[go: up one dir, main page]

TW201203589A - A method for forming a selective contact - Google Patents

A method for forming a selective contact Download PDF

Info

Publication number
TW201203589A
TW201203589A TW100106554A TW100106554A TW201203589A TW 201203589 A TW201203589 A TW 201203589A TW 100106554 A TW100106554 A TW 100106554A TW 100106554 A TW100106554 A TW 100106554A TW 201203589 A TW201203589 A TW 201203589A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
laser
doped
selective
contact
contact layer
Prior art date
Application number
TW100106554A
Other languages
English (en)
Inventor
Thierry Emeraud
Original Assignee
Excico Group Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Excico Group Nv filed Critical Excico Group Nv
Publication of TW201203589A publication Critical patent/TW201203589A/zh

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/062Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam
    • B23K26/0622Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam by shaping pulses
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F10/00Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/064Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
    • B23K26/066Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms by using masks
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
    • B23K26/06Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
    • B23K26/073Shaping the laser spot
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F10/00Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells
    • H10F10/10Individual photovoltaic cells, e.g. solar cells having potential barriers
    • H10F10/14Photovoltaic cells having only PN homojunction potential barriers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F71/00Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/10Semiconductor bodies
    • H10F77/12Active materials
    • H10F77/122Active materials comprising only Group IV materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/20Electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/20Electrodes
    • H10F77/206Electrodes for devices having potential barriers
    • H10F77/211Electrodes for devices having potential barriers for photovoltaic cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

