TW201814544A - 可應用於具有通用序列匯流排c型插座的電子裝置之治具與測試系統以及藉助於治具對電子裝置進行測試之方法 - Google Patents

Abstract

本發明提供一種治具與測試系統以及藉助於該治具進行測試之方法。該治具包含可適配於通用序列匯流排C型插座之插頭以及一切換電路與一控制電路。該插頭可用來耦接待測之電子裝置。該切換電路可用來進行切換運作，以輪流致能該治具中之第一組通訊路徑與第二組通訊路徑。該第一組通訊路徑係耦接至該插頭之第一組通訊端子，而該第二組通訊路徑係耦接至插頭之第二組通訊端子。該控制電路可用來控制該些切換運作，以容許一處理電路透過第一組通訊路徑對該電子裝置進行一第一組測試運作、且透過第二組通訊路徑對該電子裝置進行一第二組測試運作。

Description

可應用於具有通用序列匯流排C型插座的電子裝置之治具與測試系統以及藉助於治具對電子裝置進行測試之方法

本發明係有關於電子裝置之測試，尤指一種可應用於具有通用序列匯流排C型插座（Universal Serial Bus (USB) Type-C receptacle，可簡稱為「USB C型插座」）的電子裝置之治具（test fixture）與測試系統以及藉助於該治具對電子裝置進行測試之方法。

於具有一USB C型插座的電子裝置之出廠測試的過程中，操作人員需將電纜線的插頭（plug）插入該USB C型插座，以針對該USB C型插座之某些端子進行測試。於完成第一次測試之後，操作人員需拔出該插頭，然後將該插頭翻面（例如從該插頭的某一側向上之狀態改成這一側向下之狀態）、且再次將該插頭插入該USB C型插座，以針對該USB C型插座之某些端子進行測試。於完成第二次測試之後，操作人員需拔出該插頭。另外，針對下一個被測裝置（device under test, DUT）諸如同型號之另一電子裝置，操作人員可重複該些相同的動作。基於相關技術之測試架構，會產生某些問題。例如：操作人員需將該插頭翻面，這可能造成操作人員忘記目前測試到哪一側、或造成另一側沒有被測試到。又例如：長時間地多次插入與拔出該插頭可能造成該插頭接觸不良，以致容易發生誤判。因此，需要一種新穎的架構以及相關方法，來減少錯誤（例如漏測或誤判）發生之機率並且提昇測試效率。

本發明之目的之一在於提供一種治具（test fixture）與測試系統以及藉助於該治具對一電子裝置進行測試之方法，以解決上述問題。

本發明之另一目的在於提供一種治具與測試系統以及藉助於該治具對一電子裝置進行測試之方法，以減少操作人員於整個測試過程中的繁瑣動作、減少連接器損壞的機率、且縮短每一被測裝置（device under test, DUT）的測試時間並且提昇測試效率。

本發明之至少一實施例提供一種治具，其中該治具可應用於具有一通用序列匯流排C型插座（Universal Serial Bus (USB) Type-C receptacle，可簡稱為「USB C型插座」）之一電子裝置。例如：該治具可包含可適配（adaptable）於該USB C型插座之一插頭（plug），且另包含一切換電路與一控制電路。該插頭可用來耦接該電子裝置，其中該插頭具有複數個端子，分別位於該插頭之一第一側與一第二側。另外，該切換電路可用來進行切換運作，以輪流致能（enable）該治具中之一第一組通訊路徑與一第二組通訊路徑，其中該第一組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第一組通訊端子，而該第二組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第二組通訊端子。此外，該控制電路可用來控制該切換電路之該些切換運作，以容許一測試系統中之一處理電路透過該第一組通訊路徑對該電子裝置進行一第一組測試運作、且透過該第二組通訊路徑對該電子裝置進行一第二組測試運作，其中該測試系統包含該治具。依據某些實施例，該測試系統可包含一部個人電腦（personal computer, PC），而該處理電路可包含該個人電腦之至少一處理器。另外，該治具可另包含：一第一通用序列匯流排連接器與一第二通用序列匯流排連接器，分別用來將該治具耦接至該個人電腦；其中該第一組通訊路徑係耦接於該第一組通訊端子以及該第一通用序列匯流排連接器之端子之間，且該第二組通訊路徑係耦接於該第二組通訊端子以及該第二通用序列匯流排連接器之端子之間。

