TW201307827A - 光傷害的量測機構以及光傷害物質的量化方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種在試管內(in vitro)精確評估受測物質對從紫外線區域至近紅外線區域之波長帶光線的光線抑制性能用之新型評估裝置。本發明之光線抑制性能評估裝置係使用標準物質評估受測物質之光線抑制性能用的裝置，且具有：光線透過率檢測機構，其具備紫外可見近紅外分光光度計、及積分球；第一光線透過性玻片，其用於放置受測物質及標準物質之各測定試劑；第二光線透過性玻片，其用於夾著各測定試劑；及玻片保持器，其用於固定前述第一及第二玻片，使各測定試劑之厚度均勻；第一玻片具有用於劃分各測定試劑之放置區域的溝槽。
Description
本發明係關於一種光線抑制性能評估裝置，及使用該評估裝置測定受測物質之光線抑制率的方法。
為了防止光線傷害皮膚，已開發出具有光線抑制性能的各種化妝品及製劑等，不過以試管內評估光線抑制性能的方法尚未確立。
例如，顯示阻擋日曬(Sun screen)效果之化妝品的紫外線抑制效果，是以Sun Protection Factor(以下稱為SPF)或是Protection grade of UVA(以下稱為PA)來表示。其中的SPF是以目視判定因中波長紫外線(UVB)引起皮膚急性發炎，而產生之紅斑的方法。此外，PA是以目視判定因長波長紫外線(UVA)使黑色素逐漸增加，膚色黑化程度的方法。
其中前者的SPF也稱為防曬指數或紫外線防禦係數，這是按照2006年歐洲、美國、南非、日本化妝品工業會協議的國際SPF試驗法2006，作人體試驗，在背部照射人工紫外線，以目視判定紅斑(發炎導致發紅)者，且作為國際性標準規格。
但是，上述這種對受測者照射紫外線的方法，會對受測者造成過度負擔。此外，也有皮膚發紅之判定終究是主觀性評估的問題。
另外，後者之PA也存在與上述同樣之問題。
因而，需要確立不使用人體為受測者，可客觀性評估紫
外線傷害皮膚之評估方法(試管內試驗法)。
此外，過去特別重視光線中之紫外線對皮膚的傷害，不過最近已有人提出長時間暴露於接近可見光線之近紅外線(波長約800~2,500nm)的問題。例如專利文獻1中曾報告會開始產生皮膚紅斑、水泡、肥大、肌肉組織萎縮等皮膚傷害。再者，也有近紅外線會導致肌肉組織萎縮(非專利文獻1)的報告，而成為嚴重的問題。
紫外線佔太陽光能之比率頂多6~7%程度，而近紅外線所佔之比率為50%以上，其影響力極大。而且長波長之近紅外線對皮膚之透過性高，具有穿透到深處，吸收皮膚組織內之血紅蛋白及水分等的性質。過去是利用此種近紅外線特有之性質，作為無X射線之高度安全性裝置，而開發出各種裝置(靜脈認證、腦血流測定、乳房診斷機、光干擾斷層影像診斷裝置等)。但是，考慮到上述近紅外線對人體的嚴重不良影響，應儘早確立可正確評估除紫外線之外，也包含近紅外線之光線對皮膚傷害影響的評估方法(試管內試驗法)。
[專利文獻1]國際公開第2009/017104號手冊
[非專利文獻1]Tanaka Y,Matsuo K,Yuzuriha S.；Long-Lasting Muscle Thinning Induced by Infrared Irradiation Specialized with Wavelengths and Contact Cooling；A Preliminary Report.cPlasty.；
2010；10：c 40
如上述，保護身體上最大隔離層之皮膚，避免遭受太陽光能之傷害的重要意義為開發出除了謀求紫外線對策之外，還能防止佔太陽光一半程度之近紅外線的化妝品或製劑等。因而，應確立可精確評估包含紫外線之光線抑制性能的方法。
