RU2849975C1 - Scanning probe microscope combined with magnetooptical microscope for investigation of magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy - Google Patents
Scanning probe microscope combined with magnetooptical microscope for investigation of magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropyInfo
- Publication number
- RU2849975C1 RU2849975C1 RU2024122188A RU2024122188A RU2849975C1 RU 2849975 C1 RU2849975 C1 RU 2849975C1 RU 2024122188 A RU2024122188 A RU 2024122188A RU 2024122188 A RU2024122188 A RU 2024122188A RU 2849975 C1 RU2849975 C1 RU 2849975C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- microscope
- magneto
- optical
- analyzer
- video microscope
- Prior art date
Links
Abstract
Description
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к магнитно-силовой микроскопии, и может быть использовано для исследования материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, например, железоиттриевых гранатов, перспективных материалов для устройств записи информации и спинтроники.The invention relates to the field of measurement technology, namely to magnetic force microscopy, and can be used to study materials with perpendicular magnetic anisotropy, for example, yttrium iron garnets, promising materials for information recording devices and spintronics.
Известен магнитооптический микроскоп, в котором наблюдение доменных границ в магнитном материале осуществляется с использованием эффекта Керра [G. Jones and G. Hardy, The Magneto-Optical Properties of Magnetic Colloid Patterns Deposited on Ferrimagnetic Crystal Surfaces, IEEE Trans. Magn. 17, 3099 (1981)].A magneto-optical microscope is known in which the observation of domain boundaries in a magnetic material is carried out using the Kerr effect [G. Jones and G. Hardy, The Magneto-Optical Properties of Magnetic Colloid Patterns Deposited on Ferrimagnetic Crystal Surfaces, IEEE Trans. Magn. 17, 3099 (1981)].
Недостаток этого устройства заключается в невозможности исследования механических, топологических, физико-химических и других свойств образца, оценить которые возможно с помощью методов сканирующей зондовой микроскопии.The disadvantage of this device is the impossibility of studying the mechanical, topological, physicochemical and other properties of the sample, which can be assessed using scanning probe microscopy methods.
Известен также сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом [Пат. 2488126 Российская Федерация МПК G01Q 60/00, В82В 3/00. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом / Быков А.В., Быков В.А., Голубок А.О., Котов В.В., Сапожников И.Д.; заявители и патентообладатели ЗАО «Нанотехнология-МДТ», ООО «Нанотехнология-СПб». - №2009128001/28; заявл. 22.07.2009; опубл. 20.07.2013 Бюл. №20 - 9 с: ил.].Also known is a scanning probe microscope combined with an optical microscope [Patent 2488126 Russian Federation IPC G01Q 60/00, B82B 3/00. Scanning probe microscope combined with an optical microscope / Bykov A.V., Bykov V.A., Golubok A.O., Kotov V.V., Sapozhnikov I.D.; applicants and patent holders ZAO Nanotechnology-MDT, OOO Nanotechnology-SPb. - No. 2009128001/28; declared 22.07.2009; published 20.07.2013 Bulletin No. 20 - 9 p: ill.].
Недостаток этого устройства заключается в невозможности оптической визуализации доменных стенок у магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией. Из-за этого усложняется поиск областей, отличающихся перпендикулярной магнитной анизотропией, от остальных участков образца, а также наблюдение изменения магнитооптических свойств.A drawback of this device is the inability to optically visualize domain walls in magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy. This complicates the identification of regions with perpendicular magnetic anisotropy that differ from the rest of the sample, as well as the observation of changes in magneto-optical properties.
Технический результат изобретения заключается в возможности оптической визуализации доменных стенок у магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией. Как следствие, это приводит к упрощению нахождения областей, отличающихся перпендикулярной магнитной анизотропией, от остальных участков образца, наблюдению изменения магнитооптических свойств, а также к упрощению позиционирования зондового датчика в соответствующие области.The technical result of the invention lies in the possibility of optical visualization of domain walls in magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy. Consequently, this simplifies the identification of regions with perpendicular magnetic anisotropy from other areas of the sample, the observation of changes in magneto-optical properties, and the simplification of positioning the probe in the corresponding regions.
Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующем зондовом микроскопе, совмещенном с магнитооптическим видеомикроскопом для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, содержащем пьезосканер, держатель образца с образцом, зондовый датчик, установленный в держатель зондового датчика, оптическую систему регистрации деформаций зондового датчика, сопряженные с блоком управления, при этом магнитооптический видеомикроскоп состоит из оптической системы наблюдения с осветителем, цифровой камеры, сопряженной с блоком управления, светоделителя и объектива, оптически сопряженной с образцом и осветителем, в магнитооптический видеомикроскоп введены поляризатор и анализатор.The essence of the invention is that in a scanning probe microscope combined with a magneto-optical video microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy, containing a piezo scanner, a sample holder with a sample, a probe sensor installed in the probe sensor holder, an optical system for recording deformations of the probe sensor, coupled with a control unit, wherein the magneto-optical video microscope consists of an optical observation system with an illuminator, a digital camera coupled with the control unit, a beam splitter and an objective optically coupled with the sample and the illuminator, a polarizer and an analyzer are introduced into the magneto-optical video microscope.
Существует вариант, в котором в магнитооптическом видеомикроскопе между светоделителем и анализатором устанавливается четвертьволновая пластинка.There is a variant in which a quarter-wave plate is installed between the beam splitter and the analyzer in a magneto-optical video microscope.
Существует также вариант, в котором в магнитооптическом видеомикроскопе в качестве осветителя используется монохроматор с лампой.There is also a variant in which a monochromator with a lamp is used as an illuminator in a magneto-optical video microscope.
Существует также вариант, в котором цифровая камера совмещена с системой охлаждения.There is also a version in which the digital camera is combined with a cooling system.
Существует также вариант, в котором в магнитооптическом видеомикроскопе поляризатор, анализатор и четвертьволновая пластинка размещены с использованием поворотного механизма поляризатора, поворотного механизма анализатора и поворотного механизма четвертьволновой пластинки соответственно.There is also a variant in which the polarizer, analyzer and quarter-wave plate are arranged in a magneto-optical video microscope using a rotating mechanism of the polarizer, a rotating mechanism of the analyzer and a rotating mechanism of the quarter-wave plate, respectively.
На фиг. 1 изображен сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с магнитооптическим видеомикроскопом для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, при этом в оптический путь видеомикроскопа введены поляризатор и анализатор.Fig. 1 shows a scanning probe microscope combined with a magneto-optical video microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy, with a polarizer and analyzer introduced into the optical path of the video microscope.
На фиг. 2 изображен сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с магнитооптическим видеомикроскопом для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, при этом в оптический путь видеомикроскопа введены поляризатор, анализатор и четвертьволновая пластинка.Fig. 2 shows a scanning probe microscope combined with a magneto-optical video microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy, with a polarizer, analyzer, and quarter-wave plate introduced into the optical path of the video microscope.
На фиг. 3 изображен сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с магнитооптическим видеомикроскопом для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, при этом в оптический путь видеомикроскопа введены поляризатор и анализатор, а цифровая камера совмещена с системой охлаждения.Fig. 3 shows a scanning probe microscope combined with a magneto-optical video microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy, wherein a polarizer and analyzer are introduced into the optical path of the video microscope, and a digital camera is combined with a cooling system.
