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TW201908726A - 頻譜資料處理裝置以及頻譜資料處理方法 - Google Patents

頻譜資料處理裝置以及頻譜資料處理方法

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TW201908726A
TW201908726A TW107119599A TW107119599A TW201908726A TW 201908726 A TW201908726 A TW 201908726A TW 107119599 A TW107119599 A TW 107119599A TW 107119599 A TW107119599 A TW 107119599A TW 201908726 A TW201908726 A TW 201908726A
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mass
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TW107119599A
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Inventor
佐久田昌博
Original Assignee
日商日立高新技術科學股份有限公司
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Abstract

[課題]提供一種頻譜資料處理裝置和頻譜資料處理方法，能夠以二維的方式在視覺上輕易掌握三維的頻譜資料的時間、訊號強度以及預定的參數之間的關係。 　　[解決手段]一種頻譜資料處理裝置(210)，係根據具有時間、訊號強度以及預定的參數的三維頻譜資料而將特定的頻譜顯示於顯示部(220)，其具備：二維頻譜計算部(217)，其根據頻譜資料，將每個時間的訊號強度合計，計算訊號強度和參數的二維頻譜(MS)；訊號強度時間變化計算部(218)，其根據頻譜資料，按照每個參數來計算訊號強度的時間變化(TC)；以及顯示控制部(219)，其使顯示部顯示二維頻譜，並且，將訊號強度的時間變化以參數與二維頻譜的參數一致且時間沿著二維頻譜的訊號強度的軸的形態進行重疊顯示。

Description

頻譜資料處理裝置以及頻譜資料處理方法
本發明，係關於質量頻譜等的頻譜資料處理裝置以及頻譜資料處理方法。
在質量分析中，使用質量頻譜進行物質的鑑定等分析。該質量頻譜是，橫軸為質荷比(m/z)、縱軸為訊號強度的二維的頻譜。 　　並且，也開發了如下的技術：在LC/MS(Liquid chromatography/mass spectrometry)分析或GC/MS(Gas chromatography/mass spectrometry)分析中，取得層析圖、質量頻譜等各種分析結果，將該多個分析結果分別關聯起來進行顯示，而能夠以視覺理解掌握(專利文獻1)。 [先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2014-219317號公報
[發明所欲解決的技術課題]
另外，例如熱脫附離子化質量分析裝置，係加熱試樣以產生氣體成分，對該氣體成分進行離子化而進行質量分析。此時，包含於試樣中的氣體成分的熱脫附的時機根據分子類型或加熱條件而不同，而有從質量頻譜的時間變化讀取實際包含於試樣中的成分的資訊的可能性。例如，當在相同的時機產生了不同的質荷比的峰值的情況下，這些峰值很可能是從同一物質產生的碎體。並且，不論加熱溫度如何而隨時檢測到的成分很可能是雜質(污染物)或雜訊。 　　然而，僅觀察層析圖(總離子層析圖；將每個質荷比的訊號強度合計，以表現訊號強度的時間變化)或質量頻譜，亦難進行該等之分析，且不易以視覺掌握。
