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TW201842374A - 雷射光檢測器 - Google Patents

雷射光檢測器 Download PDF

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TW201842374A
TW201842374A TW107110743A TW107110743A TW201842374A TW 201842374 A TW201842374 A TW 201842374A TW 107110743 A TW107110743 A TW 107110743A TW 107110743 A TW107110743 A TW 107110743A TW 201842374 A TW201842374 A TW 201842374A
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laser light
light
laser
emitting sheet
acid
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TW107110743A
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Inventor
太田祐輔
伊豆康之
中島大輔
Original Assignee
日商積水化學工業股份有限公司
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Abstract

本發明之目的在於提供一種於照射雷射光時可簡便地檢測照射之雷射光檢測器。
本發明係一種雷射光檢測器，其係於照射雷射光時可檢測照射者，包含有熱塑性樹脂及發光片，該發光片含有會受到雷射光激發而發出可見光之發光材料。

Description

雷射光檢測器
本發明係關於一種於照射雷射光時可簡便地檢測照射之雷射光檢測器。
於演講或教育之場所，作為用以指示印刷或書寫表示之圖表或利用投影機顯示之影像等之一點的器具，使用雷射指標(laser pointer)。近年來，伴隨半導體雷射之發達，可廉價地供給極高輸出之雷射指標，而可用於廣泛之領域(例如，專利文獻1)。
然而，伴隨雷射指標普及，大量發生使用雷射指標對汽車或機車、飛機等載具之駕駛人照射雷射光之事件。若雷射光進入眼睛，則因駕駛失誤而誘發事故，不僅極其危險，亦有導致失明之虞。
雷射指標雖然以紅色或綠色等可見光者為主，但亦市售有人眼看不見之紫外線或紅外線之雷射指標。於照射此種不可見光之雷射光之情形時，會在未察覺被照射的情況下產生事故或失明。又，即便為可見光之雷射光，只要光線不直接進入眼睛，則無法注意到被照射。
於專利文獻2中，揭示有對雷射導引彈可實現有效之防禦方法之雷射照射檢測裝置，但為軍事目的之極其昂貴且巨大之裝置，終究無法應用於通常之用途。
專利文獻1：日本特開2015-079141號公報
專利文獻2：日本特開平5-226728號公報
本發明之目的在於鑒於上述現狀而提供一種於照射雷射光時可簡便地檢測照射的雷射光檢測器。
本發明係一種雷射光檢測器，其係於照射雷射光時可檢測照射者，包含有熱塑性樹脂及發光片，該發光片含有會受到雷射光激發而發出可見光之發光材料。
以下，詳細敍述本發明。
