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TW200907350A - Conductive contact holder and conductive contact unit - Google Patents

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TW200907350A
TW200907350A TW097112470A TW97112470A TW200907350A TW 200907350 A TW200907350 A TW 200907350A TW 097112470 A TW097112470 A TW 097112470A TW 97112470 A TW97112470 A TW 97112470A TW 200907350 A TW200907350 A TW 200907350A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
substrate
conductive contact
holder
conductive
gap
Prior art date
Application number
TW097112470A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI380021B (zh
Inventor
Kohei Hironaka
Toru Nakamura
Mitsuhiro Kondo
Original Assignee
Nhk Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nhk Spring Co Ltd filed Critical Nhk Spring Co Ltd
Publication of TW200907350A publication Critical patent/TW200907350A/zh
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Publication of TWI380021B publication Critical patent/TWI380021B/zh

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Description

200907350 ‘九、發明說明: '【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種用以收容使用在半導體積體電路等 電路構造之通電檢查之導電性觸頭的導電性觸頭固持具及 導電性觸頭單元。 ^ 【先前技術】 在ic晶片等半導體積體電路之電特性檢查中,係使用 對應該半導體積體電路所具有之外部連接用電極的設置圖 案而將複數個導電性觸頭收容在預定之位置的導電性觸頭 單元。導電性觸頭單元係具備設有供複數個導電性觸頭個 別地插通之複數個孔部的導電性觸頭固持具。在該導電性 觸頭單元中,藉由將導電性觸頭之兩端部分別接觸於半導 體積體電路之連接用電極及檢查狀電路基板的電極,以 確立檢查時之電性連接,ϋ進行訊號之傳送接收。(參照例 如專利文獻1)。 (專利文獻1)日本特開2002-107377號公報 【發明内容】 (發明所欲解決之課題) j而,近年來半導體積體電路之檢查時之溫度範圍逐 漸地變廣。例如,針對相同之半導體積體電路,有在⑵ C以上之n溫壤境下進行檢查,亦有在_4代左右之低溫環 境:進仃核查之情形。在進行檢查之際,將半導體積體電 路安裝在導電性觸頭單元時,半導體積體電路之溫度會立 P傳達至‘宅性觸頭。因此’當導電性觸頭之溫度與半導 320115 5 200907350 體積體電路之溫度的溫差大時,會有半導體積體電路之溫 度急遽變化,而無法在半導體積體電路之正確的溫度設定 環境下進行檢查之問題。 