TW201203068A - Touch panel and display device - Google Patents

Description

201203068 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種觸控面板及顯示裝置，特別係關於一 種在減小有效觸控區域之外側之邊框區域時有效之技術。 【先前技術】 具備使用者用手指或筆等在顯示晝面實施觸控操作（接 觸按壓彳呆作，下文簡稱觸控）而輸入資訊之裝置（下文亦稱 為觸控式感測器或觸控面板）的顯示裝置，已被用於pDA 或攜帶終端等之移動用電子機器、各種家電製品、現金自 動存取機（Automated Teller Machine)等中。 作為:¾上述之觸控面板，已知有檢測經觸控之部份之電 阻值麦化之電阻臈方式、或檢測電容變化之靜電電容方 式、或檢測光量變化之光感測器方式等。 靜電電容方式在與電阻膜方式或光感測器方式相比較之 清形下’有如下之優點。例如，在電阻膜方式或光感測器 …’透射率低至80%左右，與此相對，在靜電電容方 透射率高達㈣％，不會使顯示㈣降低，此點較 接觸心又’在電阻膜方式下由於係藉由電阻膜之機械性 測觸控位置’故有電阻膜劣化或破損之虞，與此 極等接觸之機械：之接觸Π有如檢測用電極與其他電 作為靜電電==二:性方面來看也有優勢。 】中揭示之方式。在方，有如下_ 維矩陣狀之檢㈣❹^ 纟巾’設置配置成縱橫二 向之電極（以下稱為X電極”與檢 154942.doc 201203068 測用橫方向之電極（以下稱為Y電極。），並以輸入處理部 檢測各電極之電容。在觸控面板之表面上接觸有手指等之 導體的情況下，因各電極之電容會增加，故輸入處理部會 對其予以檢測’並以所檢測各電極之電容變化之信號為基 礎，計算輸入座標。 [先行技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]曰本特開2008-310550號公報 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 根據上述專利文獻1所示之靜電電容之方式之觸控面 板，其係藉由自Y電極之—方之側抽出配線（以下稱為抽出 配線。），並將其連接於與可撓性配線基板連接之端子， 而自Y電極之-側供給驅動電壓。以[將如此方式稱為 單側供電方式之觸控面板。 該單側供電方式之觸控面板，在"㈣Y電極、及該 等之電極之抽出配線上發生斷線或電阻增大之情形下，有 在面板單體中檢查困難之問題點。 本發明係為解決上以前技術之問題點而完成者，本發 明之目的在於提供一種在自檢測用電極之-方之側供電之 觸控面板十’能夠檢測到檢測用電極之斷線或電阻增 技術。 可藉由本說明書 本發明之上敍其他目的與新賴特徵 之記述及附加圖面明確說明。 154942.doc 201203068 [解決問題之技術手段] 本申請案所揭示之發明中，若要簡單說明具代表性者之 概要，則如下所述。（1)一種觸控面板，其包含：基板；複 數個X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸，且併設於 與上述第2方向交叉之第丨方向上；及複數個γ電極，其係 在上述基板上，與上述X電極交叉而向上述第i方向延伸， 且併没於上述第2方向上；且，其係自上述複數個γ電極之 單側供給驅動電壓之靜電電容方式之觸控面板；其中上 述X電極及上述γ電極之至少一方之電極的各端部上，分 別連接有抽出配線，且具有上述至少一方之電極之未連接 有抽出配線之側的各端部、及介隔絕緣膜積層之檢查電 極；上述檢查電極在進行檢查時被供給檢查用之電壓，在 進行通常動作時，被供給與供給至上述至少一方之電極之 驅動電壓同相之電壓。 ⑺-種觸控面板，其包含：基板；複數個χ電極，其係 在上述基板上向第2方向延伸，且併設於與上述第2方向交 又之第1方向上；及複數個γ電極’其係在上述基板上，與 上述X電極交又而向第!