本發明者等人努力研究，結果發現：若對熱塑性樹脂、及含有會受到雷射光激發而發出可見光之發光材料之發光片照射雷射光，則該發光材料發出可見光，藉此，即便雷射光為紫外線或紅外線之不可見光之雷射光，亦可容易地檢測到，從而完成本發明。
本發明之雷射光檢測器包含熱塑性樹脂與含有發光材料之發光片。
上述熱塑性樹脂並無特別限定，例如可列舉：聚乙烯縮醛樹脂、乙烯-乙酸乙烯酯共聚物樹脂、乙烯-丙烯酸共聚物樹脂、聚胺酯(polyurethane)樹脂、含有硫元素之聚胺酯樹脂、聚乙烯醇樹脂、氯乙烯樹脂、聚對酞酸乙二酯樹脂等。其中，於與玻璃等透明板進行積層時，就可與塑化劑併用而發揮對透明板優異之接著性之方面而言，較佳為聚乙烯縮醛樹脂。
上述聚乙烯縮醛樹脂只要為將聚乙烯醇利用醛進行縮醛化所獲 得之聚乙烯縮醛樹脂，則並無特別限定，較佳為聚乙烯丁醛。又，視需要亦可併用兩種以上之聚乙烯縮醛樹脂。
上述聚乙烯縮醛樹脂之縮醛化度之較佳之下限為40莫耳%，較佳之上限為85莫耳%，更佳之下限為60莫耳%，更佳之上限為75莫耳%。
關於上述聚乙烯縮醛樹脂，羥基量之較佳之下限為15莫耳%，較佳之上限為35莫耳%。若羥基量為15莫耳%以上，則發光片之成形變得容易。若羥基量為35莫耳%以下，則所獲得之發光片之操作變得容易。
再者，上述縮醛化度及羥基量例如可依據JIS K6728「聚乙烯丁醛試驗方法」進行測定。
上述聚乙烯縮醛樹脂可藉由將聚乙烯醇利用醛進行縮醛化而製備。上述聚乙烯醇通常可藉由使聚乙酸乙烯酯皂化而獲得，通常使用皂化度70~99.8莫耳%之聚乙烯醇。
上述聚乙烯醇之聚合度之較佳之下限為500，較佳之上限為4000。若上述聚乙烯醇之聚合度為500以上，則於將所獲得之發光片製成與透明板之積層體時，耐貫通性升高。若上述聚乙烯醇之聚合度為4000以下，則發光片之成形變得容易。上述聚乙烯醇之聚合度之更佳之下限為1000，更佳之上限為3600。
上述醛並無特別限定，通常可較佳地使用碳數為1~10之醛。上述碳數為1~10之醛並無特別限定，例如可列舉：正丁醛、異丁醛、正戊醛、2-乙基丁醛、正己醛、正辛醛、正壬醛、正癸醛、甲醛、乙醛、苯甲醛等。其中，較佳為正丁醛、正己醛、正戊醛，更佳為正丁醛。該等醛可單獨使用，亦可併用兩種以上。
上述發光材料係會受到雷射光激發而發出可見光之發光材料。藉由使用含有此種發光材料之發光片，而於照射雷射光時，該發光材料可藉由發出可見光，例如即便雷射光為紫外線或紅外線之非可見光之雷射光，亦可容 易地檢測到。進一步，由於雷射光之能量之一部分於發光材料之發光時被消耗，故而亦可期待雷射光之能量衰減，可減輕對眼睛造成之損傷。
作為上述發光材料，可根據進行檢測之雷射光之種類而使用：藉由波長380~750nm之可見雷射光進行發光之發光材料、藉由波長380nm以下之紫外線雷射光進行發光之發光材料、藉由波長750nm以上之紅外線雷射光進行發光之發光材料。該等發光材料可單獨使用，亦可併用兩種以上。藉由併用兩種以上之發光材料，可實現廣泛之波長區域之雷射光之檢測。
作為上述發光材料，例如可列舉：具有包含鹵素原子之多牙配位基之鑭系元素錯合物。
鑭系元素錯合物中，具有包含鹵素原子之多牙配位基之鑭系元素錯合物係藉由照射雷射光而以更高之發光強度進行發光。作為上述具有包含鹵素原子之多牙配位基之鑭系元素錯合物，可列舉：具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物、具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物、具有包含鹵素原子之四牙配位基之鑭系元素錯合物、具有包含鹵素原子之五牙配位基之鑭系元素錯合物、具有包含鹵素原子之六牙配位基之鑭系元素錯合物等。