如前述，雖然對於紫外線已經確立SPF及PA之使用人體皮膚的紫外線抑制性能評估基準，但是因為近紅外線的不良影響是最近剛剛發現的問題，所以並無用於評估近紅外線之抑制性能的有效評估基準。此外，對於紫外線也僅確立了使用人體皮膚之方法，若考慮到對人體的負擔及欠缺客觀性等方面時，絕不能說是一種適當的方法。
本發明係鑑於上述情況者，其目的為提供一種用於以試管內精確評估受測物質對光線(從紫外線區域至近紅外線區域之波長帶光線)之光線抑制性能的新型評估裝置及評估方法。
可解決上述問題之本發明的光線抑制性能評估裝置的要旨為：係使用標準物質評估受測物質之光線抑制性能用的裝置，且具有：光線透過率檢測機構，其具備紫外可見近紅外分光光度計、及積分球；第一光線透過性玻片，其用於放置受測物質及標準物質之各測定試劑；第二光線透過
性玻片，其用於夾著各測定試劑；及玻片保持器，其用於固定前述第一及第二玻片，使各測定試劑之厚度均勻；前述第一玻片具有用於劃分各測定試劑之放置區域的溝槽。
本發明之較佳實施形態中，上述裝置係以從紫外線區域至近紅外線區域之光線為對象者。
此外，可解決上述問題之本發明的測定受測物質之光線抑制率的方法，係使用上述評估裝置進行測定者。
本發明之較佳實施形態中，在指定範圍之波長帶的光線中，係依據下列公式測定受測物質對標準物質之抑制率。
受測物質對標準物質之抑制率(%)
=〔(將指定範圍之波長帶光線照射於受測物質時獲得的透過面積)/(將指定範圍之波長帶光線照射於標準物質時獲得的透過面積)〕×100
本發明之較佳實施形態中，指定範圍之波長帶光線係紫外線區域、UVA區域、UVB區域、UVC區域、近紅外線區域的其中之一。
本發明之較佳實施形態中，前述標準物質係使用不含光線抑制性能成分之半固態劑，前述受測物質係使用含有光線抑制性能成分之半固態劑者。
本發明之較佳實施形態中，前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
採用本發明，可提供一種用於在試管內精確評估受測物質對從紫外線區域至近紅外線區域之光線的光線抑制性能之有效評
估裝置及評估方法。
本發明之一個特徵部分為在測定(評估)包含氧化鈦等光線抑制性能成分之測定試劑(受測物質)中的光線抑制性能[對不含光線抑制性能成分之標準物質(對照試劑)的光線抑制性能]時，並非如先前使用人體皮膚，而係採用試管內試驗方法，其使用具備紫外可見近紅外分光光度計(以下，有時簡稱為分光光度計)與積分球之光線透過率檢測機構。如本發明使用裝設積分球之分光光度計時，透過測定試劑之光，不論測定試劑之性狀(例如黏性程度等)及測定試劑中包含之各種成分(除光線吸收劑、光線散射劑等的光線抑制性能成分之外，還有油脂等添加成分等)等，均可藉由積分球將朝向多方向散射之光均勻聚光，所以可正確測量測定試劑中之光線透過量。
本發明之其他特徵部分為使用指定之玻片組(詳細內容說明於後，係包含第一光線透過性玻片、第二光線透過性玻片及玻片保持器之玻片組)。亦即，本發明在測定受測物質對標準物質之比(受測物質之光線抑制性能)時，係以將源於測定試劑之影響(例如黏性及延展程度等)、以及源於測定中使用之材料(製品)的影響(例如玻片之材質及厚度等)等抑制在最小限度，而可精確評估受測物質之光線抑制性能的方式，依此構築玻片組之結構的特徵。
具體而言，因為係在一個玻片(第一玻片)上放置受測物質與標準物質之待測定試劑，為了抑制源於測定試劑之
黏性等的測定試劑之厚度(光線透過方向之厚度)變動，以夾著上述各測定試劑之方式重疊第二玻片，且使用固定上述第一及第二玻片用之玻片保持器(固定保持器)，所以使各測定試劑之厚度均勻(一定)，可高精度評估受測物質之光線抑制性能。
