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TW201447566A - I 2 c匯流排測試系統及方法 - Google Patents

I 2 c匯流排測試系統及方法 Download PDF

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TW201447566A
TW201447566A TW102107768A TW102107768A TW201447566A TW 201447566 A TW201447566 A TW 201447566A TW 102107768 A TW102107768 A TW 102107768A TW 102107768 A TW102107768 A TW 102107768A TW 201447566 A TW201447566 A TW 201447566A
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oscilloscope
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Hao Hu
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Abstract

一種I2C匯流排測試系統，包括一與被測主機板之I2C匯流排相連之示波器，所述示波器用於測取所述I2C匯流排上傳輸之信號之波形，所述I2C匯流排測試系統還包括一測試機台，所述測試機台與所述被測主機板及所述示波器相連，所述測試機台輸出測試指令使所述I2C匯流排開始傳輸信號，並自動調節所述示波器之參數，再根據示波器測得之波形自動生成測試報告。本發明還揭示了一種基於上述I2C匯流排測試系統之測試方法。

Description

I 2 C匯流排測試系統及方法
本發明涉及一種I2C匯流排測試系統及方法。
I2C（Inter Integrated Circuit Bus，內部積體電路匯流排）匯流排介面作為一種連接方便，架構簡單易用之通訊介面，目前於積體電路設計中被廣泛應用。I2C匯流排藉由SDA（串列資料線）與SCL（串列時鐘線）兩根線，於連接到I2C匯流排上之器件之間傳送資訊，並根據地址識別每個器件。
習知之I2C匯流排測試方法是利用示波器測取I2C匯流排輸出之信號波形，再將測得之波形攜帶之資料與預設之參數做比較，從而判斷I2C匯流排上傳輸之信號是否合乎規範。然，習知之測試方法於測試過程中，需人工手動設置示波器之各項參數，且需要人工填寫測試報告，測試自動化程度不高，且測試結果不準確。
鑒於以上內容，有必要提供一種測試結果較準確之I2C匯流排自動測試系統及方法。
一種I2C匯流排測試系統，包括一與被測主機板之I2C匯流排相連之示波器，所述被測主機板包括一I2C主控設備及至少一藉由所述I2C匯流排與所述I2C主控設備相連之I2C從設備，所述I2C匯流排包括一串列資料線及一串列時鐘線，所述示波器用於測取所述串列資料線及串列時鐘線上傳輸之信號之波形，所述I2C匯流排測試系統還包括一測試機台，所述測試機台與所述被測主機板及所述示波器相連，所述測試機台輸出測試指令使所述I2C匯流排開始傳輸信號，並自動調節所述示波器之參數，再根據示波器測得之波形自動生成測試報告。
一種I2C匯流排測試方法，包括以下步驟：將一示波器連接至一被測主機板之I2C匯流排，所述被測主機板包括一I2C主控設備及一藉由所述I2C匯流排與所述I2C主控設備相連之I2C從設備，所述I2C匯流排包括一串列資料線及一串列時鐘線；利用一測試機台自動調節示波器之參數；所述示波器測取I2C匯流排上傳輸之資料信號及時鐘信號；及所述測試機台根據示波器測得之波形自動生成測試報告並顯示測試結果。
與習知技術相比，所述I2C匯流排測試系統及方法利用測試機台自動調節示波器，並根據示波器測取之波形自動生成測試報告，測試自動化程度高，且測試結果較準確。
100．．．測試機台
10．．．被測主機板控制模組
20．．．示波器設置模組
30．．．資料讀取模組
40．．．資料轉換模組
50．．．資料比較分析模組
60．．．測試報告生成模組
70．．．測試結果顯示模組
200．．．示波器
300．．．被測主機板
310．．．I2C主控設備
320．．．I2C從設備
330．．．串列資料線
340．．．串列時鐘線
圖1是本發明I2C匯流排測試系統一較佳實施方式之組成模組圖。
圖2是本發明I2C匯流排測試方法一較佳實施方式之流程圖。
