TR201816240T4 - Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. - Google Patents
Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. Download PDFInfo
- Publication number
- TR201816240T4 TR201816240T4 TR2018/16240T TR201816240T TR201816240T4 TR 201816240 T4 TR201816240 T4 TR 201816240T4 TR 2018/16240 T TR2018/16240 T TR 2018/16240T TR 201816240 T TR201816240 T TR 201816240T TR 201816240 T4 TR201816240 T4 TR 201816240T4
- Authority
- TR
- Turkey
- Prior art keywords
- measuring
- plane
- coordinate system
- angle
- another
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 36
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 117
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 24
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 17
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 13
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 10
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 4
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 235000003642 hunger Nutrition 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 101710126559 Endoglucanase EG-II Proteins 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000009830 intercalation Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21D—WORKING OR PROCESSING OF SHEET METAL OR METAL TUBES, RODS OR PROFILES WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21D5/00—Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves
- B21D5/006—Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves combined with measuring of bends
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21D—WORKING OR PROCESSING OF SHEET METAL OR METAL TUBES, RODS OR PROFILES WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21D5/00—Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves
- B21D5/02—Bending sheet metal along straight lines, e.g. to form simple curves on press brakes without making use of clamping means
- B21D5/0209—Tools therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H45/00—Folding thin material
- B65H45/12—Folding articles or webs with application of pressure to define or form crease lines
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C9/00—Measuring inclination, e.g. by clinometers, by levels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Buluş, bir objenin bir birinci yüzey alanı boyunca bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanı boyunca bir ikinci düzlemi arasındaki bir açının ölçülmesin yönelik bir ölçüm sistemi ile ilgilidir, birinci yüzey alanında birden çok ölçüm noktasının bir ölçüm koordinat sisteminde koordinatların ölçülmesine yönelik bir sensör düzenlemesi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasındaki bir kesişimden bir birinci uzaklıkta bir birinci ölçüm noktası ve kesişimden bir ikinci uzaklıkta bir ikinci ölçüm noktası içeren birden çok ölçüm noktası içermektedir, ikinci uzaklık, birinci uzaklıktan farklılık göstermektedir. Ölçüm sistemi ayrıca, yer çekimi kuvvetinin yönüne zıt yönde ölçüm koordinat sisteminin bir eğiminin ölçülmesine yönelik bir eğim ölçer içermektedir. Ölçüm sistemi ayrıca, birden çok ölçüm noktasının ölçülen koordinatlarına, ölçülen eğime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin zıt yönü arasındaki açıya dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasında açının belirlenmesine yönelik bir işlem cihazı içermektedir.
Description
TARIFNAME
ÖLÇÜM SISTEMI VE BIR AÇININ ÖLÇÜLMESINE YÖNELIK YÖNTEM
Bulus, bir objenin bir birinci yüzey alanEboyunca bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanü
boyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik bir ölçüm sistemi ile, bir
objenin katlanmalea yönelik bir katlama makinesi ile, bir objenin bir birinci yüzey alanlîßoyunca
bir birinci düzlemi ve bir ikinci yüzey alanEboyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi.
ölçülmesine yönelik bir yöntem ile ve bir levhanI katlanmalela yönelik bir yöntem ile ilgilidir.
EP1102032A1 numarallîibatent dokümanLIlbir katlama makinesindeki bir levhanlEl bir katlama
aç-I ölçülmesine yönelik bir yöntemi açllZIamaktadlEl Dönel olarak desteklenen bir taraylElZl
taray-I birkaç dönel konumunda bir levhanI alt klîin- uzakllglllîl ölçmek için
kullanilB1aktadlE TaraylElEyrEa, taray-I birkaç dönel konumunda katlama makinesinin bir
elemanlEla uzakllglllîölçmek için kullan llIhaktadlEI Ölçümler, levhanIve elemanlEl boylamalela
yönüne dik olan bir düzlemde gerçeklestirilmektedir.
Islem araçlarÇl(Ievhaya ve katlama makinesinin elemanßla) ölçülen tüm mesafeler Için
koordinat noktalarIEliçeren bir uzakllKl profilini belirlemektedir. Iki çizgi, uzaklllZl profili
araclIlgllýla sabitlenmektedir. Iki çizgi arasIaki açülevha ve eleman arasIdaki açEiçin
aIlEmaktadlÜ Katlama açlgülevha ve eleman araleUaki açII eksi iki katElkadar 360 derece
olarak belirlenmektedir. EP1102032A1 numaralmatent dokümanEla göre, taraylEEle elemanI
monte edildigi masaya göre taray-I aç-Eölçmek zorunda kalmaktan kaçlEmak için bu
avantajlIE
Ancak, hem taray-I birkaç dönel konumunda bir levhanI alt klîl'nlEb hem de taray-I
birkaç dönel konumunda katlama makinesinin eleman. uzakllgilîlölçmek için bir taraylElZI
kullanllîhasühem alt kismi hem de elemanI bir taraylElZile ölçülebilmesini gerektirmektedir.
Ancak elemanIItaranmasÇlevhanalt kEmIEliaramak için kullanllâmayan taray-I süresini
gerektirmektedir ve bu nedenle katlama makinesinin is çllîlarma yetenegini azaltmaktadlEl
Bulusun amacÇIistem 1'e göre bir ölçüm sistemi saglamaktlü
Bulusa göre ölçüm sistemi, bir objenin üzerinde bir birinci yüzey alanüîoyunca bir birinci düzlem
ve bir ikinci yüzey alanElboyunca bir ikinci düzlem araleUaki açlýübirinci yüzey alanüle ikinci
yüzey alanEarasIdaki açürasldaki aç.. bir ölçümü olarak ölçmek için kullanllfhaktadlîl
Bulusa göre ölçüm sisteminde egim, ölçüm koordinat sisteminde ölçülen koordinatlarüyer
çekimi kuvvetine zIEiyöne baglamak için bilgi saglamaktadiB Ikinci düzlem olarak, yer çekimi
kuvvetine zlElyöne ayn üç. olmak zorunda degildir, ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetine ziü
yön arasIaki açlýa dair bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açlîlîlbelirlemek için
kullanllîhaktadIEi
Bir levhanI katlama aç-I belirlenmesi, katlanmlgllevhanl yüzeyleri boyunca uzanan iki
düzlem arasIaki bir açIlEi ölçümünün belirlenmesinin bir örnegidir. Egimölçer, ölçüm
koordinat sistemi ve su an bir referans olarak aIlEian yer çekimi kuvvetinin yönüne zlElyön
araleUaki bir iliskiye dair bilgi sagladlgiEilçin, eleman üzerinde ölçümleri gerçeklestirmek için
sensör düzenlemesinin hiçbir süresi gerekmemektedir ve a açEIJh lîla belirlenebilmektedir.
Bulusa göre ölçüm sisteminin bir baska yapilând [Binaslîida, yer çekimi kuvvetine zilîlyön, egim
ölçer tarafIan kullanllân bir referans koordinat sisteminin (X”Y"Z”) bir eksenini
olusturmaktadlîj ve islem cihazÇlasag-kiler için düzenlenmektedir
- ölçülen egime dayanarak referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII
koordinatlarII belirlenmesi için;
- birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin, referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm
noktaslBJlEl koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi için;
- çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiEIIB1asülçin,
obje koordinat sistemi, yer çekimi kuvvetinin yönüne zlElbir Z ekseni içermektedir;
- Z ekseni ve çizginin yansIiaslîirasIda bir açi. belirlenmesi için; ve
- objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi araslfidaki açIEl, belirlenmis açlýla ikinci düzlem ve
yer çekimi kuvvetinin yönüne zlîlyön arasIaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlenmesi
Baska yapüândlünaya göre egim, referans koordinat sisteminde ölçüm noktalarII
koordinatlarIEi belirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü gerçeklestirmek
amaclila islem araçlarEltarafIan kullanlßcak bilgiyi olusturmaktadlî.] Referans koordinat
sistemindeki çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra çizgi, kesisime dik bir düzlemin üzerine
yansiülßîaktadü Birinci ve ikinci ölçüm noktasükesisime farklEIbir uzakIEgb sahip oldugu için,
birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarüairinci düzlemde bir çizginin bir özelligini tahmin
etmek için yeterlidir, çizgi kesisime paralel degildir. Çizgi, kesisime paralel olmad[g]l]1;in Z ekseni
ve çizginin yansIiasErasHaki açEöelirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir
çünkü 2 ekseni, obje koordinat sisteminin bir parçasIlE Nihayetinde islem araçlarÇbirinci yüzey
alanEl/e ikinci yüzey alanDaralehaki açm belirlenmis açlýb ikinci düzlem ve yer çekimi
kuwetinin yönüne z[EJ yön arasIdaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlemek için
kullanliüîaktadlü
Baska yapllând [ana, islem cihaz. basit gerekliliklerin avantajIEtaglamaktadlEve hlZlIrbIma,
koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yansIialarEi tahmin etme hElEl
gerçeklestirilebilmektedir.
Bulusa göre ölçüm sisteminin bir baska yaplßnd Minas-a sensör düzenlemesi, bir birinci ölçüm
yönünde ölçüm radyasyonu göndererek birden çok ölçüm noktasII bir birinci ölçüm noktasII
bir koordinatIEölçmek için ve bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek bir ikinci
ölçüm noktasII bir ikinci koordinatIEöIçmek için düzenlenen bir dönel olarak monte edilmis
taray @içermektedin
Taraylîzülönel olarak monte edildigi için, farklljlönlerde ölçüm radyasyonu gönderebilmektedir.
Ölçüm radyasyonunu farkllîyönlerde göndererek, birinci yüzey alanEtlaki birden çok ölçüm
radyasyonunun koordinatlarEölçülebiImektedir.
Birinci düzlem ve ikinci düzlem araledaki açlElI hlîlElbir belirlenmesine katkElsaglayan
döndürme, hlîlEle dogru bir sekilde gerçeklestirilebilmektedir.
