TW201702824A - 觸控位置偵測方法與其觸控裝置 - Google Patents

Abstract

一種觸控位置偵測方法與其觸控裝置。提供至少三個間隔分佈的光學感應裝置以取得多個觸控資訊。基於觸控資訊的多個峰值，判斷觸控面上的觸控點數。若觸控點數大於1，則基於觸控資訊的峰值，計算觸控面上的多個觸控點。從前述觸控點取得對應第一觸控資訊的多個峰值之一的多個待測觸控點。第一觸控資訊為具有最多峰值的觸控資訊。依據待測觸控點之間的多個距離值，挑選出第一待測觸控點與第二待測觸控點。檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點是否同時對應至所有觸控資訊的任一峰值。若是，則由第一待測觸控點與第二待測觸控點決定觸控位置。

Description

觸控位置偵測方法與其觸控裝置

本發明是有關於一種偵測方法與相關的裝置，且特別是有關於一種觸控位置偵測方法與其觸控裝置。

具有觸控功能的電子裝置或顯示螢幕已逐漸成為現今科技的趨勢，而使用者可以藉由觸控功能控制電子裝置與顯示螢幕，或者是在電子裝置與顯示螢幕上進行輸入操作。基於設計原理的不同，觸控功能例如是由光學式觸控模組、電容式觸控模組或者是電阻式觸控模組來實現。

一般而言，基本的光學式觸控模組是由兩顆鏡頭組成，並且前述鏡頭由不同位置觀察觸控物，然後基於所取得的觸控資訊計算觸控點，藉此取得觸控物的觸控位置。在偵測單一觸控物時，光學式觸控模組的兩顆鏡頭各自輸出所取得的觸控資訊，而經由觸控資訊的交互比對，可以正確地取得觸控點。然而，一旦同時偵測複數個觸控物，僅憑單一光學式觸控模組的兩顆鏡頭所取得的觸控資訊，可能在交互比對時產生實質不存在的觸控點，亦即所謂的鬼點。

為了避免鬼點影響觸控功能的運作，一個解決方法是透過複數個光學式觸控模組來分別偵測觸控物的觸控位置。對於觸控物所在的觸控位置，不同方位的光學式觸控模組應該都能偵測到相符的觸控點。換言之，藉由比對不同的光學式觸控模組所取得的觸控點，即可區分真實的觸控點以及鬼點。然而，在實際的運作情況中，基於鏡頭的解析度差異以及設置位置，縱使是對應觸控物所在的觸控位置，不同方位的光學式觸控模組所取得的觸控點也會有位置上的偏差。此時，觸控物的觸控位置就無法藉由比對的方式來正確地被判斷。

本發明提供一種觸控位置偵測方法與其觸控裝置，可以有效地判斷實質存在的觸控點並濾除鬼點，藉以正確地偵測觸控物所在的觸控位置。

本發明的一實施例提供一種觸控位置偵測方法，適用於具有觸控面的觸控裝置，用以偵測落於觸控面之觸控物之觸控位置。觸控位置偵測方法包括下列步驟。提供至少三個間隔分佈之光學感應裝置以取得多個觸控資訊，每一觸控資訊包含有對應於各觸控物之至少一峰值。基於前述觸控資訊的多個峰值，判斷觸控面上的觸控點數。若判斷觸控點數大於1，則基於前述觸控資訊的峰值，計算觸控面上的多個觸控點。由前述觸控點之中，取得對應第一觸控資訊的多個峰值之一的多個待測觸控點。第一觸控資訊為前述觸控資訊中，具有最多的峰值的觸控資訊。依據待測觸控點之間的多個距離值，挑選出第一待測觸控點與第二待測觸控點。檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點是否也同時對應至所有觸控資訊的任一峰值。若第一待測觸控點與第二待測觸控點分別且同時對應至所有觸控資訊的任一峰值，則由第一待測觸控點與第二待測觸控點決定觸控位置。

