TW202036006A - 晶片檢測頂抵裝置 - Google Patents

Abstract

一種晶片檢測頂抵裝置，係裝於一檢測台，包含有一氣缸座，具有一氣缸孔，連接一前進氣壓源及一後退氣壓源；一氣壓桿，具有一活塞部受該前進氣壓源與後退氣壓源活動於該氣缸座的氣缸孔，一桿身接於該活塞部；一前座組，接於該氣壓桿的桿身前端；一左右移座，可左右調整地裝設於該前座組；一定位桿組，裝設於該左右移座，供頂抵定位晶片用。

Description

晶片檢測頂抵裝置

本發明係與晶片檢測相關，特別是一種晶片檢測頂抵裝置。

已知晶片檢測頂抵裝置，其都是針對預定尺寸範圍的晶片而設計，因此其頂抵定位一不同大小的晶片時，頂抵定位的位置並非都能在其中間位置，因此容易造成晶片走位或受力損壞等情形；因此，習知晶片檢測頂抵裝置的缺失仍有待改善。

有鑒於現有技術的上述缺陷，本發明主要目的即在提供一種晶片檢測頂抵裝置，其可方便調整多個方向位置使達到更適當的定位頂抵晶片。

緣以達成上述目的，本發明提供一種晶片檢測頂抵裝置，係裝於一檢測台，包含有一氣缸座，具有一氣缸孔，連接一前進氣壓源及一後退氣壓源；一氣壓桿，具有一活塞部受該前進氣壓源與後退氣壓源活動於該氣缸座的氣缸孔，一桿身接於該活塞部；一前座組，接於該氣壓桿的桿身前端；一左右移座，可左右調整地裝設於該前座組；一定位桿組，裝設於該左右移座，供頂抵定位晶片用。

藉由該氣缸座可前後調整位移固定，該左右移座可左右調整位移固定，使該定位桿組達到更適當的定位頂抵晶片，因此達成本發明之目的。

較佳地，該前座組具有一第一座及一第二座，該左右移座固定在該第二座。

較佳地，該氣壓桿的前端具有一螺紋部，該第二座設有一通孔供該氣壓桿穿設，並以一螺帽螺設該氣壓桿的螺紋部，使該第一座與第二座間固定，該第二座藉由其通孔調整與該第一座的相對高度。

較佳地，該前座組具有一螺孔，該左右移座具有一長形孔供一螺栓穿設而鎖固於該螺孔。

較佳地，其更包含有一輔助平衡桿，接於該前座組並滑設於該氣缸座的一導孔。

較佳地，該前座組具有一桿孔供該氣壓桿插接，一開槽開通至該桿孔，並以一夾緊螺栓使該前座組夾緊該氣壓桿。

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明：

如第1圖至第5圖所示，本發明一較佳實施例所提供的一種晶片檢測頂抵裝置，係裝於一檢測台(1)，包含有：

一氣缸座(10)，具有一氣缸孔(11)，連接一前進氣壓源(13)及一後退氣壓源(14)，一導孔(17)平行於該氣缸孔(11)設置。

其中，該氣缸座(10)係以一固定單元(19)可調整位移地固定於該檢測台(1)。

一氣壓桿(20)，具有一活塞部(21)受該前進氣壓源(13)與後退氣壓源(14)活動於該氣缸座(10)的氣缸孔(11)，一桿身(22)接於該活塞部(21)，以及一螺紋部(23)位於該桿身(22)前端。

一前座組(3)，接於該氣壓桿(20)的桿身(22)前端；其中，該前座組(3)具有一第一座(30)及一第二座(40)，該左右移座(50)固定在該第二座(40)。

該前座組(3)的第一座(30)具有一桿孔(31)供該氣壓桿(20)插接，一開槽(32)開通至該桿孔(31)，一沈頭孔(33)及一螺孔(34)及分別位在該開槽(32)兩側，並以一夾緊螺栓(39)穿設該沈頭孔(33)螺固於該螺孔(34)使該前座組(3)夾緊該氣壓桿(20)。

該前座組(3)的第二座(40)設有一通孔(41)供該氣壓桿(20)穿設，一螺孔(42)由上而下形成；其中，該第一座(30)與第二座(40)間之，係以一螺帽(49)螺設該氣壓桿(20)的螺紋部(23)使迫緊之。本例中，該通孔(41)係呈開放槽孔。

一左右移座(50)，可左右調整地裝設於該前座組(3)；即，該左右移座(50)具有一長形孔(51)以一螺栓(59)鎖固於該第二座(40)之螺孔(42)。

本發明一較佳實施例中，該左右移座(50)係同時跨置靠接該第一座(30)與第二座(40)。

一定位桿組(60)，裝設於該左右移座(50)，供頂抵定位晶片用。

一輔助平衡桿(70)，接於該前座組(3)並滑設於該氣缸座(10)的導孔(17)。本例中，該輔助平衡桿(70)係接於該第一座(30)。

藉由上述實施結構，該氣缸座(10)可前後調整位移固定，該左右移座(50)可左右調整位移固定，使該定位桿組(60)達到更適當的定位頂抵晶片，因此達成本發明之目的。

而如第7圖所示，藉由旋鬆該螺帽(49)該第二座(40)可以其通孔(41)調整位移於該氣壓桿(20)的桿身(22)，即可調整該第二座(40)至上升狀態，再鎖緊該螺帽(49)即可固定在另一高度，即該第二座(40)藉由其通孔(41)調整與該第一座(30)的相對高度，使該定位桿組(60)達到更適當的定位頂抵晶片，因此又達成本發明之目的。