此外，本發明如上述係在一個玻片上放置測定對象之二種物質，不過，因為在玻片上放置各物質時，是以各物質之放置區域不致混合(劃分放置區域)的方式，而在玻片上形成適切之溝槽，所以亦可確實避免此種問題。
以下，參照圖1及圖2，就本發明之評估裝置及使用該評估裝置之測定方法詳細作說明。
(1)評估裝置
如上述，本發明之評估裝置的特徵為：係使用標準物質評估受測物質之光線抑制性能用的裝置，且具有：(A)具備紫外可見近紅外分光光度計、及積分球之光線透過率檢測機構；(B)用於放置受測物質及標準物質之各測定試劑的第一光線透過性玻片(以下，有時將光線透過性玻片簡稱為「玻片」)；用於夾著各測定試劑之第二光線透過性玻片；及用於固定前述第一及第二玻片，使各測定試劑之厚度均勻的玻片保持器(以下，有時合併此等而稱為「玻片組」)；前述第一玻片具有用於劃分各測定試劑之放置區域的溝槽。
圖1係本發明之評估裝置的概要之說明圖。本測量裝置包含投光器(1-a)及積分球(1-c)的受光感測器(1-b)之
光路部份，構成玻片保持器(1-d)，在此受測物質(3-b)和標準物質(3-a)放在第一玻片上，用第2玻片(2-e)夾住試劑測量，並插入專用玻片保持器(1-d)側量。玻片保持器側面圖(1-f)中，用2片玻片夾住試劑，在玻片保持器中，用玻片夾(1-e)固定。如圖1所示，從投光器(光源)照射之光線透過第二玻片，並透過放置於第一玻片之受測物質及標準物質的各測定試劑。在各測定試劑之玻片保持器側設置用於調節測定試劑之厚度的間隔物。透過此等測定試劑之光線經由積分球而射入紫外可見近紅外分光光度計，來測定光線之透過率。
圖2係顯示最具本發明特徵之玻片組的一種實施形態的結構圖。標準物質(3-a)及受測物質(3-b)放置第一玻片(2-a)的各種測定試劑的放置領域上，並用第2玻片(2-e)挾住。此時，2片玻片挾住的間隔(2-d)寬度，因多餘物質與測定試劑放置領域相連接，又與切割溝槽(2-b)相通，可將多餘物排掉，絕不會混合。玻片組係由用於放置受測物質及標準物質之各測定試劑的第一光線透過性玻片；用於夾著各測定試劑之第二光線透過性玻片；及固定第一及第二玻片，使各測定試劑之厚度均勻用的玻片保持器而構成。圖2係顯示本發明較佳之例者，不過並非限定於該結構之意思。
(玻片)
用於本發明之第一及第二玻片並無特別限定，只要是通
常用於紫外可見近紅外分光光度計者即可，例如玻片之材質並無特別限定，只要是光線透過性者，且分光光度計可在紫外線區域[UVA(約320~300nm)、UVB(約280~320nm)、UVC(約200~280nm)]及近紅外線區域(約800~2,500nm)中測定即可，例如，除石英製之外，亦可使用玻璃製、丙烯樹脂、聚苯乙烯樹脂、聚烯烴系樹脂等樹脂製者。此等可使用市售品。本發明如後述，因為將受測物質對於在同一玻片上之標準物質的相對值作為受測物質之光線抑制率來評估，不僅可消除測定試劑間之厚度問題等，關於玻片之材質，即使使用透過率比石英低者(例如玻璃製或樹脂性等)，仍可以良好靈敏度測量。
此等之中，石英玻片可使用於從紫外線至近紅外線的寬廣光線測定，例如，以東興理興(股份有限公司)製之T13-R002等為例。測量UVC情況下使用石英製者。此外，亦可使用透過性比石英製稍低之玻璃製及樹脂製的玻片，關於玻璃製玻片，例如以松浪玻璃工業社製之Super Frost玻片、Basic Frost玻片、偏光顯微鏡用玻片、NEO白緣磨SO313、礦物用白色緣磨No.1等；武藤化學(股份有限公司)製之Star Frost白色緣磨6106等為例。此等市售品如尺寸為約26mm×76mm之長方形尺寸者時，厚度：約0.8~1.0mm程度，平面度為0.010mm(JIS R 3702試驗法)、為折射率1.5以上之透過率非常高者。
