TW201250203A - Testing device and testing method - Google Patents

Description

201250203 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 [0001]本發明涉及一種檢泗裝置及檢測方法。 【先前技術】 [0002]在各種電子消費品之機箱及各種組合件之製作過程當中 ，各個元件間要用到螺釘和各種拉鉚釘連接。為使螺釘 或鉚釘與組合件表面平面保持平滑’需檢測與之配合之 工件沈孔深度。一躱檢測裝置為預先製作一個與沈孔相 配合之辅助工件及〆個與所述辅助工件相配合之卡規’ 使得輔助工件之頂部與卡規相配合.，然後將輔助工件放 入沈孔中，卡規與工件之配合程度來顯現測試沈孔之深 度。但由於工件與之相配合之卡規之間將存在可能之縫 隙。使得工件沈孔之深度之檢測資料不精確°從而對工 件之品質產生影響’進而影響工件後續之加工使用。 【發明内容】 [0003] 鑒於以上情況，有必要提供一種能夠準域’快速量測沈 孔倒角深度之檢測聚置及檢測方法。 [0004] —種檢測裝置，用於檢測工件’包括固定部、支撐部以 及測試部。所述固定部包括定位導向塊’所述定位導向 塊用於與被測工件相配合，所述定位導向塊上還具有第 一孔。所述支撐部国定安裝在所述固定部上’所述支撐 部包括支稽塊，所述支撐塊内形成有收容孔，所述收容 孔與所述第一孔相互連通。所述測試部包括量測表及錐 形測頭，所述量測表包括表體及可相對於所述表體伸縮 運動之測試桿，所述測試桿收容於所述收容孔内，所述 1002033627-0 100119890 表單編號A0101 第5頁/共20頁 201250203 錐形測頭部分收容於所述收容孔内，部分收容於所述第 一孔内，所述測試桿與所述錐形測頭位於所述收容孔内 之一端相抵，所述錐形測頭與被測工件相抵觸，從而使 得所述測試桿產生伸縮，所述表體顯示所述測試桿伸縮 之數值。 [0005] 一種檢測方法，用於對工件上之沈孔倒角之深度檢測， 包括步驟：提供被測工件及檢測裝置；將所述被測工件 沈孔倒角開口所在之一個面與定位導向塊緊密接觸，將 所述錐形測頭伸入所述被測工件之沈孔倒角至所述待測 工件與所述沈孔倒角之内壁接觸，所述錐形測頭之移動 帶動所述測試桿產生伸縮，將此時所述量測表之讀數裝 置讀數清零；將被測工件翻轉，使得翻轉後之所述被測 工件沈孔倒角開口所在之另一個面與所述定位導向塊緊 密接觸，將所述錐形測頭伸入所述被測工件之沈孔倒角 至所述待測工件與所述沈孔倒角之内壁接觸，所述錐形 測頭之移動帶動所述測試桿產生伸縮，此時所述表體顯 示所述測試桿伸縮之數值即為所述沈孔倒角之深度。 [0006] 與先前技術相比較，本技術方案中採用固定塊内嵌之磁 塊將被測工件與檢測裝置緊密接觸同時錐形測頭在被測 工件之伸縮量顯示在量測表上，本技術方案可更為牢靠 之固定被測工件，同時也能更精確檢測被測工件。 【實施方式】 [0007] 請參閱圖1，本技術方案實施例提供之檢測裝置10包括固 定部20、支撐部30及測試部40。 [0008] 請一併參閱圖1、圖2及圖3，固定部20包括一個定位導向 100119890 表單編號A0101 第6頁/共20頁 1002033627-0 201250203 Ο 塊21及兩塊磁塊22。所述定位導向塊21外觀呈長方體狀 。定位導向塊21具有相對之第一表面23和第二表面24。 定位導向塊21内形成有一個貫穿第一表面23和第二表面 24之第一孔26。第一孔26用於配合測試部40。自第一表 面23向定位導向塊21内部形成兩個凹槽25。兩俩凹槽25 位於第一孔26之兩侧。每個凹槽25用於收容一個磁塊22 。每個磁塊22和對應之一個凹槽25為過度配合。本實施 例中，磁塊22配合到凹槽25内部且並不凸出於定位導向 塊21。