[go: up one dir, main page]

TR201816240T4 - Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. - Google Patents

Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. Download PDF

Info

Publication number
TR201816240T4
TR201816240T4 TR2018/16240T TR201816240T TR201816240T4 TR 201816240 T4 TR201816240 T4 TR 201816240T4 TR 2018/16240 T TR2018/16240 T TR 2018/16240T TR 201816240 T TR201816240 T TR 201816240T TR 201816240 T4 TR201816240 T4 TR 201816240T4
Authority
TR
Turkey
Prior art keywords
measuring
plane
coordinate system
angle
another
Prior art date
Application number
TR2018/16240T
Other languages
English (en)
Inventor
Hermanus Lichtenberg Marcus
Original Assignee
Nivora Ip B V
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nivora Ip B V filed Critical Nivora Ip B V
Publication of TR201816240T4 publication Critical patent/TR201816240T4/tr

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21DWORKING OR PROCESSING OF SHEET METAL OR METAL TUBES, RODS OR PROFILES WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21D5/00Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves
    • B21D5/006Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves combined with measuring of bends
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B21MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21DWORKING OR PROCESSING OF SHEET METAL OR METAL TUBES, RODS OR PROFILES WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
    • B21D5/00Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves
    • B21D5/02Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves on press brakes without making use of clamping means
    • B21D5/0209Tools therefor
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H45/00Folding thin material
    • B65H45/12Folding articles or webs with application of pressure to define or form crease lines
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C9/00Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Buluş, bir objenin bir birinci yüzey alanı boyunca bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanı boyunca bir ikinci düzlemi arasındaki bir açının ölçülmesin yönelik bir ölçüm sistemi ile ilgilidir, birinci yüzey alanında birden çok ölçüm noktasının bir ölçüm koordinat sisteminde koordinatların ölçülmesine yönelik bir sensör düzenlemesi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasındaki bir kesişimden bir birinci uzaklıkta bir birinci ölçüm noktası ve kesişimden bir ikinci uzaklıkta bir ikinci ölçüm noktası içeren birden çok ölçüm noktası içermektedir, ikinci uzaklık, birinci uzaklıktan farklılık göstermektedir. Ölçüm sistemi ayrıca, yer çekimi kuvvetinin yönüne zıt yönde ölçüm koordinat sisteminin bir eğiminin ölçülmesine yönelik bir eğim ölçer içermektedir. Ölçüm sistemi ayrıca, birden çok ölçüm noktasının ölçülen koordinatlarına, ölçülen eğime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin zıt yönü arasındaki açıya dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasında açının belirlenmesine yönelik bir işlem cihazı içermektedir.