其中，具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物係藉由照射300~410nm之波長之光，而以極高之發光強度發出580~780nm之波長之光。由於該發光為極高強度，故而含有其之發光片可極其高感度地檢測雷射光之照射。並且，上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物之耐熱性亦優異。於照射波長750nm以上之紅外線雷射光之情形時，有藉由發熱為高溫而發光材料變差之虞，但藉由使用上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物，可不劣化而確實地檢測雷射光。
於本說明書中，所謂鑭系元素，包含：鑭、鈰、鐠、釹、鉕、釤、銪、釓、鋱、鏑、鈥、鉺、銩、鐿或鎦。就可獲得更高之發光強度之方面而言，鑭系元素較佳為釹、銪或鋱，更佳為銪或鋱，進一步較佳為銪。
上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物例如可列舉：三(三氟乙醯丙酮)啡啉銪、三(三氟乙醯丙酮)二苯基啡啉銪、三(六氟乙醯丙酮)二苯基啡啉銪、三(六氟乙醯丙酮)雙(三苯基膦)銪、三(三氟乙醯丙酮)2,2'-聯吡啶銪、三(六氟乙醯丙酮)2,2'-聯吡啶銪等。
上述具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物例如可列舉：三聯吡啶三氟乙醯丙酮銪、三聯吡啶六氟乙醯丙酮銪等。
作為上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物之鹵素原子，可使用：氟原子、氯原子、溴原子、碘原子。其中，就可使配位基之結構穩定化而言，較佳為氟原子。
上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物之中，尤其就初期發光性優異之方面而言，較佳為含有具有包含鹵素原子之乙醯丙酮骨架之二牙配位基之鑭系元素錯合物。
上述含有具有包含鹵素原子之乙醯丙酮骨架之二牙配位基之鑭系元素錯合物，例如可列舉：Eu(TFA)3phen、Eu(TFA)3dpphen、Eu(HFA)3phen、[Eu(FOD)3]bpy、[Eu(TFA)3]tmphen、[Eu(FOD)3]phen等。例示該等含有具有包含鹵素原子之乙醯丙酮骨架之二牙配位基之鑭系元素錯合物之結構。
上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物較佳為粒子狀。藉由為粒子狀，而使上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物更容易地微分散於發光片中。
於上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物為粒子狀之情形時，鑭系元素錯合物之平均粒徑之較佳之下限為0.01μm，較佳之上限為10μm，更佳之下限為0.03μm，更佳之上限為1μm。
作為上述發光材料，亦可使用具有對酞酸酯結構之發光材料。上述具有對酞酸酯結構之發光材料係藉由照射光線而發光。
上述具有對酞酸酯結構之發光材料例如可列舉：具有下述通式(1)所表示之結構之化合物或具有下述通式(2)所表示之結構之化合物。