201203589 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種用於使用雷射退火形成—光伏打電池 之一選擇性接觸的方法。 另外’本發明亦關於一種包含藉由該方法形成之一選擇 性接觸的光伏打電池。 【先前技術】 在習知光伏打電池製造中,發射極接觸形成含有三個主 要步驟,即:形成一發射極層,該發射極層為在塊狀矽基 板前面之相對較高摻雜層,該相對較高摻雜層具有不同於 塊狀矽基板之摻雜劑類型的摻雜劑類型;在該發射極層之 上形成一抗反射塗層(ARC);及經對準之金屬化。 如熟習此項技術者所已知,光伏打電池製造者為獲得較 高電池效能而開發了所謂的選擇性發射極技術。選擇性發 射極接觸含有在特定位置處展示不同摻雜等級及接面深度 之為給定類型之發射極層。在該發射極接觸中,僅重摻雜 位置將被金屬覆蓋且實現執行光產生電荷至外部電路之提 取所必要的接觸。因此’與具有完全覆蓋光伏打電池之前 側之咼摻雜發射極層的習知發射極接觸相比,光伏打電池 之效率改良了 0.5%至1%。 用以達成在特定位置處展示不同摻雜等級及接面深度之 發射極層的常見技術為雷射退火,因為此技術藉由致能非 常快速且非常局部之熱處理(從而在經加熱部分處導致接 面的受控深度,同時維持非常低之總的熱預算)而提供優 154232.doc 201203589 於習知熱處理之明顯優點。因此,詳言之,雷射退火很適 合於處理在100微米或甚至更低之範圍中的極薄太陽能電 池。 舉例而言,WO 2〇〇9/128679描述選擇性發射極層之雷射 退火,其中多個準分子雷射束通過一包括多個孔(雷射束 群組接著自該#孔_照射發射極層之對應於指狀電極的 各部分)之料,且其中料雷射束在指&電極之延伸方 向上移動。 顯然’以上技術之第一缺點為如下事實:同時照射發射 極之對應於指狀電極之各部分需要若干雷射束,此在技術 上為複雜的且不具成本效益。 第二缺點為,該系統之產量非常低,因為該等雷射束以 連續方m狀f極之整個延伸方向進行掃描。 第三缺點為,關於待照射之發射極層之部分之形狀及大 小的靈活性有限。因為習知雷射束之直徑小於習知指狀電 極線之寬度或與習知指狀電極線之寬度處於相同數量級, 所以不進行以下操作就無法 遮罩之一孔的雷射束群組中 愈複雜且昂責之雷射系統; 重複該退火製程某數目次, 較高之光電製造成本。 考慮到以上缺點,存在對 的明確需要。 顯著增大該寬度:⑴增大通過 的雷射束之數目,此導致愈來 或(ii)沿指狀電極之延伸方向 此導致重疊效應、較少產量及 一種旨在克服此等缺點之方法 因此’作為第一 目標’本發明提供一 種用於形成一選擇 154232.doc 201203589 性接觸之方法,該方法不需要用於同時照射一經摻雜接觸 層之複數個部分的複數個雷射束,且該方法可導致較不複 雜且較不昂貴之雷射設備。 作為第二目標,本發明提供__種用於形成—選擇性接觸 之方法’與習知方法相比,該方法可允許較高產量及減小 之光伏打電池製造成本。 作為第一目;,本發明提供一種用於形成一選擇性接觸 之方法,該方法可減少重疊效應或甚至使重疊效應最小 化。 作為第四目標,本發明提供一種用於形成一選擇性接觸 之方法,該方法致能整個接觸區上之接面深度的一較佳局 部控制範圍’此導致增大之光伏打電池效率。 作為第五目標,本發明提供一種用於形成一選擇性接觸 之方法,其中與習知方法相比,經退火之經摻雜接觸層可 展示較少缺陷’從而亦導致增大之光伏打電池效率。 另外,本發明之一目標為提供一種用於形成一選擇性接 觸之方法,其中與習知方法相比,總的製程步驟之數目得 以減小。 作為一額外目標,本發明提供一種具有減小之製造成本 及較高效率之光伏打電池。 