TW201901981A

TW201901981A - 顯示裝置及其顯示校正方法

Info

Publication number: TW201901981A
Application number: TW106117531A
Authority: TW
Inventors: 賴義昶
Original assignee: 宏碁股份有限公司
Priority date: 2017-05-26
Filing date: 2017-05-26
Publication date: 2019-01-01
Also published as: TWI626764B

Abstract

一種顯示裝置及其顯示校正方法。顯示裝置包括：一顯示單元、一壓力感測模組電性連接顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接記憶體和壓力感測模組、和一控制單元電性連接處理器和顯示單元。記憶體儲存有一電壓修正資訊。壓力感測模組用以感測顯示單元是否受到壓力，以及對應於受到壓力的單或多個畫素產生一壓力相應資料。處理器接收壓力感測模組所產生之壓力相應資料，以及自電壓修正資訊中查找和提取對應該壓力相應資料的一校正電壓值。控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單個或多個畫素。

Description

顯示裝置及其顯示校正方法

本發明是有關於一種顯示裝置及其顯示校正方法，且特別是有關於一種具有壓力感測模組之顯示裝置及其顯示校正方法。

具顯示面板的電子顯示裝置已是現代人不論在工作處理學習上、或是個人休閒娛樂上，不可或缺的必需品，包括智慧型手機、平板電腦、筆記型電腦、顯示器到電視等許多相關產品，其中又以液晶顯示面板最為常見。而目前螢幕除了平面螢幕也有曲面螢幕的開發。而消費者除了注重顯示裝置本身的電子特性，例如操作應答速度快速、使用壽命長和穩定性高等特點，更加追求顯示畫面的影像品質。

以液晶顯示面板之顯示裝置為例，比起垂直排列型(Vertical Alignment，VA)液晶和扭向陣列型(Twisted Nematic，TN)液晶，平面旋轉式(In-Plane Switching，IPS)液晶因其廣視角的特性，目前廣泛地被應用在顯示裝置上。然而IPS液晶對於不當外力例如是來自於系統組裝或使用者按壓而造成液晶層間隙(Cell gap)的變化十分敏感，在顯示影像上容易產生瑕疵如黃斑或漏光。目前解決方式是藉由改善系統組裝方式及調整背光模組中的導光板圖案來解決此漏光現象的問題，然而改善效果十分有限，只要系統構件發生變異就會產生明顯的黃斑或漏光現象。

本發明係有關於一種顯示裝置及其顯示校正方法，其利用壓力感測模組和建立之校正電壓值，以校正受到壓力的單或多個畫素，避免暗態漏光和影像色偏的問題，大幅改善顯示影像。

根據本發明之第一方面，提出一種顯示裝置，包括：一顯示單元、一壓力感測模組電性連接顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接記憶體和壓力感測模組、和一控制單元電性連接處理器和顯示單元。記憶體儲存有一電壓修正資訊。壓力感測模組用以感測顯示單元是否受到壓力，以及對應於受到壓力的單或多個畫素產生一壓力相應資料。處理器接收壓力感測模組所產生之壓力相應資料，以及自電壓修正資訊中查找和提取對應該壓力相應資料的一校正電壓值。控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單個或多個畫素。

根據本發明之第二方面，提出一種顯示裝置之顯示校正方法，其中顯示裝置包括一顯示單元、一壓力感測模組電性連接顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接記憶體和壓力感測模組、一控制單元電性連接處理器和顯示單元，顯示校正方法包括：建立一電壓修正資訊並儲存於記憶體；壓力感測模組感測顯示單元受到壓力的單或多個畫素，以及產生對應之一壓力相應資料並傳送至處理器；處理器接收壓力相應資料，並自電壓修正資訊中查找和提取對應壓力相應資料的一校正電壓值；和控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單個或多個畫素。

根據本發明之第三方面，提出一種顯示裝置之顯示校正方法，其中顯示裝置包括一顯示單元、一壓力感測模組電性連接顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接記憶體和壓力感測模組、和一控制單元電性連接處理器和顯示單元，且顯示裝置更包括儲存一默認設定值(default setting)於記憶體或於另一儲存單元，顯示校正方法包括：建立一電壓修正資訊並儲存於記憶體；壓力感測模組感測顯示單元是否受到壓力，若壓力感測模組沒有感測到顯示單元受到壓力，則控制單元係輸出該默認設定值至顯示單元中未受到壓力之畫素；若壓力感測模組有感測到顯示單元受到壓力，則偵測受到壓力的單或多個畫素以及產生對應之一壓力相應資料並傳送至該處理器，並進入以下步驟：