該等可單獨使用，亦可併用兩種以上。
上述通式(1)中，R1表示有機基，x為1、2、3或4。就上述發光片之透明性進一步提高之方面而言，x較佳為1或2，更佳為於苯環之2位或5位具有羥基，進一步較佳為於苯環之2位及5位具有羥基。上述R1之有機基較佳為烴基，更佳為碳數為1~10之烴基，進一步較佳為碳數為1~5之烴基，尤佳為碳數為1~3之烴基。
若上述烴基之碳數為10以下，則可將上述具有對酞酸酯結構之發光材料容易地分散於發光片中。
上述烴基較佳為烷基
作為具有上述通式(1)所表示之結構之化合物，例如可列舉： 2,5-二羥基對酞酸二乙酯、2,5-二羥基對酞酸二甲酯等。
其中，就可顯示對比度更高之圖像之方面而言，具有上述通式(1)所表示之結構之化合物較佳為2,5-二羥基對酞酸二乙酯(Aldrich公司製造之「2,5-二羥基對酞酸二乙酯」)。
上述通式(2)中，R2表示有機基，R3及R4表示氫原子或有機基，y為1、2、3或4。
上述R2之有機基較佳為烴基，更佳為碳數為1~10之烴基，進一步較佳為碳數為1~5之烴基，尤佳為碳數為1~3之烴基。
若上述烴基之碳數為上述上限以下，則可將上述具有對酞酸酯結構之發光材料容易地分散於發光片中。上述烴基較佳為烷基。
上述通式(2)中，NR3R4為胺基。
R3及R4較佳為氫原子。
上述具有通式(2)所表示之結構之化合物之苯環之氫原子中，可一個氫原子為上述胺基，可兩個氫原子為上述胺基，可三個氫原子為上述胺基，亦可四個氫原子為上述胺基。
作為上述具有通式(2)所表示之結構之化合物，就可顯示對比度更高之圖像之方面而言，較佳為2,5-二胺基對酞酸二乙酯(Aldrich公司製造)。
上述發光片中之上述發光材料之含量可根據發光材料之種類而適宜調整，相對於上述熱塑性樹脂100重量份之較佳之下限為0.001重量份，較佳之上限為10重量份。若上述發光材料之含量為0.001重量份以上，則於照射雷射光時，可一面降低其照射強度一面確實地檢測照射。若上述發光材料之含量為10重量份以下，則發光片之透明性更進一步提高。上述發光材料之含量之更佳之下限為0.01重量份，更佳之上限為8重量份，進一步較佳之下限為0.1重量 份，進一步較佳之上限為5重量份。
上述發光片亦可進一步含有塑化劑。
上述塑化劑並無特別限定，例如可列舉：一元性有機酸酯、多元性有機酸酯等有機酯塑化劑、有機磷酸塑化劑、有機亞磷酸塑化劑等磷酸塑化劑等。上述塑化劑較佳為液狀塑化劑。
上述一元性有機酸酯並無特別限定，例如可列舉：藉由二醇與一元性有機酸之反應所獲得之二醇酯等。作為上述二醇，例如可列舉：三乙二醇、四乙二醇、三丙二醇等。作為上述一元性有機酸，例如可列舉：丁酸、異丁酸、己酸、2-乙基丁酸、庚酸、正辛酸、2-乙基己酸、壬酸(正壬酸)、癸酸等。其中，較佳為：三乙二醇二己酸酯、三乙二醇二-2-乙基丁酸酯、三乙二醇二-正辛酸酯、三乙二醇二-2-乙基己酸酯等。
上述多元性有機酸酯並無特別限定，例如可列舉：己二酸、癸二酸、壬二酸等多元性有機酸、與碳數4~8之具有直鏈或支鏈結構之醇之酯化合物。其中，較佳為：癸二酸二丁酯、壬二酸二辛酯、二丁基卡必醇己二酸酯等。