Bir baska yapllândünada bulusa göre ölçüm sistemi, asaglkileri içermektedir
- ikinci yüzey alanIaki bir baska birden çok ölçüm noktasII bir baska ölçüm koordinat
sisteminde koordinatlarlEl ölçülmesine yönelik bir baska sensör düzenlemesi, baska birden
çok ölçüm noktasleesisimden bir üçüncü uzakl[tha bir üçüncü ölçüm noktaslîle kesisimden
bir dördüncü uzaklllîta bir dördüncü ölçüm noktaslîçermektedir, dördüncü uzaklElZi üçüncü
uzakllthan farkIlEEJgöstermektedir;
- yer çekimi kuwetinin yönüne zlElyönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin
ölçülmesine yönelik bir baska egim ölçer;
- islem araçlarlîlayrlîla, baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlari ve ölçülen baska
egime dayanarak birinci düzlem ve Ikinci düzlem arasIa açlgEl belirlemek Için
düzenlemektedir.
Bu yapllând iElnaya göre ölçüm sistemi, ikinci düzlem ve birinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin
yönüne zlIIlyön araleklaki açmlçmek için düzenlemeye benzer yer çekimi kuwetinin yönüne
zlîlyön arasIdaki açmlçmek için düzenlenmektedir, bu bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem
arasIaki açEEbelirlemek için kullaniiîhaktadlü Yapliândiîiinaya göre, yer çekimi kuvvetinin
yönüne zltîlyön, bir referans ve ikinci düzlem araletlaki açlîcblarak allEtnaktadE
Bulusa göre ölçüm sisteminin bir baska yapüând IîiinasIa, yer çekimi kuvvetine ziEIyön, baska
egim ölçer tarafIan kullanllân bir baska referans koordinat sisteminin bir eksenini
olusturmaktadlEI AyrlEla islem araçlarüilaveten asaglkiler için düzenlenmektedir
- ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok
ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için;
0 ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin, baska referans koordinat sisteminde baska
birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi için;
. baska çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslülîhaslîl
. baska çizgi ve Z ekseninin yansIiasljrasIEUa bir baska açII belirlenmesi için;
. objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi arasIaki açIlEl, belirlenmis açiýb ve belirlenmis
baska açlýia dayanarak belirlenmesi için.
Baska yapilândlElnaya göre baska egim, baska referans koordinat sisteminde baska ölçüm
noktalarII koordinatlarIEl belirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü
gerçeklestirmek amaclýla islem araçlarEltarafIan kullanllâcak bilgiyi olusturmaktadlEl Baska
referans koordinat sistemindeki baska çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra baska çizgi,
kesisime dik bir düzlemin üzerine yanlellBiaktadlEl Üçüncü ve dördüncü ölçüm noktasÇkesisime
farklEbir uzakl[gb sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarüikinci
düzlemde bir baska çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir, baska çizgi kesisime
paralel degildir. Baska çizgi, kesisime paralel olmadlglüçin Z ekseni ve çizginin yanslasEl
arasIaki açlîbelirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü 2 ekseni, obje
koordinat sisteminin bir parçasIlB Nihayetinde islem araçlarüoirinci yüzey alan Ele ikinci yüzey
alanürasliîtlaki açlýübelirlenmis açlýb ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zlEyön
arasübaki açlýla dair bilgiye dayanarak belirlemek için kullanimiaktadlü
Baska yapliând lîn'na, islem cihaz. basit gerekliliklerin avantajlßaglamaktadlüve hlîliîilma,
koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yansIialarü tahmin etme hlîllîl
gerçeklestirilebilmektedir.
Yine bir baska yapllândlîrlnada, bir objenin katlanmas. yönelik bir katlama makinesi, bulusa
göre bir ölçüm düzenlemesi içermektedir. Katlama makinesi, bulusa göre bir ölçüm düzenlemesi
içerdigi için obje, objeyi kaldlünaya gerek kalmadan ölçülebilmektedir.
Bir baska yapllândlünada katlama makinesi, pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin
bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir yönelim sensörü içermektedir; islem araçlarIZI
ayrlEla, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIElbelirlemek için
ölçülen birinci yönelimi ve pusula yönlerine göre katlama makinesinin bir boylamas- yönünün
bir ikinci yönelimi için bir saklanan degeri kullanmak için düzenlenmektedir.
Katlama makinesinin boylamasEla yönünün bir ikinci yönelimi için bir saklanan deger ve pusula
yönlerine göre birinci yönelim ölçülerek, koordinat sistemlerindeki eksenin yönüne dair bilgi
toplanmaktadlEl Islem aracü obje koordinat sisteminde ölçüm noktalarII koordinatlarlü
belirlemek için bu bilgiyi kullanmaktadlü Bu nedenle katlama makinesi, obje koordinat
sisteminin ölçüm koordinat sistemi ile hizalanmaslßaglamak Için daha az kalibrasyon veya
daha az kesin üretim gerektirmektedir.
Bir baska yapllândlîilnada katlama makinesi, pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin
bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir birinci yönelim sensörü ve pusula yönlerine göre
obje koordinat sisteminin yöneliminin ölçülmesine yönelik bir ikinci yönelim sensörü
içermektedir, islem araçlarElayrlEia, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII
koordinatlarIEbeIirlemek için ölçülen birinci yönelim ve ölçülen ikinci yönelim sensörünü
kullanmak için düzenlenmektedir.
Pusula yönlerine göre birinci yönelim ve ikinci yönelimin ölçülmesiyle, ölçüm koordinat sistemi
ve obje koordinat sistemi arasIaki ilgili yönelimlerin bilgisi elde edilmektedir. Bu bilgi, islem
araçlarEliarafian kullanllüiaktadm Bu, ölçüm sistemini, katlama makinesine göre bilinmeyen
bir konumda ve yönelimde konumland @hak için avantajIElîiir sekilde kullanlßbilmektedir. Bulus
ayrlEla, istem 9'a göre bir yöntem saglamaktadlü
Yönteme göre, bir objenin üzerinde bir birinci yüzey alanEEboyunca bir birinci düzlem ve bir ikinci
yüzey alanElboyunca bir ikinci düzlem arasIaki açÇlbirinci yüzey alanü/e ikinci yüzey alanü
arasIaki açßrasldaki aç.. bir ölçümü olarak belirlenmektedir. Bulusa göre yöntemde egim,
ölçüm koordinat sisteminde ölçülen koordinatlarüyer çekimi kuvvetine zlElyöne baglamak için
bilgi saglamaktadE Ikinci düzlem olarak, yer çekimi kuwetine z[El yöne aynDaçlEIh olmak
zorunda degildir, ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetine ziüyön arasIaki açlîla dair bilgi, birinci
düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açlýEEbelirlemek için kullanüBwaktadE
Bir IevhanlEI katlama açlglEJI belirlenmesi, katlanmlglevhanl yüzeyleri boyunca uzanan iki
düzlem arasIdaki bir açi. ölçümünün belirlenmesinin bir örnegidir. Egimölçer, ölçüm
koordinat sistemi referans koordinat sistemi arasIaki iliskiye dair bilgi sagladiglüçin, eleman
üzerinde ölçümleri gerçeklestirmek için sensör düzenlemesinin hiçbir süresi gerekmemektedir
ve a açlgühlîla belirlenebilmektedir.
Yöntemin bir baska yapliând lEinasIa, birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlar.,
ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin yönü araletlaki açlýla dair bilgiye
dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açII belirlenmesi, asaglkileri
içermektedir
- yer çekimi kuvvetine zlîlyönün bir açßlusturdugu bir referans koordinat sisteminde birden
çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için ölçülen egim kullan [lBiaslîl
- birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin, referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm
noktaslBllEl koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi;
- çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansitîllüiasüobje
koordinat sistemi, yer çekimi kuvvetinin yönüne paralel bir 2 ekseni içermektedir;
- Z ekseni ve çizginin yansIiaslîirasIda bir açi. belirlenmesi; ve
- birinci düzlem ve ikinci düzlem arasiEdaki açili-Ji, belirlenmis açlýb ikinci düzlem ve yer
çekimi kuvvetinin yönü arasIaki açlýb dair bilgiye dayanarak belirlenmesi.
Baska yapliândlüriaya göre egim, referans koordinat sisteminde ölçüm noktalarII
koordinatlarIElbelirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü gerçeklestirmek
amaclýla kullanllâcak bilgiyi olusturmaktadlü Referans koordinat sistemindeki çizginin bir
özelligi tahmin edildikten sonra çizgi, kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslîllBwaktadlB Birinci
ve ikinci ölçüm noktasÇlkesisime farkIlJJir uzakl[gia sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm
noktasII koordinatlarübirinci düzlemde bir çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir,
çizgi kesisime paralel degildir. Çizgi, kesisime paralel olmad @Egin Z ekseni ve çizginin yansHasEl
araletlaki açüibelirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü Z ekseni, obje
koordinat sisteminin bir parçasIE Nihayetinde, birinci yüzey alanüve ikinci yüzey alanü
arasiEtlaki açünelirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zlElyön arasIaki
açlýla dair bilgiye dayanarak belirlenmektedir.
Yöntemin baska yapüândlîilnasl: yöntemi gerçeklestirmeye yönelik ekipmana basit
gerekliliklerin avantajIElsaglamaktadlEl ve hlZElolma, koordinat dönüsümleri gibi, çizgi
özelliklerini ve yansIialarEliahmin etme h[îl@erçeklestirilebilmektedir.
Bulusun bir baska yapllândlülnasia yöntem asaglEliakileri içermektedir.
- ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin, pusula yönlerine göre ölçülmesi;
- pusula yönlerin göre ölçülen birinci yönelime ve egimin bir ikinci yönelimi için saklanan bir
degere dayanarak referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII
koordinatlarII belirlenmesi;
Pusula yönlerine ve kesisim üzerindeki bir ikinci yönelim için bir saklanan degere göre birinci
yönelim ölçülerek, koordinat sistemlerindeki eksenin yönüne dair bilgi toplanmaktadlü Islem
aracIZIObje koordinat sisteminde ölçüm noktalarII koordinatlarIEbelirlemek için bu bilgiyi
kullanmaktadlEl Bu nedenle bu yöntem, obje koordinat sisteminin ölçüm koordinat sistemi ile
hizalanmaslßaglamak için kalibrasyon üzerinde düsük klglfllamalar ve daha az kesin üretim ile
uygulanabilmektedir.
