SU98163A1 - Optical flaw detector - Google Patents
Optical flaw detectorInfo
- Publication number
- SU98163A1 SU98163A1 SU447688A SU447688A SU98163A1 SU 98163 A1 SU98163 A1 SU 98163A1 SU 447688 A SU447688 A SU 447688A SU 447688 A SU447688 A SU 447688A SU 98163 A1 SU98163 A1 SU 98163A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- flaw detector
- reflector
- lens
- optical flaw
- sheet
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
Предлагаемый оптическш дефектоскоп отличаетс от аналогичных .дефектоскопов тем, что он снабжен тороидной линзой и установленпы М в ее отверстии коническим отражателем. Линза и отражатель при исследовании прозр:ачных листовых матириалов зас11олагаютс между осветителем и листом.The proposed optical defectoscope differs from similar defectoscopes in that it is equipped with a toroid lens and is installed in its hole with a conical reflector. The lens and the reflector in the study of prozr: the aural leaf materials are located between the illuminator and the sheet.
Эти от.шчи дефектоскопа обеспечивают вход луче в испытываемый лист под углами, больпи ми угла полного внутреннего отражени .These flaw detector devices provide the beam entry into the test sheet at angles, larger than the angle of total internal reflection.
На фиг. 1 изображена схема прибора в нродолы-гом разрезе; на фиг. 2-схема отражени и преломлени луче1 | в дефектоскопе.FIG. 1 shows a diagram of the device in the nrodoly section; in fig. 2-scheme of reflection and refraction of a beam1 | in the flaw detector.
Осветитель (электролампа) / помещен внутри сферического мета .ьмического кожуха 2. внутренн зерка. поверхность которого служит рефлектором. В середину тороидно конденсаторной линзы вклеен конический стекл нный отражатель 4. Линза с отражателем укреплены в кожухе винтами 5. Держатель 6. в котором 1чрепитс патрон с электролампой /, может с помощью raftKH 7 опускатьс и подниматьс по направл ющей втулке (V. Таким образом регулируетс положение элс1ктр С),та:мпы но высоте. Зажимное кольцо 9 с.чхжит д.г креплени втулки е держателем лампы на кожухе 2.The illuminator (electric lamp) / is placed inside the spherical meta-casing of the casing 2. internal mirror. the surface of which serves as a reflector. A conical glass reflector 4 is glued to the middle of the toroidal condenser lens. The lens with the reflector is fixed in the casing with screws 5. The holder 6 in which the cartridge with the electric bulb / fastens can be lowered and raised along the raftKH 7 (V. electric position C), ta: MPa but height. Clamping ring 9 c.chhzhit dg attachment e with the lamp holder on the housing 2.
При испытании материала тороидна .линза дефектоскона ставитс на смоченную водой полированную поверхность обработанною с двух сторон прозрачного листа 10.When testing the material, the toroidal lens of the flaw is placed on a polished surface wetted with water and treated on both sides of a transparent sheet 10.
Лучи света от электролампы /, отраженные коническим отражаге .чем 4 и нро1иеднн-1е тороидную линзу 3, падают внутр|, листа под yr.iaMH, бол1 Н1ими чем угол иолного внутреннего отражени . На фиг. 2 в качестве нримера показан ход четырех лучей (а, б, в, г}, идуHu-ix от ев(т 1це| с точки и отраженных от кожуха 2 и от отражате .т 4- Лучи не выход т из листа 10 за исключением мест, где имеютс какие-либо внутре1П1ие пороки или дефекты обработки поверхности. Г).тагодари этому .тист кажетс не освещенным и то.чько дефектные .места выдел ютс в виде п тен рассе нного света.Rays of light from light bulbs /, reflected by a conical reflector than 4 and nano-shaped torus lens 3, fall inside, the sheet under yr.iaMH, larger than the angle of the total internal reflection. FIG. 2 as a nimer shows the course of four rays (a, b, c, d}, I go to Hu-ix from e (t 1ce | from the point and reflected from casing 2 and from reflector 4t. The rays do not leave sheet 10 except for places where there are any internal defects or defects in surface treatment. D) .that this seems to be not illuminated and only defective places are allocated in the form of a spot of scattered light.
Ng 98163- 2 -Ng 98163-2 -
Предмет изобретени Subject invention
Оптический дефектоскоп дл просмотра дефектов обработки и внутренних пороков прозрачного листового :материала, имеющий освет1итель , устанавливаемый над контролируемым листом, отличающийс тем, что, с целью обеспечени входа лучей от осветител в испытываемый материал под угл.ами, большими чем угол полного внутреннего отражени , он снабжен тороидной конденсаторной линзой и установленным в ее отверстии коническим отражателем.Optical flaw detector for viewing processing defects and internal flaws of a transparent sheet: a material having an illuminator mounted over a test sheet, characterized in that, in order to ensure that rays from the illuminator enter the material under test at angles larger than the angle of total internal reflection, equipped with a toroidal condenser lens and a conical reflector mounted in its opening.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU447688A SU98163A1 (en) | 1951-05-24 | 1951-05-24 | Optical flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU447688A SU98163A1 (en) | 1951-05-24 | 1951-05-24 | Optical flaw detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU98163A1 true SU98163A1 (en) | 1953-11-30 |
Family
ID=48372643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU447688A SU98163A1 (en) | 1951-05-24 | 1951-05-24 | Optical flaw detector |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU98163A1 (en) |
-
1951
- 1951-05-24 SU SU447688A patent/SU98163A1/en active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ATE163479T1 (en) | LIGHTING SYSTEM FOR INSPECTING CONTACT LENSES | |
| US20060092276A1 (en) | Inspection system and method for identifying surface and body defects in a glass sheet | |
| US1949619A (en) | Glossimeter | |
| US2157437A (en) | Dark field illuminator | |
| US2494078A (en) | Apparatus for examining gems and crystals | |
| SU98163A1 (en) | Optical flaw detector | |
| US2064368A (en) | Projection apparatus | |
| US2869417A (en) | Refractometers | |
| US1988169A (en) | Apparatus for inspecting lenses | |
| US1960169A (en) | Method and apparatus for measuring light | |
| US1927854A (en) | Device foe illuminating microscopic | |
| SU104902A1 (en) | Optical flaw detector | |
| US2073691A (en) | Apparatus for detection of strain in diffusive glass | |
| SU412583A1 (en) | ||
| US2267544A (en) | Optical element | |
| SU124191A1 (en) | Dual microscope with polarized optics | |
| JPS56157841A (en) | Detecting apparatus for surface defect of body | |
| SU91859A1 (en) | Method for measuring surface cleanness of polished glass plates | |
| SU1395946A1 (en) | Device for checking surface roughness | |
| JPH09288063A (en) | Inspection device for transparent substrate | |
| JPH05232032A (en) | External appearance inspecting floodlight device | |
| GB257127A (en) | Improvements in and relating to refractometers | |
| US1881190A (en) | Smoke indicator | |
| SU125933A1 (en) | A device for measuring the area of actual contact between the contacting surfaces of metallic and non-metallic samples | |
| SU746260A1 (en) | Remote shadow visualiser for sea-water density irregularities |