此外，關於上述樹脂製之玻片，例如，丙烯系樹脂、聚苯乙烯系樹脂、聚烯烴系樹脂等透過性優異，此等可使用
市售品。例如關於PMMA(甲基丙烯酸酯)樹脂，如有ACRYLITE N549-000(三菱RAYON(股份有限公司))等；關於甲基丙烯酸樹脂，如有SUMIPEX010(住友化學(股份有限公司))等；關於聚烯烴系樹脂，如有三井化學(股份有限公司)之甲基戊烯聚合物(TPX)等。更具體而言，關於玻片製作用樹脂，可使用as-1(股份有限公司)社製之聚苯乙烯製Dispo Cell(BRA759007)、PMMA(甲基丙烯酸酯)Dispo Cell(BRA759106)等製作樹脂製之玻片。其中，由於PMMA樹脂對波長280nm顯示約50%以上之透過性，對波長300nm顯示約80%以上之透過性，因此作為紫外線區域測量用之玻片比玻璃優異，所以建議採用。
第一及第二玻片宜使用相同材質者。若使用不同材質者時，將造成試劑之延展不均勻。
(溝槽)
第一玻片中放置受測物質及標準物質之各測定試劑，不過為了在第二玻片夾著此等之測定試劑時，各測定試劑之放置區域不致重疊(各測定試劑不致混合)，而形成可劃分放置區域之溝槽。藉由形成溝槽，例如，即使為流動性大之測定試劑，也不至於流出溝槽而侵入鄰接之其他測定試劑的放置區域。
總之，此種溝槽只須為可劃分各測定試劑之放置區域即可，可依使用之測定試劑的性狀等，適切控制溝槽之數量、形狀及尺寸等。
例如，圖2中顯示在各測定試劑之兩端各設1處溝槽之
例。此外，在圖3之上圖中，以包圍各測定試劑之各個周圍的方式形成有圓周狀之溝槽。第1玻片(2-a)上，為了排除多餘物質而切割溝槽的形狀，標準物質(3-a)和受測物質(3-b)的測定試劑放置領域(2-f)是圓形時，如圖示包圍切割同心圓狀的溝槽(2-g)。再者，第1玻片(2-a)溝槽切割方式的形狀，如溝槽形狀之例(2-h)所示，切割形狀，如U字形(2-i)、V字形(2-j)，及梯形(2-k)等，可任意選擇，而寬度(2-c)也可任意設定。不過，用於本發明之溝槽不限定於此等。例如圖2中係形成合計4個溝槽，不過至少在各測定物質的放置區域之間形成1個用於分割兩者之溝槽即可(亦即溝槽數為1個)，此種樣態亦包含於本發明之範圍內。
此外，圖3之下圖中，顯示可採用之溝槽的一種形狀例。如上述圖所示，溝槽之形狀(玻片深度方向之形狀)可採用U字狀、V字狀、方形等之任意形狀。
溝槽之深度並無特別限定，只須在不損害玻片之強度的範圍即可，大概宜為玻片厚度之約1/5~1/10以下。
就第一玻片上放置各測定試劑(標準物質及受測物質)之位置，在圖2中係顯示大致以等間隔排列各測定試劑之圖，不過並非限定於此之意思。總之以2片玻片(第一及第二玻片)夾住此等測定試劑時，只須會擠出之各多餘測定試劑不致混合即可。理想情形下，宜將測定試劑之任何一方或兩方設置於第一玻片之兩端，藉此多餘之試劑可排出
玻片之外。
此外，圖1係在各測定試劑之兩端(玻片保持器側)設有用於在玻片間形成一定之厚度，以調節測定試劑之厚度的間隔物。間隔物並無特別限定，只須為厚度薄且均勻之材質者即可，例如可使用玻璃罩(Cover Glass)或薄片(Film)等，理想情形下，宜使用與玻片相同材質者。間隔物之厚度考慮紅外線之透過力等，大概宜控制在200~10μm之範圍內。
另外，本發明並非將間隔物作為必須要件者，只要可調節測定試劑之厚度，亦可採用其他手段。例如以Manucure或樹脂塗料等均勻塗裝第一玻片及第二玻片之任何一方或兩方的兩端，來取代間隔物，或是亦可浸漬於樹脂塗料或硬化樹脂後乾燥以形成皮膜，藉此可在玻片間形成一定之厚度。
(玻片保持器)
用於本發明之玻片保持器係為了固定放置測定試劑之第一玻片與將其夾住用之第二玻片，使各測定試劑之厚度均勻。上述玻片保持器並無特別限定，只須為金屬製、樹脂製等者即可，例如可使用裝設於紫外．可見．近紅外光光度計之金屬製的薄片保持器等。