本發明藉由藉助於一脈衝式雷射束來退火接觸層之一部 分而滿足以上目標,該脈衝雷射束係成形為對應於各別選 擇性接觸網格之至少一部分的一 2D圖案。 【發明内容】 154232.doc 201203589 本發明係關於一種用於形成一光伏打電池之一選擇性接 觸的方法,該方法包含: a.在一半導體基板之表面處形成一經摻雜接觸層; b_藉由一雷射束退火該經摻雜接觸層之一部分,該部分具 有對應於一各別選擇性接觸網格之至少一部分的一 2d圖 案; 該方法之特徵在於,該雷射束為脈衝式且成形為該2D圖 另外,本發明亦關於一種包含藉由該方法形成之一選擇 性接觸的光伏打電池。 【實施方式】 根據本發明之第-實施例,提供-種用於形成-光伏打 電池之一選擇性接觸的方法,該方法包含: 案; 5亥方法之特徵在於,該雷射束 案。 在半導體基板之表面處形成一經捧雜接觸層; b.藉由一雷射束退火該經摻雜接觸層之一部分,該部分具 有對應於一各別選擇性接觸網格之至少一部分的一 2 D圖 該雷射束為脈衝式且成形為該2D圖
之一雷射束(其中該2D
此可導致較不複雜且較不昂貴之 之雷射設 藉由使用脈衝式且成形為2D圖案 圖案對應於各別選擇性接觸網格 數個部分。顯然 備0 154232.doc 201203589 本發明之另一優點為,因為可藉由一個脈衝來退火經摻 雜接觸層之大部分,所以與習知方法相比,產量可增大至 工業製造等級且因此光伏打電池製造成本可減小。 另外藉由以下事實之組合可減少重疊效應或甚至使重 疊效應最小化.可藉由一個脈衝來退火經摻雜接觸層之大 部分,及2D圖案之形狀不受限制。 、在本發明之上下文中,將經摻雜接觸層理解為在塊狀光 、打電池基板之則側或後側的任何種類之經摻雜層,該經 摻雜層#有不同於塊狀基板之摻雜劑類型的摻雜劑類型 γ例如,在發射極接觸之情況下),或該經摻雜層具有顯著 高於塊狀基板中之摻雜劑濃度的摻雜劑濃度(例如,在背 面昜(BSF)之情況下)。在兩種情況下’經摻雜接觸層形成 (或作用就像)與塊狀基板之接面,且充當塊狀基板與接觸 電極之間的導電層。 在本發明之上T文中’將選擇性接觸理解為在經換雜接 觸層根據2D圖案在特定位置處展示不同摻雜等級及接面深 度的光電應用中之任何種類的接觸,例如,前接觸式電池 之選擇性發射極接觸、在鈍化發射極後局部擴散式太陽能 電池(PERL)上的背面場、在後接觸式電池(Rcc)、背接觸 式電池(BCC)、指狀交又背接觸式電池(IBC)或純化發射極 後接觸式電池(PERC)之後側上的選擇性發射極接觸。 2-D圖案可具有任何形狀,該形狀對應於任何類型之光 伏打電池的各別選擇性接觸網格之至少一部分之佈局,以 使得在退火之後,經摻雜接觸層在特定位置處展示不同摻 154232.doc 201203589 雜等級及接面深度。 詳言之,2-D圖案可包含複數個平行接點,例如,一選 擇性發射極接觸網格之指狀電極。 在根據本發明之另一實施例中,提供一種方法,其中該 選擇性接觸網格可包含複數個平行接點,且其中可藉由每 -脈衝來照射-部分’該部分具有對應於該複數個平行接 點之至少一部分之2D圖案。 可藉由任何種類之射束成形系統(例如’具有對應於該 2D圖案之孔隙的遮罩)來達成使雷射束成形為該圖案。 該遮罩可為製造有孔隙之實心板。本質上,該孔隙於是為 雷射束所通過且界定射束光點之形狀及/或大小的孔或開 Ό 〇 或者’該射束成形系統可包含—鏡面或透鏡總成,該鏡 面或透鏡總成包含-部分透射塗層,該部分透射塗層具有 對應於2D圖案之—較高透射率區,該較高透射率區係由一 較低透射率區圍繞。 