例如，如圖15所示，將每個時間的質量頻譜M1～M3沿著時間序列重疊顯示在同一畫面上而對峰值A的時間變化(在圖15中，隨著時間經過，在質量頻譜M2中峰值A消失)等進行分析在理論上是可能的。 　　然而，在質量頻譜的峰值的個數多的情況下，難以將每個時間的質量頻譜重疊顯示，就顯示空間而言也難以將每個極短的時間的質量頻譜重疊顯示。因此，難以藉由二維方式容易並且詳細地分析質量頻譜的時間變化等。
因此，本發明是為了解決前述的課題而完成的，目的在於提供一種能夠以二維方式在視覺上容易並且詳細地掌握三維的頻譜資料的時間、訊號強度以及預定的參數之間的關係的頻譜資料處理裝置和頻譜資料處理方法。 [用以解決課題的技術方案]
為了達成前述的目的，本發明的頻譜資料處理裝置，係根據具有時間、訊號強度以及預定的參數的三維頻譜資料而將特定的頻譜顯示於顯示部，其特徵在於：具有：二維頻譜計算部，其根據前述頻譜資料，將每個前述時間的前述訊號強度合計，計算前述訊號強度和前述參數的二維頻譜；訊號強度時間變化計算部，其根據前述頻譜資料，按照每個前述參數來計算前述訊號強度的時間變化；以及顯示控制部，其使前述顯示部顯示前述二維頻譜，並且，以前述二維頻譜與前述參數一致且前述時間沿著前述二維頻譜的前述訊號強度的軸的形態，藉由多色、明暗或亮度變化來重疊顯示前述訊號強度的時間變化。
根據該頻譜資料處理裝置，將訊號強度的時間變化以與二維頻譜的參數一致的方式在二維上重疊顯示，因此能夠以二維的方式在視覺上容易並且詳細地掌握三維的頻譜資料的時間、訊號強度以及參數的關係。
在本發明的頻譜資料處理裝置中，亦可為：前述頻譜資料是質量分析的資料，前述參數是質荷比，前述二維頻譜是質量頻譜。
在本發明的頻譜資料處理裝置中，亦可為：前述頻譜資料是有機化合物的質量分析的資料。
在本發明的頻譜資料處理裝置中，亦可為：前述頻譜資料包含在前述有機化合物的離子化時生成的碎體離子。
在本發明的頻譜資料處理裝置中，也可以是，前述顯示控制部使前述顯示部將前述二維頻譜和前述訊號強度重疊顯示，並且將表示時間和訊號強度之間的關係的層析圖重疊顯示。
本發明的頻譜資料處理方法，係根據具有時間、訊號強度以及預定的參數的三維頻譜資料而將特定的頻譜顯示於顯示部，其特徵在於：具有：二維頻譜計算步驟，根據前述頻譜資料，將每個前述時間的前述訊號強度合計，計算前述訊號強度和前述參數的二維頻譜；訊號強度時間變化計算步驟，根據前述頻譜資料，按照每個前述參數來計算前述訊號強度的時間變化；以及顯示控制步驟，使前述顯示部顯示前述二維頻譜，並且，以前述二維頻譜與前述參數一致且前述時間沿著前述二維頻譜的前述訊號強度的軸的形態，藉由多色、明暗或亮度變化來重疊顯示前述訊號強度的時間變化。 [發明之效果]
根據本發明，能夠以二維的方式在視覺上容易並且詳細地掌握三維的頻譜資料的時間、訊號強度以及預定的參數之間的關係。
以下，參照附圖對本發明的實施方式進行說明。圖1是表示包含本發明的實施方式的質量分析儀(質量分析裝置)110在內的產生氣體分析裝置200的結構的立體圖，圖2是表示氣體產生部100的結構的立體圖，圖3是表示氣體產生部100的結構的沿著軸心O的縱剖視圖，圖4是表示氣體產生部100的結構的沿著軸心O的橫剖視圖，圖5是圖4的局部放大圖。 　　產生氣體分析裝置200具有作為箱體的本體部202、安裝在本體部202的正面上的箱型的氣體產生部安裝部204以及對整體進行控制的電腦(控制部)210。電腦210具有進行資料處理的CPU、存儲電腦程式和資料的存儲部215、液晶監視器等顯示部220、以及鍵盤等輸入部等。
