SU1121651A1 - Device for diagnosing interconnected electronic units dispensation - Google Patents
Device for diagnosing interconnected electronic units dispensation Download PDFInfo
- Publication number
- SU1121651A1 SU1121651A1 SU823481923A SU3481923A SU1121651A1 SU 1121651 A1 SU1121651 A1 SU 1121651A1 SU 823481923 A SU823481923 A SU 823481923A SU 3481923 A SU3481923 A SU 3481923A SU 1121651 A1 SU1121651 A1 SU 1121651A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- indicators
- inputs
- elements
- blocks
- diagnosed
- Prior art date
Links
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 20
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ВЗАИМОСВЯЗАННЫХ ЭЛЕ1СГРОН1ШХ БЛОКОВ, соде1 хащее датчики допускового контрол выходами подключенные к входам блока распознавани кода состо ний, и индикаторы, отличающеес тем что, с целью уменьшени времени поиска неисправностей и упрощени устройства, блок 9ii.t распознавани кода состо ний выполнен из элементов И но числу диагностируемых блоков, & также из коммутатора и первого и второго де1В1фраторов , а индикаторы разделены на две группы - нцдикаторы технического состо ни диагно Т1фуе1 «|1х блоков и индикаторы технического состо ни элементов диагностируемых блоков, блока распознавани кода состо ний соединены с йнформа191о(П1||В4и входами коммутатсфа и через соответствующие элементы И - с одним из входов первого дешифратора, подключенного вькоRSLtm к входам иадикаторов технического состо ни да1агностируемых блоков и к управл ющим входам коммутатора , выходы которого через второй дешифратор соеда1н«ны с входаьш индикаторов состо юш элементов диагностИруемых блоков. а Л п1. DEVICE FOR DIAGNOSTICATION OF ASSOCIATED ELECTRONIC BLOCKS, containing sensors of tolerance control outputs connected to the inputs of the state code recognition unit, and indicators, which, in order to reduce the time for troubleshooting and simplify the device, the 9ii.t recognition module, characterized by the fact that, in order to reduce troubleshooting time and simplify the device, the 9ii.t. from the elements And but the number of diagnosed blocks, & also from the switch and the first and second 1B1s, and the indicators are divided into two groups - indicators of the technical state of the diagnostics T1fue1 "| 1x blocks and indicators of the technical state of the elements of the diagnosed blocks, the recognition block of the state code is connected to the information of the 1901о (П1 || В4 and inputs of the commutator and through the corresponding AND elements — with one of the inputs of the first decoder connected via RSLtm to the inputs of the indicators of the technical state of diagnostic units and to the control inputs of the switch, the outputs of which through Ora decoder soeda1n "us with vhodash indicators consist S. elements diagnosable blocks. A n and
Description
2. Устройство по п. 1, о т л и чающеес тен, что первый к второй дешнфраюры выполнены на основе треугольной резистивно-диодирй матрицы, у которой каждый ее выход через резистор соединен с выводом источника питани , а каждый вход через соответствующий разделительный2. The device according to claim 1, wherein the first to the second design is made on the basis of a triangular resistive-diode matrix, in which each of its output through a resistor is connected to the output of the power source, and each input through the corresponding separation
диод, включенный в непровод щем направлении , соединен с соответствующим выходом матрицы и через соответствующий элемент НЕ - с катодом соответствующего разделительного диода, каждый из которых установлен со стороны резисторов лишь до главной диагонали матрицы.The diode connected in the non-conducting direction is connected to the corresponding output of the matrix and through the corresponding element NOT to the cathode of the corresponding separation diode, each of which is installed on the resistor side only up to the main diagonal of the matrix.
1one
Изобретение относитс к техничес кой диагностике и предназначено дл контрол работоспособности и обнаружени отказов в радиоэлектронных объектах, состо щих из взаимосв занных функциональных элементов (блоков)The invention relates to technical diagnostics and is intended to monitor the operability and detect failures in electronic objects consisting of interconnected functional elements (blocks).