На фиг. 4 изображен сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с магнитооптическим видеомикроскопом для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, при этом в оптический путь видеомикроскопа введены поляризатор, анализатор и четвертьволновая пластинка с использованием поворотных механизмов. Осуществление изобретенияFig. 4 shows a scanning probe microscope combined with a magneto-optical video microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy, wherein a polarizer, analyzer, and quarter-wave plate are introduced into the optical path of the video microscope using rotating mechanisms. Implementation of the invention
Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с магнитооптическим микроскопом для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией (фиг. 1), состоит из пьезосканера 10 с держателем образца 9, зондового датчика 7, держателя зондового датчика 11, оптической системы регистрации деформаций зондового датчика 12 и блока управления 13. В свою очередь, магнитооптический микроскоп состоит из осветителя 1, цифровой камеры 2, светоделителя 3, объектива 4, поляризатора 5 и анализатора 6. В качестве цифровой камеры 2 могут использоваться камеры с ПЗС-матрицей или с КМОП-матрицей. Для работы сканирующего зондового микроскопа в режиме магнитно-силовой микроскопии следует использовать зондовый датчик 7 с магнитным покрытием, например, кобальтом.A scanning probe microscope combined with a magneto-optical microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy (Fig. 1) consists of a piezo scanner 10 with a sample holder 9, a probe sensor 7, a probe sensor holder 11, an optical system for recording probe sensor deformations 12 and a control unit 13. In turn, the magneto-optical microscope consists of an illuminator 1, a digital camera 2, a beam splitter 3, an objective 4, a polarizer 5 and an analyzer 6. Cameras with a CCD matrix or a CMOS matrix can be used as a digital camera 2. For operation of the scanning probe microscope in the magnetic force microscopy mode, a probe sensor 7 with a magnetic coating, for example, cobalt, should be used.
Существует вариант, в котором в магнитооптическом видеомикроскопе между анализатором 6 и светоделителем 3 устанавливается четвертьволновая пластинка 15 (фиг. 2).There is a variant in which a quarter-wave plate 15 is installed between the analyzer 6 and the beam splitter 3 in the magneto-optical video microscope (Fig. 2).
Существует вариант, в котором в магнитооптическом видеомикроскопе в качестве осветителя 1 используется монохроматор с лампой.There is a variant in which a monochromator with a lamp is used as an illuminator 1 in a magneto-optical video microscope.
Существует вариант, в котором в магнитооптическом видеомикроскопе цифровая камера 2 может быть сопряжена с системой охлаждения 16 (фиг. 3).There is an option in which in a magneto-optical video microscope the digital camera 2 can be coupled with a cooling system 16 (Fig. 3).
Существует вариант (фиг. 4), в котором в магнитооптическом видеомикроскопе поляризатор 5, анализатор 6 и четвертьволновая пластинка 15 установлены с использованием винтового механизма вращения вокруг оптической оси поляризатора 17, винтового механизма вращения вокруг оптической оси анализатора 18 и винтового механизма вращения вокруг оптической оси четвертьволновой пластинки 19 соответственно.There is a variant (Fig. 4) in which in a magneto-optical video microscope the polarizer 5, analyzer 6 and quarter-wave plate 15 are installed using a screw mechanism for rotation around the optical axis of the polarizer 17, a screw mechanism for rotation around the optical axis of the analyzer 18 and a screw mechanism for rotation around the optical axis of the quarter-wave plate 19, respectively.