上述有機酯塑化劑並無特別限定，可列舉：三乙二醇二-2-乙基丁酸酯、三乙二醇二-2-乙基己酸酯、三乙二醇二辛酸酯、三乙二醇二-正辛酸酯、三乙二醇二-正庚酸酯、四乙二醇二-正庚酸酯、四乙二醇二-2-乙基己酸酯、癸二酸二丁酯、壬二酸二辛酯、二丁基卡必醇己二酸酯、乙二醇二-2-乙基丁酸酯、1,3-丙二醇二-2-乙基丁酸酯、1,4-丁二醇二-2-乙基丁酸酯、二乙二醇二-2-乙基丁酸酯、二乙二醇二-2-乙基己酸酯、二丙二醇二-2-乙基丁酸酯、三乙二醇二-2-乙基戊酸酯、四乙二醇二-2-乙基丁酸酯、二乙二醇二癸酸酯、己二酸二己酯、己二酸二辛酯、己二酸己基環己酯、己二酸二異壬酯、己二酸庚基壬酯、癸二酸二丁酯、油改質癸二酸醇 酸、磷酸酯與己二酸酯之混合物、己二酸酯、由碳數4~9之烷基醇及碳數4~9之環狀醇所製作之混合型己二酸酯、己二酸己酯等碳數6~8之己二酸酯等。
上述有機磷酸塑化劑並無特別限定，例如可列舉：磷酸三丁氧基乙酯、磷酸異癸基苯酯、磷酸三異丙酯等。
上述塑化劑中，較佳為：選自由己二酸二己酯(DHA)、三乙二醇二-2-乙基己酸酯(3GO)、四乙二醇二-2-乙基己酸酯(4GO)、三乙二醇二-2-乙基丁酸酯(3GH)、四乙二醇二-2-乙基丁酸酯(4GH)、四乙二醇二-正庚酸酯(4G7)及三乙二醇二-正庚酸酯(3G7)所組成之群中之至少一種。
進一步，作為上述塑化劑，就不易引起水解之方面而言，較佳為含有：三乙二醇二-2-乙基己酸酯(3GO)、三乙二醇二-2-乙基丁酸酯(3GH)、四乙二醇二-2-乙基己酸酯(4GO)、二己基己二酸酯(DHA)。更佳為含有：四乙二醇二-2-乙基己酸酯(4GO)、三乙二醇二-2-乙基己酸酯(3GO)。進一步較佳為含有：三乙二醇二-2-乙基己酸酯。
上述發光片中之上述塑化劑之含量並無特別限定，相對於上述熱塑性樹脂100重量份之較佳之下限為30重量份，較佳之上限為100重量份。若上述塑化劑之含量為30重量份以上，則由於熔融黏度降低，故而發光片之成形變得容易。若上述塑化劑之含量為100重量份以下，則發光片之透明性提高。上述塑化劑之含量之更佳之下限為35重量份，更佳之上限為80重量份，進一步較佳之下限為45重量份，進一步較佳之上限為70重量份，尤佳之下限為50重量份，尤佳之上限為63重量份。
於本發明之雷射光檢測器具有下述之夾層玻璃結構之情形時，上述發光片較佳為含有接著力調整劑。
作為上述接著力調整劑，例如可較佳地使用：鹼金屬鹽或鹼土金屬鹽。作為上述接著力調整劑，例如可列舉：鉀、鈉、鎂等之鹽。
作為構成上述鹽之酸，例如可列舉：辛酸、己酸、2-乙基丁酸、丁酸、乙酸、甲酸等羧酸之有機酸、或鹽酸、硝酸等無機酸。
再者，於上述發光片中，除上述接著力調整劑以外，亦可包含：源自熱塑性樹脂製造時所使用之中和劑等原料中之鉀、鈉、鎂。於該等金屬之含量較多之情形時，有發光材料之發光性降低之情況。此種發光性之降低係於發光材料為上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物之情形時尤其明顯。
因此，上述發光片中所含之鉀、鈉及鎂之合計之含量較佳為50ppm以下。藉由將鉀、鈉及鎂之合計之含量設為50ppm以下，可防止發光材料之發光性降低。
上述發光片較佳為進一步含有分散劑。藉由含有分散劑，可抑制上述發光材料之凝聚。
上述分散劑例如可使用：直鏈烷基苯磺酸鹽等具有磺酸結構之化合物、或雙酯化合物、蓖麻油酸烷基酯、鄰苯二甲酸酯、己二酸酯、癸二酸酯、磷酸酯等具有酯結構之化合物、或聚氧乙二醇、聚氧丙二醇或烷基苯基-聚氧乙烯-醚等具有醚結構之化合物、或聚羧酸等具有羧酸結構之化合物、或月桂基胺、二甲基月桂基胺、油基丙烯二胺、聚氧乙烯之二級胺、聚氧乙烯之三級胺、聚氧乙烯之二胺等具有胺結構之化合物、或聚伸烷基多胺環氧烷(polyalkylene polyamine alkylene oxide)等具有多胺結構之化合物、或油酸二乙醇醯胺、烷醇脂肪醯胺等具有醯胺結構之化合物、或聚乙烯吡咯啶酮、聚酯酸醯胺胺鹽等具有高分子量型醯胺結構之化合物等分散劑。又，亦可使用：聚氧乙烯烷基醚磷酸(鹽)或高分子聚羧酸、縮合蓖麻油酸酯等高分子量分散劑。再者，所謂高 分子量分散劑，定義為其分子量為1萬以上之分散劑。