本發明於提供上述治具之同時，亦對應地提供一種藉助於該治具對該電子裝置進行測試之方法，其中該方法可應用於該處理電路。例如：該控制電路可透過至少一介面耦接至該個人電腦，以容許該處理電路利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作。該方法可包含下列步驟：利用該控制電路控制該些切換運作中之至少一切換運作，以致能該治具中之該第一組通訊路徑；透過該第一組通訊路徑對該電子裝置進行該第一組測試運作；利用該控制電路控制該些切換運作中之至少一切換運作，以致能該治具中之該第二組通訊路徑；以及透過該第二組通訊路徑對該電子裝置進行該第二組測試運作。

本發明於提供上述治具之同時，亦對應地提供一種測試系統，其中該測試系統可應用於具有一USB C型插座的一電子裝置。例如：該測試系統可包含一處理電路與一治具，其中該處理電路可用來控制該測試系統之運作，而該治具包含可適配於該USB C型插座之一插頭，且另包含一切換電路與一控制電路。該插頭可用來耦接該電子裝置，其中該插頭具有複數個端子，分別位於該插頭之一第一側與一第二側。另外，該切換電路可用來進行切換運作，以輪流致能該治具中之一第一組通訊路徑與一第二組通訊路徑，其中該第一組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第一組通訊端子，而該第二組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第二組通訊端子。此外，該控制電路可用來控制該切換電路之該些切換運作，以容許該處理電路透過該第一組通訊路徑對該電子裝置進行一第一組測試運作、且透過該第二組通訊路徑對該電子裝置進行一第二組測試運作。

本發明有多個好處；例如：相較於相關技術，本發明之治具、測試系統與方法可減少操作人員於整個測試過程中的繁瑣動作、減少插頭損壞的機率、且縮短每一被測裝置的測試時間並且提昇測試效率。

本發明提供一種治具（test fixture）與測試系統以及藉助於該治具對一電子裝置進行測試之方法，其中該電子裝置具有一通用序列匯流排C型插座（Universal Serial Bus (USB) Type-C receptacle，可簡稱為「USB C型插座」），且可依據通用序列匯流排（簡稱為「USB」）規格來進行通訊運作。該治具與該測試系統可應用於該電子裝置，以減少操作人員於整個測試過程中的動作、減少插頭損壞的機率、且縮短每一被測裝置（device under test, DUT）的測試時間並且提昇測試效率。

第1圖為依據本發明一實施例之一種測試系統100與一電子裝置50的示意圖，其中治具110、測試系統100與電子裝置50可分別作為前述之該治具、該測試系統與該電子裝置之例子。由於測試系統100可藉助於治具110對電子裝置50進行測試，故電子裝置50可視為一被測裝置。電子裝置50具有USB C型插座52，而USB C型插座52包含多個端子，諸如端子{GND, CC1, SSTX1, SSRX1, VBUS, SSRX2, SSTX2, CC2, GND}。於USB C型插座52中，端子SSTX1、SSRX1、SSRX2與SSTX2中之任一者代表用來傳送一差動對（differential pair）之兩個差動通訊端子，端子VBUS代表一組電源（power）端子，端子GND代表一組接地（ground）端子，且端子CC1與CC2均為配置通道（Configuration Channel, CC）端子。例如：電子裝置50可為外接硬碟機、外接硬碟盒、或各種不同類型的電子裝置中之任一者。

