[go: up one dir, main page]

RU2014149203A - Многослойная горизонтальная матрица детекторов для компьютерной томографии (кт), по меньшей мере, с одним тонким слоем матрицы фотодатчиков, расположенным, по меньшей мере, между двумя слоями матрицы сцинтилляторов - Google Patents

Многослойная горизонтальная матрица детекторов для компьютерной томографии (кт), по меньшей мере, с одним тонким слоем матрицы фотодатчиков, расположенным, по меньшей мере, между двумя слоями матрицы сцинтилляторов Download PDF

Info

Publication number
RU2014149203A
RU2014149203A RU2014149203A RU2014149203A RU2014149203A RU 2014149203 A RU2014149203 A RU 2014149203A RU 2014149203 A RU2014149203 A RU 2014149203A RU 2014149203 A RU2014149203 A RU 2014149203A RU 2014149203 A RU2014149203 A RU 2014149203A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layer
matrix
photosensor
scintillator
circuit
Prior art date
Application number
RU2014149203A
Other languages
English (en)
Inventor
Симха ЛЕВЕН
ВЕН Николас Йоханнес Антониус ВАН
Амиаз АЛТМАН
Игорь УМАН
Рафаэль ГОШЕН
Original Assignee
Конинклейке Филипс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Н.В.
Publication of RU2014149203A publication Critical patent/RU2014149203A/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
    • G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
    • G01T1/362—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry with scintillation detectors
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48—Diagnostic techniques
    • A61B6/482—Diagnostic techniques involving multiple energy imaging

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

1. Система визуализации, содержащая:чувствительную к излучению матрицу детекторов, содержащую:первый узел, включающий в себя:первый слой матрицы сцинтилляторов;первый слой матрицы фотодатчиков, оптически связанный с первым слоем матрицы сцинтилляторов; ипервую схему, электрически соединенную с первым слоем матрицы фотодатчиков;второй узел, включающий в себя:второй слой матрицы сцинтилляторов;второй слой матрицы фотодатчиков, оптически связанный со вторым слоем матрицы сцинтилляторов; ивторую схему, электрически соединенную со вторым слоем матрицы фотодатчиков; исчитывающую интегральную схему, присоединенную ко второму слою матрицы сцинтилляторов;при этом первый узел и второй узел уложены в противоположных направлениях, первая схема присоединена ко второй схеме, вторая схема электрически соединена со считывающей интегральной схемой посредством первого гибкого электрического соединения, которое проходит вдоль стороны второго слоя матрицы сцинтилляторов, и первая схема электрически соединена со считывающей интегральной схемой посредством второго гибкого электрического соединения, которое проходит вдоль упомянутой стороны.2. Система визуализации по п. 1, в которой первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков расположены между первым слоем матрицы сцинтилляторов и вторым слоем матрицы сцинтилляторов.3. Система визуализации по п. 1, в которой первый слой матрицы фотодатчиков или второй слой матрицы фотодатчиков формирует первый ток посредством прямого преобразования, который составляет менее одной десятой процента от второго тока, формируемого в первом слое матрицы фотодатчиков или в

Claims (15)

