TW201034007A - Method and apparatus of processing a readback signal generated from reading an optical storage medium - Google Patents

Description

201034007 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於處理讀取光儲存媒體（optical storage medium)所產生的讀回信號（readback signal)的方法和裝 【先前技術】 光儲存媒體（例如唯讀光碟、可錄式光碟或可再寫光 碟）已成為當前流行的資料載體。通常地’通過向記錄層 (recording layer)發射雷射光束（laser beam)並接著偵測自 該記錄層反射的信號來讀取該記錄層（即反射層）’以對 所儲存資料進行複製。為保護記錄層（反射層），通常於 © 記錄層上形成保護層’例如由聚碳酸酯（polycarbonate)組 成的保護層。因此’雷射二極體（laser diode)發射的雷射 光束在到達記錄層（即反射層）前必須穿過保護層；類似 地，自記錄層（即反射層）反射的雷射光束在光感測器 (photo sensor)偵測到前必須穿過保護層。因此’光感測器 憤測到的反射雷射光束的信號品質實際上受到保護層的 影響。 4 201034007 ' 然而，由於保護層表面上的刮痕、灰塵或者指紋，光 碟可能存在缺陷區域。參考第1圖，第丨圖為自光碟反射 的信號產生的射頻（radio frequency，RF)信號示意圖，該光 碟由於刮痕具有缺陷區域。當光碟的保護層具有到痕時， 到痕可能嚴重損壞保護層的光傳輸特性。如圖所示，當光 學讀寫頭向刮痕導致的缺陷區域發射雷射光束時，RF信 號RF_1的一段信號部分P1大約消失（即信號幅度相當 鲁低）。因此，正確解碼RF信號的此信號部分P1非常困難。 參考第2圖，第2圖為光碟的反射信號所產生的射頻 k號不意圖，該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。當光 碟的保護層具有指紋或灰塵時，指紋或灰塵不會嚴重損壞 保護層的光傳輸特性。如圖所示，當光學讀寫頭向指紋或 灰塵導致的缺陷區域發射雷射光束時，1^信號RF_2的一 ❹段信號部分P2幅度比正常的信號低，因為與第1圖的信 號部分P1相比，信號部分P2沒有完全消失（即信號幅度 減小但疋南於可接受的位準），因此有可能解碼信號部分 P2以獲得信號部分p2傳輸的資訊。然而，當信號部分 的仏號品質不滿足最低解碼需求時，也有可能解碼信號部 分P2失敗。 f考第3 ® ’第3圖為細的反射信號所產生的另-.射頻彳&號不意圖’該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。 •α 5 201034007 如圖所示，當光學讀寫頭向指紋或灰塵導致的缺陷區域發 射雷射光束時’ RF信號RF—3的一段信號部分p3有顯著 的11¾度變形。類似地，因為與第i圖的信號部分ρι相比， 仏號部分P3沒有完全消失（即信號幅度減小但是仍高於 可接党的位準）’因此有可能解碼信號部分p3以獲得信號 部分P3傳輸的資訊。 ❿ 如上所述，受指紋/灰塵影響的RF信號沒有完全消失。 因此，如何處理受指紋/灰塵影響的RF信號以允許下面的 解碼過程得以正確獲得受指紋/灰塵影響的RF信號傳輸 的資訊成為設計者的重要難題。換句話說，需要一種改善 讀取光儲存媒體上缺陷區域效能的方法和裝置，尤其是由 指紋/灰塵導致的缺陷區域。 【發明内容】 為了正確獲得受指紋/灰塵影響的RF信號傳輸的資 訊’並改善讀取光儲存媒體上缺陷區域效能，尤其是由指 紋/灰塵導致的缺陷區域，本發明提供一種處理由讀取光 儲存媒體產生的讀回信號的方法及其裝置。 本發明提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信 號的方法，包括：根據所述讀回信號實施缺陷偵測並產生 201034007 - 一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指示所述光儲存 媒體上的缺陷區域；以及根據所述缺陷偵測結果，對與處 理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數校準。 本發明另提供一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回 信號的裝置’包括：一缺陷偵測區塊，用於根據所述讀回 信號實施一缺陷偵測以產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵 ❹測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及一參 數校準區塊，耦接於所述缺陷偵測區塊，用於根據所述缺 陷偵測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數 實施一參數校準。 本發明另提供-種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回 信號的方法’包括：根據料讀回信㈣取所述光儲存媒 體的識別資訊;對與處理所述讀回信號相關的至少一個參 數實施-參數校準，據此獲取所述至少—個參數的一校準 =二以及記錄所述識別資訊指示的所述校準參數設 本發明另提供一種處理由％ 信號的裝置，包括··一光::讀，絲存媒體產生的讀η 儲存媒體以獲取所述讀时^區塊’用於讀取所述> 所述光儲存媒體的識別資據所述讀回信號獲昂 參數权準區塊，輕接於戶月 201034007 述光储存存取區塊’用於對與處理所述讀回信號相關的至 少-個參數實施—參數校準，據此獲取所述至少—個參數 的杈準參數叹置，一儲存設備；以及一控制區塊，輕接 於所述參數校準區塊、所述光儲存存取區塊和所述儲存設 備’用於記錄所述識別資訊指示的所述校準參 述儲存設備。 π ❹抑本發明能夠正转碼讀回信财包含的f訊並改 善讀取光儲存媒體上缺陷區域效能。 /下為根據多個圖式對本發明之較佳實_進行詳細 描述’本領域習知技藝者閱讀後應可明確了解本發明之目 【實施方式】 Ο t在α兒明書及後續的中請專利範圍當中使用了某些詞索來 指稱特定的組件。所屬領域巾具有通常知識者應可理解，硬 體製&商可能會用不同的名詞來稱呼同一個組件。本說明書 及後續的申請專利範圍並不以名稱的差異來作為區分組件 的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區分的準則。在 通篇說明書及後續的請求項當中所提及的「包含」係為一開 .