方向延伸，且併設於上述第2方向 上；且，其係自上述複數個Υ電極之單側供給驅動電屙之 靜電電容方式之觸控面板…，上述X電極及上述;電 極之至少-方之電極的各端部上’分別連接有抽出配線； 上述至少-方之電極係被分割為第2與第2兩組，連接於上 述第1組内之上述至少*方夕齋托Λ· 方之電極之各端部的抽出配線， 與連接於上述第2組内之上述至少一太 方之電極之各端部的 154942.doc 201203068 抽出配線，係於相互不同之方向抽出；具有上述第1組内 之上述至少—方之電極之未連接有抽出配線之側的各端 、與介隔絕緣膜積層之第丨檢查電極、及上述第2組内之 上述至少一方之電極之未連接有抽出配線之側的各端部、 與介隔絕緣膜積層之第2檢查電極；上述第丨檢查電極與上 述第2檢查電極在進行檢查時被供給檢查用之電壓，在進 行通常動作時，被供給與供給至上述γ電極之驅動電壓同 相之電壓。 [發明之效果] 若要簡單說明本申請案所揭示之發明中具代表性者可獲 得之效果，則如下所述。 根據本發明，可在由檢測用電極之一方之側供電之觸控 面板中，檢測檢測用電極之斷線或電阻增大。 【實施方式】 以下’兹參照圖式詳細說明本發明之實施例。 另，在用以說明實施例之全圖中，具有同一功能者係附 註同一符號’且省略其重複之說明。又，本發明之專利請 求之範圍之解釋並不受限於以下之實施例。 [實施例1] 圖1係用以說明本發明實施例1之觸控面板之圖，圖2係 顯示沿圖1之II-II線之剖面構造之要部剖面圖，圖3係顯示 沿圖1之III-III線之剖面構造之要部剖面圖。 如圖1所示’本貫施例之觸控面板包含：複數個X電極 (X1〜X4) ’其係向第2方向（Y方向）延伸，且以特定之排列 154942.doc 201203068 間距併設於與第2方向交叉之第！方向（χ方向）；及複數個γ 電極（Υ1〜Υ6) ’其係與上述χ電極交又而向第1方向延伸’ 且以特定之排列間距併設於第2方向。另，圖丨中以點線框 表示之部份係有效觸控區域。 複數個X電極各者具有於第2方向交互地複數配置有細線 部la、與較該細線部la之寬度更寬之焊墊部11?之電極圖 案。 如圖2、圖3所示’複數個X電極係配置於絕緣膜12上， 其上層形成有保護層13。 各Y電極具有於第1方向交互地複數配置有細線部2a、與 較該細線部2a之寬度更寬之焊塾部2b之電極圖案。 在平面觀察之情形下，各X電極之焊墊部lb與各Y電極 之焊墊部2b係不重疊地配置，且，各X電極之細線部1&與 各Y電極之細線部2a係交叉設置。 如圖2、圖3所示，複數個γ電極之各細線部23係形成於 與X電極之細線部13及焊塾部lb不同之層上，且與X電極 之細線部1 a平面性交又。複數個γ電極之各焊墊部2b係形 成於與X電極之細線部la和焊墊部lb相同之層上，且與X 電極之焊墊部lb分離形成。在本實施例中，X電極之細線 部1 a係形成於較γ電極之細線部2a更上層。 複數個Y電極之各焊墊部2b係以保護膜13覆蓋。γ電極 之細線部2a係形成於基板11上，且於夾著細線部2a而相鄰 的2個焊墊部2b上，經由形成於絕緣膜12上之接觸孔12a而 分別電性連接。另，作為基板丨丨，係使用例如玻璃等之透 154942.doc 201203068 明絕緣性基板。又，X電極與γ電極係以具有高透射性材 料’例如ITO(Indium Tin Oxide :銦錫氧化物）等之透明性 導電材料形成。 本實施例之觸控面板亦係單側供電方式之觸控面板如 圖1所示，X電極係由XI至X4之4根X電極所構成，各乂電 極係連接於抽出配線（LX1〜LX4)，且連接於形成於基板u 之一邊之各端子部（TX1-TX4)。 Y電極係由Y1至Y6之6根丫電極所構成，各γ電極之一方 之端部係連接於抽出配線（LY1〜LY6)，且連接於形成於基 板11之一邊之各端子部（TY1〜TY6)。又，γ電極之另—方 之端部係分別連接於檢查部（PYi〜ργ6)。另，抽出配線 (LX1〜LX4、LY1〜LY6)、及檢查部（PY1〜ργ6)係形成於有 效觸控區域（圖2之箭頭A所示之區域）外之區域，其係以銀 合金膜等之金屬層形成。 如圖1所示，本實施例中，檢查部（ΡΥ1〜ΡΥ6)係形成於Y 電極之抽出配線（LY1〜LY6)所形成之區域之相反側之區 域。