RU2734095C1 - Способ изготовления силицида никеля - Google Patents
Способ изготовления силицида никеля Download PDFInfo
- Publication number
- RU2734095C1 RU2734095C1 RU2020115338A RU2020115338A RU2734095C1 RU 2734095 C1 RU2734095 C1 RU 2734095C1 RU 2020115338 A RU2020115338 A RU 2020115338A RU 2020115338 A RU2020115338 A RU 2020115338A RU 2734095 C1 RU2734095 C1 RU 2734095C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- temperature
- nickel silicide
- silicide
- nickel
- annealing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H10P14/40—
Landscapes
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
Использование: для создания силицида никеля. Сущность изобретения заключается в том, что способ изготовления силицида никеля содержит осаждение пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*10сми отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин в атмосфере. Технический результат: обеспечение возможности снижения контактного сопротивления, обеспечения технологичности, улучшения параметров приборов. 1 табл.
Description
Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления силицида никеля с пониженным значением контактного сопротивления.
Известен способ изготовления силицида [Пат. 5326724 США, МКИ H01L 21/293] покрытого слоем окисла, путем формирования топологических рисунков на основе многослойных структур, включающих слой титана Тi или TiSi и окисла. Между слоями металла и окисла располагают слой нитрида титана TiN толщиной 80-100 нм, который наносят реактивным распылением, добавляя N2 в реактор, после того как толщина слоя TiN дает возможность упростить техпроцесс формирования топологического рисунка. В таких приборах из-за не технологичности формирование окисла затвора образуется большое количество дефектов, которые ухудшают электрические параметры приборов.
Известен способ изготовления слоев силицида [Пат.5043300 США, МКИ H01L 21/283] на пластине кремния. Способ включает технологию плазменной очистки пластин кремния, напыление в вакууме слоя титана в атмосфере, не содержащий кислорода, отжиг в среде азота N2 при температуре 500-695°С в течение 20-60с с формированием слоев силицида титана и нитрида, последующий повторный отжиг при температуре 800-900°С с образованием стабильной фазы силицида титана.
Недостатками этого способа являются: высокие значения контактного сопротивления, высокая дефектность, низкая технологичность.
Задача, решаемая изобретением: снижение контактного сопротивления, обеспечение технологичности, улучшение параметров приборов, повышение качества и увеличение процента выхода годных.
Задача решается формированием силицида никеля путем осаждения пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10-6 Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*1015 см-2 и отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин, в атмосфере водорода.
Технология способа состоит в следующем: на пластинах кремния р-типа проводимости с ориентацией (100), удельным сопротивлением 100 м*см, после формирования областей стока/истока и осаждения слоя подзатворного диэлектрика полевого транзистора формируется силицид никеля путем осаждения пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10-6 Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*1015см-2 отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин, в атмосфере водорода. Активные области п-канального полевого транзистора и электроды к ним формировали по стандартной технологии.
По предлагаемому способу были изготовлены и исследованы полупроводниковые приборы. Результаты обработки представлены в таблице.
| Параметры полупроводникового прибора, изготовленного по стандартной технологии | Параметры полупроводникового прибора, изготовленного по предлагаемой технологии | |||
| № | плотность дефектов, см-2 | контактное сопротивление, Ом/на квадрат |
плотность дефектов, см-2 | контактное сопротивление, Ом/на квадрат |
| 1 | 9,1 | 6,7 | 3,6 | 1,2 |
| 2 | 8,4 | 7,5 | 3,2 | 1,3 |
| 3 | 8,1 | 7,8 | 3,7 | 1,1 |
| 4 | 7,7 | 8,3 | 3,4 | 1,0 |
| 5 | 7,4 | 8,5 | 3,1 | 0,9 |
| 6 | 8,6 | 6,7 | 3,3 | 1,3 |
| 7 | 8,2 | 8,4 | 3,4 | 1,2 |
| 8 | 9,7 | 7,7 | 3,8 | 1,1 |
| 9 | 9,5 | 7,5 | 4,3 | 0,95 |
| 10 | 7,9 | 7,6 | 3,6 | 0,8 |
| 11 | 8,3 | 7,1 | 3,1 | 1,3 |
| 12 | 7,1 | 7,7 | 3,5 | 0,85 |
| 13 | 8,4 | 6,8 | 3,2 | 1,2 |
Экспериментальные исследования показали, что выход годных структур на партии пластин, сформированных в оптимальном режиме, увеличился на 16,5%.
Технический результат: снижение контактного сопротивления, обеспечение технологичности, улучшение параметров приборов, повышение качества и увеличения процента выхода годных.
Стабильность параметров во всем эксплуатационном интервале температур была нормальной и соответствовала требованиям.