如第1圖所示，治具110包含可適配（adaptable）於USB C型插座52之一插頭（plug）111。插頭111可用來耦接該電子裝置50，且插頭111具有複數個端子。當插頭111被插入USB C型插座52時，該複數個端子中之端子{GND, CC1, SSTX1, SSRX1, VBUS, SSRX2, SSTX2, CC2, GND}可分別耦接至USB C型插座52之端子{GND, CC1, SSTX1, SSRX1, VBUS, SSRX2, SSTX2, CC2, GND}。於該複數個端子中，端子SSTX1、SSRX1、SSRX2與SSTX2中之任一者代表用來傳送一差動對之兩個差動通訊端子，端子VBUS代表一組電源端子，端子GND代表一組接地端子，且端子CC1與CC2均為配置通道端子，其中這組電源端子係彼此耦接，且這組接地端子係彼此耦接、並且和治具110之接地相連。例如：插頭111可為USB C型插頭（USB Type-C plug）。由於USB C型插座52與插頭111兩者看起來都是扁平狀，故插頭111具有兩側（side），諸如一第一側（例如插頭111之端子CC1所在的一側）與一第二側（例如插頭111之端子CC2所在的一側），其中該複數個端子分別位於這兩側。另外，治具110另包含一切換電路112、一控制電路114、一介面電路116、電阻器Rp(1)與Rp(2)、以及多個USB連接器諸如USB B型（Type-B）連接器118-1與118-2。例如：切換電路112包含一第一組切換器（switch）112-1與一第二組切換器112-2，其中第一組切換器112-1包含切換器SW1與SW2，且第二組切換器112-2包含切換器SW3與SW4。於本實施例中，切換器SW1、SW2、SW3與SW4可為電晶體諸如金屬氧化物半導體場效電晶體（Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor，可簡稱為「MOSFET」），而控制電路114可為一控制器諸如一微控制器。介面電路116可符合各種類型之既有的通訊規格中之任一者，諸如USB、RS-232或I2C。此外，測試系統100可另包含一部個人電腦（personal computer, PC）120，其中個人電腦120包含USB A型（Type-A）連接器121-1與121-2、一處理電路122與一介面電路126。處理電路122可控制測試系統100之運作。例如：處理電路122可包含個人電腦120之至少一處理器以及相關控制電路，且上述之至少一處理器可執行程式碼以控制測試系統100之運作。介面電路126可符合各種類型之既有的通訊規格中之任一者，諸如USB、RS-232或I2C。例如：介面電路116與126可符合相同的通訊規格。

依據本實施例，切換電路112可用來進行切換運作，以輪流致能（enable）治具110中之一第一組通訊路徑與一第二組通訊路徑，其中該第一組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第一組通訊端子{SSTX1, SSRX1}，而該第二組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第二組通訊端子{SSTX2, SSRX2}。例如：該第一組通訊路徑係耦接於第一組通訊端子{SSTX1, SSRX1}以及USB B型連接器118-1之端子{SSTX, SSRX}之間，且該第二組通訊路徑係耦接於第二組通訊端子{SSTX2, SSRX2}以及USB B型連接器118-2之端子{SSTX, SSRX}之間。USB B型連接器118-1與118-2可分別透過電纜線119-1與119-2將治具110耦接至個人電腦120。如第1圖所示，USB B型連接器118-1的端子{GND, SSTX, SSRX, VBUS}可透過電纜線119-1分別耦接至USB A型連接器121-1的端子{GND, SSTX, SSRX, VBUS}，且USB B型連接器118-2的端子{GND, SSTX, SSRX, VBUS}可透過電纜線119-2分別耦接至USB A型連接器121-2的端子{GND, SSTX, SSRX, VBUS}。另外，控制電路114可用來控制切換電路112之該些切換運作，以容許處理電路122透過該第一組通訊路徑（其於本實施例中係耦接至電纜線119-1）對電子裝置50進行一第一組測試運作、且透過該第二組通訊路徑（其於本實施例中係耦接至電纜線119-2）對電子裝置50進行一第二組測試運作。例如：控制電路116可透過至少一介面（諸如介面電路116與126）耦接至個人電腦120，以容許處理電路122利用控制電路114控制切換電路112之該些切換運作。

