衝到加熱部121所得到的加熱部121的電阻值在閾值以下的情況，判定為有滯留物存在於收容部140內。在此情況，吸嚐裝置100的製造者可預先將藉由實驗等而求出的預定值設定為閾值。藉此，可精準地從加熱部121的電阻值檢測出收容部140內是否有滯留物。亦即，利用加熱部121的會會與溫度上升成比例而變大的參數之電阻值的特性，可精準地檢測出收容部140內是否有滯留物。

控制部116亦可根據重複施加複數次檢測用脈衝到加熱部121所得到的電阻值，來判定是否有滯留物存在於收容部140內。

例如，有滯留物存在於收容部140內的情況，相較於沒有滯留物存在的情況，較會抑制每一個檢測用脈衝所造成的加熱部121的溫度上升。因此，可設想收容部140內有滯留物存在的情況與沒有滯留物存在的情況的加熱部121的溫度差，會隨著越重複施加檢測用脈衝到加熱部121而變得越大。因此，控制部116根據重複施加複數次檢測用脈衝到加熱部121所得到的電阻值，來判定是否有滯留物存在於收容部140內，可更精準地檢測出是否有滯留物存在於收容部140內。關於根據重複施加複數次檢測用脈衝到加熱部121所得到的電阻值來判定是否有滯留物存在於收容部140內的情況的具體例將在後面說明，因此將此處的說明省略。

(2-3.依據收容部140的狀態之控制)

控制部116在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，就例如在該時點使對於加熱部121的電力的供給停止。藉此，可抑制在有滯留物存在的狀態使加熱部121升溫的情形發生，可防止從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部140內的情形發生。

控制部116亦可在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，使吸嚐裝置100轉變為禁止加熱控制的執行之鎖定(lock)狀態。在吸嚐裝置100為鎖定狀態的情況，控制部116即使接收到霧氣生成要求也不執行加熱控制。在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況時轉變為如此的鎖定狀態，可抑制在有滯留物存在於收容部140內的狀態使加熱部121升溫的情形發生，可防止從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部140內的情形發生。

藉由在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況轉變為如此的鎖定狀態，也可藉由未執行加熱控制來提醒使用者收容部140內存在有滯留物。此外，也可敦促使用者將收容部140內的滯留物去除掉。

控制部116在例如吸嚐裝置100為鎖定狀態的情況，接收到來自使用者的重設(reset)要求，就解除鎖定狀態。重設要求可為例如使用設於吸嚐裝置100的操作按鈕而進行的預定的重設操作。重設要求並不限於對於吸嚐裝置100的直接的操作，亦可為例如接收到從可與吸嚐裝置100通訊之其他裝置發送出的預定資訊(例如指示要重設吸嚐裝置100的資訊)。藉此，即使吸嚐裝置100轉變為鎖定狀態，使用者也可在將收容部140內的滯留物去除掉之後進行重設要求，而使加熱控制執行，而可吸嚐藉由加熱部121的加熱而生成的霧氣。

控制部116可在將吸嚐裝置100的鎖定狀態解除後馬上又再度判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，使吸嚐裝置100轉變為禁止加熱控制的執行之特別鎖定狀態。舉一例來說，控制部116可在鎖定狀態解除後，在第一次檢測動作(後述)判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，轉變為特別鎖定狀態。

然後，控制部116可為在吸嚐裝置100為特別鎖定狀態的情況接收到來自使用者的特別重設要求，就解除特別鎖定狀態。在此情況，若將重設要求當作是第一操作，則特別重設要求可設想是需要比第一操作多的操作之第二操作。亦即，特別重設要求可為重設要求+α之操作。

將特別重設要求設定為重設要求+α之操作，在吸嚐裝置100轉變為特別鎖定狀態的情況，就必須相較於鎖定狀態的情況做更多的操作以執行加熱控制。亦即，例如當使用者在吸嚐裝置100轉變為鎖定狀態之際不進行將收容部140內的滯留物確實地去除之適當的處置，只是單純地進行重設要求而試著執行加熱控制，可對於使用者藉由使吸嚐裝置100轉變為特別鎖定狀態來要求更多的操作以執行加熱控制。因此，可促使使用者在吸嚐裝置100轉變為鎖定狀態之際確實進行收容部140內的滯留物的去除(亦即為了避免轉變為特別鎖定狀態)。

控制部116可在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，經由可通知資訊給吸嚐裝置100的使用者之通知部113，將判定為有滯留物存在之結果通知給使用者。藉此，可敦促使用者去確認收容部140內的情況，且若確實有滯留物存在可敦促使用者進行收容部140內的清潔以將該滯留物去除掉。

舉一例來說，在通知部113包含發光裝置的情況，控制部116可藉由使該發光裝置以預定的發光態樣發光，來通知使用者有滯留物存在之判定結果。此處，預定的發光態樣可為例如只在通知使用者有滯留物存在的判定之際才使用的發光態樣，亦即與其他的表示錯誤(error)或吸嚐裝置100的狀態之發光態樣不同的發光態樣。另外，此處所謂的發光態樣，係指發光顏色、發光個數(例如發光的發光元件的個數)或發光模式(例如閃爍的型態)等。如此的話，就可用對於使用者而言直觀易懂的方式通知使用者有滯留物存在之判定結果。