於上述發光材料為上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物之情形時，相對於上述發光片中之發光材料100重量份之上述分散劑之含量之較佳之下限為1重量份，較佳之上限為50重量份。若上述分散劑之含量為該範圍內，則可將上述具有包含鹵素原子之二牙配位基之鑭系元素錯合物或具有包含鹵素原子之三牙配位基之鑭系元素錯合物均勻地分散於發光片中。上述分散劑之含量之更佳之下限為3重量份，更佳之上限為30重量份，進一步較佳之下限為5重量份，進一步較佳之上限為25重量份。
上述發光片視需要亦可含有：紫外線吸收劑、抗氧化劑、光穩定劑、抗靜電劑、藍色顏料、藍色染料、綠色顏料、綠色染料等添加劑。
上述發光片較佳為可見光透過率為70%以上。若可見光透過率為70%以上，則可用於載具用窗玻璃等各種用途。上述可見光透過率更佳為80%以上，進一步較佳為90%以上。
關於上述發光片，照射雷射光時之發光亮度之較佳之下限為1cd/m2，較佳之上限為15000cd/m2。若上述發光亮度為該範圍內，則於照射雷射光時，可更確實地檢測照射。
本發明之雷射光檢測器可藉由包含上述發光片，而於照射雷射光時，簡便且確實地檢測照射。
本發明之雷射光檢測器之態樣並無特別限定，較佳為具有透明板與發光片之積層體結構。藉由製成上述積層體結構，而操作性提高，可實現於各種用途之應用。其中，較佳為具有一對透明板之間積層有上述發光片之結構(夾層玻璃結構)。
上述透明板可使用通常所使用之透明板玻璃。例如可列舉：浮 法平板玻璃、研磨板玻璃、模板玻璃、鋼絲網玻璃、線板玻璃、著色之板玻璃、熱線吸收玻璃、熱線反射玻璃、綠色玻璃等無機玻璃。又，亦可使用於玻璃之表面形成有紫外線遮蔽塗層之紫外線遮蔽玻璃，但較佳為用作與照射特定波長之光線之側相反之玻璃板。進一步，作為上述透明板，亦可使用：聚對酞酸乙二酯、聚碳酸酯、聚丙烯酸酯等有機塑膠板。
作為上述透明板，亦可使用兩種以上之透明板。又，作為上述透明板，亦可使用兩種以上之厚度不同之透明板。
藉由將本發明之雷射光檢測器製成積層體結構或夾層玻璃結構，例如藉由製成汽車或機車、飛機等之載具用窗玻璃，可於對駕駛員照射雷射光時，一面降低其照射強度，一面檢測照射。又，亦可用於護目鏡或眼鏡之透鏡。
本發明之雷射光檢測器進一步較佳為包含有檢測已照射過雷射光之檢測部。藉由包含此種檢測部，可更簡便且確實地檢測雷射光之照射。
作為上述檢測部，並無特別限定，例如可舉出如下裝置等：於對上述發光片之整個面之圖像進行攝影，並於所獲得之圖像上於發光片確認到發光之情形時，發出訊號。
此處，較佳為製成「僅檢測自雷射光檢測器之一側照射之雷射光，自另一側照射之雷射光不檢測」之裝置。藉由製成此種裝置，例如於將本發明之雷射光檢測器製成夾層玻璃結構、用作汽車或機車、飛機等之載具用窗玻璃之情形時，可檢測自外部照射之雷射光，另一方面可防止檢測到為了抬頭顯示器等之顯示而自內側照射之雷射光。
本發明之雷射光檢測器較佳為進一步包含於上述檢測部檢測到雷射時進行報告之報告部。藉由包含此種報告部，可更簡便且確實地識別所檢測之雷射光之照射。