如第1圖所示，電阻器Rp(1)係耦接於切換器SW1與插頭111之配置通道端子CC1之間，電阻器Rp(2)係耦接於切換器SW3與插頭111之配置通道端子CC2之間，且插頭111之該組電源端子VBUS係分別耦接至切換器SW2與SW4。第一組切換器112-1係耦接至USB B型連接器118-1之電源端子VBUS，且第二組切換器112-2係耦接至USB B型連接器118-2之電源端子VBUS。控制電路114可分別控制切換器SW1、SW2、SW3與SW4各自的控制端子，諸如該些MOSFET之閘極（Gate）。在控制電路114之控制下，第一組切換器112-1可選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第一側之至少一端子，諸如插頭111之配置通道端子CC1與位於同一側的兩個電源端子VBUS。例如：當控制電路114開啟（turn on）第一組切換器112-1時，該第一組通訊路徑被致能。另外，在控制電路114之控制下，第二組切換器112-2可選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第二側之至少一端子，諸如插頭111之配置通道端子CC2與位於同一側的兩個電源端子VBUS。例如：當控制電路114開啟第二組切換器112-2時，該第二組通訊路徑被致能。此外，在控制電路114之控制下，第一組切換器112-1與第二組切換器112-2不會同時被開啟。

第2圖繪示第1圖所示架構的相關端子於一實施例中之實施細節，其中USB C型插頭211可作為插頭111之一例，而USB C型插座252可作為USB C型插座52之一例。USB C型插座252可具有引腳（pin）{A1, A2, A3, A4, A5, A6, A7, A8, A9, A10, A11, A12}與{B1, B2, B3, B4, B5, B6, B7, B8, B9, B10, B11, B12}，分別位於USB C型插座252之第一側252-1與第二側252-2。為了便於理解，斜體字之符號可代表USB C型規格（USB Type-C Specification）中相對應的訊號名稱（signal name）。例如：引腳{A1, A2, A3, A4, A5, A6, A7, A8, A9, A10, A11, A12}可分別指定（assign）予訊號{GND, TX1+, TX1-, V_BUS , CC1, D+, D-, SBU1, V_BUS , RX2-, RX2+, GND }，且引腳{B1, B2, B3, B4, B5, B6, B7, B8, B9, B10, B11, B12}可分別指定予訊號{GND, TX2+, TX2-, V_BUS , CC2, D+, D-, SBU2, V_BUS , RX1-, RX1+, GND }。依據本實施例，插座52之該些端子可實施為USB C型插座252之引腳。例如：於插座52之該些端子中，端子SSTX1、SSRX1、SSRX2與SSTX2可分別實施為引腳{A2, A3}、{B11, B10}、{A11, A10}與{B2, B3}，端子VBUS所代表之該組電源端子可分別實施為引腳{A4, A9, B4, B9}，端子GND所代表之該組接地端子可分別實施為引腳{A1, A12, B1, B12}，且端子CC1與CC2可分別實施為引腳A5與B5。

另外，USB C型插頭211具有相對應之引腳{A1, A2, A3, A4, A5, A6, A7, A8, A9, A10, A11, A12}與{B1, B2, B3, B4, B5, B8, B9, B10, B11, B12}，分別位於USB C型插頭211之第一側211-1與第二側211-2，其中本實施例之USB C型插頭211中不存在引腳B6與 B7。依據本實施例，插頭111之該複數個端子可實施為USB C型插頭211之引腳。例如：於插頭111之該複數個端子中，端子SSTX1、SSRX1、SSRX2與SSTX2可分別實施為引腳{A2, A3}、{B11, B10}、{A11, A10}與{B2, B3}，端子VBUS所代表之該組電源端子可分別實施為引腳{A4, A9, B4, B9}，端子GND所代表之該組接地端子可分別實施為引腳{A1, A12, B1, B12}，且端子CC1與CC2可分別實施為引腳A5與B5。

第3圖為依據本發明一實施例之一種藉助於治具110對電子裝置50進行測試之方法300的流程圖，其中方法300可應用於處理電路122、個人電腦120以及測試系統100。