Устройство работает следующим образом. Исследуемый образец 8, обладающий перпендикулярной магнитной анизотропией, помещают на держатель образца 9. Перемещение образца 8 во время сканирования по трем осям координат осуществляется с помощью пьезосканера 10, команды на который подаются с блока управления 13. Во время сканирования систему рекомендуется юстировать таким образом, чтобы образец 8 и зондовый датчик 7, помещенный в держатель зондового датчика 11, оказывались на оптическом пути магнитооптического видеомикроскопа 14. Деформации зондового датчика 7 могут регистрироваться оптической системой регистрации деформации зондового датчика 12. Электромагнитная волна, испускаемая осветителем 1, проходя через поляризатор 5, оказывается линейно поляризованной. Отраженная в светоделителе 3 электромагнитная волна проходит сквозь объектив 4, фокусируясь на исследуемый образец 8. Поляризованная электромагнитная волна, попадая на участки с перпендикулярной магнитной анизотропией, отражается и изменяет свою поляризацию из-за полярного эффекта Керра [S. Sugano and N. Kojima, Magneto-Optics, Vol. 128 (Springer Berlin Heidelberg, Berlin, Heidelberg, 2000)] в зависимости от ориентации намагниченности доменов исследуемого образца 8. Отраженная электромагнитная волна собирается объективом 4, проходит сквозь светоделитель 3 и анализатор 6. В зависимости от угла поворота анализатора 6 и направления поляризации электромагнитной волны, отраженной от магнитных доменов образца 8, интенсивность электромагнитной волны будет меняться, что и регистрируется цифровой камерой 2.The device operates as follows. The sample 8 under study, which has perpendicular magnetic anisotropy, is placed on the sample holder 9. The movement of the sample 8 during scanning along three coordinate axes is performed using the piezo scanner 10, commands to which are sent from the control unit 13. During scanning, it is recommended to adjust the system in such a way that the sample 8 and the probe sensor 7, placed in the probe sensor holder 11, are on the optical path of the magneto-optical video microscope 14. Deformations of the probe sensor 7 can be recorded by the optical system for recording the deformation of the probe sensor 12. The electromagnetic wave emitted by the illuminator 1, passing through the polarizer 5, turns out to be linearly polarized. The electromagnetic wave reflected in the beam splitter 3 passes through the objective 4, focusing on the sample 8 under study. The polarized electromagnetic wave, hitting areas with perpendicular magnetic anisotropy, is reflected and changes its polarization due to the polar Kerr effect [S. Sugano and N. Kojima, Magneto-Optics, Vol. 128 (Springer Berlin Heidelberg, Berlin, Heidelberg, 2000)] depending on the orientation of the magnetization of the domains of the sample 8 under study. The reflected electromagnetic wave is collected by the objective 4, passes through the beam splitter 3 and the analyzer 6. Depending on the rotation angle of the analyzer 6 and the direction of polarization of the electromagnetic wave reflected from the magnetic domains of the sample 8, the intensity of the electromagnetic wave will change, which is recorded by the digital camera 2.
В тех вариантах, где в магнитооптическом видеомикроскопе между светоделителем 3 и анализатором 6 устанавливается четвертьволновая пластинка 15, возможно компенсировать паразитную эллиптическую поляризацию.In those variants where a quarter-wave plate 15 is installed between the beam splitter 3 and the analyzer 6 in the magneto-optical video microscope, it is possible to compensate for the parasitic elliptical polarization.
В тех вариантах, где в магнитооптическом видеомикроскопе в качестве осветителя 1 используется монохроматор с лампой, возможно подстроить длину электромагнитной волны.In those variants where a monochromator with a lamp is used as an illuminator 1 in a magneto-optical video microscope, it is possible to adjust the length of the electromagnetic wave.
В тех вариантах, где в магнитооптическом видеомикроскопе цифровая камера 2 сопряжена с системой охлаждения 16, удается повысить контраст магнитооптического изображения.In those embodiments where the digital camera 2 in the magneto-optical video microscope is coupled with the cooling system 16, it is possible to increase the contrast of the magneto-optical image.
В тех вариантах, где в магнитооптическом видеомикроскопе поляризатор 5, анализатор 6 и четвертьволновая пластинка 15 установлены с использованием винтового механизма вращения вокруг оптической оси поляризатора 17, винтового механизма вращения вокруг оптической оси анализатора 18 и винтового механизма вращения вокруг оптической оси четвертьволновой пластинки 19 соответственно, удается осуществлять повороты поляризатора 5, анализатора 6 и четвертьволновой пластинки 15 вокруг оптической оси, что приводит к скрещиванию отраженной от поверхности образца 8 электромагнитной волны и анализатора 6 и уменьшению интенсивности немагнитного отраженного сигнала.In those embodiments where in the magneto-optical video microscope the polarizer 5, analyzer 6 and quarter-wave plate 15 are installed using a screw mechanism for rotation around the optical axis of the polarizer 17, a screw mechanism for rotation around the optical axis of the analyzer 18 and a screw mechanism for rotation around the optical axis of the quarter-wave plate 19, respectively, it is possible to rotate the polarizer 5, analyzer 6 and quarter-wave plate 15 around the optical axis, which leads to the crossing of the electromagnetic wave reflected from the surface of the sample 8 and the analyzer 6 and a decrease in the intensity of the non-magnetic reflected signal.
