RU81442U1 - Устройство для калибровки масс-спектрометра - Google Patents
Устройство для калибровки масс-спектрометра Download PDFInfo
- Publication number
- RU81442U1 RU81442U1 RU2008141488/22U RU2008141488U RU81442U1 RU 81442 U1 RU81442 U1 RU 81442U1 RU 2008141488/22 U RU2008141488/22 U RU 2008141488/22U RU 2008141488 U RU2008141488 U RU 2008141488U RU 81442 U1 RU81442 U1 RU 81442U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ionization chamber
- mass spectrometer
- calibrating
- ion guide
- lens
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 6
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 3
- 230000000155 isotopic effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000005369 laser isotope separation Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 17
- NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N ytterbium Chemical compound [Yb] NAWDYIZEMPQZHO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052769 Ytterbium Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 5
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000010416 ion conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Устройство для калибровки масс-спектрометра относится к технике лазерного разделения изотопов, масс-спектрометрической технике и может быть использовано в области исследования изотопного состава веществ. Устройство для калибровки масс-спектрометра, содержит ионизационную камеру, испаритель, источник лазерного излучения, и ионопровод с вытягивающей линзой. Дополнительно над ионизационной камерой расположен источник электронов, состоящий из проволочного катода и кольцевого анода, установленного соосно с отверстиями ионизационной камеры и вытягивающей линзы ионопровода. Техническим результатом является возможность использования двух видов ионизирующего излучения, расширение возможностей практической реализации процесса калибровки. 1н.п. ф-лы, 3 ил.
Description
Заявляемая полезная модель относиться к технике лазерного разделения изотопов, масс-спектрометрической технике и может быть использована в области исследования изотопного состава веществ.
Наиболее близким к заявляемому устройству является устройство для калибровки масс-спектрометра С.И.Яковленко. «Основные физические проблемы лазерного выделения весовых количеств редкого изотопа иттербия», ж. «Квантовая электроника». 25, №-11, с.971-988, 1998 г. Устройство по прототипу содержит ионизационную камеру, испаритель, источник лазерного излучения и ионопровод с вытягивающей линзой масс-спектрометра. Для накачки лазеров на красителях использованы лазеры на парах меди. Система лазеров на красителях состояла из трех каналов, построенных по схеме задающий генератор-усилитель. Качество излучения контролировалось по ионному составу лазерной плазмы с помощью масс-спектрометра. Лазерные пучки сводились в один составной пучок с помощью зеркала сведения. Составной пучок вводился в вакуумную камеру масс-спектрометра и пропускался через пучок атомного пара, формируемого испарителем. В результате фотоионизации атомов появлялись ионы различных изотопов. В состав внутрикамерного оборудования вакуумной камеры входили испаритель, система экстракторов и датчики контроля плотности пара.
К недостаткам данного устройства по прототипу можно отнести ограничения по диапазону энергий используемого ионизирующего излучения.
При создании заявляемой полезной модели решалась задача использования двух видов ионизирующего излучения.
Техническим результатом при решении данной задачи являлось расширение возможностей практической реализации процесса калибровки.
Указанный технический результат достигается тем, что по сравнению с известным устройством калибровки масс-спектрометра, содержащим ионизационную камеру, испаритель, источник лазерного излучения и ионопровод с вытягивающей линзой, в заявляемом устройстве дополнительно над ионизационной камерой расположен источник электронов, состоящий из проволочного катода и кольцевого анода, установленного соосно с отверстиями ионизационной камеры и вытягивающей линзы ионопровода.
На фиг.1 изображено заявляемое устройство для калибровки масс-спектрометра.
На фиг.2 изображен спектр изотопов иттербия, полученный при фотоионизации лазерным излучением.
На фиг.3 изображен спектр изотопов иттербия, полученный при ионизации электронным ударом.
На фиг.1 обозначено:
1 - ионизационная камера;
2 - испаритель;
3 - источник лазерного излучения;
4 - ионопровод;
5 - вытягивающая линза;
6 - источник электронов - диод;
7 - проволочный катод;
8 - анод;
9 - вакуумная камера;
10 - отверстие в ионизационной камере;
11 - окно вакуумной камеры;
12 - отклоняющий магнит;
13 - диафрагмы;
14 - электронный усилитель ВЭУ;
15 - атомный пар.
Заявляемое устройство калибровки масс-спектрометра содержит ионизационную камеру 1, испаритель 2, источник лазерного излучения 3, и ионопровод 4 с вытягивающей линзой 5. Дополнительно над ионизационной камерой расположен источник электронов 6, состоящий из проволочного катода 7 и кольцевого анода 8, установленного соосно с отверстиями ионизационной камеры 1 и вытягивающей линзы 5 ионопровода 4.
В примере конкретного выполнения заявляемого устройства ионизационная камера выполнена из стали, с четырьмя технологическими отверстиями по периметру для ввода атомного пара и лазерного излучения, а так же с отверстием диаметром 8 мм, расположенного соосно над отверстием вытягивающей линзы ионопровода. Над ионизационной камерой на керамических изоляторах расположен плоский стальной анод с отверстием, совпадающим по оси с отверстием вытягивающей линзы ионопровода. Катод представляет собой вольфрамовую спираль, закрепленную на стальных держателях и введенный в вакуумную камеру над отверстием анода. Испаритель представляет собой омический нагреватель из вольфрамовой спирали. Внутри спирали находится фольга распыляемого материала в нашем случае иттербия.
Заявляемое устройство позволяет осуществлять калибровку масс-спектрометра, используя два вида ионизирующего излучения.