由於磁塊22之磁性，磁塊22用於與磁性金屬製作 之被測工件相互吸附，使得被測工件與定位導向塊21緊 密接觸。自第二表面24向定位導向塊21内部還形成有兩 個第一配合孔27。第一配合孔27用於配合支撐部30。本 實施例中，第一配合孔27和凹槽25之中心軸線重合，當 然第一配合孔27和凹槽25之中心軸線也可以不重合。 [0009] Ο 請參閱圖2及圖3，支撐部30固定在固定部20之第二表面 24上。支撐部30包括支撐塊31、兩個固定螺絲32及一個 螺桿33。支撐塊31包括主體部311及形成於主體部311相 對兩侧之凸塊36。主體部311之外觀也呈現長方體狀。主 體部311具有相對之第一端部34和第二端部35。第一端部 34與定位導向塊21之第二表面24相接觸。兩個凸塊36形 成於主體部311靠近第一端部34之一侧。每個凸塊36與第 二表面24相接觸。每個凸塊36上具有一個第二配合孔37 。每個第一配合孔27和每個第二配合孔37·--對應。每 個固定螺絲32對應和一個第一配合孔27及一個第二配合 孔37配合。固定螺絲32將支撐塊31固定在固定部20之定 100119890 表單編號Α0101 第7頁/共20 1 1002033627-0 201250203 位導向塊2i$笛_ + 弟〜表面24上。自主體部311第一端部34 至第—端部35形成有收容孔310，所述收容孔310包括依 人連通並且中心轴線重合之第-孔段301、第二孔段312 &第—孔段302 °其中，第-孔段301之孔徑與第三孔段 3〇2之孔從大致相等且大於所述第一孔26之孔徑，第二孔 段312之孔控小於第一孔段301和第三孔段302之孔徑。 在第一孔段301與第二孔段312連接處，具有第一環形面 313其暴露於第—孔段301—側。在第二孔段312與第三 孔>k3〇2連接處’具有第二環形面314暴露於第三孔段 302—側。支樓塊31還具有一個連接於第一端部34和第二 0 端部35之間之侧壁303，在側壁303上還形成有一個螺孔 304，螺桿33用於與螺孔3〇4配合，以固定測試部4〇。 [0010]凊參閱圖2與圖3，測試部4〇包括一個量測表41、彈簧42 、錐形測頭43及護套44 »量測表41包括一個表體47、 個固定套45和一個可伸縮之測試桿46，固定套45設置在 測試桿46之外壁並與表體47固定連接。測試桿46與表體 47内部相互連接，並可以伸缩移動。表體47能夠顯示夠 試桿46移動距離之讀數。在本實施例中，量測表41為百 〇 分表。錐形測頭43具有頂部48和尾部49。頂部48為錐狀 且錐角小於被測沈孔倒角，尾部49為柱狀。頂部48與被 測工件相接觸’容納於第一孔26内。錐形測頭43之頂部 48在第一孔26内自由滑動，頂部48之錐角小於被測工件 沈孔角度。尾部49容納於支撐塊31之第一孔段301内，尾 部49之半徑大於第一孔26之半徑以使得尾部49只在第一 孔段301運動。彈簧42容納於第一孔段3〇1中，並且彈簧 100119890 表單編號A0101 第8頁/共20頁 1002033627-0 201250203 42之一端與第〜 每形面3〗3相抵觸’彈簧42另一端盥銼裉 測頭43之尾部4 1、錐形 W相抵觸。護套44外觀呈圓筒狀。護套44 上還包括個沿著其延伸方向開設之缺口 441。護套^容 納於第二孔段3〇2遠離第二孔段312之一側，量測表4丨之 固定套45容置於護套44之中，螺桿33貫穿側壁303上之 螺孔3 0 4抵壓護套4 4 ’使得量測表41固定在支禮部3 〇内 0 [0011] ❹ 以下結合檢測裝置10之使用方法對其做進一步之詳細說 明。 [0012] 請結合圖4及圖5，提供一個被測工件50，工件具有_個 沈孔倒角51，將沈孔倒角51開口所在之其中—個表面與 定位導向塊21之第一表面23緊密接觸，當工件為磁性 ◎ 金屬件時，磁塊22吸附所述工件50將使得工件50與定位 導向塊21緊密接觸。