[go: up one dir, main page]

RU2018121074A - Станция и способ контроля шин - Google Patents

Станция и способ контроля шин Download PDF

Info

Publication number
RU2018121074A
RU2018121074A RU2018121074A RU2018121074A RU2018121074A RU 2018121074 A RU2018121074 A RU 2018121074A RU 2018121074 A RU2018121074 A RU 2018121074A RU 2018121074 A RU2018121074 A RU 2018121074A RU 2018121074 A RU2018121074 A RU 2018121074A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
lens
equal
station according
preceding paragraphs
light source
Prior art date
Application number
RU2018121074A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2721380C2 (ru
RU2018121074A3 (ru
Inventor
Алессандро ХЕЛД
Винченцо БОФФА
Бартоломео МОНТРУККИО
Original Assignee
Пирелли Тайр С.П.А.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пирелли Тайр С.П.А. filed Critical Пирелли Тайр С.П.А.
Publication of RU2018121074A publication Critical patent/RU2018121074A/ru
Publication of RU2018121074A3 publication Critical patent/RU2018121074A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2721380C2 publication Critical patent/RU2721380C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00Testing of vehicles
    • G01M17/007Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02Tyres
    • G01M17/027Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00Testing of vehicles
    • G01M17/007Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02Tyres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/952Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Lenses (AREA)

Claims (54)