本發明係鑑於上述課題而研創者,其目的在於提供一 種可在正確之溫度設定環境下進行檢查的導電性觸頭固持 具及導電性觸頭單元。 (解決課題之手段) 為解決上述課題並達成目的,本發明之導電性 持具係用以保持將不同之電路構造予以電性連接並進行訊 號之輸入輪出的複數個導電性觸頭者,該導電性觸頭固持 ’、’、肴口持具基板,係可個別地收容前述複數個導電性 觸頭,及子動構件’係以依據外力使其與前述固持呈基板 之表面間的距離在預定之範圍自由變化的方式安裝在前述 固持具基板,且具有可分別供收容在前述固持具基板之前 id複數個V電性觸頭之前端部插通的複數個孔部;並且, 前述固持具基板與前述浮動構件之間隙係形成為從該導電 性觸頭ϋ持具之外部流人之流體的流路之至少一部分。 再者’本發明之導電性觸頭固持具係在上述發明中, 基板係將分別呈平板狀之第1及第2基板朝板 2向,層而成.者,而形成於該經積層之第】基板及第2 :之隙係形成為從該導電性觸頭固持具之外部流 入之&體的流路之至少一部分。 2 ’本發明之導電性觸頭固持具係在上述發明中, 収、具基板係在形成於前述第}基板及前述第2基板 320115 6 200907350 之間的間隙具有從前述第1基板及前述篦9 一者朝嗜Η A β 做及則述弟2基板之至少任 朝為W之向度方向突起的突起部。 再者,本發明之導電性觸頭固持具 前述浮動構件係具有朝厚度方向貫穿之開口部U , ::明之導電性觸頭單元係具備:複數個導電性觸 輸出二=之電路構料以電性連接並進行訊號之輸入 总目士 等冤性觸碩固持具;及基底構件, 糸〃、有可安裝藉由前述複數個導電 路構造之任-者的開口部,而且之電 電性觸頭固持具之流體的流入 ,導 述固持具基板之方向施加荷重。動構件朝前 再者’本發明之導電性觸頭單元係在上述發明中,前 A基底構件係具有複數個流入口, 雷柹鎞m 4抓入口之與前述導 電_頭固持具接近之部分的彼此之延伸方向係相互平 行’且相互間之軸線不一致。 再者,本發明之導電性觸頭單元係在上述發明中,復 具傷流體產生手段,該流體產生手段係產生經由前述基底 ,件之流人π流人至前述導電性觸頭固持具的流體,前述 ,體產生手段係可產生具有下述溫度之流體:涵蓋於針對 安裴在前述基底構件之開口部的電路構造所設定之溫度範 圍内之溫度。 a (發明之效果) 根據本發明,由於以依據外力使其與收容複數個導電 陡觸碩之固持具基板之表面間的距離在預定之範圍自由變 320115 7 200907350 纟方式安4在m持具基板之浮動構件、與固持具基板間 ,的間,係形成為從外部流入之流體的流路之至少一部分, 因此糟由使溫度與檢查對象之電路構造大略一致的流體流 通於該間隙,即可使導電性觸頭之溫度接近檢查對象之電 路構造的溫度。結果,半導體積體電路不會在檢查時受到 急遽之溫度變化可在正確之溫度設定環境下進行檢查。 【實施方式】 — 以下’參照_說明用以實施本發明之最佳形態(以下 稱為「實施形態」)。此外,圖式係示意性者,應注意各部 分厚度和寬度的關係、各部分厚度比率等亦有與實際者不 同的it形’在圖式彼此間當然亦包含彼此的尺寸關係或比 率不同的部分之情形。 (實施形態1) 第1圖係顯示本發明實施形態!之導電性觸頭單元之 ?成的斜視圖。第2圖係導電性觸頭單元之内部構成圖。 第3圖係導電性觸頭單元及其周邊詳細之構成的局部剖視 圖。該等第!圖至第3圖所示之導電性觸頭單元工係適用 於1C晶片等半導體積體電路之電特性檢查等者,亦有稱為 測試插座(test socket)之情形。 ‘' 導電性觸碩單元1係具備:複數個導電性觸頭2,係 將屬於檢查對象之電路構造的半導體積體電路與產生檢查 用訊號之電路構造的訊號處理電路予以電性連接,並進^ 訊號之傳送純;電路基板3,係將從訊號處理電路輪Z 之檢查用訊號經由導電性觸頭2供給至半導體積體電路之 320115 200907350 號予以輪出;固持具基板4,係配置在電路基板3上 用”容並保持複數個導電性觸頭2;平板 件 5,:以依據外力使其與固持具基板4之表面中之屬於:: 式安r之:面的距離在預定之範圍自由變化的方 式女裝,及基底構件6,係以從浮動構件5之上 持具基板4與浮動構件5之周緣部的方式設置。