於步驟310中，處理電路122可利用控制電路114控制（該些切換運作中之）至少一切換運作，以致能治具110中之該第一組通訊路徑。依據本實施例，處理電路122可利用控制電路114控制切換電路112，以致能該第一組通訊路徑、且禁能（disable）該第二組通訊路徑。例如：處理電路122可利用控制電路114控制第一組切換器112-1進行該些切換運作中之一第一組切換運作，以致能該第一組通訊路徑，其中控制電路114可開啟切換器SW1與SW2、且關閉（turn off）切換器SW3與SW4，且該第一組切換運作可包含開啟切換器SW1與SW2之運作。例如：於進入步驟310之前，處理電路122可利用控制電路114維持切換電路112處於關閉狀態。

於步驟320中，處理電路122可透過該第一組通訊路徑對電子裝置50進行該第一組測試運作（例如：寫入與讀取運作）。例如：於完成該第一組測試運作之後，處理電路122可利用控制電路114關閉切換電路112。

於步驟325中，依據該第一組測試運作之測試結果，處理電路122可判斷是否測試成功。當處理電路122判斷測試成功，則進入步驟330；否則，進入步驟329。

於步驟329中，處理電路122可輸出警告訊息。例如：警告訊息可指出測試失敗。於是，操作人員得知電子裝置50需維修。

於步驟330中，處理電路122可利用控制電路114控制（該些切換運作中之）至少一切換運作，以致能治具110中之該第二組通訊路徑。依據本實施例，處理電路122可利用控制電路114控制切換電路112，以致能該第二組通訊路徑、且禁能該第一組通訊路徑。例如：處理電路122可利用控制電路114控制第二組切換器112-2進行該些切換運作中之一第二組切換運作，以致能該第二組通訊路徑，其中控制電路114可開啟切換器SW3與SW4、且關閉切換器SW1與SW2，且該第二組切換運作可包含開啟切換器SW3與SW4之運作。例如：於完成該第一組測試運作之後、進入步驟330之前，處理電路122可利用控制電路114維持切換電路112處於關閉狀態。

於步驟340中，處理電路122可透過該第二組通訊路徑對電子裝置50進行該第二組測試運作（例如：寫入與讀取運作）。例如：於完成該第二組測試運作之後，處理電路122可利用控制電路114關閉切換電路112。

於步驟345中，依據該第二組測試運作之測試結果，處理電路122可判斷是否測試成功。當處理電路122判斷測試成功，則第3圖所示之工作流程結束；否則，進入步驟349。

於步驟349中，處理電路122可輸出警告訊息。例如：警告訊息可指出測試失敗。於是，操作人員得知電子裝置50需維修。

基於方法300，本發明可減少操作人員於整個測試過程中的動作、減少插頭損壞的機率、且縮短每一被測裝置的測試時間並且提昇測試效率。本實施例與前述實施例／變化例相仿之處不再重複贅述。

依據某些實施例，第3圖所示之工作流程可予以變化。例如：一或多個步驟可加入。又例如：一或多個步驟可修改或刪除。

依據一實施例，於步驟345中，當處理電路122判斷測試成功，處理電路122可輸出通知訊息，然後第3圖所示之工作流程結束。例如：通知訊息可指出測試成功。之後，操作人員可對下一個被測裝置（諸如同型號之另一電子裝置）進行相同的測試。

第4圖繪示第1圖所示架構的相關端子於另一實施例中之實施細節，其中類通用序列匯流排C型插頭（USB Type-C-like plug，可簡稱為「類USB C型插頭」）411可作為插頭111之一例。相較於第2圖所示之USB C型插頭211，類USB C型插頭411具有相對應之引腳{A1, A2, A3, A4, A5, A6, A7, A8, A9, A10, A11, A12}與{B1, B2, B3, B4, B5, B6, B7, B8, B9, B10, B11, B12}，分別位於類USB C型插頭411之第一側411-1與第二側411-2。於類USB C型插頭411中，引腳A6與B6彼此耦接、且引腳A7與B7彼此耦接，以容許操作人員隨意地將類USB C型插頭411插入USB C型插座52、而不管第一側411-1或第二側411-2朝上。於是，不論第一側411-1或第二側411-2朝上，訊號D+ 與D- 可於治具110與電子裝置50之間傳輸。例如：該第一組通訊路徑與該第二組通訊路徑中之至少一組通訊路徑可包含對應於訊號D+ 與D- 之通訊路徑。於是，處理電路122可透過該第一組通訊路徑及／或該第二組通訊路徑，對電子裝置50進行另一組測試運作（例如：寫入與讀取運作）。 以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