該處理器接收壓力相應資料，並自電壓修正資訊中查找和提取對應壓力相應資料的一校正電壓值；和

控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單或多個畫素，以及輸出默認設定值至顯示單元中未受到壓力之其他畫素。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

本揭露之實施例係提出一種顯示裝置及其顯示校正方法，係利用壓力感測模組以感測顯示單元是否受到壓力，以及根據受到的壓力大小提取出對應的校正電壓值，以校正受到壓力的單或多個畫素，自動校正和調整受到壓力的畫素所應給予的電壓值，避免暗態漏光和影像色偏的問題。無須顧慮系統組裝過程中或是使用者使用後系統構件的變異而使面板產生不平整或有局部壓迫的狀況，應用實施例所提出的校正方法都可以因應壓力的大小去調整和改變液晶分子的旋轉角度，而達到無漏光和色偏之優異效果，大幅改善顯示影像。

以下係參照所附圖式詳細敘述實施態樣。實施例應用之態樣眾多，應用於顯示裝置之顯示校正方法大致可區分為：產品出廠後的動態校正(ex: 如實施例之即時感測壓力)、或是產品出廠前後的兩種校正型態(ex:如實施例之載入默認設定值和即時感測壓力)，其中出廠前校正可以提高產品顯示良率，避免漏光瑕疵，而出廠後自動執行的動態校正可以即時地有效彌補和改善因終端使用者不當使用外力所產生的顯示缺陷，避免漏光和影像色偏等問題，提升使用者滿意度。另外，需注意的是，實施例所提出的裝置結構和顯示校正方法之內容僅為舉例說明之用，本揭露欲保護之範圍並非僅限於所述之該些態樣和流程。實施例中相同或類似的標號係用以標示相同或類似之部分。需注意的是，本揭露並非顯示出所有可能的實施例。可在不脫離本揭露之精神和範圍內對結構加以變化與修飾，以符合實際應用所需。因此，未於本揭露提出的其他實施態樣也可能可以應用。再者，圖式係已簡化以利清楚說明實施例之內容，圖式上的尺寸比例並非按照實際產品等比例繪製。因此，說明書和圖示內容僅作敘述實施例之用，而非作為限縮本揭露保護範圍之用。

第1A圖繪示未受不當壓力之一顯示模組及其液晶分子之示意圖，其中第一基板11(例如一TFT基板)和第二基板12(例如一CF基板)之間的液晶層15(包括多個液晶分子151)，其間隙維持在間距d。第1B圖係繪示第1A圖之顯示模組受到不當壓力下部分液晶分子角度產生改變之示意圖。不當壓力(或外部壓力)例如是來自於，系統組裝時顯示模組受到機構件的壓迫或是使用者操作時不當按壓而造成液晶層間隙有局部的不當形變，因而使液晶偏位而造成漏光，如第1B圖所示相應於顯示模組中央下陷部分的液晶分子151其旋轉角度已經改變。而應用本揭露實施例之顯示裝置及其顯示校正方法，即可將受到壓力而改變的液晶角度導回至達到預定轉動角度，以避免產生漏光或影像色偏之現象。另外，雖然圖中係以IPS之液晶顯示裝置為例做說明，但本揭露之應用並不僅限於此形態之液晶顯示裝置。本揭露之實施例可以應用於任何形態之顯示裝置。

第2圖係為本揭露一實施例之一種顯示裝置之示意圖。實施例之一顯示裝置2係包括一顯示單元20(例如包括一顯示區(具有複數個畫素)和一非顯示區)、一壓力感測模組21、一記憶體22、一處理器24和一控制單元26。壓力感測模組21係電性連接顯示單元20，可用以感測顯示單元20是否受到壓力以及對應於受到壓力的單或多個畫素產生一壓力相應資料。記憶體22可儲存一或多組處理器24可執行之軟體資訊，包括儲存實施例所建立之一電壓修正資訊。處理器24係電性連接記憶體22和壓力感測模組21，且處理器24可接收壓力感測模組21所產生之壓力相應資料。控制單元26則電性連接處理器24和顯示單元20，且可輸出電壓值至顯示單元20。