在另-實施例中,該射束成形系統可包含如 仍2_231718中所揭示之―光㈣統,該光學系統經組態 以在單-雷射脈衝中退火單一細長區域,藉此退火包含若 干細長接點之一各別選擇性接觸網格的至少一部分。 或者,該射束成形系統可包含—繞射光學元件,該繞射 光學元件用於使射束成形為多條平行線,藉此在單一雷射 脈衝中退火包含若干平行接點之_各别選擇性接觸網格的 至少一部分。 154232.doc 201203589 該雷射可為波長、能量及脈衝持續時間係針對製程予以 調適之任何雷射’諸如’固態雷射,或準分子雷射。較佳 地,該雷射可為準分子雷射,更佳地,該雷射可為氣化氣 準分子雷射。 該雷射之波長可在190 nm至600 nm、190 111„至55〇 nm、 190 nm至480 nm之範圍中(歸因於矽在彼等波長處之高能 量吸收),且較佳為308 nm » 雷射能量可在1焦耳至25焦耳之範圍中。為了達成此等 月b量’通常將雷射放電量最佳化為1〇 cm(電極間的間 距)x7至10 cm(放電寬度)xl〇〇至2〇〇 cm(放電長度)。 在本發明之一實施例中,該雷射可經調適以產生具有在 0.1 J/cm2與1〇 j/cm2之間(較佳在} J/cm2與1〇 J/cm2之間)的 能量密度之預計雷射束。 在一較佳實施例中,該雷射可為準分子雷射經調適以產 生大於60 cm2、大於80 cm2、較佳為100 cm2之大面積輸出 射束的準分子雷射,該大面積輸出射束具有通常為至少1 cm2、 至少5 cm2且至多1〇 cm2的預計射束光點,該預計射束光點 具有在0.1 J/cm2與10 J/cm2之間的能量密度。 在根據本發明之一特定實施例中,可藉由每一脈衝來照 射至少1 cm2、至少5 cm2、至少8 cm2或至少1〇 cm2的一部 分’此使得本發明適合於光伏打電池之高產量工業製造。 脈衝持續時間對應於介於快速加熱(為了減少掺雜劑之 擴散)與相對較慢冷卻(為了減少缺陷之形成)之間的最佳 值’且可在100 ns至1000 ns之範圍中,或在1〇〇⑽與]^ ns 154232.doc 201203589 之間,或較佳在100毫微秒與200毫微秒之間。 藉由使用該長脈衝,可使經摻雜接觸層之切除最小化, 同時在材料中足夠深地活化摻雜元h較長脈衝持續時間 亦致能整個接觸區上的接觸接面深度之較佳控制範圍。此 外,與較短脈衝相比,長脈衝在經退火材料中產生較少缺 陷,且與較短脈衝下遇到的情況相&匕,長脈衝產生較少小 滴或材料損耗。 在本發明之一較佳實施例中,雷射可具有為308 nm之波 長、在100毫微秒與200毫微秒之間的脈衝持續時間及在 0.5 "(^^與10 J/cm2之間的預計射束能量密度。 半導體基板表面可為適合於光電應用之任何材料,諸如 但不限於,結晶矽、無摻雜矽或摻雜矽、多晶矽、植入 矽、碳化矽' 非晶矽、矽鍺、m_v族化合物半導體(諸如 砷化鎵、鎵鋁砷、氮化鎵)、⑴…族化合物半導體(如碲化 鎘、銅銦硒(CulnSe2)或銅銦鎵硒(Cu(ln,Ga)Se2)及其類似 者)、多接面半導體堆疊及其類似者。 在根據本發明之一實施例中,可提供一種用於形成一選 擇性接觸之方法,該方法進一步包含:在經摻雜接觸層之 上形成一抗反射塗層及/或一鈍化介電質,及經由該抗反 射塗層及/或鈍化介電質來退火該經摻雜接觸層。 該抗反射塗層或鈍化介電質可為在光伏打電池製造使用 之任何抗反射材料或鈍化介電質,諸如,氮化矽及/或氧 化石夕及/或兩者之組合。 根據本發明,可提供一種用於形成一選擇性接觸之方 154232.doc 201203589 法’其中可雷射切除該抗反射塗層及/或鈍化介電質之至 少一部分’該至少一部分對應於經摻雜接觸層之該部分。 