舉另一例來說，在通知部113包含振動裝置的情況，控制部116可藉由使該振動裝置以預定的振動態樣振動，來通知使用者有滯留物存在之判定結果。此處，預定的振動態樣可為例如只在通知使用者有滯留物存在的判定之際才使用的振動態樣，亦即與其他的表示錯誤(error)或吸嚐裝置100的狀態之振動態樣不同的振動態樣。另外，此處所謂的振動態樣，係指振動模式(例如振動的型態)、振動的強度、振動的頻率或持續振動的振動時間等。如此也一樣，可用對於使用者而言直觀易懂的方式通知使用者有滯留物存在之判定結果。

再舉一例來說，在通知部113包含顯示裝置的情況，控制部116可藉由使該顯示裝置顯示出預定的圖像或訊息，來通知使用者有滯留物存在之判定結果。此處，預定的圖像可為例如表示有滯留物存在的圖標(icon)，預定的訊息可為例如「可能有滯留物存在於收容部內，請將收容部內清乾淨」之訊息。如此也一樣，可用對於使用者而言直觀易懂的方式通知使用者有滯留物存在之判定結果及有必要進行收容部內的清潔。

控制部116亦可經由通訊部115，發送預定資訊(表示有滯留物存在之資訊)給可與吸嚐裝置100通訊的其他裝置，利用其他裝置通知使用者有滯留物存在之判定。在此情況，控制部116可藉由例如使如上述的預定的圖像或訊息顯示於可與吸嚐裝置100通訊的其他裝置所具備的顯示裝置，讓使用者知道有滯留物存在之判定。如此的話，即使吸嚐裝置100沒有設置通知部113，也可通知使用者有滯留物存在之判定。

(2-4.棒條型基材150的插入檢測)

如前述，對於吸嚐裝置100之霧氣生成要求，可為例如將棒條型基材150插入收容部140之操作。因此，控制部116在收容部140的狀態方面，可也針對是否有棒條型基材150插入收容部140進行判定。亦即，控制部116可進一步根據施加檢測用脈衝到加熱部121所得到的加熱部121的電阻值，來判定是否有棒條型基材150插入收容部140。

控制部116在判定為有棒條型基材150插入收容部140的情況，可將之當作是有對於吸嚐裝置100之霧氣生成要求，而使加熱控制(亦即霧氣的生成)開始。如此的話，使用者只要將棒條型基材150插入收容部140，不用另外做其他的操作就可使霧氣的生成進行。因此，與每次霧氣的生成時不只要將棒條型基材150插入收容部140也要做其他的操作之情況相比較，可減少使用者的麻煩，謀求提高使用者的便利性。

以下，假設控制部116對於收容部140的狀態，不僅判定是否有滯留物存在，也判定是否有棒條型基材150插入收容部140。並且，將如此的用來判定收容部140的狀態之控制部116的一連串的動作稱為「檢測動作」。

作為使檢測動作開始的條件之觸發事件(trigger)，並沒有特別的限制，可為例如檢測到對於吸嚐裝置100的預定操作。此處，預定操作可設為例如設想為在進行了該操作之後會立刻將棒條型基材150插入收容部140之操作，更具體地說，可為將開閉開口142的蓋子打開之操作。如此的話，就可在使用者想要使用吸嚐裝置100的時點(timing)，亦即，使用者可操作或清潔吸嚐裝置100的時點進行檢測動作。將開閉開口142的蓋子打開之操作，可藉由例如設於該蓋子之感測器或運動感測器等而檢測出。

[3.檢測動作的具體例]

以下，針對檢測動作進行更具體的說明。

(3-1.在檢測動作中施加於加熱部121的電壓的一例)

圖3係顯示在檢測動作中施加於加熱部121的電壓的時序變化的一例之圖。圖3中，縱軸表示電壓[V]。再者，圖3中橫軸表示時間[s]，更具體地說係表示檢測動作開始後的經過時間。

如圖3所示，控制部116在檢測動作中可施加檢測用脈衝群10到加熱部121。此處，檢測用脈衝群10係包含至少一個第一檢測用脈衝11，更具體地說，檢測用脈衝群10可為例如依預定的脈衝週期(亦即預定的脈衝間隔)包含複數個第一檢測用脈衝11。作為一例，圖3所示的檢測用脈衝群10中的第一檢測用脈衝11的脈衝週期為0.5[s]。

第一檢測用脈衝11係用來使加熱部121的溫度上升讓控制部116取得加熱部121的電阻值之電力脈衝，具有預定的電壓及脈衝寬度。作為一例，圖3所示的檢測用脈衝群10中的第一檢測用脈衝11的電壓為 V1[V](V1>0)，脈衝寬度為0.1[s]。第一檢測用脈衝11的脈衝寬度係比檢測用脈衝群10中的第一檢測用脈衝11的脈衝週期小。

