TW202201933A - 決策回饋等化器 - Google Patents
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Abstract
一種用於提供決策回饋等化器的設備和方法。在一些實施例中,揭示一種用於減少由通信通道損害所導致的符號間干擾的方法和設備。在一些實施例中,決策回饋等化器包含多個串聯連接的延遲鎖存器及限幅器電路,限幅器電路配置成接收來自通信通道的輸入信號以及來自多個延遲鎖存器的延遲回饋信號並確定所接收輸入信號的邏輯狀態,其中限幅器電路更包括動態閾值電壓校準電路,動態閾值電壓校準電路配置成基於所接收的延遲回饋信號及通信通道的脈衝回應係數調節限幅器電路的輸出節點與接地之間的電流流動。
Description
本發明是有關於一種資料通信的決策回饋等化器。
資料通信通道(例如,匯流排或背板通信鏈路)上的資料傳送速率由包含例如頻率相關插入損耗、串擾雜訊及由介質阻抗失配所導致的反射以及由通孔、連接件以及各種適配器所導致的離散損耗的多個因素限制。這些損害可降低信號強度以及導致接收器處的符號間干擾(inter-symbol interference;ISI)。因此,由通道瑕疵產生的ISI可能嚴重地限制傳輸資料速率。由於通道的電阻損耗和介電損耗上升,頻寬限制通道中的ISI增加,其引起長通道脈衝回應或傳輸信號的頻率相關的衰減。舉例來說,由於通道的通孔、連接件以及分支所致的通道阻抗失配所導致的反射可能導致波峰和波谷不均勻地分佈在通道脈衝回應中的大量符號間隔或頻域回應中尖銳的波谷中。因此,為了以極高速度(例如,高於10 GB/s)實施電信令(electrical signaling),需要均衡方法和系統來補償接收器處的ISI。
接收器處可採用連續時間線性等化器(continuous-time linear equalizer;CTLE)來提高信號的尼奎斯特(Nyquist)頻率周圍的高頻分量以去除ISI。然而,連續時間線性等化器也放大雜訊且不提高信號的信噪比(Signal-to-noise ratio;SNR)。傳輸器有限脈衝回應(finite impulse response;FIR)均衡和接收器CTLE元件不能均衡由阻抗失配所導致的反射且另外可能放大串擾雜訊。
另一方面,決策回饋等化器(decision feedback equalizer;DFE)提供有效的ISI取消技術而不放大雜訊以及用於校正由資料通信通道中的先前傳輸符號所導致的符號間干擾(ISI)的極小硬體。當採用DFE時,眼圖(eye-diagram)或眼圖張度(eye-opening)可用作關於接收器處的DFE的性能的度量。接收器處獲得的眼圖測量是如在特定信令間隔(signaling interval)內觀察的所有可能的所接收信號實現的疊加。眼圖張度的寬度定義可在不強加誤差(如由符號間干擾所導致的誤差)的情況下採樣所接收信號的時間間隔,同時豎直眼圖張度定義接收器的雜訊容限。
大體上,為了補償ISI,DFE將採用來自先前所檢測的符號的回饋以均衡目前所接收的符號。舉例來說,可將先前已解碼符號的數目乘以係數或抽頭(tap)得到近似ISI,且接著從所接收的符號中減去。然而,在常規的DFE設計中,在極高資料速率下無法滿足DFE反饋回路時序(feedback loop timing)時,這嚴重地限制接收器的性能。因此,在常規的DFE設計中,DFE反饋回路延遲可包含:(1)限幅器(slicer)的穩定時間;(2)DFE求和器放大器(summer amplifier)的穩定時間;(3)限幅器的設置時間;以及(4)記憶元件(如RS-鎖存器或正反器)的穩定時間。因此,目前用於ISI的基於DFE的補償的方法和系統並不完全令人滿意。
此背景技術部分中公開的資訊期望僅提供下文所描述的用於本公開的各種實施例的內容,且因此此背景技術部分可包含不必為現有技術資訊(即,本領域的普通技術人員已經知曉的資訊)的資訊。因此,在此背景技術部分中描述的工作範圍內,當前署名的發明人的工作以及在提交時可能原本不具有作為現有技術的資格的描述的各方面既不明確地也不隱含地被認作是針對本公開的現有技術。
本發明實施例提供一種決策回饋等化器,所述決策回饋等化器包含多個串聯連接的延遲鎖存器及限幅器電路,限幅器電路配置成接收來自通信通道的輸入信號以及來自多個延遲鎖存器的延遲回饋信號且確定所接收輸入信號的邏輯狀態,其中限幅器電路更包括動態閾值電壓校準電路,動態閾值電壓校準電路配置成基於接收的延遲回饋信號及通信通道的脈衝回應係數調節限幅器電路的輸出節點與接地之間的電流流動。
下文參考附圖描述本公開的各種例示性實施例以使本領域的普通技術人員能夠製造且使用本公開。如本領域的普通技術人員將顯而易見,在閱讀本公開之後,可在不脫離本公開的範圍的情況下對本文所描述的實例進行各種改變或修改。因此,本公開不限於本文中所描述且示出的例示性實施例和應用。此外,本文中所公開的方法中的步驟的特定次序和/或層次僅為例示性方法。基於設計偏好,所公開的方法或工藝的步驟的特定次序或層次可在保持在本公開的範圍內的情況下進行再佈置。因此,本領域的普通技術人員將理解,本文中所公開的方法和技術展現樣本次序中的步驟或動作,且除非明確陳述,否則本公開不限於所展現的特定次序或層次。