當所測試工件為非磁性金屬件時採 用外力將定位導向塊21與工件50緊密接觸。將所述錐形 測頭43伸入所述被測工件之沈孔倒角51至所述待測工件 與所述沈孔倒角之内壁接觸’所述錐形測頭之移動帶動 所述測試桿產生伸縮’此時將量測表41之讀數裝置之讀 數清零’以此作為基準點。然後將被測工件5〇翻轉，使 得被測工件50之沈孔倒角51開口所在之另—表面與定位 導向塊21之第一表面23緊密接觸。錐形測頭43在彈簧 之形變作用下伸縮帶動量桿。將所述錐形測頭43伸入所 述被測工件之沈孔倒角51直至錐形測頭43與沈孔倒角51 之内壁之邊緣相接觸。此時量測表41上之讀數即為沈孔 倒角51之深度值。 100119890 表單蹁號A0101 第9頁/共20頁 1002033627-0 201250203 [0013] 本技術方案中採用定位導向塊内嵌之磁塊將被測工件與 檢測裝置緊密接觸同時通過錐形測頭之伸縮帶動測試桿 之移動’量測表即可顯杀被測工件之沈孔倒角之深度。 本技術方案可更為牢靠的固定被測工件，同時也能更精 確檢測被測工件沈孔倒角之深度值。 [〇〇14] 綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，爰依法提 出專利申請。惟，以上該者僅為本發明之較值實施方式 ，本發明之範圍並不以上述實施方式為限’舉凡熟悉本 案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化 〇 ，皆應涵蓋於以下申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 [0015] 圖1係本技術方案實施例提供之檢測裝置之立體圖。 [0016] 圖2係圖1沿II-II局部剖面圖。 [00Π] 圖3係本技術方案實施例提供之檢測裝置之，结構分解示意 圖。 [0018] 圖4係本技術方案實施例提供檢測農置之工作狀態示意圖 〇 之一。 [0019] 圖5係本技術方案實施例提供檢測裝置之工作狀態示意圖 之二。 【主要元件符號說明】 [0020] 檢測裝置：10 [0021] 固定部：20 [0022] 定位導向塊：21 100119890 表單編號A0101 第1〇頁/共20頁 1002033627-0 201250203 [0023]磁塊：22 [0024] 第一表面：2 3 [0025] 第二表面：24 [0026] 凹槽：25 [0027] 第一孔：26 [0028] 第一配合孔：2 7 [0029] 支撐部：30 U [0030] 支撐塊：31 [0031] 固定螺絲：32 [0032] 螺桿：33 [0033] 第一端部：34 [0034] 第二端部：35 [0035] ❹ 凸塊：36 [0036] 第二配合孔：37 [0037] 第一通孔：38 [0038] 第一孔段：301 [0039] 第二孔段：312 [0040] 第三孔段：302 [0041] 側壁：303 100119890 表單編號A0101 第11頁/共20頁 1002033627-0 201250203 [0042]收容孔：310 [0043] 主體部：311 [0044] 第一環形面：313 [0045] 第二環形面：314 [0046] 螺孔：304 [0047] 測試部：40 [0048] 量測表：41 [0049] 彈簧：42 [0050] 錐形測頭：43 [0051] 護套：44 [0052] 缺口 ： 441 [0053] 固定套：45 [0054] 測試桿：46 [0055] 表體：47 [0056] 頂部：48 [0057] 尾部：49 [0058] 工件：50 [0059] 沈孔倒角：51 100119890 表單編號A0101 第12頁/共20頁 1002033627-0

Claims (1)