1. Станция (100) контроля шин на линии по производству шин, содержащая
опору (120), выполненную с возможностью обеспечения опоры для шины (101), установленной на боковине, и поворота шины вокруг ее оси (140) вращения;
устройство (1) и
элемент (102) для обеспечения перемещения,
при этом устройство (1) содержит
опорную раму (2);
фланец (3) для крепления опорной рамы к элементу (102) для обеспечения перемещения;
систему (4) получения изображений для получения цифровых изображений поверхности шины (101), смонтированную на опорной раме (2), при этом система (4) получения изображений содержит:
линейную камеру (5), имеющую первую оптическую ось (7), оптическую плоскость (15), фокальную плоскость (6) и линию (16) объектива, принадлежащую фокальной плоскости и оптической плоскости, и
осветительную систему (8), выполненную с возможностью освещения, по меньшей мере, указанной линии (16) объектива, при этом осветительная система содержит источник (20) света и оптическую линзовую систему (21), имеющую вторую оптическую ось (22),
при этом оптическая линзовая система (21) содержит первую собирающую линзу (30), проксимальную по отношению к источнику света, и вторую собирающую линзу (31), расположенную со стороны, противоположной источнику света по отношению к первой линзе,
причем источник света, первая линза и вторая линза являются коаксиальными относительно второй оптической оси (22),
при этом первая линза (30) имеет числовую апертуру, которая больше или равна 0,5,
причем апертура второй линзы превышает апертуру первой линзы.
2. Станция по п.1, в которой источник (20) света имеет общую излучающую поверхность, вписанную в окружность с диаметром, который меньше или равен 10 мм.
3. Станция по п.1 или 2, в которой максимальная окружность, вписанная в общую излучающую поверхность источника света, имеет диаметр, который больше или равен 3 мм.
4. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой источник (20) света имеет излучающую поверхность с плотностью оптической мощности, которая больше или равна 0,3 Вт/мм2.
5. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой источник света выполнен с возможностью излучения некогерентного света.
6. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой источник света представляет собой светодиодный источник.
7. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой источник (20) света имеет излучающую поверхность с круглой формой.
8. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой первая линза (30) имеет числовую апертуру, которая больше или равна 0,6.
9. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой указанная апертура первой линзы (30) имеет диаметр, который больше или равен 15 мм и меньше или равен 35 мм.
10. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой заднее фокусное расстояние первой линзы (30) больше или равно 7 мм и меньше или равно 20 мм.
11. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой первая линза является асферической.
12. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая линза (31) имеет переднее фокусное расстояние, которое больше или равно 80 мм и меньше или равно 200 мм.
13. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая линза имеет числовую апертуру, которая меньше или равна 0,4.
14. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой апертура второй линзы (31) имеет диаметр, который больше или равен 30 мм и меньше или равен 60 мм.
15. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая линза (31) имеет, по меньшей мере, одну сферическую поверхность предпочтительно с радиусом кривизны, который больше или равен 40 мм и меньше или равен 60 мм.
16. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая линза (31) представляет собой плоско-выпуклую линзу с одной выпуклой поверхностью, обращенной к первой линзе.
17. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой первая линза (30) и вторая линза (31) расположены так, что соответствующие выпуклые поверхности обращены друг к другу.
18. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой разность диаметра апертуры второй линзы (31) и диаметра апертуры первой линзы (30) больше или равна 40% от диаметра апертуры первой линзы и меньше или равна 100% от диаметра апертуры первой линзы.
19. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой разность диаметра апертуры второй линзы и диаметра апертуры первой линзы больше или равна 70% от расстояния между задней вершиной (VP1) первой линзы и задней вершиной (VP2) второй линзы и меньше или равна 130% от указанного расстояния между задней вершиной (VP1) первой линзы и задней вершиной (VP2) второй линзы.
20. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой расстояние между задней вершиной (VP1) первой линзы и задней вершиной (VP2) второй линзы является фиксированным и больше или равно 10 мм и меньше или равно 20 мм.
21. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой осветительная система (8) содержит систему регулирования осевого расстояния между источником (20) света и первой линзой (30).
22. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой осевое расстояние между источником (20) света и задней вершиной (VP1) первой линзы меньше или равно заднему фокусному расстоянию первой линзы.
23. Станция по п.22, в которой разность указанного заднего фокусного расстояния и указанного осевого расстояния между источником (20) света и задней вершиной (VP1) первой линзы больше или равна 5% от указанного заднего фокусного расстояния и меньше или равна 30% от указанного заднего фокусного расстояния.
24. Станция по п.22 или 23, в которой осевое расстояние между передней вершиной (VA2) второй линзы и точкой пересечения между указанной второй оптической осью (22) и указанной фокальной плоскостью (6) меньше переднего фокусного расстояния указанной второй линзы.
25. Станция по п.22, или 23, или 24, в которой осветительная система определяет плоскость (35) изображения для источника света, расположенную на осевом расстоянии от передней вершины (VA2) указанной второй линзы (31), которое больше или равно переднему фокусному расстоянию второй линзы.
26. Станция по п.25, в которой точка пересечения между плоскостью (35) изображения и второй оптической осью (22) и точка пересечения между второй оптической осью (22) и фокальной плоскостью (6) расположены на расстоянии друг от друга, составляющем, по меньшей мере, 20 мм.
27. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая оптическая ось (22) образует острый угол с оптической плоскостью (15), который меньше или равен 15° по абсолютной величине.
28. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая оптическая ось (22) пересекает первую оптическую ось (7).
29. Станция по любому из предшествующих пунктов, в которой вторая оптическая ось (22) пересекает линию (16) объектива.
30. Способ контроля шин, включающий
размещение системы (4) получения изображений, содержащей
линейную камеру (5), имеющую первую оптическую ось (7), оптическую плоскость (15), фокальную плоскость (6) и линию (16) объектива, принадлежащую фокальной плоскости и оптической плоскости, и
осветительную систему (8), выполненную с возможностью освещения, по меньшей мере, линии (16) объектива, при этом осветительная система содержит источник (20) света и оптическую линзовую систему (21), имеющую вторую оптическую ось (22),
причем оптическая линзовая система (21) содержит первую собирающую линзу (30), проксимальную по отношению к источнику света, и вторую собирающую линзу (31), расположенную со стороны, противоположной источнику света по отношению к первой линзе,
при этом источник света, первая линза и вторая линза являются коаксиальными относительно второй оптической оси (22),
причем первая линза (30) имеет числовую апертуру, которая больше или равна 0,5,
при этом апертура второй линзы превышает апертуру первой линзы;
размещение шины (101), подлежащей контролю и имеющей поверхность, и перемещение системы (4) получения изображений рядом с шиной;
поворот шины относительно системы получения изображений таким образом, чтобы различные линейные участки поверхности шины последовательно располагались вблизи линии объектива;
последовательное получение, посредством системы получения изображений, последовательности соответствующих линейных изображений указанных различных линейных участков поверхности для получения изображения окружной зоны поверхности посредством комбинирования указанной последовательности линейных изображений.
31. Способ по п.30, в котором окружная зона поверхности представляет собой окружную зону наружной поверхности плечевой зоны, и/или протектора, и/или борта указанной шины, причем первая оптическая ось (7) расположена по существу радиально по отношению к шине.
RU2018121074A 2015-12-22 2016-12-20 Станция и способ контроля шин RU2721380C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ITUB20159248 2015-12-22
IT102015000086670 2015-12-22
PCT/IB2016/057812 WO2017109689A1 (en) 2015-12-22 2016-12-20 Station and method for checking tyres

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2018121074A true RU2018121074A (ru) 2020-01-23
RU2018121074A3 RU2018121074A3 (ru) 2020-03-27
RU2721380C2 RU2721380C2 (ru) 2020-05-19

Family

ID=55697336

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018121074A RU2721380C2 (ru) 2015-12-22 2016-12-20 Станция и способ контроля шин

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10663374B2 (ru)
EP (1) EP3365651B1 (ru)
CN (1) CN108431573B (ru)
BR (1) BR112018011617B1 (ru)
MX (1) MX375174B (ru)
RU (1) RU2721380C2 (ru)
WO (1) WO2017109689A1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109557743B (zh) * 2018-12-17 2020-06-12 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种航空相机焦面温度控制系统及其控制方法
CN113167687B (zh) * 2018-12-21 2024-11-15 倍耐力轮胎股份公司 用于检查轮胎的方法和站
CN109883322A (zh) * 2019-01-16 2019-06-14 武汉纺织大学 一种轴检仪图像采集系统及其图像采集方法
CN113093457B (zh) * 2021-03-12 2022-07-12 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种中心支撑的碳纤维多功能遥感相机