То, что в сканирующем зондовом микроскопе, совмещенном с магнитооптическим микроскопом, для исследования магнитных материалов с перпендикулярной магнитной анизотропией, который состоит из пьезосканера 10 с держателем образца 9, зондового датчика 7, держателя зондового датчика 11, оптической системы регистрации деформаций зондового датчика 12 и блока управления 13, а магнитооптический микроскоп, в свою очередь, состоит из цифровой камеры 2, светоделителя 3, осветителя 1, объектива 4, поляризатора 5 и анализатора 6, позволяет визуально наблюдать доменную магнитную структуру образца 8, обладающего перпендикулярной магнитной анизотропией, что приводит к упрощению нахождения областей, отличающихся магнитной анизотропией, от остальных участков образца, наблюдению изменения магнитооптических свойств, а также к упрощению позиционирования зондового датчика в соответствующие области.The fact that in a scanning probe microscope combined with a magneto-optical microscope for studying magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy, which consists of a piezo scanner 10 with a sample holder 9, a probe sensor 7, a probe sensor holder 11, an optical system for recording deformations of the probe sensor 12 and a control unit 13, and the magneto-optical microscope, in turn, consists of a digital camera 2, a beam splitter 3, an illuminator 1, an objective 4, a polarizer 5 and an analyzer 6, makes it possible to visually observe the domain magnetic structure of a sample 8, which has perpendicular magnetic anisotropy, which leads to a simplification of finding areas that differ in magnetic anisotropy from other areas of the sample, observing changes in magneto-optical properties, as well as to a simplification of positioning the probe sensor in the corresponding areas.
То, что между светоделителем 3 и анализатором 6 устанавливается четвертьволновая пластинка 15, позволяет компенсировать паразитную эллиптическую поляризацию за счет выравнивания быстрой и медленной скоростей, что приводит к созданию круговой поляризации электромагнитной волны.The fact that a quarter-wave plate 15 is installed between the beam splitter 3 and the analyzer 6 makes it possible to compensate for the parasitic elliptical polarization by equalizing the fast and slow speeds, which leads to the creation of circular polarization of the electromagnetic wave.
То, что в качестве осветителя 1 используется монохроматор с лампой, позволяет подстроить длину электромагнитной волны за счет выделения монохроматором излучения с узким интервалом длин волн для исследования зависимости магнитооптических свойств от длины волны облучения.The fact that a monochromator with a lamp is used as illuminator 1 makes it possible to adjust the length of the electromagnetic wave by isolating radiation with a narrow range of wavelengths by the monochromator to study the dependence of magneto-optical properties on the wavelength of the radiation.
То, что цифровая камера 2 сопряжена с системой охлаждения 16, позволяет увеличить контраст магнитооптического отклика за счет уменьшения дробового шума при увеличении времени экспозиции.The fact that the digital camera 2 is coupled with the cooling system 16 makes it possible to increase the contrast of the magneto-optical response by reducing shot noise with increasing exposure time.
То, что поляризатор 5, анализатор 6 и четвертьволновая пластинка 15 размещены с использованием винтового механизма вращения вокруг оптической оси поляризатора 17, винтового механизма вращения вокруг оптической оси анализатора 18 и винтового механизма вращения вокруг оптической оси четвертьволновой пластинки 19 соответственно, позволяет осуществлять повороты поляризатора 5, анализатора 6 и четвертьволновой пластинки 15 вокруг оптической оси, что приводит к скрещиванию отраженной от поверхности образца 8 электромагнитной волны и анализатора 6 и уменьшению интенсивности немагнитного отраженного сигнала.The fact that the polarizer 5, analyzer 6 and quarter-wave plate 15 are arranged using a screw mechanism for rotation around the optical axis of the polarizer 17, a screw mechanism for rotation around the optical axis of the analyzer 18 and a screw mechanism for rotation around the optical axis of the quarter-wave plate 19, respectively, allows for rotation of the polarizer 5, analyzer 6 and quarter-wave plate 15 around the optical axis, which leads to crossing of the electromagnetic wave reflected from the surface of the sample 8 and the analyzer 6 and a decrease in the intensity of the non-magnetic reflected signal.