Известны устройства дп контрол работоспособности радиоэлектронных объектов и поиска отказавших функциональных элементов в объектах, которые реализуют последовательный поиск отказов по гибкой программе и содержат датчики порогового или допускового контрол , соединенные через коммутатор с логическим устройством, к которому подключены индикаторы отказовр 1Known devices dp control of operability of electronic objects and the search for failed functional elements in objects that implement a consistent search for failures in a flexible program and contain threshold or tolerance control sensors connected through a switch with a logic device to which the indicators of failure 1 are connected
Такие устройства узко специализированы , обладают сравнительно низким быстродействием, относительно сложны из-за большого количества используемых элементов и индикаторов.Such devices are narrowly specialized, have relatively low speed, are relatively complex due to the large number of elements and indicators used.
Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату вл етс устройство, которое реализует комбинационный поиск отказов и содержит m датчиков, контролирующих выходные параметры объекта диагностировани , соединенных с матричным дешифратором непосредственно и через логические элементы НЕ. В качестве матричного дешифратора использована диодна пр моугольна матрица . Вьосоды матричного дешифратора соединены с индикаторами отказов С 2 J.The closest to the proposed technical essence and the achieved result is a device that implements a combination fault search and contains m sensors that monitor the output parameters of the diagnostic object connected to the matrix decoder directly and through the logical elements NOT. A rectangular diode matrix was used as a matrix decoder. The matrix matrix decoders are connected to the C 2 J fault indicators.
Описанное устройство более просто и обладает высокий быстродействием. Однако при достаточно сложных объектах , содержащих большое число функциональных элементов, и когда в объекте диагностировани можно вьщелить функциональные группы элементов - каналы , подсистемы, блоки, субблоки известное диагностическое устройство Усложн етс , а следовательно, увеличиваютс его габариты.и стоимость; при изменении структуры объекта требуетс изменение .структуры и диагностического устройства; большое количество индикаторов единственного уровн диагностировани затрудн ет и усложн ет Воспри тие информацииThe described device is simpler and has a high speed. However, with sufficiently complex objects containing a large number of functional elements, and when functional groups of elements — channels, subsystems, blocks, subunits — can be distinguished in a diagnostic object, the known diagnostic device becomes complicated and, consequently, increases in size and cost; changing the structure of an object requires a change in the structure and diagnostic device; a large number of indicators of a single diagnostic level makes it difficult and difficult to perceive information
оператором, увеличивает врем нахождени нужного индикатор.operator increases the time spent by the indicator.
Дл осуществлени заданной глубины поиска отказов использование одного депшфратора неоправданно услож5 н ет и увеличивает стоимость диагностического устройства из-за чрезмерного числа используемых при этом диодов и индикаторов. Так, например, при использовании в качестве дешифQ ратора даже минимизированной резистивно-диодной матрицы дл определени одиночных отказов в объекте, содержащем m функциональных элементов, число необходимых диодов в матрицеTo implement a given depth of failure search, the use of a single depotfrarator unnecessarily complicates and increases the cost of a diagnostic device due to the excessive number of diodes and indicators used in this process. So, for example, when using even a minimized resistive-diode array as a decoder for determining single failures in an object containing m functional elements, the number of necessary diodes in the array
5 составл ет Dem, а число индикаторов - п.5 is Dem, and the number of indicators is n.
Дп диагностировани объекта с новым (например, меньшим) числом функциональных элементов (ФЭ) и новыми св з ми между ФЭ диагностирующее устройство должно содержать в матрице m 2 диодов и блок приведени наименовани индикаторов в соответствие с новой структурой диагностируемого объекта.DP diagnosing an object with a new (for example, fewer) number of functional elements (PV) and new connections between the PV diagnostics device must contain in the matrix m 2 diodes and a unit for bringing the name of indicators into line with the new structure of the object being diagnosed.
Цель изобретени - уменьшение времени поиска неисправностей и упрощение устройства.The purpose of the invention is to reduce troubleshooting time and simplify the device.