在氣體產生部安裝部204的內部，收納有圓筒狀的加熱爐10、試樣架20、冷卻部30、使氣體分支的分流器40、離子化部50、以及惰性氣體流路19f作為組件成為一體而成的氣體產生部100。並且，在本體部202的內部收納有對加熱試樣而產生的氣體成分進行分析的質量分析計110。
另外，如圖1所示，從氣體產生部安裝部204的上表面朝向前表面地設置有開口204h，當使試樣架20移動到加熱爐10外側的排出位置(後述)時，該試樣架20位於開口204h處，因此能夠從開口204h對於試樣架20進行試樣的取放。並且，在氣體產生部安裝部204的前表面上設置有狹縫204s，藉由使從狹縫204s露出到外部的開閉把手22H左右移動，能夠使試樣架20向加熱爐10的內外移動以設置於前述的排出位置，從而取放試樣。 　　另外，例如若利用藉由電腦210控制的步進馬達等使試樣架20在移動軌道204L(後述)上移動，則能夠將使試樣架20向加熱爐10的內外移動的功能自動化。
接下來，參照圖2～圖6對氣體產生部100的各部分的結構進行說明。 　　首先，加熱爐10以使軸心O為水平的方式安裝在氣體產生部安裝部204的安裝板204a上，並具有呈以軸心O為中心而開口的大致圓筒狀的加熱室12、加熱塊14以及保溫套16。 　　在加熱室12的外周配置有加熱塊14，在加熱塊14的外周配置有保溫套16。加熱塊14由鋁構成，藉由對沿著軸心O向加熱爐10的外部延伸的一對加熱電極14a(參照圖4)通電而被加熱。 　　另外，安裝板204a沿與軸心O垂直的方向延伸，分流器40和離子化部50安裝於加熱爐10。而且，離子化部50被氣體產生部安裝部204的上下延伸的支柱204b支承。
在加熱爐10中的與開口側相反的一側(圖3的右側)連接有分流器40。並且，在加熱爐10的下側連接有載氣保護管18，在載氣保護管18的內部收納有與加熱室12的下表面連通並且向加熱室12內導入載氣C的載氣流路18f。並且，在載氣流路18f上配置有對載氣C的流量F1進行調整的閥18v。 　　而且，後面描述詳細內容，在加熱室12中的與開口側相反的一側(圖3的右側)的端面上連通有混合氣體流路41，載氣C與在加熱爐10(加熱室12)中生成的氣體成分G的混合氣體M在混合氣體流路41中流動。
另一方面，如圖3所示，在離子化部50的下側連接有惰性氣體保護管19，在惰性氣體保護管19的內部收納有向離子化部50導入惰性氣體T的惰性氣體流路19f。並且，在惰性氣體流路19f上配置有對惰性氣體T的流量F4進行調整的閥19v。
試樣架20，係具有：載台22，其在安裝於氣體產生部安裝部204的內部上表面的移動軌道204L上移動；托架24c，其安裝在載台22上而上下延伸；絕熱材料24b、26，係安裝在托架24c的前表面上(圖3的左側)；試樣保持部24a，其從托架24c沿軸心O方向朝向加熱室12側延伸；加熱器27，其埋設於試樣保持部24a的正下方；以及試樣皿28，其收納試樣，在加熱器27的正上方配置於試樣保持部24a的上表面。 　　在此，移動軌道204L沿軸心O方向(圖3的左右方向)延伸，試樣架20連同載台22沿軸心O方向進退。並且，開閉把手22H沿與軸心O方向垂直的方向延伸並且安裝於載台22。
另外，托架24c呈上部為半圓形的條狀，絕熱材料24b呈大致圓筒狀，安裝在托架24c上部的前表面上(參照圖3)，加熱器27的電極27a貫通絕熱材料24b而被引出到外部。絕熱材料26呈大致矩形狀，在比絕熱材料24b靠下方的位置安裝在托架24c的前表面上。並且，在托架24c的下方不安裝絕熱材料26而使托架24c的前表面露出，形成了接觸面24f。 　　托架24c的直徑比加熱室12稍大，氣密地封堵加熱室12，試樣保持部24a收納於加熱室12的內部。 　　而且，載置於加熱室12的內部的試樣皿28內的試樣在加熱爐10內被加熱，生成氣體成分G。