藉由在形成金屬接觸電極之前自對應於各別選擇性接觸網 格之至少該部分切除該抗反射塗層及/或鈍化介電質,在 經切除層下方之經摻雜接觸層與隨後沈積之金屬電極之間 的接觸電阻得以減小’從而導致較高之電池效率。 另外’因為接觸電極至少部分地嵌入於抗反射塗層及/ 或鈍化介電質中,所以可使得該等接觸電極較薄。此外, 因為抗反射塗層及/或鈍化介電質可以具有極有限寬度之 線(該等線可充當用於自對準式金屬電鍍之圖案)的形式經 雷射切除,所以接觸電極可形成為具有減小之寬度。較薄 及/或不太寬之接觸電極導致獲得較少陰影損耗及較高之 短路電流密度(JSC)。 另外,因為現可在較低溫度下及在不接觸之情況下(亦 即,藉由自對準式金屬電鍍)進行接觸形成,所以晶圓破 損之風險得以減小(考慮到減小晶圓厚度之趨勢)。 在根據本發明之-較佳方法t,可與雷射退火同時地雷 射切除抗反射塗層及/或鈍化介電f之__部分,該部分對 應於經摻雜接觸層之至少哕部八 t 1 夕°亥邛分。藉由同時退火經摻雜接 觸層及切除抗反射塗層及/赤 至嘈及/或鈍化介電質,總的製程步驟 之數目與習知方法相比得以減小。 如熟習此項技術者所已知址 心照慣例,經摻雜接觸層係
藉由高溫構或蝴擴散、咬藉士甘A 4藉由其他摻雜製程步驟後續接著 向溫鍋爐退火而形成,以#媒彡曰 便獲侍一咼摻雜接觸層。然而, 154232.doc ,12· 201203589 根據本發明,歸因於後續選擇性雷射退火,僅需要一輕微 摻雜接觸層。因此,可藉由以一摻雜製程步驟處理塊狀半 導體基板之前或後表面來形成經摻雜接觸層,該推雜製程 步驟諸如,離子植入、電漿摻雜、自磷前驅物之較低溫擴 散獲得之磷矽酸鹽玻璃(PSG)形成、自硼前驅物之較低溫 擴散獲得之硼矽酸鹽玻璃(BSG)形成、經摻雜之旋塗式玻 璃形成’及經摻雜之介電質沈積。 或者,根據本發明之另一實施例提供一種用於形成一選 擇陡接觸之方法’纟中在半導體基板之表面處形成經換雜 接觸層可包含:在半導體基板上形成一經摻雜之抗反射塗 層及/或經摻雜之鈍化介電質,及雷射退火該抗反射塗層 及/或該鈍化介電質。較佳與雷射退火同時,可雷射切除 抗反射塗層及/或鈍化介電質之一部分,該部分對應於經 摻雜接觸層之該部分。 因而,在後一種情況下,選擇性經摻雜接觸層係藉由退 火且同時切除抗反射塗層及/或鈍化介電質而形成,而不 需要分開之經摻雜接觸層形成。與習知方法相比,此情形 明顯減小用以形成選擇性接觸之總的製程步驟之數目。 根據本發明之—方法可進一步包含在XYZ方向上對準預 計雷射束與待照射之部分。 根據本發明之-方法可進—步包含藉助於—接物鏡將20 圖案之影像聚焦於待照射之區域上。 根據本發明之—方法可進一步包含匹配2D圖案之影像的 大小與待照射部分之大小。此可藉助於一可變影像放大系 154232.doc -13· 201203589 統而獲得。 藉由使用相機顯現半導體材料層上之射束光點、量測1 射束光點之大小及調整放大率,可執行進—步調整。 本發明之一方法亦可包含圖案辨識。此可藉由一包含相 機之圖案辨識系統來達成,該相機以機械方式連接至—用 於固持半導體材料之台且定位於材料層表面上方。在特定 實施例中’可處理來自相機之影像以定位已在半導體材料 上触刻或雷射切除之若干(通常為3個)對準標記。該等對準 標記提供該半導體材料在雷射設備之座標系統中之精確位 置。 另外’本發明提供一種光伏打電池’該光伏打電池包含 一藉由根據以上技術方案中之任一者的方法所形成之選擇 性接觸。該光伏打電池可為(例如)標準單晶及多晶太陽能 電池、N型及P型太陽能電池、生長於不同類型之基板上的 蟲晶矽太陽能電池、異接面太陽能電池、純化發射極後局 部擴散式太陽能電池(PERL)、鈍化發射極後接觸式電池 (PERC)、背接觸式或後接觸式太陽能電池(RCC、BCC)及 指狀交叉背接觸式電池(IBC)。 