i 祖導電性觸頭2具備:第i柱塞2卜係由鐵等導電性 =所形成,並與設於電路基板3之電極3 22’係朝與第1柱塞21相反之方向突出,且與設於半3 =路之電極接觸,·及彈箸構件23,設置於…、柱塞η :、柱塞22之間’將第1柱塞Μ與第2柱塞22之間予 以電性連接,並且使導電性觸頭2朝長度方向伸縮。 第1柱塞係形成相對於與長度方向平行之中心轴而 =稱的形狀’且具備:前端部…,係具有尖銳端;凸 =m,係具有比前端部21a之直徑大的直徑;穀部仏, 糸隔介凸緣部21b朝與前端部2la之相反方向突出,形成 其直徑比凸緣部21b之直徑小且比彈簧構件23之内徑略大 ,圓錄,且被壓入有彈簧構件23之端部;及基端部叫, 係形成其直徑比轂部21c之直徑小且比彈簧構㈣之内徑 小的圓柱狀。 第2柱塞22係形成相對於與長度方向平行之中心軸而 ,對無的形狀’且具備:前端部❿,係形成冠狀;凸緣 4 22b ’係具有比前端部22a之直徑大的直徑;轂部Μ。, 係隔介凸緣部22b朝與前端部22a之相反方向突出,形成 320115 9 200907350 其直徑比凸緣部22b之直徑小且比彈簧構件23之内徑略大 的圓柱狀,且被壓入有彈簧構件23之端部;及基端部22d, 係形成其直徑比轂部22c之直徑小且比彈簧構件23之内徑 小的圓柱狀。此外,前端部亦可與第i柱塞21之前端部 21a同樣地形成尖銳端。 彈簧構件23係具有均一之直徑的線圈彈簧,第i柱塞 21側為疏捲繞部23a’另一方面,第2柱塞22側為密捲繞 部23b。疏捲繞部23a之端部係壓入第}柱塞21之轂部 21c,另一方面,密捲繞部23b之端部係壓入第2柱塞μ 之轂部22c。藉此,彈簧構件23係連結第i柱塞21盘 柱塞22。 ~ …導電性觸頭2係大致區別為:訊號用導電性觸頭,係 對半導體積體電路輸入輸出檢查用之電訊號;接地用導電 性觸頭,係對半導體積體電路供給接地電位;及供電用導 電性觸碩,係對半導體積體電路供給電力。在本實施形態 圈中,依導電性觸頭之種類的構成並無本質上之差異,因 H固持具基板4所收容之各種導電性觸頭統稱為「導電 頭2」。關於此點,在後述之實施形態2等亦同。 性觸2電,觸頭單元1安置半導體積體電路並對該導電 幻-ϋ 荷重時,在導電性觸頭2中,彈簧構件 之乂端心岔捲繞部挪之至少一部分會接觸第1柱塞21 财t/ 藉此,實現以依序經由第1柱塞2卜彈簧 的電性導7捲繞部236及第2柱塞22的最短路徑所形成 320115 10 200907350 固持具基板4係朝板厚方向積層有第1基板41及第2 基板42,並藉由未圖示之螺絲或接著劑相互固定。一般而 言’第1基板41之板厚與第2基板42之板厚不同。 在第1基板41形成有朝板厚方向貫穿且用以收容並保 持導電性觸頭2之一部分的固持具孔4 π。固持具孔4 j1 係形成階梯孔形狀,且具備小徑孔411a,係在第〗基板41 之表面中未與第2基板42接觸之側的表面具有開口,且可 供第1柱塞21之前端部21a插通;及大徑孔4Ub,其直 仫比小徑孔411a大。小徑孔41U及大徑孔411b係具有圓 形剖面。 、在第2基板42形成有朝板厚方向貫穿且用以收容並保 持導電性觸頭2之-部分的固持具孔421。固持具孔421 係形成階梯孔形狀,該階梯孔狀係具備:小徑孔da,係 在第2基板42之表面中未與第1基板“接觸之侧的表面 具有開口,且可供第2柱塞22之前端部22a插通;及大徑 孔421b ’其直徑比小徑孔421a大。複數個固持具孔似 之各㈣以同轴方式與形成於第i基板…之複數個固持具 孔411之任一孔相連通。 固持具孔411及421係藉由進行鑽孔加工、_、衝 /而形成’或藉由進行利用雷射、電子束、離子束、 線放電等之加工而形成。 極的5係具有適合於㈣體龍電路之連接用1 置圖木而形成之複數個孔部51。 具有可供半導體積體電路之連接用電極插厶二直= 320115 11 200907350 構件5係具有在連接用電極與 :進行大略定位的功能。此意味著 頭2接觸之前預先 為錐狀,即可防止因浮動構件:’孔部51之剖面形成 接用電極之表面的損傷。 