本發明的另一實施例提供一種觸控裝置，包括至少三個光學感應裝置、擷取模組、判斷模組、計算模組、挑選模組、檢查模組以及輸出模組。光學感應裝置間隔地設置於觸控裝置的觸控面的環周，用於分別偵測落於觸控面之觸控物以產生多個觸控資訊以決定觸控物的觸控位置。擷取模組耦接光學感應裝置，控制光學感應裝置以取得前述觸控資訊，其中每一觸控資訊包含有對應於各觸控物之至少一峰值。判斷模組耦接擷取模組，基於觸控資訊的多個峰值，判斷觸控面上的觸控點數。計算模組耦接判斷模組，若判斷觸控點數大於1，則計算模組基於觸控資訊的峰值，計算觸控面上的多個觸控點。挑選模組耦接計算模組，由前述觸控點之中，取得對應第一觸控資訊的多個峰值之一的多個待測觸控點。挑選模組並依據待測觸控點之間的多個距離值，挑選出第一待測觸控點與第二待測觸控點。第一觸控資訊為觸控資訊中，具有最多的峰值的觸控資訊。檢查模組耦接挑選模組，檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點是否同時對應至所有觸控資訊的任一峰值。輸出模組耦接檢查模組，若第一待測觸控點與第二待測觸控點分別且同時對應至所有觸控資訊的任一峰值，則輸出模組由第一待測觸控點與第二待測觸控點決定觸控位置。

基於上述，本發明實施例所提供的觸控位置偵測方法以及其觸控裝置，藉由至少三個光學感應裝置取得多個觸控資訊，並且推算觸控面上的觸控點數。當觸控點數大於1時，從前述觸控資訊中，選擇具有最多峰值的觸控資訊作為第一觸控資訊，並且分析單一峰值所對應的觸控位置。更詳細而言，觸控位置偵測方法從對應至第一觸控資訊的單一峰值的多個待測觸控點來選擇最有可能為真實觸控點的第一待測觸控點與第二待測觸控點來進行檢查。一旦第一待測觸控點與第二待測觸控點通過檢查，則由第一待測觸控點與第二待測觸控點計算較精準的觸控位置。對於第一觸控資訊的所有峰值，觸控位置偵測方法更逐一進行前述步驟，藉以取得對應所有峰值的觸控位置。藉此，觸控位置偵測方法以及其觸控裝置可準確地取得真實的觸控點，並且正確地濾除鬼點。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

在光學式觸控裝置中，若要同時推算並取得複數個觸控物的觸控位置，就必須要正確地濾除鬼點。具體而言，鬼點的產生，通常是肇因於光學式觸控裝置的運作形式。圖1A、圖1B、圖1C與圖1D分別是一種光學式觸控模組的操作示意圖。參照圖1A，光學式觸控裝置10例如是包括兩個光學感應式裝置Ca、Cb，而光學感應式裝置Ca、Cb更組成光學式觸控模組20。光學感應式裝置Ca、Cb例如是光學式鏡頭。於圖1A之中，由光學感應式裝置Ca、Cb所延伸出來的直線分別對應至光學感應式裝置Ca、Cb的觸控資訊的峰值。一般而言，在反射式光學觸控裝置中，前述峰值代表由光學感應式裝置所擷取影像中亮度突高的值，而在遮斷式光學觸控裝置中，前述峰值代表由光學感應式裝置所擷取影像中亮度突降的值。觸控資訊的峰值經由相交比對可以取得一個觸控點A，亦即觸控物的觸控位置。詳細而言，若僅有單一的觸控物，則光學式觸控模組20中的兩個光學感應式裝置Ca、Cb所分別取得的觸控資訊各有一個峰值。需要注意的是，觸控資訊的峰值通常對應至一個觸控資訊的實質範圍，其原因在於觸控物具有一定的體積。換言之，前述的峰值範圍大致對應至觸控物的邊界。然而，在取得觸控點的相關程序中，通常將觸控資訊的峰值範圍藉由取中值的方式縮限至單一點以方便取得觸控點。

然而，參照圖1B，在同一時間點上，若出現複數的觸控物，則光學式觸控模組20中的兩個光學感應式裝置Ca、Cb所分別取得的觸控資訊可能各有複數個峰值。如圖1B所示，由光學感應式裝置Ca、Cb所延伸出來的直線分別對應至光學感應式裝置Ca、Cb的觸控資訊的峰值，而觸控資訊的峰值經由相交比對所取得的觸控點A1、A2、B1、B2，就會有包括實質不存在的觸控點B1、B2，也就是所謂的鬼點B1、B2。

