200817685 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係提供一種以上、下合模方式，使壓件更加平整壓抵 電子元件執行測試作業，以有效提升測試品質之測試區之模壓 電子元件測試器。 、 【先前技術】 、在現今，電子元件於生產過程中係歷經多道加工製程，業者 為確保品質，於電子元件製作完成後，均會進行職作業，ς積 體電路integrated circuit，簡稱！ C )之電性測試作業' 该I C係具有幕多接腳，各接腳依設計而使j ^有不同電性， 並於製作完成後，即會進行電性測試，以檢測〗c於製 是否遭受損壞，進而檢測出不良品。 凊參閱第1、2、3®，其係為台灣專利申請第9311〇783沪 一 I c檢測裝置（一）』專利案，該檢測裝置包含有測試台1 第一、二取料機構2 〇、3 〇及入、出料機構4 〇、5 〇， ，該測試台1〇之兩側設有第一、二取料機構2 3 ^ 3 41及橫向滑座2 4 2 且螺合於橫向滑執21、 面設有縱向滑座2 4 3、 面具下壓吸嘴2 51、3 料機構均設有相互組裝之鄉結構及騎結構，各橫移 機架上設有橫向滑軌2 1、3 1及橫向螺桿2 2、3 2，而^ 螺桿2 2、3 2由馬達2 3、3 3驅動，一具以，向 3 4 2之滑動件2 4、3 4，係滑置 3 1及橫向螺桿22、32上，並於另 3 4 3，而升降結構係於一呈L型且底 5 1之取料器25、35侧面設有鄉& 滑軌2 5 2、3 5 2,以滑置於滑動件24、34之縱;=向 2 4 3、3 4 3中，該橫移結構另於取料器2 5、3 有-橫向滑座2 5 3、3 5 3，以滑置於-支架26、、二 向滑軌2 61、3 61上’而升降結構並於該支架2 6 : 另面設有二縱向滑座2 6 2、3 6 2及-螺套26 3、3 200817685 以分別組裝於機架之縱向滑軌2 7、3 7及縱向螺桿2 8、3 8 ^，而縱向螺桿2 8、3 8由一馬達2 9、3 9驅動，進而當各 橫移結構之馬達2 3、3 3驅動橫向螺桿2 2、3 2時，即帶動 滑動件$ 4、3 4之橫向滑座2 4 2、3 4 2及取料器2 5、 3 5之橫向滑座2 5 3、3 5 3，於機架之橫向滑軌21、31 及支架26、36之橫向滑軌26 1、3Θ1上作X方向往復位 移，而當各升降結構之馬達2 9、3 9驅動縱向螺桿2 8、3 8 日^即帶動支架2 6、3 6之縱向滑座2 6 2、2 6 2及取料哭 f = 3 5之縱向滑執2 5 2、3 5 2 ’於機架之縱向滑執2 7 向往指t動件2 4、3 4之縱向滑座2 4 3、3 4 3上作2方 ^移’另該人料機構4 〇及出料機構5 Q係分別設於 Ϊ方’各設有一具載台41、51之载台結構，用 I ? 具有吸嘴4 2、5 2之取放結構，用以取放 上，以係將待測1 c放置於載台4 1 筮一 載达至第取料機構2 0之取料器2 5下方，辞 並i入::以::料器2、5，,_台4 1上吸取I C 了 :試台1 0之;《實接ί於腳與 =另一待測10至測試台10之側方時，第-取料ϋ i再 取料器3 5作X方向位移，人取料哭^/一取科機構3 0之 台41上吸取待測IC ’當第一取料機槿=入料機構4 0之載 :，即，取料器2 5橫向位移 畢 U,取料機構3 〇之取料器3 5作χ，在此同 ;，5上另一待測j c置入於測試 夕，將取料 2 C，使1 [之接腳與測試台！ 0之^2f戦時下屢 ，當第二取料機構3 〇之j c作測試時，、試 200817685 2 2 5即反向位移作動，而再次於入料機構4 0之載 ;、、列气-ί?