實例1 習知發射極接觸形成製程: 1) 在高溫下於p型塊狀矽上之P〇CI3鍋爐擴散,其用於 形成重摻雜η型發射極層 2) 磷矽酸鹽玻璃蝕刻 3) SiNx ARC/鈍化層之沈積 154232.doc 201203589 4)藉由網板印刷進行之經對準的前側金屬化 如(例如)W〇 2009/128679中所描述之先前技術選擇性發 射極形成製程: 1) 在較低溫下於P型塊狀矽上之POCI3鍋爐擴散,其用 於形成輕微摻雜η型發射極層 2) 發射極層之選擇性雷射退火 3) 麟石夕酸鹽玻璃餘刻 4) SiNxARC/鈍化層之沈積 5) 藉由網板印刷進行之經對準的前側金屬化 根據本發明之選擇性發射極形成製程: 1) 在較低溫下於p型塊狀矽上之POCU鍋爐擴散,其用 於形成輕微摻雜η型發射極層 2) 藉由經成形為選擇性發射極接觸網格之2D圖案之脈 衝式雷射束進行的選擇性雷射退火 3) 磷矽酸鹽玻璃飯刻 4) SiNx ARC/鈍化層之沈積 5) 藉由網板印刷進行之經對準的前側金屬化 根據本發明之替代選擇性發射極形成製程: U在較低溫下於p型塊狀矽上之p〇CI3鍋爐擴散,其用 於形成輕微摻雜η型發射極層 2) 藉由經成形為選擇性發射極接觸網格之2D圖案之脈 衝式雷射束進行的選擇性雷射退火; 3) 鱗石夕酸鹽玻璃钮刻 4) SiNx ARC/鈍化層之沈積 154232.doc 15 201203589 5) 藉由經成形為選擇性發射極接觸網格之2d圖案之脈 衝式雷射束進行的雷射切除; 6) 藉由自對準式金屬化電鍍進行之前側金屬化 根據本發明之另一替代選擇性發射極形成製程: U在較低溫下於p型塊狀矽上之POCI3鍋爐擴散,其用 於形成輕微摻雜η型發射極層 2) 磷矽酸鹽玻璃蝕刻 3) SiNx ARC/鈍化層之沈積 4) 藉由經成形為選擇性發射極接觸網格之2d圖案之脈 衝式雷射束進行的選擇性雷射退火及雷射切除; 5) 藉由自對準式金屬化電鍍進行之前側金屬化 根據本發明之另一替代選擇性發射極形成製程: 1) 經摻雜之SiNx ARC/鈍化層之沈積 2) 藉由經成形為選擇性發射極接觸網格之2d圖案之脈 衝式雷射束進行的選擇性雷射退火及雷射切除; 3) 藉由自對準式金屬化電鍍進行之前側金屬化 實例2 以下使用光微影術之ό個步驟及一最終燒結及退火步驟 (如在光電基礎及應用實用手冊(Tom Markvart及Luis Castaner,Elsevier)中所描述)來描述習知指狀交叉背接觸 式(IBC)太陽能電池製造過程: 1) 高壽命<100>FZ石夕晶圓之初始氧化 2) N+發射極光微影術 3) 打開N+發射極區域之氧化物钱刻 154232.doc •16· 201203589 4) 磷的預先沈積 5) P+發射極光微影術 6) 打開P+發射極區域之氧化物蝕刻 7) 硼的預先沈積 , 8)紋理化晶圓(太陽能電池前側)之背面 • 9)生長薄的氧化物或介電質 1 〇)接點光微影術 11) 打開接觸區域之氧化物或介電質蝕刻 12) 等級1金屬化 13) 金屬1光微影術 14) 金屬1蝕刻 15) 沈積金屬間介電質 16) 介層孔光微影術 17) 金屬間介電質蝕刻 18) 等級2金屬化 19) 金屬2光微影術 20) 金屬2蝕刻 21) 沈積抗反射塗層 , 22)燒結及退火 23)切塊及測試 a 在根據本發明之指狀交又背接觸式(IBC)太陽能電池製 造過程流程中,可使用藉由成形為2D圖案之脈衝式雷射束 進行的選擇性雷射退火而非使用光微影術來形成N+發射極 區域或P+發射極區域或兩者。 154232.doc •17·