Description

TARIFNAME ÖLÇÜM SISTEMI VE BIR AÇININ ÖLÇÜLMESINE YÖNELIK YÖNTEM Bulus, bir objenin bir birinci yüzey alanEboyunca bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanü boyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik bir ölçüm sistemi ile, bir objenin katlanmalea yönelik bir katlama makinesi ile, bir objenin bir birinci yüzey alanlîßoyunca bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanEboyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik bir yöntem ile ve bir levhanI katlanmalela yönelik bir yöntem ile ilgilidir.
EP1102032A1 numarallîibatent dokümanLIlbir katlama makinesindeki bir levhanlEl bir katlama aç-I ölçülmesine yönelik bir yöntemi açllZIamaktadlEl Dönel olarak desteklenen bir taraylElZl taray-I birkaç dönel konumunda bir levhanI alt klîin- uzakllglllîl ölçmek için kullanilB1aktadlE TaraylElEyrEa, taray-I birkaç dönel konumunda katlama makinesinin bir elemanlEla uzakllglllîölçmek için kullan llIhaktadlEI Ölçümler, levhanIve elemanlEl boylamalela yönüne dik olan bir düzlemde gerçeklestirilmektedir.
Islem araçlarÇl(Ievhaya ve katlama makinesinin elemanßla) ölçülen tüm mesafeler Için koordinat noktalarIEliçeren bir uzakllKl profilini belirlemektedir. Iki çizgi, uzaklllZl profili araclIlgllýla sabitlenmektedir. Iki çizgi arasIaki açülevha ve eleman arasIdaki açEiçin aIlEmaktadlÜ Katlama açlgülevha ve eleman araleUaki açII eksi iki katElkadar 360 derece olarak belirlenmektedir. EP1102032A1 numaralmatent dokümanEla göre, taraylEEle elemanI monte edildigi masaya göre taray-I aç-Eölçmek zorunda kalmaktan kaçlEmak için bu avantajlIE Ancak, hem taray-I birkaç dönel konumunda bir levhanI alt klîl'nlEb hem de taray-I birkaç dönel konumunda katlama makinesinin eleman. uzakllgilîlölçmek için bir taraylElZI kullanllîhasühem alt kismi hem de elemanI bir taraylElZile ölçülebilmesini gerektirmektedir.
Ancak elemanIItaranmasÇlevhanalt kEmIEliaramak için kullanllâmayan taray-I süresini gerektirmektedir ve bu nedenle katlama makinesinin is çllîlarma yetenegini azaltmaktadlEl Bulusun amacÇIistem 1'e göre bir ölçüm sistemi saglamaktlü Bulusa göre ölçüm sistemi, bir objenin üzerinde bir birinci yüzey alanüîoyunca bir birinci düzlem ve bir ikinci yüzey alanElboyunca bir ikinci düzlem araleUaki açlýübirinci yüzey alanüle ikinci yüzey alanEarasIdaki açürasldaki aç.. bir ölçümü olarak ölçmek için kullanllfhaktadlîl Bulusa göre ölçüm sisteminde egim, ölçüm koordinat sisteminde ölçülen koordinatlarüyer çekimi kuvvetine zIEiyöne baglamak için bilgi saglamaktadiB Ikinci düzlem olarak, yer çekimi kuvvetine zlElyöne ayn üç. olmak zorunda degildir, ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetine ziü yön arasIaki açlýa dair bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açlîlîlbelirlemek için kullanllîhaktadIEi Bir levhanI katlama aç-I belirlenmesi, katlanmlgllevhanl yüzeyleri boyunca uzanan iki düzlem arasIaki bir açIlEi ölçümünün belirlenmesinin bir örnegidir. Egimölçer, ölçüm koordinat sistemi ve su an bir referans olarak aIlEian yer çekimi kuvvetinin yönüne zlElyön araleUaki bir iliskiye dair bilgi sagladlgiEilçin, eleman üzerinde ölçümleri gerçeklestirmek için sensör düzenlemesinin hiçbir süresi gerekmemektedir ve a açEIJh lîla belirlenebilmektedir.
Bulusa göre ölçüm sisteminin bir baska yapilând [Binaslîida, yer çekimi kuvvetine zilîlyön, egim ölçer tarafIan kullanllân bir referans koordinat sisteminin (X”Y"Z”) bir eksenini olusturmaktadlîj ve islem cihazÇlasag-kiler için düzenlenmektedir - ölçülen egime dayanarak referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarII belirlenmesi için; - birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin, referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktaslBJlEl koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi için; - çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiEIIB1asülçin, obje koordinat sistemi, yer çekimi kuvvetinin yönüne zlElbir Z ekseni içermektedir; - Z ekseni ve çizginin yansIiaslîirasIda bir açi. belirlenmesi için; ve - objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi araslfidaki açIEl, belirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zlîlyön arasIaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlenmesi Baska yapüândlünaya göre egim, referans koordinat sisteminde ölçüm noktalarII koordinatlarIEi belirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü gerçeklestirmek amaclila islem araçlarEltarafIan kullanlßcak bilgiyi olusturmaktadlî.] Referans koordinat sistemindeki çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra çizgi, kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiülßîaktadü Birinci ve ikinci ölçüm noktasükesisime farklEIbir uzakIEgb sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarüairinci düzlemde bir çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir, çizgi kesisime paralel degildir. Çizgi, kesisime paralel olmad[g]l]1;in Z ekseni ve çizginin yansIiasErasHaki açEöelirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü 2 ekseni, obje koordinat sisteminin bir parçasIlE Nihayetinde islem araçlarÇbirinci yüzey alanEl/e ikinci yüzey alanDaralehaki açm belirlenmis açlýb ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin yönüne z[EJ yön arasIdaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlemek için kullanliüîaktadlü Baska yapllând [ana, islem cihaz. basit gerekliliklerin avantajIEtaglamaktadlEve hlZlIrbIma, koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yansIialarEi tahmin etme hElEl gerçeklestirilebilmektedir.
Bulusa göre ölçüm sisteminin bir baska yaplßnd Minas-a sensör düzenlemesi, bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek birden çok ölçüm noktasII bir birinci ölçüm noktasII bir koordinatIEölçmek için ve bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek bir ikinci ölçüm noktasII bir ikinci koordinatIEöIçmek için düzenlenen bir dönel olarak monte edilmis taray @içermektedin Taraylîzülönel olarak monte edildigi için, farklljlönlerde ölçüm radyasyonu gönderebilmektedir. Ölçüm radyasyonunu farkllîyönlerde göndererek, birinci yüzey alanEtlaki birden çok ölçüm radyasyonunun koordinatlarEölçülebiImektedir.
Birinci düzlem ve ikinci düzlem araledaki açlElI hlîlElbir belirlenmesine katkElsaglayan döndürme, hlîlEle dogru bir sekilde gerçeklestirilebilmektedir.
Bir baska yapllândünada bulusa göre ölçüm sistemi, asaglkileri içermektedir - ikinci yüzey alanIaki bir baska birden çok ölçüm noktasII bir baska ölçüm koordinat sisteminde koordinatlarlEl ölçülmesine yönelik bir baska sensör düzenlemesi, baska birden çok ölçüm noktasleesisimden bir üçüncü uzakl[tha bir üçüncü ölçüm noktaslîle kesisimden bir dördüncü uzaklllîta bir dördüncü ölçüm noktaslîçermektedir, dördüncü uzaklElZi üçüncü uzakllthan farkIlEEJgöstermektedir; - yer çekimi kuwetinin yönüne zlElyönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin ölçülmesine yönelik bir baska egim ölçer; - islem araçlarlîlayrlîla, baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlari ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve Ikinci düzlem arasIa açlgEl belirlemek Için düzenlemektedir.
Bu yapllând iElnaya göre ölçüm sistemi, ikinci düzlem ve birinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zlIIlyön araleklaki açmlçmek için düzenlemeye benzer yer çekimi kuwetinin yönüne zlîlyön arasIdaki açmlçmek için düzenlenmektedir, bu bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açEEbelirlemek için kullaniiîhaktadlü Yapliândiîiinaya göre, yer çekimi kuvvetinin yönüne zltîlyön, bir referans ve ikinci düzlem araletlaki açlîcblarak allEtnaktadE Bulusa göre ölçüm sisteminin bir baska yapüând IîiinasIa, yer çekimi kuvvetine ziEIyön, baska egim ölçer tarafIan kullanllân bir baska referans koordinat sisteminin bir eksenini olusturmaktadlEI AyrlEla islem araçlarüilaveten asaglkiler için düzenlenmektedir - ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için; 0 ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin, baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi için; . baska çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslülîhaslîl . baska çizgi ve Z ekseninin yansIiasljrasIEUa bir baska açII belirlenmesi için; . objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi arasIaki açIlEl, belirlenmis açiýb ve belirlenmis baska açlýia dayanarak belirlenmesi için.
Baska yapilândlElnaya göre baska egim, baska referans koordinat sisteminde baska ölçüm noktalarII koordinatlarIEl belirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü gerçeklestirmek amaclýla islem araçlarEltarafIan kullanllâcak bilgiyi olusturmaktadlEl Baska referans koordinat sistemindeki baska çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra baska çizgi, kesisime dik bir düzlemin üzerine yanlellBiaktadlEl Üçüncü ve dördüncü ölçüm noktasÇkesisime farklEbir uzakl[gb sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarüikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir, baska çizgi kesisime paralel degildir. Baska çizgi, kesisime paralel olmadlglüçin Z ekseni ve çizginin yanslasEl arasIaki açlîbelirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü 2 ekseni, obje koordinat sisteminin bir parçasIlB Nihayetinde islem araçlarüoirinci yüzey alan Ele ikinci yüzey alanürasliîtlaki açlýübelirlenmis açlýb ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zlEyön arasübaki açlýla dair bilgiye dayanarak belirlemek için kullanimiaktadlü Baska yapliând lîn'na, islem cihaz. basit gerekliliklerin avantajlßaglamaktadlüve hlîliîilma, koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yansIialarü tahmin etme hlîllîl gerçeklestirilebilmektedir.