放式的用语’故應解釋成「包含但不限定於」。以外，「搞 201034007 接」:詞在此”含任何直接及間接的電性連接手段。因 文中描ϋ帛裝置輕接於一第二裝置，則代表該第 接電性連接於該第二裴置，或透過其他裝置或連 接手k間接地電性連接至該第二裝置。 第4圖為根據本發明_ +由-奋国 ’、里實施例的光儲存裝置的方 .心 （例如光碟驅動器）包括轉軸 馬達（spmdle motor)3〇2、光學讀皆 ， #.! F ^ . 九予讀寫碩304、伺服與功率控 ^塊鄕、W產生區塊3〇 陷偵測區塊312、參數枋進卩仏 尼缺 軎氺铋户# 區塊314和校準控制區塊316〇 虽光儲存媒體（例如光碟3 井 活轉軸馬達302使光碟^1)载入光儲存裝置細，激 、 以所需旋轉速率旋轉。光學讀 寫頭304經由操作發射 午疋将九學讀 光磾3(H，讀+心有“讀取功率的雷射光束至 尤碌以從先碟3〇1讀取眘M ^ ^ 參 光磾或可再窝#雄1飞取貝枓。若光碟3〇1為可錄式 先碟或了再寫先碟，光儲存裝 經由配置發射具右炷—怜 〜元予項馬頭304可 e為本領域的*有通一者機制 本實施例中，信號甚江r (synthesizer)322 ί ^ ' 區塊308包括信號合成器 =)2和“處理器324,其中信號處理器似 包括極值追蹤單元（exirem t 11 324 me va】ue tracking unii)326 和濾波 201034007 單元328根據自光碟301反射並接著由光學讀寫頭3〇4 中的光感器（圖中未顯示）偵測的信號，信號合成器 322產生项回“號S1 (例如RF信號）。信號處理器324 處理讀回信號S1以產生已處理讀回信號（例如已處理RF 仏號）S2。信號處理器324中，極值追蹤單元326用於追 縱讀回信號S1的預設類型極值並產生極值追縱結果滤 波早το 328用於對極值追蹤結果實施濾波操作以產生已 Φ 處理讀回信號S2。在一典型實施例中，極值追蹤單元326 可使用峰值保持電路以追蹤讀回信號S1的峰值，濾波單 το 328可使用低通濾波器以濾除峰值保持電路輸出中的 尚頻組分。接著，已處理讀回信號S2進入下面的缺陷偵 測區塊312以進行下一步信號處理，詳述如下。請注意， 這里信號處理器324的實施僅為一個例子，本發明並不限 於此。用於處理讀回信號S1以產生用於缺陷偵測區塊312 ❹的已處理讀回信號的信號處理器324可依據設計需求來 使用。 在此典型實施例中，缺陷偵測區塊312包括第一截剪 器（slicer)332、第二截剪器334和決策邏輯（decision丨ogic) 單元336。第一截剪器332用於依據第一戴剪位準SL1截 剪已處理讀回信號S2以產生第一截剪結果SR1，第二戴 剪器334用於依據第二截剪位準SL2截剪已處理讀回信號 S2以產生第二截剪結果SR2，決策邏輯單元336依據第 201034007 •一截剪結果SR1和第二截剪結果SR2產生缺陷偵測結果 S3。可參考第5圖，第5圖為缺陷偵測區塊312實施缺陷 偵測的示意圖。如上所述，當光學讀寫頭3〇4存取由刮痕 導致的缺陷區域時，信號部分P1大約消失（即信號幅^ 相當低）；當光學讀寫頭304存取由指紋/灰塵導致的缺^ 區域時，信號部分P2或P3沒有完全消失（即信號幅度減 小但是高於可接受的位準）。因此，分別依據刮痕和指紋/ 〇 灰塵所導致缺陷區域的信號特征，第一截剪位準SL1配置 為低於第二戴剪位準SL2。第一戴剪位準SL1特別設計為 識別刮痕導致的缺陷區域，而第二截剪位準SL2特別用於 識別刮痕或指紋/灰塵導致的缺陷區域。在本實施例中， 決策邏輯單元336對第一截剪結果SR1和第二截剪結果 SR2實施互斥或（X0R)運算，據此產生缺陷偵測結果即 S3=SR1 X〇RSR2)。如第5圖所示，缺陷偵測結果幻可 ❹指不僅由指紋/灰塵導致的缺陷區域。換句話說，依據特 定應用的設計需求，根據第一截剪器332和第二戴剪器 334產生的截剪結果，決策邏輯單元336可配置為能鑒別 (discriminate)刮痕導致的缺陷區域與指紋/灰塵導致的缺 陷區域。然而，本發明並不僅限於此。使用一個或多個戴 剪器以識別光儲存媒體上的缺陷區域的任何應用依然 從本發明之精神。 … 11 201034007 在第4圖所示的典型實施例中，缺陷偵測區塊3 a包 括兩個個體截剪器。然而，在一種替代設計中，缺陷偵測 區塊312可修改為包括一個截剪器和決策邏輯單元说。 在第一週期，相應於特定磁軌區（track sect〇r)截剪器使用 第截剪位準SL1截剪已處理讀回信號S2。第一戴剪结 果SIU發現的任何缺陷區域由決策邏輯單元336識別為舌; 痕導致的缺陷區域。在第二週期，相應於相同的特定磁軌 β區截剪器使用第二截剪位準SL2截剪已處理讀回信號 S2。第—戴剪結果SR2發現的任何缺陷區域由決策邏輯 單元336識別為刮痕或指紋/灰塵導致的缺陷區域。藉此， 在缺陷摘測區塊312中，相同的缺陷偵測結果可從使用相 同的戴剪ϋ甚至單個截剪器的兩個連續的截剪操作中獲 ❾ 在另4固替代°又5十中，缺陷偵測區塊3 12可修改為包 含第二截剪器334和決策邏輯單元336。也就是說，在該 替代設計刪除第一戴剪器332，其中第一截煎器332用於 產生可指不刮痕導致的缺陷區域的截剪結果。藉此，第二 戴剪、、，口果SR2直接作為缺陷^貞測區塊3 ^ 2產生的缺陷偵測 、°果S3以使用同通濾波器處理讀回信號（即RF信號） S1中相應於扣紋/灰塵導致的缺陷區域的信號部分為例。 第1圖的信號部分P1可由第二截剪器334識別；然而， •由於U心P1的信號幅度相當小，因此信號部分P1的 12 201034007 * 高通濾波結果與未經濾波的信號部分P1大約相同。換句 話說，即使缺陷偵測結果是第二載剪結果SR2而非第一和 二截剪結果SR1和SR2的組合邏輯結果，高通濾波結果 仍然相同。 ❿ 需注意，使用一個或多個截剪器以發現刮痕或指紋/灰 塵導致的缺陷區域的上述替代實施例均遵從本發明精 神’並均屬於本發明所主張範圍。 簡s之’依據設計需求’缺陷偵測結果S3可設置為組 合邏輯結果（例如第一截剪結果SR1和第二截剪結果SR2 的職結果）、第一截剪結果SR1或第二截剪結果SR2。 舉例來說若對讀回信號s丨進行高H皮以促進相應於 缺陷區域的信號部分的解碼時，第-截剪結果SR1和第“二 如的組合邏輯結果或第二截剪結果如優先 作。進-步的詳細描述如=不何時啟動調整高通渡波操 缺陷偵測區塊3 12產从& 校準區塊3U。參數校準^缺^貞測結果幻傳輸至參數 果幻對與處理讀回信號 二根據輸入的缺㈣測結 校準。光學讀寫頭304存 W至少-個參數實施參數 第5圖所示的缺陷_ 曰、·，文/灰塵導致的缺陷區域時， 、、。果S3通知參數校準區塊 13 201034007 * 並且參數校準區塊314被賦能以依據設計需求校準至少 一個讀取通道參數、至少一個伺服參數或讀取通道參數和 伺服參數的組合。