〃、連接用電極接觸造成連 在浮動構件5之周緣部盘 印介設有彈簧等彈性構未圖口持^板4的周緣部間隙 電路之非檢查時,係 圖不)’在未安裝半導體積體 面離開而浮起的狀_^/^。5從固持具基板4之表 浮動構件5係具有將中央部朝板 52。開口部52具備使屬 貝穿之開4 動構件5之間隙往外部流出之魏乳從固持具基板4與浮 電性^^板4與料構件5係構成本實施形態1之導 电性觸頭固持具450之至少一部分。 ^ 件6 基Ϊ構件6之内部構成圖’且為通過基底構 在基底構件 置 =:;視 =部/係用於將半導體㈣電路裝設在導電性觸頭 覆蓋絲合固持具基板4及浮動構件5之 各周緣口Ρ,而該開口部6 積係比浮動構件5之外緩:基底構件6之表面附近的面 之外緣的面積略小(參照第1圖)。 传從件6形成有2個空氣流路62,該空氣流路62 外Γ:穿一 平一 L 個空氣流路62之延伸方向雖相互地 丁 一 2個空氣流路62之中心軸並不一致。 320115 12 200907350 在空氣流路62中,從外側安裝有噴嘴1〇1。喷嘴ι〇ι 透過軟管102連接在產生空氣的空氣產生裝置103。空 乳產生裝置1G3係可進行任意變更所產生之线的溫度、 流速(流量)、壓力等的控制。特収,空氣產生裝置1〇3 =可產生具有在進行半導體積體電路之檢查時設定之溫度 範圍所涵蓋之溫度的空氣。此意味著空氣產生裝置103係 形成流體產生手段之至少—部分。藉由具備該线產生裝 置―~可使具有所希望之溫度的空氣流人至導電性觸 頭單7G1。再者,在第4圖中雖記載2個空氣產生裝置⑽, 但亦可為使空氣從i個空氣產生裝置⑽流入空 路62的構成。 空氣產生裝置103所產生 乾燥空氣。而在本實施形態中 氣之流體。 之空氣較佳為濕度低之清淨 ’亦可使用氮氣作為取代空 基底構件6係具有抑制屬於檢查對象之半導體積體 ,的位置產生偏離的功能’而且具有使浮動構件5之外」 部接近固持具絲4並對該_具基板4施加荷重的功能 一在具有以上構成之導電性觸頭單元〗中,固持具基才 4浮動構件5及基底構件6係使用絕緣性材料而形成。言 絕緣性材料係可適用㈣胺醯亞胺等樹脂、可進行機力 工之陶瓷、矽等。 入導電 。由空 之前端 第5圖係由空氣產生裝置1〇3所產生之空氣流 ,觸頭單% 1時之空氣之流動(箭頭所示)的示意圖 氣產生裝置103所產生且經由軟管102從喷嘴 320115 13 200907350 •喷出之空氣,係從空氣流路62與固持具基才反4之第2 :基板42與浮動構件5之間隙Sp,並流動至中央部。該流
動之空氣的大部分係從浮動構件5之開口部52流出至外部L (第5圖之上方)。再者’空氣之—部分亦從浮動構件$之 孔部51流出至外部。 如此,可使空氣喷至導電性觸頭2之第2柱塞22的前 端附近。由於第2柱塞22之前端係與半導體積體電路之電 極接觸的部分,因此若藉由適當地控制由空氣產生裝置 103所產生之空氣的溫度、流速(流量)、壓力,而預先減少 與半導體積體電路之溫度的溫差’即可防止在檢查時半導 體積體電路產生急遽之溫度變化,且可在正確之溫度環境 下進行檢查。 例如’藉由使南溫之空氣經由空氣流路62流入間隙 Sp,即可迅速地作成在高溫負載測試下的導電性觸頭單元 1及導電性觸頭單元1周邊之高溫環境。再者,如高頻電 路之通電核查’在因大電流流通造成導電性觸頭2發熱 時,亦可藉由使空氣從外部流入,而將導電性觸頭2及其 周邊之發熱急速地冷卻。 根據以上說明之本發明的實施形態丨,以依據外力使 與收容複數個導電性觸頭之固持具基板之表面間的距離在 預定之範圍自由變化的方式安裝在固持具基板的浮動構件 與固持具基板之間隙,係形成從外部流入之流體的流路之 至)一部分,因此藉由使與檢查對象之電路構造大略一致 之度的流體流通於該間隙,即可使導電性觸頭之溫度接 320115 14 200907350 :近檢查對象之電路構造的溫度。結果,半導體積體電路在 ,私查時不會受到急遽之溫度變化,而可在正確之溫度設定 環境下進行檢查。 再者,根據本實施形態丨,藉由設置朝浮動構件之厚 度方向貫穿的開口部,可有效率地使流動於浮動構件與固 持具基板之間隙的流體流出至外部。 