冷卻部30以與試樣架20的導熱塊26對置的方式配置於加熱爐10的外側(圖3的加熱爐10的左側)。冷卻部30，係具有：呈大致矩形的冷卻塊32，其具有凹部32r；冷卻片34，其與冷卻塊32的下表面連接；以及風冷風扇36，其與冷卻片34的下表面連接，使空氣與冷卻片34接觸。 　　而且，當試樣架20在移動軌道204L上沿軸心O方向朝向圖3的左側移動而被排出到加熱爐10之外時，托架24c的接觸面24f收納於冷卻塊32的凹部32r內並且與凹部32r接觸，托架24c的熱經由冷卻塊32被帶走，從而對試樣架20(尤其是試樣保持部24a)進行冷卻。
如圖3、圖4所示，分流器40，係具有：前述的混合氣體流路41，其與加熱室12連通；分支路42，其與混合氣體流路41連通並且向外部開放；質量流量控制器42a，其與分支路42的排出側連接，對從分支路42排出的混合氣體M的排出壓力進行調整；箱體部43，混合氣體流路41的終端側在該箱體部43的內部開口；以及保溫部44，其包圍箱體部43。 　　而且，在本例中，在分支路42與質量流量控制器42a之間配置有去除混合氣體中的雜質等的篩檢程式42b。並且，也可以不設置質量流量控制器42a等對背壓進行調整的閥等，使分支路42的端部維持裸管的狀態。
如圖4所示，在從上表面觀察時，混合氣體流路41呈如下的曲柄狀：與加熱室12連通而沿軸心O方向延伸，然後與軸心O方向垂直地彎曲，再向軸心O方向彎曲，到達終端部41e。並且，在混合氣體流路41中的與軸心O方向垂直地延伸的部位的中央附近擴徑而形成了分支室41M。分支室41M延伸至箱體部43的上表面，嵌合有直徑比分支室41M稍小的分支路42。 　　混合氣體流路41也可以是與加熱室12連通而沿軸心O方向延伸至終端部41e的直線狀，根據加熱室12和離子化部50的位置關係，也可以是各種曲線或與軸心O具有角度的線狀等。
如圖3、圖4所示，離子化部50具有箱體部53、包圍箱體部53的保溫部54、放電針56以及保持放電針56的支撐件55。箱體部53呈板狀，其板面沿著軸心O方向，並且在中央貫通有小孔53c。而且，混合氣體流路41的終端部41e穿過箱體部53的內部而面對小孔53c的側壁。另一方面，放電針56與軸心O方向垂直地延伸，面對小孔53c。
而且，如圖4、圖5所示，惰性氣體流路19f沿上下貫通箱體部53，惰性氣體流路19f的前端緊鄰箱體部53的小孔53c的底面，形成了與混合氣體流路41的終端部41e合流的合流部45。 　　而且，對於從終端部41e導入到小孔53c附近的合流部45的混合氣體M混合有來自惰性氣體流路19f的惰性氣體T而成的綜合氣體M+T，係朝向放電針56側流動，綜合氣體M+T中的氣體成分G被放電針56離子化。
離子化部50是公知的裝置，在本實施方式中，採用了大氣壓化學離子化(Atmospheric-pressure chemical ionization, APCI)型。APCI不容易產生氣體成分G的碎體(fragment)，從而不會產生碎體峰值，因此即使沒有在層析圖儀等中分離也能夠檢測測定物件，因此優選。 　　將被離子化部50離子化後的氣體成分G與載氣C和惰性氣體T一同導入到質量分析計110中進行分析。 　　另外，離子化部50收納於保溫部54的內部。
圖6是表示產生氣體分析裝置200進行的氣體成分的分析動作的方塊圖。 　　試樣S在加熱爐10的加熱室12內被加熱，生成氣體成分G。加熱爐10的加熱狀態(升溫速度、最高達到溫度等)是由電腦210的加熱控制部212控制的。 　　氣體成分G與導入到加熱室12中的載氣C混合而成為混合氣體M，被導入到分流器40中，混合氣體M的一部分從分支路42向外部排出。 　　混合氣體M的剩餘部分和來自惰性氣體流路19f的惰性氣體T作為綜合氣體M+T被導入到離子化部50中，氣體成分G被離子化。