圖1A描繪不歸零(non-return-to-zero;NRZ)/脈衝幅度調變-2(Pulse Amplitude Modulation-2;PAM-2)眼圖101。NRZ/PAM-2信令方案提供兩個類比電壓位準,每一位準與經由通信通道傳輸的單個位元相對應。本文中,數位“0”編碼為傳輸信號的低狀態,且數位“1”編碼為信號的高狀態。在NRZ/PAM-2信令方案中,將輸入信號與對應於資料限幅器的Vref的單個閾值電壓相比較。
在本公開的另一實施例中,四元(或四位準)脈衝幅度調變(quaternary pulse amplitude modulation;PAM-4)編碼方案可能用於在傳輸通道上傳輸的資料信號。因此,PAM-4方案可具有四個不同信號位準中的一個,每一信號位準對特定2位元符號進行編碼。舉例來說,2位元序列“00”可編碼為低位準,2位序列“01”可編碼為第一較高位準,2位元序列“10”編碼為下一個較高位準,且2位元序列“11”編碼為最高位準。圖1B示出PAM-4編碼方案的眼圖102。如可從圖1A和圖1B注意到,以與NRZ/PAM-2方案相同的時脈速率操作的PAM-4編碼能夠傳輸NRZ/PAM-2方案兩倍的資料。PAM-4信令提供三個限幅器閾值(例如,Vref1
、Vref2
、Vref3
)。
圖1C示出建模為1抽頭線性濾波器107和3抽頭線性濾波器109、3抽頭線性濾波器111以及3抽頭線性濾波器113的單輸入單輸出(single input single output;SISO)離散時間線性通道的通道脈衝回應或傳遞函數。如圖1C中所示,由於輸入信號僅通過h0
縮放,因此建模為1抽頭線性濾波器107的通信通道不在其輸出上引入ISI。然而,舉例來說,建模為解決通道損害(如由於阻抗失配或串擾所致的反射)的3抽頭線性濾波器的通信通道可在其輸出上引入ISI。
如圖2中所示,根據一些實施例,串列器/解串器(SerDes)接收器前端200包含連續時間線性等化器(CTLE)201和決策回饋等化器203(DFE)接著是解碼器205、對所接收的資料執行串並轉換的解多工器207(demultiplexer;DMUX)以及及時脈和資料恢復(clock and a data recovery;CDR)電路209。在一些實施例中,CDR電路209可為配置成接收外部時脈信號並從DFE 203輸出的所接收資料的變化邊緣恢復傳輸時脈的電路。因此,CDR電路209經優化以在眼圖的豎直眼圖張度最大或在眼圖中間處採樣資料以確保信號完整性。此外,根據一些實施例,解碼器205確定自DFE 203的輸出的具有四個位準(兩個位元)的輸出資料。在各種實施例中,串列器/解串器(SerDes)接收器前端200可包含耦接到DFE 203且耦接到DMUX 207的輸出的自校準電路202。自校準電路202可配置成自我調整性地學習在SerDes接收器內的N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)。在其它實施例中,自校準電路202可在DFE 203適應性回路開始之前使用預定值Vp設置所要眼圖高度。在一些實施例中,自校準電路202可包含眼圖峰值檢測模組、DFE適應性回路、配置成實現所要眼圖的自動增益控制回路。就此而言,最小均方(Least Mean Squares;LMS)演算法可用於實現DFE濾波器係數(h1
、h2
...hN
)的收斂。自校準電路202可實施於數位硬體邏輯中或替代地,如果不關注處理速度,那麼自校準電路202可實施於軟體中。
圖3示出根據各種實施例的N抽頭決策回饋等化器(DFE)300。在一些實施例中,DFE 300可從通過DFE 300接收的輸入符號xk
確定中間值zk
,其可表達為:
圖3中所示出的DFE架構使用先前決策輸出的延遲型式的線性組合來取消ISI。此外,由於限幅器303將輸入信號轉換成二進位決策輸出,因此先前決策輸出的延遲型式的線性組合可以數位正反器309(flip-flops;FF)、求和器(summer)301及求和器305以及倍增器(multiplier)307實施。在各種實施例中,數位正反器309可實施為SR(“設置-重置(set-reset)”)、D(“資料(data)”或“延遲(delay)”)、T(“切換(toggle)”)或JK鎖存器。
對於極高資料速率應用,在DFE 300的實施中存在嚴格的定時約束,如圖3中所示。在一個實施例中,等化器300的第一抽頭h1的定時約束包含通過資料限幅器303、正反器309以及加法器301及加法器305的延遲。在此實施例中,為了確保資料完整性,延遲應在一個位元的時間段內解決。因此,如圖3中所示,DFE 300結構的實施可能需要高功耗以滿足嚴格的定時要求。
仍參考圖3,在一些實施例中,在(經由求和器301)從xk
減去基於N個先前所檢測的符號(至近似ISI)計算的點積後,限幅器303將zk
與閾值電壓Vref
進行比較且相對於最終輸出符號yk
產生二進位信號(例如,在NRZ/PAM-2方案的情況下的二進位邏輯“1”或邏輯“0”)。在PAM-2方案中,限幅器303可確定:如果zk