Bulusun göre bir baska yöntemde, yöntem asaglkileri içermektedir
- bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun salliîmaslsîla birinci ölçüm noktasII
koordinatlari. ölçülmesi;
- ölçüm koordinat sisteminin bir ekseni etrafIa bir tarayiîlýlîöndürmek için kontrol aracü
kullanlßiasü
- bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun salElnasEla ikinci ölçüm noktasII
koordinatlarII ölçülmesi; ve
- ikinci egimin belirlenmesi için birinci ölçüm yönü ve ikinci ölçüm yönü aras-aki farka dair
bilginin kullanllßîasü
TarayElîLEletrafIa döndürerek, birden çok ölçüm noktasIaki birkaç ölçüm noktasII
koordinatlari. ölçülebilmesi için ölçüm yönü degismektedir. Döndürme, hlîIlZl/e dogru bir
sekilde gerçeklestirilebilmektedir.
Bulusa göre yöntemin bir baska yapüândlîilnaslüha yöntem asaglîîhkileri içermektedir
- ikinci yüzey alanIaki bir baska birden çok ölçüm noktasII bir baska ölçüm koordinat
sisteminde koordinatlari ölçülmesi, baska birden çok ölçüm noktasÇkesisimden bir üçüncü
uzaklikta bir üçüncü ölçüm noktasme kesisimden bir dördüncü uzakl[tha bir dördüncü ölçüm
noktasüçermektedir, dördüncü uzaklllg üçüncü uzakllthan farklHJKIgöstermektedir;
- yer çekimi kuvvetinin yönüne z[Elbir yönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska
egiminin ölçülmesi;
- baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlari ve ölçülen baska egime dayanarak birinci
düzlem ve ikinci düzlem arasIa açlýEbelirlenmesi.
Bu yapllând lElnaya göre ölçüm sistemi, ikinci düzlem ve birinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin
yönüne zltîlyön arasIaki açmlçmek için düzenlemeye benzer yer çekimi kuwetinin yönüne
zItZlyön arasIiaki açlîßlçmek için düzenlenmektedir, bu bilgi, birinci düzlem ve ikinci düzlem
araleUaki açlýllelirlemek için kullanliüiaktadlü YapilândlElnaya göre, yer çekimi kuvvetinin
yönüne ZLElyön, bir referans ve ikinci düzlem arasliîtlaki açßlarak allümaktadß Bu nedenle, bu
açlýEbelirlemek için bir katlama makinesinin bir eleman.. konumlarII ölçülmesine gerek
yoktur.
Bulusun bir baska yapllândlîrlnasßtla, baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlarlEla ve
ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açII belirlenmesi
adIilBsag-kileri içermektedir
- ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok
ölçüm noktasII koordinatlarII belirlenmesi;
- ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin, baska birden çok ölçüm noktasII
koordinatlari dayanarak tahmin edilmesi;
- baska çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanlellBiasE
- baska çizgi ve Z ekseninin yansIiIaslârasa bir baska açII belirlenmesi; ve
- birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açIlEl, belirlenmis açlýb ve belirlenmis baska açlýla
dayanarak belirlenmesi.
Baska yapHândlElnaya göre baska egim, baska referans koordinat sisteminde baska ölçüm
noktalarII koordinatlarIl] belirlemek için koordinat sistemlerinin bir dönüsümünü
gerçeklestirmek amacMa kullanilâcak bilgiyi olusturmaktadlü Baska referans koordinat
sistemindeki baska çizginin bir özelligi tahmin edildikten sonra baska çizgi, kesisime dik bir
düzlemin üzerine yanslîilBiaktadlEl Üçüncü ve dördüncü ölçüm noktasü kesisime farklEbir
uzakl[gla sahip oldugu için, birinci ve ikinci ölçüm noktasII koordinatlarIZIikinci düzlemde bir
baska çizginin bir özelligini tahmin etmek için yeterlidir, baska çizgi kesisime paralel degildir.
Baska çizgi, kesisime paralel olmadlgiEiçin Z ekseni ve çizginin yansIiasElarasIaki açD
belirlenebilmektedir ve basit bir sekilde belirlenebilmektedir çünkü 2 ekseni, obje koordinat
sisteminin bir parças- Nihayetinde, birinci yüzey alanlîlie ikinci yüzey alanEiaraletlaki açÇl
belirlenmis açlîla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne zIElyön arasiaki açlýb dair
bilgiye dayanarak belirlenmektedir.
Baska yapliând lîilna, islem cihaz. basit gerekliliklerin avantajlßaglamaktadlüve hlîlüblma,
koordinat dönüsümleri gibi, çizgi özelliklerini ve yanslalarlîl tahmin etme hlîIIII
gerçeklestirilebilmektedir.
Bulusun yine bir baska yapilândlEinaleUa yöntem, bir levhanI bir katlama makinesinde
katlanmasIIIJ birinci düzlem ve ikinci düzlem arasiEUaki açII belirlenmesini ve katlama
makinesindeki obje üzerinde bir baska katlama islemi gerçeklestirerek birinci düzlem ve ikinci
düzlem araslükjaki açII degistirilmesini içermektedir.
Belirlenen açÇIevhanIIIkatlanmas birinci düzlemi ve Ikinci düzlemi arasEtlaki açMa dair geri
besleme saglamaktadlEl Açübaska katlama isleminde bu geri beslemeye dayanarak optimize
edilmektedir.
Bulusun yapilând lElnalarÇlkarsiJIEl gelen referans sembollerinin karsiHKlgeIen parçalarElbeIirttigi
ekli sematik sekillere atiiîia bulunarak yalnlîta örnek olarak açiElanacaktlEl ve burada:
- Sekil 1, bulusa göre bir sensör düzenlemesinin ve bir katlama makinesinde desteklenen bir
- Sekil 2 levha üzerindeki bir birinci yüzey alan-a birden çok ölçüm noktasII konumlarIEl
göstermektedir
- Sekil 3 bir baska sensör düzenlemesini içeren bir katlama makinesini göstermektedir
- Sekil 4 levha üzerindeki bir Ikinci yüzey alanIa bir baska birden çok ölçüm noktasII
konumlarllgöstermektedir
YapilândlElnalar
Sekil 1'de aç[lZlanan bulusun bir yapiiând lîilnasIa, bir katlama makinesi (54) bir ölçüm sistemi
(1) içermektedir. Katlama makinesi (54), bir elemani (4) sabitlenmesine yönelik bir ket sistemi
(3) içeren bir masa (2) içermektedir. Eleman (4), bir levhanI (6) desteklenmesine yönelik bir
girintiye (5) sahip bir destek kaIIEiçermektedir. Katlama makinesi (54) ayrIEia, levhaylZ(6),
eleman (4) ve ikinci eleman (7) arasIa bilinen bir sekilde katlamaya yönelik hareketli bir delgi
içeren bir ikinci elemanEU) içermektedir. Eleman. (4), ikinci elemani (7) ve girintinin (5)
boylamas- yönü (YY) (gösterilmemektedir), seklin düzlemine dik bir yöndedir.
Katlama makinesi (54) ayrlîa, masayEGZ) desteklemeye yönelik bir çerçeve (8) içermektedir. Bu
çerçeve (8) ayrlEh, ikinci elemana (7) yönelik tahrik sistemini (gösterilmemektedir)
desteklemektedir. Tahrik sistemi, Ievhaymö) arzu edilen bir katlama aç_ katlamak amaclîla
bilinen bir ayarlanabilir hidrolik basiEç cihazübermektedir.
KullanIida, bir levha (6), elemanlEl (4) üzerine yerlestirilmektedir ve ikinci eleman (7), tahrik
sistemi (gösterilmemektedir) taraflEtlan Ievhaya (6) dogru tahrik edilmektedir. Buna göre levha
(6), ikinci eleman (7) tarafIan girintiye tahrik edilmektedir ancak levha (6), eleman (4) ile
desteklendigi için boylamas. yön (XX) boyunca egilmektedir. Yapllândünada, girinti (5) ve
ikinci eleman (7) simetriktir. Tahrik sistemi, ikinci elemanü bir Kartezyen obje koordinat
sisteminin (XfYfo) Z ekseninin yönüne paralel bir tahrik yönü boyunca tahrik etmek için
düzenlenmektedir, böylelikle ikinci elemani (7), elemani (4) yönündeki bir hareketi, bir
negatif isarete karsUJKl gelmektedir. Katlama makinesi, tahrik yönü ve Zf-yönü, yer çekimi
kuwetinin yönüne paralel olacak sekilde kurulum üzerine aynlîdüzeye getirilmektedir. Obje
koordinat sisteminin (XYZ) Yf ekseni, girintinin (5) boylamaleia yönüne (YY) paraleldir. Bu
yapilândlîrlnada girinti (5), Yf eksenini (veya girintinin (5) boylamas- yönünü) ve Z eksenini
içeren simetrinin (bir tire noktallgizgi ile gösterilmektedir) bir düzlemi etrafIda simetriktir. Obje
koordinat sisteminin (XfYfo) Xf-koordinatü girintinin (5) simetrisinin düzlemine dik olacak
sekilde seçilmektedir. Ikinci eleman (7), simetrinin düzlemi etrafIa simetrik olacak sekilde
düzenlenmektedir. Bu düzenleme ile, Ievhadaki (6) katlanmanI da, simetrinin düzlemi
etrafIa simetrik olmasEbekIenmektedir. Tahrik yönünün, yer çekimi kuvvetinin ve simetri
kullan“. yönüne paralel olacak sekilde ayarlanmasü katlama makinesinin (54) büyük
aglHilgiII ve Örnegin kaII metal IevhalarEQ6) katlamak için kullanlßn büyük kuwetlerin etkisi
aItIa kullanilIEken katlama makinesinin (54), çevresindekiler göre yana yatmaleilZiveya
sürüklenmesini önlemek avantajlIE Bulusun anlasllîhasßmaclîla, ayrlaa bir koordinat sistemi
(XYZ) tanEllBiaktadlü bu yapllândlElnada bu, kökenin konumunun dlglEUa obje koordinat
sistemine (XfYfo) esittir. Bu nedenle X ekseninin yönü, Xfekseninin yönüne esittir, Y ekseninin
yönü, Yfekseninin yönüne esittir ve Z ekseninin yönü, Zfekseninin yönüne esittir.