由於鬼點會造成觸控操作上的誤動作，因此濾除鬼點是重要的。一個常見的方法是藉由複數的光學式觸控模組來偵測觸控點以濾除鬼點。請參照圖1C，光學式觸控模組20包括兩個光學感應式裝置Ca、Cb，而光學式觸控模組30包括兩個光學感應式裝置Cb、Cc。在偵測複數個觸控物的觸控位置時，光學式觸控模組20例如是取得觸控點A1、A2、B1、B2，而光學式觸控模組30例如是取得觸控點A1’、A2’、B1’、B2’。如圖1C所示，由光學感應式裝置Ca、Cb、Cc所延伸出來的直線分別對應至光學感應式裝置Ca、Cb、Cc的觸控資訊的峰值，而觸控資訊的峰值經由相交比對可以取得觸控點A1、A2、B1、B2、A1’、A2’、B1’、B2’。由於觸控點A1、A2以及觸控點A1’、A2’的位置相符，但B1與B1’之間以及B2與B2’之間位置差距較大，故可以判斷出觸控點A1、A2(A1’、A2’)才是真實的觸控點。

然而，在實際使用上，鏡頭的設置會受到解析度以及組裝偏差的影響，使得不同的光學式觸控模組所量測的觸控點在本質上就會產生誤差。請參照圖1D，縱使是觸控物實際存在的觸控位置，光學式觸控模組20所取得的觸控點A1、A2與光學式觸控模組30所取得的觸控點A1’、A2’也會有位置上的偏差。此時，觸控物的觸控位置無法被正確地判斷，鬼點也無法被正確地認知並且濾除。

圖2是依照本發明實施例所繪示的一種觸控裝置的示意圖。請參照圖2，觸控裝置100例如是光學觸控面板或者是光學觸控螢幕，可以配置於桌上型電腦、筆記型電腦、智慧型行動裝置、顯示器、電視、廣告看板、電子白板等電子裝置，用以提供觸控功能。觸控裝置100具有一個觸控面110，而觸控物Ob可以碰觸或懸浮觸碰觸控面110並且於觸控面110上移動以控制前述的電子裝置。在一些實施例中，觸控裝置100的觸控面110可以與顯示裝置(未繪示)整合以提供影像資訊。顯示裝置例如是液晶顯示器（Liquid Crystal Display，LCD）、發光二極體（Light-Emitting Diode，LED）顯示器、場發射顯示器（Field Emission Display，FED）等，但本發明不以此為限。

觸控裝置100包括多個光學感應裝置。於本實施例中，四個光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd例如是包括電荷耦合裝置（charge coupled device，CCD）或者是互補金屬氧化半導體（complementary metal oxide semiconductor，CMOS）等感光元件的光學鏡頭。參照圖2，光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd設置於觸控面110的環周，例如是觸控面110的四角落，但不以此為限。光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd分別進行拍攝以取得多個觸控資訊。以下的說明將以具有四個光學感應裝置的實施例為例介紹，惟對於本技術領域具普通知識者而言，一般而言只要至少三個光學感應裝置(例如設置於觸控面之三個角落)即可滿足，同時也不排除可以有四個以上光學感應裝置的可能實施方式。

具體而言，觸控資訊通常包括光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd在其偵測範圍中所偵測到的亮度資訊，而光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd的值測範圍例如是θ度(degree)的角度範圍。以圖2為例，當觸控物Ob觸碰於觸控面110時，光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd的觸控資訊在對應的角度上會呈現一個峰值，其可能為正的峰值或負的峰值，依觸控裝置100為反射式或遮斷式而定。