此處，所謂「測定試劑之厚度」，係在第一玻片上放置測定試劑時之厚度(夾在第一玻片與第二玻片間之測定試劑的厚度)，圖1中，相當於被箭頭(↓)與箭頭(↑)所夾著之區域。測定試劑之厚度，例如可藉由研磨玻片之測光部分等
而形成凹部，或是如圖1所示，在2片玻片兩側端夾住厚度均勻之間隔物等的方法而可任意調節。
如上述，以玻片保持器擠壓後之光線透過的試劑厚度(亦即，在第一玻片上放置測定試劑，並在其上重疊第二玻片，以玻片保持器擠壓時之試劑厚度)愈薄愈好，不過大概宜為200μm以下。以下有時僅簡稱為「試劑之厚度」。
本發明係使用具備積分球之紫外可見近紅外分光光度計，來測定測定試劑之透過率。
(積分球)
使用上述積分球係為了當紫外線或近紅外線等照射於測定試劑上時，將測定試劑中包含之多數成分造成的散射光予以聚光，聚集散射光並以球內擴散反射面反覆擴散與反射，而獲得均勻強度分佈之光。本發明藉由使用該積分球作為受光感測器，來測定全光束光量值。
(分光光度計)
上述分光光度計並無特別限定，只要係可測定包括紫外線區域~近紅外線區域之光線的透過率者即可，例如可使用島津製作所(股份有限公司)製之紫外．可見．近紅外分光光度計UV-3600、日本分光(股份有限公司)製之紫外可見近紅外分光光度V670等各種分光光度計。考慮測量之便利性等時，測定波長帶係200nm~2,500nm，且宜使用可同時實施受測物質與標準物質之測光的雙光束方式者。
(2)測定方法
其次，說明使用上述測定裝置測定受測物質之光線抑制
率(受測物質對標準物質之光線抑制率)的方法。
本發明之測定方法例如係使用含有氧化鈦等光線抑制性能成分之半固態劑作為受測物質(試驗物質)；例如使用不含該光線抑制性能成分之半固態劑作為標準物質(對照物質)，測定受測物質在指定範圍之波長帶光線(例如紫外線區域、UVA區域、UVB區域、UVC區域、近紅外線區域)中的光線抑制率(受測物質對標準物質之光線抑制率)者。
(關於測定試劑)
測定時首先調製各測定試劑。標準物質係化妝品及製劑之組合物中排除光線抑制性能成分(例如紫外線及近紅外線之吸附劑及反射劑)者，例如以製劑學上通常使用之基劑中加入添加成分者(例如在增黏多糖類中加入植物油脂、界面活性劑、防腐劑等者)為例。此外，受測物質例如為標準物質中加入光線抑制性能成分者。
上述光線抑制性能成分並無特別限定，例如亦可使用熟知之抑制劑(例如代表性之氧化鈦、氧化鋅等反射劑；Sebamed、甲氧肉桂酸辛基、二甲基PABA辛基、t-丁基甲氧基二苯醯甲烷等紫外線吸收劑)，或是亦可使用新開發之抑制劑。
測定試劑之劑型並無特別限定，只要係流動性者，亦可使用液體、半固體(半固態)、固體之任意劑型。例如亦可為水性或油性等液態劑，因為可以表面張力延展，所以可採用本發明之方法。後述之實施例因考慮大多製劑係具有固體與液體之中間狀態的半固態劑，而採用半固態劑者。
半固態劑例如可舉出軟膏劑、霜劑、凝膠劑等。
舉出本發明之適用例的一例，例如想評估紫外線抑制劑係使用氧化鈦時之抑制率時，準備包含氧化鈦之試劑(受測物質)與不含氧化鈦之試劑(標準物質)，藉由測定受測物質對標準物質之紫外線抑制率(詳細內容於後述)，可評估該受測物質之抑制性能。
或是，如後述之實施例所示，想調查氧化鈦之添加效果(濃度關連性)時，準備氧化鈦濃度不同之試劑(受測物質)與不含氧化鈦之試劑(標準物質)，藉由測定含有各氧化鈦濃度之受測物質對標準物質的紫外線抑制率，可進行評估。
不過，本發明絕無限定於此等樣態的意思，而可全般適用於包含光線抑制成分者。例如，不限定於如上述氧化鈦之反射劑，亦可使用於評估具有光線吸收性能之吸收劑、或評估添加反射劑與吸收劑兩者之製品等。