再者’根據本實施形態卜藉由控制空氣產生f置, ,即可任意地設定導電性觸頭單_部之流體狀況。因此, 根據由流體解析所求出之固持具内的溫度分佈,即 電性觸頭之溫度設定成檢查時最適當之溫度。 (變形例) & 電係適用於本發明實施形態1之第1變形例之導 =備:綱孔W合半㈣峨路之= 用電極的配置圖案而形成者;及開口部72 ^接 動構件7與固持具基板4之間隙流出至外部。孔; 成係與浮動構件5之孔部51的構成相同。相對於 構 部72之面積係比浮動構件5之 、 開口 仟5之開口部52的面積小,日扣 口部72呈圓形。再者,在第6圖_,以虛線表干 汗 1 6之空氣流路62的位置。關於 土底構件 及第8圖亦同。 於此點’在以下說明之第7圖 第7圖係適用財”實施㈣ 電性觸頭單元之浮動構件之構成圖。第 ,例之導 件8具備:複數個孔部81 圖所不之洋動構 係配合半導體積體電路之連接 32〇115 15 200907350 ••用電極的配置圖案而形 :從浮動構件8與固持具基板4之==部…係使空氣 孔部81之構成係與浮動構5、/瓜至外部。 同。相對於此,開口部82 ^之孔部51的構成相 52的面積小,且呈矩形。^積係比浮動構件5之開口部 過浮動構件8之表面的中、、個開口部82係配置在通 面垂直的柏呈⑽度旋轉_的:==動構件8之表 係配置在與2個空氣流 者’各開口部82 置。 中任一個之延伸方向交叉的位 電性=3 =用:本發明實施形態1之第3變形例之導 件二=構件之構成圖…圏所示之浮動構 用電極《複數孔部9卜係配合半導體積體電路之連接 配置圖案而形成者;及 電= 從%動f件8舆固持具基板4之間_“㈣乳 同。而:Μ門係與浮動構件5之孔部51的構成相 82相间的幵口 口 %係形成與上述浮動構件8之開口部 之表面的Φ形狀。2個開口部92係配置在通過浮動構件9 表面^中心,且相料與浮動構件9之表㈣直的轴呈 0度靛轉對稱的位置。2個開 部82同樣地八詩罢“ m 7圖之開口 伸方卜刀別配置在與2個空氣流路62中任-個之延 的位置。從開口部92之中心至靠近該開口部 邱82夕:机路62之流出口的距離,係比從第7圖之開口 距離短。"至靠近該開口部82之空氣流路62之流出口的 320115 16 200907350 : 再者’浮動構件5、7至9中’哪 '係依檢查時之溫声、私左i& 卞莉褥件最適合, .㈣化。Μ 對象之形狀等各式各樣之條件而 ,父化。此外,形成於浮動構件之開口部形狀 保件而 形成位置並未限定於以上所述者。 、、個數、 第9圖係適用於本發明實施形態丨之第 電性觸頭單元之基底構件内部之構成圖, 件之板厚方向之中心、在與板厚方向正交 構 r視圖(橫剖視•在第9圖所示之基底構件二: 心汉置有可覆蓋並嵌合固持具基板4及浮動構件各 周緣部的開口部161。 各 在基底構件16形成有2個空氣流路162,該 1:2:從基底構件16之外侧面部貫穿向開口部⑹側:内 侧面和並使空氣從外部流入。該2個空氣流路162之延 伸方向雖相互平行,但2個空氣流路162之中心軸並不一 致。再者,空氣流路162之開口部161附近的延伸方向盘 開口部161之側面所成之角θ為銳角。如此,藉由變更空 氣朝開口部161之流入方向’將空氣在固持具基板4與浮 動構件5之間隙SP之流動方式設為與前述實施形態工不 同,即可更適當地控制空氣在間隙Sp之流動。並且可將 在間隙Sp内部之溫度分佈控制為亦包含導電性觸頭2所 需之溫度。 —在該第4變形例中,基底構件16以外之構成雖與前述 貫施形態1相同’但亦可適用前述第i至第3變形例之浮 動構件7至9中任一個,來取代浮動構件5。 320115 17 200907350 第10圖係適用於本發明實施形態丨之第5變形 電性觸頊單元之基底構件内部之構,且 件之板料向之中心、在與板厚方向正交之平面切;日3 剖視圖(才頁剖視圖)。在第10圖所示之基底構件26的中央 部,設置有可覆蓋並嵌合固持具基板4及浮動構件5之各 周緣部的開口部261。 ^在基底構件26之位於開口部261之大致對角之位置關 係的2個角^部形成有2個空氣流路加,該空氣流路加 :從基底構件26之外側面部貫穿内側面,並使空氣從外部 流入。