[go: up one dir, main page]

TW201007986A - Light-emitting diode device and manufacturing method thereof - Google Patents

Light-emitting diode device and manufacturing method thereof Download PDF

Info

Publication number
TW201007986A
TW201007986A TW98107515A TW98107515A TW201007986A TW 201007986 A TW201007986 A TW 201007986A TW 98107515 A TW98107515 A TW 98107515A TW 98107515 A TW98107515 A TW 98107515A TW 201007986 A TW201007986 A TW 201007986A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
substrate
emitting diode
light
layer
contact layer
Prior art date
Application number
TW98107515A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI380476B (en
Inventor
Chen-Hua Yu
Wen-Chih Chiou
Ding-Yuan Chen
Chia-Lin Yu
Hung-Ta Lin
Original Assignee
Taiwan Semiconductor Mfg
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiwan Semiconductor Mfg filed Critical Taiwan Semiconductor Mfg
Publication of TW201007986A publication Critical patent/TW201007986A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI380476B publication Critical patent/TWI380476B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/81Bodies
    • H10H20/819Bodies characterised by their shape, e.g. curved or truncated substrates
    • H10H20/82Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01Manufacture or treatment
    • H10H20/011Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers
    • H10H20/013Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group III-V materials
    • H10H20/0133Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group III-V materials with a substrate not being Group III-V materials
    • H10H20/01335Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group III-V materials with a substrate not being Group III-V materials the light-emitting regions comprising nitride materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/01Manufacture or treatment
    • H10H20/011Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers
    • H10H20/013Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group III-V materials
    • H10H20/0137Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group III-V materials the light-emitting regions comprising nitride materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/81Bodies
    • H10H20/811Bodies having quantum effect structures or superlattices, e.g. tunnel junctions
    • H10H20/812Bodies having quantum effect structures or superlattices, e.g. tunnel junctions within the light-emitting regions, e.g. having quantum confinement structures
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/81Bodies
    • H10H20/819Bodies characterised by their shape, e.g. curved or truncated substrates
    • H10H20/821Bodies characterised by their shape, e.g. curved or truncated substrates of the light-emitting regions, e.g. non-planar junctions
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/81Bodies
    • H10H20/822Materials of the light-emitting regions
    • H10H20/824Materials of the light-emitting regions comprising only Group III-V materials, e.g. GaP
    • H10H20/825Materials of the light-emitting regions comprising only Group III-V materials, e.g. GaP containing nitrogen, e.g. GaN