本發明中，依據以下公式測定受測物質在指定範圍之波長帶光線中對標準物質的抑制率。
受測物質對標準物質之抑制率(%)
=〔(將指定範圍之波長帶光線照射於受測物質時獲得的透過面積)/(將指定範圍之波長帶光線照射於標準物質時獲得的透過面積)〕×100
此處，所謂指定範圍之波長帶，例如紫外線區域(UV)係約200nm~400nm，UVC係約200nm~280nm，UVB係約280nm~320nm，UVA係約320nm~400nm。此外，近紅外
線區域(nIR)係約800nm~2,500nm。
測定將上述指定範圍之波長帶光線照射於受測物質時的透過面積時，波長之取樣間距只須依分光光度計的規格適切決定即可，不過大概宜約0.01nm~20nm，更宜約2~10nm。
此外，測定時，以單一光束進行光線之照射的情況，可藉由滑動式地移動玻片保持器，來分別測定標準物質與受測物質。此外，使用雙光束式等之分光光度計的情況，例如可藉由光程部(圖1之投光器)自動切換測定部位進行測定。
係將夾住試劑之玻片安裝於玻片保持器進行測試，以1個光程進行紫外線或近紅外線之照射的情況，可藉由滑動式地移動玻片保持器，進行標準試劑及受測試劑的測量。
考慮操作之簡便性等時，宜採用後者之樣態。
以下，舉出實施例更具體地說明本發明，不過本發明不受下述實施例之限制，亦可在可適合於前、後述之意思的範圍加以變更而實施，此等均包含於本發明之技術性範圍。
本製造例1製作了形成有圖2所示之溝槽的玻片。詳細而言，第一玻片係準備MATUNAMI白緣磨No.1玻片(76mm×26mm，厚度0.8mm~1.0mm)，其中使用PROXXON Mini Rooter Set(No.28600-BM)(股份有限公司Kiso Power Tool)，以連結玻片短邊側之方式，在測定試劑之放置區域的各個兩端形成2條溝槽。溝槽之深度係30~80μm，溝槽
之形狀係V字形。此外，測定試劑放置區域之寬(圖2中之箭頭部分)約2mm。
其次，在玻片之兩端(關於各測定試劑之放置區域，係玻片保持器側)，使用丙烯系接著劑接著MATUNAMI製玻璃罩(22mm×26mm，厚度0.12mm~0.17mm)，作為用於調節厚度之間隔物。
本製造例2製作了形成有圖3所示之溝槽的玻片。詳細而言，第一玻片係準備MATUNAMI白緣磨No.1玻片(76mm×26mm，厚度0.8mm~1.0mm)，其中使用PROXXON Mini Rooter Set(No.28600-BM，股份有限公司Kiso Power Tool)，以同心圓狀包圍各個測定試劑放置區域之方式製作溝槽。
其次，在玻片之兩端(關於各測定試劑之放置區域，係玻片保持器側)，使用丙烯系接著劑接著MATUNAMI製玻璃罩(22mm×26mm，厚度0.12mm~0.17mm)，作為用於調節厚度之間隔物。溝槽之深度係30~80μm，且係朝向底面切割成V字狀的形狀者。測定試劑放置區域之寬約2mm。
將下述原料加以配合、混合而調製成No.1的標準物質。數值單位均為質量%(以下相同)。
在上述No.1之標準物質中配合及混合0.4%氧化鈦調製成No.2之受測物質。詳細如下。
在上述No.1之標準物質中配合及混合1.1%氧化鈦調製成No.3之受測物質。詳細如下。
在上述No.1之標準物質中配合及混合1.7%氧化鈦調製成No.4之受測物質。詳細如下。
在上述No.1之標準物質中配合及混合2.3%氧化鈦調製成No.5之受測物質。詳細如下。
(實驗例1)