50‧‧‧電子裝置

52,252‧‧‧USB C型插座

100‧‧‧測試系統

110‧‧‧治具

111‧‧‧插頭

112‧‧‧切換電路

112-1‧‧‧第一組切換器

112-2‧‧‧第二組切換器

114‧‧‧控制電路

116,126‧‧‧介面電路

118-1,118-2‧‧‧USB B型連接器

119-1,119-2‧‧‧電纜線

120‧‧‧個人電腦

121-1,121-2‧‧‧USB A型連接器

122‧‧‧處理電路

211‧‧‧USB C型插頭

211-1,252-1,411-1‧‧‧第一側

211-2,252-2,411-2‧‧‧第二側

300‧‧‧方法

310‧‧‧控制切換運作以致能第一組通訊路徑之步驟

320‧‧‧透過第一組通訊路徑進行第一組測試運作之步驟

325,345‧‧‧是否測試成功之步驟

329,349‧‧‧輸出警告訊息之步驟

330‧‧‧控制切換運作以致能第二組通訊路徑之步驟

340‧‧‧透過第二組通訊路徑進行第二組測試運作之步驟

411‧‧‧類USB C型插頭

A1,A2,A3,A4,A5,A6,A7,A8,A9,A10,A11,A12,B1,B2,B3,B4,B5,B6,B7,B8,B9, B10,B11,B12‧‧‧引腳

CC1,CC2,GND,SSRX,SSRX1,SSRX2,SSTX,SSTX1,SSTX2,VBUS‧‧‧端子

CC1,CC2,D+,D-,GND, RX1+,RX1-,RX2+, RX2-, SBU1,SBU2, TX1+,TX1-,TX2+,TX2-,V_BUS ‧‧‧訊號

Rp(1),Rp(2)‧‧‧電阻器

SW1,SW2,SW3,SW4‧‧‧切換器

第1圖為依據本發明一實施例之一種測試系統與一電子裝置的示意圖，其中該測試系統包含一治具（test fixture）。 第2圖繪示第1圖所示架構的相關端子於一實施例中之實施細節。 第3圖為依據本發明一實施例之一種藉助於該治具對該電子裝置進行測試之方法的流程圖。 第4圖繪示第1圖所示架構的相關端子於另一實施例中之實施細節。

Claims (17)