上述報告部係於上述檢測部檢測到雷射時，接收其訊號並進行報告者。作為上述報告之方法，並無特別限定，可列舉：聲音、振動、圖像、影像等。
上述報告部較佳為於檢測部未檢測到雷射光時停止報告。藉此，於雷射光之照射持續時可檢測之，於照射停止時可檢測之。
根據本發明，可提供一種於照射雷射光時可簡便地檢測照射之雷射光檢測器。
以下，列舉實施例進一步詳細地說明本發明之態樣，但本發明並不僅限定於該等實施例。
(實施例1)
(1)Eu(TFA)3phen之製備
將乙酸銪(Eu(CH3COO)3)12.5mmol溶解於50mL之蒸餾水中，添加三氟乙醯丙酮(TFA，CH3COCH2COCF3)33.6mmol，於室溫下攪拌3小時。過濾經沈澱之固體，並水洗後，利用甲醇與蒸餾水進行再結晶而獲得Eu(TFA)3(H2O)2。將所獲得之錯合物Eu(TFA)3(H2O)2 5.77g與1,10-啡啉(phen)2.5g溶解於100mL之甲醇中，進行12小時加熱回流。12小時後，將甲醇藉由減壓蒸餾去除而去除，獲得白色產物。將該粉末利用甲苯進行清洗，將未反應之原料藉由吸引過濾而去除後，將甲苯進行減壓蒸餾去除，而獲得粉 體。藉由利用甲苯、己烷之混合溶劑進行再結晶，而獲得Eu(TFA)3phen。
(2)發光片之製備
於作為塑化劑之三乙二醇二-2-乙基己酸酯(3GO)40重量份中，添加作為發光材料之Eu(TFA)3phen0.2重量份，以最終濃度成為0.036phr之方式添加作為接著力調整劑之乙醯丙酮鎂，而製備發光性之塑化劑溶液。將所獲得之塑化劑溶液之總量、與聚乙烯丁醛(PVB，聚合度1700)100重量份利用混合輥充分地混練而製備樹脂組成物。將所獲得之樹脂組成物使用擠壓機進行擠出，獲得厚度760μm之發光片。
(3)雷射光檢測器之製造
將所獲得之發光片積層於縱30cm×橫30cm之一對透明玻璃(厚度2.5mm)之間而獲得積層體。將所獲得之積層體利用真空貼合機一面於90℃保持30分，一面進行真空加壓而壓接。壓接後，於140℃、14MPa之條件下，使用高壓釜進行20分鐘壓接，而獲得夾層玻璃結構之雷射光檢測器。
(實施例2)
將乙酸鋱(Tb(CH3COO)3)12.5mmol溶解於50mL之蒸餾水中，添加三氟乙醯丙酮(TFA，CH3COCH2COCF3)33.6mmol，於室溫下攪拌3小時。過濾經沈澱之固體並水洗後，利用甲醇與蒸餾水進行再結晶而獲得Tb(TFA)3(H2O)2。將所獲得之錯合物Tb(TFA)3(H2O)2 5.77g與1,10-啡啉(phen)2.5g溶解於100mL之甲醇中，進行12小時加熱回流。12小時後，將甲醇藉由減壓蒸餾去除而去除，而獲得白色產物。將該粉末利用甲苯進行清洗，將未反應之原料藉由吸引過濾而去除後，將甲苯進行減壓蒸餾去除，而獲得粉體。
藉由利用甲苯、己烷之混合溶劑而進行再結晶，而獲得Tb(TFA)3phen。
使用Tb(TFA)3phen而代替Eu(TFA)3phen，除此以外，以與實施例1相 同之方式而製造發光片、雷射光檢測器。
(實施例3)
使用2,5-二羥基對酞酸二乙酯(Aldrich公司製造之「2,5-二羥基對酞酸二乙酯」)而代替Eu(TFA)3phen，除此以外，以與實施例1相同之方式，製造發光片、雷射光檢測器。
(比較例1)
不使用發光材料，除此以外，以與實施例1相同之方式，製造發光片、雷射光檢測器。
(評價)
針對實施例及比較例中所獲得之雷射光檢測器，利用以下之方法評價雷射檢測性。
將結果示於表1。
