[go: up one dir, main page]

SU1672206A1 - Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1672206A1
SU1672206A1 SU894676039A SU4676039A SU1672206A1 SU 1672206 A1 SU1672206 A1 SU 1672206A1 SU 894676039 A SU894676039 A SU 894676039A SU 4676039 A SU4676039 A SU 4676039A SU 1672206 A1 SU1672206 A1 SU 1672206A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
screen
lens
decentration
beam splitter
Prior art date
Application number
SU894676039A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Владимирович Бакеркин
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4149
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4149 filed Critical Предприятие П/Я Г-4149
Priority to SU894676039A priority Critical patent/SU1672206A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1672206A1 publication Critical patent/SU1672206A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и может быть использовано в оптическом производстве при изготовлении оптических деталей дл  проверки центровки их поверхностей на этапе технологического и аттестационного контрол . Цель изобретени  - повышение точности измерени  децентрировок. Излучение лазера 1 с помощью объектива 2 направл ют на деталь с двух ее сторон по геометрической оси. Дополнительно часть излучени  с помощью светоделител  12 направл ют на установленное в устройстве сферическое зеркало 14. Сначала излучение фокусируют в вершину поверхностей и детали 8 за счет смещени  вдоль оптической оси излучени  объектива 2 детали 8. Затем смещают расчетную величину, определ емую радиусами кривизны поверхностей оптической детали, объектив 2 и деталь 8. С помощью экрана 6 или 7 перекрывают излучение в одном из потоков. На экране 11 получают интерференционную картину в виде пр мых полос в результате взаимодействи  излучени , отраженного от одной из поверхностей детали 8 и сферического зеркала 14. Величину децентрировки определ ют по ширине интерференционных полос. 2 с.п. ф-лы, 1 ил.

Description

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано в оптическом производстве при изготовлении оптических деталей для проверки центрировки их поверхностей на этапе технологического и аттестационного контроля.
Целью изобретения является повышение точности децентрировки.
На чертеже показано устройство для измерения децентрировки детали.
Устройство, реализующее способ, содержит лазер 1, последовательно расположенные по ходу излучения от него объектив 2, установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси, и светоделитель 3, делящий излучение на два потока, в каждом из которых установлены соответственно плоские зеркала 4 и 5, экраны 6 и 7, узел 8 крепления детали 9, расположенный между экранами 6 и 7 с возможностью перемещения вдоль оптической оси, коллиматор 10, установленный между лазером 1 и объективом 2, четвертый экран 11, установленный в ходе излучения, прошедшего светоделителя 3, и последовательно расположенные между плоским зеркалом 4 и светоделителем 3 второй светоделитель 12, ориентированный под заданным углом к светоделителю 3, третий экран 13, сферическое зеркало 14, установленное с возможностью перемещения вдоль оптической оси, два компенсатора 15 и 16, каждый из которых расположен соответственно между плоскими зеркалами 4 и 5 и светоделителями 3 и 12, три экрана 6, 7 и 13 установлены с возможностью вывода из хода излучения, а также шкалы 17 и 18.
Способ реализуется следующим образом.
Излучение от лазера 1 после прохождения через коллиматор 10, объектив 2 и светоделитель 3 делится на два потока. При измерении величины децентрировки оптическую деталь 9 располагают в узле 8 крепления. С помощью экрана 13 перекрывают часть излучения, Смещением детали 8 и объектива 2 добиваются фокусировки излучения на поверхности детали 8, при этом на экране 11 наблюдают интерференциальную картину. По шкалам 18 и 17 снимают отсчет о положении детали 8 и объектива 2. Затем выбирают необходимую величину смещения S плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали, исходя из радиусов Ri, R2 поверхностей оптической детали и требуемой точности измерения величины децентрирования Δ. Смещение S плоскости фокусировки излучения производят смещением детали 8 и объектива 2 на величины Д и П. Если измерение Δ производить в центрах кривизны детали, то п__R1 + R2 . η _ R1 _ R2 .
<ц 2 2 где Д - величина смещения детали; П величина смещения объектива; Ri, R2 - радиусы кривизны оптической детали.
С помощью экранов 6 и 7 перекрывают излучение в одном из каналов и выводят из хода излучения экран 13. На экране 11 наблюдают интерференционную картину. Смещением сферического зеркала 14 вдоль оптической оси излучения добиваются на экране 11 интерференционной картины в виде прямых интерференционных полос. Измерив ширину в интерференционных полосах, определяют величину децентрирования Δ поверхности детали из зависимости где λ - длина волн лазера; R - радиус кривизны соответствующей поверхности; Ь·- ширина интерференционной полосы; L расстояние от вершины поверхности детали до экрана 11; S - величина смещения плоскости фокусировки относительно вершины поверхности детали.
Аналогичные операции производят для измерения децентрировки второй поверхности детали.
Раздельное определение величины децентрирования двух поверхностей детали 8 получается при измерении ширины полос интерференционной картины, образованной в результате взаимодействия излучения, отраженного от сферического зеркала 14 и от одной из поверхностей детали, в этом случае экран 13 01 крыт, а один из экранов 6 и 7 закрыт.