1. 一種治具（test fixture），該治具可應用於具有一通用序列匯流排C型插座（Universal Serial Bus (USB) Type-C receptacle）之一電子裝置，該治具包含有： 可適配（adaptable）於該通用序列匯流排C型插座之一插頭（plug），用來耦接該電子裝置，其中該插頭具有複數個端子，分別位於該插頭之一第一側與一第二側； 一切換電路，用來進行切換運作，以輪流致能（enable）該治具中之一第一組通訊路徑與一第二組通訊路徑，其中該第一組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第一組通訊端子，而該第二組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第二組通訊端子； 一控制電路，用來控制該切換電路之該些切換運作，以容許一測試系統中之一處理電路透過該第一組通訊路徑對該電子裝置進行一第一組測試運作、且透過該第二組通訊路徑對該電子裝置進行一第二組測試運作，其中該測試系統包含該治具。
2. 如申請專利範圍第1項所述之治具，其中該測試系統包含一部個人電腦（personal computer, PC），而該處理電路包含該個人電腦之至少一處理器；以及該治具另包含： 一第一通用序列匯流排連接器，用來將該治具耦接至該個人電腦，其中該第一組通訊路徑係耦接於該第一組通訊端子以及該第一通用序列匯流排連接器之端子之間；以及 一第二通用序列匯流排連接器，用來將該治具耦接至該個人電腦，其中該第二組通訊路徑係耦接於該第二組通訊端子以及該第二通用序列匯流排連接器之端子之間。
3. 如申請專利範圍第2項所述之治具，其中該切換電路包含： 一第一組切換器（switch），耦接至該第一通用序列匯流排連接器之一電源端子，用來選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第一側之至少一端子，其中當該控制電路開啟（turn on）該第一組切換器時，該第一組通訊路徑被致能；以及 一第二組切換器，耦接至該第二通用序列匯流排連接器之一電源端子，用來選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第二側之至少一端子，其中當該控制電路開啟該第二組切換器時，該第二組通訊路徑被致能； 其中在該控制電路之控制下，該第一組切換器與該第二組切換器不會同時被開啟。
4. 如申請專利範圍第3項所述之治具，其中位於該第一側之該至少一端子包含一第一電源端子與一第一配置通道（Configuration Channel, CC）端子；位於該第二側之該至少一端子包含一第二電源端子與一第二配置通道端子；以及該治具另包含： 一第一電阻器，耦接於該第一組切換器中之一切換器與該第一配置通道端子之間；以及 一第二電阻器，耦接於該第二組切換器中之一切換器與該第二配置通道端子之間。
5. 如申請專利範圍第3項所述之治具，其中該第一組切換器中之一切換器係耦接於該第一通用序列匯流排連接器之該電源端子與該複數個端子中之一組電源端子之間，且該組電源端子係彼此耦接；以及該第二組切換器中之一切換器係耦接於該第二通用序列匯流排連接器之該電源端子與該組電源端子之間。
6. 如申請專利範圍第5項所述之治具，其另包含： 一第一電阻器，耦接於該第一組切換器中之另一切換器與位於該第一側之一配置通道（Configuration Channel, CC）端子之間；以及 一第二電阻器，耦接於該第二組切換器中之另一切換器與位於該第二側之一配置通道端子之間。
7. 如申請專利範圍第2項所述之治具，其中該控制電路係透過至少一介面耦接至該個人電腦，以容許該處理電路利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作。
8. 一種藉助於申請專利範圍第7項所述之治具對該電子裝置進行測試之方法，其中該方法可應用於該處理電路，以及該方法包含有下列步驟： 利用該控制電路控制該些切換運作中之至少一切換運作，以致能該治具中之該第一組通訊路徑； 透過該第一組通訊路徑對該電子裝置進行該第一組測試運作； 利用該控制電路控制該些切換運作中之至少一切換運作，以致能該治具中之該第二組通訊路徑；以及 透過該第二組通訊路徑對該電子裝置進行該第二組測試運作。
9. 如申請專利範圍第8項所述之方法，其中： 利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作中之該至少一切換運作以致能該治具中之該第一組通訊路徑之步驟另包含： 利用該控制電路控制該切換電路中之一第一組切換器（switch）進行該些切換運作中之一第一組切換運作，以致能該第一組通訊路徑，其中該第一組切換器係耦接至該第一通用序列匯流排連接器之一電源端子，以選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第一側之至少一端子，其中當該控制電路開啟（turn on）該第一組切換器時，該第一組通訊路徑被致能；以及 利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作中之該至少一切換運作以致能該治具中之該第二組通訊路徑之步驟另包含： 利用該控制電路控制該切換電路中之一第二組切換器進行該些切換運作中之一第二組切換運作，以致能該第二組通訊路徑，其中該第二組切換器係耦接至該第二通用序列匯流排連接器之一電源端子，以選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第二側之至少一端子，其中當該控制電路開啟該第二組切換器時，該第二組通訊路徑被致能。