第3圖係為本揭露一實施例之一種顯示裝置之電路方塊簡示圖。第3圖與第2圖相同或相似之元件係沿用相同或相似之元件標號。一實施例中，壓力感測模組21(第2圖)例如可包括一壓力感測器211和一壓力感測運算單元212(例如壓力微型控制器(force MCU))(第3圖)，其中電性連接顯示單元20之壓力感測器211可感測顯示單元20是否受到不當壓力，壓力感測運算單元212則電性連接壓力感測器211和處理器24。當壓力感測器211感測到顯示單元20受到不當壓力時，則傳送訊號至壓力感測運算單元212。壓力感測運算單元212係根據收到訊號計算和產生壓力相應資料(例如包括：可判斷和決定出壓力位置所在的單個或多個畫素，以及對應的壓力大小)。之後壓力相應資料傳送至處理器24。

實施例更包括建立一電壓修正資訊並儲存在記憶體22中，處理器24根據接收到壓力感測模組21所產生之壓力相應資料，可自記憶體22儲存的電壓修正資訊中進行查找和比對，以提取對應接收到之壓力相應資料的校正電壓值。之後控制單元26輸出校正電壓值至顯示單元20中受到壓力的單個或些個畫素，以進行校正。

於一實施例中，控制單元26輸出校正電壓值時係可分區校正顯示單元20中受到壓力的單個或多個畫素之電壓、或是以各個畫素為單位個別進行校正(i.e. 可以分成多個小區域進行分區電壓修正，也可以是單個畫素進行補償)，使液晶分子修正轉動角度而達到無漏光或無色偏之效果，本揭露對此不多做限制。再者，一實施例中，控制單元26例如是包括多個源極驅動電路(source driver)261分別對應至該顯示單元之不同顯示區塊，應用時處理器係傳送校正電壓值之資訊至受到不當外壓的單個或多個畫素所屬之顯示區塊所對應的源極驅動電路。閘極驅動電路(gate driver)262則負責控制畫素所屬電晶體元件之開關。因此，雖然第3圖中僅繪示一個源極驅動電路為例做說明，但本揭露並不以此為限。

再者，於實際應用時，儲存電壓修正資訊之記憶體22可以有多種實作形式，例如包括隨機存取記憶體(Random Access Memory, RAM)、快閃記憶體(Flash)、唯讀記憶體(Read Only Memory, ROM)、可擦拭可規劃式唯讀記憶體(Erasable Programmable Read Only Memory, EPROM)、電子抹除式可複寫唯讀記憶體(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory，EEPROM)、暫存器、可移除式磁碟、光碟、或其他儲存媒體形式。一實施例中，處理器24例如可以是時脈控制器(Tcon-Timing Controller)或其他適用之處理器。

另外，本揭露實施例可應用於一般顯示裝置或是觸控顯示裝置，並沒有特別限制。實施例之壓力感測模組21可以是另外設置於應用之顯示裝置上，或是以應用顯示裝置中即有之壓力感測模組進行運用。例如，若應用實施例於一觸控顯示裝置，則可利用一般觸控模組中的壓力感測模組來感測顯示模組是否有受到不當外力的壓迫。

第4圖係為本揭露一實施例之一種建立電壓修正資訊之流程圖。一實施例中，所建立之電壓修正資訊例如是一查找表格(look-up table)。首先，在步驟S41中，根據不同壓力值定義和建立一查找表格。實施例之查找表格例如是，根據所使用的液晶形態，以及壓力感測模組所回饋之壓力值，而建立出不同壓力值下欲達到一灰階值範圍中特定灰階之對應電壓值之資訊，建立相應的查找表格。灰階值範圍例如是0-255灰階或1-256灰階。接著，在步驟S42中，將建立好的查找表格儲存於記憶體22中。