且，檢查部（ΡΥ1〜ΡΥ6)之下側，形成有檢查電極κγβ 檢查電極ΚΥ係連接於形成於基板11之一邊上之端子部 ΤΚΥ。 如此，本實施例中，檢查部（ΡΥ1〜ΡΥ6)與檢查電極ΚΥ係 夾著絕緣膜12而對向。即，檢查電極ΚΥ與檢查部（ΡΥ1〜 ΡΥ6)之間形成有電容。 檢查部（ΡΥ1〜ΡΥ6)係於與X電極之細線部la與焊墊部 lb、及Y電極之焊墊部2b同層，與X電極、γ電極同樣，以 154942.doc Λ 201203068 ITO等之透明導電膜形成。 檢查電極ΚΥ係以例如IT〇(indium Tin 〇xide ·銦錫氧化 物）等之透明性導電材料、或例如銀合金膜等之金屬層而 形成於基板11上。 觸控面板，為能夠檢測根據手指觸控之各電極之電容之 ’蔓化須將X電極與y電極分別利用抽出配線確實地連接 於設置於基板之一邊上的端子部，若各電極上或各抽出配 線之途中發生斷線或電阻增大，則不能檢測到根據手指觸 控之電容。 本貫施例中，在製品之製造時，自端子部7尺¥對檢查電 極KY輸入矩形波之電壓。其後，經由形成於檢查電極反丫 與檢查部（PY1〜PY6)之間之電容，將輸入至檢查電極KY2 矩形波之電壓輪入至各γ電極（γι〜γ6) ^藉由在各端子部 (ΤΥ1〜ΤΥ6)中觀察輸入至該γ電極之矩形波之電 壓’能夠檢測到Υ電極（Υ1〜Υ6)、及抽出配線（LY1〜LY6)2 斷線、電阻增大。 藉此，根據本實施例，在製品之製造時，能夠檢測到γ 電極（Y1〜Y6)、及抽出配線（LY1〜LY6)之斷線、電阻增 大，且將認為有斷線、電阻增大之觸控面板作為不良品予 以排除’進而能夠實現製造時之高成品率之觸控面板。 再者’通常之動作時，係將與供給至γ電極（γι〜γ6)之 驅動電壓相同之電壓供給至檢查電極κγ。藉此，能夠抑 制檢查部（ΡΥ1〜ΡΥ6)與檢查電極ΚΥ之間之電容耦合。 例如’當手指觸控於Υ6之γ電極上時，會於γ6之γ電極 154942.doc -10· 201203068 上產生根據手指觸控之電容變化。觸控面板控制器會檢測 到此點並判定Y6之γ電極上有手指觸控動作。 該情形下，假如在丫6之丫電極與乃之丫電極之間，經由 檢查電極KY而發生串擾之情況下，即使乃之丫電極上之電 容稍有變化’觸控面板控制器亦能檢測到。故，會錯誤地 判定為Y5之Y電極與丫6之¥電極之間有手指觸控。 如上所述，有串擾發生之情形下，會因判定為相對原本 手指觸控之位置偏離之位置，而導致損壞位置判定之精 度。 因此，藉由向檢查電極KY供給與供給至γ電極（Υ1〜Υ6) 之驅動電壓相同之電壓，可在外觀上消除檢查部 (ΡΥ1〜ΡΥ6)與檢查電極以之間之電容搞合，故可抑制上述 串擾’實現位置判定高精度之觸控面板。 [本實施例1之觸控面板之變形例] 圖4係用以說明本發明實施例丨之觸控面板之變形例之 圖，圖5係顯示沿圖4之v_v線之剖面構造之要部剖面圖， 圖6係顯示沿圖4之VI_V；U$之剖面構造之要部刮面圖。

圖4至圖6所示之觸控面板，在平面觀察之情形下各X 電極之焊墊部lb與各Y電極之焊墊部2b係不重疊地配置而 成，且，各X電極之細線部la與各γ電極之細線部2a係交 叉設置。 複數個Y電極之細線部2a係形成於與χ電極之細線部la 與焊墊部lb不同之層上。複數個γ電極之焊墊部扎係與X 電極之焊墊部lb分離而形成於與X電極之細線部u和焊墊 154942.doc 201203068 部lb同一層上。複數個χ電極之細線部la與焊墊部邝、及 衩數個Y電極之焊塾部2 b ’係形成於基板11上，並以絕緣 膜12覆蓋。 複數個Y電極之細線部2a係形成於較X電極之細線部u 更上層之絕緣膜12上，複數個Y電極之各個細線部2a係於 夹著細線部2a而相鄰的2個焊墊部2b上，經由形成於絕緣 膜12上之接觸孔12a而分別電性連接。複數個γ電極之各個 細線部2a係以保護膜13覆蓋。 圖4至圖6所示之觸控面板中’ γ電極係形成於基板u 上。因此’由於檢查部（PY1〜PY6)亦形成於基板丨丨上，故 檢查電極ΚΥ係與複數個γ電極之細線部2a相同，形成於絕 緣膜12上。 圖4至圖6所示之觸控面板中，檢查部（pYi〜pY6)、X電 極、Y電極亦以ITO等之透明導電膜形成。