也就是說，參數校準區塊314調整在讀 取通道區塊310中應用的讀取通道參數和/或在伺服/功率 控制區塊306中應用的伺服參數。典型的讀取通道參數可 以為截剪器帶寬、維特比（Viterbi)帶寬、鎖相迴路帶寬、 部分回應最大似然（Partial Response Maximum Likelihood, φ PRML)|&標位準（target level )、解碼策略、RF信號高通滤 波帶寬或RF信號幅度。伺服參數可以為聚焦增益（focus gain)或散焦設置（defocus setting)。請注意，上述參數例子 僅用於說明本發明，並非用於限制本發明。任何相關於用 於選擇性賦能至少一個參數的參數校準的缺陷偵測結果 的實現均遵從本發明精神，並均屬於本發明所主張範圍。 並且，根據缺陷彳貞測結果S3，馬通遽波器（high-pass niter, HPF)342也可被選擇性調整以對讀回信號S1進行高 通濾波，其中高通濾波器342是通常於讀取通道區塊310 中實現的典型組件。通常地，光學讀寫頭304正在對正常 區域或缺陷區域進行存取時，高通濾波器342用於對輸入 信號實施高通濾波；然而，本發明的一種實現中，光學讀 寫頭304正在對缺陷區域進行存取時，高通濾波器342的 濾波特性可以被調整。舉例來說，當光學讀寫頭304正在 對例如指紋/灰塵導致的缺陷區域進行存取時，則調整高 14 201034007 *通濾波器342並且對讀回信號S1實施高通濾波以產生已 濾波讀回信號Sl,，接著解碼器344解碼從高通濾波器⑷ 接收的已濾波讀回信號S1，。換句話說，在一種實現中， 當光學讀寫頭304存取根據缺_測結果S3識別的缺陷 區域時’可選擇性調整高通濾波器342並且賦能參數校準 區塊。314。如第2圖和第3圖所示，指紋/灰塵可能導致讀 回S1巾觉影響的信號部分不對稱，這將增加解碼相 ❹應於指紋/灰塵導致的缺陷區域的信號部分的難度。因 此，在本發明的典型實施例中，高通濾波器342也能夠使 讀回信號Si中受影響的信號部分更對稱，促進相應於指 紋/灰塵導致的缺陷區域的信號部分的解碼，其中高通遽 波器342通常在讀取通道區塊训中實現並且在缺陷區域 被存取時可以進行調整。簡言之，通過對讀回信號Μ進 行高通濾波並對讀取通道參數和/或伺服參數進行參數校 ❿準，第5圖所示信號部分P2或P3傳輪的資訊可成功解碼。 請注意，根據缺陷偵測結果對讀回信號的高通減波進 行選擇性調整或對至少一個參數（例如讀取通道參數或词 服參數）進行參數校準的任何應用均遵從本發明精神，並 均屬於本發明所主張範圍。 在光儲存裝置300中，根據從處理讀回信號S1中獲取 的信號品質指數S4,校準控制區塊316控制參數校準區 15 201034007 、 塊314。舉例來說，信號品質指數S4可以為從讀回信號 S1中獲取的同步信號的信號品質（例如SYNC OK作號） 或與解碼讀回信號S1相關的解碼品質（例如錯誤偵測碼 EDC或正確解碼的標識，或解碼錯誤計數）。以sync 〇κ #號作為信號品質指數S4為例。當讀回信號S1具有足夠 好的彳§號品質，可不間斷地獲得SYNC信號。也就是說， 指示S YNC信號狀態的s YNC—OK信號將得到保持^例如 © 保持在高邏輯位準）。然而，當讀回信號S1不具有滿足最 小需求的信號品質時，SYNC㈣將具有同步錯誤（州 loss)，結I SYNC—〇κ信號將具有低邏輯位準以指示如此 狀況。由於SYNC—OK信號的特定信號特征，sync 〇κ 信號可因此作為信號品質指數S4以指示參數校準是否已 使用優化參數設置校準參數。 ❹ 通常上’當解碼錯誤計數超過特定值時，讀回信號（例 2 RF信號）S1變得不可糾正，即是說讀回信號S1具 較差的仏號叩質並且難以正確解碼。因此，當光碟則 :、CD時’C2解碼錯誤計數可作為信號品質減；當光碟 01 為 DVD 或 HD-DVD 時，外碼同位（Parity 〇f the 〇_ ΓΛρο)解碼錯誤計數可作為信號品質指數；當光碟301 「、座光光碟（Blu-ray dlsc，BD)時長程碼（[。叫腕ance 二C)解碼錯誤核可作為信號品質指數。如在相 關項域中所習知的，DVD或抓麵的p〇解碼和CD的 201034007 * C2解碼對信號品質更敏感。舉例來說，如果資料區塊的 PO解碼錯誤計數或C2解碼錯誤計數等於1，則可能整個 資料區塊的品質較差。請注意，即使DVD/HD-DVD的内 碼同位（Parity of the Inner code, PI)解碼和 CD 的 C1 解碼 對信號品質不如此敏感，並非意味著PI解碼錯誤計數/Cl 解碼錯誤計數不能作為信號品質指數。舉例來說，如果資 料區塊的PI解碼錯誤計數或C1解碼錯誤計數大於錯誤累 0 積定限（accumulation threshold)，則意味著在相同資料區 塊中過多的解碼錯誤，該資料區塊由於讀回信號的較差信 號品質可能不可校正。因此，PI解碼錯誤計數或C1解碼 錯誤計數也可作為信號品質指數。 第6圖為第4圖所示的光儲存裝置300使用的參數校 準方法的第一實施例流程圖。請注意，若結果實質上相 同，無需嚴格按照第6圖所示的順序執行步驟。參數校準 W 操作的流程包括下述步驟： 步驟600 :開始。 步驟602 :檢查缺陷偵測結果以決定光學讀寫頭是否將 存取光儲存媒體（例如光碟）上的缺陷區域。如果是，執 行步驟604 ;否則，執行步驟602，繼續監視缺陷偵測結 果。 步驟604 :賦能參數校準。 17 201034007 ， 步驟6〇6:通過指定校準參數設置校準至少一個參數， 以代替參數的初始參數設置，其中至少一個參數包括讀取 通道參數、伺服參數或二者的組合。 步驟608··檢查信號品質指數是否滿足預設標準。如果 是’執行步驟612 ;否則執行步驟61〇。 步驟610.通過對參數指定另一校準參數設置以校準參 數。執行步驟608。 ❹ 步驟612 :禁能參數校準。 步驟614:保持對參數的最終校準參數設置。 步驟616:檢查光學讀寫頭是否完成存取缺陷區域。如 果是，執行步驟618 ;否則，執行步驟616繼續監視。 步驟618·將參數從校準參數設置恢復為初始參數設 八中校準參U由參數校準（由於存取缺陷區域 而賦能）所指定。執行步驟6〇2繼續監視缺陷偵測結果。 如第6圖所示的流程所示，參數校準區塊314不會停 j权準參數直到信號品質指數滿足預設標準。舉例來說， f eS實―〇K信號作為信號品質指數，只有當S YNC—OK 信號沒有同步錯誤時，預設標準才被滿足。參考第7圖和 第8圖。第7圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷 2域時無參數校準被賦能的典型例子示意圖。第8圖為當 光學讀寫碩存取光儲存媒體上的缺陷 被賦能的典型例子千立团, ^ 】子不忍圖。通過對讀取通道參數和/或伺 18 201034007 服參數實施正確的參數校準，讀回錢si可被正 以獲得其中包含的資訊。^4__ _ ㈣的參數校料法，本領域㈣知技藝者㈣過裝上置: 洛後能夠了解第6圖所示的參數校準方法操作。進 描述這里不再贅述。 返步的