> Vref
,那麼yk
= “0”/“1”;否則(zk
<0)yk
= “1”/“0”。作為另一實例,在PAM-4方案中,DFE限幅器303可確定yk
: 如果zk
> Vref1
,zk
> Vref2
,zk
> Vref3
,那麼yk
= “11”;如果zk
< Vref1
,zk
> Vref2
,zk
> Vref3
,那麼yk
= “10”;如果zk
< Vref1
,zk
< Vref2
,zk
> Vref3
,那麼yk
= “01”;否則(zk
< Vref1
,zk
< Vref2
,zk
< Vref3
)yk
= “00”。
此外,根據本公開的各種實施例,可自我調整性地在SerDes接收器內學習N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)。舉例來說,在一個實施例中,嵌入SerDes接收器的自校準模組202可配置成與其整個值範圍內的初始值不同的N抽頭(h1
、h2
...hN
)係數,同時追蹤相應CDR設置點,其確定資料採樣時間並可進一步操作以從使採樣信號完整性最大化的值範圍中選擇N抽頭(h1
、h2
...hN
)係數的值。
參考圖4,根據一些實施例,包括可操作以實施先前決策輸出的延遲型式的線性組合的多個求和器和倍增器的反饋回路可嵌入於DFE的限幅器401中。如圖4中所示,限幅器401從CTLE 407接收除CK(clock)信號和輸入符號xk之外的輸入(d1
、d2
...dN
)和(h1
、h2
...hN
)403。在一些實施例中,輸入(d1
、d2
...dN
)可為先前決策輸出的延遲型式,且(h1
、h2
...hN
)可與類比通信通道損害的N抽頭(N-tap)線性濾波器的係數相關聯。
圖5A示出根據一些實施例的具有動態閾值電壓校準電路503的DFE限幅器500A的電路圖。在一些實施例中,如圖5A中所示,DFE限幅器500A包含單級時控比較器電路,其使用金屬氧化物半導體場效電晶體(metal oxide semiconductor field effect transistors;MOSFET)。在其它實施例中,其它電晶體技術可用於實施符合本公開的DFE限幅器500A的比較器電路。其它電晶體技術可包含(但不限於)雙極性接面型電晶體(bipolar junction transistor;BJT)技術(例如,npn BJT、pnp BJT、異質接面BJT)、其它場效電晶體(field effect transistor;FET)技術(例如,接面型場效電晶體(junction field effect transistors;JFET)、finFET、絕緣閘FET(insulated gate FET;IGFET)等)等。
根據一些實施例,圖5A中所描繪的且用於NRZ/PAM-2信令方案的單級時控比較器電路包含兩個電晶體開關513。在一些實施例中,電晶體開關513可為P型MOSFET或N型MOSFET。電晶體開關513中的每一個的相應閘極配置成接收時脈信號CKIN。兩個電晶體開關513的源極耦接到電源電壓Vcc。電晶體開關513中的一個的汲極經由鎖存器514耦接到輸出節點OutN。另一電晶體開關513的汲極經由鎖存器514耦接到輸出節點OutP。在一些實施例中,輸出OutP和輸出OutN為使用鎖存器電路514鎖存的差動輸出。在一些實施例中,電晶體開關505耦接到電晶體開關513和鎖存器514的源極且進一步配置成接收時脈信號CKIN。在操作中,電晶體開關505可在時脈信號CKIN較低時使電晶體508和電晶體510的汲極短路到電源電壓Vcc。在時脈信號CKIN較高時,電晶體502、電晶體504、電晶體508、電晶體510、電晶體511、電晶體512將放大分別施加到電晶體502和電晶體504的閘極的電壓VINP與電壓VINN之間的差,使得電晶體508和電晶體510的汲極的電壓將展現互補邏輯。此外,基於電晶體508和電晶體510的汲極處的電壓位準,輸出OUTP和輸出OUTN可通過鎖存器514發生改變。在各種實施例中,鎖存器電路514可實施為SR(“設置-重置”)、D(“資料”或“延遲”)、T(“切換”)或JK鎖存器。
圖5A的時控比較器電路還包含具有耦接到Vcc的汲極的電晶體511和電晶體512。電晶體511的閘極和電晶體512的源極彼此耦接且經由鎖存器514耦接到輸出節點OutP。電晶體512的閘極和電晶體511的源極彼此耦接且經由鎖存器514耦接到輸出節點OutN。時控比較器電路更包含電晶體502和電晶體504。電晶體502的閘極耦接到輸入節點VinP,且電晶體504的閘極耦接到輸入節點VInN。電晶體502和電晶體504的源極彼此耦接且耦接到電晶體501的汲極。電晶體501的閘極配置成接收時脈信號CKIN,且電晶體501的源極耦接到接地。電晶體502的汲極耦接到電晶體508的源極且耦接到配置成控制流過電晶體502的電流的動態閾值電壓校準電路503。類似地,電晶體504的汲極耦接到電晶體510的源極且耦接到配置成控制流過電晶體504的電流的動態閾值電壓校準電路506。電晶體508的閘極經由鎖存器514耦接到輸出節點OutP,且電晶體510的閘極經由鎖存器514耦接到輸出節點OutN。電晶體508的汲極經由鎖存器514耦接到輸出節點OutN,且電晶體510的汲極經由鎖存器514耦接到輸出節點OutP。在一些實施例中,電晶體開關507由時脈信號CKIN驅動且配置成啟用/停用動態閾值電壓校準電路503和動態閾值電壓校準電路506。