Калибровка масс-спектрометра с использованием фотоионизации производится следующим образом. Лазерный пучок от источника 3 через окно 11 в вакуумной камере вводился в ионизационную камеру 1 масс-спектрометра и пропускался через пучок атомного пара 15, формируемого в испарителе 2. В результате фотоионизации атомов иттербия появляются ионы различных изотопов иттербия. Пучок ионов формируется в ионопроводе 4 с помощью системы электростатических линз. В качестве диспергирующего элемента в масс-спектрометре используется отклоняющий секторный постоянный магнит 12, который обладает также фокусирующими свойствами для моноэнергетических ионов. Селекция ионов происходит за счет линейно изменяющегося (пилообразного) напряжения, подаваемого на линзу 5, вытягивающую ионы из плазмы. Ионы разной массы попадают в различное время на электронный усилитель 14, расположенный на выходе ионопровода 4 и предназначенный для усиления электрического импульса. Сигналы (отдельные пики) разделяются на экране осциллографа (Фиг.2).
Калибровка с использованием ионизации электронным ударом производится следующим образом. В вакуумной камере 9 масс-спектрометра над ионопроводом 4 был расположен источник электронов 6. Полученные при термоэлектронной эмиссии электроны ускоряются разностью потенциалов между катодом 7 и анодом 8. Ускоренные электроны, проходя через пучок атомного пара 15, ионизуют иттербий. Регистрация масс-спектра изотопного продукта осуществлялась с помощью компьютеризованной системы и дублировалась на осциллографе. Полученный масс-спектр (Фиг.3) содержал все стабильные изотопы и оптимизировался по разрешению с помощью линз ионопровода 4 и отклоняющим магнитом 12 до эталонного масс-спектра (см., таблицы масс-спектров, например, Ф.В.Астон. «Масс-спектры и изотопы», М., государственное издательство иностранной литературы, 1948 г). Напряжение, подаваемое на линзы, и положение магнита при этом фиксировались.
Таким образом, заявляемое устройство позволяет расширить возможности практической реализации процесса калибровки при использовании ионизации, как лазерным излучением, так и электронным ударом.
Claims (1)
- Устройство для калибровки масс-спектрометра, содержащее ионизационную камеру, испаритель, источник лазерного излучения и ионопровод с вытягивающей линзой, отличающееся тем, что дополнительно над ионизационной камерой расположен источник электронов, состоящий из проволочного катода и кольцевого анода, установленного соосно с отверстиями ионизационной камеры и вытягивающей линзы ионопровода.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2008141488/22U RU81442U1 (ru) | 2008-10-20 | 2008-10-20 | Устройство для калибровки масс-спектрометра |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2008141488/22U RU81442U1 (ru) | 2008-10-20 | 2008-10-20 | Устройство для калибровки масс-спектрометра |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU81442U1 true RU81442U1 (ru) | 2009-03-20 |
Family
ID=40545561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2008141488/22U RU81442U1 (ru) | 2008-10-20 | 2008-10-20 | Устройство для калибровки масс-спектрометра |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU81442U1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2616927C1 (ru) * | 2015-12-30 | 2017-04-18 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" | Стенд для калибровки устройства для масс-спектрометрического измерения газовых потоков |
-
2008
- 2008-10-20 RU RU2008141488/22U patent/RU81442U1/ru active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2616927C1 (ru) * | 2015-12-30 | 2017-04-18 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" | Стенд для калибровки устройства для масс-спектрометрического измерения газовых потоков |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5763878A (en) | Method and device for orthogonal ion injection into a time-of-flight mass spectrometer | |
| US7060987B2 (en) | Electron ionization source for othogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry | |
| Saporoschenko | Ions in nitrogen | |
| US4904872A (en) | Method for generating extremely short ion pulses of high intensity from a pulsed ion source | |
| US3553452A (en) | Time-of-flight mass spectrometer operative at elevated ion source pressures | |
| Liebl | Ion microprobe analysers | |
| JPS61179051A (ja) | クオドルポ−ルイオントラツプの使用による広質量範囲にわたる標本の質量解析方法 | |
| US11764026B2 (en) | Electron source | |
| Sloane et al. | The formation of negative ions by positive-ion impact on surfaces | |
| Muller et al. | Absolute ionisation cross sections for electrons incident on O+, Ne+, Xe+ and Ari+ (i= 1,..., 5) ions | |
| CN110176385B (zh) | 一种用于磁质谱仪的高效离子源 | |
| JPS6244946A (ja) | 荷電粒子等の検出器 | |
| US7030619B2 (en) | Ionization gauge | |
| US4117322A (en) | Ion scattering spectrometer including cylindrical mirror analyzer and ion gun axially positioned therewithin | |
| RU81442U1 (ru) | Устройство для калибровки масс-спектрометра | |
| CN209963019U (zh) | 一种用于磁质谱仪的高效离子源 | |
| US6903333B2 (en) | Mass spectrometer | |
| Clausnitzer et al. | An electron beam ion source for the production of multiply charged heavy ions | |
| US7295015B2 (en) | Ionization gauge | |
| JPH0378741B2 (ru) | ||
| US7038199B2 (en) | Apparatus and method for elemental mass spectrometry | |
| US3157784A (en) | Ion source for a mass spectrometer | |
| CN113013015B (zh) | 对于仪器到仪器可重复性的发射电流测量 | |
| US3602752A (en) | Cathode structure with magnetic field producing means | |
| Lee et al. | Multicusp sources for ion beam projection lithography |