第5圖係為本揭露一實施例中一查找表格之示意圖。其中，灰階值範圍例如是1-256灰階(也可以是0-255灰階或其他定義方式)，根據所使用的液晶形態，其壓力感測模組所回饋之壓力值(force level)例如分別是2⁰ 、2¹ 、.. 2^x (x＝正整數，實際壓力值之數值和單位係可依據實際應用狀況而定)。表格中V_1,0 表示：當壓力值為2⁰ 時，需施加電壓V_1,0 以達到灰階值1；V_1,x 表示：當壓力值為2^x 時，需施加電壓V_{1, x} 以達到灰階值1；V_256,1 表示：當壓力值為2¹ 時，需施加電壓V_256,1 以達到灰階值256，…依此類推。當然，如相關領域技術者所知，查找表格的內容並不僅限於如第5圖表格所示之內容，而是可根據實際應用條件所需去建立適用之電壓修正資訊，以在偵測到不同壓力值時可對應找出欲達到原灰階需求需施加的電壓值，而使受壓迫而偏位的液晶分子旋轉至其未受壓迫前應有之角度。例如從第1B圖之偏位的液晶分子狀態回復至如第1A圖之液晶分子狀態。其應用時，以第5圖之表格為例，假設本來某畫素要達到灰階值1應該要施加電壓1V，但若偵測到此畫素受到不當壓力為1024(=2的10次方，x=10)，則根據表格查出應要修正為5V(V_1,x )的電壓值才能達到此畫素對應影像要求的灰階值1，則控制單元26輸出5V電壓至此畫素。

第6圖為本揭露一實施例之一種顯示裝置之顯示校正方法的流程圖。顯示裝置包括一顯示單元、一壓力感測模組電性連接顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接記憶體和壓力感測模組、一控制單元電性連接處理器和顯示單元。顯示校正方法包括：首先，如步驟S61，建立一電壓修正資訊並儲存於記憶體。步驟S62，壓力感測模組感測顯示單元受到壓力的單個或多個畫素，以及產生對應之一壓力相應資料並傳送至處理器。步驟S63，處理器接收壓力相應資料，並自電壓修正資訊中查找和提取對應壓力相應資料的一校正電壓值。步驟S64，控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單個或多個畫素。

因此，於一實際應用中，如果相應於應用顯示裝置的電壓修正資訊(ex:查找表格)已經建好，使用者將裝置接上電源後，應用實施例之顯示裝置會自動偵測面板的顯示區域內是否有不當壓力源，不當壓力源可能是來自於手的暫時性觸碰、或是機構件(ex:框架)組裝或是使用一段時間後變形所構成的永久性壓迫、或是面板本身的不平整(ex:曲面顯示面板)所造成。決定出壓力點和壓力大小後，即根據電壓修正資訊(ex:查找表格)自動調整該壓力點所應給予的電壓。

實施例之顯示裝置可參照如第2圖所示之單元/模組及其說明內容。如一實施例之顯示裝置中，壓力感測模組包括一壓力感測器電性連接顯示單元，和一壓力感測運算單元電性連接壓力感測器和處理器。第7圖為本揭露另一實施例之一種顯示裝置之顯示校正方法的流程圖。另外，在進行如第7圖所示之顯示校正方法之前，已經完成電壓修正資訊之建立，並儲存於顯示裝置之一記憶體中(請參照第4圖)。如第7圖所示之顯示校正方法包括步驟如下。首先，如步驟S71，壓力感測模組感測顯示單元是否受到壓力。若壓力感測模組沒有感測顯示單元受到壓力，則進行步驟S72，控制單元依照欲呈現影像之需求輸出一般性相關電壓值至顯示單元之各個畫素。若壓力感測模組有感測顯示單元受到壓力，則進行步驟S73，偵測受到壓力的單個或多個畫素以及產生對應之一壓力相應資料(例如位置與壓力大小)傳送至處理器。接著，步驟S74，處理器接收壓力相應資料，並自電壓修正資訊中查找和提取對應壓力相應資料的一校正電壓值。之後，步驟S75，控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單個或多個畫素，以及依照欲呈現影像之需求輸出一般性相關電壓值至顯示單元中未受到壓力之其他畫素。

另外，由於顯示裝置之液晶顯示模組在系統組裝時可能因為系統構件的變異或受到機構件的壓迫而造成面板不平整和/或液晶層間隙有局部的形變，因而在顯示裝置出廠前就可能有液晶偏位而造成漏光的缺陷。因此，除了可應用於顯示裝置出廠後的上述動態校正方式，本揭露之其他實施例中更可對於顯示裝置組裝時因機構件所造成的液晶偏位先行校正。

一實施例中，一顯示裝置包括一顯示模組、一背光模組和一殼體，顯示模組和背光模組27(如第2圖所示)係組裝於殼體中，顯示模組包括顯示單元20(例如液晶顯示單元)和壓力感測模組21。在實際系統組裝時可能因為顯示模組和背光模組組裝於殼體時因機構壓迫而造成難以避免的缺陷。因此，此實施例中，顯示裝置更包括一默認設定值(default setting)儲存於記憶體或是儲存於顯示裝置中其他的儲存單元亦可，以校正顯示裝置出廠前就產生的液晶偏位缺陷。其默認設定值可以依照實際應用狀況而做相關選擇與設定，以下簡單列出其中三種校正方式決定默認設定值，但本揭露並不僅限於以下方法。