Yine bir baska yapllândlîrlnada, bir objenin katlanmas. yönelik bir katlama makinesi, bulusa göre bir ölçüm düzenlemesi içermektedir. Katlama makinesi, bulusa göre bir ölçüm düzenlemesi içerdigi için obje, objeyi kaldlünaya gerek kalmadan ölçülebilmektedir.
Bir baska yapllândlünada katlama makinesi, pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir yönelim sensörü içermektedir; islem araçlarIZI ayrlEla, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIElbelirlemek için ölçülen birinci yönelimi ve pusula yönlerine göre katlama makinesinin bir boylamas- yönünün bir ikinci yönelimi için bir saklanan degeri kullanmak için düzenlenmektedir.
Katlama makinesinin boylamasEla yönünün bir ikinci yönelimi için bir saklanan deger ve pusula yönlerine göre birinci yönelim ölçülerek, koordinat sistemlerindeki eksenin yönüne dair bilgi toplanmaktadlEl Islem aracü obje koordinat sisteminde ölçüm noktalarII koordinatlarlü belirlemek için bu bilgiyi kullanmaktadlü Bu nedenle katlama makinesi, obje koordinat sisteminin ölçüm koordinat sistemi ile hizalanmaslßaglamak Için daha az kalibrasyon veya daha az kesin üretim gerektirmektedir.
Bir baska yapllândlîilnada katlama makinesi, pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir birinci yönelim sensörü ve pusula yönlerine göre obje koordinat sisteminin yöneliminin ölçülmesine yönelik bir ikinci yönelim sensörü içermektedir, islem araçlarElayrlEia, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIEbeIirlemek için ölçülen birinci yönelim ve ölçülen ikinci yönelim sensörünü kullanmak için düzenlenmektedir.
Pusula yönlerine göre birinci yönelim ve ikinci yönelimin ölçülmesiyle, ölçüm koordinat sistemi ve obje koordinat sistemi arasIaki ilgili yönelimlerin bilgisi elde edilmektedir. Bu bilgi, islem araçlarEliarafian kullanllüiaktadm Bu, ölçüm sistemini, katlama makinesine göre bilinmeyen bir konumda ve yönelimde konumland @hak için avantajIElîiir sekilde kullanlßbilmektedir. Bulus ayrlEla, istem 9'a göre bir yöntem saglamaktadlü Yönteme göre, bir objenin üzerinde bir birinci yüzey alanEEboyunca bir birinci düzlem ve bir ikinci yüzey alanElboyunca bir ikinci düzlem arasIaki açÇlbirinci yüzey alanü/e ikinci yüzey alanü arasIaki açßrasldaki aç.. bir ölçümü olarak belirlenmektedir. Bulusa göre yöntemde egim, ölçüm koordinat sisteminde ölçülen koordinatlarüyer çekimi kuvvetine zlElyöne baglamak için bilgi saglamaktadE Ikinci düzlem olarak, yer çekimi kuwetine z[El yöne aynDaçlEIh olmak zorunda degildir, ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetine ziüyön arasIaki açlîla dair bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açlýEEbelirlemek için kullanüBwaktadE Bir IevhanlEI katlama açlglEJI belirlenmesi, katlanmlglevhanl yüzeyleri boyunca uzanan iki düzlem arasIdaki bir açi. ölçümünün belirlenmesinin bir örnegidir. Egimölçer, ölçüm koordinat sistemi referans koordinat sistemi arasIaki iliskiye dair bilgi sagladiglüçin, eleman üzerinde ölçümleri gerçeklestirmek için sensör düzenlemesinin hiçbir süresi gerekmemektedir ve a açlgühlîla belirlenebilmektedir.
Yöntemin bir baska yapliând lEinasIa, birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlar., ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin yönü araletlaki açlýla dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açII belirlenmesi, asaglkileri içermektedir - yer çekimi kuvvetine zlîlyönün bir açßlusturdugu bir referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için ölçülen egim kullan [lBiaslîl - birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin, referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktaslBllEl koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi; - çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansitîllüiasüobje koordinat sistemi, yer çekimi kuvvetinin yönüne paralel bir 2 ekseni içermektedir; - Z ekseni ve çizginin yansIiaslîirasIda bir açi. belirlenmesi; ve - birinci düzlem ve ikinci düzlem arasiEdaki açili-Ji, belirlenmis açlýb ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönü arasIaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlenmesi.
Baska yapliândlüriaya göre egim, referans koordinat sisteminde ölçüm noktalarII koordinatlarIElbelirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü gerçeklestirmek amaclýla kullanllâcak bilgiyi olusturmaktadlü Referans koordinat sistemindeki çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra çizgi, kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslîllBwaktadlB Birinci ve ikinci ölçüm noktasÇlkesisime farkIlJJir uzakl[gia sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarübirinci düzlemde bir çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir, çizgi kesisime paralel degildir. Çizgi, kesisime paralel olmad @Egin Z ekseni ve çizginin yansHasEl araletlaki açüibelirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü Z ekseni, obje koordinat sisteminin bir parçasIE Nihayetinde, birinci yüzey alanüve ikinci yüzey alanü arasiEtlaki açünelirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zlElyön arasIaki açlýla dair bilgiye dayanarak belirlenmektedir.
Yöntemin baska yapüândlîilnasl: yöntemi gerçeklestirmeye yönelik ekipmana basit gerekliliklerin avantajIElsaglamaktadlEl ve hlZElolma, koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yansIialarEliahmin etme h[îl@erçeklestirilebilmektedir.
Bulusun bir baska yapllândlülnasia yöntem asaglEliakileri içermektedir. - ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin, pusula yönlerine göre ölçülmesi; - pusula yönlerin göre ölçülen birinci yönelime ve egimin bir ikinci yönelimi için saklanan bir degere dayanarak referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarII belirlenmesi; Pusula yönlerine ve kesisim üzerindeki bir ikinci yönelim için bir saklanan degere göre birinci yönelim ölçülerek, koordinat sistemlerindeki eksenin yönüne dair bilgi toplanmaktadlü Islem aracIZIObje koordinat sisteminde ölçüm noktalarII koordinatlarIEbelirlemek için bu bilgiyi kullanmaktadlEl Bu nedenle bu yöntem, obje koordinat sisteminin ölçüm koordinat sistemi ile hizalanmaslßaglamak için kalibrasyon üzerinde düsük klglfllamalar ve daha az kesin üretim ile uygulanabilmektedir.
Bulusun göre bir baska yöntemde, yöntem asaglkileri içermektedir - bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun salliîmaslsîla birinci ölçüm noktasII koordinatlari. ölçülmesi; - ölçüm koordinat sisteminin bir ekseni etrafIa bir tarayiîlýlîöndürmek için kontrol aracü kullanlßiasü - bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun salElnasEla ikinci ölçüm noktasII koordinatlarII ölçülmesi; ve - ikinci egimin belirlenmesi için birinci ölçüm yönü ve ikinci ölçüm yönü aras-aki farka dair bilginin kullanllßîasü TarayElîLEletrafIa döndürerek, birden çok ölçüm noktasIaki birkaç ölçüm noktasII koordinatlari. ölçülebilmesi için ölçüm yönü degismektedir. Döndürme, hlîIlZl/e dogru bir sekilde gerçeklestirilebilmektedir.
Bulusa göre yöntemin bir baska yapüândlîilnaslüha yöntem asaglîîhkileri içermektedir - ikinci yüzey alanIaki bir baska birden çok ölçüm noktasII bir baska ölçüm koordinat sisteminde koordinatlari ölçülmesi, baska birden çok ölçüm noktasÇkesisimden bir üçüncü uzaklikta bir üçüncü ölçüm noktasme kesisimden bir dördüncü uzakl[tha bir dördüncü ölçüm noktasüçermektedir, dördüncü uzaklllg üçüncü uzakllthan farklHJKIgöstermektedir; - yer çekimi kuvvetinin yönüne z[Elbir yönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin ölçülmesi; - baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlari ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açlýEbelirlenmesi.
Bu yapllând lElnaya göre ölçüm sistemi, ikinci düzlem ve birinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zltîlyön arasIaki açmlçmek için düzenlemeye benzer yer çekimi kuwetinin yönüne zItZlyön arasIiaki açlîßlçmek için düzenlenmektedir, bu bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem araleUaki açlýllelirlemek için kullanliüiaktadlü YapilândlElnaya göre, yer çekimi kuvvetinin yönüne ZLElyön, bir referans ve ikinci düzlem arasliîtlaki açßlarak allümaktadß Bu nedenle, bu açlýEbelirlemek için bir katlama makinesinin bir eleman.. konumlarII ölçülmesine gerek yoktur.
Bulusun bir baska yapllândlîrlnasßtla, baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlarlEla ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açII belirlenmesi adIilBsag-kileri içermektedir - ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlarII belirlenmesi; - ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin, baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi; - baska çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanlellBiasE - baska çizgi ve Z ekseninin yansIiIaslârasa bir baska açII belirlenmesi; ve - birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açIlEl, belirlenmis açlýb ve belirlenmis baska açlýla dayanarak belirlenmesi.
Baska yapHândlElnaya göre baska egim, baska referans koordinat sisteminde baska ölçüm noktalarII koordinatlarIl] belirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü gerçeklestirmek amacMa kullanilâcak bilgiyi olusturmaktadlü Baska referans koordinat sistemindeki baska çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra baska çizgi, kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslîilBiaktadlEl Üçüncü ve dördüncü ölçüm noktasü kesisime farklEbir uzakl[gla sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarIZIikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir, baska çizgi kesisime paralel degildir.