觸控裝置100還包括擷取模組130、判斷模組140、計算模組150、挑選模組160、檢查模組170以及輸出模組180，用於接收光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd所拍攝的觸控資訊並進行相關程序以取得觸控物Ob的觸控位置。於本實施例中，擷取模組130、判斷模組140、計算模組150、挑選模組160、檢查模組170以及輸出模組180例如是由處理單元120所執行的多個軟體程序。處理單元120例如是可程式化之微處理器（Microprocessor）、數位訊號處理器（Digital Signal Processor，DSP）、可程式化控制器、特殊應用積體電路（Application Specific Integrated Circuits，ASIC）、可程式化邏輯裝置（Programmable Logic Device，PLD）或其他類似裝置。然而，於其它實施例中，擷取模組130、判斷模組140、計算模組150、挑選模組160、檢查模組170以及輸出模組180也可以由多組實體電路來實現。

圖3是依照本發明一實施例所繪示之觸控位置偵測方法的流程圖。本實施例的觸控位置偵測方法適用於圖2的觸控裝置100。參照圖2與圖3，於步驟S310中，擷取模組130控制光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd以取得多個觸控資訊。如同前述，觸控資訊分別是光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd在其偵測範圍中所偵測到的亮度資訊。一般而言，觸控資訊的峰值代表在對應的角度上具有觸控物，而複數個峰值代表複數個觸控物的存在。

接著，於步驟S320中，判斷模組140基於觸控資訊的多個峰值，判斷觸控面110上的觸控點數。詳細而言，判斷模組140例如是基於每個觸控資訊的峰值數來進行交互比對，進一步歸納出觸控面110上的觸控點的總數。若判斷模組140判斷觸控面110的觸控點數等於1，則如同圖1A所繪示般，觸控位置偵測方法不需要進行鬼點的判斷與濾除。此時，於步驟S380中，計算模組150基於觸控資訊的峰值，直接計算觸控面110上的單一觸控點，而前述觸控點決定為觸控物的觸控位置。

相對而言，若判斷模組140判斷觸控點數大於1，則如同圖1B與圖1C所繪示般，於步驟S330中，計算模組150基於觸控資訊的峰值，計算觸控面上的多個觸控點。觸控點例如是基於觸控面110而以座標點的方式呈現。更詳細而言，計算模組150由觸控資訊中的一者的任一峰值與觸控資訊中的另一者的任一峰值交互比對以取得觸控面110上的觸控點。舉例而言，如圖1C一般，由光學感應裝置Ca所取得的觸控資訊的峰值，可以與光學感應裝置Cb所取得的觸控資訊的峰值交互比對而取得觸控點A1、A2、B1以及B2。另一方面，由光學感應裝置Cb所取得的觸控資訊的峰值，可以與光學感應裝置Cc所取得的觸控資訊的峰值交互比對而取得觸控點A1’、A2’、B1’以及B2’。

重新參照圖3，取得觸控面上的觸控點後，於步驟S340，挑選模組160由前述多個觸控點之中，取得對應第一觸控資訊的多個峰值之一的多個待測觸控點。第一觸控資訊為光學感應裝置Ca、Cb、Cc、Cd所取得的多個觸控資訊中，具有最多的峰值交疊的那一個觸控資訊。接著，於步驟S350中，挑選模組160依據多個待測觸控點之間的多個距離值，挑選出第一待測觸控點與第二待測觸控點。

圖4是依照本發明一實施例所繪示之挑選第一待測觸控點與第二待測觸控點的示意圖。參照圖2、圖3、圖4，當挑選模組160判斷光學感應裝置Cc的觸控資訊具有最多數量的峰值交疊後，挑選模組160以光學感應裝置Cc的觸控資訊作為第一觸控資訊。於本發明其它實施例中，若複數個光學感應裝置的觸控資訊同時具有最多數量的峰值，則挑選模組160例如是隨機由前述的觸控資訊擇一來作為第一觸控資訊。

選定第一觸控資訊後，挑選模組160進一步地從前述多個觸控點中，挑選出對應第一觸控資訊的一個峰值的多個待測觸控點ca-1、ca-2、cb-1、cd-1、cd-2。如圖4所示，實線Cc1對應至第一觸控資訊中的多個峰值之一，而其它實線Ca1、Ca2、Cb1、Cd1、Cd2分別是對應至光學感應裝置Ca、Cb以及Cd的觸控資訊的多個峰值之一。其中，實線Cc1會與其他實線Ca1、Ca2、Cb1、Cd1、Cd2相交而產生有數個待測觸控點ca-1、ca-2、cb-1、cd-1、cd-2。在本實施例中，挑選模組160更進一步地計算待測觸控點ca-1、ca-2、cb-1、cd-1、cd-2兩兩之間的距離值，並且挑選出具有最小的距離值的待測觸控點cb-1與cd-1來作為第一待測觸控點cb-1與第二待測觸控點cd-1。

