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TW200408324A - Material using patterned surface as template and manufacturing method thereof - Google Patents

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TW200408324A
TW200408324A TW092125712A TW92125712A TW200408324A TW 200408324 A TW200408324 A TW 200408324A TW 092125712 A TW092125712 A TW 092125712A TW 92125712 A TW92125712 A TW 92125712A TW 200408324 A TW200408324 A TW 200408324A
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TW
Taiwan
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group
compound
functional
fluorine
less
Prior art date
Application number
TW092125712A
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English (en)
Inventor
Masamichi Morita
Hideyuki Otsuka
Atsushi Takahara
Ikuo Yamamoto
Yasuo Itami
Hirokazu Aoyama
Original Assignee
Daikin Ind Ltd
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Publication date
Application filed by Daikin Ind Ltd filed Critical Daikin Ind Ltd
Publication of TW200408324A publication Critical patent/TW200408324A/zh

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    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
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Description

200408324 玖、發明說明: 【發明所屬之技術領域] 法 本發明係有關於將圖案表 面作為模板用 之材料及其製 【先行技術】 10,1498(1994)]揭 酸改質烷硫醇(親水
G· M. Whitesides 等人[Langmuir, 示,於無氟烷硫醇(疏水區域)與末端羧 區域)之交替、線狀圖案表…”卿)6水溶液塗布, KsFe(CN)0於親水區域結晶。但是,若以低表面張力之功 能性化合物的有機溶劑溶液塗布隸露粗合之線狀圖案,因 疏水與親水區域均經有機溶劑溶液潤濕,有難以使功能性 化合物於線狀位置結晶化之問題。 又,II. Sirringhaus等人開發出於玻璃基板上形成高 5 0奈米’兑5微米的疏水性聚醯亞胺之區塊,區塊内以噴 墨法塗布導電高分子水溶液,形成寬」〇微米的導電高分子 薄膜之技術。但是,該方法因須形成區塊,有程序繁雜之 問題。 , 使用氟烧基石夕烧作為表面處理劑,形成具有對功能性 液體之親和性不同的區域之圖案表面,利用其親和性之差 異,於高親和性區域賦予功能性液體之技術已見揭示(日本 專利特開2002-26 1 048)。但是,該文獻中氟烷基矽燒之祥 細資料全然不見記載。廣泛利用於一般化學工業之典型氧 烧基石夕烷’係含直鏈全氟烷基之式··
CnF2n+]CH2CH2SiCl3 (η二3 至 10) 315067 200408324 之化合物[Langmuir,8, η 95(1 992)],而 n = 8、⑺之 烷基型尤多受採用。作县,丨、;古d 仁疋以直鏈全氟烷基三氣矽烷作表 面處理之圖案表面’有功能性液體塗布的區別不明確之問
題0 J 3虱化5物作表面處理之基板上經賦予有機半導 収,以提升有機半導體的性能之技術已見揭示 则72、特開平7^5 99、特開测_9侧)。但仍有;_(
機半導體的性能僅稍微提升之問題。 [發明内容】 (發明所欲解決之課題) 本發明之課題,係使以簡單的有機溶劑系塗布程序穿 作具有交替線狀圖案構造之各向異性材料成為可能。為達 成該課題,功能性化合物溶液必須能於用 面呈顯反映交替線狀圖案構造之潤濕狀態。亦::之= 化合物溶液於基板上交替線之其中一方區域潤濕擴散後' 溶劑蒸發,功能性化合物形成交替線狀薄膜。 、本發明之另-課題,係將表面自由能不同的多數區域 構成之圖案表面用作模板,經功能性化合物溶液之塗布程 序,製作奈米至微米層級之功能性化合物構造體。 _本發明之又一課題,係使至少其中-方之區域,因對 經含氟化合物作表面處理之圖案表面賦予有機半導體等功 能性化合物,提升該功能性化合物之特性。 (用以解決課題之手段) 本發明之第一要 係提供於交替線狀圖案表面上 315067 7 200408324 具有半導體化合 电化合物、尤双芰巴化兮奶、熟致 、交色化合物之組群中至少任一種功能性化合物之層的各向 異性材料,於交替線狀圖案表面,其中一方之線係由含氟 化合物或聚石夕氧組成的第一成分構成,另一方之線係由此 卜之化α物組成的第二成分構成之各向異性材料。 。、本毛月之第-要曰’係提供將表面自由能不同的多數 £域構成之圖案表面用竹_ ^ „ 用作杈板而具有以下特徵的功能性材