Baska çizgi, kesisime paralel olmadlgiEiçin Z ekseni ve çizginin yansIiasElarasIaki açD belirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü 2 ekseni, obje koordinat sisteminin bir parças- Nihayetinde, birinci yüzey alanlîlie ikinci yüzey alanEiaraletlaki açÇl belirlenmis açlîla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zIElyön arasiaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlenmektedir.
Baska yapliând lîilna, islem cihaz. basit gerekliliklerin avantajlßaglamaktadlüve hlîlüblma, koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yanslalarlîl tahmin etme hlîIIII gerçeklestirilebilmektedir.
Bulusun yine bir baska yapilândlEinaleUa yöntem, bir levhanI bir katlama makinesinde katlanmasIIIJ birinci düzlem ve ikinci düzlem arasiEUaki açII belirlenmesini ve katlama makinesindeki obje üzerinde bir baska katlama islemi gerçeklestirerek birinci düzlem ve ikinci düzlem araslükjaki açII degistirilmesini içermektedir.
Belirlenen açÇIevhanIIIkatlanmas birinci düzlemi ve Ikinci düzlemi arasEtlaki açMa dair geri besleme saglamaktadlEl Açübaska katlama isleminde bu geri beslemeye dayanarak optimize edilmektedir.
Bulusun yapilând lElnalarÇlkarsiJIEl gelen referans sembollerinin karsiHKlgeIen parçalarElbeIirttigi ekli sematik sekillere atiiîia bulunarak yalnlîta örnek olarak açiElanacaktlEl ve burada: - Sekil 1, bulusa göre bir sensör düzenlemesinin ve bir katlama makinesinde desteklenen bir - Sekil 2 levha üzerindeki bir birinci yüzey alan-a birden çok ölçüm noktasII konumlarIEl göstermektedir - Sekil 3 bir baska sensör düzenlemesini içeren bir katlama makinesini göstermektedir - Sekil 4 levha üzerindeki bir Ikinci yüzey alanIa bir baska birden çok ölçüm noktasII konumlarllgöstermektedir YapilândlElnalar Sekil 1'de aç[lZlanan bulusun bir yapiiând lîilnasIa, bir katlama makinesi (54) bir ölçüm sistemi (1) içermektedir. Katlama makinesi (54), bir elemani (4) sabitlenmesine yönelik bir ket sistemi (3) içeren bir masa (2) içermektedir. Eleman (4), bir levhanI (6) desteklenmesine yönelik bir girintiye (5) sahip bir destek kaIIEiçermektedir. Katlama makinesi (54) ayrIEia, levhaylZ(6), eleman (4) ve ikinci eleman (7) arasIa bilinen bir sekilde katlamaya yönelik hareketli bir delgi içeren bir ikinci elemanEU) içermektedir. Eleman. (4), ikinci elemani (7) ve girintinin (5) boylamas- yönü (YY) (gösterilmemektedir), seklin düzlemine dik bir yöndedir.
Katlama makinesi (54) ayrlîa, masayEGZ) desteklemeye yönelik bir çerçeve (8) içermektedir. Bu çerçeve (8) ayrlEh, ikinci elemana (7) yönelik tahrik sistemini (gösterilmemektedir) desteklemektedir. Tahrik sistemi, Ievhaymö) arzu edilen bir katlama aç_ katlamak amaclîla bilinen bir ayarlanabilir hidrolik basiEç cihazübermektedir.
KullanIida, bir levha (6), elemanlEl (4) üzerine yerlestirilmektedir ve ikinci eleman (7), tahrik sistemi (gösterilmemektedir) taraflEtlan Ievhaya (6) dogru tahrik edilmektedir. Buna göre levha (6), ikinci eleman (7) tarafIan girintiye tahrik edilmektedir ancak levha (6), eleman (4) ile desteklendigi için boylamas. yön (XX) boyunca egilmektedir. Yapllândünada, girinti (5) ve ikinci eleman (7) simetriktir. Tahrik sistemi, ikinci elemanü bir Kartezyen obje koordinat sisteminin (XfYfo) Z ekseninin yönüne paralel bir tahrik yönü boyunca tahrik etmek için düzenlenmektedir, böylelikle ikinci elemani (7), elemani (4) yönündeki bir hareketi, bir negatif isarete karsUJKl gelmektedir. Katlama makinesi, tahrik yönü ve Zf-yönü, yer çekimi kuwetinin yönüne paralel olacak sekilde kurulum üzerine aynlîdüzeye getirilmektedir. Obje koordinat sisteminin (XYZ) Yf ekseni, girintinin (5) boylamaleia yönüne (YY) paraleldir. Bu yapilândlîrlnada girinti (5), Yf eksenini (veya girintinin (5) boylamas- yönünü) ve Z eksenini içeren simetrinin (bir tire noktallgizgi ile gösterilmektedir) bir düzlemi etrafIda simetriktir. Obje koordinat sisteminin (XfYfo) Xf-koordinatü girintinin (5) simetrisinin düzlemine dik olacak sekilde seçilmektedir. Ikinci eleman (7), simetrinin düzlemi etrafIa simetrik olacak sekilde düzenlenmektedir. Bu düzenleme ile, Ievhadaki (6) katlanmanI da, simetrinin düzlemi etrafIa simetrik olmasEbekIenmektedir. Tahrik yönünün, yer çekimi kuvvetinin ve simetri kullan“. yönüne paralel olacak sekilde ayarlanmasü katlama makinesinin (54) büyük aglHilgiII ve Örnegin kaII metal IevhalarEQ6) katlamak için kullanlßn büyük kuwetlerin etkisi aItIa kullanilIEken katlama makinesinin (54), çevresindekiler göre yana yatmaleilZiveya sürüklenmesini önlemek avantajlIE Bulusun anlasllîhasßmaclîla, ayrlaa bir koordinat sistemi (XYZ) tanEllBiaktadlü bu yapllândlElnada bu, kökenin konumunun dlglEUa obje koordinat sistemine (XfYfo) esittir. Bu nedenle X ekseninin yönü, Xfekseninin yönüne esittir, Y ekseninin yönü, Yfekseninin yönüne esittir ve Z ekseninin yönü, Zfekseninin yönüne esittir.
Katlama makinesi (54) ayrlEla, çerçeve (8) ile desteklenen bir ölçüm sistemi (1) içermektedir. Ölçüm sistemi, dönel olarak desteklenen bir taraymlû) içeren bir sensör (9) içermektedir.
TaraylEEl(10), bir ölçüm yönünde (XX) objeye radyasyon (XX) göndererek ve yansifllân radyasyonu alarak taraylîlîl(10) ve levha (6) arasiaki bir uzakllglElöIçebilmektedir ve belirleyebilmektedir. Bu amaçlar bir taraylEE(10), bir radyasyon kaynagDçermektedir. Bu yapllândlülnada, Microelektronik GmbH, Eching/Almanya taraf-an piyasaya sürülen, profil esyükselti taramaya yönelik bir lazer taraylEElJIan bir MEL Çizgi TaraylEEll/IZD kullanllîhaktadEl Alternatif yapllândlülnalar, örnegin sonar prensibine, lazer üçgenleme prensibine dayanan örnekler için olan baska tarayEllâra dayanmaktadEl Sensör (9) ayrlîa, taray-I(10) dönel konumunu ve dolayßlýla ölçüm yönünü kontrol etmeye yönelik bir kontrol aracEGll) içermektedir. LevhanI(6) ve ölçüm sisteminin (1) ilgili konum ve yönelimlerini sabit tutarken, ölçüm yönünü degistirerek, levhadaki (6) farklEIkonumlara uzakl[Klarlîölçülebilmektedin Ölçüm sistemi (1), sensörün (9), normal olarak boylamaslTila yöne (YY) sahip, örn., boylamas- yöne (YY) dik bir düzlemde uzaklllZlarEöIçebilecegi sekilde masaya (2) göre bir montaj aç-a (C) monte edilmektedir. Sensör (9), bir iki boyutlu sensördür, bu da taray-I(10), bir dönme ekseni etraflEkja döndürülmek için düzenlendigini ifade etmektedir. Boylamalela yöne (YY) dönme eksenini hizalamak için, ölçüm sistemi (1) ayrlEla, ölçüm sistemini (1) çerçeveye (8) monte etmek için bir montaj parçasEGlZ) içermektedir. Bir yapüând Emada montaj parçasEGlZ), iki referans yüzeyi (13, 14) içermektedir. Çerçevenin (8) üzerindeki iki karsilllîl gelen referans yüzeyi üzerinde desteklenmektedir. Karslllk`lgelen referans yüzeyleri (15, 16), boylamas- yöne (YY) paralel olan bir çizgi boyunca kesismektedir. KarslIJE gelen yüzeyler (15, 16), referans yüzeylerini (13, 14) destekledigi için referans yüzeyleri (13, 14) ayrlîla, boylamaleb yöne (YY) paralel olan bir çizgi boyunca kesismektedir.
Sensör (9), sensör (9) ve sensöre (9) bakan levha (6) tarafII üzerinde birden çok ölçüm noktasEl (Sl, 52) arasIaki birden çok uzakllgllEl (D1, D2) degerini ölçmek Için düzenlenmektedir. Bu, sekil 2'de gösterilmektedir. FarklEl konumlar, taraylElEI (10) radyasyonunun kaynagüle çaklglan sensörün bir Kartezyen ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') kökeninden farkIElölçüm yönlerindedir. Ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') Y' ekseni, boylamalela yöne (YY) paraleldir. Obje koordinat sisteminin (XYZ) Y ekseni de boylamaleb yöne (YY) paralel oldugu için Y ekseni ve Y' ekseni paraleldir. Ölçüm koordinat sisteminin X' ekseni, Ievhaya (6) bakan taray-I (10) yüzeyine paraleldir. YapilândiElnada, bir Kartezyen koordinat sistemi kullanllîhaktadlElancak baska koordinat sistemleri de kullanllâbilmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin Z' ekseni, taray-n (10), levha yönünde uzanmaktadlB Ölçüm yönleri, X'Z' düzleminde Z' ekseni ile ölçüm açilâr- karsiliKIgelmektedir, çünkü taraylîlîalû), yalnlîta Y' ekseni etrafIa dönmek için düzenlenmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') kökeni, sonrasIa daha kolay ve dolaylîls-Lla daha hlîllîlslenmesini saglamak için taray-IEJ, Y' ekseni etrafIa dönecegi sekilde seçilmektedir.