(1)先設定一液晶顯示模組於單體時之狀態，假設單體在大理石平台自然狀態下有出現漏光現象時，可以利用嵌入式eDP訊號(Embedded DisplayPort)將其校正至無漏光現象，並把此設定值(i.e.默認設定值)燒入在存放電壓修正資訊(例如一查找表格)的記憶體(ex: EEPROM)中，或者液晶顯示模組上任何可儲存資料的單元；或者，

(2)原本無漏光的液晶顯示模組組上系統後(例如與背光模組一起組裝至殼體)，可以將其校正至無漏光狀態並把設定值(i.e.默認設定值)燒入在存放電壓修正資訊(例如一查找表格)的記憶體(ex: EEPROM)中，或者液晶顯示模組模組上任何可儲存資料的單元；或者，

(3)在系統完成組裝後，以壓力感測器感測到受壓力之顯示面板有漏光時, 可以將其校正至無漏光狀態並把設定值(i.e.默認設定值)燒入在存放電壓修正資訊(例如一查找表格)的記憶體(ex: EEPROM)中，或者液晶顯示模組上任何可儲存資料的單元，此方式可以確保顯示裝置於產品出貨時並無漏光現象。

因此，如方式(3)之一實施例中，如顯示模組和背光模組組裝於殼體後，壓力感測器感測到液晶顯示單元受到壓力(ex:受到組裝機構件的壓力)時，則處理器可接收壓力感測模組感測所產生的一起始壓力資料，處理器根據此起始壓力資料自先前製作和儲存之電壓修正資訊中進行查找和比對，以提取不產生暗態漏光之電壓值做為默認設定值並予以儲存，以校正顯示裝置出廠前因不當外壓就產生的液晶偏位缺陷。

第8圖為本揭露再一實施例之一種顯示裝置之顯示校正方法的流程圖。類似地，在進行如第8圖所示之顯示校正方法之前，已經完成電壓修正資訊之建立，並儲存於顯示裝置之一記憶體中(請參照第4圖)。如第8圖所示之顯示校正方法包括步驟如下。首先，如步驟S81，完成一默認設定值之建立，並儲存於記憶體或儲存於顯示裝置之另一儲存單元。如步驟S82，壓力感測模組感測顯示單元是否受到壓力。若壓力感測模組沒有感測顯示單元受到壓力，則進行步驟S83，控制單元輸出默認設定值至顯示單元中未受到壓力之各個畫素(亦即出廠前之校正)。若壓力感測模組有感測顯示單元受到壓力，則進行步驟S84，偵測受到壓力的單個或多個畫素以及產生對應之一壓力相應資料(例如位置與壓力大小)傳送至處理器。接著，步驟S85，處理器接收壓力相應資料，並自電壓修正資訊中查找和提取對應壓力相應資料的一校正電壓值。之後，步驟S86，控制單元輸出校正電壓值至顯示單元中受到壓力的單個或多個畫素，以及輸出默認設定值至顯示單元中未受到壓力之其他畫素；因而使畫素可顯示出根據影像要求所需顯示的灰階程度(對應灰階值)。因此，於實際應用中，默認設定值可視為使應用之顯示模組於組裝完成後可彌補/校正而避免顯示單元產生暗態漏光之一預先設定值。在使用者購買顯示裝置進行使用時，顯示裝置會先載入之前因應各裝置組裝情況而存放之默認設定值至顯示單元中未受到不當使用壓力之畫素。換句話說，於此一實施例中，當沒有偵測到不當使用壓力或壓力解除後，顯示裝置都載入默認設定值。