電腦210的檢測訊號判定部214從質量分析計110的檢測器118(後述)接收檢測訊號。 　　流量控制部216判定從檢測訊號判定部214接收到的檢測訊號的峰值強度是否在閾值的範圍外。然後，在範圍外的情況下，流量控制部216藉由對閥19v的開度進行控制，從而對在分流器40內從分支路42向外部排出的混合氣體M的流量進行控制，進而對從混合氣體流路41向離子化部50導入的混合氣體M的流量進行調整，將質量分析計110的檢測精度保持為最佳。
質量分析計110，係具有：第一細孔111，係導入被離子化部50離子化後的氣體成分G；在第一細孔111之後氣體成分G依次流入的第二細孔112、離子引導件114和四極濾質器116；以及檢測器118，其檢測從四極濾質器116排出的氣體成分G。 　　四極濾質器116藉由改變所施加的高頻電壓而能夠進行質量掃描，生成四極電場，在該電場內使離子進行振動運動，由此檢測離子。四極濾質器116形成僅使處於特定的質量範圍內的氣體成分G透過的質量分離器，因此能夠藉由檢測器118進行氣體成分G的鑑定和定量。
並且，在本例中，藉由在比分支路42靠下游側的位置使惰性氣體T流入到混合氣體流路41中，形成抑制向質量分析計110導入的混合氣體M的流量的流路阻力，從而能夠對從分支路42排出的混合氣體M的流量進行調整。具體而言，惰性氣體T的流量越大，從分支路42排出的混合氣體M的流量也越大。 　　由此，在氣體成分大量產生而使氣體濃度過高時，增大從分支路向外部排出的混合氣體的流量，抑制了超過檢測單元的檢測範圍、檢測訊號超出刻度而使測定變得不準確。
接下來，參照圖6～圖9，對作為本發明的特徵部分的頻譜顯示進行說明。 　　圖6的電腦210相當於申請專利範圍的「頻譜資料處理裝置」。 　　首先，在本實施方式中，以在掃描模式下測定質量頻譜的情況為例。在掃描模式下，檢測訊號判定部214每隔一定時間取得質量頻譜(每個質荷比(m/z)的訊號強度)。所取得的資料是具有時間、訊號強度以及質荷比(m/z)的三維的質量分析資料，存儲於硬碟等存儲部215中。 　　質量分析資料、質荷比分別相當於申請專利範圍的「三維的頻譜資料」、「參數」。
接著，電腦210的二維頻譜計算部217讀出存儲部215的質量分析資料，將每個時間的訊號強度合計，計算訊號強度和質荷比的二維頻譜(即，質量頻譜)。 　　並且，電腦210的訊號強度時間變化計算部218讀出存儲部215的質量分析資料，按照每個質荷比來計算訊號強度的時間變化TC。 　　圖7是二維頻譜計算部217計算出的質量頻譜MS的一例。並且，圖8是在與圖7的峰值P相當的質荷比下由訊號強度時間變化計算部218計算出的訊號強度的時間變化TC的示意圖。 　　在圖8中，表示了如下的行為：在訊號強度的時間變化TC的強度隨著時間而增大並顯示了強度的最大值Imax之後，強度隨著時間而降低。訊號強度時間變化計算部218根據質量頻譜MS的每個峰值的質荷比來計算訊號強度的時間變化TC。
接著，電腦210的顯示控制部219使顯示部220顯示質量頻譜MS，並且，以質荷比與質量頻譜MS一致且時間沿著質量頻譜MS的訊號強度的軸(縱軸)的形態來重疊顯示訊號強度的時間變化TC。 　　即，如圖9所示，將訊號強度的時間變化TC在峰值P的質荷比(大約880(m/z))的位置，以時間沿著縱軸經過的方式重疊顯示於質量頻譜MS的峰值P的外側。在此，關於訊號強度的時間變化TC，圖9的縱軸的上側為時間0，隨著時間經過而向圖9的下方轉移。 　　並且，在圖9中，可知，藉由明暗來顯示訊號強度的時間變化TC，前述的強度的最大值Imax被顯示為明部(白色的部分)。