Claims (1)

  1. 201203589 七、申請專利範圍: l 一種用於形成一光伏打電池之一選擇性接觸之方法,其 包含: a.在一半導體基板之表面處形成— b -藉由一 經摻雜接觸層; 部分,該部分 具有對應於一各別選擇性接觸網格之至少一部分的一 2D圖案; 該方法之特徵在於,該雷射束為脈衝式且成形為該2D圖 案。 2·如4求項1之方法’其中該選擇性接觸網格包含複數個 平行接點’且其中藉由每一脈衝來照射一部分該部分 具有對應於該複數個平行接點之至少一部分之一 2d圖 案。 3. 如明求項1或2之方法,其中藉由每__脈衝來$射m 1 cm2之一部分。 4. 如請求項1或2之方法,其中藉由在〇」心2與1〇 j/cm^ 間的一預計射束能量密度來執行該雷射退火。 5. 如《月求項1或2之方法,其令該脈衝式雷射束具有在剛 毫微秒與200毫微秒之間的—脈衝持續時間。 6. 如請求項⑷之方法’其中藉由一準分子雷射來執行退 火。 7·如請求項1或2之方法’其包含:在該經摻雜接觸層之上 形成-抗反射塗層及/或一純化介電質,及雷射切除該抗 反射塗層及/或該鈍化介電質之至少―部分,該至卜部 154232.doc 201203589 分對應於該經摻雜接觸層之該部分β 8·如請求項1或2之方法,其包含:在該經摻雜接觸層之上 形成一抗反射塗層及/或一鈍化介電質,及經由該抗反射 塗層及/或該純化介電質執行該雷射退火。 9.如請求項8之方法,其中與該雷射退火同時’雷射切除 該抗反射塗層及/或該鈍化介電質之一部分,該部分對應 於該經摻雜接觸層之該部分。 10.如請求項1或2之方法,其中在該半導體基板之該表面處 形成該經摻雜接觸層包含:在該半導體基板上形成一經 摻雜之抗反射塗層及/或一經摻雜之鈍化介電質,及雷射 退火該抗反射塗層及/或該經摻雜之鈍化介電質。 11·如請求項Η)之方法,其中與該t射退火同時 該抗反射塗層及/或該鈍化介電質之一部分, 於該經摻雜接觸層之該部分。 ’雷射切除 s亥部分對應 1 ·。月求項1或2之方法,其中該經摻雜接觸層為 層,且其中該選擇性接觸層為一選擇性發 / 13. 一種光伏打電池1包含藉由如以上請求項Λ項 方法所形成之一選擇性接觸。 154232.doc 201203589 四、指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為:(無) (二) 本代表圖之元件符號簡單說明·· 五、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式: (無) 154232.doc
TW100106554A 2010-02-26 2011-02-25 A method for forming a selective contact TW201203589A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP10290100A EP2362425A1 (en) 2010-02-26 2010-02-26 A method for forming a selective contact