一般而言，對應同一觸控物而由不同的光學感應裝置組合所取得的多個觸控點，縱使有所偏差也不會相差過遠。因此，於本實施例中，觸控位置偵測方法在挑選第一待測觸控點與第二待測觸控點時，首先從多個待測觸控點中選擇相距最近的兩者來作為第一待測觸控點與第二待測觸控點，但本發明不限於此，還可以依其他標準而從多個待測觸控點之中挑選第一待測觸控點與第二待測觸控點。接著，重新參照圖3，於步驟S360中，檢查模組170檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點是否也同時對應至所有觸控資訊的任一峰值。換言之，以圖4為例，檢查模組170檢驗第一待測觸控點cb-1與第二待測觸控點cd-1是否皆為真實存在的觸控點。

圖5是依照本發明一實施例所繪示之檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點的方法流程圖。圖6是依照本發明一實施例所繪示之檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點的示意圖。參照圖4、圖5與圖6，於步驟S361中，判斷用於取得第一待測觸控點的第一部分的觸控資訊。於本實施例中，第一待測觸控點cb-1是實線Cc1與實線Cb1的交點。換言之，第一待測觸控點cb-1是由光學感應裝置Cc的觸控資訊的峰值以及光學感應裝置Cb的觸控資訊的峰值交互比對所得。因此，第一部分的觸控資訊即為光學感應裝置Cb、Cc的觸控資訊。

接著，於步驟S362中，檢查第一待測觸控點是否也同時位於不屬於第一部分的觸控資訊的其它觸控資訊的任一峰值的峰值範圍內。參照圖6，第一待測觸控點cb-1是基於光學感應裝置Cb、Cc的觸控資訊所取得的觸控點，因此接著便驗證第一待測觸控點cb-1是否同樣也位於光學感應裝置Ca、Cd的觸控資訊的峰值範圍內。如同前述，觸控資訊的峰值通常對應至觸控資訊的一個實質範圍。在檢查過程中，僅需確認第一待測觸控點cb-1是否落在光學感應裝置Ca、Cd的觸控資訊的峰值範圍內。由圖6的實施例可知，第一待測觸控點cb-1也同時落在峰值範圍Cd1-R與Ca2-R內。

類似於步驟S361、S362，於步驟S363中，判斷用於取得第二待測觸控點的第二部分的觸控資訊。於本實施例中，第二待測觸控點cd-1是實線Cc1與實線Cd1的交點。換言之，第二待測觸控點cd-1是由光學感應裝置Cc的觸控資訊的峰值以及光學感應裝置Cd的觸控資訊的峰值交互比對所得。因此，第二部分的觸控資訊即為光學感應裝置Cc、Cd的觸控資訊。接著，於步驟S364中，檢查第二待測點是否同時也位於不屬於第二部分的觸控資訊的其它觸控資訊的任一峰值的峰值範圍內。以前述的實施例來說，即是檢查第二待測觸控點cd-1是否同樣也位於光學感應裝置Ca、Cb的觸控資訊的峰值範圍內。由圖6的實施例可知，第二待測觸控點cd-1也同時落在峰值範圍Cb1-R與Ca2-R內。

於步驟S365中，若第一待測觸控點同時位於不屬於第一部分的觸控資訊的其它觸控資訊的任一峰值的峰值範圍內，並且第二待測觸控點也同時位於不屬於第二部分的觸控資訊的其它觸控資訊的任一峰值的峰值範圍內，則判斷第一待測觸控點與第二待測觸控點可同時對應至所有觸控資訊的任一峰值。以圖6的實施例而言，第一待測觸控點cb-1同時落在峰值範圍Cd1-R與Ca2-R內，而第二待測觸控點cd-1也同時落在峰值範圍Cb1-R與Ca2-R內，故表示第一待測觸控點cb-1與第二待測觸控點cd-1可同時對應至所有觸控資訊的任一峰值。