1. Система визуализации, содержащая:
чувствительную к излучению матрицу детекторов, содержащую:
первый узел, включающий в себя:
первый слой матрицы сцинтилляторов;
первый слой матрицы фотодатчиков, оптически связанный с первым слоем матрицы сцинтилляторов; и
первую схему, электрически соединенную с первым слоем матрицы фотодатчиков;
второй узел, включающий в себя:
второй слой матрицы сцинтилляторов;
второй слой матрицы фотодатчиков, оптически связанный со вторым слоем матрицы сцинтилляторов; и
вторую схему, электрически соединенную со вторым слоем матрицы фотодатчиков; и
считывающую интегральную схему, присоединенную ко второму слою матрицы сцинтилляторов;
при этом первый узел и второй узел уложены в противоположных направлениях, первая схема присоединена ко второй схеме, вторая схема электрически соединена со считывающей интегральной схемой посредством первого гибкого электрического соединения, которое проходит вдоль стороны второго слоя матрицы сцинтилляторов, и первая схема электрически соединена со считывающей интегральной схемой посредством второго гибкого электрического соединения, которое проходит вдоль упомянутой стороны.
2. Система визуализации по п. 1, в которой первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков расположены между первым слоем матрицы сцинтилляторов и вторым слоем матрицы сцинтилляторов.
3. Система визуализации по п. 1, в которой первый слой матрицы фотодатчиков или второй слой матрицы фотодатчиков формирует первый ток посредством прямого преобразования, который составляет менее одной десятой процента от второго тока, формируемого в первом слое матрицы фотодатчиков или втором слое матрицы фотодатчиков за счет света от первого слоя матрицы сцинтилляторов или второго слоя матрицы сцинтилляторов.
4. Система визуализации по п. 3, в которой первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков включают в себя материал с атомным числом менее тридцати пяти.
5. Система визуализации по п. 3, в которой первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков содержат, по меньшей мере, один из кремния или арсенида галлия.
6. Система визуализации по п. 1, в которой первый слой матрицы сцинтилляторов находится ближе к падающему излучению, чем второй слой матрицы сцинтилляторов, причем первый слой матрицы сцинтилляторов включает в себя первый материал с первым атомным числом, а второй слой матрицы сцинтилляторов, который находится дальше от падающего излучения, чем первый слой матрицы сцинтилляторов, включает в себя второй материал со вторым атомным числом, причем первое атомное число меньше второго атомного числа.
7. Система визуализации по п. 6, в которой первый слой матрицы сцинтилляторов включает в себя, по меньшей мере, один из легированного селенида цинка или легированного иттрий-гадолиний-алюминиевого граната.
8. Система визуализации по п. 6, в которой второй слой матрицы сцинтилляторов включает в себя, по меньшей мере, один из сероокиси гадолиния или лютеций-алюминиевого граната.
9. Система визуализации по п. 1, дополнительно содержащая:
различную считывающую электронику для указанных двух слоев матрицы фотодатчиков, причем указанная различная считывающая электроника уложена слоями вдоль направления падающего излучения; и
различные экраны от излучения, соответствующие различной считывающей электронике, причем экраны от излучения расположены чередующимися слоями в многослойной структуре, и каждый из них находится над соответствующей электроникой.
10. Способ, содержащий:
обнаружение излучения с помощью многоспектральной горизонтальной матрицы детекторов системы визуализации,
причем матрица детекторов включает в себя:
первый узел, включающий в себя:
первый слой матрицы сцинтилляторов;
первый слой матрицы фотодатчиков, оптически связанный с первым слоем матрицы сцинтилляторов; и
первую схему, электрически соединенную с первым слоем матрицы фотодатчиков;
второй узел, включающий в себя:
второй слой матрицы сцинтилляторов;
второй слой матрицы фотодатчиков, оптически связанный со вторым слоем матрицы сцинтилляторов; и
вторую схему, электрически соединенную со вторым слоем матрицы фотодатчиков; и
считывающую интегральную схему, присоединенную ко второму слою матрицы сцинтилляторов;
при этом первый узел и второй узел уложены в противоположных направлениях, первая схема присоединена ко второй схеме, вторая схема электрически соединена со считывающей интегральной схемой посредством первого гибкого электрического соединения, которое проходит вдоль стороны второго слоя матрицы сцинтилляторов, и первая схема электрически соединена со считывающей интегральной схемой посредством второго гибкого электрического соединения, которое проходит вдоль упомянутой стороны.
11. Способ по п. 10, в котором первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков преобразуют менее одного процента падающего на него излучения в ток прямого преобразования.
12. Способ по п. 11, в котором первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков включают в себя материал с атомным числом менее тридцати пяти.
13. Способ по п. 10, в котором первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков расположены между первым слоем матрицы сцинтилляторов и вторым слоем матрицы сцинтилляторов.
14. Способ по п. 10, в котором первый слой матрицы фотодатчиков и второй слой матрицы фотодатчиков содержат, по меньшей мере, один из кремния или арсенида галлия.
15. Способ по п. 10, в котором первый слой матрицы сцинтилляторов включает в себя, по меньшей мере, один из легированного селенида цинка или легированного иттрий-гадолиний-алюминиевого граната, а второй слой матрицы сцинтилляторов включает в себя, по меньшей мере, один из сероокиси гадолиния или лютеций-алюминиевого граната.
RU2014149203A 2012-05-07 2013-05-03 Многослойная горизонтальная матрица детекторов для компьютерной томографии (кт), по меньшей мере, с одним тонким слоем матрицы фотодатчиков, расположенным, по меньшей мере, между двумя слоями матрицы сцинтилляторов RU2014149203A (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/465,560 US9012857B2 (en) 2012-05-07 2012-05-07 Multi-layer horizontal computed tomography (CT) detector array with at least one thin photosensor array layer disposed between at least two scintillator array layers
US13/465,560 2012-05-07
PCT/IB2013/053539 WO2013168067A2 (en) 2012-05-07 2013-05-03 Multi-layer horizontal computed tomography (ct) detector array with at least one thin photosensor array layer disposed between at least two scintillator array layers

