RU2018792C1 - Method and device for aligning fabric-perot interferometer - Google Patents
Method and device for aligning fabric-perot interferometer Download PDFInfo
- Publication number
- RU2018792C1 RU2018792C1 SU4921600A RU2018792C1 RU 2018792 C1 RU2018792 C1 RU 2018792C1 SU 4921600 A SU4921600 A SU 4921600A RU 2018792 C1 RU2018792 C1 RU 2018792C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- interferometer
- scanning
- plates
- diameter
- aperture
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к оптике и может быть использовано в интерферометрии, спектроскопии, лазерной технике, оптическом производстве. The invention relates to optics and can be used in interferometry, spectroscopy, laser technology, optical production.
Для юстировки интерферометров Фабри-Перо (ИФП), состоящих из двух светоделительных пластин, применяется способ, основанный на визуальном контроле интерференционных колец равного наклона. Юстировка, т.е. установка параллельности отражающих поверхностей пластин ИФП, считается удовлетворительной, если обеспечивается постоянство диаметров колец при перемещении глаза наблюдателя в перпендикулярных к оптической оси направлениях. To align the Fabry-Perot interferometers (IFP), consisting of two beam-splitting plates, a method based on the visual control of interference rings of equal inclination is used. Adjustment i.e. setting the parallelism of the reflective surfaces of the IFP plates is considered satisfactory if the diameters of the rings are constant when the observer's eyes are moved in directions perpendicular to the optical axis.
Известен способ юстировки ИФП с помощью колец равного наклона, получаемых с использованием лазерного (точечного) источника света, в котором непараллельность пластин ИФП определяется по величине смещения центра колец от оптической оси системы регистрации. A known method of adjusting the IFP using rings of equal slope obtained using a laser (point) light source, in which the non-parallelism of the IFP plates is determined by the displacement of the center of the rings from the optical axis of the registration system.
Минимальное изменение базы в пределах апертуры интерферометра, которое может быть обнаружено первым способом, составляет λ/(20...30), чувствительность второго способа оценивается в несколько угл.сек. Такая точность является недостаточной во многих случаях. Кроме того, визуальные наблюдения интерференционной картины утомительны и не исключают грубых ошибок из-за субьективности оценок оператора. The minimum base change within the aperture of the interferometer, which can be detected by the first method, is λ / (20 ... 30), the sensitivity of the second method is estimated at several angular sec. Such accuracy is insufficient in many cases. In addition, visual observations of the interference pattern are tedious and do not exclude gross errors due to the subjectivity of the operator estimates.
Модификацией первого способа является способ фотографической регистрации системы интерференционных колец, получаемых с помощью фасеточной линзы, представляющей собой набор большого числа идентичных линз. Каждая линза позволяет контролировать "свой" небольшой участок поверхности интерферометра. Изменения в толщине промежутка между пластинами определяются по вариациям диаметра центрального интерференционного пятна. Этим способом контролируются отклонения, меньшие чем λ/100. В качестве недостатков этого способа, следует отметить сложность изготовления фасеточной линзы, низкую эффективность его для ИФП с малой апертурой, он требует длительного времени на получение и обработку интерферограмм, т.е. обладает низкой оперативностью. A modification of the first method is a method of photographic registration of a system of interference rings obtained using a facet lens, which is a set of a large number of identical lenses. Each lens allows you to control "your" small area of the surface of the interferometer. Changes in the thickness of the gap between the plates are determined by variations in the diameter of the central interference spot. In this way deviations less than λ / 100 are controlled. As the disadvantages of this method, it should be noted the complexity of manufacturing a facet lens, its low efficiency for an IFP with a small aperture, it requires a long time to obtain and process interferograms, i.e. possesses low efficiency.