Sensör (9), birden çok uzakilglI (D1,D2) ölçülen degerlerini ve karsll]k`l gelen açllârElslem cihazlEla (18) aktarmak için düzenlenmektedir. Islem aracÇSekil 1'de gösterilmektedir. Ölçülen degerler ve karslEEl gelen ölçüm yönleri, bir kablolu baglantüSl) aracinglýla aktarllüiaktadliîl Alternatif bir yapllândünada ölçülen degerler ve karslülö gelen ölçüm yönleri, örnegin bir Bluetooth veya Kablosuz LAN (WLAN) baglantlgîlle kablosuz olarak aktarllfnaktadlü Ölçüm yönleri, sensörün ölçüm koordinat sisteminde (X'Y'Z') islem araçlarlEla (18) aktarllüîaktadlü Ölçüm sistemi (1) ayriîla, yer çekimi alan Çörn., yer çekimi kuvvetinin yönüne göre sensörün (9) egiminin bir degerini ölçmek için bir egim ölçer (50) içermektedir. Egimölçer, bir Kartezyen referans koordinat sisteminde (X”Y”Z") ölçümleri saglamaktadlE Bu referans koordinat sisteminde (X"Y"Z”), Z” ekseni, yer çekimi kuvvetinin yönüne paraleldir. Ancak yer çekiminin merkezinden bir hareket, Z” koordinatII bir pozitif artlglEla karslIlKl gelmektedir. Basitlik sebebiyle, burada Y” ekseninin, boylamas- yöne (XX) paralel oldugu ve dolaylîlsîla ayrlîla ölçüm koordinat sisteminin Y'ekseninin yönüne paralel oldugu varsayllBiaktadE Y" ekseni ve Z" ekseninin bu yönelimleriyle, X" ekseni, ölçüm koordinat sisteminin X'Z' düzlemindedir. Bu, asag. aç[Elanan dönüsümler en basit ve dolaylîlîla en hlZEgekilde gerçeklestirilebildigi için avantajlIE Sensörün (9) ölçülen degeri ayrEa, referans koordinat sisteminde (X"Y"Z”) islem Islem araçlarE(18), ölçüm koordinat sistemindeki (X'Y'Z') levha (6) üzerindeki konumlarI koordinatlarIÇbirden çok uzakllgla (01, D2) yönelik degerlere ve X'Z' düzlemindeki Z' ekseninin karsUJE gelen açllâr. dayanarak hesaplamak için ayarlanmaktadlEl X'Z' düzleminin, XZ düzlemiyle çakEtglEbelirtilmelidir çünkü Y ekseni ve Y' ekseni paraleldir ve çünkü her iki koordinat sistemi de Kartezyendir. Ancak birden çok ölçüm noktasII (Sl, SZ) koordinatlarÇl XYZ koordinat sisteminde ve X'Y'Z' koordinat sistemlerinde degisiklik göstermektedir.
Islem araçlarE(18) daha sonra, referans koordinat sisteminde (X"Y”Z") levha (6) üzerindeki birden çok ölçüm noktasII koordinatlarlüifade etmek için bir koordinat dönüsümü gerçeklestirmek amacMa kullan [lhiaktadlü Bu, Y' ekseni ve Y” ekseninin, birbirine ve sensörün (9) ölçülen egimine paralel oldugu bilgisine dayanarak yaplßiaktadE Islem araclZ(18), referans koordinat sisteminde (X”Y"Z") hesaplanan koordinatlar araciliglüla düz bir çizgiyi (21) sigdünak için düzenlenmektedir. Bu, en küçük kareler yöntemi kullan Uârak avantajlEbir sekilde yapiIBiaktadlElçünkü bu en hizi-Eve örn., normalde daglfllüilg ölçüm hatalarEgibi beklenen ölçüm hatalarII türü için en uygun olanIlEl Uygun olan, asagIki burada C1, degeri ilgili olmayan bir sapmayEtemsiI etmektedir. Katlama, obje koordinat sisteminin Y eksenine paralel oldugu için, bir sonraki adli, uygun olan 2 düzleminin üzerine, örn., Y eksenine dik düzlemin üzerine yansitîlnaktlB Bu, yansIIanY eksenine paralel olacagEl anlamlEh gelmektedir. Z ekseni ve Z" ekseninin paralel oldugu, Y ekseninin ve Y” ekseninin paralel oldugu, obje koordinat sisteminin (XYZ) Kartezyen oldugu ve referans koordinat sisteminin (X”Y”Z”) Kartezyen oldugu gerçeklerinin kombinasyonundan dolayD( ekseni ve X” ekseninin paraleldir.Ancak obje koordinat sisteminin (XYZ) ve referans koordinat sisteminin (X"Y”Z”) kökenleri çaklglnamaktadlü Bu nedenle, sigUlEllân çizgi, XZ düzlemine yans-Ilgla, örn., sigUlElIlân çizgi Y eksenine paralel olarak yans-[giIda çizgi, asag-ki sekilde temsil edilebilmektedir burada C2, degeri ilgili olmayan bir sapmayEtemsil etmektedir. Çizginin egriligi (a), katlama makinesinin (54) tahrik yönü ve levha (6) arasIaki açlEllEl tanjantlar. karsiIJIZlgelmektedir.
Bu açEliJu nedenle, çizginin (or) egriliginin arctanEIiiesaplanarak hesaplanabilmektedir.
Simetrinin düzleminin etrafIa simetrik olmasEliJeklendigi için ve bu simetrinin düzlemi, tahrik yönünü ve dolayisiyla Z eksenini içerdigi için katlama açlgÇlartilZlyer çekimi kuvvetinin yönü ve levha (6) arasiaki açlîükiyle çarparak islem araçlarEdlS) ile hesaplanmaktadlü Hesaplanan katlama aga-_1 katlama makinesinin (54) bir ikinci kablolu baglantlgîl(251) aracEIgllýla bir kontrol sistemine (53) aktarliîhaktadlîl Kontrol sistemi, hesaplanan katlama aç-Çlarzu edilen katlama açlîlîile karsllâstlElnaktadlElve katlama alanlüartlîrlnak amaclýla eleman (4) ve ikinci eleman (7) arasiaki uzakllgllîlayarlamak için tahrik sistemini kontrol etmektedir. Hesaplanan katlama açüârlükontrol sistemine (53) sürekli olarak besleyerek, levhanI (6) arzu edilen katlama açlîüdogru bir sekilde elde edilebilmektedir. Hesaplanan katlama açEÜe arzu edilen katlama açlîßraleUaki uzaklllZl bir esik degerin altIda oldugunda kontrol sistemi (53), IevhanI (6) kaldlElllâbilmesi ve yeni bir levhanI (6) katlama makinesine (54) yerlestirilebilmesi amaclýla eleman (4) ve ikinci eleman (7) arasIiaki uzakl[gll3rtlîiinak için tahrik sistemini kontrol etmektedir.
Yukarlîzlh açllZlanan bir yapllândlîilnada taraylEl:(10), levha (6) Üzerinde birden çok ölçüm noktalela karslIiEl gelen birden çok uzakllglÜlD1,D2) ölçmek için kullanIJÜiaktadlEl Alternatif bir yapllând lîrlnada, birden çok uzakllKl çok say. uzakllEliçermektedir. Ölçülen uzakl[lZlarlEl sayEEl artlîllârak, uygun olan. dogrulugu ve dolayisiyla hesaplanan katlama aç-I dogrulugu artlîllîhaktadlü Bir baska alternatif yapilândlîilnada tarayiEEI(10), ölçümlerin dogrulugunu artHnak için uzakl[glIIQD1) en az iki defa ölçmek için kullanUhaktadlB Bir baska yapllând lünada islem araçlarlîd18), katlama makinesinin (54) kontrol sistemine (53) entegre edilmektedir.
Bir baska yapilândlElnada taraylElJ ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') Y' ekseni etraflElda döndürülmemektedir ancak bunun yerine, aynlîölçüm yönünü sürdürürken X' yönünde kontrol aracllll) ile hareket ettirilmektedirDaha önce açllZlandigllIiiizere, birden çok uzakliiZJ(D1,D2) ölçülmektedir. Islem araçlarlZ(18), ölçüm koordinat sistemindeki (X'Y'Z') levha (6) üzerindeki konumlarI koordinatlarIÇbirden çok uzaklfgla (D1, D2) yönelik degerlere, X'Z' düzlemindeki Z' ekseni ve X' yönünde taray-I karsUJKI gelen koordinatlarlîlarasiaki karsiülg gelen açlýla dayanarak hesaplamak için düzenlenmektedir. Daha önceki gibi islem araçlarI:[18) ayrEla, referans koordinat sistemindeki (X”Y”Z”) levha (6) üzerindeki konumlari konumlarIÇlölçüm koordinat sistemindeki (X'Y'Z') levha (6) üzerindeki konumlarI koordinatlar., referans koordinat sistemindeki (X”Y”Z") sensörün (9) egiminin ölçülen degerine ve obje koordinat sistemi ve referans koordinat sisteminin ilgili yönelimlerine dair bilgiye dayanarak hesaplanmak için düzenlenmektedir. Alternatif bir yapllând lîilnada tarayiEJIQlO), ölçüm koordinat sistemindeki yönlerin bir kombinasyonuna hareket ettirilmektedir veya hareket ve dönüsün bir kombinasyonu uygulanmaktadlü Yard IiclZlkombinasyonlara bir klîlfllama, R ekseninin, katlamanI boylamasüla yönüne paralel oldugu bir levha koordinat sisteminin (RST) görüntülenmesiyle anlasilâbilmektedir. T ekseni, ölçüm radyasyonunun yaris [glElievhan(6) bir birinci yüzeyi boyunca bir birinci düzleme normaldir. Bir ikinci düzlem, katlamanI baska tarafia ve IevhanI(6) bir ikinci yüzeyi boyunca yerlestirilmektedir. Hem birinci yüzey hem de ikinci yüzey, levhanI (6) simetrisinin düzleminden baska yöne bakmaktadB Birinci düzlem ve ikinci düzlem, bir kesisim çizgisi boyunca kesismektedir. S ekseni, ölçüm noktalarIlEI, kesisim çizgisine uzakl[g]lEllEl ölçüldügü yönü temsil etmektedir. Birinci düzlem ve tahrik yönü (levhanI (6) simetrisinin düzleminde uzanan) arasIaki açlîEhesaplayabilmek için en az iki farklIIS koordinatlüdaki (veya kesisim çizgisinden iki farklljlizakllK) ölçümler, elde edilmelidir. Yalntha iki ölçüm elde edilmesi ve her ikisinin de ayriES koordinatIaki ölçüm noktalarIan olmasEl halinde, ölçüm noktalarÇbbje koordinat sisteminde ayni] ve Z koordinatlari sahip olacaktB AynEX ve Z koordinatlarlEla sahip olunmasÇlXZ düzleminde bu noktalardan hiçbir çizginin (21) slgdlîllâmayacagßnlam- gelmektedir.
Bulusun bir yapllând lElnasHa katlama makinesi, girintinin (5) baska taraf. yerlestirilen bir baska ölçüm sistemini (1001) içermektedir. Bu, sekil 3'te gösterilmektedir. Baska ölçüm sistemi ( konumlarIa ölçmek için düzenlenmesi haricinde ölçüm sistemiyle (1) ve karsil]Kl gelen elemanlarla aynEfonksiyona sahiptir. Bu nedenle, bir baska sensör ( ve bir baska kontrol aracII (1011) yanßß bir baska kablolu baglantE(155) gibi Islem araçlarEla (18) benzer elemanlar içermektedir. Baska tarayiEEülOlO), tarayiElIQlO) ile ayn Elfiürdendir ve taray-I(10) dönüsüne karslüKlgelen bir sekilde döndürülmektedir. Baska ölçüm sistemi (1001), masaya (2) göre bir baska montaj aç-a (FC) monte edilmektedir ve iki baska referans yüzeyi (1013, desteklenmektedir. KarslIJIZl gelen baska referans yüzeyleri (1015, 1016), boylamas. yöne paralel olan bir çizgi, örn., obje koordinat sisteminin Y ekseni boyunca kesismektedir. üzerinde baska ölçüm noktasürasiaki birden çok baska uzakllglI (D1001, D1002) degerini ölçmek için düzenlenmektedir. Baska ölçüm noktalarüsensörün bir baska ölçüm koordinat sisteminin (K'L'M') kökeninden birden çok baska ölçüm yönündedir. Baska ölçüm koordinat sisteminin (K'L'M') kökeni, baska taray-I(1010) radyasyonunun kaynagüle çaklgmaktadlü Baska ölçüm koordinat sisteminin (K'L'M') L' ekseni, boylamasl yöne (XX) paraleldir ve dolaylîma etraflEUa taray-I (10) döndürüldügü Y' eksenine paraleldir. Baska ölçüm koordinat sisteminin K' ekseni, Ievhaya (6) bakan baska taray-I(1010) yüzeyine paraleldir.
YapilândlElnada, bir Kartezyen koordinat sistemi kullanilÜiaktadlEl ancak baska koordinat sistemleri de kullanllâbilmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin M' ekseni, baska taray-n (1010), levha (6) yönünde uzanmaktadlE Baska ölçüm yönleri, K'M' düzleminde M' ekseni ile baska ölçüm açlE-lr- karslllgelmektedir, çünkü baska taraylîEUOlO), yalnlîta L' ekseni etrafIda dönmek için düzenlenmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin (K'L'M') kökeni, sonrasia daha kolay ve dolaylîlýla daha hElEîlslenmesini saglamak için taraylElEllEl, L' ekseni etrafia dönecegi sekilde seçilmektedir. gelen baska ölçüm açllârIlZIbir baska kablolu baglantEQ aktarmak için düzenlenmektedir.