另外，該輔助平衡桿(70)可使該第一座(30)位移時更為平衡，最終使得該定位桿組(60)定位更為平穩。

除了以上實施之外，本發明還可實施如下：

例如，該第一座(30)與第二座(40)不限定如前述分開成兩個，兩者也可改為一體的。

或者，該第二座(40)的通孔(41)不限定如前述呈開放槽孔，其也可為一圓孔其不開通到底邊或側邊，以提供另一種使用型態需求。

綜上，本發明晶片檢測頂抵裝置確實方便調整多個方向位置使達到更適當的定位頂抵晶片，因此達成本發明所述目的。

(1):檢測台 (10):氣缸座 (11):氣缸孔 (13):前進氣壓源 (14):後退氣壓源 (17):導孔 (19):固定單元 (20):氣壓桿 (21):活塞部 (22):桿身 (23):螺紋部 (3):前座組 (30):第一座 (31):桿孔 (32):開槽 (33):沈頭孔 (34):螺孔 (39):夾緊螺栓 (40):第二座 (42):螺孔 (50):左右移座 (51):長形孔 (59):螺栓 (60):定位桿組 (70):輔助平衡桿

第1圖係本發明一較佳實施例的立體組合圖。 第2圖係本發明一較佳實施例的組合上視圖。 第3圖係本發明一較佳實施例的局部剖視圖。 第4圖係本發明一較佳實施例的組合上視圖，顯示一作動狀態。 第5圖係第4圖的側視組合圖。 第6圖係本發明一較佳實施例左右移座的調整狀態圖。 第7圖概同於第4圖，顯示第二座的調整上升狀態。

(1):檢測台

(10):氣缸座

(13):前進氣壓源

(14):後退氣壓源

(19):固定單元

(20):氣壓桿

(23):螺紋部

(3):前座組

(30):第一座

(40):第二座

(41):通孔

(49):螺帽

(50):左右移座

(60):定位桿組

Claims (10)

1. 一種晶片檢測頂抵裝置，係裝於一檢測台(1)，包含有： 一氣缸座(10)，具有一氣缸孔(11)，連接一前進氣壓源(13)及一後退氣壓源(14)； 一氣壓桿(20)，具有一活塞部(21)受該前進氣壓源(13)與後退氣壓源(14)活動於該氣缸座(10)的氣缸孔(11)，一桿身(22)接於該活塞部(21)； 一前座組(3)，接於該氣壓桿(20)的桿身(22)前端； 一左右移座(50)，可左右調整地裝設於該前座組(3)； 一定位桿組(60)，裝設於該左右移座(50)，供頂抵定位晶片用。
2. 如請求項1所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該前座組(3)具有一第一座(30)及一第二座(40)，該左右移座(50)固定在該第二座(40)。
3. 如請求項2所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該氣壓桿(20)的前端具有一螺紋部(23)，該第二座(40)設有一通孔(41)供該氣壓桿(20)穿設，並以一螺帽(49)螺設該氣壓桿(20)的螺紋部(23)，使該第一座(30)與第二座(40)間固定，該第二座(40)藉由其通孔(41)調整與該第一座(30)的相對高度。
4. 如請求項1或2或3所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該前座組(3)具有一螺孔(42)，該左右移座(50)具有一長形孔(51)供一螺栓(59)穿設而鎖固於該螺孔(42)。
5. 如請求項4所述的晶片檢測頂抵裝置，其更包含有一輔助平衡桿(70)，接於該前座組(3)並滑設於該氣缸座(10)的一導孔(17)。
6. 如請求項1或2或3所述的晶片檢測頂抵裝置，其更包含有一輔助平衡桿(70)，接於該前座組(3)並滑設於該氣缸座(10)的一導孔(17)。
7. 如請求項6所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該前座組(3)具有一桿孔(31)供該氣壓桿(20)插接，一開槽(32)開通至該桿孔(31)，並以一夾緊螺栓(39)使該前座組(3)夾緊該氣壓桿(20)。
8. 如請求項5所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該前座組(3)具有一桿孔(31)供該氣壓桿(20)插接，一開槽(32)開通至該桿孔(31)，並以一夾緊螺栓(39)夾緊該開槽(32)使該前座組(3)與該氣壓桿(20)固定。
9. 如請求項4所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該前座組(3)具有一桿孔(31)供該氣壓桿(20)插接，一開槽(32)開通至該桿孔(31)，並以一夾緊螺栓(39)夾緊該開槽(32)使該前座組(3)與該氣壓桿(20)固定。
10. 如請求項1或2或3所述的晶片檢測頂抵裝置，其中該前座組(3)具有一桿孔(31)供該氣壓桿(20)插接，一開槽(32)開通至該桿孔(31)，並以一夾緊螺栓(39)夾緊該開槽(32)使該前座組(3)與該氣壓桿(20)固定。

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