以下，將檢測用脈衝群10中的第一檢測用脈衝11的一個週期稱為「檢測循環(cycle)」。並且，將一次的檢測動作所包含的各檢測循環，按照在時序的前後順序稱為「第一循環」、「第二循環」、…等(也參照圖4)。在各檢測循環中，第一檢測用脈衝11施加於加熱部121的期間也稱為「升溫期間」。另外，在各檢測循環中，第一檢測用脈衝11未施加於加熱部121的期間也稱為「降溫期間」。舉一例來說，本實施型態係使一次的檢測動作中重複最多到18個循環之檢測循環。

如圖3所示，檢測用脈衝群10可更包含第三檢測用脈衝13作為最初的電力脈衝。亦即，檢測用脈衝群10可為在施加一個第三檢測用脈衝13到加熱部121之後以預定的脈衝週期施加第一檢測用脈衝11到加熱部121。

此處，第三檢測用脈衝13係用來使加熱部121的溫度上升讓控制部116取得加熱部121的電阻值之電力脈衝，具有預定的電壓及脈衝寬度。更具體地說，第三檢測用脈衝13可為比第一檢測用脈衝11更能讓加熱部121的溫度上升之電力脈衝，可為例如脈衝寬度比第一檢測用脈衝11大的電力脈衝。圖3所示的檢測用脈衝群10中的第三檢測用脈衝13的電壓為V1[V]，脈衝寬度為0.5[s]。第三檢測用脈衝13亦可為除了脈衝寬度也使電壓比第一檢測用脈衝11大之電力脈衝，或為取代脈衝寬度而使電壓比第一檢測用脈衝11大之電力脈衝。

加熱部121的溫度若不是已升高到某程度的狀態，就會有在各檢測循環的降溫期間中加熱部121的電阻值(亦即溫度)並不會適度地降低的可能性。因此，控制部116在檢測動作開始就先施加第三檢測用脈衝13於加熱部121，而可藉此使加熱部121的溫度升高到某一程度，可在之後的各檢測循環中使加熱部121的電阻值適切地升高降低。

另外，控制部116在例如檢測用脈衝群10所包含的各檢測用脈衝的施加開始時及各檢測用脈衝的施加結束時，分別取得加熱部121的電阻值。

(3-2.檢測動作中的加熱部的電阻值的時序變化的第一例)

圖4係顯示檢測動作中的加熱部121的電阻值的時序變化的第一例之圖。圖4中，縱軸表示加熱部121的電阻值[Ω]，橫軸表示時間[s]，更具體地說係表示檢測動作開始後的經過時間。

圖4所示的線20係表示檢測動作開始後經過4[s]時有棒條型基材150插入收容部140的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的一例。亦即，在檢測動作中將檢測用脈衝群10施加於加熱部121，加熱部121的電阻值就可能如線20所示般變化。

施加檢測用脈衝群10所包含的各檢測用脈衝於加熱部121時，加熱部121的溫度會上升，加熱部121的電阻值也隨之而升高。反之，未施加各檢測用脈衝於加熱部121時，加熱部121的溫度會降低，加熱部121的電阻值也會降低。

因此，如圖4所示，在檢測動作中，加熱部121的電阻值會上下變動。而且，在反復第一檢測用脈衝11的施加的過程中，加熱部121 的電阻值會反復升高降低並逐漸地升高。亦即，第一檢測用脈衝11的電壓及脈衝寬度係設定為讓加熱部121的電阻值在反復第一檢測用脈衝11的施加的過程中逐漸升高。

檢測動作中有棒條型基材150插入收容部140，加熱部121的溫度(亦即加熱部121的電阻值)可能會比插入前降低。此係因為插入收容部140的棒條型基材150吸收了加熱部121的熱的緣故。

因此，控制部116在例如圖4中的箭號21所示般，在一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時的加熱部121的電阻值變得比前一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時的加熱部121的電阻值低的情況，判定為有棒條型基材150插入收容部140。如此，可從加熱部121的電阻值的時序變化精準地檢測出有棒條型基材150插入收容部140。

舉另一例來說，控制部116亦可在例如圖4中的箭號22所示般，在一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加結束時的加熱部121的電阻值變得比前一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加結束時的加熱部121的電阻值低的情況，判定為有棒條型基材150插入收容部140。如此也可從加熱部121的電阻值的時序變化精準地檢測出有棒條型基材150插入收容部140。

再舉一例來說，控制部116亦可在一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時的加熱部121的電阻值變得比前一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時的加熱部121的電阻值低，且該一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加結束時的加熱部121的電阻值變得比前一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加結束時的加熱部121的電阻值低的情況，判定為有棒條型基材150插入收容部140。如此的話，即使因為某種原因(例如雜訊或外部空氣的影響)使得加熱部121的電阻值發生某程度的變動，也可從加熱部121的電阻值的時序變化精準地檢測出有棒條型基材150插入收容部140。

(3-3.檢測動作中的加熱部的電阻值的時序變化的第二例)

圖5係顯示檢測動作中的加熱部121的電阻值的時序變化的第二例之圖。此處，將以與圖4的說明不同的部分為中心進行說明，與圖4的說明共通的部分的說明將適當地省略或簡化。