Baska ölçüm sistemi (1001) ayrlîa, yer çekiminin yönüne göre baska sensörün (1009) egiminin bir baska degerini ölçmek için bir baska egim ölçer (1050) içermektedir. Baska egimölçer (1050), bir baska referans koordinat sisteminde (K"L"M”) ölçümleri saglamaktadlB Bu baska referans koordinat sisteminde (K”L”M”), M” ekseni, yer çekimi kuvvetinin yönüne paraleldir.
Basitlik sebebiyle, burada L" ekseninin, boylamas. yöne (XX) paralel oldugu ve dolaylglýla ayrlEla Y' ekseni ve Y" ekseninin yönüne paralel oldugu varsayüBiaktadB Bu yönelimlere, K” ekseni, baska ölçüm koordinat sisteminin K'M' düzlemindedir. Ayrlîh, bu yönelimlerle ve yer çekimi kuwetinin yönü, egim ölçer (50) ve baska egim ölçer (1050) ile ölçüldügünde esit oldugu için baska ölçüm koordinat sistemi (K”L"M"), karsl[lKl gelen kökenlerin farklEbir konumunun dlglîilda ölçüm koordinat sistemi (X”Y"Z) ile çaklglnaktadß Baska sensörün (1009) egiminin baska degeri, baska referans koordinat sisteminde islem araçlarlEla (18) aktarllîhaktadlü Islem araclZI(18), levha (6) üzerindeki baska ölçüm noktalarII koordinatlarIlZI ölçüm noktalarII koordinatlarIEl hesaplamasi benzer bir sekilde hesaplamak için düzenlenmektedir. Ancak islem araçlarEG18), baska ölçüm koordinat sistemindeki (K'L'M') baska ölçüm noktalarII koordinatlarIÇlbirden çok baska uzakllgll (D1001,D1002) degerlerine ve K'M' düzleminde M' ekseninin karsll]lZl gelen baska ölçüm yönlerinin karslIllZlgelen baska ölçüm açllâr. dayanarak hesaplamaktadE K'M' düzleminin, XZ düzlemine paralel oldugu belirtilmelidir çünkü Y ekseni ve L' ekseni paraleldir ve çünkü her iki koordinat sistemi de Kartezyendir. Ancak K'M' düzlemindeki bir noktanI koordinatlarÇlY ekseni boyunca XZ düzleminin üzerine yans-[gllda XZ düzlemindeki koordinatlardan farklllllîlgöstermektedir.
Islem araçlarEKIB) daha sonra, baska referans koordinat sisteminde (K”L”M”) levha (6) üzerindeki baska ölçüm noktalarII baska koordinatlarIEifade etmek için bir koordinat dönüsümü gerçeklestirmek amacEIa kullanilBiaktadlEl Bu, L' ekseni ve L" ekseninin, birbirine ve sensörün (9) ölçülen egimine paralel oldugu bilgisine dayanarak yapllîhaktadE Islem aracE(18), baska referans koordinat sisteminde (K"L”M”) asaglki formüle dayanarak hesaplanan koordinatlar araclllgllýla baska bir düz çizgisi (1021) sigülîilnak için düzenlenmektedir Bu, çizgiyi (21) s[gUlElnaya yönelik aynBebepler için en küçük kareler yöntemi kullanllârak yapllîhaktadlîl C3, degeri ilgili olmayan bir baska sapmayEllemsil etmektedir. 2 ekseni ve M” ekseninin paralel oldugu, Y ekseninin ve L” ekseninin paralel oldugu, obje koordinat sisteminin Kartezyen oldugu ve baska referans koordinat sisteminin (K”L”M”) Kartezyen oldugu gerçeklerinin kombinasyonundan dolayD( ekseni ve K” ekseninin paraleldir.0bje koordinat sisteminin (XYZ) ve baska referans koordinat sisteminin (K"L”M”) kökenleri çaklslnasa da, baska düz çizgi (1021), X2 düzlemine asag ki sekilde temsil edilmektedir SapmanI (C4) degeri, ilgili degildir. Baska çizginin (1021) baska egriligi (ß), katlama makinesinin (104) tahrik yönü ve levha (6) araleUaki baska açII tanjantlar- karsiIJE gelmektedir. Bu baska açÇIislem araçlarEq18) tarafIan baska çizginin (1021) baska egriligin (ß) arctanlIrMarak hesaplanmaktadlEI Hem açII hem de baska açIlEl, XZ düzleminde Z ekseninin açllârlîbldugu bilinmelidir.
Nihayetinde islem araçlarEQlS), açlîsle baska açlýlîlioplayarak katlama aç-EliiesaplamaktadIEl Alternatif bir yapllâ'ndlülnada, baska tarayiEIJIOIO), döndürülmek yerine baska kontrol araclZl (1011) taraflEtlan hareket ettirilmektedir veya dönme ve hareketin bir kombinasyonu, taraylElEa (10) zorlanan nesneye benzer sekilde uygulanmaktadE Buna ek olarak, baska kontrol araclZ(1011) ve kontrol aracüfarklElbir türdendir veya hatta farklEIbir ölçüm prensibi (sonar, lazer üçgenleme) uygulamaktadlîl ve farklEbir sekilde hareket ettirilmektedir veya döndürülmektedir.
Bir baska yapüândlüinada ölçüm sistemi (1), ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') yönelimini, yerküre manyetik alan. göre belirlemek için bir yönelim sensörü (60) içermektedir. Baska ölçüm sistemi (1001), yönelimi yer küre manyetik alanlEla göre belirlemek için bir baska yönelim sensörü (1060) içermektedir. Katlama makinesi, bir ikinci yönelim sensörü (61) içermektedir.
Yönelik sensörünün (60), baska yönelim sensörünün (106) ve ikinci yönelim sensörünün (61) ölçümleri, koordinat sistemlerinin farklüaksenlerinin hizalamalelülogrulamak ve yönelimlerin saplßlsapmad [glIERontrol etmek Için islem araçlarEQlS) tarafIan kullanühiaktadß Bunun yerine ölçüm sistemi (1), ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') yönelimini, pusula yönlerine göre ölçmek için bir yönelim sensörü (60) içermektedir. Katlama makinesi (54), obje koordinat sisteminin (XYZ) yönelimini, pusula yönlerine göre ölçmek için bir ikinci yönelim sensörü (61) içermektedir. Bu yapllând [Etna için, bir baska ölçüm sisteminin (1001) mevcut olup olmad lglEîlgili degildir. Bu yapilândlîiinada, ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') Y' ekseni, boylamas. yöne paralel degildir. Yönelim sensörü (60) ve ikinci yönelim sensörü (61) ile ölçülen yönelimler, uygun koordinat dönüsümlerini yapmak için islem araçlarEiJlS) taraflEljan kullanUIhaktadlEI Bu, ölçüm sisteminin (1) destegi daha az önemli oldugu için özellikle avantajlIlEl Örnegin karsil]]Zl gelen yüzeyler, herhangi bir çizgi boyunca kesisebilmektedir. Bir yönelim sensörü (6)) içeren ölçüm sistemi (1) ve bir ikinci yönelim sensörü Içeren katlama makinesi (54), örnegin ölçüm sisteminin (1) katlama makinesine (54) sabit bir sekilde tutturulmad @Elapllând Einalarda ölçüm sistemini (1) konumlandlîilnak için serbestlik kazanmak amaclýla ayrIEla avantajIIIEI Ayrlîia koordinat sistemlerinin ölçülen yönelimine dayanarak, ölçümlerin gerçeklestirildigi X'Z' düzleminin boylamas- yöne dik olmasi gerek yoktur. AyrlEia, levha (6) üzerinde bir 3D sensör ile ölçülen konumlar. koordinatlarlÇlkatlama aç-Elhesaplamak için kullanilân uygun koordinat dönüsümleriyle artilZJ hesaplanabilmektedir.
Bir baska yapilând Ünada ölçüm sistemi (1), egim ölçer (50) ve yönelim sensörü (60) içeren bir tutum ve basllla referans sistemi (AHRS) (70) içermektedir. AHRS ayrlEia, hlîlanmaya dair bilgi saglamak için düzenlenmektedir. Ölçüm sistemi (1), boylamalea yön boyunca birden çok konumda, örn., birden çok Y koordinatIa ölçüm verisi toplamak için çerçeve (8) boyunca, örnegin bir ray üzerinde hareket ettirilmektedir. AHRS (70) ile ölçülen hlîlanmalar, bir yer degistirmeye neden olmak Için entegre edilmektedir. Yer degistirme, islem araçlarlEb (18) iletilmektedir. Islem araclZiJzakHgllîlbu sekilde ölçülen levha (6) üzerindeki konumlar araciIJgIMa bir düzlemi sabitlemeye yönelik boylamas. yön boyunca birden çok konumda yer degistirme ve ölçüm verisini kullanmaktadlEl Islem araçlarEG18), sabitlenen düzlem ve Z' ekseni arasIaki açMZHiesaplamak için ve sabitlenen düzlem ve Z' ekseni araleUaki açlîla dayanarak, açMîki ile çarparak katlama aç-Ehesaplamak için önceden belirlenen biçimde bir analog seklinde düzenlenmektedir.
Bir baska yapüândlünada, birden çok ölçüm sistemi (gösterilmemektedir), farklEl Y' koordinatlarIda konumlandlîllhaktadlîl Birden çok ölçüm sisteminin tamamükarsllllîl gelen ölçüm koordinat sistemlerinde IevhanI (6) uzakllgllîila ve birden çok ölçüm sisteminde bulunan egim ölçerler ve yönelim sensörleri ile ölçüldügü üzere ölçüm koordinat sistemleri ve referans koordinat sistemleri aras-aki iliskiye dair bilgi saglamaktadlEl Bilgi, levha (6) üzerindeki konumlar araclüglýla bir düzlemi sabitlemek için ve yukari açlElanana benzer bir sekilde ancak teknikte uzman kisiye asikâr olan modifikasyonlarla birlikte yer çekimi kuvvetinin ve nihayetinde katlama aç-I yönüne bir açlýlîliiesaplamak için birlestirilmektedir.
Bulusun spesifik yapllândlülnalarüyukar- açlElanmlgl olsa da, bulusun, açlElanandan farkllZI sekilde ancak yine de yukarlöhki ögretilere göre uygulanabildigi teknikte orta derecede uzman bir kisi taraflEUan takdir edilecektir. Yukarlîzlhki açllZlamalarlEl, klîlflhylîlîegil örnek niteliginde olmasümaçlanmaktadlîl Örnegin bulus, yukari açlKlanan bir a yöntemini açIKIayan makine tarafIan okunur talimatlar. bir veya daha fazla dizisini içeren bir bilgisayar programü/eya orada böyle depolanan bir bilgisayar programli-la sahip bir veri depolama 0rtam|:(örn., yarEl iletken bellek, manyetik veya optik disk) formunu alabilmektedir. AyrEla, eleman (4), ikinci elemana (7) dogru ve bundan uzaga tahrik edilebilmektedir veya her ikisi de birbirine dogru veya birbirinden uzaga tahrik edilebilmektedir. AyrlEa, egim ölçeri (50) ve bazEl yapllândünalarda ayrlîla yönelim sensörünü (60) içeren ölçüm sistemi (1), eleman (4) veya anahtar sistemi (3) ile desteklenebilmektedir. Benzer sekilde ancak baglislîlolarak, baska egim desteklenebilmektedir. AyrBa islem araçlarü baska bir konuma, örnegin destek masasII üzerine veya ölçüm sisteminin (1) üzerine yerlestirilebilmektedir. Bir baska örnek olarak sensör de, ölçüm yönünü ayarlamak için yatlîllâbilmektedir. Yine bir baska örnek olarak, ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlarII tamamÇl bir tekli ölçüm koordinat sisteminde ifade edilebildigi sürece her birinin yalnlîta, bir ölçüm noktaleb uzakl[gll:ölçtügü çoklu sensörler kullanllâbilmektedir. Bu nedenle, her bir sensörün ölçüm koordinat sistemi ve ölçüm yönleri bilinmelidir. AyrlEla uygulamada, aynlISeyi Ifade etmek için farklERelimeler kullanlßbilmektedir. Örnegin katlama makineleri ayrlEla, abkant pres olarak ifade edilebilmektedir.