(雷射檢測性：直接觀察)
按照雷射光源、雷射光檢測器及觀察者之順序，以各者之水平方向間隔成為20m、1m之方式設置於一直線上。此處，使雷射光源之高度、雷射光檢測器之高度與觀察者之視線之高度重合。
於該狀態下，自雷射光源以不直接進入觀察者之眼睛之方式照射雷射光(以額頭部分作為目標)。此時，將觀察者可檢測到藉由雷射光檢測器上之發光而照射到雷射光之情形評價為「○」，將無法檢測之情形評價為「×」。
再者，作為雷射光源，使用日亞化學工業公司製造之「NDV4B16」(波長405nm，輸出300mW)。又，由於即便於藉由下述之間接觀察、聲音之報告之評價中亦對相同之位置照射雷射光，故而記錄雷射光之位置。
(雷射檢測性：間接觀察)
雷射光檢測器及觀察者之間隔為1m且對雷射光檢測器之玻璃之中央部於 在水平方向上成為45°之角度之位置上設置觀察者，除此以外，以與上述直接觀察同樣之方式，設置雷射光源、雷射光檢測器及觀察者。此處，使雷射光源之高度、雷射光檢測器之高度與觀察者之視線之高度重合。於該狀態下，自雷射光源對與先前進行之直接觀察相同之位置照射雷射光。此時，將觀察者可檢測到自雷射光檢測器上之發光照射到雷射光之情形評價為「○」，將未檢測到之情形評價為「×」。
實施例1~3中所獲得之雷射光檢測器即便於觀察者不位於雷射光之一直線上之情形時，亦可檢測到雷射光。
(雷射檢測性：藉由聲音之雷射光照射之報告)
按照雷射光源、雷射光檢測器及檢測部之順序，於各者之水平方向間隔為20m、1m、且對雷射光檢測器之玻璃之中央部於在水平方向上成為45°之角度之位置上設置檢測部。此處，檢測部製成如下之裝置：對雷射光檢測器(發光片)之整個面之圖像進行攝相，於在所獲得之圖像上於雷射光檢測器(發光片)確認到發光之情形時，於報告部發出訊號。進一步，設置於上述檢測部檢測到雷射時，接收其訊號並進行藉由聲音之報告之報告部。
於該狀態下，自雷射光源於與先前進行直接觀察相同之位置照射雷射光。此時，將藉由報告部之聲音可檢測到雷射光照射之情形評價為「○」，將未檢測到之情形評價為「×」。
實施例1~3所獲得之雷射光檢測器可藉由報告部發出聲音而檢測雷射光。
[產業上之可利用性]
根據本發明，可提供一種於照射雷射光時可簡便地檢測照射之雷射光檢測器。

Claims (9)

  1. 一種雷射光檢測器，其係於照射雷射光時可檢測照射者，其特徵在於包含有熱塑性樹脂及發光片，該發光片含有會受到雷射光激發而發出可見光之發光材料。
  2. 如請求項1所述之雷射光檢測器，其中，發光材料係藉由波長380~750nm之可見雷射光而發光者。
  3. 如請求項1所述之雷射光檢測器，其中，發光材料係藉由波長380nm以下之紫外線雷射光而發光者。
  4. 如請求項1所述之雷射光檢測器，其中，發光材料係藉由波長750nm以上之紅外線雷射光而發光者。
  5. 如請求項1、2、3或4所述之雷射光檢測器，其具有透明板與發光片之積層體結構。
  6. 如請求項1、2、3或4所述之雷射光檢測器，其具有於一對透明板之間積層有發光片的結構。
  7. 如請求項1、2、3、4、5或6所述之雷射光檢測器，其進一步包含有檢測已照射過雷射光之檢測部。
  8. 如請求項7所述之雷射光檢測器，其進一步包含於檢測部檢測到雷射時進行報告之報告部。
  9. 如請求項8所述之雷射光檢測器，其中，報告部於檢測部未檢測到雷射光時停止報告。
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