仍參考圖5A,在時脈信號CKIN較低時,DFE限幅器500A電路可首先處於重置狀態。因此,可打開(即導通)電晶體開關513,因此將Vcc耦接到電晶體508和電晶體510的汲極,在圖5A中稱作節點OutP1和節點OutN1。本文中,在電晶體508和電晶體510的汲極耦接到電源電壓Vcc時,鎖存器514的輸出OUTP和輸出OUTN可保持其先前資料。此外,電晶體開關511和電晶體開關512可由於其相應閘極由電源電壓Vcc信號驅動而斷開。電晶體開關501可由於其閘極由低時脈信號CKIN驅動而斷開。在時脈信號CKIN從低轉變為高時,可接著斷開開關513,以從電源電壓Vcc使輸出節點OutN1和輸出節點OutP1解耦(decoupling),且可接通電晶體501,以將電晶體502和電晶體504的源極耦接到接地。此時,在施加到相應閘極的電壓VINP和/或電壓VINN大於相應電晶體的閾值電壓時,電晶體502和/或電晶體504可開始導通。如果電壓VINN大於電壓VINP,那麼電晶體504可在電晶體502導通之前開始導通。在電晶體504開始導通時,電晶體510也可導通,同時提供輸出節點OutP1與接地之間的電流路徑。隨著在輸出節點OutP1上的電壓從Vcc向接地減少,在輸出節點OutP1處的電壓減去輸出節點OutN1處的電壓比電晶體512的閾值電壓更負時可接通電晶體512。類似地,如果施加到輸入節點VIN的電壓大於施加到輸入節點VINN的電壓,那麼電晶體502可在電晶體504導通之前開始導通。在電晶體502開始導通時,電晶體508也可以導通,同時提供輸出節點OutN1與接地之間的電流路徑。隨著在輸出節點OutN1上的電壓從Vcc向接地減少,在輸出節點OutN1上的電壓減去輸出節點OutP1上的電壓比電晶體511的閾值電壓更負時可接通電晶體511。因此,橫跨輸出節點OutP和輸出節點OutN的差動電壓可與圖5A中所描繪的時控比較器的決策相對應。
根據各種實施例,通過電晶體508、電晶體510以及電晶體501調節輸出節點OutP1和輸出節點OutN1與接地之間的電流路徑的動態控制電路503可經由由時脈信號CKIN控制的電晶體開關507啟用,如圖5A中所示。不同於經由電晶體508、電晶體502以及電晶體501或電晶體510、電晶體504以及電晶體501在輸出節點OutN1和輸出節點OutP1與接地之間的路徑,動態控制電路503通過電晶體508、電晶體510以及電晶體501在輸出節點OutP1、輸出節點OutN1與接地之間提供額外電流路徑。因此,動態控制電路503的例示性優勢是其有效地控制閾值電壓Vref
的等效動態失調電壓偏移,其使得ISI減少。動態控制電路503的另一例示性優勢是其不增加DFE限幅器500A的功耗。此外,動態控制電路503進一步配置成回應於CKIN且基於N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)和DFE限幅器500A的先前輸出的延遲型式(d1
、d2
...dN
)調節至少一個輸出節點OutP和/或OutN與接地之間的電流流動。在一些實施例中,可自我調整性地在SerDes接收器內學習調節動態控制電路的電流流動的N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)。
圖5B示出根據一些實施例的具有實施為多個電流源I1...IN的動態閾值電壓校準電路515和動態閾值電壓校準電路516的DFE限幅器500A的相應實例。因此,具有動態閾值電壓校準電路515和動態閾值電壓校準電路516的DFE限幅器500B等效於類比通信通道損害的N抽頭線性濾波器。在其它實施例中,動態閾值電壓校準電路515和動態閾值電壓校準電路516進一步配置成基於N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)和DFE限幅器500B的先前輸出的延遲型式(d1
、d2
...dN
)調節多個電流源I1...IN。在一些實施例中,可自我調整性地在SerDes接收器內學習動態閾值電壓校準電路515和動態閾值電壓校準電路516的多個電流源I1...IN以降低ISI。圖5B中繪示的電路的其他元件與圖5A中繪示的對應元件類似。因此,為了避免冗餘,在本文中不重複此類元件的描述。
圖6示出根據一些實施例的具有實施為單個電流源I1 601的動態控制電路的DFE限幅器500A的相應實例。因此,圖6繪示DFE限幅器600的單端比較器電路。在一些實施例中,電流源I1 601與動態失調電壓偏移603相關聯。在操作中,在施加到電晶體504的閘極的輸入電壓VIN等於施加到電晶體502的閘極的電壓Vref時,DFE限幅器600的差動輸出可為邏輯“0”且在VIN大於Vref+(即,I1