請參閱圖1，於本發明一較佳實施方式中，一I2C匯流排測試系統用於測試一被測主機板300之I2C匯流排傳輸之信號是否合乎規範，所述I2C匯流排測試系統包括一測試機台100及一與所述測試機台100相連之示波器200。
所述被測主機板300包括一I2C主控設備310及一藉由I2C匯流排與所述I2C主控設備310相連之I2C從設備320，所述I2C匯流排包括一串列資料線330及一串列時鐘線340。於一實施方式中，所述I2C主控設備310為一CPU（Central Processing Unit，中央處理器），所述I2C從設備320為一記憶體，所述被測主機板300上其他I2C介面器件亦可藉由所述I2C匯流排連接至所述CPU。所述示波器200利用示波器探棒依次測取所述串列資料線330及一串列時鐘線340傳輸之信號。
所述測試機台100包括一與所述I2C主控設備310相連之被測主機板控制模組10、一與所述示波器200相連之示波器設置模組20，一與所述示波器200相連之資料讀取模組30、一與所述資料讀取模組30相連之資料轉換模組40、一與所述資料轉換模組40相連之資料比較分析模組50、一與所述資料比較分析模組50相連之測試報告生成模組60及一與所述測試報告生成模組60相連之測試結果顯示模組70。
測試時，所述被測主機板控制模組10發送測試指令至所述I2C主控設備310，所述被測主機板300開機，所述I2C主控設備310開始藉由所述串列資料線330及所述串列時鐘線340輸出信號至所述I2C從設備320。所述示波器設置模組20先設置所述示波器200之單位電壓值、原點位置、觸發條件等參數，預設之單位電壓值是座標系中每一基本單位之電壓值，例如座標系中每一基本單位之電壓值可設為0.1V或1V，同樣之輸出信號於不同之預設單位電壓值下輸出之波形形狀不同，原點位置決定波形於示波器顯示幕幕上之位置，觸發條件是示波器200開始抓取波形之條件，例如觸發條件可預設為檢測到信號跳變為高或跳變為低時開始抓取波形。設置完畢後，所述示波器200即可開始測取所述I2C匯流排輸出之信號。所述資料讀取模組30讀取所述示波器200測得之波形攜帶之資料。所述資料轉換模組40將測得之波形攜帶之資料轉換為二進位資料（由0或1組成）。所述資料比較分析模組50將所述二進位資料與預設之參數做比較從而判斷所述示波器200測得之波形是否符合I2C協議。所述測試報告生成模組60生成測試報告，該測試報告列出I2C匯流排之兩條資料線之名稱以及對應輸出信號之各項資料，例如，幅值、頻率、信號跳變時間等。所述測試結果顯示模組70根據測試報告顯示對應之測試結果。
請參閱圖2，一種利用上述I2C匯流排測試系統測試被測主機板300之I2C匯流排之方法包括以下步驟。
S1：所述被測主機板控制模組10發送測試指令至所述I2C主控設備310，使所述被測主機板300開機。
S2：所述I2C主控設備310開始藉由所述串列資料線330及所述串列時鐘線340輸出串列資料及時鐘信號至所述I2C從設備320。
S3：所述示波器設置模組20自動設置示波器200之單位電壓值、原點位置、觸發條件等參數。
S4：所述示波器200測取主機板I2C匯流排之串列資料線330及串列時鐘線340上之信號波形，於一實施方式中，所述示波器200先測取所述串列資料線330輸出之信號，再讀取所述串列時鐘線340輸出之波形。
S5：所述資料讀取模組30讀取示波器200測得之波形攜帶之各項資料。
S6：所述資料轉換模組40將測得之波形攜帶之資料轉換為二進位資料（由0或1組成）。
S7：所述資料比較分析模組50將轉換出之二進位資料與預設參數作比較從而分析判斷所述I2C匯流排傳輸之信號是否符合I2C協議，如果所述波形攜帶之資料與預設之參數相符，則所述波形合格，否則所述波形不合格。
S8：所述測試報告生成模組60根據測取之資料自動生成測試報告。
S9：所述測試結果顯示模組70根據測試報告之內容顯示測試結果。
綜上所述，本發明確已符合發明專利要求，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本發明技藝之人士，爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
100．．．測試機台
10．．．被測主機板控制模組
20．．．示波器設置模組
30．．．資料讀取模組
40．．．資料轉換模組
50．．．資料比較分析模組
60．．．測試報告生成模組
70．．．測試結果顯示模組
200．．．示波器
300．．．被測主機板
310．．．I2C主控設備
320．．．I2C從設備
330．．．串列資料線
340．．．串列時鐘線