料之製法: W α)圖案表面的至少其中一方之區域經含氣化合物作 表面處理。 ⑺其製法係包括以功能性化合物溶液塗布於圖案表 面上、以及去除溶劑等步驟之製法。 本發明之第三要旨,係提供包括 作表面處理之至少盆中一太F a认 /、、.工3亂化合物 具中一方區域的圖案 合物的功能性材料之製法。 表面賦予功能性办 【實施方式】 [發明之最佳實施形態] 父替線狀圖案表面上,以半導八 光致變色化合物、熱致變色化 5生導電化合物、 有機溶劑之溶液塗布,這些功能性=物溶解於 上形成薄膜,製造各向異性材料 :;父替線狀 於交替線狀圖案表面,其中一力此性材料)。 或聚矽氧組成的第一成分構成,另一彳:糸:合軋化合物 它化合物組成的第二成分構成。《線係由此外之其 315067 200408324 形成交替線狀圖案之材料,有例如矽、合成樹脂、玻 璃、金屬、陶瓷等。 合成樹脂可為熱塑性樹脂、熱固性樹脂之任一種,例 如聚乙烯、聚丙烯、乙烯-丙烯共聚物、乙烯-乙酸乙烯 酷共聚物(EVA)等聚烯烴,環狀聚烯烴、改質聚烯烴、聚 氯乙烯、聚偏二氯乙烯、聚苯乙烯、聚醯胺、聚醯亞胺、 聚酸胺醯亞胺、聚碳酸酯、聚(4-甲基戊烯—丨)、離子體、壓 克力系樹脂、聚甲基丙烯酸甲酯、壓克力-苯乙烯共聚物(AS 樹脂)、丁二烯-苯乙烯共聚物、乙烯_乙烯醇共聚物 (EV〇h),聚對歌酸乙二醇酯(PET)、聚對酞酸丁二醇酯 (P B T)、聚對駄酸環己烧二醇g旨(p c 丁)專聚g旨,聚_、聚_ _ (PEK)、聚醚醚酮(PEEK)、聚醚醯亞胺、聚縮醛(p〇M)、 聚笨醚、改質聚苯醚、聚芳酯、芳族聚酯(液晶聚合物)、 聚四氟乙烯、聚偏二氟乙烯、其它含氟樹脂,苯乙稀系、 ♦稀垣系、聚氯乙烯系、聚氨g旨系、含氟橡膠系、氯化聚 乙稀系等各種熱塑性彈性體’環氧樹脂、酚樹脂、尿素樹 曰二聚氰胺樹脂、不飽*和&醋樹脂、聚石夕氧樹脂、聚气 函旨等,或以這些為主的共聚物、混摻物、聚合物合金等, 可用其中一種或組合二種以上(例如製成二層以上之積層 胃)使用。 破螭則有例如矽酸玻璃(石英玻璃)、矽酸鉀玻璃、鈉 石灰破璃、鉀石灰玻璃、鉛(鹼)玻璃、鋇玻璃、硼矽酸破 璃等。 金屬有金、銀、銅、鐵、鎳、鋁、鉑等。 315067 9 200408324 化石夕、 氮化硼),硫化物 可使用這些之混 陶瓷有氧化物(例如氧化鋁、氧化 yr λ. Τ 平匕化鈦、氣 虱化釔、鈦酸鋇),氮化物(例如氮化矽、 (例如硫化編),碳化物(例如碳化石夕)等 合物。 > 使用任一基板時,均可藉電漿 板表面導入官能基。 切處理’於基
用以於基板表面製作交替绩壯岡 機衣U狀圖案之化合物,可為有 辦t兀 有機硫醇化合物、有機二硫化物、有機碟 -夂酯化合物。,亦即’含氟化合物或聚矽氧之線及其它化合 :之線’ T由有機矽烷化合物、有機硫醇化合物、有機二 硫化物、有機磷酸酯化合物製造。 以含氟化合物或聚矽氧形成之線的表面自由能,與由 其它化合物形成之線的表面自由能之差,係5毫焦耳/平方 米以上,以例如10毫焦耳/平方米以上,尤以2〇毫焦气/ 平方米以上為佳。 " 交替線狀圖案之線寬係〇. 5至1 〇〇微米,以例如1至 20微米為佳。線寬可係相等或不等。線之形狀可係直線或 曲線。 也可以在低表面自由能之線上,造成表面自由能之傾 斜以使功犯性化合物溶液得以沿線自行移動。而表面自 由月匕之傾斜’可用例如Μ· Κ· Chaudhury等人[Science,256, 1 539( 1 992)]之方法製作。 交替、線呈凹凸,使對功能性化合物溶液具親和性之區 域為G0溝’當然更有利於線狀潤濕。但是本發明即使不特 10 315067 ::以:ώ ’僅藉表面自由能之差亦可作線狀潤濕。僅以 太:子肤製作圖案表面時’凹凸係在10奈米以下,例如2 ^ 1;下。亥凹凸相較於微米級線寬,幾可忽略。但是無 :疋否钻如此平滑之表面,本發明均-如有溝之存在,功 肊性化合物溶液可潤濕擴散於交替線狀區域之其中一方。 安本I日月巾,成為各向異性材料製作用之模板的線狀圖 口 、自上方以2微升之乙醇輕輕滴下時,以沿線之縱 向偏散為佳。該偏散程度係液滴長轴方向之長度(L)與短軸 方向的長度(w)之比在1.1以上,以例如1.2以上為佳。滿 “件%,有機溶劑在交替線狀圖案表面於交替之其中 一方線狀區域的潤濕擴散傾向明顯。 用作模板之父替線狀圖案表面之任一方之線可係或非 單分子膜。 本發明之交替線狀圖案表面,可用光微影、微接觸印 刷自行組織化法、電子束照射法等方法製作,無特殊限 制。例如,杉村等人[Langmuir,1 6, 885(2000)]報告,透過 線狀光罩以真空紫外線照射矽晶圓基板上之有機矽烷單分 子膜時,照射部份的有機部份將光解形成矽烷醇基,可得 有機石夕烧區域及矽烷醇基區域交替排列之線狀圖案表面。 更以其他有機矽烷經化學吸附於該表面時,將與矽烷醇基 區域選擇性反應,可得複合單分子膜(光微影法)。G· M.
Whitesides 等人[Langmuir,1 0, 149 8( 1994)]報告,以硫醇類 作為墨水使附著於聚矽氧印模上,將之押印於金基板上即 可製作線狀圖案表面(微接觸印刷法)。M. Gleiche等人 315067 200408324 [“Nanoscopic channel lattices with controlled anisotr〇pic wetting’’,NATURE,403, 1 3(2000)]報告,展開於水面上之 烴系親油親水性物質二棕櫚醯基磷脂基膽鹼(Dppc)在特 定條件下轉印於雲母基板上時,可經自行組織化製作 DPPC與雲母父替排列成之線狀圖案表面。 交替線狀圖案係由第一成分及第二成分構成。 弟一成分係含氟化合物或聚矽氧。第二成分係含氟化 合物或聚矽氧以外之其它化合物。 >含氟化合物有例如含氟有機矽烷化合物、含氟有機硫 醇化。物3氟有機二硫化物、含氟有機磷酸酯化合物等。 3氟化σ物中之含氟基有例如,氟烷基(尤其是全 基)、全氟聚醚基等。含氣美夕石山后工奴h ^ 各既基之石厌原子數一般係1至2 〇, 例如為1至1 〇。 …\ 二甲基聚矽氧烷、曱基苯基聚矽氧烷、甲基 氫w夕氧;^ ΛΚ矽氧樹脂等,該等亦可經氟之改質。 :::合物及聚石夕氧以外之其它化合物(第二成分)可 Γ = 聚石夕氧化之有機石夕烧化合物、有機硫醇化合 二碗化物、有機軸化合物…化合物宜為 =原子且不具Sl〇鍵結之化合物。 物案表面上形成有功能性化合物層,性化合 變色化合物。 w化合物、光致變色化合物或熱致 用於本發明之功能性化合物, 化合物、光致變色化合物、……广物h …、致·交色化合物所成組群之至 315067 12 200408324 少其一。 半導體化合物以有機系為佳,例如戊省衍生物、聚嘻 吩衍生物、酞菁衍生物、聚芴衍生物、聚對苯亞乙烯彳—" 物、層狀約欽礦化合物等。 導電化合物係於室溫有1〇2西門子/公分以 者,以有機系為佳,例如聚乙炔衍生物、聚噻吩衍生物、 聚批σ各衍生物、聚對苯亞乙烯衍生物、聚苯胺等。亦可 該等化合物之摻雜以提升導電性。 光致變色化合物以有機系為佳,例如偶氮笨衍生物、 螺吼喃衍生物、俘精㈣生物、二芳基乙稀衍生物等。 熱致變色化合物係隨溫度變化使物質之顏色起可逆變 化之化合物的總稱,例如亞柳基笨胺類、聚噻吩衍生物 四函錯合物、乙二㈣生物錯合物、m銅錯合物、、 !,4-二<環辛邮叫錯合物、六亞f四胺(hmta)錯合物、 水楊醛(salen)類錯合物等。 名 功=性化合物層之厚度在ο·1奈米至⑽微米,可為 例如1奈米至1微米。 叮為 功能性化合物層可於線狀圖案 合物溶解於有機溶劑而成之溶液,力能性化 有例如有機溶劑及水。功能性化合:::=成。溶劑 解於有機溶劑。 難办於水吩,則須溶 本發明中溶解功能性化合物 毫牛頓/米以丁 ,合^以表面張力在30 、/、 下,例如2 0毫牛頓/米v 張力在下之溶劑為佳。表面 毛牛頓/米以下時,溶液即 勿、/σ戍潤濕擴散。 315067 13 200408324 有機溶劑有醇、酯、顯1、醚、、h 茸 例如脂族烴及芳族烴) .^ 兩機洛劑之具體例有甲醇、 醇、異丙醇、全氟萘烷、氫氟醚、 L 225、虱仿 ' 1,1,2,9 一四虱乙烷、四氯乙烯、氯笨、乙酸 p ^ 久乙§日、乙酸丁酯、丙酮、 己烷、異錢、甲苯、二甲苯、四氫呋喃等。 溶液中功能性化合物之濃度為〇· i至2〇重量%,可 例如,1至1 〇重量%。 ”’、 溶劑之去除,可經蒸發等方法進行。溶劑之去除係 以各向異性材料之加熱(例如60至200t)為之。溶劑之去 除,可於減壓(例如0.01至100帕)下進行。 本發明巾,塗彳功能性化合物溶液之方法有旋塗法、 沾塗法、洗鑄法、輥塗法、印刷法、轉印法'噴墨印.⑸他 Chem· Mater.,13, 3299(2001)]、條碼法、毛細管法等。 本發明之各向異性材料(即功能性材料)可用於電子元 :例如電晶體、記憶體、發光二極體(EL)、雷射::陽$ 電池等,以及光學元件例如光記憶體、影像記憶體、調光 兀件、光快門、二次高諸波(SHG)元件、偏光元件等。 本發明之第二要旨中’發現以使用含氟化合物作為表 面處理劑製成之圖案表面作為模板’於其上塗布功能性化 合物溶液’再去除溶劑之方法’可製作功能性材料。可得 屬於奈米至微米層級,例如1Q奈m⑽微米左右大小[例 如寬度(尤以最大寬度或最小寬度)或直經]之 物構造體的功能性材料。 σ 該第二要旨中,除圖案形狀不限於線狀、功能性化合 315067 14 200408324 物不限於半導體化合物、導電化合物、光致變色化合物、 熱致變色化合物,以及為了調製圖案表面而使用含氟化合 物以外’與第一要旨之說明相同。 圖案表面形狀可隨最終製造的元件之目的適當選擇, 有例如圓形、四方形、三角形、直線、曲線等。圖案可相 連亦可分離。圖案表面之特徵為··由二種以上表面自由能 不同之區域構成,至少其一之區域係經含氟化合物作表面 處理。 功此性化合物之例有半導體化合物、導電化合物、光 致變色化合物、熱致變色化合物、磁性化合物、生理活性 化合物。 用以調製圖案表面之含氟化合物,較佳者為具以下特 定構造之含氟化合物: (a) 具有碳原子數5以下之分枝構造的氟烷基之含氟多 合物 (b) 具有全氟聚醚基之含氟化合物 (c) 具有碳原子數5以下之氟烷基之單體聚合成之聚合 物構造的含氟化合物 (d) 碳原子數5以下之氟烷基與官能基之間有氨酯基、 酯基、醚基、醯胺基之任一連結基存在之含氟化合物 (e) 具有碳原子數5以下之氟烷基之不完全縮合矽倍半 氧烷,以及 (f) 具有碎烧基及碳原子數5以下之氟烷基之完全縮合 矽倍半氧烷。 315067 5)。 200408324 含氣化合物之翁_y· 之氣烧基可係全氟烷基(碳原子數1至 含氣"iti 合私I ^ , 有3鼠有機碎烧化合物、含氟有機硫醇化 "物/氟有機二硫化物、含氟有機磷酸酯化合物等。 各氟化合物具有例如矽烷基(-SiX3(其中X係氫、鹵素 原子或(碳原子數i至4之)氧基烷基))、硫醇基(4H)、二 石爪基(-S-S-)或磷酸基(p卜〇)(〇Hu〇丄(其中η係i至3 ) 之官能基。 具有碳原子數5以下之分枝構造的氟烷基之含氣化合 物U),其分枝構造之氟烷基有例如(CF3)2cF_、(CF3)3C、、 (cf3)2cfcf2cf2-及(CF3)3CCIV。含氣化合物⑷係具有分 枝構造的氟烷基及官能基(例如矽烷基)之化合物。 含氟化合物(a)有以下之例: (CF3)3C-A-SiX3
(CF3)3C-A-SH (CF3)2CFCF2CF2-A-SiX3
(CF3)2CFCF2CF2-A-SH (CF3)2CFO-A-SiX3
(CF3)2CFO-A-SH
[式中A係碳原子數i至4之脂烯基、- S〇2N(R2】)R2、基(其 中R21係碳原子數1至4之烷基,R22係碳原子數1至4之 脂烯基)或-CH2CH(OH)CH2-基,X係i素原子(例如氣原子) 或0+ 至 4 )。] 具體例有: 16 3]5067 i 200408324 (CF3)3C-CH2CH2-SiCl3 (CF3)3C-S02N(C2H5)CH2CH2-SiCl3