Katlama makinesi (54) ayrlEla, çerçeve (8) ile desteklenen bir ölçüm sistemi (1) içermektedir.
Ölçüm sistemi, dönel olarak desteklenen bir taraymlû) içeren bir sensör (9) içermektedir.
TaraylEEl(10), bir ölçüm yönünde (XX) objeye radyasyon (XX) göndererek ve yansifllân
radyasyonu alarak taraylîlîl(10) ve levha (6) arasiaki bir uzakllglElöIçebilmektedir ve
belirleyebilmektedir. Bu amaçlar bir taraylEE(10), bir radyasyon kaynagDçermektedir. Bu
yapllândlülnada, Microelektronik GmbH, Eching/Almanya taraf-an piyasaya sürülen, profil
esyükselti taramaya yönelik bir lazer taraylEElJIan bir MEL Çizgi TaraylEEll/IZD kullanllîhaktadEl
Alternatif yapllândlülnalar, örnegin sonar prensibine, lazer üçgenleme prensibine dayanan
örnekler için olan baska tarayEllâra dayanmaktadEl
Sensör (9) ayrlîa, taray-I(10) dönel konumunu ve dolayßlýla ölçüm yönünü kontrol etmeye
yönelik bir kontrol aracEGll) içermektedir. LevhanI(6) ve ölçüm sisteminin (1) ilgili konum ve
yönelimlerini sabit tutarken, ölçüm yönünü degistirerek, levhadaki (6) farklEIkonumlara
uzakl[Klarlîölçülebilmektedin
Ölçüm sistemi (1), sensörün (9), normal olarak boylamaslTila yöne (YY) sahip, örn., boylamas-
yöne (YY) dik bir düzlemde uzaklllZlarEöIçebilecegi sekilde masaya (2) göre bir montaj aç-a
(C) monte edilmektedir. Sensör (9), bir iki boyutlu sensördür, bu da taray-I(10), bir dönme
ekseni etraflEkja döndürülmek için düzenlendigini ifade etmektedir. Boylamalela yöne (YY)
dönme eksenini hizalamak için, ölçüm sistemi (1) ayrlEla, ölçüm sistemini (1) çerçeveye (8)
monte etmek için bir montaj parçasEGlZ) içermektedir. Bir yapüând Emada montaj parçasEGlZ),
iki referans yüzeyi (13, 14) içermektedir. Çerçevenin (8) üzerindeki iki karsilllîl gelen referans
yüzeyi üzerinde desteklenmektedir. Karslllk`lgelen referans yüzeyleri (15, 16), boylamas- yöne
(YY) paralel olan bir çizgi boyunca kesismektedir. KarslIJE gelen yüzeyler (15, 16), referans
yüzeylerini (13, 14) destekledigi için referans yüzeyleri (13, 14) ayrlîla, boylamaleb yöne (YY)
paralel olan bir çizgi boyunca kesismektedir.
Sensör (9), sensör (9) ve sensöre (9) bakan levha (6) tarafII üzerinde birden çok ölçüm
noktasEl (Sl, 52) arasIaki birden çok uzakllgllEl (D1, D2) degerini ölçmek Için
düzenlenmektedir. Bu, sekil 2'de gösterilmektedir. FarklEl konumlar, taraylElEI (10)
radyasyonunun kaynagüle çaklglan sensörün bir Kartezyen ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z')
kökeninden farkIElölçüm yönlerindedir. Ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') Y' ekseni,
boylamalela yöne (YY) paraleldir. Obje koordinat sisteminin (XYZ) Y ekseni de boylamaleb
yöne (YY) paralel oldugu için Y ekseni ve Y' ekseni paraleldir. Ölçüm koordinat sisteminin X'
ekseni, Ievhaya (6) bakan taray-I (10) yüzeyine paraleldir. YapilândiElnada, bir Kartezyen
koordinat sistemi kullanllîhaktadlElancak baska koordinat sistemleri de kullanllâbilmektedir.
Ölçüm koordinat sisteminin Z' ekseni, taray-n (10), levha yönünde uzanmaktadlB Ölçüm
yönleri, X'Z' düzleminde Z' ekseni ile ölçüm açilâr- karsiliKIgelmektedir, çünkü taraylîlîalû),
yalnlîta Y' ekseni etrafIa dönmek için düzenlenmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z')
kökeni, sonrasIa daha kolay ve dolaylîls-Lla daha hlîllîlslenmesini saglamak için taray-IEJ, Y'
ekseni etrafIa dönecegi sekilde seçilmektedir.
Sensör (9), birden çok uzakilglI (D1,D2) ölçülen degerlerini ve karsll]k`l gelen açllârElslem
cihazlEla (18) aktarmak için düzenlenmektedir. Islem aracÇSekil 1'de gösterilmektedir. Ölçülen
degerler ve karslEEl gelen ölçüm yönleri, bir kablolu baglantüSl) aracinglýla aktarllüiaktadliîl
Alternatif bir yapllândünada ölçülen degerler ve karslülö gelen ölçüm yönleri, örnegin bir
Bluetooth veya Kablosuz LAN (WLAN) baglantlgîlle kablosuz olarak aktarllfnaktadlü Ölçüm
yönleri, sensörün ölçüm koordinat sisteminde (X'Y'Z') islem araçlarlEla (18) aktarllüîaktadlü
Ölçüm sistemi (1) ayriîla, yer çekimi alan Çörn., yer çekimi kuvvetinin yönüne göre sensörün (9)
egiminin bir degerini ölçmek için bir egim ölçer (50) içermektedir. Egimölçer, bir Kartezyen
referans koordinat sisteminde (X”Y”Z") ölçümleri saglamaktadlE Bu referans koordinat
sisteminde (X"Y"Z”), Z” ekseni, yer çekimi kuvvetinin yönüne paraleldir. Ancak yer çekiminin
merkezinden bir hareket, Z” koordinatII bir pozitif artlglEla karslIlKl gelmektedir. Basitlik
sebebiyle, burada Y” ekseninin, boylamas- yöne (XX) paralel oldugu ve dolaylîlsîla ayrlîla
ölçüm koordinat sisteminin Y'ekseninin yönüne paralel oldugu varsayllBiaktadE Y" ekseni ve Z"
ekseninin bu yönelimleriyle, X" ekseni, ölçüm koordinat sisteminin X'Z' düzlemindedir. Bu,
asag. aç[Elanan dönüsümler en basit ve dolaylîlîla en hlZEgekilde gerçeklestirilebildigi için
avantajlIE Sensörün (9) ölçülen degeri ayrEa, referans koordinat sisteminde (X"Y"Z”) islem
Islem araçlarE(18), ölçüm koordinat sistemindeki (X'Y'Z') levha (6) üzerindeki konumlarI
koordinatlarIÇbirden çok uzakllgla (01, D2) yönelik degerlere ve X'Z' düzlemindeki Z' ekseninin
karsUJE gelen açllâr. dayanarak hesaplamak için ayarlanmaktadlEl X'Z' düzleminin, XZ
düzlemiyle çakEtglEbelirtilmelidir çünkü Y ekseni ve Y' ekseni paraleldir ve çünkü her iki
koordinat sistemi de Kartezyendir. Ancak birden çok ölçüm noktasII (Sl, SZ) koordinatlarÇl
XYZ koordinat sisteminde ve X'Y'Z' koordinat sistemlerinde degisiklik göstermektedir.
Islem araçlarE(18) daha sonra, referans koordinat sisteminde (X"Y”Z") levha (6) üzerindeki
birden çok ölçüm noktasII koordinatlarlüifade etmek için bir koordinat dönüsümü
gerçeklestirmek amacMa kullan [lhiaktadlü Bu, Y' ekseni ve Y” ekseninin, birbirine ve sensörün
(9) ölçülen egimine paralel oldugu bilgisine dayanarak yaplßiaktadE
Islem araclZ(18), referans koordinat sisteminde (X”Y"Z") hesaplanan koordinatlar araciliglüla
düz bir çizgiyi (21) sigdünak için düzenlenmektedir. Bu, en küçük kareler yöntemi kullan Uârak
avantajlEbir sekilde yapiIBiaktadlElçünkü bu en hizi-Eve örn., normalde daglfllüilg ölçüm
hatalarEgibi beklenen ölçüm hatalarII türü için en uygun olanIlEl Uygun olan, asagIki
burada C1, degeri ilgili olmayan bir sapmayEtemsiI etmektedir. Katlama, obje koordinat
sisteminin Y eksenine paralel oldugu için, bir sonraki adli, uygun olan 2 düzleminin üzerine,
örn., Y eksenine dik düzlemin üzerine yansitîlnaktlB Bu, yansIIanY eksenine paralel olacagEl
anlamlEh gelmektedir. Z ekseni ve Z" ekseninin paralel oldugu, Y ekseninin ve Y” ekseninin
paralel oldugu, obje koordinat sisteminin (XYZ) Kartezyen oldugu ve referans koordinat
sisteminin (X”Y”Z”) Kartezyen oldugu gerçeklerinin kombinasyonundan dolayD( ekseni ve X”
ekseninin paraleldir.Ancak obje koordinat sisteminin (XYZ) ve referans koordinat sisteminin
(X"Y”Z”) kökenleri çaklglnamaktadlü Bu nedenle, sigUlEllân çizgi, XZ düzlemine yans-Ilgla,
örn., sigUlElIlân çizgi Y eksenine paralel olarak yans-[giIda çizgi, asag-ki sekilde temsil
edilebilmektedir
burada C2, degeri ilgili olmayan bir sapmayEtemsil etmektedir. Çizginin egriligi (a), katlama
makinesinin (54) tahrik yönü ve levha (6) arasIaki açlEllEl tanjantlar. karsiIJIZlgelmektedir.