Claims (3)

  1. ISTEMLER 1. Bir objenin bir birinci yüzey alanEboyunca bir birinci düzlemi ve bir Ikinci yüzey alanEl boyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik ölçüm sistemi (1) olup, asag-kileri içermektedir -yalnlîta birinci yüzey alanIa birden çok ölçüm noktasII bir ölçüm koordinat sisteminde (X'Y'Z') koordinatlari ölçülmesine yönelik bir sensör düzenlemesi (9), birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki bir kesisimden bir birinci uzaklllâa bir birinci ölçüm noktasEüSl) ve kesisimden bir ikinci uzaklliîta bir ikinci ölçüm noktasEÇlSZ) içeren birden çok ölçüm noktasÇlikinci uzakllEl birinci uzakllthan farkllllElgöstermektedir; -yer çekimi kuvvetinin yönüne z[El yönde ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') bir egiminin ölçülmesine yönelik bir egim ölçer (50); -birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlarlEla, ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin zlElyönü arasIaki açlsîh dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açlEllEl belirlenmesine yönelik bir islem cihazE018).
  2. 2. Istem l'e göre ölçüm sistemi (1) olup, burada yer çekimi kuvvetine zIElyön, egim ölçer (50) tarafIan kullanllân bir referans koordinat sisteminin (X"Y”Z”) bir eksenini olusturmaktadlü ve burada islem cihazÇlasaglElhkiler için düzenlenmektedir -ölçülen egime dayanarak referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için; - referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi için; -çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiEllBiaslZl için, obje koordinat sistemi, yer çekimi kuvvetinin yönüne z[Ü)ir Z ekseni içermektedir; -Z ekseni ve çizginin yansIialerasIa bir açi. belirlenmesi için; ve -belirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne ziElyön arasIaki açlýla dair bilgiye dayanarak objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi arasiaki açII belirlenmesi için.
  3. 3. Sensör düzenlemesinin (9), bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek birden çok ölçüm noktasII bir birinci ölçüm noktalellEl (51) bir koordinatIEölçmek için ve bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek bir ikinci ölçüm noktasII (52) bir ikinci koordinatIEölçmek için düzenlenen bir dönel olarak desteklenen taraylîüçerdigi, Istem 1 veya Z'ye göre ölçüm sistemi (1). Istem 1, 2 veya 3'e göre ölçüm sistemi (1) olup, asagIkileri içermektedir - ikinci yüzey alanIaki bir baska birden çok ölçüm noktasII bir baska ölçüm koordinat sisteminde koordinatlari ölçülmesine yönelik bir baska sensör düzenlemesi (1009), baska birden çok ölçüm noktaslZIkesisimden bir üçüncü uzakliIZta bir üçüncü ölçüm noktasE(51001) ve kesisimden bir dördüncü uzaklltha bir dördüncü ölçüm noktaslîl (51002) içermektedir, dördüncü uzakI[Ei üçüncü uzakllthan farkllIJIZl göstermektedir; - yer çekimi kuvvetinin yönüne z[1îlyönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin ölçülmesine yönelik bir baska egim ölçer (1050); - baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlarüla ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açlýEßelirlemek için ayrlEla düzenlenen islem Istem 4'e göre ölçüm sistemi (1) olup, burada yer çekimi kuwetine zilîiyön, baska egim ölçer tarafIdan kullanilan bir baska referans koordinat sisteminin (K”L"M”) bir eksenini olusturmaktadü ve burada islem araçlarlîa18), ayrlEla asaglkiler için düzenlenmektedir - ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlarII belirlenmesi için; - baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlar- dayanarak ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi için; - baska çizginin, obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslfllH1asEiçin; - baska çizgi ve Z ekseninin yansnasüaraslüda bir baska açII belirlenmesi için; - belirlenmis açlýh ve belirlenmis baska açlýh dayanarak objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi araleUaki açII belirlenmesi için. Istemler 1 ila 5'ten herhangi birine göre bir ölçüm düzenlemesi (1) içeren bir objeyi katlamaya yönelik katlama makinesi. Pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir yönelim sensörü (60) içeren; islem araçlarlEliEl ayrlîla, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIEbeIirIemek için ölçülen birinci yönelimi ve pusula yönlerine göre katlama makinesinin bir boylamas. yönünün bir ikinci yönelimi için bir saklanan degeri kullanmak için düzenlendigi, Istem 6'ya göre katlama makinesi. Pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir yönelim sensörü (60) ve pusula yönlerine göre obje koordinat sisteminin bir ikinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir ikinci yönelim sensörü (61) içeren, islem araçlar.. ayrlEia, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIEbeIirIemek için ölçülen birinci yönelimini ve ölçülen ikinci yönelimini kullanmak için düzenlendigi, Istem 6'ya göre katlama makinesi. Bir objenin (6) bir birinci yüzey alanElboyunca bir birinci düzlemi ve bir Ikinci yüzey alanEI boyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik yöntem olup, asag-kileri içermektedir - yalnlîta birinci yüzey alanIEUa birden çok ölçüm noktasII (Sl, 52) bir ölçüm koordinat sisteminde (X'Y'Z') koordinatlarlîblçmek için bir sensör düzenlemesi (9) kullanilB1asÇIbirden çok ölçüm noktasÇibirinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki bir kesisimden bir birinci uzaklikta bir birinci ölçüm noktasEQSl) ve kesisimden bir ikinci uzaklilîta bir ikinci ölçüm noktasHSZ) içermektedir, ikinci uzaklllZl birinci uzakliEtan farklüilîlgöstermektedir; - yer çekimi kuvvetine z[EIyönde ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') bir egiminin ölçülmesi; ve - birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlarlEb, ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin z[Elyönü arasIaki açlýb dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açII belirlenmesi. 10. Istem 9'a göre yöntem olup, burada birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlari, ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin yönü arasIaki açlsîb dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIdaki açII belirlenmesi asaglkileri içermektedir - yer çekimi kuwetine z[Ei yönün bir eksen olusturdugu bir referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için ölçülen egimin kullanüüîaslîl - referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarlEla dayanarak birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi; -çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiEilIhasü obje koordinat sistemi, yer çekimi kuwetinin yönüne paralel bir 2 ekseni içermektedir; -Z ekseni ve çizginin yansIiasljraleUaki bir açi. belirlenmesi; ve -belirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönü arasIaki açiýla dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasiaki açII belirlenmesi. 11. Istem 10'a göre yöntem olup, asag-kileri içermektedir -pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesi; -pusula yönlerine göre ölçülen birinci yönelime ve kesisimin bir ikinci yönelimi için saklanan bir degere dayanarak obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi. 12. Istem 9, 10 veya 11'e göre yöntem olup, asagidakileri içermektedir - bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun sallümaslîla birinci ölçüm noktasII -ölçüm koordinat sisteminin bir ekseni etraflEbla bir taraylEls-LEUO) döndürmek için kontrol araclîall) kullanilüîaslîl -bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun sallEmalea ikinci ölçüm noktasII (52) koordinatlari. ölçülmesi; ve -ikinci egimin belirlenmesi için birinci ölçüm yönü ve ikinci ölçüm yönü arasIaki farka dair bilginin kullanilB1asü 13. Istem 9, 10, 11 veya 12'ye göre yöntem olup, asaglEIiakileri içermektedir baska ölçüm koordinat sisteminde koordinatlari& ölçülmesi, baska birden çok ölçüm noktasüSlOOl, 51002), kesisimden bir üçüncü uzaklitha bir üçüncü ölçüm noktasEI içermektedir, dördüncü uzaklilZi üçüncü uzaklithan farkliIJKIgöstermektedir; -yer çekimi kuvvetinin yönüne zltîlyönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin ölçülmesi; -baska ölçüm noktalarlEJlEl ölçülen koordinatlarlEla ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açII belirlenmesi. 14. Istem 13'e göre yöntem olup, burada baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlari ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açII belirlenmesi asaglkileri içermektedir -ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok -baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi; -baska çizginin, obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslfllfhaslîl -baska çizgi ve Z ekseninin yansnldasßrasaki bir baska açII belirlenmesi; ve -belirlenmis açlýb ve belirlenmis baska açüla dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem araslüdaki açII belirlenmesi. 15. Bir IevhanI(6) bir katlama makinesinde (54) katlanmasIÇbirinci düzlem ve ikinci düzlem araleUaki açlElI belirlenmesini ve katlama makinesindeki (54) obje üzerinde bir baska katlama islemi gerçeklestirerek birinci düzlem ve ikinci düzlem araletlaki açII degistirilmesini içeren, Istemler 9 ila 14'ten herhangi birine göre yöntemin adIilarIÜgeren bir levha katlamaya yönelik yöntem.
TR2018/16240T 2012-10-12 2012-10-12 Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. TR201816240T4 (tr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP12188434.0A EP2719475B1 (en) 2012-10-12 2012-10-12 Measurement system and method for measuring an angle