Поставленна цель достигаетс тем, что в устройстве дп диагностировани , содержащем датчики допускового контрол , выходами подключенные к входам блока распознавани кода состо ний, и индикаторы, блок распознавани кода состо ний выполнен из элементов И по числу диагностируемых блоков, а также из коммутатора и первого и второго дешифраторов, а индикаторы разделены на две группы - И1щикаторы технического состо ни диагностируемых блоков и индикаторы технического состо ни элементов диагностируемых блоков, входы блока распознавани кода состо ний соединены с информационными входами коммутатора и. через соответствующие элементы И с одним из входов первого дешифратора , подключенного выходами к входам индикаторов технического состо ни диагностируемых блоков и к управл ющим входам коммутатора, выхода которого через второй дешифратор соединены с входами индикаторов состо ни элементов диагностируемых блоков. Кроме того, первый и второй дешиф раторы выполнены на основе треугольной резистивно-диодиой матрицы, у которой каждый ее выход через резистор соединен с выходом источника питани , а каж ай вход через соответствующий резделительный диод, включенный в непровод щем направлении, соединен с соответствующим выходом матрицы и через соответствующий элемент НЕ - с катодом соответствующего разделительного диода, ка здый из которых установлен со стороны резисторов лишь до главной диагонали матрицы . На фиг. 1 И 2 приведены различные объекты диагностировани со встроенными в них датчиками допускового контрол ; на г. 3 - функциональна схема предлагаемого устройства; на фиг. 4 - схема дешифратора; нэ фиг.5 схема коммутатора. . Объекты диагностировани (.1,2 разбиты на два уровн ; блоки t,2 и 3 функциональные элементы высшего уров н , а элементы 4-11 блоков 1,2 и 3 функциональные элементы.низшего уров н . Выходной сигнал каждого функционального элемента контролируетс соответствук цим датчиком 12-19. Датчики преобразуют зические величины контролируемых параметров в двоичные сигналы вида 1 (параметр в пределах нормальных значений) или О (па раметр вне пределов нормальных зв(аче ний). 514 Устройство (фиг. 3) содержит элементы И 20, 21 и 22, первый дешифратор 23 (высшего уровн ), индикатор 24 нормального функционировани объекта , индикаторы 25, 26 и 27 отказов на высшем уровне диагностировани , коммутатор 28, второй дешифратор 29 (низшего уровн ), индикаторы 30, 31 и 32 отказов на низшем уровне. Элементы 20-22, дешифраторы 23, 29 и коммутатор 28 вл ютс элементами блока распознавани кода состо ний , индикаторы 24-27 вл ютс индикаторами технического состо ни диагностируемых блоков, а индикаторы 30-32 - индикаторами технического состо ни элементов диагностируемых блоков. Дешифраторы 23 и 29 кода состо ний объекта на соответствующем уровне (фиг. 4) состо т из логических элементов НЕ 33-35, диодов 36-44 и резисторов 45-48. Каждый дешифратор имеет входные шины 49(50), 51(52), 53(54) и выходные шины 55, 56, и 57, которые соединены со светоизлучающи,ми диодными индикаторами 25(30), 26(31), 27(32) соответственно. Дешифратор 23 имеет, кроме того, выходную шину 58, соединенную с индикатором 24 нормального функционировани объекта. Коммутатор 28 (фиг. 5) содержит входы, вл ющиес информационными и соединенные с шинами 59-67, и входы, вл ющиес управл ющими и соединенные с шинами 55-58, а также элементы И 68-76 и элементы ИЛИ 77-79. Входы дешифратора, соединенные с шинами 49,51 и 53, через элементы И 20-22 подключены лишь к тем датчикам , которые контролируют объект на высшем уровне (на уровне блоков). Входы дешифратора 29, св занные с шина в1 50, 52 и 54, с помощью коммутатора 28 могут подключатьс к любой группе датчиков, контролирзтщих определенную группу элементов блока, обусловлива диагностирование объекта на низшем (втором) уровне. Дешифратор 23 управл ет коммутатором 28. Дешифраторы выполнены на основе треугольной резистивно-диодной матриiQd , с помощью которой МОЖНО осуществл ть дешифрирование двоичного обратного экономного кода Шеннона-Фзно, каждое сообщение которого имеет вид: 0; 10; 110; 1...10. Таблицы состо НИИ любых объектов при одиновных отказах легко привод тс к коду Шеннона-Фэно , если каждый функциональный элемент объекта, имеет пор дковый номер , больший номера элемента, от которого он функционально зависит. Таблица таких кодовых комбинаций (сообщений) имеет вид треугольной матрицы: отказал 4 отказал отказал 6 58 - объект исправен Устройство работает следунщим об разом. Датчики (первичные измерительные преобразователи с дискретным выходо преобразуют физические величины кон ролируемых параметров функциональны элементов в сигнатл вида 1 (параметры в норме) или О (параметры не в норме), которые поступают чере соответствующие элементы- И 20-22 на основные входы и через элементы НЕ 33-35 на дополнительные входы де шифратора 23. Одновременно сигналы вида 1 и О со всех датчиков одн го из диагностируемых блоков через коммутатор 28 поступают на основные входы непосредственно и через элеме ты НЕ 33-35 на дополнительные входы дешифратора 29. С выходов сигналы могут поступать на соответствук чие индикаторы 25-27 и 