Claims (2)

  1. Формула изобретения
    1. Способ измерения децентрировки оптических деталей, заключающийся в том, что производят освещение детали с двух противоположных сторон по ее геометрической оси, направляют отраженное от двух поверхностей детали излучение на экран и определяют величину децентрировки, отличающийся тем, что, с целью повышения точности децентрировки, перемещают объектив и деталь вдоль оптической оси для совмещения плоскости фокусировки излучения с поверхностями детали, фиксируют положение объектива и детали, смещают плоскость фокусировки излучения объекти5 ва и детали, перекрывают излучение, отраженное от одной из поверхностей детали, получают на экране интерференционную картину, образованную излучением, отраженным от второй поверхности детали и от 5 сферического зеркала, перемещают сферическое зеркало вдоль оптической оси, измеряют ширину интерференционных полос, а величину децентрировки определяют по ширине полос. t— 10
  2. 2. Устройство для измерения децентрировки оптических деталей, содержащее лазер, последовательно расположенные по ходу излучения от него объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль оптической оси, светоделитель, делящий излучение на два потока, в каждом из которых установлено соответственно плоское зеркало и экран, узел крепления детали, расположенный между экранами с 20 возможностью перемещения вдоль оптической оси, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения децентрировки, оно снабжено коллиматором, установленным между лазером и объективом, четвертым экраном, установленным в ходе излучения, прошедшего светоделитель, и последовательно расположенными между одним из плоских зеркал и светоделителем вторым светоделителем, ориентированным под заданным углом к первому, третьим экраном и сферическим зеркалом, установленным с возможностью перемещения вдоль оптической оси, двумя компенса15 торами, каждый из которых расположен соответственно между одним из плоских зеркал и светоделителем в каждом из потоков от первого светоделителя, три экрана установлены с возможностью вывода и хода излучения.
SU894676039A 1989-04-11 1989-04-11 Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени SU1672206A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894676039A SU1672206A1 (ru) 1989-04-11 1989-04-11 Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894676039A SU1672206A1 (ru) 1989-04-11 1989-04-11 Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1672206A1 true SU1672206A1 (ru) 1991-08-23

Family

ID=21440468

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894676039A SU1672206A1 (ru) 1989-04-11 1989-04-11 Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1672206A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6992779B2 (en) Interferometer apparatus for both low and high coherence measurement and method thereof
CN101238348A (zh) 表面的测量装置和方法
US5066120A (en) Optical device for phase detection testing optical system, especially ophthalmic lenses
JPH01284704A (ja) 表面の微細構造を測定する方法とその装置
US5387975A (en) Interferometer for measuring a surface configuration of a test object by an interference pattern using gratings to generate wave fronts
SU1672206A1 (ru) Способ измерени децентрировки оптических деталей и устройство дл его осуществлени
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
US3506361A (en) Optics testing interferometer
US3225644A (en) Apparatus producing interferential test data for measuring and control instruments
JP3455264B2 (ja) 干渉計
JP2605528Y2 (ja) レンズメータ
RU2240503C1 (ru) Дифракционный интерферометр (варианты)
SU1046606A1 (ru) Интерферометр дл измерени неплоскостности и непр молинейности поверхностей
US2734419A (en) Interferometer
SU1449842A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
SU1326879A1 (ru) Интерферометр
JPH047446B2 (ru)
SU1762118A1 (ru) Интерферометрический способ контрол детали
SU1753258A1 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых асферических поверхностей
SU1518663A1 (ru) Интерферометр дл измерени поперечных перемещений
SU1216751A2 (ru) Способ определени ширины полосы и длины волны максимума пропускани интерференционного светофильтра
SU848996A1 (ru) Интерферометр дл контрол качествапОВЕРХНОСТЕй,ОпРЕдЕлЕНи АбЕРРАцийКРупНОгАбАРиТНыХ ОпТичЕСКиХ элЕМЕНТОВи иССлЕдОВАНи пРОзРАчНыХ НЕОдНОРОдНОСТЕй
SU920367A1 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
SU1578462A1 (ru) Способ измерени малых угловых поворотов объекта
SU1000745A1 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых цилиндрических поверхностей