該2個空氣流路262之延伸方向雖相互平行,但2 個空氣流路262之中心軸並不一致。在本變形例中,藉由 在位於開口部261之大致對角之位置關係的2個角落^分 別形成空氣流路262,即可使順暢之氣流(氣旋氣流)產生: 導電性觸頭單元之内部,而實現更均句之温度分佈。 實於^ it變形射,基底構件26以外之構成雖與前述 實方則1相同,但亦可適用前述第⑷ 過之浮動構件7至9中任一個,來取代浮動構件/說月 (實施形態2) 第11圖係本發明實施形態2之導電性觸頭單元之 的局部剖視圖。第η圖所示之導電性觸頭單元ig之固裝 具基板與基底構狀構錢與前述實㈣g i之 雜 頭單元^不同。再者,空氣產生裝置係僅連接在 =路。除了jt些點以外之導電性觸頭單“的構成係與等 電性觸頭早^之構成相同,對於對應之部輯予相同之 320115 18 200907350 *符號。 固持具基板11係將第1基板111及第2基板112朝板 厚方向積層而成者。在第1基板U1之上端面及第2基板 112之下端面分別設有溝部111a及112a。該等溝部Ilia 及112a係在將第i基板ηι及第2基板112朝板厚方向積 層之狀態下形成間隙Sp2。在第1基板111之溝部111 a設 置有朝與底面正交之方向突起的突起部。突起部lllb 之上端面係在積層第1基板111及第2基板112之狀態下 抵接於第2基板112的溝部U2a(參照第u圖)。關於突起 部111b之形狀及設置位置係如後述。 第12圖係在固持具基板U中收容導電性觸頭2之部 分的放大剖視圖。在第1基板及第2基板112分別形 成有用以收容複數個導電性觸頭2的同樣數量之固持具孔 113及114,收容相同之導電性觸頭2的固持具孔113及 114係以彼此之轴線—较夕士 4立,丄、 深致之方式形成。固持具孔113及114 之形成位置係依據半導體積體電路之配線圖案而決定。 :持具孔113及114皆係形成為沿著貫穿方向直徑不 同之階梯狀形狀。亦g卩,因姓g 7丨 ' a 兀即,固持具孔113係由具 基板3之開口的小秤$】彳1 „ 电吟 的士, , 13a、及直徑比該小徑孔113a大 的大徑孔113b所構成。另一方 大 Λ力方面’固持具孔114係由且女 面向浮動構件5之開口的小和 、/、有 U A -Jk AA ^孔1 1 4a、及直徑比該小徑罚 114a大的大徑孔1J仆斛播4、 k札 所構成。固持具孔113及114之犯 狀係依所收容之導電性觸通 之形 电注觸頭2的構成而定。 在基底構件12之令央部 叹罝有開口部121 ’該開口部 320115 19 200907350 121係用於將半導體積體電路安裝在 並且可覆蓋並嵌合固持觸頭早70 10, 部。 U板11及㈣構件5之各周緣 在基底構件12形成有2個空氣流路U ^ 122係一個使空氣從外部流人,另-個使空^出^ 部。2個空氣流路122之延伸方向雖平行,但2個空3 路122之中心軸並不一致。在本實施形態: 流路122之-方安装空氣流入用之喷嘴HH。喷二:: 經由軟管⑽連接在空氣產生^1()3。使由 ㈣ 置103產生之空氣喷附並流入至空氣流们22之内部。2 對於此,另-方之空氣流路122係作為空氣流出用 朝外部開放之狀態。 第13圖係第1基板1U之俯視圖,且為顯示第u圖 之上面側構成的俯視圖。如第13圖所示,從第〗基板HI 突起之2個突起部111b係分別形成在與2個空氣流路122 中任一個之延伸方向相交的位置。再者,突起部mb係沿 著與空氣流路122之延伸方向正交的方向突起。 從左下方之空氣流路122流入之空氣係在進入溝部 Ilia後碰到所對應之突起部lllb。碰到該突起部mb之 空氣係以繞到突起部mb之背後的方式流動於溝部lna 與弟2基板112之溝部Π2a之間隙Sp2,並以被吸進右上 方之空氣流路122之方式流動。在右上方之空氣流路丄 附近亦形成有突起部111b。因此’在第13圖中,有效率 地進行將空氣吸入右上方之空氣流路122,並實現空氣朝 320115 20 200907350 * 外部之流出。 