Bu açEliJu nedenle, çizginin (or) egriliginin arctanEIiiesaplanarak hesaplanabilmektedir.
Simetrinin düzleminin etrafIa simetrik olmasEliJeklendigi için ve bu simetrinin düzlemi, tahrik
yönünü ve dolayisiyla Z eksenini içerdigi için katlama açlgÇlartilZlyer çekimi kuvvetinin yönü ve
levha (6) arasiaki açlîükiyle çarparak islem araçlarEdlS) ile hesaplanmaktadlü
Hesaplanan katlama aga-_1 katlama makinesinin (54) bir ikinci kablolu baglantlgîl(251)
aracEIgllýla bir kontrol sistemine (53) aktarliîhaktadlîl Kontrol sistemi, hesaplanan katlama
aç-Çlarzu edilen katlama açlîlîile karsllâstlElnaktadlElve katlama alanlüartlîrlnak amaclýla
eleman (4) ve ikinci eleman (7) arasiaki uzakllgllîlayarlamak için tahrik sistemini kontrol
etmektedir. Hesaplanan katlama açüârlükontrol sistemine (53) sürekli olarak besleyerek,
levhanI (6) arzu edilen katlama açlîüdogru bir sekilde elde edilebilmektedir. Hesaplanan
katlama açEÜe arzu edilen katlama açlîßraleUaki uzaklllZl bir esik degerin altIda oldugunda
kontrol sistemi (53), IevhanI (6) kaldlElllâbilmesi ve yeni bir levhanI (6) katlama makinesine
(54) yerlestirilebilmesi amaclýla eleman (4) ve ikinci eleman (7) arasIiaki uzakl[gll3rtlîiinak için
tahrik sistemini kontrol etmektedir.
Yukarlîzlh açllZlanan bir yapllândlîilnada taraylEl:(10), levha (6) Üzerinde birden çok ölçüm
noktalela karslIiEl gelen birden çok uzakllglÜlD1,D2) ölçmek için kullanIJÜiaktadlEl Alternatif bir
yapllând lîrlnada, birden çok uzakllKl çok say. uzakllEliçermektedir. Ölçülen uzakl[lZlarlEl sayEEl
artlîllârak, uygun olan. dogrulugu ve dolayisiyla hesaplanan katlama aç-I dogrulugu
artlîllîhaktadlü Bir baska alternatif yapilândlîilnada tarayiEEI(10), ölçümlerin dogrulugunu
artHnak için uzakl[glIIQD1) en az iki defa ölçmek için kullanUhaktadlB
Bir baska yapllând lünada islem araçlarlîd18), katlama makinesinin (54) kontrol sistemine (53)
entegre edilmektedir.
Bir baska yapilândlElnada taraylElJ ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') Y' ekseni etraflElda
döndürülmemektedir ancak bunun yerine, aynlîölçüm yönünü sürdürürken X' yönünde kontrol
aracllll) ile hareket ettirilmektedirDaha önce açllZlandigllIiiizere, birden çok uzakliiZJ(D1,D2)
ölçülmektedir. Islem araçlarlZ(18), ölçüm koordinat sistemindeki (X'Y'Z') levha (6) üzerindeki
konumlarI koordinatlarIÇbirden çok uzaklfgla (D1, D2) yönelik degerlere, X'Z' düzlemindeki Z'
ekseni ve X' yönünde taray-I karsUJKI gelen koordinatlarlîlarasiaki karsiülg gelen açlýla
dayanarak hesaplamak için düzenlenmektedir. Daha önceki gibi islem araçlarI:[18) ayrEla,
referans koordinat sistemindeki (X”Y”Z”) levha (6) üzerindeki konumlari konumlarIÇlölçüm
koordinat sistemindeki (X'Y'Z') levha (6) üzerindeki konumlarI koordinatlar., referans
koordinat sistemindeki (X”Y”Z") sensörün (9) egiminin ölçülen degerine ve obje koordinat
sistemi ve referans koordinat sisteminin ilgili yönelimlerine dair bilgiye dayanarak hesaplanmak
için düzenlenmektedir. Alternatif bir yapllând lîilnada tarayiEJIQlO), ölçüm koordinat sistemindeki
yönlerin bir kombinasyonuna hareket ettirilmektedir veya hareket ve dönüsün bir
kombinasyonu uygulanmaktadlü Yard IiclZlkombinasyonlara bir klîlfllama, R ekseninin,
katlamanI boylamasüla yönüne paralel oldugu bir levha koordinat sisteminin (RST)
görüntülenmesiyle anlasilâbilmektedir. T ekseni, ölçüm radyasyonunun yaris [glElievhan(6)
bir birinci yüzeyi boyunca bir birinci düzleme normaldir. Bir ikinci düzlem, katlamanI baska
tarafia ve IevhanI(6) bir ikinci yüzeyi boyunca yerlestirilmektedir. Hem birinci yüzey hem de
ikinci yüzey, levhanI (6) simetrisinin düzleminden baska yöne bakmaktadB Birinci düzlem ve
ikinci düzlem, bir kesisim çizgisi boyunca kesismektedir. S ekseni, ölçüm noktalarIlEI, kesisim
çizgisine uzakl[g]lEllEl ölçüldügü yönü temsil etmektedir. Birinci düzlem ve tahrik yönü (levhanI
(6) simetrisinin düzleminde uzanan) arasIaki açlîEhesaplayabilmek için en az iki farklIIS
koordinatlüdaki (veya kesisim çizgisinden iki farklljlizakllK) ölçümler, elde edilmelidir. Yalntha
iki ölçüm elde edilmesi ve her ikisinin de ayriES koordinatIaki ölçüm noktalarIan olmasEl
halinde, ölçüm noktalarÇbbje koordinat sisteminde ayni] ve Z koordinatlari sahip olacaktB
AynEX ve Z koordinatlarlEla sahip olunmasÇlXZ düzleminde bu noktalardan hiçbir çizginin (21)
slgdlîllâmayacagßnlam- gelmektedir.
Bulusun bir yapllând lElnasHa katlama makinesi, girintinin (5) baska taraf. yerlestirilen bir
baska ölçüm sistemini (1001) içermektedir. Bu, sekil 3'te gösterilmektedir. Baska ölçüm sistemi
( konumlarIa ölçmek için
düzenlenmesi haricinde ölçüm sistemiyle (1) ve karsil]Kl gelen elemanlarla aynEfonksiyona
sahiptir. Bu nedenle, bir baska sensör ( ve bir baska kontrol
aracII (1011) yanßß bir baska kablolu baglantE(155) gibi Islem araçlarEla (18) benzer
elemanlar içermektedir. Baska tarayiEEülOlO), tarayiElIQlO) ile ayn Elfiürdendir ve taray-I(10)
dönüsüne karslüKlgelen bir sekilde döndürülmektedir. Baska ölçüm sistemi (1001), masaya (2)
göre bir baska montaj aç-a (FC) monte edilmektedir ve iki baska referans yüzeyi (1013,
desteklenmektedir. KarslIJIZl gelen baska referans yüzeyleri (1015, 1016), boylamas. yöne
paralel olan bir çizgi, örn., obje koordinat sisteminin Y ekseni boyunca kesismektedir.
üzerinde baska ölçüm noktasürasiaki birden çok baska uzakllglI (D1001, D1002) degerini
ölçmek için düzenlenmektedir. Baska ölçüm noktalarüsensörün bir baska ölçüm koordinat
sisteminin (K'L'M') kökeninden birden çok baska ölçüm yönündedir. Baska ölçüm koordinat
sisteminin (K'L'M') kökeni, baska taray-I(1010) radyasyonunun kaynagüle çaklgmaktadlü
Baska ölçüm koordinat sisteminin (K'L'M') L' ekseni, boylamasl yöne (XX) paraleldir ve
dolaylîma etraflEUa taray-I (10) döndürüldügü Y' eksenine paraleldir. Baska ölçüm
koordinat sisteminin K' ekseni, Ievhaya (6) bakan baska taray-I(1010) yüzeyine paraleldir.
YapilândlElnada, bir Kartezyen koordinat sistemi kullanilÜiaktadlEl ancak baska koordinat
sistemleri de kullanllâbilmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin M' ekseni, baska taray-n
(1010), levha (6) yönünde uzanmaktadlE Baska ölçüm yönleri, K'M' düzleminde M' ekseni ile
baska ölçüm açlE-lr- karslllgelmektedir, çünkü baska taraylîEUOlO), yalnlîta L' ekseni
etrafIda dönmek için düzenlenmektedir. Ölçüm koordinat sisteminin (K'L'M') kökeni,
sonrasia daha kolay ve dolaylîlýla daha hElEîlslenmesini saglamak için taraylElEllEl, L' ekseni
etrafia dönecegi sekilde seçilmektedir.
gelen baska ölçüm açllârIlZIbir baska kablolu baglantEQ
aktarmak için düzenlenmektedir.
Baska ölçüm sistemi (1001) ayrlîa, yer çekiminin yönüne göre baska sensörün (1009) egiminin
bir baska degerini ölçmek için bir baska egim ölçer (1050) içermektedir. Baska egimölçer
(1050), bir baska referans koordinat sisteminde (K"L"M”) ölçümleri saglamaktadlB Bu baska
referans koordinat sisteminde (K”L”M”), M” ekseni, yer çekimi kuvvetinin yönüne paraleldir.