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2014149203A true RU2014149203A (ru) 2016-06-27

Family

ID=48771659

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2014149203A RU2014149203A (ru) 2012-05-07 2013-05-03 Многослойная горизонтальная матрица детекторов для компьютерной томографии (кт), по меньшей мере, с одним тонким слоем матрицы фотодатчиков, расположенным, по меньшей мере, между двумя слоями матрицы сцинтилляторов

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9012857B2 (ru)
EP (1) EP2847619B1 (ru)
JP (1) JP6247285B2 (ru)
CN (1) CN104285162B (ru)
BR (1) BR112014027512A2 (ru)
RU (1) RU2014149203A (ru)
WO (1) WO2013168067A2 (ru)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3069170B1 (en) * 2013-11-15 2020-04-15 Koninklijke Philips N.V. Double-sided organic photodetector on flexible substrate
WO2016046013A2 (en) * 2014-09-25 2016-03-31 Koninklijke Philips N.V. Ceramic material for generating light
EP3143430B1 (en) * 2014-10-31 2018-01-10 Koninklijke Philips N.V. Sensor device and imaging system for detecting radiation signals
US9482630B2 (en) 2015-01-21 2016-11-01 Toshiba Medical Systems Corporation Multiple-layered energy-integrating detector in a hybrid computed tomography scanner
US10295678B2 (en) * 2015-03-10 2019-05-21 Shimadzu Corporation X-ray detector
JP6460226B2 (ja) * 2015-04-09 2019-01-30 株式会社島津製作所 Ｘ線撮影装置
EP3320375B1 (en) * 2015-07-09 2019-02-06 Koninklijke Philips N.V. Direct conversion radiation detector
EP3226038B1 (en) * 2016-03-28 2020-05-06 Canon Kabushiki Kaisha Radiation detection apparatus and radiation imaging system
EP3455648A1 (en) * 2016-05-10 2019-03-20 Carestream Health, Inc. Flexible substrate chip-on flex repair
US10641912B1 (en) 2016-06-15 2020-05-05 Triad National Security, Llc “4H” X-ray camera
WO2018077681A1 (en) 2016-10-26 2018-05-03 Koninklijke Philips N.V. Radiation detector scintillator with an integral through-hole interconnect
GB2560552B (en) * 2017-03-15 2020-09-09 Smiths Heimann Sas Method and apparatus
CN110582708A (zh) * 2017-05-01 2019-12-17 皇家飞利浦有限公司 多层辐射探测器
EP3399344B1 (en) 2017-05-03 2021-06-30 ams International AG Semiconductor device for indirect detection of electromagnetic radiation and method of production
CN108863340B (zh) * 2017-05-16 2020-10-23 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种复合结构透明闪烁陶瓷及其制备方法
US11000701B2 (en) * 2017-08-01 2021-05-11 Varex Imaging Corporation Dual-layer detector for soft tissue motion tracking
JP2020529607A (ja) * 2017-08-03 2020-10-08 ザ・リサーチ・ファウンデーション・フォー・ザ・ステイト・ユニヴァーシティ・オブ・ニューヨーク 非対称反射スクリーンによるデュアルスクリーンデジタル放射線撮像
JP7181283B2 (ja) * 2017-08-31 2022-11-30 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ モノリシックシンチレータを有する多層検出器
CN108132266B (zh) * 2017-12-07 2021-01-26 东南大学 一种x线光路级联显微成像系统
US10267931B1 (en) * 2018-02-06 2019-04-23 Siemens Medical Solutions Usa, Inc. Radiation detector capable of measuring depth-of-interaction
EP3553568A1 (en) * 2018-04-12 2019-10-16 Koninklijke Philips N.V. X-ray detector with focused scintillator structure for uniform imaging
US11802979B2 (en) 2018-05-23 2023-10-31 The Research Foundation For The State University Of New York Flat panel x-ray imager with scintillating glass substrate
US11977037B2 (en) 2018-10-22 2024-05-07 Rapiscan Holdings, Inc. Insert for screening tray
CN112068178B (zh) * 2019-06-10 2023-08-29 睿生光电股份有限公司 放射线感测装置
CA3149539A1 (en) 2019-09-16 2021-03-25 Voti Inc. Probabilistic image analysis
EP3835829A1 (en) * 2019-12-09 2021-06-16 Koninklijke Philips N.V. X-ray detector
DE102020117484A1 (de) * 2020-07-02 2022-01-05 Smiths Heimann Gmbh Dual-energie-detektor und aufbereitungsverfahren für detektordaten
CN112834530A (zh) * 2020-12-31 2021-05-25 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 双面x射线探测器及成像方法
CN112987073A (zh) * 2021-02-10 2021-06-18 奕瑞影像科技（太仓）有限公司 双能探测器
US12019035B2 (en) 2021-07-16 2024-06-25 Rapiscan Holdings, Inc. Material detection in x-ray security screening
CN113671553B (zh) * 2021-09-03 2024-05-31 南京安科医疗科技有限公司 X射线探测阵列像素单元、制造工艺和双层能谱ct探测器