Наиболее близким известным техническим решением является способ контроля юстировки, основанный на измерении пропускания различных участков ИФП при освещении его коллимированным (параллельным) пучком света. В этом способе используется определяемая формулой Эйри связь между светопропусканием интерферометра и расстоянием между пластинами в каждой точке апертуры ИФП. Оптическая система, реализующая данный способ, включает спектральную лампу - источник квазимонохроматического света, коллимирующую и собирающую линзы, юстируемый интерферометр, сканируемую по апертуре пучка света диафрагму и фотоприемник, расположенный в фокусе собирающей линзы. Усиленный сигнал с фотоприемника регистрируется с помощью самописца. The closest known technical solution is the adjustment control method, based on measuring the transmission of various sections of the IFP when illuminated by a collimated (parallel) light beam. This method uses the relationship defined by the Airy formula between the light transmission of the interferometer and the distance between the plates at each point of the aperture of the IFP. An optical system that implements this method includes a spectral lamp — a source of quasimonochromatic light, collimating and collecting lenses, an adjustable interferometer, a diaphragm scanned along the aperture of the light beam, and a photodetector located at the focus of the collecting lens. The amplified signal from the photodetector is recorded using a recorder.
Недостатком способа является сложность устройства, осуществляющего сканирование диафрагмы, в котором движение диафрагмы задается по направляющей в виде ласточкина хвоста с помощью привода, управляемого синхронным реверсивным двигателем, крайне низкая скорость сканирования, равная ≈ 18 мм/мин неудобное для анализа представления информации с помощью самописца, что делает процесс юстировки трудоемким и неоперативным, отягощенным субъективными погрешностями, снижающими потенциальные возможности способа. The disadvantage of this method is the complexity of the device that scans the diaphragm, in which the movement of the diaphragm is set along the guide in the form of a dovetail using a drive controlled by a synchronous reversible motor, the extremely low scanning speed of ≈ 18 mm / min is inconvenient for analyzing the presentation of information using a recorder, which makes the adjustment process time-consuming and non-operational, weighed down by subjective errors that reduce the potential of the method.
Целью изобретения является повышение оперативности и снижение трудоемкости юстировки ИФП. The aim of the invention is to increase the efficiency and reduce the complexity of adjusting the IFP.
Это достигается тем, что узкий коллимированный пучок квазимонохроматического света диаметром, составляющим не более 0,2 от диаметра апертуры юстируемого ИФП, сканируют в плоскости, проходящей через центр интерферометра, с сохранением постоянства угла падения и по перепаду интенсивности пучка в крайних точках сканирования регулируют параллельность пластин ИФП в направлении сканирования. Для задания указанного характера движения пучка используется пьезодефлектор-зеркало, управляемое пьезоэлектрическими элементами, и специальная оптическая система, состоящая из двух линз. Интенсивность прошедшего ИФП света линейно зависит от базы интерферометра, если используется наклонный участок кривой пропускания Эйри. Выбор рабочего участка осуществляется небольшим наклоном ИФП относительно оптической оси системы, при котором в оптимальном случае коэффициент пропускания в центре ИФП составляет 1/2 от максимального. Если зеркала ИФП параллельны в направлении сканирования, то интенсивность пучка будет постоянной при его сканировании, в противном случае интенсивность пучка будет промодулирована по почти гармоническому закону. Для того, чтобы убедиться в полной юстировке ИФП или добиться ее необходимо дополнительно проанализировать сигнал, снимаемый с фотоприемника, при сканировании пучка света в другом азимутальном направлении. Обычно процесс юстировки следует выполнять последовательно в нескольких, в соответствии с числом регулируемых по толщине опор - разделителей пластин ИФП направлениях, проходящих через центр ИФП и соответствующую опору - разделитель. Благодаря высокой частоте сканирования 100 Гц, которую позволяет обеспечить пьезодефлектор, сигнал с фотоприемника может быть усилен с помощью селективного синхронного усилителя, реализующего наибольшее отношение сигнал/шум по сравнению с другими возможными способами обработки сигналов, и выведен на удобный для восприятия информации регистрирующий прибор (квадратичный детектор или осциллограф).This is achieved by the fact that a narrow collimated beam of quasimonochromatic light with a diameter not exceeding 0.2 of the diameter of the aperture of the aligned IFP is scanned in a plane passing through the center of the interferometer, while maintaining a constant angle of incidence and regulating the parallelism of the plates by the difference in beam intensity at the extreme points of scanning IFP in the scanning direction. To specify the specified nature of the beam motion, a piezoelectric reflector-mirror, controlled by piezoelectric elements, and a special optical system consisting of two lenses are used. The intensity of the transmitted IFP light linearly depends on the base of the interferometer if an inclined portion of the Airy transmission curve is used. The choice of the working area is carried out by a slight inclination of the IFP relative to the optical axis of the system, in which, in the optimal case, the transmittance in the center of the IFP is 1/2 of the maximum. If the IFP mirrors are parallel in the scanning direction, then the beam intensity will be constant when it is scanned, otherwise the beam intensity will be modulated according to an almost harmonic law. In order to verify the full adjustment of the IFP or to achieve it, it is necessary to further analyze the signal taken from the photodetector when scanning the light beam in another azimuthal direction. Typically, the alignment process should be carried out sequentially in several directions, in accordance with the number of supports adjustable in thickness of the supports — separators of the IFP plates passing through the center of the IFP and the corresponding support — separator. Thanks to the high scanning frequency 100 Hz, which the piezoelectric deflector allows, the signal from the photodetector can be amplified using a selective synchronous amplifier that implements the highest signal-to-noise ratio compared to other possible signal processing methods, and a recording device (a quadratic detector or an oscilloscope) is convenient for receiving information .