又一待測1 C ’當第二取料機構3 0之取料器3 5 C放置於出料機構5 Q之载台5 1上送出時，第一 構2 0即可將待測丨c置人於測試台i 〇中進行測試，而 ;、—取料機構2 0、3 0依序迅速载送IC進行測試作 架置於測試台i 〇:兩==以以㈣ 壓I C，進而b影響平度，而無法確保以相同之下壓力下 經驗有ίΐϊ前事相關行業的研發與製作 ?ΐ，終究研以===== 壓件更加平整壓抵電子元件， 2口^方式’使 器，該測試區U有區之模壓式電子元件測試 機構，其“=====料 S壓:ΐ?ί間設有一導移組哪件係由驅動源驅動作ί降 卜口杈方式，令壓件保持較佳之水平度以 200817685 平整堡抵電子元件，使電_ 均確實接觸，以精確 ^^測試座相對應之各接腳與接點 益。 、111業，達到提升測試品質之實用效 供置入電子元件的;以:u巧試器可設置複數個測試座，以 度壓抵各電子元件同牛Μ 杈方式，令壓件保持較佳之水平 效 【實施方式】 實施仏=委明作更進-步之瞭解，兹舉，佳 類機包4有供二明5置，测”分類機使用時，該測試分 輪出端輪送機構9 Q及收料送機構7 0、測試區8 〇、 將供料機構6 〇上待測試之電;輪人端輪送機構7 〇係 載具8 1，測試區8 〇收料姐达至測試區8 〇内之供料 測試結果由輪出端輪送舰qj2上完測之電子元件，則依據 。 __祕構9 0輸送錄料機構丨Q Q分類放置 器8 3 巧包括有模壓式測試 另側之收料_ Q。<之七、科載具8 1、位於測試器8 3 料載呈8 W系^2、弟一移料器84及第二移料器8 5 ;該供 之電ϊ元件i、„之電子元件’收料載具8 2則供承置完測 座8 Ί ? 試11 8 3係設有上、下配合之壓件8 3 1及承 二ίίΐ件8 3 1與承座8 3 2間設有-導移組，該導 :<^孔導柱組或線性滑軌組，而用以輔助帶動壓件 _ 降位移，本實施例之導移組係為一導孔導柱組，該 ί ίΐϊϊίΓ壓件8 31上開設有四個導孔8 311，並於承 相對應壓件8 3 1各導孔8 3 1 1位置設有四套置 κ 3 3之導柱8 3 2 1，該導柱8 3 21可供壓件8 31之 200817685 導孔8 31 1套置’另該壓件8 31夕念么 8 312，而頂面則設有壓桿8 3丄—有壓抵部 動源驅動而帶動壓件8 3 i作升降位移， 測試座8 3 4，該測試座8 3 4係用4 3 5 = 動式第-移料器8 4係用以移載兀件’而擺 至測試器8 3之測試座8 3 4 t以4行ς 之J則電子元件 =8 5則係_座δ 3 4中之“子元件 送mi可【電輸 子元件1 1 0置入於測試座8 3 Hif f 1將待測電 器8 3，並復位至供料載呈8 1處.▲主失 °方疋轉退出測試 ,8 3^8 3 ； π9! ^ ^ 器8 3即以驅動源驅動壓桿8 3丄1 =則$ 刪3 i係以導孔8 3 i工沿承== 玄 子3 1關抵部8 3 1 2壓抵^電 行測試作業，由於壓⑶；^^ =81=而:受限於導柱8 3 2 1 壓抵部 f 測試器8 3之驅動源即驅動壓桿 動’令壓件8 31以導孔8 311 々¥柱8 3 2 1十％、位移设位，而脫離電子元件i ^ 〇，以供取 200817685 • 1請參閲第1 〇圓，於完成測試作 二至測Τ8 3處，而取出測試】8°31;，器8 5係 1 1 H同時’由於輸人端輸送機構已將往私、，之&測電子元 111輸送至供料載具8丄上，該极，核測之電子元件 ―具8 1上取出下—待測之電子元g 4即可於供料裁 f二移料器8 5取出完測之電子元參閱第1 1圖，於 8 5即反向旋轉將電子元件1 H該第二移料器 而收料載具8 2 JL完測之電子元# Ί 收料载具8 2處放置， 端輸送機構輪送至收料機構巧依據檢測結果由輪出 即將下-待測電子同時，該第-移料器8 4 中以供執行測試作聿，並隨即^ =5式裔8 3之測試座8 3 4 至供料载且81? 