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Description

201007986 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明有關於一種發光二極體裝置及其製造方法, 特別是有關於具有平坦表面的發光二極體裝置。 【先前技術】 發光二極體(LED)是藉由在基板上形成活性區域以 及在基板上沈積各種導電層及半導體層來製造。藉由P-n ⑩接面的電流,電洞對的輻射重組可用來產生電磁輻射。 由例如GaAs或GaN的直接能隙材料製造的順向偏壓p-n ; 接面中,注入匱乏區的電洞對重組,造成電磁輻射的發 射。此電磁輻射可能落在可見光區或是非可見光區的範 ' 圍。LED的不同顏色可使用不同能隙材料來形成。再者, 在非可見光區發射電磁輻射的LED,可使非可見光導向 磷光透鏡或類似的材料。當非可見光被透鏡吸收時,此 磷光會發出可見光。
❹ LED通常在藍寶石基板(A1203)上製造,形成III族-N 化合物的LED結構,因為藍寶石基板的結晶方位使ΠΙ 族-N化合物可以磊晶成長於此藍寶石基板上。然而,藍 寶石基板較矽基板貴,而且藍寶石的低熱導性,使得藍 寶石基板典型特徵為熱累積。 再者,LED通常在平坦的基板上形成,因此會形成 平坦的LED結構。平坦的LED結構會限制設置於既定尺 寸的基板上的發光材料的量。而且平坦表面能夠使光線 被導向及捕捉於裝置中,導致取出效率(extraction 0503-A33854TWF/susan 3 201007986 efficiency)P条低(Journal of The Electrochemical Society, 153 2 G105-G107 2006)。因此,既定尺寸的LED的發光 效率會受到限制。 有人已嚐試製造非平坦表面的LED以增加既定尺寸 基板上的發光區域量,並破壞波導(waveguide)現象。這 樣會造成LED結構的頂部基板也成為非平坦結構。因 此,如果在頂部III族-N層上形成電性接觸,則不能形 成具有平坦表面的LED裝置。 參 因此,有需要一種具有增加發光效率並具有形成電 性接觸的適當表面之LED裝置。 ‘ 【發明内容】 本發明的實施例提供具有平坦表面的發光二極體 (LED),可減少、解決或避免上述之問題,並達到技術上 的優勢。 本發明之一發明方面,提供一發光二極體(LED)裝 φ 置。此LED裝置包括一半導體基板;凸起區域,形成於 上述半導體基板上,上述凸起區域包括一半導體材料; 一第一接觸層,位於上述凸起區域上,上述第一接觸層 具有一非平坦表面;一非平坦的活性層,位於上述第一 接觸層上;以及一第二接觸層,位於上述非平坦的活性 層上,上述第二接觸層具有一平坦表面。 本發明的另一發明方面,提供一製造發光二極體 (LED)裝置的方法。此方法包括提供一基板;在上述基板 上形成凸起區域;在上述凸起區域上形成一第一接觸 0503-A33854TWF/susan 4 201007986 層,在上述第—接觸層上形成一活性層,上述活性層具 有非平坦表面;以及在上述活性層上形成一第二接觸 層,上述第二接觸層具有一平坦表面。 本發明的另一發明方面,提供一製造發光二極體 (LED)裝置的方法。此方法包括提供―基板,在上述基板 开y成介電層。上述介電層經過圖案化形成圖案罩幕, 此圖案罩幕定義開口,在此開㈣暴露出上述基板。之 ^ ’在上述開口㈣上述暴露基板上,形成凸起區域的 /驟卩及在上述凸起區域上形成led結構的步驟,因 $上述LED結構的襲觸層為—平坦表面,而底接 為一非平坦表面。 【實施方式】 本案之較佳實施例的製造與使用皆詳細說明於下。 ❹ 供多種應用本發明概念而具體實施於大範圍 寺疋H討論㈣定實_僅 用本發日㈣料料,秘制本發日錄目。狀及使 及所i ί —種製造發光二極體(l e d )的新颖方法 構。也顯示本發明的製造方法的較佳 =的中間步驟。本發明雖然顯示必要說明的步驟, 種顴點' :其他步驟。本案全文中的實施例說明與多 種硯點,相關代號為元件符號。 第1 a- 5 b圖顯示本私明__麻+Λ· 個中間製程步驟,第lb 中部分晶圓1〇〇的多 弟 2a、3a、4a、及5a圖分別顯 〇503<A33854TWF/susan 5 201007986 示弟lb圖的A-A’虛線下、第2b圖的只上 ^ β虛線下、第3b 以及第5b圖 圖的C-C’虛線下、第4b圖的D-D,虚線下、 的E-E’虛線下的晶圓1〇〇剖面圖。 首先請參閱第la圖與第lb圖,吾m , 抽圓100包括一基 板102,與位於上述基板1〇2上方的〜逭一 早暴層104。上述 基板102較佳為摻有第一導電型摻皙 焉的塊狀半導體基 板,較佳具有(_表面方位。應注意,本發明實施例 欽述使用塊狀石夕基板,但也可以使用复^ * ❹ ❹ /、他基板。例如絕 緣層上覆石夕(SOI)基板、藍寶石基板、 ^ 基板,或類似 的基板。然而本發明實施例特別適合砂I t /暴板,因為矽基 板的成本低且可減少石夕基板上的LED社 結構的殘留的應 力。而且’雖然較佳具有(1〇〇)表面方仿 此的基板,也可以 使用具有不同表面方位的基板,例如(Ί ] π、±