Тем самым достигается высокая оперативность и максимальная возможная чувствительность (точность) юстировки. При этом процессе юстировки отсутствуют трудоемкие операции, связанные с получением и анализом информации. This ensures high efficiency and the maximum possible sensitivity (accuracy) of the adjustment. In this adjustment process, there are no laborious operations associated with obtaining and analyzing information.
Способ иллюстрирует чертеж. The method is illustrated in the drawing.
Предлагаемый способ реализован следующим образом. Слаборасходящийся пучок света от источника 1 квазимонохроматического излучения проходит диафрагму 2, задающую узкую апертуру пучка, и фокусируется сферической линзой 3 на зеркало 4, которое колеблется в одной плоскости с помощью пьезодефлектора, состоящего из двух биморфных пьезокристаллических пластин, управляемых синусоидальным напряжением (в испытаниях применен пьезодефлектор ПД-1, в котором из четырех задействованы две диагонально расположенные биморфные пьезокристаллические пластины). The proposed method is implemented as follows. A slightly diverging light beam from a
Отраженный от зеркала пучок падает на сферическую линзу 5, которая расположена так, что ее оптическая ось составляет угол ≈90о с осью падающего на зеркало 4 пучка, а ее передний фокус совпадает с задним фокусом линзы 3 и также лежит на отражающей поверхности зеркала в точке, через которую проходит ось вращения зеркала. За счет колебаний зеркала отраженный пучок сканируется вдоль диаметра линзы 5. При соблюдении указанных требований на расположение линз 3, 5 и зеркала 4 световой пучок после прохождения линзы 5 коллимируется и распространяется параллельно оптической оси в любом положении при его сканировании. Это обеспечивает постоянство угла падения светового пучка на юстируемый интерферометр 6 (в испытаниях использован ИФП типа ИТ-28).The reflected beam from the mirror is incident on
Оптимальный угол падения выбирается небольшим наклоном ИФП, при котором интенсивность прошедшего через ИФП пучка равна приблизительно половине от максимальной. Если интерферометр разъюстирован, то интенсивность прошедшего пучка будет промодулирована во времени. Излучение регистрируется фотоприемником 8 (фотодиод ФД-7К) с помощью собирающей линзы 7. Сигнал с фотоприемника поступает на синхронный усилитель 9 и индицирующий прибор 10, которым может служить осциллограф или миллиамперметр, например измерительный усилитель У2-8, который выполняет функции устройств 9 и 10. Механизм крепления интерферометра 6 позволяет вращать его вокруг собственной оптической оси и фиксировать в требуемом положении. Процедура юстировки проста. Вращая ИФП вокруг своей оси, ориентируют его так, чтобы плоскость сканирования проходила по диаметру, пересекающему опору-разделитель, которому соответствует наибольший угол разъюстировки. По сигналу с фотоприемника регулируют толщину этой опоры и добиваются максимальной степени параллельности зеркал в этом направлении. Затем ориентируют ИФП на вторую опору, в направлении которой остаточный клин является наибольшим и также устраняют его юстировкой. Обычно для полной юстировки интерферометра требуется несколько (3...5) таких операций. The optimal angle of incidence is selected by a small slope of the IFP, at which the intensity of the beam transmitted through the IFP is approximately half the maximum. If the interferometer is misaligned, then the intensity of the transmitted beam will be modulated in time. The radiation is recorded by a photodetector 8 (photodiode FD-7K) using a