佬用的夂畲一’ $ 9圖為第4圖所示的光儲存裝置300 k準方㈣第二實施例流程®。粒意，若結 質上相同’則無需嚴格按照第9圖所示的順序執行; 驟。參數校準操作的流程包括下述步驟： 執仃步 步驟9〇〇 :開始。 步驟9G2:檢查缺陷偵測結果以決定光學讀寫頭是否將 =取光儲存媒體（例如光碟）上的缺陷區域。如果是，執 行步驟904 ;否則’執行步驟902,繼續監視缺陷制結 果。 步驟904 :賦能參數校準。 步驟906:通過指定校準參數設置校準至少一個參數， 以代替參數的初始參數設置，其中至少一個參數包括讀取 通道參數、伺服參數或二者組合。 步驟908 :檢查信號品質指數是否滿足預設標準。如果 疋’執行步驟912 ;否則執行步驟91 〇。 步驟910:通過對參數指定另一校準參數設置以校準參 數。執行步驟908。 19 201034007 ' 步驟912 :禁能參數校準。 步驟914:保持對參數的最終校準參數設置。 步驟916.檢查光學讀寫較否完成存取與缺陷區域相 ，的磁軌（track)，並存取正常區域的至少一部分。如果 疋，執行步驟918 ;否則，執行步驟916繼續監視。 步驟918:將參數從校準參數設置恢復為初始參數設 置。其中校準參數設置由參數校準（由於存取缺陷區域而 _賦能）所指定。執行步驟術繼續監視缺陷_結果。 。第9圖所示的典型參數校準方法與第6圖所示的參數 校準方法類似，主要區別在於將參數從校準參數設置恢復 為初始參數設置的時機（即在參數校準之前的參數設置被 賦能）。參考第10圖和第11圖。第10圖為根據第6圖所 不的f數校準方法相應於缺陷區域和正常區域的參數設 驗 A & ®第！丨圖為根據第9圖所示的參數校準方法相 應於缺陷區域和正常區域的參數設置示意圓。如第ι〇圖 和第U圖所示，在光碟3〇1表面上有指紋Fp，其中磁軌 ™和ΤΚ2受指、紋FP影響。為簡潔和清楚起見，形成於 先碟3(Π上的螺旋狀磁執以多個同心磁執表示。關於第6 圖所示的參數校準方法，校準參數設置阳只有在光學讀 寫頭304存取指紋FP導致的缺陷區域時才有效，初始參 數设置PS0在光學讀寫頭3〇4存取除缺陷區域外的正常區 域時使用。假設光學讀寫5員3〇4順序存取磁軌τκι_τκ3 20 201034007 (即從内磁軌TKl到外路紅、 卜磁軌TK3)，並以第1〇圖和第u 圖中箭頭符^所示的順時針方向沿著光碟則的螺旋狀 磁九移動。虽先學讀寫頭304進入磁軌TK1的缺陷區域 時，賦能參數校準以尋找最佳校準參數設置PS1;然而 一旦光學讀寫頭304離開缺陷區域，初始參數設置PS0立 即恢復。類似地’當光學讀寫頭3Q4進人磁軌τΚ2的缺 陷區域時’賦能參數校準以尋找最佳校準參數設置PS1 ; 然而’-旦光學讀寫頭3〇4離開缺陷區域，初始參數設置 PSO立即恢復。因為外部磁轨TK3不含任何指紋，光學讀 寫頭304存取磁執τκ3時，使用初始參數設置ps〇。 關於第9圖所示的參數校準方法，在光學讀寫頭3〇4 離開與缺陷區域相關的磁軌後，仍保持校準參數設置 PS1。舉例來說，當光學讀寫頭3〇4存取緊接著磁軌τκΐ 鬱上缺陷區域的正常區域時，校準參數設置PS1 (於光學讀 寫頭304存取磁軌TK1上缺陷區域時發現）仍然有效。 若缺陷偵測區塊312可精確偵測光儲存媒體的缺陷區 域，可使用第6圖所示的參數校準方法以獲得讀取光儲存 媒體缺陷區域的最佳效能；然而，若缺陷偵測區塊312不 能精確偵測光儲存媒體的缺陷區域，則可使用第9圖所示 的參數校準方法以獲得讀取光儲存媒體缺陷區域的最佳 效月b。在一典型設計中，如第11圖所示校準參數設置ps 1 . 對至少一個磁軌有效。由於下一個磁軌TK2仍然受指紋 21 201034007 .FP影響，因此當光學讀寫頭304存取磁轨TK2 (包括缺 陷區域和正常區域）時不執行參數恢復。當光學讀寫頭 304進入外部磁轨ΤΚ3時，因為缺陷偵測區塊312產生的 缺陷偵測結果S3將通知參數校準區塊314磁轨ΤΚ3上無 缺陷區域，所以參數恢復被賦能，將參數從校準參數設置 PS1恢復為初始參數設置ps〇。 Φ 請注意，第10圖和第11圖所示的例子僅為說明本發 明，並非用於限制本發明。替代設計均遵從本發明之精 神，並均屬於本發明所主張之範圍。此外本領域的習知技 藝者在讀過上述段落後能夠充分了解第9圖所示的參數 校準方法操作。進一步的描述這里不再贅述。 如上所述，參數校準區塊314可校準參數（例如讀取 通道參數和/或伺服參數）為光學讀寫頭304存取的缺陷 區域尋找最佳參數設置。在本發明的典型實施例中，當參 數校準區塊314被賦能以校準與解碼讀回信號S1相關的 至少-個參數時，應考慮光儲存媒體上缺陷區域的缺陷幅 度。舉例來說，根據缺陷偵測結果s 3，參數校準區塊3 i 4 首先識別光儲存媒體（例如光碟3〇1)上缺陷區域的缺陷 巾田度W缺fete度與第-位準相符，參數校準區塊314實 施參數校準以校準與處理讀回信號S1相關的第一參數； 當缺陷幅度與第二位準相符，參數校準區塊314實施參數 22 201034007 校準以校準與處理讀回信號81相關的第二參數。換㈣ 說，被校準的參數可根據缺陷幅度動態選擇。在一種替代 實現中，當缺陷幅度與第-位準相符，參數校準區塊314 通過第-參數設置實施參數校準以校準參數，#缺陷幅度 與第二位準㈣，參數校準區& 314it過第二參數嗖置實 施參數校準以校準參數。換句話說，指定給被校準參數的 參數設置可根據缺陷幅度動態選擇。 當考慮缺陷幅度時，由於缺陷幅度可提供參數校準的 附加資訊，因此用於尋找最純準參數設置的校準時間可 縮短。請注意，前述例子僅用於說明本發明，並非用於限 制本發明。舉例來說，借助信號品質指數，參數校準可^ 用實驗-錯誤（try-and-error)方法或其它搜索算法以尋找最 佳校準參數設置。可獲得尋找最佳參數設置的相同目標。 除實施參數校準以尋找滿足需求的校準參數設置外， 本發明實施例也用於儲存校準參數設置，以改善光儲存襞 置（例如光碟驅動器）的讀取效能，其中該校準參數設置 包括與處理讀回彳§號相關的一個或多個參數的設置值。舉 例來說，至少一個讀取通道參數或至少一個伺服參數或二 者組合的設置值可使用參數校準獲得並儲存於儲存器中 以備後面使用，其中讀取通道參數例如截剪器帶寬、維特 比帶寬、鎖相迴路帶寬、PRML靶標位準、解碼策略、 23 201034007 • 信號高通濾波帶寬或RF信號幅度’伺服參數例如聚焦增 益或散焦設置。較佳地，可校準多個參數使光儲存襄置具 有最佳讀取效能，這也同時導致對已載入光儲存媒體（例 如光碟）完成初次（first-time)參數校準花費較長的時間週 期。