UiU)表面方位。矽 基板還可以改善取出效率並可使用選摆林Ττ ,Ρ , 伟1:1 ΠΙ族-Ν磊晶 成長步驟。
上述罩幕層104較佳為硬罩幕,发々I /、匕括一個或多個 介電層。本發明的一實施例中,例如佶 1义用四乙氧基石夕烧 (tetra-ethyl-ortho-silicate; TE0S)及氧作為前驅物,以高 溫氧化或化學氣相沉積法(chemical vapor deposition; CVD)技術形成二氧化矽層。或者,上述罩幕層104可由 其他介電材料形成。例如氮化矽、氧氮化矽或類似化合 物,經由例如化學氣相沉積法(CVD)步驟形成。也可以使 用例如二氧化矽層及氮化矽層的多層硬罩幕。上述罩幕 層104較佳具有約100A至約50,000人厚度。 第2a圖與第2b圖顯示,本發明的一實施例中,上 0503-A33854TWF/susan 6 201007986 述罩幕層104(參照第la圖與第〗b圖)隨後被圖案化,形 成圖案化罩幕206。此實施例中’使甩晋知的微影技術圖 案化上述罩幕層104。通常,微影技術包括塗佈光阻材料 以及根據圖案照射上述光阻材料。之後使上述光阻材料 顯影’以移除部份的光阻材料。之後在例如钱刻的製程 步驟中,留下的光阻材料會保護其下方的材料。 本實施例中,使用上述光阻材料形成圖案化罩幕 206,此圖案化罩幕206定義開口 208矩陣,此開口 208 鲁暴露出下方基板102。每一開口較佳的高度h為約100A 至約50,000人,寬度w為約0.02km至約ΙΟμιη。應注意 第2b圖的方形開口僅用於說明而已,也可以使用任何適 當的形狀,例如長方形、圓形、即圓形、三角形、及/或 類似形狀。而且其他實施例在矩陣中不一定排列成行列 的矩陣’可以是圖案化、交錯的、或類似的排列的開口。 第3a圖與第3b圖顯示,本發明的一實施例中,在 _ 凸起區域302形成於開口 208内之後的上述晶圓100。上 述凸起區域302較佳由矽(Si)或矽化鍺(siGe)選擇性磊晶 成長(selective epitaxial growth; SEG)而形成。在此情形 下,上述凸起區域302的磊晶成長將受限於由開口 208 定義的基板102上的暴露區域》因為蠢晶成長不會發生 在例如8102的介電材料所形成的上述圖案化罩幕206上。 較佳可調整此製程參數,使上述凸起區域302形成 金字塔形或梯形。在磊晶成長時使用製程溫度約600°C, 更佳為高於約700°C,可促使形成金字塔形或梯形。已經 發現這些形狀導致在上述凸起區域302上形成(111)表面 0503-A33854TWF/susan 7 201007986 方位,而(111)表面方位提供led結構一較適當的表面以 蟲晶成長GaN接觸層,以下將更詳細說明。應注意由選 擇性蟲晶成長形成的上述凸起區域3 02,較佳沿伸到上述 開口 208内的整個暴露的基板1〇2的表面,而具有不同 表面方位的上述基板102,不在上述開口 208内暴露出來。 第4a圖與第4b圖顯示,本發明的一實施例,在上 述開口 208内的凸起區域302上,形成第一接觸層402 與活性層404之後的晶圓1 〇〇。上述第一接觸層402較佳 ❹ 由III族-N化合物摻入第一導電型的摻質(例如n-GaN)而 形成,而且可由例如分子束磊晶術(m〇lecular_beam epitaxy; MBE)、金屬有機化學氣相沉積法(metal 〇rganic chemical vapor deposition; MOCVD)、氫化物氣相磊晶術 (hydrid vapor phase epitaxy; HVPE)、液相磊晶術(iiquid phase epitaxy; LPE)、或類似的選擇性磊晶成長製程沉 積。III 族-N 材料包括例如 GaN、InN、AIN、InxGa(1_x>ISf、 AlxGa(]-x)N、AlxInyGa(]_x_y)N、或類似化合物。 # 上述活性層404沉積在上述第一接觸層402上。