30-32, а также на индикатор нормального функционировани объекта. При этом индикаторы включаютс при поступлении на их входы сигналов ви да 1 (напр жение высокого потенциала ) . При исправном объекте диагностировани на выходах всех датчиков об разуютс сигналы вида 1, на всех входах дешифратора 23 также по вл ютс единичные сигналы. Поэтому на дополнительных входах дешифратора 23 по вл ютс нулевые потенциалы, диоды 36, 38 и 41 открьшаютс , через резисторы 45, 46 и 47 течет ток, напр жение источника питани матрицы полностью прилагаетс к резисторам 45-47 и на выходных шинах 55, 56, 57 образуютс низкие (нулевые) потенциалы . Диоды 42, 43 и 44 при этом закрыты , высокими единичными потенциалами, на выходной шине 58 образуетс высокий потенциал, который и обуславливает включение индикатора 24. Поскольку у дешифратора 29 шина 58 отсутствует, все его индикаторы выключены. В случае отказа какого-либо функционального элемента блока 2, например элемента 9,. на выходе датчика 17, контролирующего отказавптй функциональный элемент, а также датчиков 18 и 19, контролирукифпс выходные параметры функционапыв 1х элементов, зависимых от отказавшего элемента, по вл ютс сигналы ввда О. Это приводит к тому, что на шины 49, 51 и 53 поступает кодова комбинаци вида 100 и поэтому все диоды нулевой шины одновременно закрыты, а из всех индикаторов высшего уровн включен индикатор 26 отказавшего элемента . Такое сочетание сигналов 100 на входах дешифратора 23 по вл етс при отказе любого элемента (7, 8 или 9) блока 2. Единичный сигнал, включивший индикатор отказа блока 2, одновременно по нулевой ш не поступает на вторые входы элементов И 71-73 коммутатора 28, открыва их дп пропуска сигналов от датчиков, контролирующих функциональные элементы отказавшего блока 2, на шины 50, 52 и 54. На выходах элементовГ ИЛИ 77-79 коммутатора 28, а значит, на входах дешифратора 29 при отказе элемента 9 образуетс совокупность сигналов 110. По вление совокупности или комбина- ции сигналов 110 на шинах 50, 52 и 54 означает поступление высоких положительных потенциалов на шины 50 и 52 и нулевого потенциала на шину 54. На дополнительных входах матрицы образуютс инвертированные сигналы , обусловленные элементами НЕ 33-35. Все диоды, соедин к цие вертикальные и гсфизонтальные шины матрицы и на катоды которых подаютс The goal is achieved by the fact that in the device dp diagnostics containing tolerance control sensors, outputs connected to the inputs of the state code recognition block, and indicators, the state code recognition block is made of AND elements by the number of diagnosed blocks, as well as from the switch and the first and the second decoders, and the indicators are divided into two groups - I1shchikatorov technical condition of the diagnosed blocks and indicators of the technical condition of the elements of the diagnosed blocks, the inputs of the recognition block The status code is connected to the information inputs of the switch and. through the corresponding elements And with one of the inputs of the first decoder connected by outputs to the inputs of indicators of the technical state of the diagnosed blocks and to the control inputs of the switch, the outputs of which through the second decoder are connected to the inputs of the indicators of the state of the elements of the diagnosed blocks. In addition, the first and second decoders are made on the basis of a triangular resistor-diode of the matrix, in which each of its outputs through a resistor is connected to the output of a power source, and each input through a corresponding separating diode connected in a non-conductive direction, and through the corresponding NOT element with the cathode of the corresponding separation diode, each of which is installed on the resistor side only up to the main diagonal of the matrix. FIG. Figures 1 and 2 show various diagnostic objects with tolerance control sensors built into them; on r. 3 - the functional scheme of the proposed device; in fig. 4 is a decoder circuit; ne figure 5 diagram of the switch. . The diagnostic objects (.1,2 are divided into two levels; blocks t, 2 and 3 are functional elements of the highest level, and elements 4-11 of blocks 1,2 and 3 are functional elements of the lower level. The output signal of each functional element is monitored by sensor 12-19. Sensors convert the visual values of the monitored parameters into binary signals of type 1 (parameter within normal values) or O (parameter outside the limits of normal signals (achemes). 