Family Cites Families (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2627923B1 (fr) 1988-02-26 1990-06-22 Thomson Csf Matrice d'elements photosensibles et detecteur de radiations comportant une telle matrice, notamment detecteur de rayons x a double energie
US5138167A (en) * 1991-01-23 1992-08-11 University Of Alabama - Birmingham Split energy radiation detection
JP3717530B2 (ja) * 1993-07-14 2005-11-16 富士写真フイルム株式会社 放射線画像検出器
JP3513884B2 (ja) * 1993-09-20 2004-03-31 富士写真フイルム株式会社 放射線検出器
JP3461236B2 (ja) * 1996-01-19 2003-10-27 キヤノン株式会社 放射線撮影装置並びに画像処理方法及び装置
JP3957803B2 (ja) * 1996-02-22 2007-08-15 キヤノン株式会社 光電変換装置
JP4408593B2 (ja) * 2001-06-27 2010-02-03 キヤノン株式会社 放射線検出装置及びシステム
JP2003130961A (ja) * 2001-07-19 2003-05-08 Siemens Ag 検出器モジュール、ｘ線コンピュータトモグラフ用の検出器およびｘ線コンピュータトモグラフによる断層像の作成方法
DE10244176A1 (de) * 2002-09-23 2004-04-08 Siemens Ag Bilddetektor für Röntgenstrahlung
DE10330595A1 (de) * 2003-07-07 2005-02-17 Siemens Ag Röntgendetektor und Verfahren zur Herstellung von Röntgenbildern mit spektraler Auflösung
US6898265B1 (en) 2003-11-20 2005-05-24 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Scintillator arrays for radiation detectors and methods of manufacture
US7308074B2 (en) 2003-12-11 2007-12-11 General Electric Company Multi-layer reflector for CT detector
US7606347B2 (en) * 2004-09-13 2009-10-20 General Electric Company Photon counting x-ray detector with overrange logic control
JP4509806B2 (ja) * 2005-01-18 2010-07-21 株式会社日立メディコ Ｉｃパッケージ及びそれを用いたｘ線ｃｔ装置
WO2006114716A2 (en) * 2005-04-26 2006-11-02 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Double decker detector for spectral ct
WO2007039839A2 (en) * 2005-10-05 2007-04-12 Koninklijke Philips Electronics N.V. Multiple layer detector for spectral computed tomography imaging
US7388208B2 (en) * 2006-01-11 2008-06-17 Ruvin Deych Dual energy x-ray detector
CN101410983B (zh) * 2006-03-30 2011-11-09 皇家飞利浦电子股份有限公司 辐射检测器阵列
US7834321B2 (en) * 2006-07-14 2010-11-16 Carestream Health, Inc. Apparatus for asymmetric dual-screen digital radiography
US7450683B2 (en) * 2006-09-07 2008-11-11 General Electric Company Tileable multi-layer detector
US8288733B2 (en) * 2007-01-31 2012-10-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation sensitive detector
EP2118684A2 (en) * 2007-03-05 2009-11-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Improved light detection in a pixelated pet detector
WO2008132634A2 (en) * 2007-04-25 2008-11-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Radiation detector having a split laminate optical coupling
US7956332B2 (en) 2008-10-29 2011-06-07 General Electric Company Multi-layer radiation detector assembly
US20100108893A1 (en) * 2008-11-04 2010-05-06 Array Optronix, Inc. Devices and Methods for Ultra Thin Photodiode Arrays on Bonded Supports
US8373132B2 (en) * 2009-02-06 2013-02-12 Koninklijke Philips Electronics N. V. Radiation detector with a stack of scintillator elements and photodiode arrays
WO2010109347A1 (en) * 2009-03-25 2010-09-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Apparatus and method for data acquisition using an imaging apparatus
JP2011022132A (ja) * 2009-06-17 2011-02-03 Fujifilm Corp 放射線検出装置及び放射線画像検出システム
US9526466B2 (en) * 2009-07-16 2016-12-27 University Of Waterloo Multi-layer flat panel X-ray detector
JP2011019891A (ja) 2009-07-20 2011-02-03 Katsuhisa Hosono Ｘ線用多スペクトル型検出器
US9075150B2 (en) * 2009-07-30 2015-07-07 Carestream Health, Inc. Radiographic detector formed on scintillator
DE102010011582B4 (de) * 2010-03-16 2011-12-01 Siemens Aktiengesellschaft Detektormodul für einen Strahlendetektor und Strahlendetektor
JP2012013682A (ja) * 2010-05-31 2012-01-19 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置
JP2012026932A (ja) * 2010-07-26 2012-02-09 Fujifilm Corp 放射線検出器
JP5604326B2 (ja) * 2011-02-14 2014-10-08 富士フイルム株式会社 放射線画像検出装置及びその製造方法
TWI452688B (zh) * 2011-12-27 2014-09-11 Ind Tech Res Inst 可撓式輻射感測器

