TW201416657A - 測試監控系統及方法 - Google Patents

Abstract

一種測試監控系統，運行於控制裝置中，該控制裝置與測試裝置、攝像裝置及測試平臺連接，該系統包括：設置模組，用於構建座標系，並設置待測裝置在測試平臺上的多個正常測試位置；控制模組，用於改變該待測裝置的位置或者角度；影像獲取模組，用於從所述攝像裝置處獲取所述待測裝置的影像；影像識別模組，用於根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移；及預警模組，用於在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示。本發明還提供一種測試監控方法。

Description

測試監控系統及方法

本發明涉及測試控制技術，尤其涉及一種測試監控系統及方法。

通常，在測試實驗室中對待測裝置進行測試時，需要將該待測物放置於一個測試平臺進行測試，且測試過程中往往需要藉由移動該測試平臺或者移動該待測物的位置進行測試。例如，在測試待測裝置的電磁輻射時，需要令該測試平臺進行360度的轉換，以測試該待測裝置在不同位置不同頻段的電磁輻射值。又如，在測量產品是否符合設計規範時，需要移動或轉動該產品以進行全面的測量。

然而，在測試中有可能使得該待測物的位置出現偏差，從而影響實際的測試結果。

鑒於以上內容，有必要提供一種測試監控系統及方法，可識別待測物在測試過程中的位置是否發生偏移，並在該待測物的位置發生偏移時進行預警。

一種測試監控系統，運行於控制裝置中，該控制裝置與測試裝置、攝像裝置及測試平臺連接，所述測試平臺上放置有待測裝置，該系統包括：設置模組，用於構建座標系，並依據該座標系設置所述待測裝置在所述測試平臺上的多個正常測試位置；控制模組，用於在測試開始後改變所述待測裝置的位置或者角度；影像獲取模組，用於從所述攝像裝置處獲取所述待測裝置的影像；影像識別模組，用於根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移；及預警模組，用於在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示。

一種測試監控方法，運行於控制裝置中，該控制裝置與測試裝置、攝像裝置及測試平臺連接，所述測試平臺上放置有待測裝置，該方法包括如下步驟：構建座標系；依據該座標系設置所述待測裝置在所述測試平臺上的多個正常測試位置；在測試開始後改變所述待測裝置的位置或者角度；從所述攝像裝置處獲取所述待測裝置的影像；根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移；及在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示。

相較於習知技術，所述的測試監控系統及方法，可識別待測物在測試過程中的位置是否發生偏移，並在該待測物的位置發生偏移時進行預警，從而確保測試結果的準確性。

如圖1所示，是本發明測試監控系統的較佳實施方式的運行環境圖。所述的測試監控系統10應用於控制裝置1中，該控制裝置1與多個測試裝置2相連接，從而實現遠端控制多個測試裝置2對待測裝置進行相關測試，並獲取測試結果。

所述的多個測試裝置2可以放置在多個實驗室中，也可以放置在一個實驗室中測試相同或不同的裝置，所述的控制裝置1可以放置在控制室中，以對各個測試裝置2進行遠端控制。如圖1所示的運行環境圖僅為舉例說明，實際應用中並不局限於此，所述控制裝置1及多個測試裝置2可以根據實際的測試需求進行排配。所述的控制裝置1可以是電腦、伺服器等裝置。所述的多個測試裝置2可以是各種類型的測試裝置、測試機台或電腦等裝置。所述的待測裝置可以是電子裝置或其他類型的待測物品。

每個測試裝置2可以與一個測試平臺20相連接，該測試平臺20也可以是測試裝置2的一部分。所述測試平臺20可用於放置待測裝置，該測試平臺20可以進行轉動或移動，以便於所述測試裝置2對待測裝置的不同位置進行相關的測量。例如，在測試電子裝置（待測裝置）的電磁輻射時，所述測試平臺20可以進行預定角度（例如，360度）的旋轉以測試該電子裝置在不同角度的測試信號。

此外，每個測試裝置2還與一個或者多個攝像裝置22（圖1中僅示出一個）相連接，所述的攝像裝置22可以是攝像頭或者其他拍攝影像、視頻的裝置。所述的攝像裝置22用於根據預設條件拍攝影像或視頻，例如，所述的攝像裝置22可以用來拍攝測試過程，待測裝置的狀況、測試結果等，在本較佳實施方式中，所述的攝像裝置22可根據預設條件拍攝待測裝置的位置，該預設條件可以是預設角度、預設拍攝時間間隔、拍攝的資料類型（例如，影像或者視頻等）、轉動角度、轉動速率、轉動間隔、轉動時間等。