流動於間隙Sp2之空氣雖從固持具孔114經由間隙补 亦從浮動構件5之孔部51或開口部52流出,但其量比上 述實施形態1少。 ” 根據以上說明之本發明的實施形態2,由於形成在構 f固持具基板之第i及第2基板之間的間隙係形成為從外 部流入之流體的主要流路,因此藉由使温度與檢查對象之 電路構造大略一致的流體流通於該間隙,即可使^電性觸 頭之溫度接近檢查對象之電路構造的溫度。結果,半導體 積體電路不會在檢查時受到急遽之溫度變化,且可在 之溫度設定環境下進行檢查。 再者’根據本實施形態2’藉由在形成於構成固持呈 基板之第1及第2基板之間的間隙,設置從第2及第2基 板之至少任一方朝該間隙之高度方向突起的突起部,即; _第i及第2基板間之間隙的流體之流動,並且 .向精密度的溫度控制。 再者,亦可沿著與空氣流路122之延伸方向形成預定 角度的方向使突起部突起,以取代 Μ ψ ^ ^ ^ 取代/口者與空軋流路122之 I出方向正父之方向使突起部突起。 此外,亦可將突起部設置在第2基板側。 再者,在本實施形態2中,亦可藉由在構成固持呈美 之第2練Η2的大致中央部設置開口部,以確保* 卜部流出的流出口。此時之開口部較佳為具有固持二 “反11之強度不會產生問題之程度的開口面積。 、 320115 21 200907350 此外,在本實施形態中,亦可在開放於外氣之側的空 氣流路安裝噴嘴,並經由安裝在該噴嘴之軟管連接真: 泵’以進行空氣抽吸。 /、二 广在本實施形態2中’雖僅將一方之空氣流路 空氣流入用,但與上述實施形態丨同樣地,亦可將 氣流路皆作為空氣流入用。 二 (其他實施形態) 以上雖詳細說明用以實施本發明之最佳形 明並非由以上2個實施形態所限定者 在本發明中,空氣流路之形成位置係依據導電性觸 =配:、必要之溫度等條件而不同。在上述實施形態I” 中^雖设想將導電性觸頭單元適料如卿(
Mage,四面平整封幻之將MW 之檢查來加以說明,作太癸昍ώ 文戒i封裝 一—適用於…(球栅陣 狀的表面安裝型封裝之情極排列配置成陣列 檢查時,一般而言難無法在浮將動用於咖等之 上述相同之效果觸頭之孔部的空氣流出’可獲得與 再者,在本發明中, 基底構件。此時,亦可使各Μ法以上之空氣流路形成在 行,並使各空氣流路之中心軸::::延伸方法係相互平 再者,本發明中,亦可 一致。 性觸頭單元10去除浮動構件5 迷實施形態2之導電 320115 22 200907350 此外’在本發明中,上述導電性觸頭之構成只不過是 一例,亦可將本發明應用在具有其他構成之導電性觸頭。 如此,本發明係可包含在此未記載之各種實施形態等 者,在不脫離由申請專利範圍所特定之技術思想的範圍 内,可施行各種之設計變更等。 (產業上之利用可能性) 如上所述,本發明之導電性觸頭固持具及導電性觸頭 單元係適用於收容使用在半導體積體電路等電路構造之通 電檢查等之導電性觸頭。 【圖式簡單說明】 第1圖係顯示本發明實施形態1之導電性觸頭單元之 構成的斜視圖。 圖係本發明實施形態、1之導電性觸頭單元之内部 圖係導電性觸頭單元及其周邊詳細之構成的局部 圖係基底構件之内部構成圖。 第2 構成圖。 第3 剖視圖。 第4 t 5圖係空氣流入本發明實施形態i之導電 兀1時之空氣流通之示意圖。 啊貝早 第6圖係適用於本發明實施形態i之第丨 電性觸頭單元之浮動構件之構成圖。 ]之導 第^係適用於本發明實施形g丨之第2變形例 电性觸頭單兀之洋動構件之構成圖。 第8圖係適用於本發明實施形態1之第3變形例之導 320115 23 200907350 電性觸頭單元之浮動構件之構成圖。 ] 第9圖係適用於本發明實施形態1之第4變形例之 電性觸頭單元之基底構件之構成圖。 第10圖係適用於本發明實施形態1之第5變形例之導 電性觸頭單元之基底構件之構成圖。 第11圖係本發明實施形態2之導電性觸頭單元之構成 的局部剖視圖。 第12圖係本發明實施形態2之導電性觸頭單元之導電 性觸頭收容部分附近的放大剖視圖。 第13圖係構成本發明實施形態2之導電性觸頭單元之 固持具基板的第1基板之俯視圖。 