然而，由於光儲存媒體的校準參數設置記錄於光儲存 裝置，當相同的光儲存媒體再次載入至光儲存裝置時，光 儲存裝置因此可使用儲存於其中的校準參數設置改盖將 參被解碼的讀回信號的信號品質。換句話說，參數校準（當 讀回信號的信號品質由於光儲存媒體上的缺陷區域不能 滿足需求時，參數校準被賦能以校準與自光儲存媒體讀取 資料相關的多個參數）有可能導致觀察者可察覺的播放中 斷。然而，獲得並儲存對參數的校準參數設置後，借助所 儲存的由先刖參數校準所獲得的校準參數設置，載入至光 儲存裝置的相同光儲存媒體的接續播放會變得平滑，詳細 n 操作如下所述。 第12圖為根據本發明另一典型實施例的光儲存褒置的 方塊示意圖。光儲存裝置12〇〇 (例如光碟驅動器）包括 光儲存存取區塊1202、控制區塊12〇4、參數校準區塊題 和儲存設備謂。當光储存媒體（例如光碟ΐ2〇ι)載入 至光儲存裝f 1200時，可操作光儲存存取區塊以存 取記錄在光碟1201上的資訊。舉例來說，光儲存存取區 *塊1202包括轉轴馬達（例如® 4圖所示的轉軸馬達3〇2> 24 201034007 ❹ 光子讀寫頭（例如第4囷所示的光學讀寫頭綱）、饲服 與功率控制區塊（例如第4圖所示的伺服與功率㈣區塊 ▲3〇6)、、信號合成器（例如第4圖所示的信號合成器322)、 4取通道區塊（例如第4圖所示的讀取通道區塊31〇)， 其中轉軸馬達以所需旋轉速率來旋轉光碟12〇卜光學讀 寫頭發射具有特定讀取功率的雷射光束至光碟1201並偵 測反射田射光束’飼服與功率控制區塊控制光學讀寫頭的 操作，信號合成器根據自光碟12〇1反射並接著由光學讀 寫頭中的光感測器（圖中未顯示）偵測的信號產生讀回信 说（例如RF信號），讀而、并广1 讀取通道區塊對讀回信號實施高通濾 〉以產生已遽波讀回信號並解碼已遽波讀回信號以獲取 储存於光碟1201的資訊。此外，若光儲存裝置測使用 則述參數校準機制’絲存存取區塊⑽進—步包含附 加組件’例如第4圖所示的極值追蹤單元3 2 6和渡波單元 328/由於光儲存存取區塊l2G2可獲取儲存於光碟㈣ 的—貝訊’本實施中的光儲存存取區塊聰也可自讀回信 ^中獲取光碟1201的識別資訊（identification inf〇rmati°n)°舉例來說’可自内容表（臟of_tent)、 2身枓區（data zone)或光碟12〇1檔案系統的獨特特征 中獲取識別資訊。 參數校準區塊蘭用於實施參數校準對與處理讀回信 號相關的至少-個參數實施校準，叫取校準參數設置。 25 201034007 ’則參數 區塊314 若光儲存裝置1200可使用前述的參數校準機制 校準區塊1206可通過采用第4圖所示的參數校準 實現。 控制區塊1204可經由配置當滿足特定條件時（例如 於存取光碟削上的缺陷區域使得信號品質低於^ = 的位準）激活參數校準區塊1206，並且光碟12〇1的識^ ©資訊和由參數校準區塊麗為光碟咖所尋找的校準參 數設置記錄於儲存設備謂（例如具有資料儲存能力的 記憶體設備或其他組件）。也就是說，控制區塊12〇4將光 碟uoi的識別資訊所指示的校準參數設置記錄於儲存設 備1208以備後用。類似地，若光儲存裝置12〇〇可使用前 述的參數校準_，則第4圖所示的校準控制區塊316和 缺陷偵測區塊312可於控制區塊12〇4中實現。 藝 第13圖為第12圖所示的光儲存裝置12⑼使用的參數 、準方法帛f施例的流程圓。請注意，若結果實質上相 同’則無需嚴格按照第13圖所示的順序執行步驟。參數 权準操作的流程包括下述步驟： 步驟1300 :開始。 步驟1302 :獲取光儲存媒體的識別資訊； 26 201034007 • ㈣贿：參考識別資訊以檢查是否已對光儲存媒體 實施過至少一次參數校準。如果是，執行步驟13〇6;否 則’執行步驟1310。 步驟1306:根據識別資訊，從儲存設備載入校準參數 設置。 步驟1308 :根據自儲存設備載入的校準參數設置，配 置與處理讀回信號相關的至少一個參數。執行步驟1316。 ❹ 步驟1310 :檢查是否應當激活參數校準。如果是，執 行步驟1312 ;否則，繼續檢查是否應當激活參數校準。 步驟1312 :對與處理讀回信號相關的至少一個參數實 施參數校準，因此，為光儲存媒體獲取校準參數設置。 步驟1314:記錄光儲存媒體的識別資訊所指示的校準 參數設置於儲存設備。 步驟1316 :結束。 在多數情況下’光儲存媒體的識別資訊是唯一的。因 此’當載入光碟1201時’控制區塊1204可使用自内容表、 控制資料區或光碟1201的擋案系統獨特特征中獲取的識 別資訊檢查參數校準區塊1206是否對光碟1201實施過至 少一次參數校準（步驟1302和1304)。特別地，當控制 區塊1204激活參數校準區塊12〇6，對與處理讀回信號相 關的至少一個參數實施參數校準時，獲取校準參數設置 ,(步驟1312)，其中至少一個參數與處理由讀取光碟12〇1 27 201034007 . 獲得的讀回信號相關。接著，控制區塊1204記錄識別資 訊指示的校準參數設置至儲存設備12〇8(步驟1314)。因 此，通過比較光碟1201的識別資訊與儲存設備12〇8中記 錄的識別資訊，控制區塊1204能夠知道參數校準區塊 1206之前是否已對光碟12〇1實施參數校準。當控制區塊 1204發現參數杈準區塊12〇6已對光碟實施過至少 一次參數校準（即意味著儲存設備12〇8應當包含光碟 Φ 1201的校準參數設置），因此控制區塊1204自儲存設備 謂載入光碟1201的校準參數設置，並藉由自儲存設備 1208載入的校準參數設置配置光儲存存取區塊丨2们的一 個或多個參數’而不管目前正在存取光碟1201的哪些區 域或何時由於讀回信號的差信號品質而冑求校準參數設 置，其中讀回信號的差信號品質導致解碼錯誤或較高符號 錯誤率。舉例來說，在-個實施例中，當光儲存裝置議 參存取光碟12(H的任何缺陷區域和正常區域，光儲存存取 區塊1202使用自儲存設備12〇8載入的校準參數設置：然 而，在另一個實施例中，只有當光儲存裝置12〇〇存取光 碟1201的缺陷區域時，光儲存存取區塊12〇2才使用自儲 存5又備1208載入的校準參數設置。 當控制區塊1204發現參數校準區塊12〇6還未對光碟 1201實施參數校準（即意味著儲存設備12〇8中沒有光碟 的校準參數設置），因此控制區塊1204檢查參數校 28 201034007 準疋否應當被激活（步驟1304和1310 )。舉例來說，當 光儲存裝置1200將存取光碟1201的缺陷區域或讀回信號 的信號品質較差（也就是說，發生解碼錯誤或符號錯誤率 咼於可接受的位準），控制區塊12〇4激活參數校準區塊 1206以對與處理讀回彳έ就相關的一個或多個參數實施參 數校準，據此獲得校準參數設置，並且控制區塊12〇4將 光碟1201的識別資訊指示的校準參數設置記錄於儲存設 Φ 備 12〇8 (步驟 1312 和 1314)。 