(CF3)3C-CH2CH2-SH (CF3)2CFCF2CF2-CH2CH2-Si(〇CH3)3
(CF3)2CFCF2CF2-CH2CH2-SH (CF3)2CF〇-CH2CH2-Si(〇CH3)3
(CF3)2CFO-CH2CH2-SH 具有全氟聚_基之含氟化合物(b)的全氟聚醚基之例有: ^aF2a+l〇(CF2CF2CF2〇)m(CF2)r CaF2a+1〇(CF2CF(CF3)0)m(CF2)r CaF2a+1〇(CF2CF2CF2〇)m(CF2〇)n(CF2)「以及 CaF2a + 1〇(CF2CF(CF3)0)m(CF20)n(CF2)1 - [王氟聚_基之分子量在300以上,500以上更佳,100 〇J)〇 以下’例如5000以下,〇1及11表1至100,20至40更佳, a表1至10, 1表1或2。] 。含氣化合物(b)係具有全氟聚醚基及官能基(例如矽烷基) 之化合物。 含氟化合物(b)有以下之例。 PFPE-A-SiX3
PFPE-A-SH 二 P F P E係全氟聚醚基,a係碳原子數1至4之 基,S〇2N(R」)R22-基(其中R21係碳原子數1至4之烷 R 蛟原子數1至4之脂烯基)或- CH2CH(〇H)CH2-;| 17 315067 200408324 係鹵素原子(例如,氯原子)或〇CnH2n+1(n=i至4 )。] 具體例有: PFPE-CH2CH2-Si(〇CH3)3 PFPE-S02N(C2H5)CH2CH2-S(0CH3)3 PFPE-CH2CH2-SH 。 具有碳原子數5以下之氟烷基之單體聚合而成之聚合 物構造之含氟化合物(c)中,碳原子數5以下之氟烧基之例 有:cf3-、CF3CF2-、CF3CF2CF2-、(CF3)2CF_、CF3CF2CF2 C F 2 -、( C F 3) 2 C F C F 2 -、( C F 3) 3 C -、C F 3 C F 2 C F 2 C F 2 C F 2 -、( C F 3) 2 CFCFzCF2 -及(CF3)3CCF2_。具有氟烧基之單體,係具有氟 烷基及碳-碳雙鍵之化合物。具有氟烷基之單體亦可係具氟 烧基之乙稀單體。 具氟烷基之乙烯單體可係具氟烷基之(甲基)丙烯酸 酯,或係具氟烷基之α位經鹵素原子、cf3、CF7H或CFH2 取代之丙稀酸g旨。 具氟烷基之丙烯酸酯可係以下一般式所表者:
Rf-A-0C(-0)CR3 = CH2 [式中Rf係碳原子數1至5之直鏈或分枝氟烷基,R3係氫 原子、F原子、C1原子、CF3基、CF2H基、CFh2基或甲 基’ A係2價有機基。] A之例有碳原子數1至4之脂烯基…S〇2N(R21)R22_*(其 中係碳原子數1至4之烷基,r22係碳原子數1至4之 脂烯基)或-CH2CH(〇H)CH2-基。 具氣烧基之丙稀酸醋有以下之例: 18 315067 200408324
Rf-SO
OCOCR3=CH2
Rf-(CH2)nOCOCR3=CH2
Rf-CO
OCOCR3=CH2
OH
Rf-CH2CHCH2OCOCR3=CH2 OCOR3
Rf-CH2CHCH2OCOCR3=CH2
Rf-0-Ar-CH20C0CR3=CH2 [式中Rf係碳原子數1至5之氟烷基,Ri係氣 1至1 0之烷基,R2係碳原子數1至1 0之脂稀美, 原子、F原子、C1原子、CF3基、CF2H基、 基,Ar係或具取代基之亞芳基,η係1至i 〇 子數 R3係氫 基或怎 具有碳原子數5以下之氟烷基之單體聚合 物構造之例如下: 之整數 而成之聚合 -(Rf-A-〇COCR3CH2)n- [式中Rf、A、R3意義同上,n係1至200,特別b 疋〜至1 0 〇。1 含氟化合物(c)之例如下。
Polymer-D-SiX3
Polymer-D-SH
[式中Polymer表具碳原子數1至5之氟烷基之單體聚合而 成之聚合物構造基,D表S與隔開碳原子數1至4之二脂 19 315067 200408324 烯基之氨酯基連結成之2價基,例如,-S(CH2)〇C〇NH (CH2)3-,X係鹵素原子(例如氯原子),或〇CnH2n+1(n=l至 4)。] 具體例有: H(Rf-A-OCOCHCH2)4-CH2CH2-Si(OCH3)3 H(Rf-A-OCOCHCHCl)4-CH2CH2-Si(OCH3)3 H(Rf-A-〇C〇CHCHF)4-CH2CH2-SiCl3 H(Rf-A-OCOCClCH2)4-CH2CH2-Si(OCH3)3 H(Rf-A-〇C〇CFCH2)4-CH2CH2-SiCl3。 碳原子數5以下之氟烷基與官能基之間存在有氨酯 基、酯基、醚基、醯胺基之任一連結基之含氟化合物(d) 中,碳原子數5以下之氟烧基之例有如同含氟化合物(c) 者。 含默化合物(d)之例如下: ^
Rf-A-OCONH-A5-SiX3
Rf-A-〇C〇NH-A’-SH
Rf-A-NHCOO-A,-SiX3
Rf-A-NHCOO-A^SH
Rf-A-〇C〇-A’-SiX3
Rf-A-〇C〇-A’-SH
Rf-A-C〇〇-A’-SiX3
Rf-A-C〇〇-A’-SH
Rf-A-〇-A,-SiX3
Rf-A-O-A^SH 20 315067 200408324
Rf-A-C〇NH-A,-SiX3 Rf-A-C〇NH-A,-SH Rf_A-NHC〇-A,-SiX3 Rf-A-NHC〇-A,-SH
[式中R f表碳原子數5以下之氟烷基,A、A’係碳原子數 1至4之脂烯基,-S〇2N(R21)R22-基(其中R21係碳原子數1 至4之烷基,R22係碳原子數1至4之脂烯基)或-CH2CH(〇H) ch2-基, X係鹵素原子(例如氯原子),或〇CnH2n+1(n=l至4)。] 具體例有:
Rf-CH2CH2-OCONH-CH2CH2CH2-(OCH3)3
Rf-CH2CH2-OCONH-CH2CH2CH2-SH
Rf-CH2CH2-NHCOO-CH2CH2CH2-(OCH3)3
Rf-CH2CH2-NHCOO-CH2CH2CH2>SH ^
