[go: up one dir, main page]

RU2734095C1 - Способ изготовления силицида никеля - Google Patents

Способ изготовления силицида никеля Download PDF

Info

Publication number
RU2734095C1
RU2734095C1 RU2020115338A RU2020115338A RU2734095C1 RU 2734095 C1 RU2734095 C1 RU 2734095C1 RU 2020115338 A RU2020115338 A RU 2020115338A RU 2020115338 A RU2020115338 A RU 2020115338A RU 2734095 C1 RU2734095 C1 RU 2734095C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
temperature
nickel silicide
silicide
nickel
annealing
Prior art date
Application number
RU2020115338A
Other languages
English (en)
Inventor
Гасан Абакарович Мустафаев
Абдулла Гасанович Мустафаев
Наталья Васильевна Черкесова
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ)
Priority to RU2020115338A priority Critical patent/RU2734095C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2734095C1 publication Critical patent/RU2734095C1/ru

Links

Classifications

    • H10P14/40

Landscapes

  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

Использование: для создания силицида никеля. Сущность изобретения заключается в том, что способ изготовления силицида никеля содержит осаждение пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*10сми отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин в атмосфере. Технический результат: обеспечение возможности снижения контактного сопротивления, обеспечения технологичности, улучшения параметров приборов. 1 табл.

Description

Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления силицида никеля с пониженным значением контактного сопротивления.
Известен способ изготовления силицида [Пат. 5326724 США, МКИ H01L 21/293] покрытого слоем окисла, путем формирования топологических рисунков на основе многослойных структур, включающих слой титана Тi или TiSi и окисла. Между слоями металла и окисла располагают слой нитрида титана TiN толщиной 80-100 нм, который наносят реактивным распылением, добавляя N2 в реактор, после того как толщина слоя TiN дает возможность упростить техпроцесс формирования топологического рисунка. В таких приборах из-за не технологичности формирование окисла затвора образуется большое количество дефектов, которые ухудшают электрические параметры приборов.
Известен способ изготовления слоев силицида [Пат.5043300 США, МКИ H01L 21/283] на пластине кремния. Способ включает технологию плазменной очистки пластин кремния, напыление в вакууме слоя титана в атмосфере, не содержащий кислорода, отжиг в среде азота N2 при температуре 500-695°С в течение 20-60с с формированием слоев силицида титана и нитрида, последующий повторный отжиг при температуре 800-900°С с образованием стабильной фазы силицида титана.
Недостатками этого способа являются: высокие значения контактного сопротивления, высокая дефектность, низкая технологичность.
Задача, решаемая изобретением: снижение контактного сопротивления, обеспечение технологичности, улучшение параметров приборов, повышение качества и увеличение процента выхода годных.
Задача решается формированием силицида никеля путем осаждения пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10-6 Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*1015 см-2 и отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин, в атмосфере водорода.
Технология способа состоит в следующем: на пластинах кремния р-типа проводимости с ориентацией (100), удельным сопротивлением 100 м*см, после формирования областей стока/истока и осаждения слоя подзатворного диэлектрика полевого транзистора формируется силицид никеля путем осаждения пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10-6 Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*1015см-2 отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин, в атмосфере водорода. Активные области п-канального полевого транзистора и электроды к ним формировали по стандартной технологии.
По предлагаемому способу были изготовлены и исследованы полупроводниковые приборы. Результаты обработки представлены в таблице.
Параметры полупроводникового прибора, изготовленного по стандартной технологии Параметры полупроводникового прибора, изготовленного по предлагаемой технологии
плотность дефектов, см-2 контактное сопротивление,
Ом/на квадрат
плотность дефектов, см-2 контактное сопротивление, Ом/на квадрат
1 9,1 6,7 3,6 1,2
2 8,4 7,5 3,2 1,3
3 8,1 7,8 3,7 1,1
4 7,7 8,3 3,4 1,0
5 7,4 8,5 3,1 0,9
6 8,6 6,7 3,3 1,3
7 8,2 8,4 3,4 1,2
8 9,7 7,7 3,8 1,1
9 9,5 7,5 4,3 0,95
10 7,9 7,6 3,6 0,8
11 8,3 7,1 3,1 1,3
12 7,1 7,7 3,5 0,85
13 8,4 6,8 3,2 1,2
Экспериментальные исследования показали, что выход годных структур на партии пластин, сформированных в оптимальном режиме, увеличился на 16,5%.
Технический результат: снижение контактного сопротивления, обеспечение технологичности, улучшение параметров приборов, повышение качества и увеличения процента выхода годных.
Стабильность параметров во всем эксплуатационном интервале температур была нормальной и соответствовала требованиям.