+Iref
< Iin
,其中Iin
是流過電晶體504的電流且Iref
是流過電晶體502的電流)時,DFE限幅器600的差動輸出可為邏輯“1”。在其它實施例中,可自我調整性地在SerDes接收器內學習電流源I1
601以降低ISI。在這些實施例中,可基於DFE限幅器600的先前輸出動態地控制電流源I1
601。在一些實施例中,DFE限幅器600的例示性優勢是其提供基於DFE限幅器600的先前輸出而改變的動態參考電壓Vref
。DFE限幅器600的又另一個優勢是與傳統的DFE限幅器架構相比較其不增加DFE限幅器600的功耗。圖6中繪示的電路的其他元件與圖5A中繪示的對應元件類似。因此,為了避免冗餘,在本文中不重複此類元件的描述。
現在轉向圖7A,繪示根據本公開的一些實施例的具有動態閾值電壓校準電路的DFE限幅器700A的雙端比較器電路。在一些實施例中,動態閾值電壓校準電路701和動態閾值電壓校準電路707各自實施為多個電流源I1
...IN
。因此,具有動態閾值電壓校準電路701和動態閾值電壓校準電路707的DFE限幅器700A等效於類比通信通道損害的N抽頭線性濾波器。在其它實施例中,動態閾值電壓校準電路701和動態閾值電壓校準電路707進一步配置成基於N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)和DFE限幅器700A的先前輸出的延遲型式(d1
、d2
...dN
)調節多個電流源I1
...IN
。在一些實施例中,多個電流源I1
...IN
可用開關702調節。在其它實施例中,可使用具有減少ISI的目標的任何學習方法自我調整性地學習多個電流源I1
...IN
。
在一個實施例中,動態閾值電壓校準電路701和動態閾值電壓校準電路707中的多個電流源I1
...IN
與涉及N抽頭線性濾波器係數(h1
、h2
...hN
)的動態失調電壓偏移相關聯。在操作中,在施加到電晶體704的閘極的輸入電壓INP大於電壓VREFP,其中將VREFP
施加到電晶體703的閘極,且施加到電晶體706的閘極的輸入電壓INN小於電壓VREFN ,其中將VREFN
施加到電晶體705的閘極,DFE限幅器700A的差動輸出可為邏輯“1”,且在輸入電壓INP小於電壓VREFP
且輸入電壓INN大於電壓VREFN
時,DFE限幅器700A的差動輸出可為邏輯“0”。特定來說,在輸入電壓INP大於電壓VREFP I1+ ... + IN +Irefp
< Iinp
時,其中Iinp
是流過電晶體704的電流且Irefp
是流過電晶體703的電流。類似地,在輸入電壓INN小於電壓VREFN I1
+ ... + IN
+Irefn
> Iinn
時,其中Iinn
是流過電晶體706的電流且Irefn
是流過電晶體705的電流。
圖7B繪示符合本公開的若干實施例的用於確定DFE限幅器709所需的電壓參考或閾值信號的自校準模組700B的框圖。在一些實施例中,為了提高接收器前端200的定時容限,可使用多相時脈。如圖7B中所示,自校準模組700B包含耦接到低通濾波器711且可操作以選擇DFE 709限幅器的電壓參考或閾值信號(VREFP/VREFN)的數位-類比轉換器(digital-to-analog converter;DAC)713。在各種實施例中,低通濾波器711可實施於DAC 713中。在一些實施例中,自校準模組700B基於DFE 709的先前輸出自我調整性地計算閾值信號VREFP/VREFN。在本發明的一個實施例中,使用接近最陡下降演算法(steepest descent algorithm)的最小均方(Least Mean Square;LMS)演算法確定閾值信號。LMS演算法可包含確定收斂的速度的適應性係數μ。當然,在其它實施例中,自校準模組700B可基於可接受位元錯誤率結果掃描閾值信號VREFP/VREFN以確定最優閾值。因此,VREFP可定義為VREFP=VCOM+β且VREFN可定義為VREFN=VCOM-β,其中VCOM是某一共同電壓且β是在值的預定範圍內掃描的參數。
圖7C示出NRZ/PAM2信令圖。因此,在信令圖715中,NRZ/PAM2資料(例如,“1101”)在其閾值電壓位準設置為零(例如,VREFP/VREFN=0)的DFE限幅器處接收。信令圖715還繪示閾值電壓位準可用於確定接收的電壓信號高於(包含等於)或低於閾值電壓位準。舉例來說,在沒有動態失調電壓校準的情況下,DFE限幅器可確定第三接收的資料樣本高於閾值VREFP且決定發送邏輯“1”,同時初始發送邏輯“0”,因此導致ISI,如圖7C中所示。另一方面,信令圖717繪示閾值電壓(例如,VREFP/VREFN)位準可動態地偏移,其在確定接收的電壓信號是高於(包含等於)或低於偏移閾值電壓位準方面提供更多容限。舉例來說,具有動態失調電壓校準的DFE限幅器700A可提供增加的雜訊容限和增強的眼圖張度,如圖7C中所示。此外,即使以上描述大體上涉及NRZ/PAM-2通信模式,其也適用於PAM-4或其它類型的調變。