Claims (10)

  1. 一種I2C匯流排測試系統，包括一與被測主機板之I2C匯流排相連之示波器，所述被測主機板包括一I2C主控設備及至少一藉由所述I2C匯流排與所述I2C主控設備相連之I2C從設備，所述I2C匯流排包括一串列資料線及一串列時鐘線，所述示波器用於測取所述串列資料線及串列時鐘線上傳輸之信號之波形，所述I2C匯流排測試系統還包括一測試機台，所述測試機台與所述被測主機板及所述示波器相連，所述測試機台輸出測試指令使所述I2C匯流排開始傳輸信號，並自動調節所述示波器之參數，再根據示波器測得之波形自動生成測試報告。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之I2C匯流排測試系統，其中所述測試機台包括一被測主機板控制模組，用於輸出測試指令使所述I2C匯流排開始傳輸信號，所述被測主機板控制模組與所述I2C主控設備相連。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之I2C匯流排測試系統，其中所述測試機台包括一與所述示波器相連之示波器設置模組，用於設置所述示波器之單位電壓值、原點位置、觸發條件；所述測試機台還包括一與所述示波器相連之資料讀取模組，用於讀取所述示波器測得之波形攜帶之資料。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之I2C匯流排測試系統，其中所述測試機台還包括一與所述資料讀取模組相連之資料轉換模組，所述資料轉換模組將所述資料讀取模組讀取之資料轉換為二進位資料。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之I2C匯流排測試系統，其中所述測試機台還包括一資料比較分析模組，將所述二進位資料與預設之參數做比較並分析判斷I2C匯流排傳輸之信號否符合I2C協議。
  6. 一種I2C匯流排測試方法，包括以下步驟：
    將一示波器連接至一被測主機板之I2C匯流排，所述被測主機板包括一I2C主控設備及一藉由所述I2C匯流排與所述I2C主控設備相連之I2C從設備，所述I2C匯流排包括一串列資料線及一串列時鐘線；
    利用一測試機台自動調節示波器之參數；
    所述示波器測取I2C匯流排上傳輸之資料信號及時鐘信號；及
    所述測試機台根據示波器測得之波形自動生成測試報告並顯示測試結果。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之I2C匯流排測試方法，其中所述I2C匯流排測試方法還包括於所述示波器測取I2C匯流排上傳輸之資料信號及時鐘信號之步驟之前利用所述測試機台輸出測試指令使所述I2C主控設備開始輸出信號至所述I2C從設備之步驟。
  8. 如申請專利範圍第6項所述之I2C匯流排測試方法，其中所述利用測試機台自動調節示波器之參數之步驟包括調節示波器之單位電壓值、原點位置、觸發條件，所述示波器於達到所述觸發條件時開始抓取所述I2C匯流排輸出之信號之波形。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之I2C匯流排測試方法，其中所述I2C匯流排測試方法還包括於生成測試報告之前讀取所述示波器測得之波形攜帶之資料及將所述波形攜帶之資料轉換為二進位資料之步驟。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之I2C匯流排測試方法，其中所述I2C匯流排測試方法還包括將所述二進位資料與預設之參數做比較之步驟，如果所述波形攜帶之資料與預設之參數相符，則所述波形合格，否則所述波形不合格。
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