重新參照圖3，於步驟S370中，若第一待測觸控點與第二待測觸控點分別且同時對應至所有觸控資訊的任一峰值，則輸出模組180由第一待測觸控點與第二待測觸控點決定觸控位置。以圖4為例，即是由第一待測觸控點cb-1與第二待測觸控點cd-1來決定觸控物的觸控位置。於本實施例中，例如是以第一待測觸控點cb-1與第二待測觸控點cd-1在觸控面110的位置(或者是座標點)作平均而決定取得觸控物的觸控位置。

重新參照圖5，於步驟S366中，若第一待測觸控點位於不屬於第一部分的觸控資訊的其它觸控資訊的峰值的峰值範圍外，或者是第二待測觸控點位於不屬於第二部分的觸控資訊的其它觸控資訊的峰值的峰值範圍外，則檢查模組170排除現有第一待測觸控點與第二待測觸控點的組合來決定觸控位置。此時，觸控位置偵測方法如圖3所示，重回步驟S350，而挑選模組160依據待測觸控點之間的距離值，找出具有次小距離值之二待測觸控點來作為第一待測觸控點與第二待測觸控點。舉例來說，若前述實施例的第一待測觸控點cb-1不位在光學感應裝置Ca、Cd的觸控資訊的峰值範圍內，又或者第二待測觸控點cd-1不位在光學感應裝置Ca、Cb的觸控資訊的峰值範圍內，則檢查模組170排除第一待測觸控點cb-1與第二待測觸控點cd-1的組合。接著，挑選模組160依據待測觸控點之間的距離值，重新選擇第一待測觸控點與第二待測觸控點。此時，由於觸控點cb-1與cd-1的組合已經被排除，因此挑選模組160從待測觸控點ca-1、ca-2、cb-1、cd-1、cd-2間挑選距離值次近的組合，例如是待測觸控點ca-2與cd-1的組合來作為第一待測觸控點與第二待測觸控點，並且進行觸控位置偵測方法的後續程序。明顯地，直到觸控裝置100從待測觸控點之中挑選出合適的第一待測觸控點與第二待測觸控點為止，觸控位置偵測方法的步驟S350、S360會反覆地被執行。

於前述實施例中，當觸控裝置100決定第一觸控資訊(光學感應裝置Cc的觸控資訊)的一個峰值(實線Cc1)所對應的觸控位置後，更進一步地決定第一觸控資訊的另一峰值所對應的觸控位置。此時，以圖3所示的觸控位置偵測方法而言，即是由步驟S370返回步驟S340，重新計算第一觸控資訊的另一峰值所對應的觸控位置。換言之，對於第一觸控資訊內的每一峰值，觸控裝置100分別計算對應的觸控位置。在取得所有觸控物的觸控位置後，觸控裝置100結束觸控位置偵測方法。於本發明的一個實施例中，於一個固定周期後，觸控裝置100才再度執行觸控位置偵測方法。

綜上所述，本發明本發明實施例所提供的觸控位置偵測方法以及其觸控裝置，藉由多個光學感應裝置取得多個觸控資訊，藉以推算觸控面上的觸控點數以及所有可能的觸控點。接著，對於每個觸控物，對應地挑選最有可能的多個觸控點並進行檢查，然後再進行數學運算以明確觸控物的觸控位置。基於前述，觸控位置偵測方法以及其觸控裝置可以濾除觸控面上的鬼點，並且準確地確定觸控物的觸控位置，達到較佳的觸控偵測效果。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

10‧‧‧光學式觸控裝置
20、30‧‧‧光學式觸控模組
100‧‧‧觸控裝置
110‧‧‧觸控面
120‧‧‧處理單元
130‧‧‧擷取模組
140‧‧‧判斷模組
150‧‧‧計算模組
160‧‧‧挑選模組
170‧‧‧檢查模組
180‧‧‧輸出模組
A、A1、A2、B1、B2、A1’、A2’、B1’、B2’‧‧‧觸控點
ca-1、ca-2、cb-1、cd-1、cd-2‧‧‧待測觸控點
Ca、Cb、Cc、Cd‧‧‧光學感應裝置
Ca1、Ca2、Cb1、Cc1、Cd1、Cd2‧‧‧實線
Ca2-R、Cb1-R、Cd1-R‧‧‧峰值範圍
Ob‧‧‧觸控物
θ‧‧‧角度範圍
S361~S366‧‧‧檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點的步驟
S310~S380‧‧‧觸控位置偵測方法的步驟