據此，根據上述實施例所提出之顯示裝置及其顯示校正方法，可以包括產品出廠後的動態校正(如第7圖)、或是包括產品出廠前後的兩種校正狀態(ex: 如第8圖，載入默認設定值&即時感測壓力)。在顯示裝置組裝完成後於出廠前即進行校正(ex:載入默認設定值)，可避免出現漏光瑕疵，提高出廠產品之顯示良率。如第8圖所示之實施例具有默認設定值，可避免終端使用者在購買顯示裝置產品開箱後，因組裝產生之外力或其他不明原因外力而造成漏光現象，而導致終端使用者退貨或送回保固維修。而顯示裝置在出廠後自動執行的動態校正(例如步驟S71-步驟S75和步驟S82-步驟S86)，藉由此構想可以解決當終端使用者不當觸控或過度按壓螢幕時造成液晶層間隙形變而導致的按壓點漏光(或者因其原因按壓而導致漏光)，而導致退貨或維修的問題。因此，實施例之顯示裝置及其顯示校正方法，無須改變製程和顧慮系統組裝過程中或是使用者使用後是否有對面板產生不當壓力的狀況，應用實施例所提出的校正方法都可以因應壓力的大小即時地調整和改變液晶分子的旋轉角度，使應用實施例之顯示裝置達到穩定優異的顯示品質，例如達到無漏光和顯示影像無色偏之優異效果，除了不影響產品製程也大幅地改善了顯示影像，極具實質上的經濟效益。

綜上所述，雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

11‧‧‧第一基板

12‧‧‧第二基板

15‧‧‧液晶層

151‧‧‧液晶分子

d‧‧‧間距

2‧‧‧顯示裝置

20‧‧‧顯示單元

21‧‧‧壓力感測模組

211‧‧‧壓力感測器

212‧‧‧壓力感測運算單元

22‧‧‧記憶體

24‧‧‧處理器

26‧‧‧控制單元

261‧‧‧源極驅動電路

262‧‧‧閘極驅動電路

27‧‧‧背光模組

S41、S42、S61-S64、S71-S75、S81-S86‧‧‧流程步驟

第1A圖繪示未受不當壓力之一顯示模組及其液晶分子之示意圖。第1B圖係繪示第1A圖之顯示模組受到不當壓力下部分液晶分子角度產生改變之示意圖。第2圖係為本揭露一實施例之一種顯示裝置之示意圖。第3圖係為本揭露一實施例之一種顯示裝置之電路方塊簡示圖。第4圖係為本揭露一實施例之一種建立電壓修正資訊之流程圖。第5圖係為本揭露一實施例中一查找表格之示意圖。第6圖為本揭露一實施例之一種顯示裝置之顯示校正方法的流程圖。第7圖為本揭露另一實施例之一種顯示裝置之顯示校正方法的流程圖。第8圖為本揭露再一實施例之一種顯示裝置之顯示校正方法的流程圖。