右使用前述的參數校準機制，可使用第6圖所示步驟 602以實現步驟丨31〇，且可使用第6圖所示步驟 以實現步驟1312。在如此實施例中，一旦信號品質指數 滿足一個標準，則停止參數校準。接著，校準參數設置儲 存於儲存設備以備後用。然而，步驟131〇中的參數校準 ❹並不限於此典型實施例。舉例來說，光儲存存取區塊 1202 包括與處理讀回信號相關的Ν個參數Ρι_Ρν。參數校準區 鬼1206可經由配置為參數ρ! _ρΝ的中每一個尋找最優設 置。在一個實施例中，控制區塊1204選擇參數Ρ,-Ρν的所 有最優设置作為記錄至儲存設備12〇8的校準參數設置； 在一種替代實施例中’控制區塊12〇4選擇參數Ρι_Ρν的部 刀最優δ又置作為記錄至儲存設備12〇8的校準參數設置。 舉例來說，只有參數Pl、p3^ Pw在信號品質中具有有 29 201034007 . 效改善；因此，控制區塊1204只選擇參數Pl、p3和Pn i 的最優设置作為記錄至儲存設備丨208的校準參數設置。 此外，通過檢查光碟12〇1上相同資料區段（例如相同 ECC區塊或相同磁軌）的信號品質（為避免信號品質錯誤 判斷）’參數校準區塊1206校準與處理讀回信號相關的一 個或多個參數。 並且，參數校準區塊12〇6實施參數校準的光碟區域的 位址也可被記錄。據此，當光碟12〇1再次載入至光儲存 裝置1200時，根據選擇的校準參數設置，控制區塊 配置光儲存存取區塊1202的一個或多個參數，其中根據 光儲存存取區塊1202當前存取的缺陷區域的位址選擇校 準參數設置。舉例來說，光碟12〇1可能具有多個缺陷區 域，每個缺陷區域的位址資料和校準參數設置均記錄至儲 存設備1208。在一種替代設計中，光碟12〇1實際上被分 成多個碟區（disc area)，每個碟區的位址資料和校準參二 設置均記錄至儲存設備1208。 在第13圖所示的典型實施例中，自儲存設備12〇8載 入的校準參數設置直接用於配置光儲存存取區力咖的 一個或多個參數無需再用其他的參數。本發明進—步提出 一種替代設計，藉由自儲存設備12〇8載入的校準參數設 30 201034007 • 置，該替代設計初始化與處理讀回信號相關的至少一個參 數，實施參數校準以更新校準參數設置，並記錄新的校準 參數設置以更新儲存設備1208中光碟1201的識別資訊所 指示的舊校準參數設置。因此，即使於上次的參數校準中 發現的校準參數設置不是最佳的，當前的參數校準可很快 找到一個較優的校準參數設置，這是因為於當前的參數校 準開始時，於上次的參數校準中發現的校準參數設置可作 φ 為初始參數設置。第14圖為第12圖所示的光儲存裝置 1200使用的參數校準方法第二實施例的流程圖。請注意， 若結果實質上相同，則無需嚴格按照第14圖所示的順序 執行步驟。第二種參數校準操作的流程包括下述步驟： 步驟1400 :開始。 步驟1402 :獲取光儲存媒體的識別資訊。 步驟1404:參考識別資訊以檢查是否已對光儲存媒體 ^ 實施過至少一次參數校準。如果是，執行步驟1406 ;否 則，執行步驟1410。 步驟1406:根據識別資訊，從儲存設備載入校準參數 設置。 步驟1408 :根據自儲存設備載入的校準參數設置，配 置與處理讀回信號相關的至少一個參數。 步驟1410 :檢查是否應當激活參數校準。如果是，執 行步驟1412 ;否則，繼續檢查是否應當激活參數校準。 31 201034007 . 步驟1412 :對與處理讀回信號相關的至少一個參數實 施參數校準，因此，為光儲存媒體獲取校準參數設置。 步驟1414 :記錄光儲存媒體的識別資訊所指示的校準 參數設置於儲存設備。 步驟1416 :結束。 本領域的習知技藝者在讀過上述段落後能夠了解第13 ❿ 圖所示的每個操作步驟。進一步的描述這里不再贅述。 簡單總結，第12圖所示典型裝置和第13圖、第14圖 所不典型方法的思想為儲存與處理讀回信號相關的一個 或多個參數的校準參數設置，因此當再次載入相同光儲存 媒體用於播放時可節省校準參數的時間。請注意，參數校 準區塊1206實施的參數校準並不僅限於上述的典型實施 ⑩方式。參數校準區塊1206可經由配置以使用任何可行參 數校準機制，只要能夠改善光儲存裝置12〇〇讀取效能的 校準參數設置能夠成功實現。更特別地，無論實際應用何 種參數校準機制以獲取與處理讀回信號相關的一個或多 個參數的校準參數設置，任何光儲存裝置遵從本發明精神 並=於本發明範圍，其中光儲存裝置記錄光儲存媒體的識 別資訊指示的校準參數設置於儲存設備。 32 201034007 • 各種變形、修改和所述實施例各種特征的組合均屬於 本發明所主張之範圍，本發明之權利範圍應以申請專利範 圍為準。 【圖式簡單說明】 第1圖為光碟的反射信號產生的射頻信號示意圖，該 ❹ 光碟由於刮痕具有缺陷區域。 第2圖為光碟的反射信號產生的射頻信號示意圖，該 光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。 第3圖為光碟的反射信號產生的另一射頻信號示意 圖’該光碟由於指紋或灰塵具有缺陷區域。 第4圖為根據本發明一實施例的光儲存裝置的方塊示 意圖。 鲁 第5圖為缺陷偵測區塊實施缺陷偵測的示意圖。 第6圖為第4圖所示的光儲存裝置使用的參數校準方 法的第一實施例流程圖。 第7圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷區域 時無參數校準被賦能的典型例子示意圖。 第8圖為當光學讀寫頭存取光儲存媒體上的缺陷區域 時無參數校準被賦能的典型例子示意圖。 、第9圖為第4圖所示的光儲存裝置使用的參數校準方 ，法的第二實施例流程圖。 33 201034007 第10圖為根據第6圖所示的參數校準方法相應於缺陷 區域和正常區域的參數設置示意圖。 第11圖為根據第9圖所示的參數校準方法相應於缺陷 區域和正常區域的參數設置示意圖。 第12圖為根據本發明另一典型實施例的光儲存裝置的 方塊示意圖。 第13圖為第12圖所示的光儲存裝置使用的參數校準 ❹ 方法第一實施例的流程圖。 第14圖為第12圖所示的光儲存裝置使用的參數校準 方法第二實施例的流程圖。 【主要元件符號說明】 300 301 302 304 306 308 310 312 314 316 光儲存裝置 光碟 轉軸馬達 光學讀寫頭 伺服與功率控制區塊 信號產生區塊 讀取通道區塊 缺陷偵測區塊 參數校準區塊 校準控制區塊 34 201034007 • 322信號合成器 324信號處理器 326極值追蹤單元 328濾波單元 332第一截剪器 334第二截剪器 336決策邏輯單元 @ 342高通濾波器 344解碼器 1200光儲存裝置 1201光碟 1202光儲存存取區塊 1204控制區塊 1206參數校準區塊 1208儲存設備 600〜618、900〜918、1300〜1316、1400〜1416 步驟 35