圖1A、圖1B、圖1C、圖1D分別是一種光學式觸控模組的操作示意圖。 圖2是依照本發明實施例所繪示的一種觸控裝置的示意圖。 圖3是依照本發明一實施例所繪示之觸控位置偵測方法的流程圖。 圖4是依照本發明一實施例所繪示之挑選第一待測觸控點與第二待測觸控點的示意圖。 圖5是依照本發明一實施例所繪示之檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點的方法流程圖。 圖6是依照本發明一實施例所繪示之檢查第一待測觸控點與第二待測觸控點的示意圖。

S310~S380‧‧‧觸控位置偵測方法的步驟

Claims (14)

1. 一種觸控位置偵測方法，適用於具有一觸控面的一觸控裝置，用以偵測落於該觸控面之一觸控物之一觸控位置，該觸控位置偵測方法包括： 提供至少三個間隔分佈之光學感應裝置以取得多個觸控資訊，每一該觸控資訊包含有對應於各該觸控物之至少一峰值； 基於該些觸控資訊的該多個峰值，判斷該觸控面上的一觸控點數； 若判斷該觸控點數大於1，則基於該些觸控資訊的該些峰值，計算該觸控面上的多個觸控點； 由該些觸控點之中，取得對應一第一觸控資訊的該些峰值之一的多個待測觸控點，其中該第一觸控資訊為該些觸控資訊中，具有最多的該些峰值的該觸控資訊； 依據該些待測觸控點之間的多個距離值，挑選出一第一待測觸控點與一第二待測觸控點； 檢查該第一待測觸控點與該第二待測觸控點是否也同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值；以及 若該第一待測觸控點與該第二待測觸控點分別且同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值，則由該第一待測觸控點與該第二待測觸控點決定該觸控位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述的觸控位置偵測方法，其中對於該第一觸控資訊內的每一該些峰值，分別計算對應的該觸控位置。
3. 如申請專利範圍第1項所述的觸控位置偵測方法，更包括： 若判斷該觸控點數等於1，則基於該些觸控資訊的該些峰值，直接以該觸控面上的該觸控點決定作為該觸控位置。
4. 如申請專利範圍第1項所述的觸控位置偵測方法，其中計算該觸控面上的該些觸控點的步驟，更包括： 對該些觸控資訊中的一者的任一該峰值與該些觸控資訊中的另一者的任一該峰值交互比對以取得該觸控面上的該觸控點。
5. 如申請專利範圍第1項所述的觸控位置偵測方法，其中選擇該第一待測觸控點與該第二待測觸控點的步驟，更包括： 計算該些待測觸控點之間的該些距離值；以及 從該些待測觸控點中，挑選出具有最小的該距離值的二個該些待測觸控點作為該第一待測觸控點與該第二待測觸控點。
6. 如申請專利範圍第1項所述的觸控位置偵測方法，其中檢查該第一待測觸控點與該第二待測觸控點是否同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值的步驟，更包括： 判斷用於取得該第一待測觸控點的一第一部分的該些觸控資訊； 檢查該第一待測觸控點是否同時位於不屬於該第一部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的一峰值範圍內； 判斷用於取得該第二待測觸控點的一第二部分的該些觸控資訊； 檢查該第二待測觸控點是否也同時位於不屬於該第二部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的該峰值範圍內；以及 若該第一待測觸控點同時位於不屬於該第一部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的該峰值範圍內，並且該第二待測觸控點也同時位於不屬於該第二部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的該峰值範圍內，則判斷該第一待測觸控點與該第二待測觸控點同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值，並以該第一待測觸控點與該第二待測觸控點決定該觸控位置。
7. 如申請專利範圍第6項所述的觸控位置偵測方法，其中若該第一待測觸控點位於不屬於該第一部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的該些峰值的該些峰值範圍外，或該第二待測觸控點位於不屬於該第二部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的該些峰值的該些峰值範圍外，則排除該第一待測觸控點與該第二待測觸控點的一組合來決定該觸控位置；以及 依據該些待測觸控點之間的該些距離值，重新選擇具有次小的該距離值的二個該些待測觸控點作為該第一待測觸控點與該第二待測觸控點，並再次執行檢查該第一待測觸控點與該第二待測觸控點是否也同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值的該步驟。