Claims

一種顯示裝置，包括：一顯示單元；一壓力感測模組，電性連接該顯示單元，該壓力感測模組用以感測該顯示單元是否受到壓力以及對應於受到壓力的單或多個畫素產生一壓力相應資料；一記憶體，儲存一電壓修正資訊；一處理器，電性連接該記憶體和該壓力感測模組，且該處理器接收該壓力感測模組所產生之該壓力相應資料，以及自該電壓修正資訊中查找和提取對應該壓力相應資料的一校正電壓值；一控制單元，電性連接該處理器和該顯示單元，其中該控制單元輸出該校正電壓值至該顯示單元中受到壓力的該單個或該些個畫素。
如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中該壓力感測模組包括：一壓力感測器，電性連接該顯示單元，以感測該顯示單元是否受到壓力；和一壓力感測運算單元，電性連接該壓力感測器和該處理器，該壓力感測運算單元係產生該壓力相應資料。
如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中該記憶體所儲存之該電壓修正資訊係為一查找表格(look-up table)，其建立不同壓力值下欲達到一灰階值範圍中特定灰階之對應電壓值之資訊。
如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，更包括一默認設定值(default setting)儲存於該記憶體、或儲存於該顯示裝置之另一儲存單元。
如申請專利範圍第4項所述之顯示裝置，其中該控制單元係輸出該默認設定值至該顯示單元中未受到壓力之畫素。
如申請專利範圍第4項所述之顯示裝置，包括一顯示模組、一背光模組和一殼體，該顯示模組和該背光模組係組裝於該殼體中，其中該顯示單元係為一液晶顯示單元，該顯示模組包括該液晶顯示單元和該壓力感測模組，其中該控制單元係輸出該默認設定值至該液晶顯示單元，使組裝後之該顯示模組校正至無暗態漏光。
如申請專利範圍第6項所述之顯示裝置，其中該顯示模組和該背光模組組裝於該殼體後使該液晶顯示單元受到壓力，則該處理器接收該壓力感測模組感測所產生的一起始壓力資料，該處理器根據該起始壓力資料自該電壓修正資訊中進行查找，以提取不產生暗態漏光之電壓值做為該默認設定值。
如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中該控制單元包括複數個源極驅動電路(source driver IC)，分別對應至該顯示單元之不同顯示區塊，其中該處理器係傳送該校正電壓值至受到壓力的該單個或該些個畫素所屬之顯示區塊所對應的該源極驅動電路。
一種顯示裝置之顯示校正方法，其中該顯示裝置包括一顯示單元、一壓力感測模組電性連接該顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接該記憶體和該壓力感測模組、一控制單元電性連接該處理器和該顯示單元，該顯示校正方法包括：建立一電壓修正資訊並儲存於該記憶體；該壓力感測模組感測該顯示單元受到壓力的單或多個畫素，以及產生對應之一壓力相應資料並傳送至該處理器；該處理器接收該壓力相應資料，並自該電壓修正資訊中查找和提取對應該壓力相應資料的一校正電壓值；和該控制單元輸出該校正電壓值至該顯示單元中受到壓力的該單個或該些個畫素。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該壓力感測模組包括一壓力感測器電性連接該顯示單元，和一壓力感測運算單元電性連接該壓力感測器和該處理器，該顯示校正方法包括：該壓力感測器感測該顯示單元是否受到壓力；和該壓力感測運算單元產生該壓力相應資料，包括判斷和決定受到壓力的該單個或該些個畫素之位置以及對應的壓力大小。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該記憶體所儲存之該電壓修正資訊係為一查找表格(look-up table)，其建立不同壓力值下欲達到一灰階值範圍中特定灰階之對應電壓值之資訊。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該顯示裝置更包括一默認設定值(default setting)儲存於該記憶體或儲存於另一儲存單元，該顯示校正方法更包括：該控制單元係輸出該默認設定值至該顯示單元中未受到壓力之其他畫素。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該顯示裝置包括一顯示模組、一背光模組和一殼體，該顯示模組和該背光模組係組裝於該殼體中，該顯示模組包括該顯示單元和該壓力感測模組，其中該顯示校正方法包括：該控制單元係輸出該默認設定值至該顯示單元，使組裝後之該顯示模組校正至無暗態漏光。
如申請專利範圍第13項所述之顯示校正方法，其中該顯示模組和該背光模組組裝於該殼體後使該液晶顯示單元受到壓力，則該處理器可接收該壓力感測模組感測所產生的一起始壓力資料，該處理器根據該起始壓力資料自該電壓修正資訊中進行查找，以提取不產生暗態漏光之電壓值做為該默認設定值。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該控制單元包括複數個源極驅動電路，分別對應至該顯示單元之不同顯示區塊，該顯示校正方法中該處理器係傳送該校正電壓值至受到壓力的該單個或該些個畫素所屬之顯示區塊所對應的該源極驅動電路。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該控制單元輸出該校正電壓值時係分區校正該顯示單元中受到壓力的該單個或該些個畫素之電壓。
如申請專利範圍第9項所述之顯示校正方法，其中該控制單元輸出該校正電壓值時係各畫素個別校正該顯示單元中受到壓力的該單個或該些個畫素之電壓。
一種顯示裝置之顯示校正方法，其中該顯示裝置包括一顯示單元、一壓力感測模組電性連接該顯示單元、一記憶體、一處理器電性連接該記憶體和該壓力感測模組、和一控制單元電性連接該處理器和該顯示單元，且該顯示裝置更包括儲存一默認設定值(default setting)於該記憶體或於另一儲存單元，該顯示校正方法包括：建立一電壓修正資訊並儲存於該記憶體；該壓力感測模組感測該顯示單元是否受到壓力，若該壓力感測模組沒有感測該顯示單元受到壓力，則該控制單元係輸出該默認設定值至該顯示單元中未受到壓力之畫素；若該壓力感測模組感測到該顯示單元受到壓力，則偵測受到壓力的單或多個畫素以及產生對應之一壓力相應資料並傳送至該處理器，並進入以下步驟：該處理器接收該壓力相應資料，並自該電壓修正資訊中查找和提取對應該壓力相應資料的一校正電壓值；和該控制單元輸出該校正電壓值至該顯示單元中受到壓力的該單個或該些個畫素，以及輸出該默認設定值至該顯示單元中未受到壓力之其他畫素。