Rf-CH2CH2-OCO-CH2CH2CH2-SiCl3
Rf-CH2CH2-OCO-CH2CH2CH2-SH
Rf-CH2CH2-COO-CH2CH2CH2-(OCH3)3
Rf-CH2CH2-COO-CH2CH2CH2-SH
Rf-CH2CH2-0-CH2CH2CH2-SiCl3
Rf-CH2CH2-0-CH2CH2CH2-SH
Rf-CH2CH2-CONH-CH2CH2CH2-SiCl3
Rf-CH2CH2-CONH-CH2CH2CH2-SH
Rf-CH2CH2-NHCO-CH2CH2CH2-SiCl3
Rf-CH2CH2-NHC〇-CH2CH2CH2-SH。 21 315067 200408324 具有碳原子數5以下之氟烷基之不完全縮合矽倍半氧 烧(e)中’石厌原子數5以下之氟院基之例如同含氟化合物 (c)。不完全縮合矽倍半氧烷(e)可由例示以一般式: [R-Si(0H)02/2]1[R^Si03/2]m [式中R、R表Rf、Rf-A、烷基(石炭原子數工至22)或烷基(碳 原子數1至2 2)之衍生物(惟r及r,之至少其一係尺f或 Rf-A)(在此Rf表碳原子數5以下之氟烷基,a係碳原子數 !至4之脂烯基…S〇2N(R21)Ri基(其中係碳原子數丄 至4之烷基,R係奴原子數i至4之脂烯基)或_cH2CH(〇H) 2 土)1及m係使不兀全縮合矽倍半氧烷之分子量為 至100G00之數。]。石夕倍半氧烧亦稱MSS㈣yhedw =1,動士 Silsesquioxane)。不完全縮合矽倍半氧烷之矽 貌醇基反應性高,盘美把少、、工 ^ ,舌性〇H基牢固結合。矽烷醇 基方;分子中存在有丨至3個。 〆 版係1至3。m —般係1 上,例如2以上,特佳者係3以上。 名 不完全縮切倍半氧燒⑷之具體例有:
Rf
Rf
Rf H / 〇——siHOHRfl/0 ?κι—cp 〇\k I s ~~~「〇1—s*、\o外f/』\v〇\l s-〇-s
Rf
Rf 315067 22 200408324
構造式(1) Λ
Aldrich 製 P〇SS Silanols 54、456-6 等。 具有矽烷基及碳原子數5以下之氟烷基之完全縮合石夕 倍半氧烧(f)中,矽烧基係-SX;基(X係齒素原子(例如氯原 子),或OCnH2n+1(n=l至4 )。碳原子數5以下之氟烧基之 例有如同含氟化合物(c)者。 完全縮合碎倍半氧烧(f)如一般式: [R-Si〇3/2]丨[R,-Si〇3/2]m [式中R表Rf、Rf-A、烷基(碳原子數i至22)或烷基(竣^ 子數1至22)之衍生物(惟R之至少其一係Rf或Rf_A)(在 此Μ表碳原子數5以下之氟烷基,八係碳原子數(至4 之脂稀基,-S〇2N(R2i)RK基(其中RZ1係碳原子數i至4 之烧基R心石厌原子數1至4之脂稀基)或⑶(⑽) -基,係含Six3之有機基’例如(ch )风至 10)’ 1及m係使完全縮合石夕倍半氧烧之分子量為5〇〇至 1 00000 之數。1 及 m 般係 以上。 完全縮合矽倍半氧烷 ()了由不完全縮合矽倍半氧烷(e 與雙矽烷縮合而得。雙矽烷之例有, 315067 23 200408324 雙(三乙氧基矽烷基)乙烷 雙(三乙氧基矽烷基丙基)胺 雙(三曱氧基矽烷基丙基)化四硫。 完全縮合石夕倍半氧烧(f)之具體例有, - SiX3
Rf-A、 Rf-A、
、A-Rf -0-Si R 仁 A’ \A_Rf 構造式(2) [式中X係鹵素原子(例如氯原子)或〇CnH2n + 1(n=i至4)]。 本务明之第二要旨係以至少一區域經含氟化合物作表 面處理之圖案表面作為模板,於其上賦予有機半導體等功 能性化合物’以得功能性材料。如此’ : 物之特性。 ϋ 該第三要旨中,除了對圖案表面 方法不限於塗布處理以外,其他與第〔2能性化合物之 對圖案表面賦予功能性化合物c說明相同。 合物斑圖安矣而拉放 /去若係使功能性化 /、圖案表面接觸之方法,無論固 適當選用At担&丄 、液相、氣相,可 用此美升功能性化合物之特性 予$法有例如麼恢芝取上限之方法。賦 ,列如厚彳祭轉印法、旋塗法、、Α 〆占法、真空基鏔土 /凡鑄法、喷墨法、浸 二瘵鍍法、濺鍍法等。 义 於圖案表面全面賦予功能性化 物時,經含氟化合物 3J5067 24 200408324 作表面處理之區域及其以外區域,功 κ功此性化合物薄膜之才 造有別’因而功能性化合物之特性得以極大化。· 發明之較佳樣態 以下舉實施例具體說明本發明 ^月’惟本發明不限於此 1.交替線狀圖案表面之其中一方使用人 乃使用含鼠化合物之實驗分 ❿交替線狀圖案表面之製作 石夕晶圓以丙_清洗後,更在雙氧水/濃硫酸=3/7(體積 比)中於not加熱1小時,使表面形成羥基終端。使第— 成分之有機矽烷經化學吸附於該矽晶圓。透過直線狀光』 (線寬:o.i微米、1微米、5微米、1〇微米)以直空紫外分 叩奈米)照射’照射部份之有機部份光解形成石夕院醇 基’可得有機㈣區域及錢醇基區域交替排列之線狀厦 案表面。使第二成分之另—有機钱經化學吸附於該表 面’選擇性的與石夕烧醇基區域反應,可得複合單分子膜。 經以上方法’製作成具氟烷基⑴〜、烷基及‘ C18H37)、矽烷醇基(Si〇H)、磺酸(s〇⑻之各種組合
表面。 u A 以下各表面簡寫如下:C^U,0H2卜Rh(Ci〇),
CuH37—Rh(Ci8),Si〇H& s〇3H不再簡寫直接使用。 用以製作各表面之試藥’ Rf係全氟己基乙基三甲氧美 石夕烧m—chem製),Rh(cl8)係正十八炫基三甲氧基㈣ (ChlSS〇衣)’ Rh(C|〇)係正癸基三乙氧基石夕烧(Chisso製)。 而so3H係以r _魏基丙基三f氧基石夕炫製)經化與 吸附後’照射uv(254奈米)10小時,將末端SH基光氧= 315067 25 200408324 為磺酸基。 以水平力頭微鏡確認目標圖案之形成。 ❿单獨單分子膜表面自由能之測定方法 非圖案化表面之單獨單分子膜表面自由能,係將水與 一蛾曱烧之接觸角代入D· K. 〇wens式[J. Applied Polym.