Claims (5)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2849975C1 true RU2849975C1 (en) | 2025-11-01 |
Family
ID=
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6606159B1 (en) * | 1999-08-02 | 2003-08-12 | Zetetic Institute | Optical storage system based on scanning interferometric near-field confocal microscopy |
| RU2418288C1 (en) * | 2009-12-09 | 2011-05-10 | Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский федеральный университет" | Method of determining magnetic properties of materials |
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6606159B1 (en) * | 1999-08-02 | 2003-08-12 | Zetetic Institute | Optical storage system based on scanning interferometric near-field confocal microscopy |
| RU2418288C1 (en) * | 2009-12-09 | 2011-05-10 | Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский федеральный университет" | Method of determining magnetic properties of materials |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Lehnert, A., Buluschek, P., Weiss, N., Giesecke, J., Treier, M., Rusponi, S., & Brune, H. (2009). High resolution in situ magneto-optic Kerr effect and scanning tunneling microscopy setup with all optical components in UHV. Review of scientific instruments, 80(2). * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7075055B2 (en) | Measuring device | |
| US8289818B2 (en) | Magneto-optic write-head characterization using the recording medium as a transducer layer | |
| JP7549650B2 (en) | Quantum information processing devices, assemblies, configurations, systems, and sensors | |
| US8659291B2 (en) | Magneto-optical detection of a field produced by a sub-resolution magnetic structure | |
| Soldatov et al. | Advanced MOKE magnetometry in wide-field Kerr-microscopy | |
| US20250258134A1 (en) | Linear array scanning device and control method | |
| CN101776575A (en) | System for measuring linear and non-linear magneto-optical Kerr rotation | |
| Soldatov et al. | Advanced, Kerr-microscopy-based MOKE magnetometry for the anisotropy characterisation of magnetic films | |
| RU2849975C1 (en) | Scanning probe microscope combined with magnetooptical microscope for investigation of magnetic materials with perpendicular magnetic anisotropy | |
| CN111505817B (en) | Phase-contrast microscopy system based on polarization coding and its imaging method | |
| CN108490375B (en) | In-situ measurement method for sample magnetism | |
| CN118671177B (en) | A magneto-optical imaging method, device and medium based on transient differential | |
| JP5550141B2 (en) | Magneto-optical defect detection method | |
| Sakaguchi et al. | 3D magnetic field vector measurement by magneto-optical imaging | |
| US6593739B1 (en) | Apparatus and method for measuring magnetization of surfaces | |
| US5583690A (en) | Faraday microscope with magneto-optical indicator as terminating element of objective lens | |
| Collins et al. | A versatile high-magnification Kerr magneto-optic microscope | |
| Fowler Jr et al. | Magnetic domains in orthoferrites by the Kerr effect | |
| Dickson et al. | High-resolution optical imaging of magnetic-domain structures | |
| Vysokikh et al. | High Resolution Magneto-optical Microscopy of Bi: YIG-thin Films with Both Domains and Topography Characterization | |
| Wright et al. | Scanning laser microscopy of magneto-optic storage media | |
| Fu et al. | Measurement System of Ferromagnetic Film Magnetic Properties Based on Mazneto-optical Kerr Effect | |
| CN217932249U (en) | Magneto-optical Kerr microscope device based on optical fiber coupling light source | |
| TELESNIN | RV TELESNIN, AG SHISHKOV, EN ILICHEVA, NG KANAVINA, and NA EKONOMOV The direct observation of the light diffraction in magnetic stripe domains of transparent Mg-Mn ferrite films was made using the Faraday effect. Diffractional effects in these films can find application as magnetic displays, in which readout can be performed by diffractio | |
| Rohrmann et al. | High-resolution Kerr observation of magnetic domains |