Basitlik sebebiyle, burada L" ekseninin, boylamas. yöne (XX) paralel oldugu ve dolaylglýla
ayrlEla Y' ekseni ve Y" ekseninin yönüne paralel oldugu varsayüBiaktadB Bu yönelimlere, K”
ekseni, baska ölçüm koordinat sisteminin K'M' düzlemindedir. Ayrlîh, bu yönelimlerle ve yer
çekimi kuwetinin yönü, egim ölçer (50) ve baska egim ölçer (1050) ile ölçüldügünde esit oldugu
için baska ölçüm koordinat sistemi (K”L"M"), karsl[lKl gelen kökenlerin farklEbir konumunun
dlglîilda ölçüm koordinat sistemi (X”Y"Z) ile çaklglnaktadß Baska sensörün (1009) egiminin
baska degeri, baska referans koordinat sisteminde islem araçlarlEla (18) aktarllîhaktadlü
Islem araclZI(18), levha (6) üzerindeki baska ölçüm noktalarII koordinatlarIlZI ölçüm
noktalarII koordinatlarIEl hesaplamasi benzer bir sekilde hesaplamak için
düzenlenmektedir. Ancak islem araçlarEG18), baska ölçüm koordinat sistemindeki (K'L'M') baska
ölçüm noktalarII koordinatlarIÇlbirden çok baska uzakllgll (D1001,D1002) degerlerine ve
K'M' düzleminde M' ekseninin karsll]lZl gelen baska ölçüm yönlerinin karslIllZlgelen baska ölçüm
açllâr. dayanarak hesaplamaktadE K'M' düzleminin, XZ düzlemine paralel oldugu
belirtilmelidir çünkü Y ekseni ve L' ekseni paraleldir ve çünkü her iki koordinat sistemi de
Kartezyendir. Ancak K'M' düzlemindeki bir noktanI koordinatlarÇlY ekseni boyunca XZ
düzleminin üzerine yans-[gllda XZ düzlemindeki koordinatlardan farklllllîlgöstermektedir.
Islem araçlarEKIB) daha sonra, baska referans koordinat sisteminde (K”L”M”) levha (6)
üzerindeki baska ölçüm noktalarII baska koordinatlarIEifade etmek için bir koordinat
dönüsümü gerçeklestirmek amacEIa kullanilBiaktadlEl Bu, L' ekseni ve L" ekseninin, birbirine ve
sensörün (9) ölçülen egimine paralel oldugu bilgisine dayanarak yapllîhaktadE
Islem aracE(18), baska referans koordinat sisteminde (K"L”M”) asaglki formüle dayanarak
hesaplanan koordinatlar araclllgllýla baska bir düz çizgisi (1021) sigülîilnak için
düzenlenmektedir
Bu, çizgiyi (21) s[gUlElnaya yönelik aynBebepler için en küçük kareler yöntemi kullanllârak
yapllîhaktadlîl C3, degeri ilgili olmayan bir baska sapmayEllemsil etmektedir. 2 ekseni ve M”
ekseninin paralel oldugu, Y ekseninin ve L” ekseninin paralel oldugu, obje koordinat sisteminin
Kartezyen oldugu ve baska referans koordinat sisteminin (K”L”M”) Kartezyen oldugu
gerçeklerinin kombinasyonundan dolayD( ekseni ve K” ekseninin paraleldir.0bje koordinat
sisteminin (XYZ) ve baska referans koordinat sisteminin (K"L”M”) kökenleri çaklslnasa da,
baska düz çizgi (1021), X2 düzlemine asag ki sekilde temsil edilmektedir
SapmanI (C4) degeri, ilgili degildir. Baska çizginin (1021) baska egriligi (ß), katlama
makinesinin (104) tahrik yönü ve levha (6) araleUaki baska açII tanjantlar- karsiIJE
gelmektedir. Bu baska açÇIislem araçlarEq18) tarafIan baska çizginin (1021) baska egriligin
(ß) arctanlIrMarak hesaplanmaktadlEI
Hem açII hem de baska açIlEl, XZ düzleminde Z ekseninin açllârlîbldugu bilinmelidir.
Nihayetinde islem araçlarEQlS), açlîsle baska açlýlîlioplayarak katlama aç-EliiesaplamaktadIEl
Alternatif bir yapllâ'ndlülnada, baska tarayiEIJIOIO), döndürülmek yerine baska kontrol araclZl
(1011) taraflEtlan hareket ettirilmektedir veya dönme ve hareketin bir kombinasyonu,
taraylElEa (10) zorlanan nesneye benzer sekilde uygulanmaktadE Buna ek olarak, baska
kontrol araclZ(1011) ve kontrol aracüfarklElbir türdendir veya hatta farklEIbir ölçüm prensibi
(sonar, lazer üçgenleme) uygulamaktadlîl ve farklEbir sekilde hareket ettirilmektedir veya
döndürülmektedir.
Bir baska yapüândlüinada ölçüm sistemi (1), ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') yönelimini,
yerküre manyetik alan. göre belirlemek için bir yönelim sensörü (60) içermektedir. Baska
ölçüm sistemi (1001), yönelimi yer küre manyetik alanlEla göre belirlemek için bir baska yönelim
sensörü (1060) içermektedir. Katlama makinesi, bir ikinci yönelim sensörü (61) içermektedir.
Yönelik sensörünün (60), baska yönelim sensörünün (106) ve ikinci yönelim sensörünün (61)
ölçümleri, koordinat sistemlerinin farklüaksenlerinin hizalamalelülogrulamak ve yönelimlerin
saplßlsapmad [glIERontrol etmek Için islem araçlarEQlS) tarafIan kullanühiaktadß
Bunun yerine ölçüm sistemi (1), ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') yönelimini, pusula yönlerine
göre ölçmek için bir yönelim sensörü (60) içermektedir. Katlama makinesi (54), obje koordinat
sisteminin (XYZ) yönelimini, pusula yönlerine göre ölçmek için bir ikinci yönelim sensörü (61)
içermektedir. Bu yapllând [Etna için, bir baska ölçüm sisteminin (1001) mevcut olup olmad lglEîlgili
degildir. Bu yapilândlîiinada, ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') Y' ekseni, boylamas. yöne
paralel degildir. Yönelim sensörü (60) ve ikinci yönelim sensörü (61) ile ölçülen yönelimler,
uygun koordinat dönüsümlerini yapmak için islem araçlarEiJlS) taraflEljan kullanUIhaktadlEI Bu,
ölçüm sisteminin (1) destegi daha az önemli oldugu için özellikle avantajlIlEl Örnegin karsil]]Zl
gelen yüzeyler, herhangi bir çizgi boyunca kesisebilmektedir. Bir yönelim sensörü (6)) içeren
ölçüm sistemi (1) ve bir ikinci yönelim sensörü Içeren katlama makinesi (54), örnegin ölçüm
sisteminin (1) katlama makinesine (54) sabit bir sekilde tutturulmad @Elapllând Einalarda ölçüm
sistemini (1) konumlandlîilnak için serbestlik kazanmak amaclýla ayrIEla avantajIIIEI Ayrlîia
koordinat sistemlerinin ölçülen yönelimine dayanarak, ölçümlerin gerçeklestirildigi X'Z'
düzleminin boylamas- yöne dik olmasi gerek yoktur. AyrlEia, levha (6) üzerinde bir 3D
sensör ile ölçülen konumlar. koordinatlarlÇlkatlama aç-Elhesaplamak için kullanilân uygun
koordinat dönüsümleriyle artilZJ hesaplanabilmektedir.
Bir baska yapilând Ünada ölçüm sistemi (1), egim ölçer (50) ve yönelim sensörü (60) içeren bir
tutum ve basllla referans sistemi (AHRS) (70) içermektedir. AHRS ayrlEia, hlîlanmaya dair bilgi
saglamak için düzenlenmektedir. Ölçüm sistemi (1), boylamalea yön boyunca birden çok
konumda, örn., birden çok Y koordinatIa ölçüm verisi toplamak için çerçeve (8) boyunca,
örnegin bir ray üzerinde hareket ettirilmektedir. AHRS (70) ile ölçülen hlîlanmalar, bir yer
degistirmeye neden olmak Için entegre edilmektedir. Yer degistirme, islem araçlarlEb (18)
iletilmektedir. Islem araclZiJzakHgllîlbu sekilde ölçülen levha (6) üzerindeki konumlar araciIJgIMa
bir düzlemi sabitlemeye yönelik boylamas. yön boyunca birden çok konumda yer degistirme
ve ölçüm verisini kullanmaktadlEl Islem araçlarEG18), sabitlenen düzlem ve Z' ekseni arasIaki
açMZHiesaplamak için ve sabitlenen düzlem ve Z' ekseni araleUaki açlîla dayanarak, açMîki ile
çarparak katlama aç-Ehesaplamak için önceden belirlenen biçimde bir analog seklinde
düzenlenmektedir.
Bir baska yapüândlünada, birden çok ölçüm sistemi (gösterilmemektedir), farklEl Y'
koordinatlarIda konumlandlîllhaktadlîl Birden çok ölçüm sisteminin tamamükarsllllîl gelen
ölçüm koordinat sistemlerinde IevhanI (6) uzakllgllîila ve birden çok ölçüm sisteminde bulunan
egim ölçerler ve yönelim sensörleri ile ölçüldügü üzere ölçüm koordinat sistemleri ve referans
koordinat sistemleri aras-aki iliskiye dair bilgi saglamaktadlEl Bilgi, levha (6) üzerindeki
konumlar araclüglýla bir düzlemi sabitlemek için ve yukari açlElanana benzer bir sekilde ancak
teknikte uzman kisiye asikâr olan modifikasyonlarla birlikte yer çekimi kuvvetinin ve nihayetinde
katlama aç-I yönüne bir açlýlîliiesaplamak için birlestirilmektedir.