514 The device (Fig. 3) contains elements And 20, 21 and 22, first decoder 23 (top level), in the detector 24 is the normal operation of the object, indicators 25, 26 and 27 failures at the highest diagnostic level, the switch 28, the second decoder 29 (lowest level), indicators 30, 31 and 32 failures at the lowest level. Elements 20-22, decoders 23, 29 and the switch 28 is the elements of the state code recognition unit, the indicators 24-27 are the indicators of the technical condition of the diagnosed blocks, and the indicators 30-32 are the indicators of the technical condition of the elements of the blocks being diagnosed. The decoders 23 and 29 of the state code of the object at the appropriate level (Fig. 4) consist of the logical elements HE 33-35, diodes 36-44 and resistors 45-48. Each decoder has input buses 49 (50), 51 (52), 53 (54) and output buses 55, 56, and 57, which are connected to light-emitting diodes 25 (30), 26 (31), 27 (32 ) respectively. The decoder 23 also has an output bus 58 connected to the indicator 24 of the normal functioning of the object. Switch 28 (FIG. 5) contains inputs that are informational and connected to buses 59-67, and inputs that control and are connected to buses 55-58, and elements AND 68-76 and elements OR 77-79. The inputs of the decoder connected to the tires 49.51 and 53, through the elements And 20-22 are connected only to those sensors that control the object at the highest level (at the block level). The inputs of the decoder 29 connected to the b1 50, 52 and 54 bus, using the switch 28, can be connected to any group of sensors that control a certain group of block elements, causing the object to be diagnosed at the lowest (second) level. The decoder 23 controls the switch 28. The decoders are made on the basis of a triangular resistive-diode matrix Qi with which you can decrypt the Shannon-Fzno binary reverse economy code, each message of which has the form: 0; ten; 110; 1 ... 10. The state tables of scientific research institutes of any objects with single failures are easily reduced to the Shannon-Feno code if each functional element of the object has a sequence number greater than the number of the element on which it functionally depends. The table of such code combinations (messages) has the form of a triangular matrix: refused 4 failed refused 6 58 - the object is healthy The device works as follows. Sensors (primary measuring transducers with discrete output convert physical quantities of the parameters being monitored to functional elements into a signature of type 1 (parameters are normal) or O (parameters are not normal), which are received through the corresponding elements AND 20-22 to the main inputs and through the elements NOT 33-35 to the additional inputs of the decoder 23. At the same time, signals of the type 1 and O from all sensors of one of the diagnosed blocks through the switch 28 arrive at the main inputs directly and through the elements NOT 33-35 to the additional inputs Descrambler s 29. From the outputs, signals can go to the corresponding indicators 25-27 and 30-32, as well as to the indicator of the normal functioning of the object, while the indicators turn on when signals of their type 1 are received at their inputs (high potential voltage). Signals of the type 1 are formed at the outputs of all sensors that are in good condition, and only single signals appear on all inputs of the decoder 23. Zero potentials appear on the additional inputs of the decoder 23, diodes 36, 38 and 41 open through resistors 45 , 46 and 47 a current flows, the voltage of the matrix power supply is fully applied to the resistors 45-47 and low (zero) potentials are formed on the output buses 55, 56, 57. Diodes 42, 43, and 44 are then closed, with high unit potentials, on the output bus 58 a high potential is formed, which causes the indicator 24 to turn on. Since the decoder 29 has a bus 58, all its indicators are off. In case of failure of any functional element of block 2, for example element 9 ,. At the output of the sensor 17, which controls the failing functional element, as well as the sensors 18 and 19, controlling the output parameters of the functional, 1x signals dependent on the failed element appear. O signal appears. This leads to the buses 49, 51 and 53 A code combination of type 100 and therefore all zero bus diodes are simultaneously closed, and of all the highest level indicators, indicator 26 of the failed element is on. This combination of signals 100 at the inputs of the decoder 23 appears when any element (7, 8 or 9) of block 2 fails. A single signal that turned on the indicator of failure of block 2 does not simultaneously arrive at the second inputs of the AND elements 71-73 of the switch 28 , opening them dp passes signals from sensors that control the functional elements of the failed unit 2, bus 50, 52 and 54. At the outputs of the elements OR 77-79 switch 28, and therefore, at the inputs of the decoder 29 when element 9 fails, a set of signals 110. The appearance of an aggregate or combination Signals 110 on buses 50, 52 and 54 means the arrival of high positive potentials on buses 50 and 52 and zero potential on bus 54. At the additional inputs of the matrix, inverted signals are generated due to the elements HE 33-35. All diodes, connected to vertical and horizontal busbars of the matrix and to the cathodes of which are supplied
71127112
положительные потенциалы с вертикальных шин матрицы, запираютс и станов тс непровод щими электрический ток.the positive potentials from the vertical busbars of the matrix lock up and become non-conductive.
