SU1672206A1 - Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1672206A1 SU1672206A1 SU894676039A SU4676039A SU1672206A1 SU 1672206 A1 SU1672206 A1 SU 1672206A1 SU 894676039 A SU894676039 A SU 894676039A SU 4676039 A SU4676039 A SU 4676039A SU 1672206 A1 SU1672206 A1 SU 1672206A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- radiation
- screen
- lens
- decentration
- beam splitter
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 230000003993 interaction Effects 0.000 abstract description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к оптическому приборостроению и может быть использовано в оптическом производстве при изготовлении оптических деталей дл проверки центровки их поверхностей на этапе технологического и аттестационного контрол . Цель изобретени - повышение точности измерени децентрировок. Излучение лазера 1 с помощью объектива 2 направл ют на деталь с двух ее сторон по геометрической оси. Дополнительно часть излучени с помощью светоделител 12 направл ют на установленное в устройстве сферическое зеркало 14. Сначала излучение фокусируют в вершину поверхностей и детали 8 за счет смещени вдоль оптической оси излучени объектива 2 детали 8. Затем смещают расчетную величину, определ емую радиусами кривизны поверхностей оптической детали, объектив 2 и деталь 8. С помощью экрана 6 или 7 перекрывают излучение в одном из потоков. На экране 11 получают интерференционную картину в виде пр мых полос в результате взаимодействи излучени , отраженного от одной из поверхностей детали 8 и сферического зеркала 14. Величину децентрировки определ ют по ширине интерференционных полос. 2 с.п. ф-лы, 1 ил.
Description
Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано в оптическом производстве при изготовлении оптических деталей для проверки центрировки их поверхностей на этапе технологического и аттестационного контроля.
Целью изобретения является повышение точности децентрировки.
На чертеже показано устройство для измерения децентрировки детали.
Устройство, реализующее способ, содержит лазер 1, последовательно расположенные по ходу излучения от него объектив 2, установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси, и светоделитель 3, делящий излучение на два потока, в каждом из которых установлены соответственно плоские зеркала 4 и 5, экраны 6 и 7, узел 8 крепления детали 9, расположенный между экранами 6 и 7 с возможностью перемещения вдоль оптической оси, коллиматор 10, установленный между лазером 1 и объективом 2, четвертый экран 11, установленный в ходе излучения, прошедшего светоделителя 3, и последовательно расположенные между плоским зеркалом 4 и светоделителем 3 второй светоделитель 12, ориентированный под заданным углом к светоделителю 3, третий экран 13, сферическое зеркало 14, установленное с возможностью перемещения вдоль оптической оси, два компенсатора 15 и 16, каждый из которых расположен соответственно между плоскими зеркалами 4 и 5 и светоделителями 3 и 12, три экрана 6, 7 и 13 установлены с возможностью вывода из хода излучения, а также шкалы 17 и 18.
Способ реализуется следующим образом.
Излучение от лазера 1 после прохождения через коллиматор 10, объектив 2 и светоделитель 3 делится на два потока. При измерении величины децентрировки оптическую деталь 9 располагают в узле 8 крепления. С помощью экрана 13 перекрывают часть излучения, Смещением детали 8 и объектива 2 добиваются фокусировки излучения на поверхности детали 8, при этом на экране 11 наблюдают интерференциальную картину. По шкалам 18 и 17 снимают отсчет о положении детали 8 и объектива 2. Затем выбирают необходимую величину смещения S плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали, исходя из радиусов Ri, R2 поверхностей оптической детали и требуемой точности измерения величины децентрирования Δ. Смещение S плоскости фокусировки излучения производят смещением детали 8 и объектива 2 на величины Д и П. Если измерение Δ производить в центрах кривизны детали, то п__R1 + R2 . η _ R1 _ R2 .
<ц 2 2 где Д - величина смещения детали; П величина смещения объектива; Ri, R2 - радиусы кривизны оптической детали.
С помощью экранов 6 и 7 перекрывают излучение в одном из каналов и выводят из хода излучения экран 13. На экране 11 наблюдают интерференционную картину. Смещением сферического зеркала 14 вдоль оптической оси излучения добиваются на экране 11 интерференционной картины в виде прямых интерференционных полос. Измерив ширину в интерференционных полосах, определяют величину децентрирования Δ поверхности детали из зависимости где λ - длина волн лазера; R - радиус кривизны соответствующей поверхности; Ь·- ширина интерференционной полосы; L расстояние от вершины поверхности детали до экрана 11; S - величина смещения плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали.