Claims (1)
- Способ изготовления силицида никеля, включающего подложку, содержащий процессы формирования активных областей полевого транзистора и электродов к ним, подзатворного диэлектрика, силицида, отличающийся тем, что силицид формируют путем осаждения пленки никеля Ni толщиной 30-50 нм в вакууме 3*10-6Па со скоростью роста 2 нм/с и последующей обработкой структур ионами ксенона Хе при температуре 175°С с энергией 300 кэВ, дозой 1*1015 см-2 и отжигом при температуре 240°С в течение 20 мин в атмосфере водорода.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2020115338A RU2734095C1 (ru) | 2020-05-02 | 2020-05-02 | Способ изготовления силицида никеля |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2020115338A RU2734095C1 (ru) | 2020-05-02 | 2020-05-02 | Способ изготовления силицида никеля |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2734095C1 true RU2734095C1 (ru) | 2020-10-12 |
Family
ID=72940240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2020115338A RU2734095C1 (ru) | 2020-05-02 | 2020-05-02 | Способ изготовления силицида никеля |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2734095C1 (ru) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5043300A (en) * | 1990-04-16 | 1991-08-27 | Applied Materials, Inc. | Single anneal step process for forming titanium silicide on semiconductor wafer |
| US5326724A (en) * | 1991-12-27 | 1994-07-05 | Texas Instruments Incorporated | Oxide-capped titanium silicide formation |
| US6365446B1 (en) * | 2000-07-03 | 2002-04-02 | Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. | Formation of silicided ultra-shallow junctions using implant through metal technology and laser annealing process |
| US20070202692A1 (en) * | 2006-02-27 | 2007-08-30 | Seiko Epson Corporation | Method for forming silicide and method for fabricating semiconductor device |
| US7713798B2 (en) * | 2003-03-12 | 2010-05-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor substrate having nickel-silicide layer |
| RU2688874C1 (ru) * | 2018-07-11 | 2019-05-22 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) | Способ изготовления полупроводникового прибора |
| CN110473781A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-11-19 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 镍硅化物的制造方法 |
-
2020
- 2020-05-02 RU RU2020115338A patent/RU2734095C1/ru active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5043300A (en) * | 1990-04-16 | 1991-08-27 | Applied Materials, Inc. | Single anneal step process for forming titanium silicide on semiconductor wafer |
| US5326724A (en) * | 1991-12-27 | 1994-07-05 | Texas Instruments Incorporated | Oxide-capped titanium silicide formation |
| US6365446B1 (en) * | 2000-07-03 | 2002-04-02 | Chartered Semiconductor Manufacturing Ltd. | Formation of silicided ultra-shallow junctions using implant through metal technology and laser annealing process |
| US7713798B2 (en) * | 2003-03-12 | 2010-05-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor substrate having nickel-silicide layer |
| US20070202692A1 (en) * | 2006-02-27 | 2007-08-30 | Seiko Epson Corporation | Method for forming silicide and method for fabricating semiconductor device |
| RU2688874C1 (ru) * | 2018-07-11 | 2019-05-22 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова" (КБГУ) | Способ изготовления полупроводникового прибора |
| CN110473781A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-11-19 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 镍硅化物的制造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8299466B2 (en) | Thin film transistors having multiple doped silicon layers | |
| WO2021093127A1 (zh) | AlGaN/GaN欧姆接触电极及其制备方法和降低欧姆接触的方法 | |
| KR0147626B1 (ko) | 타이타늄 카본 나이트라이드 게이트전극 형성방법 | |
| RU2734095C1 (ru) | Способ изготовления силицида никеля | |
| RU2751983C1 (ru) | Способ изготовления силицида титана | |
| RU2791268C1 (ru) | Способ формирования полевых транзисторов | |
| RU2734094C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2688874C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| KR20040015670A (ko) | 탄탈륨 필름 침착방법 | |
| RU2834220C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2786689C1 (ru) | Способ формирования силицида | |
| RU2850163C1 (ru) | Способ изготовления силицида тантала | |
| RU2688851C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2851652C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2836128C1 (ru) | Способ изготовления радиационно-стойкого полупроводникового прибора | |
| RU2757177C1 (ru) | Способ изготовления силицидных контактов из вольфрама | |
| RU2787299C1 (ru) | Способ формирования полевых транзисторов | |
| RU2591237C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2770173C1 (ru) | Способ формирования оксинитрида кремния | |
| RU2854732C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2748335C1 (ru) | Способ изготовления мелкозалегающих переходов | |
| RU2842583C1 (ru) | Способ увеличения адгезии | |
| RU2791442C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2804604C1 (ru) | Способ изготовления полупроводникового прибора | |
| RU2698540C1 (ru) | Способ изготовления контактно-барьерной металлизации |