又，檢查電極 KY係以例如iTO(Indium Tin Oxide :銦錫氧化物）等之透明 性導電材料、或例如銀合金膜等之金屬層形成。 [實施例2] 圖7係用以說明本發明實施例2之觸控面板之圖。 本貫施例中’亦於XI〜X4之X電極上形成有檢查部（ΡΧ1〜 ΡΧ4) ’且炎著檢查部（ρχι〜ρχ4)與絕緣層而形成有檢查電 極ΚΧ。檢查電極κχ係與形成於基板11之一邊之端子部（未 圖示）連接。即’本實施例係以檢測X電極（X丨〜χ4)、及抽 出配線（LX1〜LX4)之斷線、電阻增大者。 本實施例中’檢查部（PXhPXA)係在與有效觸控區域内 154942.doc -12- 201203068 之X電極之細線部la與焊墊部lb、及Y電極之焊墊部2b相 同之層，與X電極與Y電極相同，以ITO等之透明導電膜形 成。 檢查電極KX係以例如iT〇(Indium Tin Oxide:銦錫氧化 物）等之透明性導電材料、或例如銀合金膜等之金屬層形 成。 另，本實施例之觸控面板之構造在圖1至圖3所示之構造 之情形中，檢查部（PX1〜PX4)係形成於絶緣膜12上，檢查 電極KX係形成於基板11上。又，本實施例之觸控面板之 構造在圖4至圖6所示之構造之情形中，檢查部（ρχ 1〜ρχ4) 係形成於基板11上’檢查電極KX係形成於絕緣膜12上。 製品之製造時’自端子部TKX向檢查電極KX輸入矩形 波之電壓。其後’經由形成於檢查電極KX與檢查部（Ρχι〜 ΡΧ4)之間之電容，將輸入至檢查電極κχ之矩形波之電壓 輸入至各X電極（XI〜Χ4)。藉由在各端子部（τχι〜τχ4)中觀 測輸入至該X電極（X1〜Χ4)之矩形波之電壓，能夠檢測到X 電極（XI〜Χ4) '及抽出配線（LX1〜LX4)之斷線、電阻增 大。 藉此’本實施例亦可在製品之製造時，檢測X電極（X J〜 X4)、及抽出配線（LX1〜LX4)之斷線、電阻增大、且γ電極 (Y1〜Y6)、及抽出配線（LY1〜LY6)之斷線、電阻增大，并 能將確認斷線、電阻增大之觸控面板作為不良品予以排 除’進而能夠貫現製造時之南成品率之觸控面板。 再者’通常之動作時’將與供給至X電極（X丨〜χ4)之驅 154942.doc •13- 201203068 動電壓同一之電壓供給至檢查電極κχ。藉此，能夠抑制 檢查部（ΡΧ1〜ΡΧ4)與檢查電極ΚΧ之間之電容耦合。 [實施例2之觸控面板之具體的電極構造之其他例] 圖8係用以說明本發明實施例2之觸控面板之變形例之 圖’圖9係顯.示沿圖8之ΙΧ-ΙΧ線之剖面構造之要部剖面 圖’圖10係顯示沿圖8之Χ-Χ線之剖面構造之要部剖面圖。 圖8至圖10所示之觸控面板中，在平面觀察之情形下， 各X電極之焊墊部1 b與各Υ電極之焊墊部2b係不重疊地配 置而成，且，各X電極之細線部la與各γ電極之細線部以 係交叉設置。

圖8至圖10所示之觸控面板，如圖8至圖1〇所示，係將X 電極與Y電極形成於夾著絕緣膜12而不同之層上，χ電極 係形成於較Υ電極更下層之玻璃基板丨丨上之觀察者側之面 上。 圖8至圖10所示之觸控面板之情形中，χ電極側之檢查部 (ΡΧ1〜ΡΧ4)係形成於基板u上，γ電極側之檢查部 (ΡΥ1〜ΡΥ6)係形成於絕緣膜12上。因此，〖乂與^^之檢查 電極可形成於X電極與γ電極之間之中間層上。 [實施例3 ] 圖11係用以說明本發明實施例3之觸控面板之圖。 本實施例係在上述之實施例i之觸控面板中，將Υ〗〜γ6 之Y電極分割為Y1〜YrY電極與Y4〜Yry電極之2部 份，並使Υ1〜Υ3之Y電極之抽出酉己線（lyi〜ly3)與γ4〜γ^ Υ電極之抽線（LY4〜LY6)自相互反對側抽出。因此， 154942.doc •14- 201203068 本實施例中，檢查電極ky亦被分割為KY1與艮¥2之2部 份。本實施例中能夠使有效觸控區域之邊框區域之寬度左 右均一。 • 另，在本實施例中，X電極亦被分割成2部份，且於該分 割後之每組X電極上設置2個檢查電極κχ亦可。 • 本實施例十，檢查電極（ΚΧ，ΚΥ)較好為形成於形成有γ 電極之層與形成有X電極之層之間。 [實施例4] 圖12係用以說明本發明實施例4之觸控面板之χ電極之 圖。靜電電容方式觸控面板係以藉由手指觸控之χ電極、 Υ電極之電容之變化’判定是否有手指觸控。此時之感度 會影響X電極、γ電極自身之電容與電阻之大小，若電容 較大，則無法捕捉觸控時之電容變化。在電阻較大之情形 下，因無法充分對電極（Χ電極、γ電極）進行充電，故對於 手指觸控之反應值將變小，感度將變差。 又，當手指觸控之反應值在有效觸控區域内有偏差時， 會產生部份感度差的區域，會對操作有影響。特別是在單 側供電方式之觸控面板中’由於與觸控面板之長邊平行之 電極（本實施例甲為χ電極）之配線長度較長，故會在距離 供電端較遠之遠端使負荷增加，存在發生如上述之現象之 情形。 因此，本實施例中，為消除手指觸控之反應值之遠近端 差，著眼於連接與電阻值較大關聯之電極間之細線部&， 如圖12所示，隨著自供電端分離而加寬細線部la之寬度， 154942.doc •15· 201203068 使最遠端之細線部laf之寬度為最近端之細線部lan之寬度 的2倍（圖12中，Β22χΑ)以上。藉此，可在距離供電端較 遠之遠端側與距離供電端較近之近端側，將對應於手指觸 控之反應值均一化。 另’上述之實施例中，關於X電極之細線部1 a，係隨著 自供電端分離而加宽細線部la之寬度，使最遠端之細線部 la之寬度為最近端的2倍（圖12中，B22xA)以上，然而， 關於Y電極之細線部2a ’亦可隨著自供電端分離而加寬細 線部2a之寬度’使最遠端之細線部2a之寬度為最近端之細 線部2a之寬度的2倍。 [實施例5] 圖13係用以說明本發明實施例5之觸控面板之X電極之 圖。 本實施例如圖13所示，在X電極中，與距離供電端最近 之近端側之焊墊部lbn之尺寸（或面積）相比，係減小距離供 電端最遠之遠端側之焊墊部lbf之尺寸（或面積），再者，附 加有浮遊電極丨c。 古稭此，彳減短充電時間，且減少鄰接間電容，故能夠提 電極中’距離供電端最遠之焊墊部lbf之對於觸控之反 土 _ ” e w q T，你观小人電極中距離供電 ’端側之焊塾部lbf之尺寸（或面積），且附 1 c，铁品 士 巧/于 ’、、、，’、可減小Y電極中距離供電端較遠之遠 卜塾部2b之尺寸（或面積），且附加浮遊電極。 154942.doc -16- 201203068 另本霄把例中，係減小X電極（或γ電極）中距離供電端 最遠之遠端側之焊墊部lb(或焊墊部2b)之尺寸（或面積）， 且附加有泮遊電極lc，然而，亦可減小X電極（或Y電極）中 距離供電端較遠之遠端側之複數個焊墊部lb(或焊墊部2b) 之尺寸（或面積），且附加浮遊電極lc。該情形下，減小尺 寸（或面積）且附加浮遊電極lc之焊墊部lb(或焊墊部2b)之 個數，可以使在X電極（或γ電極）中，相對手指觸控之反應 值均化之方式設定。又，亦可隨自供電端距離變遠，逐 漸減小X電極（或γ電極）之焊墊部lb(或焊墊部2b)之尺寸（或 面積）’且隨自供電端距離變遠，逐漸增大浮遊電極之 尺寸（或面積）。 又，藉由對上述之實施例4之構成，附加本實施例之構 成，能夠提高距離供電端最遠之焊墊部lbf之對於觸控之 反應值。圖13係圖示該情形之構成。 [實施例6] 上述之實施例4之電極構造之情形中’關於χ電極之細線 1 a係隨著自供電端分離而加寬細線部1 a之寬度，故如 圖14所示，χ電極中具有與距離供電端最遠之細線部〖a交 叉之細線部2&的Y電極之焊墊部2b之面積亦有所減小。 另，圖14係用以說明本發明實施例4之觸控面板之問題點 之圖。 圖15係用以說明本發明實施例6之觸控面板之χ電極之 圖。 本嘖施例中，如圖15所示，在X電極中，於距離供電端 I54942.doc -17· 201203068 最遠之細線部la上積層金屬層Μτ而將其低電阻化。藉 此，與圖12所不之上述實施例4之情形相比，可減小X電極 中距離供電i而最遠之細線部丨a之配線寬度，故可使得更難 辨識X電極、γ電極。再者，由於可將χ電極、Y電極之大 小均一化，故能提高線性。 另，上述之實施例，係於χ電極中距離供電端最遠之細 線部la上積層金屬層Μτ而將其低電阻化，然而亦可於γ電 極中距離供電端最遠之細線部2a上積層金屬層，將其 低電阻化。 