При описанном распределении потенциалов диоды 36, 38 и 44 открыты, а остальные диоды закрыты. Поэтому через резисторы 45, 46 и 48 протекает электрический ток по соответстдующим цеп м: плюс источника тока, резистор 45, диод 36, элемент НЕ 33, минус источника тока; плюс источника тока, резистор 46, диод 38, элемент НЕ 34, минус источника тока; плюс источника тока, резистор 48, диод 44, шииа 54, элемент ИЛИ 79 коммутатора, минус источника тока. Напр жение источника тока практически полностью падает на резисторах 45, 46 и 48, поэтому на входах индикаторов 30 и 31 образуютс низкие (нулевые) потенциалы и указанные индикаторы не включгиотс . Через резистор 47 ток не протекает , так как диоды 39, 40 и 41 закрыты высокими потенциалами со стороны вертикальных шин коммутатора. Поэтому высокий потенциал источника тока через резистор 4-7 поступает наWith the described potential distribution, the diodes 36, 38 and 44 are open, and the remaining diodes are closed. Therefore, electric current flows through resistors 45, 46, and 48 through the appropriate circuits: plus current source, resistor 45, diode 36, HE element 33, minus current source; plus current source, resistor 46, diode 38, element 34, minus current source; plus current source, resistor 48, diode 44, bus 54, switch element OR 79, minus current source. The voltage of the current source almost completely drops across resistors 45, 46, and 48, so low (zero) potentials are formed at the inputs of indicators 30 and 31, and these indicators do not turn on. There is no current flowing through the resistor 47, since the diodes 39, 40 and 41 are covered with high potentials from the side of the vertical busbars of the switch. Therefore, the high potential of the current source through the resistor 4-7 goes to
ггyy
FF
-ИЗ-OF
8eight
ход индикатора 32 и обусловливает его включение.the progress of indicator 32 and determines its inclusion.
Таким образом, при отказе функциоального элемента 9 контролируемого объекта, в устройстве дл диагностировани включаютс индикаторы 26 и 32, что означает отказ третьего элемента 9 во втором блоке 2. Остальные индикаторы выключены.Thus, in case of failure of the functional element 9 of the monitored object, indicators 26 and 32 are turned on in the device for diagnostics, which means the failure of the third element 9 in the second block 2. The remaining indicators are turned off.
Предлагаемое устройство дл технического диагностировани сложных раиоэлектронных объектов, состо щих из взаимосв занных блоков, отличаетс от известных своей простотой, ми1шмально необходимым количеством логических элементов и индикаторов, низкой стоимостью, возможностью одним устройством без его перенастройки диагностировать различные объекты, имеющие различные функциональные св зи между элементами и различное число элементов. Значительное сокращение числа индикаторов улучшает уело- ВИЯ дл воспри ти информации от индикаторов , что обусловливает сокра- щение времени поиска нужного индикатора и уменьшает веро тность ошибок оператора при считывании результата диагностировани .The proposed device for the technical diagnostics of complex radio-electronic objects consisting of interconnected blocks differs from those known for its simplicity, the minimum number of logic elements and indicators, low cost, the ability to diagnose various objects having different functional connections between elements with one device without reconfiguring it. and a different number of elements. A significant reduction in the number of indicators improves the ability to perceive information from indicators, which leads to a reduction in the search time for the desired indicator and reduces the likelihood of operator errors when reading the result of diagnosis.