Sd·,13, 1 741(1 969)]而求得(表 ^。 接觸角及表面自由能
單分子膜 ⑩製造之圖案表面 製造表2之圖案表面。「安 隹一在八 ^ IS ^ 圖木組合」係依「第一成分/ 八、表面自由能之差」係表1中求出 的早獨早刀子肤表面自由能之# 「 鏡測定。「交替線之凹凸」表亍μ二線寬」係以水平力顯微 乒之罢,杪,、;;5 2丄 」、不乐—成分與第二成分的分子 長之差U原子力顯微鏡測定。「卜 L/W」係於圖案表面上 醇液滴(2微升)之 工十%滴下9料 度,以液滴長軸方向之县升之乙醇後變形之程 J <我度(L)鱼姑* L/W表之。「正十丄俨々丄 一轴方向之長度(W)之比 /、烷之父替線狀潤、、蟲 液旋塗(200〇rpm),用古風3 /…、」係以1%之乙醇溶 用先學頌微鏡觀R。 規^。以正十六烷作線狀 315067 26 200408324 潤 >愚擴散之區域與媒任何潤濕擴散之區域交秩 曰形成者為 〇,正十六烷不定形潤濕擴散者為x 。 表2 .圖案表面
實施例 圖案 組合 表面自由 能之差 (毫焦耳/ 平方米) 線寬 (微米) 交替線 之凹凸 (奈米) 乙醇液滴 (2微升) 之L/W ~—--- 正十六烧 之交替#泉 狀潤濕 製造例1 Rf/SiOH 62 1. 0 0. 8 1. 22 〇 一 製造例2 Rf/S03H 45 5. 〇 0. 0 1. 20 〇 製造例3 Rf/S〇3H 45 10. 0 0. 0 1. 58 〇 製造例4 Rf/Rh(C18) 14 5. 〇 1. 5 1. 60 〇 製造例5 Rf/Rh(C10) 10 10. 0 0. 5 1. 22 〇 比較製造 例1 Rf單獨 — 0. 0 1. 00 X 比較製造 例2 Rh(C10)/SO3 H 35 1——^ 10.0 〇· 3 無法測 定* X 比較製造 例3 比較製造 例4 Rf/Rh(C18) 14 0. 1 -------- 1. 5 無法測 定* X Rh(ClO)/Rh (C18) 4 5. 0 1. 3 無法測 定* X ••乙醇潤濕擴散於基板全面 貫施例1至5及比較例1至4 ,以表2之圖案表面作為模板用,於其上塗布表3 之凋玉為1重里。/。之功能性化合物溶液。旋塗係以汕⑽_ 為之,浸沾塗布係將基板固定於 1更圖案之線對溶液面成垂 直之方向,以1毫米/秒浸泡上拉為之。 15067 27 200408324 rrb^^s rrblsr?_j4 tb^^jl 斤涔窆2 •K~rv^5
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Rhole/ SPH Slii (CIS) snio!/ Rhols) 14 :.1…. 35
Rf^遍
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RfySiOH图 10
仁5II 62 :.^1:
0.1 SI lob 10.0 50 pioi 50 Ίοιοΐ 10 β (薄¾ 1.5 Icoi P3 0.0 0.5
0.0…iH 0.00 010!· § (命¾ 〇 效(卜+&球) I— τ>'^>^ c^0 sl^s 冬)/|1^務涔 -^^☆'^每 6AZ19PVA7 N 丨(5 - |L ~ 2 -^^>>i> ^ί5^0-ρβ 锊^-^^^咏每 28 315067 200408324 表3之功能性材料如下。 聚(二辛基芴):AMERICAN DYESOURCE 公司製 ADS 129 BE。 聚(3 -己基噻吩广 Rieke Metals公司製(Aldrich Product No· 44570-3),head_t〇_tail regi〇specific 98·5% 以 上者。 6AzlO-PVA:於聚乙烯醇側鏈導入偶氮苯之具下述構 造’以 T· Seki 等人[j. phys· chem. B,103,1 033 8(1 999)] 之方法合成者。
N-(5-氯-2-羥基苯縮乙烯酮笨胺:以K〇nawa等人[j· Am. Chem· ,1 20, 7 1 07( 1 998)]之方法合成者。 本發明之實施例1至5中,於用作模板之圖案表面上 315067 29 200408324 有功能性化合物之交替線狀薄膜(膜厚120奈米)之形成, 係以光學顯微鏡及原子力顯微鏡確認。而在比較例工至4 中則功能性化合物不成線狀,覆蓋基板全面形成均勻薄膜 (膜厚140奈米)。 2. 交替線狀圖案表面之其中一方使用聚石夕氧之實驗例 製造例6及實施例6 以 T· Deng 等人[Langmuir,1 8, 6720(2002)]之方法製作 表面經含氟樹脂塗布之線寬5微米之印模。以〇·5重量% 之一甲基聚石夕氧烧(i 〇〇厘& )/曱苯溶液附著於該印 板’塗布於玻璃基板上。以原子力顯微鏡確認交替線狀圖 案之形成,結果形成有5微米寬之二曱基聚矽氧烷薄膜, 膜厚為5〇奈米。於該圖案表面上旋塗(2000rpm)1重量%之 水噻吩基)乙基氧基丁基磺酸]鈉(american ESOURCE么司製ADS 2_ p)水溶液。以螢光顯微緣 及原子力痛微鏡確認圖案表面上有ADS 2〇〇〇 p交替線狀 薄膜之形成。 3. 各種形狀之圖案表面之其中一方使用特定構造之含氟化 合物之實驗例 製造例7至17及比較製造例5 於如同製造例1之矽晶圓,使表4之含氟有機矽烷依 以下方法於液相中經化學吸附。有機矽烷以可溶脫水有機 溶劑稀釋成1重量%,將矽晶圓浸泡於該溶液中1小時。 浸泡後以相同有機溶劑清洗,於大氣中乾燥,調製成含氟 有機矽烷之單獨單分子膜。