10. 如申請專利範圍第8項所述之方法，其中： 利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作中之該至少一切換運作以致能該治具中之該第一組通訊路徑之步驟另包含： 利用該控制電路控制該切換電路，以致能該第一組通訊路徑、且禁能（disable）該第二組通訊路徑；以及 利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作中之該至少一切換運作以致能該治具中之該第二組通訊路徑之步驟另包含： 利用該控制電路控制該切換電路，以致能該第二組通訊路徑、且禁能該第一組通訊路徑。
11. 一種測試系統，該測試系統可應用於具有一通用序列匯流排C型插座（Universal Serial Bus (USB) Type-C receptacle）的一電子裝置，該測試系統包含有： 一處理電路，用來控制該測試系統之運作；以及 一治具（test fixture），該治具包含有： 可適配（adaptable）於該通用序列匯流排C型插座之一插頭（plug），用來耦接該電子裝置，其中該插頭具有複數個端子，分別位於該插頭之一第一側與一第二側； 一切換電路，用來進行切換運作，以輪流致能（enable）該治具中之一第一組通訊路徑與一第二組通訊路徑，其中該第一組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第一組通訊端子，而該第二組通訊路徑係耦接至該複數個端子中之一第二組通訊端子； 一控制電路，用來控制該切換電路之該些切換運作，以容許該處理電路透過該第一組通訊路徑對該電子裝置進行一第一組測試運作、且透過該第二組通訊路徑對該電子裝置進行一第二組測試運作。
12. 如申請專利範圍第11項所述之測試系統，其中該測試系統包含一部個人電腦（personal computer, PC），而該處理電路包含該個人電腦之至少一處理器；以及該治具另包含： 一第一通用序列匯流排連接器，用來將該治具耦接至該個人電腦，其中該第一組通訊路徑係耦接於該第一組通訊端子以及該第一通用序列匯流排連接器之端子之間；以及 一第二通用序列匯流排連接器，用來將該治具耦接至該個人電腦，其中該第二組通訊路徑係耦接於該第二組通訊端子以及該第二通用序列匯流排連接器之端子之間。
13. 如申請專利範圍第12項所述之測試系統，其中該切換電路包含： 一第一組切換器（switch），耦接至該第一通用序列匯流排連接器之一電源端子，用來選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第一側之至少一端子，其中當該控制電路開啟（turn on）該第一組切換器時，該第一組通訊路徑被致能；以及 一第二組切換器，耦接至該第二通用序列匯流排連接器之一電源端子，用來選擇性地供電予該複數個端子當中位於該第二側之至少一端子，其中當該控制電路開啟該第二組切換器時，該第二組通訊路徑被致能； 其中在該控制電路之控制下，該第一組切換器與該第二組切換器不會同時被開啟。
14. 如申請專利範圍第13項所述之測試系統，其中位於該第一側之該至少一端子包含一第一電源端子與一第一配置通道（Configuration Channel, CC）端子；位於該第二側之該至少一端子包含一第二電源端子與一第二配置通道端子；以及該治具另包含： 一第一電阻器，耦接於該第一組切換器中之一切換器與該第一配置通道端子之間；以及 一第二電阻器，耦接於該第二組切換器中之一切換器與該第二配置通道端子之間。
15. 如申請專利範圍第13項所述之測試系統，其中該第一組切換器中之一切換器係耦接於該第一通用序列匯流排連接器之該電源端子與該複數個端子中之一組電源端子之間，且該組電源端子係彼此耦接；以及該第二組切換器中之一切換器係耦接於該第二通用序列匯流排連接器之該電源端子與該組電源端子之間。
16. 如申請專利範圍第15項所述之測試系統，其中該治具另包含： 一第一電阻器，耦接於該第一組切換器中之另一切換器與位於該第一側之一配置通道（Configuration Channel, CC）端子之間；以及 一第二電阻器，耦接於該第二組切換器中之另一切換器與位於該第二側之一配置通道端子之間。
17. 如申請專利範圍第12項所述之測試系統，其中該控制電路係透過至少一介面耦接至該個人電腦，以容許該處理電路利用該控制電路控制該切換電路之該些切換運作。