上 述活性層404可包括多置子井(multiple quatum wells; MQW) ’作為用以發光的活性層。活性層404内的多量子 井(MQW)結構可為例如InGaN層及GaN層。活性層404 内的多量子井(MQW)結構可以在磊晶反應物之中沉積。 由於圖案化罩幕206由例如Si02的介電材料形成, 因此第一接觸層402與活性層404的成長受限在上述凸 起區域302的表面。由於第一接觸層402與活性層404 貫質均勻地成長在上述凸起區域302上,因此第一接觸 0503-A33854TWF/susan 8 201007986 層402與活性層404具有一非平坦表面的外形。在此技 術領域中热知此技術者將了解,相較於第la圖的基板ισ2 所具有的平坦表面,第一接觸層4〇2與活性層4〇4的非 平坦表面外形會增加暴露表面的面積。此情形會增加 LED裝置的發光效率。 第5a圖與第5b圖顯示,本發明的一實施例,形成 第二接觸層502後的晶圓1〇〇。如圖顯示,上述第二接觸 層502延伸覆盡上述凸起區域302上(包括上方的第一接 φ觸層402與活性層404)以及上述圖案化罩幕2〇6上,且 具有一實質平坦表面。上述第二接觸層5〇2較佳由摻入 第二導電型摻質(如p-GaN)的扭族氺化合物所形成,並 且可由類似於第一接觸層402製程步驟而形成,例如選 擇性轰晶成長步驟。 上述第一接觸層;>02延伸覆蓋上述圖案化罩幕2〇6 上。上述第二接觸層502的厚度為約looo人至約 5,000人。要形成第二接觸層5〇2的平坦表面,可將上述 ❿第二接觸層5G2形成較所希望的厚度更厚,然後進行平 化步驟例如化予機械研磨(chemical mechanical polishing; CMP)步驟。在另—實施例中,上述第二接觸層 5〇2可經由例如金屬有機氣相磊晶(metal organic vapor phase epitaxy; M0VPE)形成實質上平坦的表面。 之後,進行完成LED裝置的步驟。例如分別在上述 第一及第二接觸層402及502上形成電性接觸(前面及/ 或背面接觸),也可以形成鈍性層,並且也可以將LED裝 置晶粒化及封裝。 0503-A33854TWF/susan 9 201007986 應 注意上述說明是假設第—接觸層4〇2 觸,其通常使用已摻雜的基板102。杏 使用月面接 上述第-接觸層4G2的電性接觸時:别面接觸作為 的基板H)2。 %也可以使用未摻雜 應注意上述說明為在粗糙基板上形成 法。也可視需要使用例如分佈布拉格反射哭裝置的方
Bragg reflector)或緩衝層的其他芦。 、°。 istnbuted -與第二接觸層術與5〇2的連θ接關f基板的型態及第
第一接觸層402與基板102間形成 視而要在 如SiC與Si基板的基板上,可視恭尊a列如’在例 」祝需要在s 族-N化合物磊晶成長中,加入例如 ^反上的 層。分佈布拉格反射器通常包括㈣多層^ = 數,使LED發射的光反射,因而增加由 = 射的光。反射緩衝層也可以與分佈布拉格反射器」同1 用或取代分佈布拉格反射器。 LED結構可以根據使用的材料及所希望的應用方面 而改變。可_有多種L E D結構使財發明實施例,提 供在基板内的凹陷處’形成led結構。 此技術領域中具有通常知識者將有利地了解,因為 在第二接觸層502與活性層404間形成非平坦界面,相 較於佔有相同晶片面積的平坦多量子井(MQW),LED裝 置的發光表面積增加。因此結果為,增加發光效率。 而且’上述第二接觸層5〇2的表面為實質上平坦。 相較於具有粗糙頂部表面的第二接觸層,上述第二接觸 層502的實質上平坦表面使頂部電性接觸更容易形成。 0503-A33854TWF/susan 10 201007986 雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用 以限定本發明,任何熟悉此項技藝者’在不脫離本發明 之精神和範圍内,當可做些許更動與潤飾,因此本發明 之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
0503- A3 3 854T WF/susan 11 201007986 【圖式簡單說明】 第 la、lb、2a、2b、3a、3b、4a、4b、5a 及 5b ®Γ顯 示本發明實施例的製造發光二極體裝置的多個中間製程 步驟。 【主要元件符號說明】 100〜晶圓; 10 2〜基板; _ 104〜罩幕層; 206〜圖案化罩幕; 20 8〜開口; 3 0 2〜凸:¾區士或, 402〜第一接觸層; 404〜活性層; 502〜第二接觸層。
0503-A33854TWF/susan 12

