TW201437905A - 自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置及方法 - Google Patents
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Abstract
一種自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置及方法，顯示裝置包括觸摸按鍵模組、控制晶片以及顯示模組。控制晶片與觸摸按鍵模組電連接，用以將觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度。控制晶片包括OSD晶片，OSD晶片與顯示模組電連接，用以控制訊雜比和靈敏度顯示在OSD選單中。顯示模組與控制晶片電連接，用以顯示控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。本發明將觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度並可顯示到OSD選單中，使得操作人員能夠通過OSD選單顯示的訊雜比和靈敏度直觀的讀取到觸摸按鍵之資訊，以便進行相應操作。
Description
本發明是有關於一種具觸摸按鍵的顯示裝置，且特別是有關於一種自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置及方法。
觸摸按鍵越來越多被應用在各種顯示裝置中，逐漸取代普通機械按鍵，但觸摸按鍵的靈敏度參數設定及驗證步驟非常複雜。在現有技術中，測試時需要將觸摸按鍵模組從顯示裝置上拆下來並電連接到測試治具，再將測試治具電連接到電腦上，然後通過電腦來讀取觸摸按鍵的按鍵值和軟體預設觸發值，用來判定觸摸按鍵的按鍵值之設計是否在設計裕度內。此種測試方法操作過於複雜，且無法在顯示裝置整機中讀取按鍵值，存在較大的品質隱患。
在現有技術中還沒有一種能夠簡易的、快捷的、精確的、直觀的檢測觸摸按鍵狀態的方法及相關的顯示裝置產品，造成效率降低以及品質的隱患。現有技術存在以下缺點：
（1）觸摸按鍵設計階段無法直觀判定按鍵值之設計是否在設計裕度內；
（2）觸摸按鍵信賴性實驗依靠人為操作來判定，存在無法預知的風險；
（3）在具觸摸按鍵的顯示裝置生產中無法獲得觸摸按鍵的製程能力；
（4）終端市場售後服務時無法判定不良模組，無法便捷維修。
（1）觸摸按鍵設計階段無法直觀判定按鍵值之設計是否在設計裕度內；
（2）觸摸按鍵信賴性實驗依靠人為操作來判定，存在無法預知的風險；
（3）在具觸摸按鍵的顯示裝置生產中無法獲得觸摸按鍵的製程能力；
（4）終端市場售後服務時無法判定不良模組，無法便捷維修。
本發明的目的在提出一種自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置及方法，可改善現有技術存在的缺點。
為達到上述目的，本發明提出一種自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，包括：
一觸摸按鍵模組，包括多個觸摸按鍵；
一控制晶片，與該觸摸按鍵模組電連接，用以將該觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比（signal-to-noise ratio）和靈敏度（sensitivity）；以及
一顯示模組，與該控制晶片電連接，用以顯示該控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。
一觸摸按鍵模組，包括多個觸摸按鍵；
一控制晶片，與該觸摸按鍵模組電連接，用以將該觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比（signal-to-noise ratio）和靈敏度（sensitivity）；以及
一顯示模組，與該控制晶片電連接，用以顯示該控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。
在本發明之顯示裝置之一實施例中，該控制晶片包括一螢幕顯示（on-screen display，OSD）晶片，該OSD晶片與該顯示模組電連接，用以控制訊雜比和靈敏度顯示在該顯示裝置的OSD選單（menu）中。
在本發明之顯示裝置之一實施例中，該顯示裝置還包括一電源模組，該電源模組用以為該顯示裝置供電。
在本發明之顯示裝置之一實施例中，該觸摸按鍵模組通過內部積體電路（inter-integrated circuit，I2C）協議與該控制晶片通訊。
在本發明之顯示裝置之一實施例中，觸摸按鍵值包括該觸摸按鍵模組偵測到的按鍵訊號的最大值和雜訊值。
在本發明之顯示裝置之一實施例中，訊雜比等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值。
本發明還提出一種自動檢測觸摸按鍵狀態的方法，包括：
提供一控制晶片，該控制晶片與一觸摸按鍵模組電連接，用以將該觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度；以及
提供一顯示模組，該顯示模組與該控制晶片電連接，用以顯示該控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。
提供一控制晶片，該控制晶片與一觸摸按鍵模組電連接，用以將該觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度；以及
提供一顯示模組，該顯示模組與該控制晶片電連接，用以顯示該控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。
在本發明之方法之一實施例中，該觸摸按鍵模組通過I2C協議與該控制晶片通訊。
在本發明之方法之一實施例中，觸摸按鍵值包括該觸摸按鍵模組偵測到的按鍵訊號的最大值和雜訊值。
在本發明之方法之一實施例中，訊雜比等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值。
本發明通過對現有顯示裝置進行技術創新，將觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度，通過控制晶片的OSD晶片顯示到顯示裝置的OSD選單，如工廠模式之OSD選單（簡稱工廠選單），這樣使操作人員能夠通過工廠選單顯示的訊雜比和靈敏度直觀的讀取到觸摸按鍵之資訊，以便進行相應操作。例如，在初期研發階段，操作人員能夠很容易通過工廠選單顯示的訊雜比和靈敏度來做設計審查，避免人為操作判定以及通過外部的測試治具來讀取的風險，同時提升效率；同時，能夠改善具觸摸按鍵的顯示裝置生產的製程能力，提升觸摸按鍵的市場品質，以及便捷的市場維護。
1．．．觸摸按鍵模組
2．．．控制晶片
3．．．顯示模組
4．．．OSD晶片
5．．．電源模組
圖1為根據本發明一實施例之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置之系統方塊圖。
為使本發明之上述和其他目的、特徵和優點更加清楚明白，以下將通過具體實施例和相關圖式，對本發明作進一步詳細說明。