圖8示出根據一些實施例的用於確定嵌入於PAM-4解碼接收器中的DFE限幅器所需的電壓參考或閾值信號的自校準模組803。根據各種實施例,為了提高接收器前端200的定時容限,可使用多相時脈,如圖8中所示。在一些實施例中,每一自校準模組803可提供時變離散或連續電壓參考或閾值信號以產生較大眼圖張度,這可促進SerDes接收器中更快的資料速率及降低的位元錯誤率(bit-error rate;BER)。在一些實施例中,每一自校準模組803包含三個DFE嵌入式限幅器801,其可操作以分別比較具有閾值Vref1
、閾值Vref2
、閾值Vref3
的資料符號,以確定資料符號的狀態且隨後確定其對應的位元映射。在各種實施例中,每一自校準模組803可更包含配置成解碼來自從DFE 801接收到的一系列二進位資料的資料的解碼器805。就此而言,解碼器805可確定所接收的一系列二進位資料的狀態轉變的最有可能的序列,其中每個此狀態表示符號瞬間。根據本公開的各種實施例,解碼器805還可實施為最大後驗機率(Maximum A posteriori Probability;MAP)解碼器或最大可能序列估計維特比(Maximum Likelihood Sequence Estimation Viterbi;MLSE)解碼器。
另外,自校準模組803可包含耦接到解碼器805的輸出的低通濾波器(LPF)807。通過將類比電壓參考或閾值位準提供到DFE限幅器801的數位-類比轉換器(DAC)809來接收LFP 807的輸出。在一些實施例中,取決於實施(例如,ISI的零迫使、信噪比的最大化、最小均方誤差(Minimum Mean Square Error;MMSE)等),通過DAC 809提供的DFE限幅器801所需的電壓參考或閾值位準通過具有各種學習目標的各種搜尋演算法、下降方法、啟發法或其它控制回路自主地學習。各種實施例的一些自校準模組803可具有這些學習方法的混合。此外,可在正常操作模式和/或校準模式期間進行自主學習。因此,適應性可一次、連續(線上)和/或視需要執行。
如圖9A中所示,具有嵌入於限幅器中的反饋回路的DFE的眼圖測量電路900包含信號源901、通信通道903、包括具有嵌入於限幅器中的反饋回路的DFE的受測試裝置905以及可操作以對均衡化資料信號執行眼圖監視的內建式自測試(Built-In-Self-Test;BIST)電路907。在一些實施例中,信號源901可包含偽隨機二進位序列(pseudo random binary sequence;PRB)資料產生器,其中PRB資料產生器進一步配置成包含用於選擇所要PRB序列(例如,PRBS7、PRBS23等)的模式控制。因此,通過信號源901產生的所要PRBS序列可具有所要頻率內容。此外,通信通道903可展現如圖9B中所示的各種頻率回應。就此而言,圖9B示出頻率範圍(例如,0到56 GHz)內通信通道傳遞函數的量值909。此外,在圖9C中描繪從例如具有7dB損耗且通過DFE 905均衡化的資料通信通道903獲得的測量的眼圖的品質。就此而言,較大眼圖張度911指示DFE電路和與DFE電路相關聯的CDR電路的操作品質。
圖10示出根據一些實施例的用於減少符號間干擾(ISI)的方法的流程圖。在操作1001處,DFE限幅器500A可從通信通道903接收輸入信號。此外,在操作1001處,DFE限幅器500A也可從耦接到DFE限幅器500A的多個延遲鎖存器(如SR(“設置-重置”)、D(“資料”或“延遲”)、T(“切換”)或JK鎖存器)接收延遲回饋信號。在一些實施例中,延遲回饋信號各自對應於由DFE限幅器500A決定的所接收輸入信號的位元歷史。
在操作1003處,基於接收的延遲回饋信號和通信通道的脈衝回應係數調節DFE限幅器500A的輸出節點與接地之間的電流流動。在一些實施例中,電流流動是通過控制多個電流源的斷開狀態/接通狀態來調節。在另外的實施例中,多個電流源的斷開狀態/接通狀態可通過互補型金屬氧化物半導體(complementary metal-oxide-semiconductor;CMOS)開關來控制。
在操作1005處,DFE限幅器500A確定所接收輸入信號的邏輯狀態。更具體地說,在操作1005處,DFE限幅器500A可確定對應於所接收輸入的邏輯狀態。在一些實施例中,邏輯狀態可與用於脈衝幅度調變(PAM-4)編碼方案的四個信號位準中的一個相對應。
在一些實施例中,本發明提供一種決策回饋等化器,所述決策回饋等化器包含多個串聯連接的延遲鎖存器及限幅器電路,限幅器電路配置成接收來自通信通道的輸入信號以及來自多個延遲鎖存器的延遲回饋信號且確定所接收輸入信號的邏輯狀態,其中限幅器電路更包括動態閾值電壓校準電路,動態閾值電壓校準電路配置成基於接收的延遲回饋信號及通信通道的脈衝回應係數調節限幅器電路的輸出節點與接地之間的電流流動。在另外的實施例中,動態閾值電壓校準電路通過由時脈信號控制的電晶體開關啟用,且多個延遲鎖存器以數位正反器實施。在一些實施例中,所述動態閾值電壓校準電路包括多個電流源和多個電晶體開關,所述電晶體開關配置成控制所述多個電流源的斷開狀態/接通狀態。在一些實施例中,所述決策回饋等化器在配置成自我調整性地確定所述通信通道的脈衝回應係數的自校準模組中實施。在一些實施例中,所述決策回饋等化器在串列器/解串器(SerDes)接收器裝置中實施。在一些實施例中,所述延遲回饋信號各自對應於由所述限幅器電路決定的所述所接收輸入信號的位元歷史。