Claims (1)

  1. 201007986 七、申請專利範圍: 1. 一種發光二極體裝置,包括: 一半導體基板; 凸起區域,形成於上述半導體基板上,上述凸起區 域包括一半導體材料; 一第一接觸層,位於上述凸起區域上’上述弟一接 觸層具有一非平坦表面; 一非平坦的活性層,位於上述第一接觸層上;以及 參 一第二接觸層,位於上述非平坦的活性層上,上述 第二接觸層具有一平坦表面。 2. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體裝置, 更包括一介電區域’介於相鄰的凸起區域之間。 3. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體裝置, 其中上述第一接觸層在相鄰的凸起區域之間為不連續。 4. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體裝置’ 其中上述半導體基板包括塊狀矽基板。 ® 5.如申請專利範圍第4項所述之發光二極體裝置, 其中上述塊狀矽基板具有(1〇〇)表面方位。 6. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體裝置, 其中上述凸起區域包括SiGe。 7. —種發光二極體裝置的製造方法,包括: 提供一基板; 在上述基板上形成凸起區域; 在上述凸起區域上形成一第一接觸層; 在上述第一接觸層上形成一活性層,上述活性層具 0503-A33854TWF/susan 13 201007986 有一非平坦表面;以及 在上述活性層上形成一笛_ 層具有一平坦表面。接觸層’上述第二接觸 赞、土8方、Γ 利範圍第7項所述之發光二極體裳置的 製以方法,其中形成上述凸起區域包括: 在上述基板上形成一罩幕層; 圖案化上述罩幕層,以暴露出上述基板的一部分. 以及 y I刀, ❹ 在上述基板暴露的部分上形成凸起區域。 制、生9方法如申^專利範圍第7項所述之發光二極體裝置的 =連:法、中上述第—接觸層在上述凸起區域之間為 方:申::,圍第7項所述之發光二極體裝置 法’其中上述活性層在上述凸起區域之間為不 的二ΓΓ!利範圍第7項所述之發光二極體裝置 的衣仏方法,其中形成上述第二接觸層包括: 形成上述第二接觸層以達到較所希望的厚度更厚的 厚度;以及 予又更y予的 平:L·化上述弟一接觸層至所希望的厚度。 12.如申請專利範㈣7項所述之發光二極體 的製造方法’其中上述基板為塊㈣基板。 、 13·如中請專利範圍第7項所述之發光二極體 =製造方法’其中上述基板減狀絲板具有⑽该面 ·/ »-!*-0503-A33854TWF/susan 14 201007986 14.如申請專利範圍第7項所述之發光二極體裝置 的製造方法,其中上述凸起區域包括SiGe。
    0503-A33854TWF/susan 15
TW98107515A 2008-08-11 2009-03-09 Light-emitting diode device and manufacturing method thereof TWI380476B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/189,635 US8058082B2 (en) 2008-08-11 2008-08-11 Light-emitting diode with textured substrate

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201007986A true TW201007986A (en) 2010-02-16
TWI380476B TWI380476B (en) 2012-12-21

Family

ID=41652062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW98107515A TWI380476B (en) 2008-08-11 2009-03-09 Light-emitting diode device and manufacturing method thereof

Country Status (3)