實驗例1係在製造例1之第一玻片中，於測定試劑放置區域的一方添加約100mg之No.1的標準物質(無氧化鈦)，在另一方放置區域無任何添加，用空氣填空，以夾住上述標準物質之方式設置第二玻片(素材與第一玻片相同，且不形成溝槽)，夾住附屬之薄片保持器(W80mm×H40mm)而將此等安裝於上述的分光光度計上。放置如上述獲得之第一玻片試劑，以卡尺測定將其以第二玻片夾住的試劑厚度(在第一玻片上放置測定試劑，在其上重疊第二玻片，以玻片保持器擠壓時的試劑厚度)。進行兩次同樣之操作後，試劑之厚度平均為2.175mm。
(實驗例2)
實驗例2係在製造例1之第一玻片中，於測定試劑放置區域的一方添加約100mg之No.1的標準物質(無氧化鈦)，在另一方放置區域添加同量之No.2的受測物質(氧化鈦
0.4%)，與前述實施例1同樣地製作玻片組，測定試劑之厚度。進行兩次同樣之操作後，試劑之厚度平均為2.176mm。
(實驗例3)
實驗例3係在製造例1之第一玻片中，於測定試劑放置區域的一方添加約100mg之No.1的標準物質(無氧化鈦)，在另一方放置區域添加同量之No.3的受測物質(氧化鈦1.1%)，與前述實施例1同樣地製作玻片組，測定試劑之厚度。進行兩次同樣之操作後，試劑之厚度平均為2.189mm。
(實驗例4)
實驗例4係在製造例1之第一玻片中，於測定試劑放置區域的一方添加約100mg之No.1的標準物質(無氧化鈦)，在另一方放置區域添加同量之No.4的受測物質(氧化鈦1.7%)，與前述實施例1同樣地製作玻片組，測定試劑之厚度。進行兩次同樣之操作後，試劑之厚度平均為2.186mm。
(實驗例5)
實驗例5係在製造例1之第一玻片中，於測定試劑放置區域的一方添加約100mg之No.1的標準物質(無氧化鈦)，在另一方放置區域添加同量之No.5的受測物質(氧化鈦2.3%)，與前述實施例1同樣地製作玻片組，測定試劑之厚度。進行兩次同樣之操作後，試劑之厚度平均為2.201mm。
關於上述實施例1~5，使用島津製作所製的紫外．可見．近紅外分光光度計UV-3600與附積分球大型試劑室MPC-3100，依據前述公式測定受測物質對標準物質之光線抑制率。以雙光束進行測光，波長取樣間距為2nm。此處係
測定在紫外線區域(UVA，320nm~400nm(UVA))、及近紅外線區域(nIR，800nm~2,500nm)的光線抑制率。
將此等結果顯示於圖4。圖4中，◆表示UV之結果，■表示nIR之結果。
從圖4瞭解使用本發明之測定方法時，可依氧化鈦濃度精確評估受測物質對標準物質之紫外線或近紅外線的抑制效果。
1-a‧‧‧投光器
1-b‧‧‧受光感測器
1-c‧‧‧積分球
1-d‧‧‧玻片保持器
1-e‧‧‧玻片夾
1-f‧‧‧玻片保持器側面圖
2-a‧‧‧第一玻片
2-b‧‧‧溝槽
2-c‧‧‧測定試劑放置區域
2-d‧‧‧蓋玻片(間隔物)
2-e‧‧‧第二玻片
3-a‧‧‧標準物質
3-b‧‧‧受測物質
圖1係本發明之光線抑制性能評估裝置的概要之說明圖。
圖2係本發明一種實施形態中使用之玻片組(Slide set)(第一玻片(2-a)轉移點、第二玻片(2-e)、玻片保持器(1-d))之放大圖。
圖3係顯示本發明一種實施形態中使用之溝槽的形態圖。
圖4係顯示實施例中氧化鈦量與光線抑制率之關係圖。
1-a‧‧‧投光器
2-e‧‧‧第二玻片
3-a‧‧‧標準物質
3-b‧‧‧受測物質
1-d‧‧‧玻片保持器
1-c‧‧‧積分球
2-a‧‧‧第一玻片
2-d‧‧‧蓋玻片(間隔物)
2-b‧‧‧溝槽
3-b‧‧‧受測物質
1-b‧‧‧受光感測器
1-e‧‧‧玻片夾
1-f‧‧‧玻片保持器側面圖
Claims (18)
- 一種光線抑制性能評估裝置，其特徵為：係使用一標準物質評估一受測物質，且具有：一光線透過率檢測機構，其具備一紫外光、可見光以及近紅外光之分光光度計及一積分球；一第一光線透過性玻片，其用於放置該受測物質及該標準物質之一測定試劑；一第二光線透過性玻片，其用於夾著該測定試劑；及一玻片保持器，其用於固定前述第一光線透過性玻片及該第二光線透過性玻片，使該測定試劑之厚度均勻；前述第一光線透過性玻片具有用於劃分該測定試劑之一放置區域的一溝槽。