Аналогичные операции производят для измерения децентрировки второй поверхности детали.
Раздельное определение величины децентрирования двух поверхностей детали 8 получается при измерении ширины полос интерференционной картины, образованной в результате взаимодействия излучения, отраженного от сферического зеркала 14 и от одной из поверхностей детали, в этом случае экран 13 01 крыт, а один из экранов 6 и 7 закрыт.
Claims (2)
- Формула изобретения1. Способ измерения децентрировки оптических деталей, заключающийся в том, что производят освещение детали с двух противоположных сторон по ее геометрической оси, направляют отраженное от двух поверхностей детали излучение на экран и определяют величину децентрировки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности децентрировки, перемещают объектив и деталь вдоль оптической оси для совмещения плоскости фокусировки излучения с поверхностями детали, фиксируют положение объектива и детали, смещают плоскость фокусировки излучения объекти5 ва и детали, перекрывают излучение, отраженное от одной из поверхностей детали, получают на экране интерференционную картину, образованную излучением, отраженным от второй поверхности детали и от 5 сферического зеркала, перемещают сферическое зеркало вдоль оптической оси, измеряют ширину интерференционных полос, а величину децентрировки определяют по ширине полос. t— 10
- 2. Устройство для измерения децентрировки оптических деталей, содержащее лазер, последовательно расположенные по ходу излучения от него объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси, светоделитель, делящий излучение на два потока, в каждом из которых установлено соответственно плоское зеркало и экран, узел крепления детали, расположенный между экранами с 20 возможностью перемещения вдоль оптической оси, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения децентрировки, оно снабжено коллиматором, установленным между лазером и объективом, четвертым экраном, установленным в ходе излучения, прошедшего светоделитель, и последовательно расположенными между одним из плоских зеркал и светоделителем вторым светоделителем, ориентированным под заданным углом к первому, третьим экраном и сферическим зеркалом, установленным с возможностью перемещения вдоль оптической оси, двумя компенса15 торами, каждый из которых расположен соответственно между одним из плоских зеркал и светоделителем в каждом из потоков от первого светоделителя, три экрана установлены с возможностью вывода и хода излучения.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894676039A SU1672206A1 (ru) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894676039A SU1672206A1 (ru) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1672206A1 true SU1672206A1 (ru) | 1991-08-23 |
Family
ID=21440468
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU894676039A SU1672206A1 (ru) | 1989-04-11 | 1989-04-11 | Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1672206A1 (ru) |
-
1989
- 1989-04-11 SU SU894676039A patent/SU1672206A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6992779B2 (en) | Interferometer apparatus for both low and high coherence measurement and method thereof | |
| CN101238348A (zh) | 表面的测量装置和方法 | |
| US5066120A (en) | Optical device for phase detection testing optical system, especially ophthalmic lenses | |
| JPH01284704A (ja) | 表面の微細構造を測定する方法とその装置 | |
| US5387975A (en) | Interferometer for measuring a surface configuration of a test object by an interference pattern using gratings to generate wave fronts | |
| SU1672206A1 (ru) | Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени | |
| US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
| US3506361A (en) | Optics testing interferometer | |
| US3225644A (en) | Apparatus producing interferential test data for measuring and control instruments | |
| JP3455264B2 (ja) | 干渉計 | |
| JP2605528Y2 (ja) | レンズメータ | |
| RU2240503C1 (ru) | Дифракционный интерферометр (варианты) | |
| SU1046606A1 (ru) | Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей | |
| US2734419A (en) | Interferometer | |
| SU1449842A1 (ru) | Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали | |
| SU1326879A1 (ru) | Интерферометр | |
| JPH047446B2 (ru) | ||
| SU1762118A1 (ru) | Интерферометрический способ контрол детали | |
| SU1753258A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых асферических поверхностей | |
| SU1518663A1 (ru) | Интерферометр дл измерени поперечных перемещений | |
| SU1216751A2 (ru) | Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра | |
| SU848996A1 (ru) | Интерферометр дл контрол качествапОВЕРХНОСТЕй,ОпРЕдЕлЕНи АбЕРРАцийКРупНОгАбАРиТНыХ ОпТичЕСКиХ элЕМЕНТОВи иССлЕдОВАНи пРОзРАчНыХ НЕОдНОРОдНОСТЕй | |
| SU920367A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
| SU1578462A1 (ru) | Способ измерени малых угловых поворотов объекта | |
| SU1000745A1 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых цилиндрических поверхностей |