關於質量頻譜MS的另一峰值Q等，勿需贅言，也是同樣地將訊號強度的時間變化TC重疊顯示。並且，「重疊顯示」，係較佳為以不與質量頻譜MS的峰值重疊的方式，將訊號強度的時間變化TC顯示在質量頻譜MS上。 　　另外，在將每個時間的訊號強度合計而計算質量頻譜時，可以將從測定開始到結束的所有時間的所有資料(例如，掃描模式下的每個時間的所有資料)合計，但例如以預定的間隔抽取資料進行合計亦可。
像以上那樣，在本實施方式中，以與質量頻譜的質荷比一致的方式在二維上重疊顯示訊號強度的時間變化，因此能夠以二維的方式在視覺上容易並且詳細地掌握三維的質量分析資料的時間、訊號強度以及質荷比之間的關係。 　　例如，在圖10的通常的質量頻譜中，即使兩個峰值F被推測為成分P1裂解而產生的，僅藉由對圖10進行分析，也找不到該峰值F是因成分P1裂解而引起的碎體峰值的證據。另外，峰值P1實際上有時不出現在質量頻譜中。 　　因此，如圖11所示，當以與各峰值F的質荷比一致的方式重疊顯示訊號強度的時間變化來分析時間變化時，從暗部(強度0)可知在時間t，各峰值F幾乎同時出現(明部)，認為這是由裂解引起的。由此，成為各峰值F是因成分P1裂解而引起的有力的證據。如此，在質量頻譜的物件物質是在離子化時容易裂解而生成碎體離子的高分子的情況下，本發明更有效。
並且，也可以像圖12所示那樣將顯示控制為，當放大圖9的質量頻譜MS的橫軸(質荷比)的一部分(大約750(m/z)-840(m/z))時也按照相同倍率放大訊號強度的時間變化的圖像。縮小的情況也是同樣的。
並且，也可以如圖13、圖14所示，除了圖9的質量頻譜MS和訊號強度的時間變化TC之外，還將表示時間與訊號強度之間的關係的層析圖CH重疊顯示。 　　另外，圖13是相對於圖9、沿著縱軸(時間軸)進一步將層析圖CH重疊顯示、並將橫軸的一方(上側)作為層析圖CH的訊號強度而得到的。 　　另一方面，圖14是將圖9的橫軸(質荷比)和縱軸(時間軸)反轉、沿著反轉後的橫軸(時間軸)進一步將層析圖CH重疊顯示、並將反轉後的縱軸的一方(右側)作為層析圖CH的訊號強度而得到的。圖13是以容易觀察質量頻譜的方式進行顯示的形態，圖14是以容易觀察層析圖的方式進行顯示的形態。 　　並且，在圖14中，時間從橫軸的左側開始，訊號強度的時間變化TC也同樣地是以使橫軸的左側為0的方式與圖13反轉而顯示的。
另外，在圖13、圖14中層析圖CH是總離子層析圖，但例如在作業人員指定質量頻譜的特定的峰值P時，將其訊號強度的時間變化TC設為層析圖CH亦可。
圖13、圖14的處理能夠如下進行。 　　首先，電腦210的訊號強度時間變化計算部218讀出存儲部215的質量分析資料，計算層析圖CH(總離子層析圖)。在特定的峰值P的層析圖CH的情況下，計算峰值P的質荷下的訊號強度的時間變化TC。 　　接著，電腦210的顯示控制部219使顯示部220將質量頻譜MS和訊號強度的時間變化TC像前述那樣重疊顯示，並且將層析圖CH以時間軸與時間變化TC的時間軸一致的方式重疊顯示。 　　另外，顯示控制部219可以按照預設來決定使顯示部220顯示層析圖CH的位置，但峰值P或訊號強度的時間變化TC的圖(chart)有可能與層析圖CH正好重疊。因此，例如，在作業人員藉由指定(點擊等)以使層析圖CH移動到預定的位置時，顯示控制部219讀取該移動資訊，將層析圖CH顯示於不會與峰值P或訊號強度的時間變化TC重疊的位置亦可。
本發明不限於前述實施方式，勿需贅言，涵蓋包含於本發明的思想和範圍中的各種變形和均等物。 　　三維的頻譜資料不限於質量分析的資料。 　　參數也不限於質荷比，只要是與三維的頻譜資料對應的參數即可。
顯示訊號強度的時間變化TC的方法也不限於明暗，例如根據訊號強度來分配顏色，使用多種顏色(像顏色映射那樣)進行顯示亦可，根據訊號強度來分配亮度，藉由亮度變化進行顯示亦可。 　　並且，訊號強度與顏色的變化、明暗或亮度變化無需成比例，為了對較弱的訊號強度進行強調，也能夠進行對數轉換等非線性處理。