例如，運用一個或者多個攝像裝置22，可以對放置在所述測試平臺20上的待測裝置的位置進行監控，如拍攝該待測裝置的影像以識別該待測裝置的位置。當待測裝置的位置發生了偏移時，測試資料或測試結果將會受到影響。

利用如上所述的各個裝置，在本較佳實施方式中，所述的測試監控系統10可以獲取不同的攝像裝置22所拍攝的資料（例如，影像或者視頻等），並識別所拍攝的資料以判斷待測裝置的位置是否發生偏移，並在待測裝置的位置發生了偏移後進行預警提示。

如圖2所示，是本發明測試監控系統的較佳實施方式的功能模組圖。所述控制裝置1還包括處理器11、儲存裝置12及顯示器13。

所述的處理器11用於執行所述測試監控系統10以及所述控制裝置1內安裝的各類軟體，例如作業系統等。所述的儲存裝置12，可以是所述控制裝置1的記憶體，還可以是可外接於該控制裝置1的儲存設備，如SM卡（Smart Media Card，智慧媒體卡）、SD卡（Secure Digital Card，安全數位卡）、移動硬碟等。所述的儲存裝置12用於儲存各類資料，例如，測試程式、測試參數、利用所述測試監控系統10設置、獲取的資料等資訊。

所述的顯示器13用於顯示各類視覺化資料，例如，測試過程、測試資料、所拍攝的影像等。

在本實施方式中，所述測試監控系統10包括多個功能模組，分別是：設置模組100、控制模組102、影像獲取模組104、影像識別模組106以及預警模組108。

所述的設置模組100，用於構建座標系，並依據該座標系設置所述待測裝置在所述測試平臺20上的多個正常測試位置。所述正常測試位置可藉由座標來進行設置。

例如，由於下文介紹的待測裝置在所述測試平臺20上的位置是利用所拍攝的影像進行識別的，該座標系可以是在獲取的影像基礎上進行構建，例如影像的圖元等。此外，還可根據其他測試需求或測試條件進行設置，例如，在所述顯示器13的某個點作為原點來構建特定的座標系。

所述設置模組100還可設置誤差範圍。

所述的控制模組102，用於在測試開始後改變所述待測裝置的位置或者角度。所述控制模組102可根據預設的控制參數控制待測裝置的位置發生變化，所述控制參數包括，但不限於：轉動角度、移動距離、速度、時間等。所述控制模組102可以藉由控制放置所述待測裝置的測試平臺20進行相關運動（例如，平移、旋轉等），還可藉由控制夾持該待測裝置的力臂等未示於圖中的工具控制待測裝置的位置。詳細介紹可參考下文的舉例說明。

所述的影像獲取模組104，用於從所述一個或多個攝像裝置22處獲取所述待測裝置的影像。若所述攝像裝置22所提供的是視頻片段，所述的影像獲取模組104可根據預設參數（例如，時間間隔、截取影像數量等）截取該視頻片段的部分影像作為後續識別的依據。

所述的影像識別模組106，用於根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移。在本較佳實施方式中，所述的影像識別模組106可基於座標系的基礎上對所述待測裝置的座標位置進行識別，並與正常測試位置的座標參數進行比對。詳細介紹可參考下文的舉例說明。

下文結合上述控制模組102、影像獲取模組104、影像識別模組106的功能進行舉例介紹。

在第一實施方式中，所述的設置模組100預先設置多個時間參數及多個對應於不同時間參數的正常測試位置，所述時間參數可自測試開始後進行及時，例如，所述的設置模組100設置測試開始15秒後待測裝置應該處於的正常測試位置的座標參數。

當所述控制模組102在測試開始後改變所述待測裝置或者測試平臺的位置時，例如，使該待測裝置或測試平臺進行水平移動或垂直移動等，所述的影像識別模組106根據所設置的時間參數選擇相應時間點拍攝的所述待測裝置的影像，識別影像中所述待測裝置的位置是否位於對應的正常測試位置，並在影像中所述待測裝置的位置未處於正常測試位置時確定所述待測裝置的位置發生偏移。