圖5所示的線30係表示在有滯留物存在於收容部140內，且並沒有棒條型基材150插入收容部140的狀態進行檢測動作的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的一例。圖5所示的線31係表示在沒有滯留物存在於收容部140內，且並沒有棒條型基材150插入收容部140的狀態進行檢測動作的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的一例。

如前述，在有滯留物存在於收容部140內的情況，相較於沒有滯留物存在的情況，較會抑制施加各檢測用脈衝於加熱部121之際的加熱部121的溫度上升。因此，如圖5中的線30及線31所示，在各檢測循環取得的加熱部121的電阻值，有滯留物存在的情況(參照線30)會比沒有滯留物存在的情況(參照線31)低。

因此，控制部116可例如在如圖5所示從檢測動作開始後持續預定時間(例如3[s])第一檢測用脈衝11的施加開始時的加熱部121的電阻值為第一閾值Rth1以下之情況，判定為有滯留物存在。如此，可利用加熱部121的電阻值的特性而精準地檢測收容部140內是否有滯留物。在此情況，預定時間及第一閾值Rth1可由吸嚐裝置100的製造者斟酌例如在沒有滯留物存在於收容部140內的狀態進行檢測動作的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的預測結果等而預先設定。

舉另一例來說，控制部116亦可在如圖5所示從檢測動作開始後持續預定時間(例如3[s])第一檢測用脈衝11的施加結束時的加熱部121的電阻值為第二閾值Rth2以下之情況，判定為有滯留物存在。如此也可利用加熱部121的電阻值的特性而精準地檢測收容部140內是否有滯留物。另外，在如此的情況，預定時間及第二閾值Rth2也可由吸嚐裝置100的製造者斟酌例如在沒有滯留物存在於收容部140內的狀態進行檢測動作的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的預測結果等而預先設定。

再舉一例來說，控制部116亦可在從檢測動作開始後持續預定時間(例如3[s])第一檢測用脈衝11的施加開始時的加熱部121的電阻值為第一閾值Rth1以下，或是第一檢測用脈衝11的施加結束時的加熱部121的電阻值為第二閾值Rth2以下之情況，判定為有滯留物存在。如此也一樣，可利用加熱部121的電阻值的特性而精準地檢測收容部140內是否有滯留物。

再舉一例來說，控制部116亦可在第一檢測用脈衝11(亦即檢測用脈衝群10)的施加開始後經過預定時間(例如3[s])的加熱部121的電阻值在預定的閾值(例如第一閾值Rth1)以下之情況，判定為有滯留物存在於收容部140內。如此也一樣，可利用加熱部121的電阻值的特性而精準地檢測收容部140內是否有滯留物。同樣，在如此的情況，預定時間及閾值可由吸嚐裝置100的製造者斟酌例如在沒有滯留物存在於收容部140內的狀態進行檢測動作的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的預測結果等而預先設定。

(3-4.判定為有滯留物存在之條件的其他的例子)

判定為有滯留物存在之條件，並不限於上述的例子，亦可為例如以下所舉出的例子。判定為有滯留物存在之條件採用以下所舉例說明的例子的情況，控制部116亦可利用加熱部121的電阻值的特性而精準地檢測收容部140內是否有滯留物。

圖6係顯示判定為有滯留物存在之條件的另一例之圖。此處，將以與圖4或圖5的說明不同的部分為中心進行說明，與圖4或圖5的說明共通的部分的說明將適當地省略或簡化。

控制部116可例如在如圖6所示之第一檢測用脈衝11的施加開始後持續預定時間(例如3[s])加熱部121的電阻值都在預定範圍40內變化之情況，判定為有滯留物存在。在此情況，預定時間及預定範圍40(例如預定範圍40的上限值及下限值)可由吸嚐裝置100的製造者斟酌例如在沒有滯留物存在於收容部140內的狀態進行檢測動作的情況的加熱部121的電阻值的時序變化的預測結果等而預先設定。另外，預定範圍40的上限值及下限值可為一定的值，亦可如圖6所示隨著檢測動作開始後的經過時間而逐漸變大。

舉另一例來說，控制部116亦可根據在檢測動作中的預定期間的加熱部121的電阻值的變化量，來判定是否有滯留物存在。更具體地說，例如，控制部116可對於一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時(或施加結束時)的加熱部121的電阻值與前一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時(或施加結束時)的加熱部121的電阻值，在兩者之差分(亦即變化量)為閾值以下的情況，判定為有滯留物存在。

再舉一例來說，控制部116可對於一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時(或施加結束時)的加熱部121的電阻值與前一個檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時(或施加結束時)的加熱部121的電阻值，在將兩者之差分(亦即變化量)除以第一檢測用脈衝11的脈衝週期所算出的變化率在閾值以下的情況，判定為有滯留物存在。

此外，例如，控制部116亦可在從複數次的檢測循環中的第一檢測用脈衝11的施加開始時(或施加結束時)的加熱部121的電阻值求出的迴歸線(regression line)的斜率在閾值以下之情況，判定為有滯留物存在。

(3-5.在檢測動作中施加於加熱部121的電壓的另一例)