Claims (1)

  1. Способ изготовления силицида никеля, включающего подложку, содержащий процессы формирования активных областей полевого транзистора и электродов к ним, подзатворного диэлектрика, силицида, отличающийся тем, что силицид формируют путем осаждения пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10-6Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*1015 см-2 и отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин в атмосфере водорода.
RU2020115338A 2020-05-02 2020-05-02 Способ изготовления силицида никеля RU2734095C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020115338A RU2734095C1 (ru) 2020-05-02 2020-05-02 Способ изготовления силицида никеля

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2020115338A RU2734095C1 (ru) 2020-05-02 2020-05-02 Способ изготовления силицида никеля

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2734095C1 true RU2734095C1 (ru) 2020-10-12

Family

ID=72940240

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2020115338A RU2734095C1 (ru) 2020-05-02 2020-05-02 Способ изготовления силицида никеля

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2734095C1 (ru)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5043300A (en) * 1990-04-16 1991-08-27 Applied Materials, Inc. Single anneal step process for forming titanium silicide on semiconductor wafer
US5326724A (en) * 1991-12-27 1994-07-05 Texas Instruments Incorporated Oxide-capped titanium silicide formation
US6365446B1 (en) * 2000-07-03 2002-04-02 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Formation of silicided ultra-shallow junctions using implant through metal technology and laser annealing process
US20070202692A1 (en) * 2006-02-27 2007-08-30 Seiko Epson Corporation Method for forming silicide and method for fabricating semiconductor device
US7713798B2 (en) * 2003-03-12 2010-05-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Thin film transistor substrate having nickel-silicide layer
RU2688874C1 (ru) * 2018-07-11 2019-05-22 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) Способ изготовления полупроводникового прибора
CN110473781A (zh) * 2019-08-13 2019-11-19 上海华力集成电路制造有限公司 镍硅化物的制造方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5043300A (en) * 1990-04-16 1991-08-27 Applied Materials, Inc. Single anneal step process for forming titanium silicide on semiconductor wafer
US5326724A (en) * 1991-12-27 1994-07-05 Texas Instruments Incorporated Oxide-capped titanium silicide formation
US6365446B1 (en) * 2000-07-03 2002-04-02 Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. Formation of silicided ultra-shallow junctions using implant through metal technology and laser annealing process
US7713798B2 (en) * 2003-03-12 2010-05-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Thin film transistor substrate having nickel-silicide layer
US20070202692A1 (en) * 2006-02-27 2007-08-30 Seiko Epson Corporation Method for forming silicide and method for fabricating semiconductor device
RU2688874C1 (ru) * 2018-07-11 2019-05-22 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) Способ изготовления полупроводникового прибора
CN110473781A (zh) * 2019-08-13 2019-11-19 上海华力集成电路制造有限公司 镍硅化物的制造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8299466B2 (en) Thin film transistors having multiple doped silicon layers
WO2021093127A1 (zh) AlGaN/GaN欧姆接触电极及其制备方法和降低欧姆接触的方法
KR0147626B1 (ko) 타이타늄 카본 나이트라이드 게이트전극 형성방법
RU2734095C1 (ru) Способ изготовления силицида никеля
RU2751983C1 (ru) Способ изготовления силицида титана
RU2791268C1 (ru) Способ формирования полевых транзисторов
RU2734094C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2688874C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
KR20040015670A (ko) 탄탈륨 필름 침착방법
RU2834220C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2786689C1 (ru) Способ формирования силицида
RU2850163C1 (ru) Способ изготовления силицида тантала
RU2688851C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2851652C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2836128C1 (ru) Способ изготовления радиационно-стойкого полупроводникового прибора
RU2757177C1 (ru) Способ изготовления силицидных контактов из вольфрама
RU2787299C1 (ru) Способ формирования полевых транзисторов
RU2591237C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2770173C1 (ru) Способ формирования оксинитрида кремния
RU2854732C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2748335C1 (ru) Способ изготовления мелкозалегающих переходов
RU2842583C1 (ru) Способ увеличения адгезии
RU2791442C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2804604C1 (ru) Способ изготовления полупроводникового прибора
RU2698540C1 (ru) Способ изготовления контактно-барьерной металлизации