在第二實施方式中，所述的設置模組100設置的多個正常測試位置對應於所述測試平臺20的多個角度。所述的設置模組100依據如下方法設置所述待測裝置的正常測試位置：預設多個角度；獲取所述測試平臺20位於預設角度且所述待測裝置處於正常測試位置時的影像模板；在所述座標系的基礎上確定所述影像模板中待測裝置的正常測試位置的座標參數；以及關聯該正常測試位置的座標參數與預設角度。

當所述控制模組102在測試開始後改變所述待測裝置的角度時，例如旋轉該待測裝置所處於的測試平臺20，參考如圖3-圖5所示，所述待測裝置在測試過程中會進行旋轉，該旋轉可以藉由對測試平臺20的控制實現，還可藉由其他方式實現。

所述的影像識別模組106選擇所述測試平臺位於預設角度時的待測裝置的影像，識別影像中所述待測裝置的位置是否位於對應的正常測試位置，並在影像中所述待測裝置的位置未處於正常測試位置時確定所述待測裝置的位置發生偏移。

例如，所述的影像識別模組106在所述座標系的基礎上識別所選擇的影像中所述待測裝置的位置座標，對比該識別的位置座標與相應的正常測試位置的座標參數，並確定所述待測裝置的位置是否發生偏移。又如，在其他實施方式中，所述的影像識別模組106可以藉由圖片比對的方法來確定某個預設角度的影像模板與所選擇的影像，從而確定該待測裝置的位置是否發生偏移。

所述的預警模組108，用於在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示。所述預警模組108可藉由預先設置的多個預警方式進行預警，包括：閃燈、語音預警、在所述顯示器13上顯示預警資訊等方式或者上述方式的結合。

此外，在其他實施方式中，所述的控制裝置1還可以與通訊裝置（未示於圖中）連接，所述的預警模組108在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警指令至所述的通訊裝置，並根據該預警指令控制所述通訊裝置撥打預設號碼或發送預設資訊以提示用戶。

如圖6所示，是本發明測試監控方法的較佳實施方式的流程圖。首先，步驟S2，所述的設置模組100構建座標系，並依據該座標系設置所述待測裝置在所述測試平臺20上的多個正常測試位置。

步驟S4，開始測試後，所述的控制模組102改變所述待測裝置的位置或者角度。

步驟S6，所述的影像獲取模組104從所述一個或多個攝像裝置22處獲取所述待測裝置的影像。

步驟S8，所述的影像識別模組106根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移。若所述待測裝置的位置沒有發生偏移，流程返回至步驟S6。

若所述待測裝置的位置發生了偏移，於步驟S10，所述的預警模組108發出預警提示，然後，結束本流程。所述預警模組108可藉由預先設置的多個預警方式進行預警，包括：閃燈、語音預警、在所述顯示器13上顯示預警資訊等方式或者上述方式的結合。

最後應說明的是，以上實施方式僅用以說明本發明的技術方案而非限制，儘管參照較佳實施方式對本發明進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本發明的技術方案進行修改或等同替換，而不脫離本發明技術方案的精神和範圍。

1．．．控制裝置

10．．．測試監控系統

100．．．設置模組

102．．．控制模組

104．．．影像獲取模組

106．．．影像識別模組

108．．．預警模組

11．．．處理器

12．．．儲存裝置

13．．．顯示器

2．．．測試裝置

20．．．測試平臺

22．．．攝像裝置

圖1是本發明測試監控系統的較佳實施方式的應用環境圖。

圖2是本發明測試監控系統的較佳實施方式的功能模組圖。

圖3-圖5是本發明測試監控方法的較佳實施方式的測試平臺轉動示意圖。

圖6是本發明測試監控方法的較佳實施方式的流程圖。

1．．．控制裝置

10．．．測試監控系統

100．．．設置模組

102．．．控制模組

104．．．影像獲取模組

106．．．影像識別模組

108．．．預警模組

11．．．處理器

12．．．儲存裝置

13．．．顯示器

Claims (12)