當檢測滯留物的有無等之時，藉由使施加於加熱部121的檢測用脈衝的電壓大到某程度，滯留物的有無等之檢測精度會提高。此係因為使施加於加熱部121的檢測用脈衝的電壓大到某程度，在有滯留物存在於收容部140內的情況與沒有滯留物存在的情況，或有棒條型基材150插入收容部140的情況與沒有棒條型基材150的情況等各情況，加熱部121的電阻值的差會表現得更顯著的緣故。

為了精準地檢測體積或熱容量比棒條型基材150小之滯留物的有無，以使施加於加熱部121的檢測用脈衝的電壓大到某程度較佳。另一方面，可推想使施加於加熱部121的檢測用脈衝的電壓小到某程度，亦可精準地檢測出有棒條型基材150插入收容部140。

因此，控制部116可進行例如在第一檢測用脈衝的施加開始(或檢測動作開始)後到經過預定時間(例如3[s])為止的期間施加第一檢測用脈衝11於加熱部121，經過預定時間後則施加具有比第一檢測用脈衝11小的電壓之檢測用脈衝於加熱部121之控制。

圖7係顯示在檢測動作中施加於加熱部121的電壓的時序變化的另一例之圖。此處，將以與圖3的說明不同的部分為中心進行說明，與圖3的說明共通的部分的說明將適當地省略或簡化。

如圖7所示，檢測用脈衝群10亦可為例如重複施加兩次以上的預定次數的第一檢測用脈衝11於加熱部121後，以預定的脈衝週期重複施加第二檢測用脈衝12於加熱部121。

此處，第二檢測用脈衝12係用來使加熱部121的溫度上升讓控制部116取得加熱部121的電阻值之電力脈衝，具有預定的電壓及脈衝寬度。更具體地說，第二檢測用脈衝12可為電壓比第一檢測用脈衝11小之電力脈衝。圖7所示的檢測用脈衝群10中的第二檢測用脈衝12的電壓為V2[V]。如圖7所示，在此情況，第二檢測用脈衝12的脈衝寬度及脈衝週期可與例如第一檢測用脈衝11的脈衝寬度及脈衝週期一樣。

如此的話，就可在檢測動作的開始階段，使用電壓較高的第一檢測用脈衝11而精準地檢測出滯留物之有無及是否有棒條型基材150插入收容部140。然後，在檢測動作的中間階段之後，將施加於加熱部121 的檢測用脈衝變更為電壓較低的第二檢測用脈衝12，而可檢測是否有棒條型基材150插入收容部140，並同時謀求削減檢測動作所消耗的電力。

[4.控制部執行的處理的一例]

接著，說明控制部116執行的處理的一例。圖8係顯示控制部116執行的處理的一例之流程圖。控制部116係在例如未執行檢測動作且未執行加熱控制的情況執行圖8所示的一連串的處理。

如圖8所示，控制部116判定是否有作為檢測動作的觸發事件之預定操作(步驟S1)。若判定為沒有預定操作(步驟S1的結果為“否”)，則控制部116重複步驟S1的處理直到判定為有預定操作。

若判定為有預定操作(步驟S1的結果為“是”)，則控制部116使檢測動作開始，開始使檢測用脈衝群10施加於加熱部121(步驟S2)。控制部116在檢測動作中，分別在檢測用脈衝群10所包含的各檢測用脈衝的施加開始時及各檢測用脈衝的施加結束時取得加熱部121的電阻值。

接著，控制部116判定檢測用脈衝群10的施加是否結束(步驟S3)。本實施型態中，控制部116係若第18個檢測循環結束，就判定為檢測用脈衝群10的施加結束。若判定為檢測用脈衝群10的施加結束(步驟S3的結果為“是”)，則控制部116直接結束圖8所示的一連串的處理。另外，控制部116在第18個檢測循環結束之前都判定為檢測用脈衝群10的施加尚未結束。若判定為檢測用脈衝群10的施加尚未結束(步驟S3的結果為“否”)，則控制部116前進到步驟S4的處理。

接著，控制部116根據取得的加熱部121的電阻值而判定是否有棒條型基材150插入收容部140(步驟S4)。若判定為沒有棒條型基材 150插入收容部140(步驟S4的結果為“否”)，則控制部116判定是否到了檢測動作開始後已經過預定時間的時點(timing)，亦即是否到了要判定是否有滯留物存在於收容部140內的時點(步驟S5)。

若判定為尚未來到檢測動作開始後已經過預定時間的時點(步驟S5的結果為“否”)，則控制部116回到步驟S3的處理。若判定為已到了檢測動作開始後已經過預定時間的時點(步驟S5的結果為“是”)，則控制部116根據取得的加熱部121的電阻值而判定是否有滯留物存在於收容部140內(步驟S6)。控制部116可在已到了檢測動作開始後已經過預定時間的時點之後(亦即判定了是否有滯留物存在於收容部140內之後)，將施加於加熱部121的檢測用脈衝變更為第二檢測用脈衝12。

在步驟S6的處理中，若判定為沒有滯留物存在(步驟S6的結果為“否”)，則控制部116回到步驟S3的處理。若判定為有滯留物存在(步驟S6的結果為“是”)，則控制部116使檢測用脈衝群10的施加停止(步驟S7)。然後，控制部116將判定為有滯留物存在的結果通知給使用者(步驟S8)，並且使吸嚐裝置100轉變為禁止執行加熱控制之鎖定狀態(步驟S9)，然後結束圖8所示的一連串的處理。