在另外的實施例中,一種接收器包含:包括限幅器電路的決策回饋等化器(DFE),其中限幅器電路基於時變閾值電壓調節限幅器電路的輸出節點與接地之間的電流流動;以及自校準電路,耦接到DFE且配置成自我調整性地調整限幅器電路的時變閾值電壓。在一些實施例中,接收器更包含解碼器,所述解碼器耦接到DFE且配置成確定從DFE接收到的一系列二進位資料的狀態轉變最有可能的序列。在另外的實施例中,接收器更包含解多工器(DMUX),所述解多工器耦接到解碼器且配置成對接收的輸入資料執行串並轉換。在一些實施例中,自校準電路進一步配置成使用近似梯度下降演算法來確定時變閾值電壓,且進一步配置成基於所得位元錯誤率掃描時變閾值電壓以確定最優閾值電壓。在一些實施例中,所述時脈和資料恢復電路耦接到所述決策回饋等化器且配置成恢復傳輸時脈。
在替代性實施例中,一種方法包含:接收來自通信通道的輸入信號和來自耦接到限幅器電路的多個延遲鎖存器的延遲回饋信號;基於所接收的延遲回饋信號和通信通道的脈衝回應係數調節限幅器電路的輸出節點與接地之間的電流流動;以及確定所接收輸入信號的邏輯狀態。在另外的實施例中,調節電流流動的步驟包含控制多個電流源的斷開狀態/接通狀態和/或自我調整性地確定通信通道的脈衝回應係數。在一些實施例中,方法更包含通過近似梯度下降演算法來確定通信通道的脈衝回應係數。在一些實施例中,所述延遲回饋信號各自對應於由所述限幅器電路決定的所述所接收輸入信號的位元歷史。
儘管上文已經描述了本公開的各種實施例,但應理解,其已僅通過實例而非通過限制來提出。同樣地,各種圖式可描繪實例架構或配置,提供所述實例架構或配置以使得本領域的普通技術人員能夠理解本公開的例示性特徵和功能。然而,此類技術人員將理解,本公開並不限於所示出的實例架構或配置,而可使用各種替代架構和配置實施。另外,如本領域的普通技術人員將理解,一個實施例的一或多個特徵可與本文中所描述的另一實施例的一或多個特徵組合。因此,本公開的廣度和範圍不應由任何上述例示性實施例限制。
還應理解,本文中使用如“第一”、“第二”等名稱對元件進行任何參考通常不限制那些元件的數量或次序。而是,本文使用這些名稱作為區別兩個或大於兩個元件或元件的例子的方便構件。因此,對第一元件及第二元件的參考不意味著僅可採用兩個元件或第一元件必須以某一方式先於第二元件。
此外,本領域的普通技術人員將瞭解,可使用各種不同技術及技藝中的任一種來表示資訊和信號。舉例來說,可通過電壓、電流、電磁波、磁場或磁粒子、光場或光粒子或其任何組合來表示例如在上文描述中可能參考的資料、指令、命令、資訊、信號、位元及符號。
本領域的普通技術人員將進一步瞭解,可由電子硬體(例如數位實施、類比實施或兩個的組合)、固件、併入有指令的各種形式的程式或設計代碼(為方便起見,在本文中可稱為“軟體”或“軟體模組”)或這些技術的任何組合實施結合本文中所公開的各方面描述的各種說明性邏輯塊、模組、處理器、構件、電路、方法以及功能中的任一種。
為清楚地示出硬體、固件以及軟體的此可互換性,上文已大體關於其功能性描述了各種說明性元件、塊、模組、電路以及步驟。此類功能性是實施為硬體、固件還是軟體或這些技術的組合取決於特定應用和施加於整個系統的設計約束。本領域的技術人員可針對每一特定應用以不同方式來實施所描述的功能性,但此類實施決策並不導致脫離本公開的範圍。根據各種實施例,處理器、裝置、元件、電路、結構、機器、模組等可配置成執行本文中所描述的功能中的一或多個。如本文所使用的術語“配置成”或“配置成用於”相對於指定操作或功能是指以物理方式構建、程式化、佈置和/或格式化的處理器、裝置、元件、電路、結構、機器、模組、信號等來執行指定的操作或功能。
此外,本領域的普通技術人員將理解,本文中所描述的各種說明性邏輯塊、模組、裝置、元件以及電路可在積體電路(integrated circuit;IC)內實施或由積體電路執行,所述積體電路可包含數位訊號處理器(digital signal processor;DSP)、專用積體電路(application specific integrated circuit;ASIC)、現場可程式設計閘陣列(field programmable gate array;FPGA)或其它可程式設計邏輯裝置或其任何組合。邏輯塊、模組以及電路可包含與網路內或裝置內的各個元件通信的天線及/或收發器。本文中程式設計以執行功能的處理器將變為特殊程式設計的或特殊目的處理器,且可實施為計算裝置的組合,例如,DSP與微處理器的組合、多個微處理器、一或多個與DSP核心結合的微處理器或任何其他合適的配置來執行本文所描述的功能。