- 如申請專利範圍第1項所述之光線抑制性能評估裝置，其係以從紫外線區域至近紅外線區域之光線為對象者。
- 一種測定受測物質之光線抑制率的方法，係使用請求項1或請求項2之評估裝置，用於測定該受測物質對該標準物質之光線抑制率。
- 如申請專利範圍第3項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其係依據下列公式測定在一指定範圍之波長的光線中，該受測物質對該標準物質之該光線抑制率，該受測物質對該標準物質之該光線抑制率(%)=〔(該指定範圍之波長光線照射於該受測物質所獲得的透過面積)/(該指定範圍之波長光線照射於該標準物質所獲得的透過面積)〕×100。
- 如申請專利範圍第3項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述指定範圍之波長光線係紫外線區域、UVA區域、UVB區域、UVC區域以及近紅外線區域的其中之一。
- 如申請專利範圍第4項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述指定範圍之波長光線係紫外線區域、UVA區域、UVB區域、UVC區域以及近紅外線區域的其中之一。
- 如申請專利範圍第3項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述標準物質係使用不含光線抑制性能成分之半固態劑，前述受測物質係使用含有光線抑制性能成分之半固態劑。
- 如申請專利範圍第4項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述標準物質係使用不含光線抑制性能成分之半固態劑，前述受測物質係使用含有光線抑制性能成分之半固態劑。
- 如申請專利範圍第5項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述標準物質係使用不含光線抑制性能成分之半固態劑，前述受測物質係使用含有光線抑制性能成分之半固態劑。
- 如申請專利範圍第6項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述標準物質係使用不含光線抑制性能成分之半固態劑，前述受測物質係使用含有光線抑制性能成分之半固態劑。
- 如申請專利範圍第3項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第4項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第5項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第6項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第7項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第8項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第9項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
- 如申請專利範圍第10項所述之測定受測物質之光線抑制率的方法，其中前述光線抑制性能成分係氧化鈦或氧化鋅。
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