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TR201816240T4 true TR201816240T4 (tr) 2018-11-21

Family

ID=47115347

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TR2018/16240T TR201816240T4 (tr) 2012-10-12 2012-10-12 Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem.

Country Status (6)

Country Link
US (2) US10302425B2 (tr)
EP (1) EP2719475B1 (tr)
ES (1) ES2694144T3 (tr)
PL (1) PL2719475T3 (tr)
TR (1) TR201816240T4 (tr)
WO (1) WO2014056699A1 (tr)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2516916B (en) 2013-08-06 2016-09-14 Lacsop Ltd Method and apparatus for determining the mass of a body
GB2516917B (en) * 2013-08-06 2018-02-07 Lacsop Ltd Surface angle measuring device
AT515671B1 (de) * 2014-06-23 2015-11-15 Trumpf Maschinen Austria Gmbh Biegewinkelmessvorrichtung für eine Biegepresse
AT516146B1 (de) * 2014-09-15 2016-03-15 Trumpf Maschinen Austria Gmbh Kalibrierverfahren für eine Biegemaschine
US10365091B2 (en) * 2015-05-28 2019-07-30 Keba Ag Electronic angle measuring device for a bending machine for measuring the bending angle between the limbs of a sheet
TR201606971A2 (tr) * 2016-05-25 2017-12-21 Durmazlar Makina Sanayi Ve Ticaret Anonim Sirketi Büküm Açısı Ölçüm Sistemi
CN109668543A (zh) * 2019-01-22 2019-04-23 南京理工大学 基于激光雷达的倾斜度测量方法
CN112683198B (zh) * 2020-12-01 2023-02-21 江西省中久光电产业研究院 一种三自由度角度光电测量装置及其测量方法
CN113203369B (zh) * 2021-03-31 2022-04-08 成都飞机工业(集团)有限责任公司 一种机器人制孔法向垂直度测量方法
BE1029328B1 (nl) * 2021-09-15 2022-11-21 Kdccvm Bvba Profielmeetsysteem voor een afkantpers
CN115540823B (zh) * 2022-11-28 2023-03-10 中国水利水电第七工程局有限公司 一种变截面超高墩竖直度测控方法
CN120116943B (zh) * 2025-03-04 2025-11-25 东风汽车集团股份有限公司 道路坡度检测系统以及方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NO164946C (no) * 1988-04-12 1990-11-28 Metronor As Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri.
WO1991013318A1 (fr) * 1990-02-23 1991-09-05 Amada Company, Limited Procede et appareil de mesure d'angles de façonnage
JP2641829B2 (ja) * 1992-11-10 1997-08-20 株式会社小松製作所 曲げ加工機における曲げ角度検出装置
NL1002314C2 (nl) * 1996-02-13 1997-08-14 Amada Metrecs Co Hoekmeetinrichting.
DE19781731T1 (de) * 1996-02-13 1999-11-18 Amada Metrecs Co Winkelmeßverfahren für Biegemaschinen, und Winkelmeßeinrichtung und Winkelsensor für diese
US6871413B1 (en) * 1997-12-15 2005-03-29 Microstrain, Inc. Miniaturized inclinometer for angle measurement with accurate measurement indicator
DE69927597T2 (de) * 1999-11-19 2006-06-01 Lvd-Company Nv Verfahren und Vorrichtung zur Falzwinkelmessung eines Blattes in einer Falzmaschine
US7568289B2 (en) * 2005-03-14 2009-08-04 Robert Bosch Company Limited Handheld optical distance measurement device
PT1961502E (pt) * 2007-02-23 2014-11-06 Bystronic Laser Ag Método e dispositivo para a dobragem de peças de trabalho
US8519852B2 (en) * 2010-03-29 2013-08-27 Egression, Llc Two-axis inclinometer head of bed elevation alarm and method of operation
DE202010006391U1 (de) * 2010-05-04 2010-11-04 Bystronic Laser Ag Winkelmessvorrichtung für Abkantpressen
ITMI20120751A1 (it) * 2012-05-04 2013-11-05 Salvagnini Italia Spa Apparato e metodo per la misurazione dell'angolo di piegatura di una lamiera.

Also Published As

Publication number Publication date
PL2719475T3 (pl) 2019-05-31
US11156454B2 (en) 2021-10-26
US20150241208A1 (en) 2015-08-27
US10302425B2 (en) 2019-05-28
EP2719475A1 (en) 2014-04-16
WO2014056699A1 (en) 2014-04-17
US20190242699A1 (en) 2019-08-08
EP2719475B1 (en) 2018-10-03
ES2694144T3 (es) 2018-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TR201816240T4 (tr) Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem.
US7895761B2 (en) Measurement method and measuring device for use in measurement systems
US9989973B2 (en) Measurement control system for multi-shaft supported air floatation platform
CN109304730B (zh) 一种基于激光测距仪的机器人运动学参数标定方法
US20070064246A1 (en) Method and system for determining the spatial position of a hand-held measuring appliance
CN111093902B (zh) 用于工件上的加工点的定位装置
JP6285146B2 (ja) アーム型三次元測定機及びアーム型三次元測定機を支持する基部の傾斜補正方法
CN105666490A (zh) 一种机器人的标定系统及方法
CN102980550B (zh) 一种测量大尺寸机械零件平面度的高精度检测仪及方法
EP3399327A1 (en) Pose estimation using radio frequency identification (rfid) tags
CN103673976A (zh) 复合式精度测量坐标系的转换与统一方法及系统
CN109000127A (zh) 一种仪器设备自动调平装置及其方法
US11654555B2 (en) Robot teaching system
CN105538341A (zh) 一种基于末端非完整坐标信息的机器人标定系统及方法
EP3889564B1 (en) Gas pressure detection device, robot comprising gas pressure detection device, and gas pressure detection method for same
Font-Llagunes et al. Consistent triangulation for mobile robot localization using discontinuous angular measurements
JP5316396B2 (ja) ロボットのばね定数同定方法およびロボットのばね定数同定装置
KR20160136136A (ko) 어태치먼트 중심위치의 보정방법 및 어태치먼트 중심위치를 자동으로 보정하는 공작기계
CN106774149B (zh) 工业机器人的调零方法及系统
CN106403913A (zh) 一种测绘装置、系统及方法
CN105424013A (zh) 一种地面坐标的测量方法
CN205466311U (zh) 一种基于末端非完整坐标信息的机器人标定系统
CN107991049A (zh) 基于加速度传感器的六自由度振动测试方法及装置
JP4908109B2 (ja) 高架橋柱の最大応答部材角測定装置を用いた地震災害計測システム
CN115855044B (zh) 一种机器人定位方法及系统