在質量分析時導入試樣的方法不限於在前述的加熱爐中加熱分解試樣以產生氣體成分的方法，例如為導入含有氣體成分的溶劑，一邊使溶劑揮發一邊使氣體成分產生的溶劑提取型的GC/MS或LC/MS等亦可。 　　離子化部50也不限於APCI型。
210‧‧‧電腦(頻譜資料處理裝置)
217‧‧‧二維頻譜計算部
218‧‧‧訊號強度時間變化計算部
219‧‧‧顯示控制部
220‧‧‧顯示部
MS‧‧‧質量頻譜(二維頻譜)
TC‧‧‧訊號強度的時間變化
[圖1]是表示包含本發明的實施方式的質量分析裝置在內的產生氣體分析裝置的結構的立體圖。 　　[圖2]是表示氣體產生部的結構的立體圖。 　　[圖3]是表示氣體產生部的結構的縱剖視圖。 　　[圖4]是表示氣體產生部的結構的橫剖視圖。 　　[圖5]是圖4的局部放大圖。 　　[圖6]是表示產生氣體分析裝置進行的氣體成分的分析動作的方塊圖。 　　[圖7]是表示二維頻譜計算部計算出的質量頻譜的一例的圖。 　　[圖8]是訊號強度時間變化計算部計算出的訊號強度的時間變化的示意圖。 　　[圖9]是將訊號強度的時間變化與圖7的質量頻譜重疊顯示的圖。 　　[圖10]是出現了兩個峰值F的通常的質量頻譜的示意圖。 　　[圖11]是將訊號強度的時間變化與圖10的質量頻譜重疊顯示的示意圖。 　　[圖12]是放大顯示了圖9的橫軸的圖。 　　[圖13]是將訊號強度的時間變化和層析圖與質量頻譜重疊顯示的圖。 　　[圖14]是將訊號強度的時間變化和層析圖與質量頻譜重疊顯示的另一圖。 　　[圖15]是將每個時間的質量頻譜沿著時間序列重疊顯示在同一畫面上的以往的圖。

Claims (6)

  1. 一種頻譜資料處理裝置，係根據具有時間、訊號強度以及預定的參數的三維頻譜資料而將特定的頻譜顯示於顯示部，其特徵為：具備： 　　二維頻譜計算部，其根據前述頻譜資料，將每個前述時間的前述訊號強度合計，計算前述訊號強度和前述參數的二維頻譜； 　　訊號強度時間變化計算部，其根據前述頻譜資料，按照每個前述參數來計算前述訊號強度的時間變化；以及 　　顯示控制部，其使前述顯示部顯示前述二維頻譜，並且，以前述二維頻譜與前述參數一致且前述時間沿著前述二維頻譜的前述訊號強度的軸的形態，藉由多色、明暗或亮度變化來重疊顯示前述訊號強度的時間變化。
  2. 根據請求項1所述的頻譜資料處理裝置，其中， 　　前述頻譜資料是質量分析的資料，前述參數是質荷比，前述二維頻譜是質量頻譜。
  3. 根據請求項2所述的頻譜資料處理裝置，其中， 　　前述頻譜資料是有機化合物的質量分析的資料。
  4. 根據請求項3中的任意一項所述的頻譜資料處理裝置，其中， 　　前述頻譜資料包含在前述有機化合物的離子化時生成的碎體離子。
  5. 根據請求項1至4中的任意一項所述的頻譜資料處理裝置，其中， 　　前述顯示控制部使前述顯示部將前述二維頻譜和前述訊號強度重疊顯示，並且將表示時間和訊號強度之間的關係的層析圖重疊顯示。
  6. 一種頻譜資料處理方法，係根據具有時間、訊號強度以及預定的參數的三維頻譜資料而將特定的頻譜顯示於顯示部，其特徵在於：具有： 　　二維頻譜計算步驟，根據前述頻譜資料，將每個前述時間的前述訊號強度合計，計算前述訊號強度和前述參數的二維頻譜； 　　訊號強度時間變化計算步驟，根據前述頻譜資料，按照每個前述參數來計算前述訊號強度的時間變化；以及 　　顯示控制步驟，使前述顯示部顯示前述二維頻譜，並且，以前述二維頻譜與前述參數一致且前述時間沿著前述二維頻譜的前述訊號強度的軸的形態，藉由多色、明暗或亮度變化來重疊顯示前述訊號強度的時間變化。
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