Bulusun spesifik yapllândlülnalarüyukar- açlElanmlgl olsa da, bulusun, açlElanandan farkllZI
sekilde ancak yine de yukarlöhki ögretilere göre uygulanabildigi teknikte orta derecede uzman
bir kisi taraflEUan takdir edilecektir. Yukarlîzlhki açllZlamalarlEl, klîlflhylîlîegil örnek niteliginde
olmasümaçlanmaktadlîl Örnegin bulus, yukari açlKlanan bir a yöntemini açIKIayan makine
tarafIan okunur talimatlar. bir veya daha fazla dizisini içeren bir bilgisayar programü/eya
orada böyle depolanan bir bilgisayar programli-la sahip bir veri depolama 0rtam|:(örn., yarEl
iletken bellek, manyetik veya optik disk) formunu alabilmektedir. AyrEla, eleman (4), ikinci
elemana (7) dogru ve bundan uzaga tahrik edilebilmektedir veya her ikisi de birbirine dogru
veya birbirinden uzaga tahrik edilebilmektedir. AyrlEa, egim ölçeri (50) ve bazEl
yapllândünalarda ayrlîla yönelim sensörünü (60) içeren ölçüm sistemi (1), eleman (4) veya
anahtar sistemi (3) ile desteklenebilmektedir. Benzer sekilde ancak baglislîlolarak, baska egim
desteklenebilmektedir. AyrBa islem araçlarü baska bir konuma, örnegin destek masasII
üzerine veya ölçüm sisteminin (1) üzerine yerlestirilebilmektedir. Bir baska örnek olarak sensör
de, ölçüm yönünü ayarlamak için yatlîllâbilmektedir. Yine bir baska örnek olarak, ölçüm
noktalarII ölçülen koordinatlarII tamamÇl bir tekli ölçüm koordinat sisteminde ifade
edilebildigi sürece her birinin yalnlîta, bir ölçüm noktaleb uzakl[gll:ölçtügü çoklu sensörler
kullanllâbilmektedir. Bu nedenle, her bir sensörün ölçüm koordinat sistemi ve ölçüm yönleri
bilinmelidir. AyrlEla uygulamada, aynlISeyi Ifade etmek için farklERelimeler kullanlßbilmektedir.
Örnegin katlama makineleri ayrlEla, abkant pres olarak ifade edilebilmektedir.
Claims (3)
- ISTEMLER 1. Bir objenin bir birinci yüzey alanEboyunca bir birinci düzlemi ve bir Ikinci yüzey alanEl boyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik ölçüm sistemi (1) olup, asag-kileri içermektedir -yalnlîta birinci yüzey alanIa birden çok ölçüm noktasII bir ölçüm koordinat sisteminde (X'Y'Z') koordinatlari ölçülmesine yönelik bir sensör düzenlemesi (9), birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki bir kesisimden bir birinci uzaklllâa bir birinci ölçüm noktasEüSl) ve kesisimden bir ikinci uzaklliîta bir ikinci ölçüm noktasEÇlSZ) içeren birden çok ölçüm noktasÇlikinci uzakllEl birinci uzakllthan farkllllElgöstermektedir; -yer çekimi kuvvetinin yönüne z[El yönde ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') bir egiminin ölçülmesine yönelik bir egim ölçer (50); -birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlarlEla, ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin zlElyönü arasIaki açlsîh dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açlEllEl belirlenmesine yönelik bir islem cihazE018).
- 2. Istem l'e göre ölçüm sistemi (1) olup, burada yer çekimi kuvvetine zIElyön, egim ölçer (50) tarafIan kullanllân bir referans koordinat sisteminin (X"Y”Z”) bir eksenini olusturmaktadlü ve burada islem cihazÇlasaglElhkiler için düzenlenmektedir -ölçülen egime dayanarak referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için; - referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi için; -çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiEllBiaslZl için, obje koordinat sistemi, yer çekimi kuvvetinin yönüne z[Ü)ir Z ekseni içermektedir; -Z ekseni ve çizginin yansIialerasIa bir açi. belirlenmesi için; ve -belirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönüne ziElyön arasIaki açlýla dair bilgiye dayanarak objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi arasiaki açII belirlenmesi için.
- 3. Sensör düzenlemesinin (9), bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek birden çok ölçüm noktasII bir birinci ölçüm noktalellEl (51) bir koordinatIEölçmek için ve bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonu göndererek bir ikinci ölçüm noktasII (52) bir ikinci koordinatIEölçmek için düzenlenen bir dönel olarak desteklenen taraylîüçerdigi, Istem 1 veya Z'ye göre ölçüm sistemi (1). Istem 1, 2 veya 3'e göre ölçüm sistemi (1) olup, asagIkileri içermektedir - ikinci yüzey alanIaki bir baska birden çok ölçüm noktasII bir baska ölçüm koordinat sisteminde koordinatlari ölçülmesine yönelik bir baska sensör düzenlemesi (1009), baska birden çok ölçüm noktaslZIkesisimden bir üçüncü uzakliIZta bir üçüncü ölçüm noktasE(51001) ve kesisimden bir dördüncü uzaklltha bir dördüncü ölçüm noktaslîl (51002) içermektedir, dördüncü uzakI[Ei üçüncü uzakllthan farkllIJIZl göstermektedir; - yer çekimi kuvvetinin yönüne z[1îlyönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin ölçülmesine yönelik bir baska egim ölçer (1050); - baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlarüla ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açlýEßelirlemek için ayrlEla düzenlenen islem Istem 4'e göre ölçüm sistemi (1) olup, burada yer çekimi kuwetine zilîiyön, baska egim ölçer tarafIdan kullanilan bir baska referans koordinat sisteminin (K”L"M”) bir eksenini olusturmaktadü ve burada islem araçlarlîa18), ayrlEla asaglkiler için düzenlenmektedir - ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlarII belirlenmesi için; - baska referans koordinat sisteminde baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlar- dayanarak ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi için; - baska çizginin, obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslfllH1asEiçin; - baska çizgi ve Z ekseninin yansnasüaraslüda bir baska açII belirlenmesi için; - belirlenmis açlýh ve belirlenmis baska açlýh dayanarak objenin birinci düzlemi ve ikinci düzlemi araleUaki açII belirlenmesi için. Istemler 1 ila 5'ten herhangi birine göre bir ölçüm düzenlemesi (1) içeren bir objeyi katlamaya yönelik katlama makinesi. Pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir yönelim sensörü (60) içeren; islem araçlarlEliEl ayrlîla, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIEbeIirIemek için ölçülen birinci yönelimi ve pusula yönlerine göre katlama makinesinin bir boylamas. yönünün bir ikinci yönelimi için bir saklanan degeri kullanmak için düzenlendigi, Istem 6'ya göre katlama makinesi. Pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir yönelim sensörü (60) ve pusula yönlerine göre obje koordinat sisteminin bir ikinci yöneliminin ölçülmesine yönelik bir ikinci yönelim sensörü (61) içeren, islem araçlar.. ayrlEia, obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarIEbeIirIemek için ölçülen birinci yönelimini ve ölçülen ikinci yönelimini kullanmak için düzenlendigi, Istem 6'ya göre katlama makinesi. Bir objenin (6) bir birinci yüzey alanElboyunca bir birinci düzlemi ve bir Ikinci yüzey alanEI boyunca bir ikinci düzlemi arasIaki bir açi. ölçülmesine yönelik yöntem olup, asag-kileri içermektedir - yalnlîta birinci yüzey alanIEUa birden çok ölçüm noktasII (Sl, 52) bir ölçüm koordinat sisteminde (X'Y'Z') koordinatlarlîblçmek için bir sensör düzenlemesi (9) kullanilB1asÇIbirden çok ölçüm noktasÇibirinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki bir kesisimden bir birinci uzaklikta bir birinci ölçüm noktasEQSl) ve kesisimden bir ikinci uzaklilîta bir ikinci ölçüm noktasHSZ) içermektedir, ikinci uzaklllZl birinci uzakliEtan farklüilîlgöstermektedir; - yer çekimi kuvvetine z[EIyönde ölçüm koordinat sisteminin (X'Y'Z') bir egiminin ölçülmesi; ve - birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlarlEb, ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin z[Elyönü arasIaki açlýb dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açII belirlenmesi. 10. Istem 9'a göre yöntem olup, burada birden çok ölçüm noktasII ölçülen koordinatlari, ölçülen egime ve ikinci düzlem ve yer çekimi kuwetinin yönü arasIaki açlsîb dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIdaki açII belirlenmesi asaglkileri içermektedir - yer çekimi kuwetine z[Ei yönün bir eksen olusturdugu bir referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi için ölçülen egimin kullanüüîaslîl - referans koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlarlEla dayanarak birinci düzlemde bir çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi; -çizginin, bir obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yansiEilIhasü obje koordinat sistemi, yer çekimi kuwetinin yönüne paralel bir 2 ekseni içermektedir; -Z ekseni ve çizginin yansIiasljraleUaki bir açi. belirlenmesi; ve -belirlenmis açlýla ikinci düzlem ve yer çekimi kuvvetinin yönü arasIaki açiýla dair bilgiye dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasiaki açII belirlenmesi. 