【主要元件符號說明】 1、10導電性觸頭單元 3 電路基板 5、7、8、9浮動構件 21 第1柱塞 21a、22a 前端部 21c、22c 轂部 23 彈簧構件 23b 密捲繞部 41、111第1基板 51、71、81、91 孔部 2 導電性觸頭 4、11固持具基板 6、12、16、26 基底構件 22 第2柱塞 21b ' 22b 凸緣部 21d、22d 基端部 23 a 疏捲繞部 31 電極 42、112 第2基板 52、61、72、82、92、121、161、261 開口部 62、122、162、262 空氣流路 24 320115 200907350 • 101 喷嘴 102 軟管 103 空氣產生裝置 111a、112a 溝部 固持具孔 111b 突起部 113、14、411、421 113a、114a、411a、421a 小徑孔 113b、114b、411b、421b 大徑孔 450 導電性觸頭固持具
Sp、Sp2 間隙 25 320115

Claims (1)

  1. 200907350 十、申請專利範圍: 電性觸頭固持具,係用以保持將不同之電路構、告 ”生連接亚進行訊號之輪入輸出的複數個 = 觸頭者,該導電性觸頭固持具之特徵為具備:導電性 頭;=持具基板,係、可個別地收容前述複數個導電性觸 =構件,細㈣外力使其與__具基 表面間的距離在預定之範圍自由變 述固持具基板,且具有可分職收容在前㈣== 部,·= 前端部插通的複數個孔 從持具基板與前述浮動構件之間隙係形成為 ^ ”生觸頭固持具之外部流入之流 少一部分。. ^ 2.如申請專利範圍第!項之導電性觸頭固持具,其中 具基板係將分別呈平板狀之第1及第2基板朝板 。積層而成者’而形成於該經積層之第】基板及第 a 土板之間的間隙係形成為從該導電性觸頭固持具之外 部流入之流體的流路之至少一部分。 〃 3.如申請專利範圍第2項之導電性觸頭固持具,其中,前 迷固持具基板係在形成於前述第1基板及前述第2基板 之間的間隙具有從前述第1基板及第2基板之至少任一 者朝該間隙之高度方向突起的突起部。 4·如申請專利範圍第1項之導電性觸頭固持具,其中,前 320115 26 200907350 述浮動構件係、具有朝厚度方向貫穿之開口部。 5·如中μ專利範圍第4項之導電性觸頭固持具,其中,前 =固持具基板係將分別呈平板狀之第i及第2基板朝板 :::積層而成者,而形成於該經積層之第1基板及第 土之間的間隙係形成為從該導電性觸頭固持具之外 部流入之流體的流路之至少一部分。 6. 如申請專利範圍第5項之導電性觸頭固持具,其中,前 m具基㈣在形成於前述第i基板及前述第2基板 之:的間隙具有從前述第i基板及前述第2基板之至少 者朝該間隙之高度方向突起的突起部。 7. 種導電性觸頭單元,係具備: 連接=個導電性觸頭,係將不同之電路構造予以電性 連接並進行訊號之輸入輸出; 申凊專利範圍第1項至第.6 性觸頭固持具,·及 項中任一項記載之導電 頭而件’係具有可安裝藉由前述複數個導電性觸 二電路構造之任-者的開口部,而且具有 口,並:二至别述導電性觸頭固持具之流體的流入 载。、對⑽㈣構件朝前述固持具基板之方向施加負 =睛專利範圍第7項之導電性觸頭單元,盆中,復具 備'机體產生手段,該流體產生 /、 八 構件之、治入π_ 又係產生經由前述基底 前别述導電性觸頭固持具的流體’ L體產生手段係可產生具有下述溫度的流 320115 27 200907350 :於針對衫在料基底構件之.部的電路構 ^所政疋之溫度範圍内之溫度。 9. 如申4專利範圍第7項之導電性觸頭單元,其中,二y 基底構件係具有複數個流入口,該等流入口之盘 = =性觸頭固持具接近之部分的彼此之延伸方向H 平行,且相互間之軸線不一致。 10. 如申凊專利範圍第9項之導電性觸頭單元,其中,> 備流體產生手段,該流體產生手段係產生經由前述2 構件之流人口流人至前述導電性觸頭固持具的流體二_ 前述流體產生手段係可產生具有下述溫度 體:涵蓋於針對安裝在前述基底構件之開口部的電机 造所設定之溫度範圍内之溫度。 構 32〇115 28
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