表4中列有非圖案表面之單獨 315067 30 200408324 能I® 自 面 表 及 角 觸 接 之 膜 子 分 單 CO r-t- 1 '"T! 1 GO CO PO ⑺ H—1 > rt τ m CO *^0 pa Η-K > o ΓΠ ro 1 7C 叫 CO CC 1 PC 叫 oo 1 i—^ 3¾ g S UJ 1 Q ΓΟ^ ^ t--U 〜丨 GO Μ* h~ 藤 辟· /~、 CO > o t>3~* J X 桊 s N3 cn~ 卜 % ^- ,~、 二 > s ΓΌ g ΓΌ 、^〆 「1 Ip CO^1 1 g i β OJ CO u-l . X OJ •co Q rCJ 1 s «TO 1 o β 00 H-** r-v CJ g 03 s CJ 1 o ίό CO*"4 1 o 0 1 € cn ,~、 s 一丨 Q 〇 ro 1 O o ΐ to I oo h-· 3 ^ Ί ^^ C-; s S CJ 1 Q ro^- 8 O *~r *£ I oc β β R o = h-^ · ^^ 03 cP J >^v CO o (S3 tO ZJ ό ro Ω r〇Xj 1 β CvF 1 GO M* ^^ CJ rj 11 g g Q d S o f?-· Q CsS"*"*' 00 —· o )—* s •CO 00 1 •OJ ,~s β co^ 1 o TO 1 00 H-*· eg ① CO H--* Cv〇 DO tNO CO H—1 cn H—1 ① k oo -<1 ① DO CO K—^ ΟΊ H-* 00 *<! tND o H—^ s 浴 OO <X) cn ① cn CO H-^ o }~^ ① cn ◦ cn -3 1' h-1 <p cn p i>o p σ-i y—*· o 办 CO ο oo H—^ H-4 »~1 IN3 oo Η—* ο A >~^ o 1-^ 〇 CO 2L· ?> li & ϋΝ CO 00 o CJi o o -<1 •ο o Hp^ O CJ1 p CO o CO ο o σ) o 公 (NO CO CO CTi oo -o o H—^ ΟΊ 00 H-4 H-1 OD CO »—ί· )~^ o cn <e 31 315067 200408324 <角形、 射部f\ 份形 <區域 兩 \。戶厅 % 戍
'嗜替射锋 圖案組合 Br-Rfl/SiOH Br-Rf2/SiOH Br-Rf3/Si〇H PFPE/SiOH Rf-Ac/SiOH Rf-Ur/SiOH Rf-Es/SiOH Rf-Et/SiOH Rf-Am/SiOH Rf-POSSl/SiOH Rf-POSS2/SiOH St-Rf/SiOH
其次透過弟1至4圖之形狀(圓、四方形、 形)的光罩以真空紫外線(1 72奈米)照射,於照 石夕炫醇基。第1至4圖中,較暗部份係經遮蔽 製造之圖案表面如表5。目標圖案之形成係以 瞄式電子顯微鏡(FE-SEM)確認。 表 製造例 製造例 製造例9 製造例1 0 製造例11 製造例1 2 製造例1 3 制造例1 4 15ΤΓΤΓ 良例 有機碎炫
Br-Rfl
Br-Rf2
Br-Rf3
PFPE
Rf-Ac
Rf-Ur
Rf-Es
Rf-Et
Rf-Am
Rf-POSSl
Rf-P〇SS2
St-Rf 實施例7至17及比較例5 以表5之圖案表面作為模板,於其上塗布表6之調整 為1重蓋°/°之功能性化合物溶液。旋塗係以2000rpm為之, 浸沾塗布係以1毫米/秒之速度將圖案表面上拉。 32 315067 200408324 lrrb*lgl^l5 衅爹窆一 7 H}爹宣1 6 :;>Ι^Μ·Γ?: •w^!k!.Tco:· Ν澈.·:
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Irrbl^lit#j5 NFEh 縴撕宣1101 縴ii#jl 3
st—Rf/sioH
Rf—poss2/sioH
Rf 丨 possl/sloH
RflES/soH •••••••••••__··· Rf—Et/sioH *·_···_«······«·* Rf 丨 Am/sloH n_Fico.........·Ι@·:ο1 雔it宣一 lifeaioo· ^s^00 >Bi
Rf—AC/sjLOH
PFPE/sloH
Br—Rfl/sioH :can_·義: :έ·ΠΊ·_: s骑^呤 〇 •Q: 〇 〇 效(—-φ^> 雒)/hf摊 ¥y斧 ββ0 〇 〇 ο ο ^(3~^^ 『彌冬)/'芦弇 輯淨 Α^';οτ 〇 〇 6AZ10—PVA /笋凉锊淨 〇 〇 200408324 本發明之實施例7至17中,用作模板之圖案表面上 依圖案表面形狀形成有功能性化合物之薄膜,係以光填^ 微鏡及原子力顯微鏡確認(獏厚15〇奈米)。薄獏僅形 S10 H區域。在比較例5中功能性化合物則與圖案表面平: 無關,形成覆蓋基板全面之均勻薄膜(膜# 140奈米卜乂火 4. 線狀圖案表面之其中一方使用Rf_p〇ss i之實^例 實施例1 8及比較例6 於如同製造例!之矽晶圓 便表4之含鼠有機 P〇SS 1依如同製造例7之方、土 _ 7 ^ . 去於液相中經化學吸附。复么 透過弟4圖之線狀光罩以真空紫外線⑽奈 使-人 照射部份形成錢醇基。目標圖案之形成仙FF t 認。實施例1 8係於該圖案表面 M確 上以目W >主射矣罢、女 重量剛3-己基噻吩)溶液。注射條件係以隨需 為每滴直徑數十微米之微小液滴,間隔】 …周整 例6係以如同實施例丨8之方法 毛’、/下。比々較 ★貝叠滴下微、、左、— 10微米之Rh(ClO)/S〇3H(表2 制、 液滴於線寬 微鏡觀察製膜於圖案表面上 。)