另外，在步驟S4的處理中，若判定為有棒條型基材150插入收容部140(步驟S4的結果為“是”)，則控制部116判定吸嚐裝置100是否在鎖定狀態(步驟S10)。若判定為並未在鎖定狀態(步驟S10的結果為“否”)，則控制部116開始進行使霧氣生成之加熱控制(步驟S11)，並結束圖8所示的一連串的處理。若判定為在鎖定狀態(步驟S10的結果為“是”)，則控制部116不開始進行加熱控制，而是直接結束圖8所示的一連串的處理。

如以上所說明的，控制部116根據施加第一檢測用脈衝11於加熱部121所得到的加熱部121的電阻值而判定是否有滯留物存在於收容部140內。因此，可用簡單的構成檢測收容部140內是否有滯留物，並依其有無而使吸嚐裝置100適切地動作。因而，吸嚐裝置100可提供高品質的體驗給使用者。

而且，控制部116在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，例如在該時點使對於加熱部121的電力供給停止(參照步驟S7)。因此，可抑制在有滯留物存在的狀態使加熱部121升溫的情形發生，可防止從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部140內的情形發生。

另外，控制部116在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，例如將判定為有滯留物存在之結果通知給使用者(參照步驟S8)。因此，可敦促使用者去確認收容部140內的情況，且若有滯留物存在可敦促使用者進行收容部140內的清潔以將該滯留物去除。

另外，控制部116在判定為有滯留物存在於收容部140內的情況，例如使吸嚐裝置100轉變為禁止執行加熱控制之鎖定狀態(參照步驟S9)。因此，可抑制在有滯留物存在的狀態使加熱部121升溫的情形發生，可防止從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部140內的情形發生。

[5.變化例]

接著，說明吸嚐裝置100的變化例。

例如，吸嚐裝置100可除了前述的吸煙用加熱設定資料Pr1之外，還具有作為支援收容部140內的清潔的加熱設定資料之清潔用加熱設定資料Pr2。清潔用加熱設定資料Pr2可為例如使加熱部121加熱以使存在於收容部140內的滯留物等的水分氣化之加熱設定資料。

圖9係顯示吸嚐裝置100所具有的清潔用加熱設定資料Pr2的一例之圖。圖9中，縱軸表示加熱部121的溫度[℃]。另外，圖9中，橫軸表示時間[s]，更具體地說，係表示根據清潔用加熱設定資料Pr2之加熱部121的溫度控制開始後的經過時間。另外，圖9中，為了與清潔用加熱設定資料Pr2相比較，也用一點鏈線顯示出圖2所示的吸煙用加熱設定資料Pr1。此處，將以與圖2的說明不同的部分為中心進行說明，與圖2的說明共通的部分的說明將適當地省略或簡化。

如圖9所示，清潔用加熱設定資料Pr2係例如規定與從0[s]到t20[s](0<t20<t3)的經過時間對應的目標溫度為T10[℃](T10>T1且T10>T3)。

亦即，清潔用加熱設定資料Pr2相較於吸煙用加熱設定資料Pr1(用於使霧氣生成的通常的加熱設定資料)，具有加熱部121的最高溫度較高，且到達如此的最高溫度後溫度就不變化之特徵。控制部116進行根據如此的清潔用加熱設定資料Pr2之加熱部121的溫度控制，可用高溫加熱存在於收容部140內的滯留物，使滯留物中含有的水分氣化。因此，滯留物會較容易從收容部140剝落，與滯留物固著的情況相比較，可使滯留物的去除容易化。

此外，清潔用加熱設定資料Pr2相較於吸煙用加熱設定資料Pr1，使加熱部121的加熱持續的持續時間較短。亦即，清潔用加熱設定資料Pr2係使加熱部121升溫到吸煙用加熱設定資料Pr1中未使用的T10[℃]之高溫狀態。使如此的高溫狀態長時間維持，從包含加熱部121之吸嚐裝置100的保護的觀點來說並不好。

因此，清潔用加熱設定資料Pr2中，將加熱部121的加熱的持續時間(圖9所示的例子中的t20[s])設定得比吸煙用加熱設定資料Pr1(圖9所示的例子中的t3[s])短，以保護吸嚐裝置100。因此，就算進行根據清潔用加熱設定資料Pr2之加熱部121的溫度控制，也可防止加熱部121的高溫狀態長時間維持的情形發生，可抑制吸嚐裝置100故障的情形發生。

控制部116係例如接收到來自使用者的清潔要求，就進行根據清潔用加熱設定資料Pr2之溫度控制。此處，清潔要求可為例如以預定的模式按壓(例如按複數次)設於吸嚐裝置100的操作按鈕之操作。清潔要求並不限於對吸嚐裝置100的直接的操作，亦可為例如接收從可與吸嚐裝置100通訊之其他裝置發送的預定資訊(例如指示要進行根據清潔用加熱設定資料Pr2之溫度控制的資訊)。因此，使用者可在判斷收容部140內的清潔會是很困難的作業之情況等的所期望的時點，使根據清潔用加熱設定資料Pr2之溫度控制進行。