1. 201250203 七、申請專利範圍： .種檢測裝置，用於檢測工件，包括： 固疋部’所述固定部包括定位導向塊，所述定位導向塊用 於與被測工件相配合，所述定位導向塊上還具有第-孔； 支樓部，所述支撐部固定安震在所述固定部上所述支務 ⑷包括支#塊’所述支樓塊内形成有收容孔，所述收容孔 與所述第一孔相互連通；

   〇 測試部，所述測試部包括量測表及錐形測頭，所述量剩表 匕括表體及可相對於所述表體伸縮運動之測試桿，所述測 試+ 于收谷於所述收容孔内，所述錐形測頭部分收容於所述 收各孔内’ 刀收容於所述第一孔内，所述測試桿與所述 雜形測頭位於所述收容孔内之—端相抵，所述錐形測頭與 被測工件相抵觸，從而使得所述測試桿產生伸縮，所述表 體顯示所述測試桿伸縮之數值。 •如申Μ專利範圍第1項所述之檢測裝置，其中，所述固定 邠還包括磁塊，所述磁塊收容於所述定位導向塊内，用於 與磁性工件相吸附。 申明專利範圍第2項所述之檢測裝置，其中，自所述定 位導向塊背向所述支擇部之表面向所述定位導向塊内部形 成有凹槽’所述凹槽用於收容所述磁塊，所述磁塊和對應 之凹槽為過度配合。 如 申睛專利範圍第丨項所述之檢測裝置，其巾，所述錐形 I:有部，所述_錐狀且錐角小於被測沈 孔倒角’所述頂部與被測工件相抵觸 所述尾部收容於所述收容孔内。 岍4尾部為柱狀， 100119890 表單編號A0101 第13頁/共20頁 1002033627-0 201250203 5 · 士申《月專利範圍第4項所述之檢測裝置，其中，所述收容 孔包括依-人連通並且中心轴線重合之第一孔段、第二孔段 及第二孔段，所述第-孔段之孔徑與所述第三孔段之孔徑 大致相等且大於所述第-孔之孔徑，所述第二孔段之孔徑 小於所述第-孔段和第三孔段之孔徑，在所述第一孔段與 第-孔段連接處具有第-環形面，所述第一環形面位於所 述第-孔段-侧’在所述第二孔段與第三孔段連接處具有 第〜環形面，所述第二環形面位於所述第三孔段一側，所 述錐形測頭之尾部收容於所述第一孔段内，所述錐形測頭 之尾部半徑大於所述第一孔之半徑從而使所述錐形測頭之 〇 尾部只在所述第一孔段運動。 6 .如申請專利範圍第5項所述之檢測裝置，其中，所述測試 部還包括彈簧’所述彈簧容納於所述第一孔段中，所述彈 簧之一端與所述第一環形面相抵觸，所述彈簧之另一端與 所述錐形測頭之尾部相抵觸。 7 ·如申請專利範圍第5項所述之檢測裝置，其中，所述測試 部還包括護套及固定套，所述護套容納於所述第三孔段並 遠離所述第二孔段之一側，所述固定套設置在所述測試桿 t) 之外壁旅與所述表體固定連接，所述固定套容置並固定於 所述護#之中’使得所述量測表固定在所述支撐部内。 8 *如申請專利範圍第7項所述之檢測裝置，其中，所述支撐 部還具有嫘桿，所述支撐塊具有側壁，在所述側壁上還形 成有螺孔，所述螺桿貫穿所述侧壁上之螺孔抵壓所述護套 ，使得所述量測表固定在所述支稽部内。 9 . 一種檢測方法，用於對工件上之沈孔倒角之深度檢測，包 100119890 括步驟： 表單編號A〇1Ql 第14頁/共20頁 1002033627-0 201250203 ' 提供被測工件及如專利申請範圍第1項所述之檢測裝置； 將所述被測工件沈孔倒角開口所在之一個面與定位導向塊 緊密接觸，將所述錐形測頭伸入所述被測工件之沈孔倒角 至所述待測工件與所述沈孔倒角之内壁接觸，所述錐形測 頭之移動帶動所述測試桿產生伸縮，將此時所述量測表之 讀數裝置讀數清零； 將被測工件翻轉，使得翻轉後之所述被測工件沈孔倒角開 口所在之另一個面與所述定位導向塊緊密接觸，將所述錐 形測頭伸入所述被測工件之沈孔倒角至所述待測工件與所 ^ 述沈孔倒角之内壁接觸，所述錐形測頭之移動帶動所述測 試桿產生伸縮，此時所述表體顯示所述測試桿伸縮之數值 即為所述沈孔倒角之深度。

   100119890 表單編號A0101 第15頁/共20頁 1002033627-0