。以光學顯 〜| (j -己基噻吩v 結杲實施例1 8形成確實反映 ,、、形狀, i u彳放水之線條 膜。薄膜僅形成於Si0H區域 ” $狀的線狀薄 4。而比較例6則彬 表面之線形無關之直徑1〇〇料、,,丄 °也成與圖案 «不左右之圓形蓮 5. 各種形狀之圖案表面之苴中 ,寻嗅。 合物之實驗例 # &之含氟化 實施例1 9及比較例7 於如同製造例1之矽晶圓八一 〜3氣有機矽烷Rf- 315067 200408324 p〇ss 1依如同製造例7之方法於液相中經化學吸附。其次 弟4圖之線狀光罩以真空紫外線(172奈米)照射,使於 知、射部份形成矽烷醇基。目 二— 目圖案之形成係以FE-SEM確 ㈣19係㈣圖案表面作為模板,於其上蒸錢戊省 Z 〇奈米)。而比較例7則將戍省蒸鍍(膜厚1 6 0奈米) 灰未處理之石夕晶圓。蒗你 為鍍均於基板溫度200t為之。 於基板上置以金屬基供! …、鍍罩經真空蒸鍍法以金製作源 極電極及汲極電極。湄扛 、 μ極、汲極電極係配置成與基板之線 垂直。金蒸鍍膜之膜厚Α 、 , 示米。以源極電極與汲極電 極間之距離(通道長)為τ / 、 〇被米),源極、沒極電極之長
度(通道寬)為W(二10亳半、。甘A ^ 一 /、 。/、_人,於矽晶圓背面蒸鍍閘極 毛極接出用A1薄膜,以萝作 丨、# 、乍使用戍名洛鍍膜之有機TFT。 以圖案表面為基板日專夕夕 、之私動度為0.13平方公分/伏特
矛> ’而以未處理石夕晶圓在I 、為基板日守之移動度為0.005平方公 分/伏特秒。 a [發明之效果] 错利用本發明可經簡單塗布程序製作具有交替線狀圖案 構造之各向異性材料。 以本發明可經簡單塗布程序製作奈米至微米層級之功 能性化合物構造體。 利用本發明,藉至少一 V &域以具特定構造之含氟化合 物作表面處理的圖牵矣;从& > , 〃表面作為板板,可以提升功能性化合 物之特性。 【圖式簡單說明] 315067 35 200408324 第1圖係圓形光罩之圖。 第2圖係四方形光罩之圖。 第3圖係三角形光罩之圖。 第4圖係線狀光罩之圖。 36 315067

Claims (1)

  1. 200408324 拾、申請專利範圍: 1. 一種各向異性材料,係於交替線狀圖案表面上,具有由 半導體化合物、導電化合物、光致變色化合物、熱致變 色化合物之組群中至少任一種功能性化合物之層之各 向異性材料,其特徵為:於交替線狀圖案表面,其中一 方之線係含氟化合物或聚矽氧之任一者。 m 2. 如申請專利範圍第1項之各向異性材料,其中,由含氟 化合物或聚矽氧構成之線之表面自由能,與另一方之線 ’之表面自由能之差在5毫焦耳/平方米以上者。 3 .如申請專利範圍第1項之各向異性材料,其中,交替線 狀圖案之線寬為0.5至100微米者。 4. 如申請專利範圍第1項之各向異性材料,其中,交替線 狀圖案之凹凸在10奈米以下者。
    5. 如申請專利範圍第1項之各向異性材料,其中,由交為 線狀圖案之上方將2微升之乙醇平穩滴下時液滴形狀 發生變形,其變形程度係液滴長軸方向之長度(L)與短 軸方向之長度(W)之比L/W為1.1以上者。 6. 如申請專利範圍第1項之各向異性材料,其中,交替線 狀圖案係由有機矽烷化合物、有機硫醇化合物、有機二 硫化物、有機填酸ί旨構成者。 7. —種各向異性材料之製法,其特徵為:其中一方之線由 含氟化合物或聚矽氧構成之交替線狀圖案表面上,塗布 半導體化合物、導電化合物、光致變色化合物、熱致變 色化合物之組群中至少任一種功能性化合物之溶液而 315067 成者。 異性材料之製法,其中, 面張力3〇毫牛頓/米以下 ^申請專利範圍第7項之各向 心解功能性化合物之液體係表 之溶劑者。 種功能性材料之製法系 數區域構成之圖案表面作二=表面自μ不同之J π為h板者,其特徵為: ⑴圖案表面之至少其中-方之區域經含氟化八 進行表面處理; 匕^、二3軋化合物 液 (2)其製法係於圖案表面μ务 、 UI未衣面上塗布功能性化合物溶 然後去除溶劑者。 含氟化合物係具 10·如申請專利範圍第9項之製法,其中 有以下構造之含氟化合物者·· (a)具有碳原子數5以下之分枝構造氟烷基之含氟 化合物 (b) 具有全氟聚醚基之含氟化合物 (c) 具備由具有碳原子數5以下之氟烷基單體聚合而 成之聚合物構造的含氟化合物 (d)碳原子數5以下之氟烷基與官能基之間有氨酯 基、酯基、醚基、醯胺基中任一連結基存在之含氟化合 物 (e) 具有碳原子數5以下之氟烷基之不完全縮合矽 倍半氧烷 (f) 具有矽烷基及碳原子數5以下之說烧基之完全 縮合矽倍半氧烷。 38 315067 200408324 11 · 一種功能性材料, 者0 係依申請專利範圍第9項之製法製成
    予功能性化合物之步驟者。 π,丹符徵為··包含對具有經含氟 之至少其中一區域之圖案表面賦
    其中,含氟化合物係 (a)具有碳原子數5以下之 化合物 以下之分枝構造氟烷基之含氣 (b)具有全氟聚醚基之含氟化合物 一 (C)具備由具有碳原子數5以下之氟烷基之單體聚 合而成之聚合物構造的含氟化合物 (勾碳原子數5以下之氟烷基與官能基之間有氨酯 基、酯基、醚基、醯胺基中任一連結基存在之含氟化< (e) 具有碳原子數5以下之氟烷基之不完全縮合石夕 倍半氧垸 (f) 具有^夕烧基及破原子數5以下之氟烧基之完全 縮合矽倍半氧烷。 1 4· 一種功能性材料,係依申請專利範圍第1 2項之製法製 成者。 315067 39
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