Предлагаемый способ по сравнению с существующими дает следующие преимущества: простота реализации способа и самой процедуры юстировки, высокие практическая точность и оперативность, низкая трудоемкость, некритичность способа к значению базы юстируемого интерферометра, удобная для оператора форма представления информации. The proposed method, in comparison with the existing ones, provides the following advantages: ease of implementation of the method and the adjustment procedure itself, high practical accuracy and efficiency, low laboriousness, uncriticality of the method to the value of the base of the adjusted interferometer, and a form of information presentation convenient for the operator.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU4921600 RU2018792C1 (en) | 1991-03-26 | 1991-03-26 | Method and device for aligning fabric-perot interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU4921600 RU2018792C1 (en) | 1991-03-26 | 1991-03-26 | Method and device for aligning fabric-perot interferometer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2018792C1 true RU2018792C1 (en) | 1994-08-30 |
Family
ID=21566412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU4921600 RU2018792C1 (en) | 1991-03-26 | 1991-03-26 | Method and device for aligning fabric-perot interferometer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2018792C1 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2302612C1 (en) * | 2005-11-21 | 2007-07-10 | Гоу Впо Сибирская Государственная Геодезическая Академия | Mode of observation of a multi-ray interferential image in reflected light with the aid of a fabry-perot interferometer |
| RU2426207C1 (en) * | 2009-12-17 | 2011-08-10 | Геворк Татевосович Микаелян | Resonance reflector |
| RU2517801C1 (en) * | 2012-10-19 | 2014-05-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук (ИОФ РАН) | Tunable fabry-perot interferometer |
-
1991
- 1991-03-26 RU SU4921600 patent/RU2018792C1/en active
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Koppelmann G, Krebs K. Optik, v.18, р.349, 1961. * |
| Нагибина И.М. Интерференция и дифракция света. Л.: Машиностроение, 1985, с.136. * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2302612C1 (en) * | 2005-11-21 | 2007-07-10 | Гоу Впо Сибирская Государственная Геодезическая Академия | Mode of observation of a multi-ray interferential image in reflected light with the aid of a fabry-perot interferometer |
| RU2426207C1 (en) * | 2009-12-17 | 2011-08-10 | Геворк Татевосович Микаелян | Resonance reflector |
| RU2517801C1 (en) * | 2012-10-19 | 2014-05-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук (ИОФ РАН) | Tunable fabry-perot interferometer |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4872756A (en) | Dual path interferometer with varying difference in path length | |
| KR100917912B1 (en) | Single Polarizer Focus Ellipsometer | |
| US6320665B1 (en) | Acousto optic scanning laser vibrometer for determining the dynamic properties of an object | |
| JPH08505952A (en) | Inspection interferometer with scanning function | |
| JP4151159B2 (en) | Medium measuring device | |
| GB2120781A (en) | Investigation of a surface | |
| US4711576A (en) | Wave front aberration measuring apparatus | |
| US6753528B1 (en) | System for MEMS inspection and characterization | |
| CN212780503U (en) | Fourier near infrared spectrum interferometer and instrument for online material detection | |
| US4762417A (en) | Fringe scanning point diffraction interferometer by polarization | |
| RU2018792C1 (en) | Method and device for aligning fabric-perot interferometer | |
| JP3120885B2 (en) | Mirror surface measuring device | |
| JPS6024401B2 (en) | How to measure the physical constants of a measured object | |
| US5793514A (en) | Optical scanner for finite conjugate applications | |
| JPH04146411A (en) | Manufacturing method of fiber collimator | |
| JP2950004B2 (en) | Confocal laser microscope | |
| JP2580824Y2 (en) | Focus adjustment device | |
| JPH0540225A (en) | Scanning microscope | |
| JP2966950B2 (en) | Sample displacement measuring device | |
| JPS60211306A (en) | Adjusting method of optical system of fringe scan shearing interference measuring instrument | |
| JP2808713B2 (en) | Optical micro displacement measuring device | |
| JPS62503049A (en) | Methods and apparatus for orienting, inspecting and/or measuring two-dimensional objects | |
| JP3155569B2 (en) | Dispersion distribution measurement method | |
| JP3341779B2 (en) | Alignment device for interferometer | |
| JPH0720094A (en) | Ultrasonic oscillation measuring apparatus |