Claims (1)

1. 201034007 七、申請專利範圍： 1· 一種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方 法，包括： 根據所述讀回信號實施一缺陷偵測並產生一缺陷偵測 «果所述缺陷價測結果用於指示所述光儲存媒體上的缺 陷區域；以及 ❹ 減料缺陷彳貞職果，對與處理所述讀龍號相關 的至少一個參數實施一參數校準。 【如巾請專利範圍第丨項所述之處理由讀取光儲存媒 體產生的讀回信號的方法，其中根據所述讀 述缺陷偵測包括： 貫施所 處理所述讀回信號產生-已處理讀回信號；

   根據第戴剪位準戴剪所述已處理讀回信號， 一第一戴剪結果；以及 生 根據所述第一截剪結果產生所述缺陷偵測結果。 3.如申請專㈣㈣2項所述之處理由讀 :產生的讀回信號的方法，其中根據所述讀回信號= 迷缺陷偵測進一步包括： 斤 根據一第二戴剪位準截剪所述已處理讀回信號， 第二截剪結果；以及 36 201034007 f據所述第—戴剪結果產生所述缺陷偵測結果包括： 艮:康所述第一截剪結果和所述第二戴剪結果產生所述 缺偵測結果。 ^如申請專利範圍第丨項所述之處理由讀取錢存媒 、生的讀回仏號的方法，其中所述至少_個參數為一讀 取通道參數、—伺服參數或二者的-個組合。

   5·如申請專利範圍第4項所述之處理由讀取光儲存媒 體產生的讀回信號的方法，其中所述讀取通道參數為一截 剪帶寬、-料比帶寬、-鎖相迴料寬、—部分回應最 大似然乾標位準、—解碼策略、—射頻信號高通滤波帶寬 或一射頻信號幅度；所述舰參數為—聚焦增益或一散隹 設置。 … 6.如申請專利範圍帛1項所述之處理由讀*光儲存媒 體產生的讀回信號的方法，其中對所述至少—個參數實施 所述參數校準包括： 根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷 區域的一缺陷幅度；以及 根據所述缺陷幅度實施所述參數校準。 7.如申請專利範圍第丨項所述之處理由讀取光儲存媒 37 201034007 體產生的讀回信號的方法’進一步包括： 根據自處理所述讀回信號獲取的一信號品 制所述參數校準。 役 8. 如U利_第7項所述之處理由讀取光儲存媒 體產生的讀回信號的方法，其中根據所述信號品質指數控 制所述參數校準包括： ❹ 檢查所述信號品質指數是否滿足一預設標準； 若所述信號品質指數滿足所述預設標準，禁能所 數校準；以及 若所述信號品質指數不滿足所述預設標準，控制所述 參數校準以調整所述至少一個參數。 ' 9. 如申請專利範圍第7項所述之處理由讀取光儲存媒 體產生的讀回信號的方法，其中所述信號品質指數包括從 ® 所述讀回信號中獲取的一同步信號的一信號品質或與解 碼所述讀回信號相關的一解碼品質。 10. 如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的方法，其中對所述至少一個參數實 施所述參數校準包括： 根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷 區域；以及 38 201034007 . 當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域 時，賦能所述參數校準以校準所述至少一個參數；以及 所述處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法進 一步包括： 若不存取所述缺陷區域，將所述至少一個參數從一校 準參數設置恢復為一初始參數設置，其中，所述校準參數 設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準所 ❹ 指定。 11.如申請專利範圍第1項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的方法，其中對所述至少一個來數實 施所述參數校準包括： 根據所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷 區域；以及 當存取根據所述缺陷彳貞測結果識別的所述缺陷區域 時，賦能所述參數校準以校準所述至少一個參數；以及 所述處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方法進 一步包括： 當不存取所述光儲存媒體與所述缺陷區域相關的磁執 並且存取一正常區域的至少一部分時，將所述至少一個參 數從一校準參數設置恢復為一初始參數設置，其中所述校 準參數設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數 校準所指定。 39 201034007 12. —種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝 置，包括： 一缺陷偵測區塊，用於根據所述讀回信號實施—缺陷 偵測以產生一缺陷偵測結果，所述缺陷偵測結果用於指= 所述光儲存媒體上的缺陷區域；以及 ' 一參數校準區塊，耦接於所述缺陷偵測區塊，用於根 ❹據所述缺陷價測結果，對與處理所述讀回信號相關的至少 一個參數實施一參數校準。 13. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，進一步包括： L號產生區塊，包括： 〇 L號合成器，用於根據自所述光儲存媒體反射的信 ❹號產生所述讀回信號；以及 ，t號處理器，耦接於所述信號合成器，用於處理所 述讀回h破以產生一已處理讀回信號； 其中，所述缺陷偵測區塊包括： 一 _^戴剪器，耦接於所述信號產生區塊，用於根據 二一截剪位準截剪所述已處理讀回信號，產生-第一截 剪結果；以及 概 =策邏輯單元’麵接於所述第一戴剪器，用於根據 . 述第一截剪結果產生所述缺陷债測結果。 201034007 14.如申請專利範圍第13項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，其中，所述缺陷偵測區塊進 一步包括： 一第二戴剪器，耦接於所述信號產生區塊和所述決策 邏輯單元，用於根據一第二截煎位準截剪所述已處理讀回 仏號產生-第二戴苜結果，其中所述決策邏輯單元根據 ❹所述第-截剪結果和所述第二戴剪結果產生所述缺 測結果。 15. 如申請專利範圍帛12項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，其中由所述參數校準區塊校 準的所述至少—個參數為—讀取通道參數、—伺服參數或 二者的一個組合。 