士ίί向旋轉退出測試器8 3，而復位 件1 1 2輪送至^料載具輸=構則已f待檢測之電子元 载具81上取出下一待測 ^ f料益84則可於供料 作業。 電子70件1 1 2，進而依序執行測試 構之配i圖:該搭配另一種旋轉式移料機 ^ q _,a,,]忒£ 8 0包含有模壓式測試器8 3 S 2，以及具8 1、位於測試器8 3另側之收料載且“ ^笛測試器8 3、供料載具8 1、收料载具者 收料载且8】；：料載具81係承置待測之電子元件， 832間姑iL31及承座832，並於壓件831與承座 2 = ’該導_可為-導孔導柱組或線性滑軌 導ί 8 ί 1 ί 該導孔導柱_於壓件8 3 1上開設有四個 8 3 Ί Ί Μ於承座8 3 2頂面相對應壓件8 3 1各導孔 8 ^ 四套置彈酱8 3 3之導柱8 3 2 1，該導柱 3 1 巧土抵口3 1 2，而頂面則設有壓桿8 3 1 3， 200817685 該壓桿8 7 Ί 〇 3 3==¾ i作升降位移， 8 6 2 C > ^ 862A ♦一移料臂8 6 2 b、第：銘社辟 、測試器 請參閲笛η二移戰待/完測電子元件。 ，送機構可將待測:電測試作業時’該輪入端 6 2 A、第二移料臂8 6 2 b、楚二 "^動第一移 8 6 2 O^kml 2ΐ^ 5具8 1上將待測二^ 移料臂8 6 2 Α由供料 !J；：^1 1 〇^U8f^ 移枓臂8 6 2 B則位於供料載且以中二f測試’同時該第二 ^移料臂8 6 2 A將電子^ ^參閱第1 5圖，於第 弟二移料器8 6之μ動、π#〇置入於測試座8 3 4中德， 料臂8 6 2==;=向旋轉，=第 6 2D^^ 6 2 c ，心8 3 ’而位移至 二二糾臂8 6 2a退 二料==2端輪送機構已將待檢===巧=試作 ^器8 6亦可採取不同移料作Bn然本發明之第 I 〇iA^i8 3 4 ； *；f ^ 17圖’於測試器8 3之測物Πΐί!待=¾、 200817685 ^ 0,該測試器8 3即以驅動源驅動壓桿8 3 i 3 ^ 1 ^下位移，碰件8 3 i係以導孔8 3 11沿承^ ，=柱8 3 21位移，並下壓彈簧8 3 3，使壓件 j 3 1 2驗於電子元件U 〇之接聊上，使電子 ， β Q f f 中執抑风作業，由於塵件8 3 1係利用導孔 /口 J座8 3 2之導柱8 3 21位移，而可受限於各導 平Π而並口會產生偏斜情況’使壓件8 3 1可獲得較=水 抵各電子元件ui ϊ: 業，以提升測試於測;:章同條件下進行測試作 以導孔8 3 1 1沪導1反向作動’令壓件8 3 1 y 0，以縣料；請參 電子元件 8 6 2 A、88 66 6 1再帶動各第一移料臂 =8 6 2娜反向 ;^第四移 測試器8 3中，以取出完測之電子^ =臂=2 A旋轉至 ?巧以測臂 子元件1 1〇後，該第：料写$料孑8 6 2A取出完測之電 f料臂8 6 2 a、第二;料以g轉$ 6 1，續帶動第一 第四移料臂8 6 2D同步旋轉作動，a f二移料臂8 6 2 c、 收料機構分類放置， ^ 剩結果由輪出端輸送機構輪送至 請參閱第2 0、2 1 isi，而依序執打測試作業。 構之配置圖，該測試區“ 配又—種直進式移料機 匕3有杈壓式測試器8 3、一穿越測 測之電子元件11 〇移载至3料軌2 7移料臂8 6 2趙完 完測之電子元件1 =載八8 2上，而收料載具8 2上 *…， ，_絲由細端輸職構輸送至 、„,问時’ s亥第二移料臂8 6 2 B係將牿泪崎工 200817685 器8 7，該第四移料器8 7上 元件，而測試器1?係=j子 :丄㈡:? i與承座8 3 2間設有-導移組，該導 ^#8 3 i±m^MiTsT^9 相對應壓件8 3 1各導;^q q 11並於承座8 3 2頂面 ，321，該導以;二 ^i；{f 3 1 3 !it!：'fWrW8 3 1 ^ 而承座8 3 2上則2細寺測之電子元件， 言，其；向is:s之‘ 動_動作橫向直進式移載供料載具8 i及^上之^電 輪送電J 00=J作業時，該輸入端 7係同步直進式移二：4=ί