8. 一種觸控裝置，包括： 至少三個光學感應裝置，間隔地設置於該觸控裝置的一觸控面的環周，用於分別偵測落於該觸控面之一觸控物以產生多個觸控資訊以決定該觸控物之一觸控位置； 一擷取模組，耦接該些光學感應裝置，控制該些光學感應裝置以取得該些觸控資訊，其中每一該觸控資訊包含有對應於各該觸控物之至少一峰值； 一判斷模組，耦接該擷取模組，基於該些觸控資訊的該多個峰值，判斷該觸控面上的一觸控點數； 一計算模組，耦接該判斷模組，若該判斷模組判斷該觸控點數大於1，則該計算模組基於該些觸控資訊的該些峰值，計算該觸控面上的多個觸控點； 一挑選模組，耦接該計算模組，由該些觸控點之中，取得對應一第一觸控資訊的該些峰值之一的多個待測觸控點，並且依據該些待測觸控點之間的多個距離值，挑選出一第一待測觸控點與一第二待測觸控點，其中該第一觸控資訊為該些觸控資訊中，具有最多的該些峰值的該觸控資訊； 一檢查模組，耦接該挑選模組，檢查該第一待測觸控點與該第二待測觸控點是否也同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值；以及 一輸出模組，耦接該檢查模組，若該第一待測觸控點與該第二待測觸控點分別且同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值，則該輸出模組由該第一待測觸控點與該第二待測觸控點決定該觸控位置。
9. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置，其中對於該第一觸控資訊內的每一該些峰值，該觸控裝置分別計算對應的該觸控位置。
10. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置，其中若判斷模組判斷該觸控點數等於1，則該計算模組基於該些觸控資訊的該些峰值，直接以該觸控面上的該觸控點決定作為該觸控位置。
11. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置，其中該計算模組對該些觸控資訊中的一者的任一該峰值與該些觸控資訊中的另一者的任一該峰值交互比對以取得該觸控面上的該觸控點。
12. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置，其中該挑選模組計算該些待測觸控點之間的該些距離值，並且從該些待測觸控點中，挑選出具有最小的該距離值的二個該些待測觸控點作為該第一待測觸控點與該第二待測觸控點。
13. 如申請專利範圍第8項所述的觸控裝置，其中該檢查模組判斷用於取得該第一待測觸控點的一第一部分的該些觸控資訊，並且檢查該第一待測觸控點是否同時位於不屬於該第一部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的一峰值範圍內；該檢查模組判斷用於取得該第二待測觸控點的一第二部分的該些觸控資訊，並且檢查該第二待測觸控點是否也同時位於不屬於該第二部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的該峰值範圍內；若該第一待測觸控點同時位於不屬於該第一部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的該峰值範圍內，並且該第二待測觸控點也同時位於不屬於該第二部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的任一該峰值的該峰值範圍內，則該檢查模組判斷該第一待測觸控點與該第二待測觸控點同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值，並以該第一待測觸控點與該第二待測觸控點決定該觸控位置。
14. 如申請專利範圍第13項所述的觸控裝置，若該第一待測觸控點位於不屬於該第一部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的該些峰值的該些峰值範圍外，或該第二待測觸控點位於不屬於該第二部分的該些觸控資訊的其它該些觸控資訊的該些峰值的該些峰值範圍外，則該檢查模組排除該第一待測觸控點與該第二待測觸控點的一組合來決定該觸控位置，並且該挑選模組依據該些待測觸控點之間的該些距離值，重新選擇具有次小的該距離值的二個該些待測觸控點作為該第一待測觸控點與該第二待測觸控點，並再次檢查該第一待測觸控點與該第二待測觸控點是否也同時對應至所有該些觸控資訊的任一該峰值。