另，在本實施例中，在X電極（或Y電極）中，代替於距離 供電端最遠之細線部la(或細線部2a)上積層金屬層MT而將 其低電阻化，亦可在χ電極（或γ電極）中，增加距離供電端 最遠之細線部la(或細線部2a)之膜厚而將其低電阻化。該 情形亦可使得更難辨識χ電極、γ電極。再者，由於可將χ 電極、.Υ電極之大小均一化，故能夠提高線性。 另，圖14中，係在χ電極（或γ電極）中於距離供電端最遠 之細線部la(或細線部2a)上積層金屬層Μτ，然而，亦可在 χ電極（或γ電極）中於距離供電端較遠之遠端側之複數個細 線部la(或細線部2a)上積層金屬層μτ。該情形下，可以使 X電極、Y電極之大小均一之方式設定將金屬層MT積層之 細線部1 a(或細線部2a)之個數。 又’本實施例亦可適用於一般之觸控面板，即，χ電極 (或Y電極）之細線部la(或細線部2a)具均一之寬度之觸控面 板0 154942.doc -18- 201203068 [實施例7] 圖16係用以說明本發明實施例7之觸控面板之抽出配線 之圖。 如圖16所示，本實施中，於抽出配線（LX1-LX4、LY1〜 LY6)連接1〇〇 以上之電阻（R1)，在有效觸控區域内，不 使X電極之電阻值之偏差、或γ電極之電阻值之偏差表面 化’而將有效觸控區域内相對於觸控之反應值均一化。再 者，本實施例對雜訊亦有效果。 另’上述之貫施例1〜實施例3所示之觸控面板中，周邊 部之X電極之焊墊部lb及Y電極之焊墊部2b之形狀係中央 部之焊墊部的一半。且，如上所述，手指觸控之反應值有 偏差之原因之一係在距離供電端較遠之遠端有負荷增加。 然而，在貫施例1〜實施例3所示之觸控面板中，X電極或γ 電極中距離供電端最遠之焊墊部（lb，2b)係半分之形狀， 故負荷亦為大致半分。因此，上述之實施例4至實施例7所 適用之細線部（la，2a)、或焊墊部（lb，2b)亦可為χ電極或 γ電極令距離供電端最遠之細線部之前一個細線部（la， 2a) '或焊墊部（ib，2b)。 又，上述之實施例4至實施例7亦可適用於圖丨至圖3所示 之觸控面板、圖4至圖6所示之觸控面板、圖8至圖1〇所示 之觸控面板。 另，如上所it，上述之各實施例之觸控面板係作為配置 於液晶顯示裝置、或有機EL顯示裝置之顯示面板上，由使 用者使用手指或筆等對顯示晝面進行觸控操作，藉此輸入 154942.doc •19· 201203068 資訊之裝置而使用。 以上’雖基於上述實施例具體說明了由本發明者完成之 發明，但本發明並非限定於上述實施例，當然可在不脫離 其主旨之範圍内進行各種變更。 【圖式簡單說明】 圖1係用以說明本發明實施例1之觸控面板之圖； 圖2係顯示沿圖1之11_11線之剖面構造之要部剖面圖； 圖3係顯示沿圖i之111_111線之剖面構造之要部剖面圖； 圖4係用以說明本發明實施例1之觸控面板之變形例之 圖； 圖5係顯示沿圖4之V-V線之剖面構造之要部剖面圖； 圖6係顯示沿圖4之VI_VU$之剖面構造之要部剖面圖； 圖7係用以說明本發明實施例2之觸控面板之圖； 圖8係用以說明本發明實施例2之觸控面板之變形例之 圖； 圖9係顯示沿圖8之IX-IX線之剖面構造之要部剖面圖； 圖10係顯示沿圖8之X-X線之剖面構造之要部剖面圖； 圖11係用以說明本發明實施例3之觸控面板之圖； 圖12係用以s兒明本發明實施例4之觸控面板之X電極之 圖； 圖13係用以說明本發明實施例5之觸控面板之χ電極之 圖； 圖14係用以說明本發明實施例4之觸控面板之問題點之 圖； 154942.doc -20- 201203068 圖15係用以說明本發明實施例6之觸控面板之χ電極之 圖；及 圖16係用以說明本發明實施例7之觸控面板之抽出配線 之圖。 