16. 如中請專利範圍第15項所述之處理由讀取 媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述讀取通道參數^ 截剪帶寬、一維特比帶寬、一鎖相迴路帶寬、一部八 最大似然靶標位準、一解碼策略、一射頻信號高通：二 寬或-射頻信號幅度；所述伺服參數為—聚焦增益l 17.如中請專利第12項所述之處理由讀取光儲存 41 201034007 •媒體產生的讀回信號的裝置，其中根據所述缺陷偵測結果 所述參數校準區塊識別所述光儲存媒體上一缺陷區域的 一缺陷幅度；並且根據所述缺陷幅度實施所述參數校準。 18·如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，進一步包括： 一校準控制區塊，耦接於所述參數校準區塊，用於根 參據自處理所述讀回信號獲取的-信號品質指數，控制所述 參數校準區塊。 19. 如申請專利範圍第18項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述校準控制區塊檢查 所述信號品質指數是否滿足一預設標準；若所述信號品質 指數滿足所述預設標準’禁能所述參數校準；並且若所述 信號品質指數不滿足所述預設標準，控制所述參數校準以 _ 調整所述至少一個參數。 20. 如申請專利範圍第18項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裴置，其中所述信號品質指數包括 從所述讀回信號中獲取的一同步信號的一信號品質或與 解碼所述讀回信號相關的一解碼品質。 21. 如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存 42 201034007 媒體產生的讀回信號的裝置’其中所述參數校準區塊根據 所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上 一缺陷區域；並 且當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域 時’权準所述至少一個參數；以及若不存取所述缺陷區 域，所述參數校準區塊將所述至少一個參數從一校準參數 設置恢復為一初始參數設置，其中所述校準參數設置係由 於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準區塊所指定。 22.如申請專利範圍第12項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，其中所述參數校準區塊根據 所述缺陷偵測結果識別所述光儲存媒體上一缺陷區域；以 及當存取根據所述缺陷偵測結果識別的所述缺陷區域 時，校準所述至少一個參數；以及當不存取與所述缺陷區 域相關的所述光儲存媒體磁軌並且存取一正常區域的至 少一部分時，所述參數校準區塊將所述至少一個參數從一 杈準參數設置恢復為一初始參數設置，其.中所述校準參數 設置係由於存取所述缺陷區域而賦能的所述參數校準區 塊所指定。 23· —種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的方 法，包括： 根據所述讀回信號獲取所述光儲存媒體的識別資訊； 對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參 43 201034007 • 數校準，以獲取所述至少一個參數的一校準參數設置；以 及 記錄所述識別資訊指示的所述校準參數設置至一儲存 設備。 24’如申凊專利範圍第23項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的方法，進一步包括： • 參考所述識別資訊以檢查是否已對所述光儲存媒體實 施過至少一次所述參數校準；以及 若已對所述光儲存媒體實施過至少一次所述參數校 準，根據所述識別資訊從所述儲存設備加載所述校準參數 «又置並且根據從所述儲存設備载入的所述校準參數設置 配置與處理所述讀回信號相關的所述至少一個參數； 其中當還未對所述光儲存媒體實施所述參數校準時， ❹實施所述參數校準的步驟和記錄所述校準參數設置 驟。 歹 25.如申請專利範圍第24項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的方法，其中根據從所述儲存設備^ 述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的 所述至少一個參數的步驟進一步包括： 當需求所述參數校準時，執行實施料參數校準的步 乂更新從所述儲存設備載入的所述校準參數設置，並 44 201034007 且執行記錄所述校準參數設置的步驟，以更新所述儲存設 備中所述識別資訊指示的所述校準參數設置。 26. —種處理由讀取光儲存媒體產生的讀回信號的裝 置’包括： 一光儲存存取區塊，用於讀取所述光儲存媒體以獲取 所述讀回信號，並根據所述讀回信號獲取所述光儲存媒體 鲁 的識別資訊； 參數校準區塊，耗接於所述光儲存存取區塊，用於 對與處理所述讀回信號相關的至少一個參數實施一參數 杈準，以獲取所述至少一個參數的一校準參數設置； 一儲存設備；以及 -控制區塊，耦接於所述參數校準區塊、所述光儲存 存取區塊和所述儲存設備，用於記錄所述識別資訊指示的 ⑩所述权準參數設置至所述儲存設備。 27.如中4專利範圍第26項所述之處理由讀取光儲存 :體產生的讀回信號的裝置’其中所述控制區塊進一步參 =所述識別資訊以檢查所述參數校準區塊是否已對所述 儲存媒體實㈣至少—切述參數校準；若所述參數校 進區塊已對所述光儲存媒體實施過至少一次所述參數校 的所所十、^控制區塊從所述儲存設備域所述識別資訊指示 Ί準參數&置，並且根據從所述料設備載入的所 45 201034007 * 述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的所述至 少一個參數；當所述參數校準區塊還未對所述光儲存媒體 實施所述參數校準時，所述控制區塊激活所述參數校準以 對所述光儲存媒體實施所述參數校準，並將所述參數校準 區塊獲取的並由所述光儲存媒體的所述識別資訊指示的 所述校準參數設置記錄至所述儲存設備。 _ 28.如申請專利範圍第27項所述之處理由讀取光儲存 媒體產生的讀回信號的裝置，其中根據自所述儲存設備載 入的所述校準參數設置配置與處理所述讀回信號相關的 所述至少一個參數後，當需求所述參數校準時，所述控制 區塊進一步控制所述參數校準區塊以實施所述參數校 準，以更新從所述儲存設備載入的所述校準參數設置，並 且記錄已更新的所述校準參數設置，以更新所述儲存設備 中所述識別資訊指示的所述校準參數設置。 八、圖式： 46