8$ §9 tt8 $ §9 tt
9U9.t9U9.t
нашour
111 ii111 ii
чин чипchin chip
и вв 9tand vv 9t
а п f« is ft 91a n f "is ft 91
MM
9(50)9 (50)
1(52)1 (52)
У5Y5
JLJr s; 53JLJr s; 53
iLiL
..
.17.17
2323
Heona Heona
Ommtf Omtf
gawrgj/ J ватазГ OmmtS gawrgj / J vatazG OmmtS
-p OmircaJff -p OmircaJff
ваипаЗVaipaz
53(ffy)53 (ffy)
2S(30)2S (30)
4itf4itf
4747
2S(31) 27(32)2S (31) 27 (32)
4f4f
f 61Г,f 61G,
2f2f
fpuf.ffpuf.f
.57 Sf.57 sf
-55-55
J LS LJ LS L
74 I 75 I 7f74 I 75 I 7f
72 7J72 7J
s:ss: s
7777
6969
5t5t
II
3 r 3 r
T9T9
тt
5«five"
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU823481923A SU1121651A1 (en) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Device for diagnosing interconnected electronic units dispensation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU823481923A SU1121651A1 (en) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Device for diagnosing interconnected electronic units dispensation |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1121651A1 true SU1121651A1 (en) | 1984-10-30 |
Family
ID=21026125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU823481923A SU1121651A1 (en) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Device for diagnosing interconnected electronic units dispensation |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1121651A1 (en) |
-
1982
- 1982-08-09 SU SU823481923A patent/SU1121651A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 1. Сердаков А.С. Автоматический контроль и техническа диагностика. Киев. Техника j 1971, с. 28-38. 2. Там же, с. 39-43, рис. 9 (прототип). * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1037170A (en) | Time division multiplex system for a motor vehicle | |
| JPH02501244A (en) | Fault tolerant output circuit | |
| US20110078526A1 (en) | Method and Circuit Configuration for Simulating Fault States in a Control Unit | |
| US20100314225A1 (en) | Device for the Electric Actuation of a Safety-Critical System | |
| JPH03506089A (en) | Method for removing errors latent in logic circuit network for majority selection of binary signals | |
| US5613064A (en) | Output network for a fault tolerant control system | |
| SU1121651A1 (en) | Device for diagnosing interconnected electronic units dispensation | |
| JP4992882B2 (en) | Switching device | |
| EP1100100B1 (en) | A circuit for detecting the state of electrical switches | |
| JP2679655B2 (en) | Abnormality judgment circuit for redundant operation system | |
| SU1691819A1 (en) | Radioelectronic installations diagnostic device | |
| GB2067307A (en) | Improvements in Apparatus for a Method of Diagnostic Testing of Electrically Controlled Machinery | |
| US11872996B2 (en) | Control system for a motor vehicle and method for diagnosing a failure in a control system | |
| JPH0998081A (en) | Fail safe majority logic circuit and parallel output type electronic interlocking device using the circuit | |
| US6134682A (en) | Testable bus control logic circuitry and method for using same | |
| US6133647A (en) | Circuit layout for a serial transmission and reception interface in particular for a vehicle occupant protection system as well as a procedure for controlling this interface | |
| WO2025186884A1 (en) | Diagnostic circuit and diagnostic method | |
| SU526834A1 (en) | Device for troubleshooting irrevocable combinational circuits | |
| JP2002510903A (en) | Final stage of signal generation for generating digital voltage signal in bus system | |
| SU1282237A2 (en) | Device for indicating blow-out of fuse | |
| SU1242963A1 (en) | Device for checking address buses of interface | |
| HU202328B (en) | Programmed security two-channel control apparatus | |
| JP2552541Y2 (en) | Numeric display | |
| JPH03180776A (en) | Logic circuit provided with self-diagnostic function | |
| SU1239823A1 (en) | Multichannel device for reversing d.c.motors |