另外，就確保吸嚐裝置100的安全性及提供給使用者的吸煙體驗的品質之觀點而論，控制部116可在判定為有棒條型基材150插入收容部140的情況，禁止根據清潔用加熱設定資料Pr2之加熱部121的溫度控制的執行。亦即，可設計成：在有棒條型基材150收容於收容部140的狀態，即使接收到來自使用者的清潔要求，控制部116也不進行根據清潔用加熱設定資料Pr2之加熱部121的溫度控制。

以上，說明了本發明的霧氣生成裝置的一實施型態，但本發明並不限定於該實施型態。只要是本發明所屬技術領域中具有通常知識者，顯然都可在申請專利範圍記載的範疇內想到各種變化例或修正例，此等變化例或修正例，當然也都應理解成是屬於本發明的技術範圍內。此外，亦可在未脫離發明的主旨的範圍內，將前述的實施型態中的各構成要素任意地組合。

另外，前述的實施型態中說明的控制方法，可藉由電腦執行預先準備的程式而實現。該程式係記憶於例如電腦可讀取的記憶媒體中，從記憶媒體讀出而執行。另外，該程式可用記憶於快閃記憶體等之非揮發性記憶媒體(non-transitory media)的型態提供，亦可經由網際網路等之網路而提供。本實施型態中以執行該程式之電腦作為控制部116，但不限於此。例如，執行該程式之電腦並不限於是包含在吸嚐裝置100內的元件，亦可為包含在可與吸嚐裝置100通訊的其他裝置內的元件。

本說明書等中揭示了至少以下各項。括弧內係舉例表示前述的實施型態中的對應的構成元件，但不限於該例。

(1)一種霧氣生成裝置，係對於含有霧氣源之基材(棒條型基材150)進行加熱來使霧氣生成之霧氣生成裝置(吸嚐裝置100)，具備有：

電源部(電源部111)，係蓄積及供給電力；

收容部(收容部140)，係收容前述基材；

加熱部(加熱部121)，係使用從前述電源部供給來的電力，對於收容於前述收容部之前述基材進行加熱；以及

控制部(控制部116)，係構成為可控制對於前述加熱部的電力的供給，且可取得與前述加熱部的溫度有關的參數，

前述控制部係根據以預定的電力脈衝作為檢測用脈衝施加於前述加熱部所得到的前述參數，而判定是否有不同於前述基材之滯留物存在於前述收容部內。

根據前述(1)，可用簡單的構成檢測收容部內是否有滯留物，並依其有無而使霧氣生成裝置適切地動作。因而，可提供高品質的體驗給使用者。

(2)如前述(1)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述參數係與前述加熱部的溫度上升成比例而變大，

前述控制部係在施加前述檢測用脈衝於前述加熱部所得到的前述參數在預定的閾值以下的情況，判定為有前述滯留物存在於前述收容部內。

根據前述(2)，可利用與加熱部的溫度上升成比例而變大的參數的特性，而精準地檢測收容部內是否有滯留物。

(3)如前述(1)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部係根據重複施加複數次前述檢測用脈衝於前述加熱部所得到的前述參數的時序變化，而判定是否有前述滯留物存在於前述收容部內。

根據前述(3)，可精準地檢測收容部內是否有滯留物。

(4)如前述(3)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述參數係與前述加熱部的溫度上升成比例而變大，

前述控制部係在前述檢測用脈衝的施加開始後經過預定時間時的前述參數在預定的閾值以下的情況，判定為有前述滯留物存在於前述收容部內。

根據前述(4)，可利用與加熱部的溫度上升成比例而變大的參數的特性，而精準地檢測收容部內是否有滯留物。

(5)如前述(3)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部係在前述檢測用脈衝的施加開始後持續預定時間前述參數都在預定範圍內變化的情況，判定為有前述滯留物存在於前述收容部內。

根據前述(5)，可利用與加熱部的溫度上升成比例而變大的參數的特性，而精準地檢測收容部內是否有滯留物。

(6)如前述(1)至(5)中任一項所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部在判定為有前述滯留物存在於前述收容部內的情況，使對於前述加熱部的電力的供給停止。

根據前述(6)，可抑制在有滯留物存在於收容部內的狀態使加熱部升溫的情形發生，可防止從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部內的情形發生。

(7)如前述(1)至(6)中任一項所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部係在判定為有前述滯留物存在於前述收容部內的情況，經由可通知資訊給使用者之通知部而將判定為有前述滯留物存在的結果通知給前述使用者。