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201203589A true TW201203589A (en) 2012-01-16

Family

ID=42790854

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW100106554A TW201203589A (en) 2010-02-26 2011-02-25 A method for forming a selective contact

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20130146999A1 (zh)
EP (2) EP2362425A1 (zh)
JP (1) JP2013520821A (zh)
KR (1) KR20130007582A (zh)
CN (1) CN102844876A (zh)
SG (1) SG183264A1 (zh)
TW (1) TW201203589A (zh)
WO (1) WO2011104197A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI623110B (zh) * 2012-02-29 2018-05-01 波音公司 具有脈衝摻雜層的太陽能電池

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101902887B1 (ko) * 2011-12-23 2018-10-01 엘지전자 주식회사 태양 전지의 제조 방법
GB2499192A (en) * 2012-02-02 2013-08-14 Rec Cells Pte Ltd Method for producing a solar cell with a selective emitter
DE102012205966A1 (de) * 2012-04-12 2013-10-17 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Dünnschicht-Solarmoduls
EP2654090B1 (en) * 2012-04-17 2020-07-08 LG Electronics, Inc. Solar cell
CN102856436A (zh) * 2012-09-05 2013-01-02 友达光电股份有限公司 太阳能电池及其制作方法
EP2804218A1 (en) 2013-05-15 2014-11-19 Excico Group NV Method for forming metal silicide layers
CN107993940A (zh) * 2017-10-31 2018-05-04 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 p型太阳能电池的制备方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU749022B2 (en) * 1998-06-29 2002-06-13 Unisearch Limited A self aligning method for forming a selective emitter and metallization in a solar cell
US7199303B2 (en) * 2000-03-13 2007-04-03 Sony Corporation Optical energy conversion apparatus
WO2005034193A2 (en) * 2003-09-19 2005-04-14 The Trustees Of Columbia University In The City Ofnew York Single scan irradiation for crystallization of thin films
TWI361123B (en) * 2004-12-22 2012-04-01 Zeiss Carl Laser Optics Gmbh Optical illumination system for creating a line beam
TWI450401B (zh) * 2007-08-28 2014-08-21 Mosel Vitelic Inc 太陽能電池及其製造方法
KR100974221B1 (ko) * 2008-04-17 2010-08-06 엘지전자 주식회사 레이저 어닐링을 이용한 태양전지의 선택적 에미터형성방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법
JP5674285B2 (ja) * 2009-05-25 2015-02-25 株式会社日立製作所 レーザー誘起表面ナノ配列構造の作製方法及びそれを用いて作製したデバイス構造
JP2011151350A (ja) * 2009-12-22 2011-08-04 Renesas Electronics Corp 半導体装置の製造方法、及び半導体装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI623110B (zh) * 2012-02-29 2018-05-01 波音公司 具有脈衝摻雜層的太陽能電池

Also Published As

Publication number Publication date
SG183264A1 (en) 2012-09-27
WO2011104197A1 (en) 2011-09-01
KR20130007582A (ko) 2013-01-18
EP2539937A1 (en) 2013-01-02
JP2013520821A (ja) 2013-06-06
EP2362425A1 (en) 2011-08-31
US20130146999A1 (en) 2013-06-13
CN102844876A (zh) 2012-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9825199B2 (en) Laser-transferred IBC solar cells
US9768343B2 (en) Damage free laser patterning of transparent layers for forming doped regions on a solar cell substrate
US9236510B2 (en) Patterning of silicon oxide layers using pulsed laser ablation
CN101884115B (zh) 太阳能电池、其发射极层形成方法及其制造方法
US9455362B2 (en) Laser irradiation aluminum doping for monocrystalline silicon substrates
CN105895737B (zh) 用于制造太阳能电池的方法和结构
TW201203589A (en) A method for forming a selective contact
US20120225515A1 (en) Laser doping techniques for high-efficiency crystalline semiconductor solar cells
CN107430981A (zh) 激光加工的背触异质结太阳能电池
US20130164883A1 (en) Laser annealing applications in high-efficiency solar cells
US9214585B2 (en) Annealing for damage free laser processing for high efficiency solar cells
CN102428565A (zh) 用于在热扩散掺杂区域中带有激光烧结接触的太阳能电池的设备和方法
GB2499192A (en) Method for producing a solar cell with a selective emitter
EP2659518A2 (en) Laser processing methods for photovoltaic solar cells
US20170005206A1 (en) Patterning of silicon oxide layers using pulsed laser ablation
EP2819181A1 (en) Laser annealing applications in high-efficiency solar cells
KR101532721B1 (ko) 고효율 태양 전지의 공간 선택적 레이저 어닐링 적용
KR101396027B1 (ko) 고효율 후면 접촉 후면 접합 태양 전지의 이온 주입 및 어닐링
WO2014179366A1 (en) Annealing for damage free laser processing for high efficiency solar cells
US20140213015A1 (en) Laser patterning process for back contact through-holes formation process for solar cell fabrication