請參見圖1，其為根據本發明一實施例之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置之系統方塊圖。本發明之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置包括觸摸按鍵模組1、控制晶片2以及顯示模組3。觸摸按鍵模組1包括多個觸摸按鍵。控制晶片2與觸摸按鍵模組1電連接，用以將觸摸按鍵模組1偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度。顯示模組3與控制晶片2電連接，用以顯示控制晶片2換算出來的訊雜比和靈敏度。在本實施例中，控制晶片2包括OSD晶片4，OSD晶片4與顯示模組3電連接，用以控制訊雜比和靈敏度顯示在顯示裝置的OSD選單中。顯示裝置還包括電源模組5，電源模組5用以為顯示裝置供電，即電源模組5可為觸摸按鍵模組1、控制晶片2以及顯示模組3供電。
在本發明之顯示裝置之一實施例中，控制晶片2可包括微控制器（microcontroller unit，MCU）晶片、或集成有MCU的縮放器（scaler）晶片。觸摸按鍵模組1可通過I2C協議與控制晶片2通訊。觸摸按鍵值可包括觸摸按鍵模組1偵測到的按鍵訊號的最大值和雜訊值。訊雜比可等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度可等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值，其中，預設觸發值例如設定為128。
本發明還提出一種自動檢測觸摸按鍵狀態的方法，可適用於如圖1所示之顯示裝置，但並不僅限於此應用。本發明之自動檢測觸摸按鍵狀態的方法包括：
提供控制晶片2，其中，控制晶片2與觸摸按鍵模組1電連接，用以將觸摸按鍵模組1偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度；以及
提供顯示模組3，其中，顯示模組3與控制晶片2電連接，用以顯示控制晶片2換算出來的訊雜比和靈敏度。
提供控制晶片2，其中，控制晶片2與觸摸按鍵模組1電連接，用以將觸摸按鍵模組1偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度；以及
提供顯示模組3，其中，顯示模組3與控制晶片2電連接，用以顯示控制晶片2換算出來的訊雜比和靈敏度。
在本發明之方法之一實施例中，觸摸按鍵模組1可通過I2C協議與控制晶片2通訊。觸摸按鍵值可包括觸摸按鍵模組1偵測到的按鍵訊號的最大值和雜訊值。訊雜比可等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度可等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值，其中，預設觸發值例如設定為128。
綜上所述，本發明將觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值通過I2C協議發送到控制晶片，由控制晶片中的軟體將觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度（訊雜比等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值），再由控制晶片的OSD晶片控制訊雜比和靈敏度顯示到顯示裝置的OSD選單，如工廠選單，使得操作人員能夠通過工廠選單顯示的訊雜比和靈敏度直觀的讀取到觸摸按鍵之資訊，以便進行相應操作。例如，在初期研發階段，操作人員能夠很容易通過工廠選單顯示的訊雜比和靈敏度來做設計審查，避免人為操作判定以及通過外部的測試治具來讀取的風險，同時提升效率；同時，能夠改善具觸摸按鍵的顯示裝置生產的製程能力，提升觸摸按鍵的市場品質，以及便捷的市場維護。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
1．．．觸摸按鍵模組
2．．．控制晶片
3．．．顯示模組
4．．．OSD晶片
5．．．電源模組
Claims (10)
- 一種自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，包括：
一觸摸按鍵模組，包括多個觸摸按鍵；
一控制晶片，與該觸摸按鍵模組電連接，用以將該觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度；以及
一顯示模組，與該控制晶片電連接，用以顯示該控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。 - 如申請專利範圍第1項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，其中，該控制晶片包括一螢幕顯示晶片，該螢幕顯示晶片與該顯示模組電連接，用以控制訊雜比和靈敏度顯示在該顯示裝置的螢幕顯示選單中。
- 如申請專利範圍第1項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，其中，該顯示裝置還包括一電源模組，該電源模組用以為該顯示裝置供電。
- 如申請專利範圍第1項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，其中，該觸摸按鍵模組通過內部積體電路協議與該控制晶片通訊。
- 如申請專利範圍第1項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，其中，觸摸按鍵值包括該觸摸按鍵模組偵測到的按鍵訊號的最大值和雜訊值。
- 如申請專利範圍第5項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的顯示裝置，其中，訊雜比等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值。
- 一種自動檢測觸摸按鍵狀態的方法，包括：
提供一控制晶片，該控制晶片與一觸摸按鍵模組電連接，用以將該觸摸按鍵模組偵測到的觸摸按鍵值換算成訊雜比和靈敏度；以及
提供一顯示模組，該顯示模組與該控制晶片電連接，用以顯示該控制晶片換算出來的訊雜比和靈敏度。 - 如申請專利範圍第7項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的方法，其中，該觸摸按鍵模組通過內部積體電路協議與該控制晶片通訊。
- 如申請專利範圍第7項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的方法，其中，觸摸按鍵值包括該觸摸按鍵模組偵測到的按鍵訊號的最大值和雜訊值。
- 如申請專利範圍第9項所述之自動檢測觸摸按鍵狀態的方法，其中，訊雜比等於按鍵訊號的最大值和雜訊值的比值，靈敏度等於按鍵訊號的最大值和預設觸發值的比值。
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2013
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| CN109271076A (zh) * | 2018-09-05 | 2019-01-25 | 苏州佳世达电通有限公司 | 屏幕显示菜单的控制方法及其系统 |
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