1. 一種測試監控系統，運行於控制裝置中，該控制裝置與多個測試裝置、多個攝像裝置及測試平臺連接，所述測試平臺上放置有待測裝置，該系統包括：
   設置模組，用於構建座標系，並依據該座標系設置所述待測裝置在所述測試平臺上的多個正常測試位置；
   控制模組，用於在測試開始後改變所述待測裝置的位置或者角度；
   影像獲取模組，用於從所述攝像裝置處獲取所述待測裝置的影像；
   影像識別模組，用於根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移；及
   預警模組，用於在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示。
2. 如申請專利範圍第1項所述的測試監控系統：
   所述的設置模組設置多個時間參數及多個對應於不同時間參數的正常測試位置；
   所述的控制模組在測試開始後改變所述待測裝置或者測試平臺的位置；及
   所述的影像識別模組根據所設置的時間參數選擇相應時間點拍攝的所述待測裝置的影像，識別影像中所述待測裝置的位置是否位於對應的正常測試位置，並在影像中所述待測裝置的位置未處於正常測試位置時確定所述待測裝置的位置發生偏移。
3. 如申請專利範圍第1項所述的測試監控系統：
   所述的設置模組設置所述多個正常測試位置對應於所述待測裝置的多個角度；
   所述的控制模組在測試開始後改變所述待測裝置的角度；及
   所述的影像識別模組選擇所述待測裝置位於預設角度時的影像，識別影像中所述待測裝置的位置是否位於對應的正常測試位置，並在影像中所述待測裝置的位置未處於正常測試位置時確定所述待測裝置的位置發生偏移。
4. 如申請專利範圍第3項所述的測試監控系統，所述的設置模組依據如下方法設置所述待測裝置的正常測試位置：
   獲取所述待測裝置位於預設角度且處於正常測試位置時的影像模板；及
   在所述座標系的基礎上確定所述影像模板中待測裝置的正常測試位置的座標參數。
5. 如申請專利範圍第4項所述的測試監控系統，所述的影像識別模組在所述座標系的基礎上識別所選擇的影像中所述待測裝置的位置座標，對比該識別的位置座標與相應的正常測試位置的座標參數，並確定所述待測裝置的位置是否發生偏移。
6. 如申請專利範圍第1項所述的測試監控系統，所述的控制裝置還與通訊裝置連接，所述的預警模組在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警指令至所述的通訊裝置，並根據該預警指令控制所述通訊裝置撥打預設號碼或發送預設資訊以提示用戶。
7. 一種測試監控方法，運行於控制裝置中，該控制裝置與測試裝置、攝像裝置及測試平臺連接，所述測試平臺上放置有待測裝置，該方法包括如下步驟：
   構建座標系；
   依據該座標系設置所述待測裝置在所述測試平臺上的多個正常測試位置；
   在測試開始後改變所述待測裝置的位置或者角度；
   從所述攝像裝置處獲取所述待測裝置的影像；
   根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移；及
   在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示。
8. 如申請專利範圍第7項所述的測試監控方法，若測試開始後改變所述待測裝置或者測試平臺的位置，該方法還包括：
   設置多個時間參數及多個對應於不同時間參數的正常測試位置；
   根據所設置的時間參數選擇相應時間點拍攝的所述待測裝置的影像；及
   識別影像中所述待測裝置的位置是否位於對應的正常測試位置，並在影像中所述待測裝置的位置未處於正常測試位置時確定所述待測裝置的位置發生偏移。
9. 如申請專利範圍第7項所述的測試監控方法，若測試開始後改變所述待測裝置的角度，該方法還包括：
   選擇所述待測裝置位於預設角度時的影像，其中，所述預設角度對應所設置的正常測試位置；及
   識別影像中所述待測裝置的位置是否位於對應的正常測試位置，在影像中所述待測裝置的位置未處於正常測試位置時確定所述待測裝置的位置發生偏移。
10. 如申請專利範圍第9項所述的測試監控方法，所述正常測試位置藉由如下步驟進行設置：
    獲取所述待測裝置位於預設角度且處於正常測試位置時的影像模板；及
    在所述座標系的基礎上確定所述影像模板中待測裝置的正常測試位置的座標參數。
11. 如申請專利範圍第10項所述的測試監控方法，所述的根據預設的正常測試位置判斷影像中所述待測裝置的位置是否發生偏移的步驟包括：
    在所述座標系的基礎上識別所選擇的影像中所述待測裝置的位置座標，對比該識別的位置座標與相應的正常測試位置的座標參數，並確定所述待測裝置的位置是否發生偏移。
12. 如申請專利範圍第7項所述的測試監控方法，所述的控制裝置還與通訊裝置連接，所述的在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警提示的步驟包括：
    在所述待測裝置的位置發生偏移時發出預警指令至所述的通訊裝置，並根據該預警指令控制所述通訊裝置撥打預設號碼或發送預設資訊以提示用戶。