J 8 1 A ii〇~:^3r#83iB~ 13 200817685 試器8 3，而位於出料位置，❿第一供料載具81A上完測之. 1 ^依ίί測結果由輸出端輸送機構輸送至收料機構 置叫’该弟二供料載具8工Β係將待測電子 ^移載至測試H 8 3中’進而依序執行測試作業。 據此’本發明不僅可易於製作及降低製了 測試作業品質，實為一深具實用性及進步性之ίΠ升 =品及刊物公開，從而允符發明專财請要件，'爰依法g 【圖式簡單說明】 第1圖==93_號『Ic檢測裝置(二)』專 :2圖::;為案==^ 第3圖·係為台灣專利申請第9311_號『！ 卜 利案第二取料機構之示意圖。 ’、衣（一）』專 第5圖 第6圖 第7圖 第8圖 第4圖：^發明配置於測試分類機之配置示意圖。 本發明配置於測試區之架構圖。 本發明模壓式測試器之示意圖。 本發明測試電子元件之動作示意圖（。 第qpi 試電子元件之動作示意圖（二）。 第1 1圖 第1 2圖 第1 3圖 第1 4圖 第1 5圖 第1 6圖 第1 7圖 ίΓΓί電子元件之動作示意H 气明測試電子元件之動作示意® (五）。 本务明另一實施例之架構圖。 實施例模壓式測試器之示意圖。 元：之動作示意圖㈠。 本發明另-;二)。 本發明另-實施例測試電子元件之動作；((:))： 14 200817685 ί ； ο8： ：) ，2 0圖：本發明又一實施例之架構圖。 ’、心圖0、） ==^發明又-實施例模壓式測試器之示意圖。 月又—ΐ施例測試電子元件之動作示意圖（一） 【主要元件符號說明】 千之勤作不思圖（一> 習式部份： 1 0 :測試台 2 0 :第一取料機構 21:橫向滑軌 2 2 :橫向螺桿 2 3 :馬達 2 4 :滑動件 2 4 1 :螺套 2 4 2 ·橫向滑座 2 4 3 :縱向滑座 2 5 ·取料器 2 51 :下壓吸嘴 2 5 2 ·縱向滑軌 2 5 3 ·橫向滑座 2 6 :支架 2 61 :橫向滑執 2 6 2 :縱向滑座 2 6 3 :螺套 2 7 ·縱向滑執 2 8 :縱向螺桿 2 9 :馬達 d◦•弟—取料機構 31·橫向滑執 3 2 :橫向螺桿 3 3 '•馬達 3 4 :滑動件 3 4 1 :螺套 3 4 2 :橫向滑座 3 4 3 :縱向滑座 3 5 :取料器 3 51 :下壓吸嘴 3 5 2 :縱向滑轨 3 5 3 ·橫向滑座 3 6 :支架 3 61 ·橫向滑軌 3 6 2 :縱向滑座 3 6 3 :螺套 3 7 ·縱向滑執 3 8 :縱向螺桿 3 9 :馬達 4 0 :入料機構 4 1 :載台 4 2 :吸嘴 5 0 :出料機構 5 1 :載台 5 2 :吸嘴 15 200817685 本發明部份： 6 0 8 0 8 1 8 3 8 3 1 供料機構 檢測區 供料載具 測試器 1 :導孔 7 0 :輸入端輸送機構 8 2 8 3 8 3 8 3 8 3 8 3 8 5 86 :收料載具 1 :壓件 1 2 :壓抵部 2 :承座 3 :彈簧 5 :電路板 :第二移料器 1 :轉桿 8 313 :壓桿 8 3 2 1 :導柱 8 3 4 :測試座 8 4 :第一移料器 8 6 :第三移料器 8 6 2A :第一移料臂 8 6 2 B :第二移料臂 8 6 2 C :第三移料臂 8 6 2D :第四移料臂 8 7 :第四移料器 81 A :第一供料載具 81B:第二供料載具 9 0 :輸出端輸送機構 10 0 :收料機構 1 10 :電子元件 1 1 2 :電子元件 111:電子元件 16