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7103460B1 (en) * 1994-05-09 2006-09-05 Automotive Technologies International, Inc. System and method for vehicle diagnostics
US7603894B2 (en) * 2000-09-08 2009-10-20 Automotive Technologies International, Inc. Self-powered tire monitoring system
EP1043578B1 (de) * 1999-04-09 2004-10-13 Steinbichler Optotechnik Gmbh Optisches Prüfgerät für Reifen
JP4514007B2 (ja) 1999-12-28 2010-07-28 株式会社ブリヂストン 被検体の外観形状検査方法及び装置
US6388819B1 (en) * 2001-01-12 2002-05-14 Eastman Kodak Company High numerical aperture objective lens assembly
JP2003240521A (ja) * 2002-02-21 2003-08-27 Bridgestone Corp 被検体の外観・形状検査方法とその装置、及び、被検体の外観・形状検出装置
DE10319099B4 (de) * 2003-04-28 2005-09-08 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren zur Interferenzmessung eines Objektes, insbesondere eines Reifens
US7269997B2 (en) 2004-06-03 2007-09-18 Snap-On Incorporated Non-contact method and system for tire analysis
JP5046688B2 (ja) * 2007-03-08 2012-10-10 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検出装置,タイヤ形状検出方法
EP2172737B1 (en) * 2007-08-06 2013-04-24 Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho Tire shape measuring system
AU2011305283B2 (en) 2010-09-24 2015-05-07 Rassini Frenos, S.A. De C.V. Method of measuring damping using optical imaging technique
TWI435105B (zh) 2011-08-22 2014-04-21 Largan Precision Co 成像用光學透鏡組
US9835524B2 (en) 2012-07-31 2017-12-05 Pirelli Tyre S.P.A. Method for segmenting the surface of a tyre and apparatus operating according to said method
ITMI20131157A1 (it) * 2013-07-10 2015-01-11 Pirelli Metodo e apparato per controllare pneumatici in una linea di produzione
EP3087366B1 (en) * 2013-12-23 2020-05-06 Pirelli Tyre S.p.A. Method and apparatus for detecting defects on tyres in a tyre production process

Also Published As

Publication number Publication date
EP3365651B1 (en) 2019-11-27
EP3365651A1 (en) 2018-08-29
BR112018011617B1 (pt) 2022-09-20
MX375174B (es) 2025-03-06
CN108431573A (zh) 2018-08-21
RU2721380C2 (ru) 2020-05-19
RU2018121074A3 (ru) 2020-03-27
WO2017109689A1 (en) 2017-06-29
US10663374B2 (en) 2020-05-26
MX2018006045A (es) 2018-08-15
US20180321114A1 (en) 2018-11-08
CN108431573B (zh) 2020-10-16
BR112018011617A2 (pt) 2018-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2018121074A (ru) Станция и способ контроля шин
MX2021001598A (es) Metodo y dispositivo para verificar neumaticos.
RU2018101232A (ru) Способ и устройство для анализа поверхности шины
MX373369B (es) Aparato y metodo para verificar neumaticos.
JP2018537671A (ja) タイヤを分析するためのデバイス及び方法
US20150286043A1 (en) Annular illumination structure
EP3094074A3 (en) Photographing apparatus, unmanned aerial vehicle having the photographing apparatus, and attitude control method for the photographing apparatus
NZ597819A (en) Optical sensor for a robotic arm with a light source, segmented mirror ring and a camera
EP3359944B1 (en) Apparatus and method for checking tyres
CN101722804A (zh) 用于装配和拆除车辆车轮的轮胎拆装机
JP2012518804A5 (ru)
EP2620695A3 (en) Vehicular headlamp
EP2511601A3 (en) Vehicle lamp
WO2010003163A3 (de) Vorrichtung zur prüfung von gegenständen
RU2017126225A (ru) Способ и устройство для контроля шин на производственной линии
CN104978732A (zh) 一种摄像机参数标定板
JP5052387B2 (ja) 中空体内面の検査方法および装置
KR20170097110A (ko) 생산라인에서 타이어를 제어하기 위한 기기
PH12019502222A1 (en) Inspection device for container and inspection method for container
EP3083219A1 (en) Method and apparatus to control manufacturing and feeding of semi-finished products in a tyre building process
EP4235255A3 (en) An optical arrangement and method for imaging a sample
CN207096080U (zh) 一种标定板投影光源
ES2949050T3 (es) Procedimiento y dispositivo para la alineación precisa del ángulo de rotación de un neumático sobre una llanta
CN206803029U (zh) 一种螺纹传动结构及应用该传动结构的光学系统
EP3239773A3 (en) Imaging device with focused illumination