Country Link
US (3) US8058082B2 (zh)
CN (1) CN101651179B (zh)
TW (1) TWI380476B (zh)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9293656B2 (en) * 2012-11-02 2016-03-22 Epistar Corporation Light emitting device
US8716723B2 (en) * 2008-08-18 2014-05-06 Tsmc Solid State Lighting Ltd. Reflective layer between light-emitting diodes
TWI414004B (zh) * 2010-10-25 2013-11-01 國立交通大學 具有氮化鎵層的多層結構基板及其製法
KR20130035658A (ko) * 2011-09-30 2013-04-09 서울옵토디바이스주식회사 발광 다이오드 소자용 기판 제조 방법
US9053930B2 (en) * 2012-04-17 2015-06-09 International Business Machines Corporation Heterogeneous integration of group III nitride on silicon for advanced integrated circuits
US9099381B2 (en) * 2012-11-15 2015-08-04 International Business Machines Corporation Selective gallium nitride regrowth on (100) silicon
CN105449058A (zh) * 2014-09-02 2016-03-30 展晶科技(深圳)有限公司 磊晶基板、磊晶基板的制造方法及发光二极管
DE102014114109A1 (de) 2014-09-29 2016-03-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung einer Vielzahl von Halbleiterchips und Halbleiterchip
JP2016081562A (ja) * 2014-10-09 2016-05-16 ソニー株式会社 表示装置、表示装置の製造方法および電子機器
CN105720157A (zh) * 2016-02-26 2016-06-29 中国科学院半导体研究所 氮化镓基微纳米锥结构发光二极管及其制备方法
DE102017002333A1 (de) * 2017-03-13 2018-09-13 Azur Space Solar Power Gmbh Leuchtdiode
US10134945B1 (en) * 2017-08-28 2018-11-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Wafer to wafer bonding techniques for III-V wafers and CMOS wafers
CN110247303A (zh) * 2019-06-26 2019-09-17 长春中科长光时空光电技术有限公司 一种垂直腔面发射激光器及光谱检测仪
CN115537766B (zh) * 2022-10-20 2024-07-19 江西乾照光电有限公司 掩膜组件及led芯片的制备方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4032538B2 (ja) 1998-11-26 2008-01-16 ソニー株式会社 半導体薄膜および半導体素子の製造方法
WO2000055893A1 (en) 1999-03-17 2000-09-21 Mitsubishi Cable Industries, Ltd. Semiconductor base and its manufacturing method, and semiconductor crystal manufacturing method
JP2002261327A (ja) * 2001-03-06 2002-09-13 Sony Corp 半導体発光素子及び半導体発光素子の製造方法
EP1378949A4 (en) 2001-03-21 2006-03-22 Mitsubishi Cable Ind Ltd SEMICONDUCTOR LUMINESCENT DEVICE
JP3659201B2 (ja) 2001-07-11 2005-06-15 ソニー株式会社 半導体発光素子、画像表示装置、照明装置及び半導体発光素子の製造方法
JP3969029B2 (ja) * 2001-08-03 2007-08-29 ソニー株式会社 半導体素子の製造方法
US8035113B2 (en) 2004-04-15 2011-10-11 The Trustees Of Boston University Optical devices featuring textured semiconductor layers
GB2418532A (en) 2004-09-28 2006-03-29 Arima Optoelectronic Textured light emitting diode structure with enhanced fill factor
TWI248691B (en) * 2005-06-03 2006-02-01 Formosa Epitaxy Inc Light emitting diode and method of fabricating thereof

Also Published As

Publication number Publication date
US8659033B2 (en) 2014-02-25
CN101651179A (zh) 2010-02-17
US20120025234A1 (en) 2012-02-02
US20100032696A1 (en) 2010-02-11
US8058082B2 (en) 2011-11-15
US9130115B2 (en) 2015-09-08
US20140166979A1 (en) 2014-06-19
CN101651179B (zh) 2013-05-29
TWI380476B (en) 2012-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201007986A (en) Light-emitting diode device and manufacturing method thereof
CN101651181B (zh) 发光二极管
JP4994758B2 (ja) 窒化ガリウム系半導体発光素子及びその製造方法
US9385266B2 (en) Method of manufacturing a nanostructure light emitting device by planarizing a surface of the device
CN100536185C (zh) 氮化镓基发光二极管及其制造方法
US8853671B2 (en) Nanorod light emitting device and method of manufacturing the same
KR101125395B1 (ko) 발광소자 및 그 제조방법
US8247822B2 (en) Semiconductor light-emitting device
JP5306779B2 (ja) 発光素子及びその製造方法
US9461205B2 (en) Nanostructure semiconductor light emitting device
TW201010050A (en) Light-generating device and method for forming the same
CN102447045A (zh) 发光二极管及其制造方法
TWI493747B (zh) 發光二極體及其形成方法
JP6181661B2 (ja) 窒化物半導体発光素子
TW201133935A (en) Semiconductor light-emitting device
KR20130101299A (ko) 반도체 발광소자 및 그 제조 방법
KR101166132B1 (ko) 희생층을 구비한 발광다이오드 및 그 제조방법
KR20100054594A (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR100826395B1 (ko) 수직구조 질화물 반도체 발광소자 제조방법
CN113224226A (zh) 一种发光二极管及其制作方法
Kim Sapphire‐etched vertical‐electrode nitride‐based semiconductor light‐emitting diode (SEVENS LED) fabricated by the wet etching technique
KR20110114812A (ko) 지향특성 조절이 가능한 발광다이오드 및 그 제조방법
KR20120124702A (ko) 발광층 영역이 증가된 발광 다이오드 및 이의 제조방법
JP2017126684A (ja) 半導体発光素子
TW201006007A (en) Light emitting device