【主要元件符號說明】 1 a 細線部 lb 焊墊部 1 c 浮遊電極 2a 細線部 2b 焊墊部 11 基板 12 絕緣膜 12a 接觸孔 13 保護膜 KX 檢查電極 KY 檢查電極 KYI 檢查電極 KY2 檢查電極 LXl 抽出配線 LX2 抽出配線 LX3 抽出配線 LX4 抽出配線 LX5 抽出配線 LY1 抽出配線 154942.doc •21- 201203068 LY2 抽出配線 LY3 抽出配線 LY4 抽出配線 LY5 抽出配線 LY6 抽出配線 MT 金屬層 PX1 檢查部 PX2 檢查部 PX3 檢查部 PX4 檢查部 PX5 檢查部 PY1 檢查部 PY2 檢查部 PY3 檢查部 PY4 檢查部 PY5 檢查部 PY6 檢查部 R1 電阻 TKY 端子部 TX1 端子部 TX2 端子部 TX3 端子部 TX4 端子部 TX5 端子部 -22 154942.doc 201203068 TYl 端子部 TY2 端子部 TY3 端子部 TY4 端子部 TY5 端子部 TY6 端子部 XI X電極 X2 X電極 X3 X電極 X4 X電極 Y1 Y電極 Y2 Y電極 Y3 Y電極 Y4 Y電極 Y5 Y電極 Y6 Y電極 154942.doc -23

Claims (1)

1. 201203068 七、申請專利範圍： 1. 一種觸控面板，其特徵為包含： 基板； 複數個X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸，且 併設於與上述第2方向交又之第丨方向上；及 複數個Y電極，其係在上述基板上，與上述X電極交叉 而向上述第1方向延伸，且併設於上述第2方向上；且， 其係自上述複數個γ電極之單側供給驅動電壓之靜電 電谷方式之觸控面板；其中， 上述X電極及上述Y電極之至少一方之電極的各一方之 端部上，分別連接有抽出配線； 具有上述至少一方之電極之未連接有抽出配線之側的 各端部、及介隔絕緣膜積層之檢查電極； 上述檢查電極在進行檢查時被供給檢查用之電壓，在 進行通常動作時，被供給與供給至上述至少一方之電極 之驅動電壓同相之電壓。 2.如清求項1之觸控面板’其中上述至少一方之電極之未 連接有抽出配線之側之各端部上，分別形成有連接於上 述至少一方之電極上之檢查部； 連接於上述至少一方之電極上之各上述檢查部，係介 隔上述絕緣膜而與上述檢查電極積層。 3·如請求項1之觸控面板，其中連接於上述至少一方之電 極上之各上述檢查部與上述檢查電極係形成於有效觸控 區域之外側。 154942.doc 201203068 4.::求項⑴令任—項之觸控面板，其中上述各χ電極 ，、迷各γ電極’分別係使料部與細線部交互地排列 於延伸方向而形成； 在平面觀察之情形下，上述各X電極之烊塾部虫上述 各Υ電極之焊塾部係不重疊地配置，且上述各巧極之上 述細線部與上述各γ電極之上述細線部係立體交叉，· 上述各X電極之上述焊塾部與上述細線部、及上述Υ電 極之上述焊墊部係形成於同一層； 上述各Υ電極之上述細線部係形成於較上述各Υ電極之 焊墊。Ρ更下層處’且經由形成於上述各γ電極之焊塾部 與上述S Υ電極之上述細線部之間之絕緣膜上之接觸孔 而連接於上述各Υ電極之焊墊部； 上述檢查電極係形成於與上述γ電極之上述細線部所 形成之層相同之層上。 5.如請求項⑴中任一項之觸控面板，《中在+面觀察之 情形下，上述各X電極之焊墊部與上述各丫電極之焊墊部 係不重疊地配置，且上述各χ電極之上述細線部與上述 各Υ電極之上述細線部係立體交又； 上述各X電極之上述焊墊部與上述細線部、及上述丫電 極之上述焊墊部係形成於同一層； 上述各Υ電極之上述細線部係形成於較上述各γ電極之 焊墊部更上層處，且經由形成於上述各γ電極之焊塾部 與上述各Υ電極之上述細線部之間之絕緣膜上之接觸孔 而連接於上述各Υ電極之焊塾部； 154942.doc 201203068 上述檢查電極係形成於盥 ,、 …、上迷γ電極之上述細線部所 形成之層相同之層上。 6.如請求項⑴中任一項之觸控面板，其中在平面觀察之 . 冑形下，上述各X電極之料部與上述各Υ電極之焊塾部 係不重疊地配置，且上诚久Υn , 述各X電極之上述細線部與上述 各Y電極之上述細線部係立體交叉； 上述X電極與上述Y電極係、夾著絕緣膜而形成於不同之 層，上述X電極係形成於較上述γ電極更下層； 上述檢查電極係形成於形成上述γ電極之層與形成上 述X電極之層之間。 