根據前述(7)，可在判定為有滯留物存在於收容部內的情況，敦促使用者去確認收容部內的情況，且若實際有滯留物存在可敦促使用者進行收容部內的清潔以將該滯留物去除掉。

(8)如前述(7)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述通知部係包含發光裝置，

前述控制部係在判定為有前述滯留物存在於前述收容部內的情況，使前述發光裝置以預定的發光態樣發光來將判定為有前述滯留物存在的結果通知給前述使用者。

根據前述(8)，可用對於使用者而言直觀易懂的方式通知使用者有滯留物存在之判定結果。

(9)如前述(7)或(8)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述通知部係包含振動裝置，

前述控制部係在判定為有前述滯留物存在於前述收容部內的情況，使前述振動裝置以預定的振動態樣振動來將判定為有前述滯留物存在的結果通知給前述使用者。

根據前述(9)，可用對於使用者而言直觀易懂的方式通知使用者有滯留物存在之判定結果。

(10)如前述(7)至(9)中任一項所述之霧氣生成裝置，其中，

前述通知部係包含顯示裝置，

前述控制部係在判定為有前述滯留物存在於前述收容部內的情況，使預定的圖像或訊息顯示於前述顯示裝置來將判定為有前述滯留物存在的結果通知給前述使用者。

根據前述(10)，可用對於使用者而言直觀易懂的方式通知使用者有滯留物存在之判定結果。

(11)如前述(1)至(10)中任一項所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部係構成為可回應來自使用者的霧氣生成要求，根據規定了屬於前述加熱部的溫度的目標值之目標溫度的時序變化之加熱設定資料而執行控制前述加熱部的溫度之加熱控制，

且前述控制部在判定為有前述滯留物存在於前述收容部內的情況，使前述霧氣生成裝置轉變為禁止前述加熱控制的執行之鎖定狀態。

根據前述(11)，可抑制在有滯留物存在於收容部內的狀態使加熱部升溫的情形發生，可防止從滯留物發出不良的霧氣或煙，或是滯留物固著於收容部內的情形發生。

(12)如前述(11)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部在前述霧氣生成裝置處於前述鎖定狀態的情況，若接收到來自前述使用者的重設要求，就解除前述鎖定狀態。

根據前述(12)，即使霧氣生成裝置轉變為鎖定狀態，使用者也可在將收容部內的滯留物去除之後藉由進行重設要求而使加熱控制執行，而可吸嚐經加熱部加熱而生成的霧氣。

(13)如前述(12)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部在解除前述霧氣生成裝置的前述鎖定狀態後馬上又再度判定為有前述滯留物存在於前述收容部內之情況，使前述霧氣生成裝置轉變為禁止前述加熱控制的執行之特別鎖定狀態，

前述控制部在前述霧氣生成裝置處於前述特別鎖定狀態的情況，若接收到來自前述使用者的特別重設要求，就解除前述特別鎖定狀態，

前述重設要求係第一操作，

前述特別重設要求係必須進行比前述第一操作多的操作之第二操作。

根據前述(13)，可促使使用者在霧氣生成裝置轉變為鎖定狀態之際確實進行收容部內的滯留物的去除之類的適切的處置。

(14)如前述(1)至(13)中任一項所述之霧氣生成裝置，其中，

前述霧氣生成要求係為將前述基材插入前述收容部之操作，

前述控制部係根據重複施加複數次前述檢測用脈衝於前述加熱部所得到的前述參數的時序變化，而判定是否有前述滯留物存在於前述收容部內及是否有前述基材插入前述收容部。

根據前述(14)，除了可判定是否有滯留物存在於收容部內，也可判定是否有基材插入收容部，並且可在判定為有基材插入收容部時就執行加熱控制，可提高使用者的便利性。

(15)如前述(14)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部係構成為可使具有預定的電壓之第一檢測用脈衝及具有比該第一檢測用脈衝小的電壓之第二檢測用脈衝作為前述檢測用脈衝而施加於前述加熱部，

且在前述檢測用脈衝的施加開始後到經過預定時間為止的期間施加前述第一檢測用脈衝於前述加熱部，經過前述預定時間後則施加前述第二檢測用脈衝於前述加熱部。

根據前述(15)，可判定是否有滯留物存在於收容部內及是否有基材插入收容部，同時可削減施加檢測用脈衝於加熱部所消耗的電力。

(16)如前述(1)至(15)中任一項所述之霧氣生成裝置，其中，

前述控制部係構成為可根據規定了屬於前述加熱部的溫度的目標值之目標溫度的時序變化之加熱設定資料而控制前述加熱部的溫度，前述加熱部的溫度的目標值也稱為目標溫度，

且在有來自使用者的霧氣生成要求的情況，根據前述加熱設定資料之中的第一加熱設定資料而控制前述加熱部的溫度，

在有來自使用者的清潔要求的情況，根據前述加熱設定資料之中的第二加熱設定資料而控制前述加熱部的溫度，

前述第二加熱設定資料係為與前述第一加熱設定資料相比較，前述加熱部的最高溫度較高之加熱設定資料。

根據前述(16)，可用高溫加熱存在於收容部內的滯留物，使滯留物中含有的水分氣化。因此，滯留物會較容易從收容部剝落，與滯留物固著的情況相比較，可使滯留物的去除容易化。

(17)如前述(16)所述之霧氣生成裝置，其中，

前述第二加熱設定資料係為與前述第一加熱設定資料相比較，使前述加熱部的加熱持續的持續時間較短之加熱設定資料。

根據前述(17)，就算進行根據第二加熱設定資料之加熱部的溫度控制，也可防止加熱部的高溫狀態長時間維持的情形發生，可抑制霧氣生成裝置故障的情形發生。