11. Istem 10'a göre yöntem olup, asag-kileri içermektedir -pusula yönlerine göre ölçüm koordinat sisteminin bir birinci yöneliminin ölçülmesi; -pusula yönlerine göre ölçülen birinci yönelime ve kesisimin bir ikinci yönelimi için saklanan bir degere dayanarak obje koordinat sisteminde birden çok ölçüm noktasII koordinatlari. belirlenmesi. 12. Istem 9, 10 veya 11'e göre yöntem olup, asagidakileri içermektedir - bir birinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun sallümaslîla birinci ölçüm noktasII -ölçüm koordinat sisteminin bir ekseni etraflEbla bir taraylEls-LEUO) döndürmek için kontrol araclîall) kullanilüîaslîl -bir ikinci ölçüm yönünde ölçüm radyasyonunun sallEmalea ikinci ölçüm noktasII (52) koordinatlari. ölçülmesi; ve -ikinci egimin belirlenmesi için birinci ölçüm yönü ve ikinci ölçüm yönü arasIaki farka dair bilginin kullanilB1asü 13. Istem 9, 10, 11 veya 12'ye göre yöntem olup, asaglEIiakileri içermektedir baska ölçüm koordinat sisteminde koordinatlari& ölçülmesi, baska birden çok ölçüm noktasüSlOOl, 51002), kesisimden bir üçüncü uzaklitha bir üçüncü ölçüm noktasEI içermektedir, dördüncü uzaklilZi üçüncü uzaklithan farkliIJKIgöstermektedir; -yer çekimi kuvvetinin yönüne zltîlyönde baska ölçüm koordinat sisteminin bir baska egiminin ölçülmesi; -baska ölçüm noktalarlEJlEl ölçülen koordinatlarlEla ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIa açII belirlenmesi. 14. Istem 13'e göre yöntem olup, burada baska ölçüm noktalarII ölçülen koordinatlari ve ölçülen baska egime dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem arasIaki açII belirlenmesi asaglkileri içermektedir -ölçülen baska egime dayanarak baska referans koordinat sisteminde baska birden çok -baska birden çok ölçüm noktasII koordinatlari dayanarak ikinci düzlemde bir baska çizginin bir özelliginin tahmin edilmesi; -baska çizginin, obje koordinat sisteminde kesisime dik bir düzlemin üzerine yanslfllfhaslîl -baska çizgi ve Z ekseninin yansnldasßrasaki bir baska açII belirlenmesi; ve -belirlenmis açlýb ve belirlenmis baska açüla dayanarak birinci düzlem ve ikinci düzlem araslüdaki açII belirlenmesi. 15. Bir IevhanI(6) bir katlama makinesinde (54) katlanmasIÇbirinci düzlem ve ikinci düzlem araleUaki açlElI belirlenmesini ve katlama makinesindeki (54) obje üzerinde bir baska katlama islemi gerçeklestirerek birinci düzlem ve ikinci düzlem araletlaki açII degistirilmesini içeren, Istemler 9 ila 14'ten herhangi birine göre yöntemin adIilarIÜgeren bir levha katlamaya yönelik yöntem.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP12188434.0A EP2719475B1 (en) | 2012-10-12 | 2012-10-12 | Measurement system and method for measuring an angle |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TR201816240T4 true TR201816240T4 (tr) | 2018-11-21 |
Family
ID=47115347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TR2018/16240T TR201816240T4 (tr) | 2012-10-12 | 2012-10-12 | Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US10302425B2 (tr) |
| EP (1) | EP2719475B1 (tr) |
| ES (1) | ES2694144T3 (tr) |
| PL (1) | PL2719475T3 (tr) |
| TR (1) | TR201816240T4 (tr) |
| WO (1) | WO2014056699A1 (tr) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2516916B (en) | 2013-08-06 | 2016-09-14 | Lacsop Ltd | Method and apparatus for determining the mass of a body |
| GB2516917B (en) * | 2013-08-06 | 2018-02-07 | Lacsop Ltd | Surface angle measuring device |
| AT515671B1 (de) * | 2014-06-23 | 2015-11-15 | Trumpf Maschinen Austria Gmbh | Biegewinkelmessvorrichtung für eine Biegepresse |
| AT516146B1 (de) * | 2014-09-15 | 2016-03-15 | Trumpf Maschinen Austria Gmbh | Kalibrierverfahren für eine Biegemaschine |
| US10365091B2 (en) * | 2015-05-28 | 2019-07-30 | Keba Ag | Electronic angle measuring device for a bending machine for measuring the bending angle between the limbs of a sheet |
| TR201606971A2 (tr) * | 2016-05-25 | 2017-12-21 | Durmazlar Makina Sanayi Ve Ticaret Anonim Sirketi | Büküm Açısı Ölçüm Sistemi |
| CN109668543A (zh) * | 2019-01-22 | 2019-04-23 | 南京理工大学 | 基于激光雷达的倾斜度测量方法 |
| CN112683198B (zh) * | 2020-12-01 | 2023-02-21 | 江西省中久光电产业研究院 | 一种三自由度角度光电测量装置及其测量方法 |
| CN113203369B (zh) * | 2021-03-31 | 2022-04-08 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种机器人制孔法向垂直度测量方法 |
| BE1029328B1 (nl) * | 2021-09-15 | 2022-11-21 | Kdccvm Bvba | Profielmeetsysteem voor een afkantpers |
| CN115540823B (zh) * | 2022-11-28 | 2023-03-10 | 中国水利水电第七工程局有限公司 | 一种变截面超高墩竖直度测控方法 |
| CN120116943B (zh) * | 2025-03-04 | 2025-11-25 | 东风汽车集团股份有限公司 | 道路坡度检测系统以及方法 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NO164946C (no) * | 1988-04-12 | 1990-11-28 | Metronor As | Opto-elektronisk system for punktvis oppmaaling av en flates geometri. |
| WO1991013318A1 (fr) * | 1990-02-23 | 1991-09-05 | Amada Company, Limited | Procede et appareil de mesure d'angles de façonnage |
| JP2641829B2 (ja) * | 1992-11-10 | 1997-08-20 | 株式会社小松製作所 | 曲げ加工機における曲げ角度検出装置 |
| NL1002314C2 (nl) * | 1996-02-13 | 1997-08-14 | Amada Metrecs Co | Hoekmeetinrichting. |
| DE19781731T1 (de) * | 1996-02-13 | 1999-11-18 | Amada Metrecs Co | Winkelmeßverfahren für Biegemaschinen, und Winkelmeßeinrichtung und Winkelsensor für diese |
| US6871413B1 (en) * | 1997-12-15 | 2005-03-29 | Microstrain, Inc. | Miniaturized inclinometer for angle measurement with accurate measurement indicator |
| DE69927597T2 (de) * | 1999-11-19 | 2006-06-01 | Lvd-Company Nv | Verfahren und Vorrichtung zur Falzwinkelmessung eines Blattes in einer Falzmaschine |
| US7568289B2 (en) * | 2005-03-14 | 2009-08-04 | Robert Bosch Company Limited | Handheld optical distance measurement device |
| PT1961502E (pt) * | 2007-02-23 | 2014-11-06 | Bystronic Laser Ag | Método e dispositivo para a dobragem de peças de trabalho |
| US8519852B2 (en) * | 2010-03-29 | 2013-08-27 | Egression, Llc | Two-axis inclinometer head of bed elevation alarm and method of operation |
| DE202010006391U1 (de) * | 2010-05-04 | 2010-11-04 | Bystronic Laser Ag | Winkelmessvorrichtung für Abkantpressen |
| ITMI20120751A1 (it) * | 2012-05-04 | 2013-11-05 | Salvagnini Italia Spa | Apparato e metodo per la misurazione dell'angolo di piegatura di una lamiera. |
-
2012
- 2012-10-12 PL PL12188434T patent/PL2719475T3/pl unknown
- 2012-10-12 ES ES12188434.0T patent/ES2694144T3/es active Active
- 2012-10-12 TR TR2018/16240T patent/TR201816240T4/tr unknown
- 2012-10-12 EP EP12188434.0A patent/EP2719475B1/en active Active
-
2013
- 2013-09-19 WO PCT/EP2013/069491 patent/WO2014056699A1/en not_active Ceased
- 2013-09-19 US US14/433,817 patent/US10302425B2/en active Active
-
2019
- 2019-04-17 US US16/386,445 patent/US11156454B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL2719475T3 (pl) | 2019-05-31 |
| US11156454B2 (en) | 2021-10-26 |
| US20150241208A1 (en) | 2015-08-27 |
| US10302425B2 (en) | 2019-05-28 |
| EP2719475A1 (en) | 2014-04-16 |
| WO2014056699A1 (en) | 2014-04-17 |
| US20190242699A1 (en) | 2019-08-08 |
| EP2719475B1 (en) | 2018-10-03 |
| ES2694144T3 (es) | 2018-12-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TR201816240T4 (tr) | Ölçüm sistemi ve bir açının ölçülmesine yönelik yöntem. | |
| US7895761B2 (en) | Measurement method and measuring device for use in measurement systems | |
| US9989973B2 (en) | Measurement control system for multi-shaft supported air floatation platform | |
| CN109304730B (zh) | 一种基于激光测距仪的机器人运动学参数标定方法 | |
| US20070064246A1 (en) | Method and system for determining the spatial position of a hand-held measuring appliance | |
| CN111093902B (zh) | 用于工件上的加工点的定位装置 | |
| JP6285146B2 (ja) | アーム型三次元測定機及びアーム型三次元測定機を支持する基部の傾斜補正方法 | |
| CN105666490A (zh) | 一种机器人的标定系统及方法 | |
| CN102980550B (zh) | 一种测量大尺寸机械零件平面度的高精度检测仪及方法 | |
| EP3399327A1 (en) | Pose estimation using radio frequency identification (rfid) tags | |
| CN103673976A (zh) | 复合式精度测量坐标系的转换与统一方法及系统 | |
| CN109000127A (zh) | 一种仪器设备自动调平装置及其方法 | |
| US11654555B2 (en) | Robot teaching system | |
| CN105538341A (zh) | 一种基于末端非完整坐标信息的机器人标定系统及方法 | |
| EP3889564B1 (en) | Gas pressure detection device, robot comprising gas pressure detection device, and gas pressure detection method for same | |
| Font-Llagunes et al. | Consistent triangulation for mobile robot localization using discontinuous angular measurements | |
| JP5316396B2 (ja) | ロボットのばね定数同定方法およびロボットのばね定数同定装置 | |
| KR20160136136A (ko) | 어태치먼트 중심위치의 보정방법 및 어태치먼트 중심위치를 자동으로 보정하는 공작기계 | |
| CN106774149B (zh) | 工业机器人的调零方法及系统 | |
| CN106403913A (zh) | 一种测绘装置、系统及方法 | |
| CN105424013A (zh) | 一种地面坐标的测量方法 | |
| CN205466311U (zh) | 一种基于末端非完整坐标信息的机器人标定系统 | |
| CN107991049A (zh) | 基于加速度传感器的六自由度振动测试方法及装置 | |
| JP4908109B2 (ja) | 高架橋柱の最大応答部材角測定装置を用いた地震災害計測システム | |
| CN115855044B (zh) | 一种机器人定位方法及系统 |