7. —種顯示裝置’其特徵為包含： 顯示面板；及 配置於上述顯示面板之觀察者側之觸控面板；且 上述觸控面板係請求項丨至3中任一項之觸控面板。 8· 一種觸控面板，其特徵為包含·· 基板； 複數個X電極，其係在上述基板上向第2方向延伸，且 併設於與上述第2方向交叉之第1方向上；及 複數個Υ電極，其係在上述基板上，與上述X電極交叉 而向上述第1方向延伸，且併設於上述第2方向上；且， 其係自上述複數個γ電極之單側供給驅動電壓之靜電 電容方式之觸控面板；其中， 上述X電極及上述γ電極之至少一方之電極的各一方之 端部上，分別連接有抽出配線； 154942.doc 201203068 上述至少一方之電極係被分割為第ι與第2兩 接 ;上述第1組内之上述至少一方 配魂& * 電極之各知部的抽出 -線，與連接於上述第2組内之上述 夂^ 万之電極之 彳的抽出配線，係於相互不同之方向抽出；且 :有上述第!組内之上述至少一方之電極之未連接有 配線之側的各端#、與介隔絕緣膜積層之 電極、及 立 具有上述第2組内之上述至少一方之電極之未連接有 抽出配線之側的各端部、與介隔絕緣膜積層之第2檢查 電極； — 上述第1檢查電極與上述第2檢查電極在進行檢查時被 供給檢查用之電壓’在進行通常動作時，被供給與供給 至上述Y電極之驅動電壓同相之電壓。 9. 如請求項8之觸控面板，其中上述第〗組内之上述至少一 方之電極之未連接有抽出配線之側的各端部 '及上述第 2組内之上述至少一方之電極之未連接有抽出配線之側 的各卩上，分別形成有連接於上述至少一方之電極之 檢查部； 刀別連接於上述第1組内、及上述第2組内之上述至少 一方之電極之上述各檢查部，係介隔上述絕緣膜而與上 述第1檢查電極與上述第2檢查電極積層。 10. 如請求項8之觸控面板，其中分別連接於上述第丨組内及 上述第2組内之上述至少一方之電極上之上述各檢查 部、上述第1檢查電極、及上述第2檢查電極，係形成於 154942.doc 201203068 有效觸控區域之外側。 H·如請求項8至10’任一項之觸控面板，其中上述各X電極 與上述各Y電極’分別係使痒墊部與細線部交互地排列 於延伸方向而形成； 在平面觀察之情形下，上述各X電極之烊墊部盘上述 各Y電極之焊墊部係不重疊地配置.，且上述各乂電極之上 述細線部與上述各γ電極之上述細線部係立體交又； 上述各X電極之上述焊墊部與上述細線部、及上述Y電 極之上述烊墊部係形成於同一層； 上述各Y電極之上述細線部係形献較上述各γ電極之 谭墊部更下層處，且經由形成於上述各¥電極之焊塾部 與上述各Υ電極之上述細線部之間之絕緣膜上之接觸孔 而連接於上述各γ電極之焊墊部； 上述第！檢查電極、及上述第2檢查電極係形成於盘上 述Υ電極之上述細線部所形成之層相同之層上。 12·如請求項8至1〇中任-項之觸控面板，其中在平面觀察 之情形下，上述各χ電極之焊墊部與上述各Υ電極之谭塾 部係不重疊地配置，且上述各χ電極之上述細線部與上 述各Υ電極之上述細線部係立體交又； 上述各X電極之上料塾部與上述細線部、及上述 極之上述焊墊部係形成於同一層； 曰上述各γ電極之上述細線部係形成於較上述各Υ電極之 焊塾部更上層處，且經由形成於上述各Υ電極之焊塾部 與上述各Υ電極之上述細線部之間之絕緣膜上之接觸孔 154942.doc 201203068 而連接於上述各Y電極之焊墊部； 上述第1檢查電極、及上述第2檢查電極係形成於與上 述Υ電極之上述細線部所形成之層相同之層上。 13.如請求項8至10中任一項之觸控面板，其中在平面觀察 之情形下，上述各X電極之焊墊部與上述電極之焊墊 部係不重疊地配置，且上述各χ電極之上述細線部與上 述各Υ電極之上述細線部係立體交叉； 上述X電極與上述γ電極係夾著絕緣膜而形成於不同之 層，上述X電極係形成於較上述γ電極更下層； 上述第1檢查電極、及上述第2檢查電極，係形成於形 成上述Υ電極之層與形成上述χ電極之層之間。 14_ 一種顯示裝置，其特徵為包含： 顯示面板；及 配置於上述顯示面板之觀察者側之觸控面板丨且 上述觸控面板係請求項8至10中任一項之觸控面板。 154942.doc