如果以軟體實施,那麼可將功能作為一或多個指令或代碼存儲在電腦可讀媒體上。因此,本文中所公開的方法或演算法的步驟可實施為存儲在電腦可讀媒體上的軟體。電腦可讀媒體包含電腦存儲媒體及通信媒體兩者,所述通信媒體包含可使得電腦程式或代碼能夠從一處傳送到另一處的任何媒體。存儲媒體可以是可由電腦存取的任何可用媒體。借助於實例而非限制,此類電腦可讀媒體可包含RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其它光碟存儲裝置、磁片存儲裝置或其它磁性存儲裝置,或可用於存儲呈指令或資料結構形式的所要程式碼且可由電腦存取的任何其它媒體。
在此文件中,如本文中所使用,術語“模組”是指用於執行本文中所描述的相關聯功能的軟體、固件、硬體以及這些元件的任何組合。另外,出於論述的目的,將各種模組描述為離散模組;然而,如將對本領域的普通技術人員顯而易見,可將兩個或多於兩個模組進行組合以形成執行根據本公開的實施例的相關聯功能的單個模組。
對於本領域的技術人員而言,本公開中所描述的實施的各種修改將顯而易見的,並且在不脫離本公開的範圍的情況下,本文中所定義的一般原理可適用於其它實施。因此,本公開並不預期限於本文中所示的實施,而應被賦予與本文所公開的新穎特徵及原理相一致的最廣泛範圍,如隨附權利要求中所述。
101、102:眼圖
107:1抽頭線性濾波器
109、111、113:3抽頭線性濾波器
200:接收器前端
201、407:連續時間線性等化器
202:自校準電路
203、300:決策回饋等化器
205、805:解碼器
207:解多工器
209:時脈和資料恢復電路
301、305:求和器/加法器
303、401:限幅器
307:倍增器
309:數位正反器
403:輸入(d1
、d2
...dN
)和(h1
、h2
...hN
)
500A、500B、600、700A、709:DFE限幅器
503、506、515、516、701、707:動態閾值電壓校準電路
505、507、513、702:開關
501、502、504、508、510、511、512、703、704、705、706:電晶體
514:鎖存器
601:電流源
603:動態失調電壓偏移
700B、803:自校準模組
711、807:低通濾波器
713、809:數位-類比轉換器
715、717:信令圖
801:DFE嵌入式限幅器
900:眼圖測量電路
901:信號源
903:通信通道
905:受測試裝置
909:量值
911:眼圖張度
1001、1003、1005:操作
CK:信號
CKIN:時脈信號
h1
、h2
...hN
:線性濾波器係數
h i
:N抽頭線性濾波器係數
INP:輸入電壓
OutN、OutP、OutP1、OutN1:輸出節點
Vref
、VREFP
:電壓
VREFP/VREFN:閾值信號
Vref1
、Vref2
、Vref3
:閾值
VINP、VINN:電壓
VInP、VInN:輸入節點
Vcc:電源電壓
xk
:輸入符號
y k
:先前決策輸出
y k-i
:回饋
zk
:中間值
圖1A是符合本公開的若干實施例的NRZ/PAM-2眼圖的圖示。
圖1B是符合本公開的若干實施例的PAM-4眼圖的圖示。
圖1C是符合本公開的若干實施例的傳輸通道的脈衝回應的圖示。
圖2是符合本公開的若干實施例的在串列器/解串器(serializer/deserializer;SerDes)接收器裝置中實施的決策回饋等化器(DFE)的圖示。
圖3是符合本公開的若干實施例的決策回饋等化器(DFE)的框圖。
圖4是符合本公開的若干實施例的具有嵌入於限幅器中的反饋回路的決策回饋等化器(DFE)的框圖。
圖5A示出符合本公開的若干實施例的具有動態閾值電壓校準電路的嵌入於限幅器中的DFE的反饋回路的電路圖。
圖5B示出符合本公開的若干實施例的具有實施為多個電流源的動態控制電路的DFE限幅器。
圖6示出符合本公開的若干實施例的具有實施為電流源的動態控制電路的DFE限幅器。
圖7A示出根據一些實施例的具有動態失調電壓校準電路的DFE限幅器的雙端比較器電路。
圖7B繪示根據一些實施例的用於確定PAM-2解碼接收器中的電壓參考的自校準模組的框圖。
圖7C示出根據一些實施例的NRZ/PAM2信令圖。
圖8示出根據一些實施例的用於確定PAM-4解碼接收器中的電壓參考的自校準模組。
圖9A示出根據一些實施例的具有嵌入於限幅器中的反饋回路的DFE的眼圖測量測試電路。
圖9B示出根據一些實施例的通信通道特徵曲線。
圖9C示出根據一些實施例的來自眼圖測量電路的眼圖。
圖10示出根據一些實施例的用於減少符號間干擾(ISI)的方法的流程圖。
200:接收器前端
201:連續時間線性等化器
202:自校準電路
203:決策回饋等化器(DFE)
205:解碼器
207:解多工器(DMUX)
209:時脈和資料恢復電路
Claims (1)
- 一種用於減少符號間干擾的決策回饋等化器,包括: 多個串聯連接的延遲鎖存器; 限幅器電路,配置成: 接收來自通信通道的輸入信號和來自所述多個延遲鎖存器的延遲回饋信號;以及 確定所述所接收輸入信號的邏輯狀態, 其中所述限幅器電路包括動態閾值電壓校準電路,所述動態閾值電壓校準電路配置成基於所述所接收的延遲回饋信號和所述通信通道的脈衝回應係數調節所述限幅器電路的輸出節點與接地之間的電流流動。
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