Also Published As

Publication number Publication date
BR112014027512A2 (pt) 2017-06-27
US20130292574A1 (en) 2013-11-07
CN104285162A (zh) 2015-01-14
CN104285162B (zh) 2017-08-08
WO2013168067A3 (en) 2014-03-06
US9012857B2 (en) 2015-04-21
JP2015521283A (ja) 2015-07-27
EP2847619B1 (en) 2018-09-12
JP6247285B2 (ja) 2017-12-13
EP2847619A2 (en) 2015-03-18
WO2013168067A2 (en) 2013-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2014149203A (ru) Многослойная горизонтальная матрица детекторов для компьютерной томографии (кт), по меньшей мере, с одним тонким слоем матрицы фотодатчиков, расположенным, по меньшей мере, между двумя слоями матрицы сцинтилляторов
RU2581721C2 (ru) Детектор излучения с фотодетекторами
US11275187B2 (en) Detector array for a radiation system, and related system
JP5844545B2 (ja) 放射線撮影装置
JP6574419B2 (ja) フレキシブル基板上の両面有機光検出器
CN104583806B (zh) 光子计数x射线探测器
US20130153775A1 (en) Radiation detection apparatus
WO2013065645A1 (ja) 放射線画像撮影装置、プログラムおよび放射線画像撮影方法
KR20150114570A (ko) 섬광 검출기
US9557426B2 (en) X-ray radiation detector and method for measuring X-ray radiation
CN112673286B (zh) 双传感器子像素辐射探测器
US20170052127A1 (en) Photodetector, detecting apparatus, and detecting system
CN219810870U (zh) 多层x射线探测器
KR20150046624A (ko) 엑스선 검출장치
CN105934825B (zh) 具有实现光学擦拭的光发生器的数字检测器
JP7198782B2 (ja) 直接変換放射線検出
JP2009300295A (ja) フォトンカウント検出器
KR20130107124A (ko) 엑스선 검출 장치
JP2014137373A (ja) 薄く、可撓性のあるデジタルセンサを用いる高解像度ｘ線撮像
KR101245525B1 (ko) 광 스위칭 방식을 이용하여 스캐닝하기 위한 디지털 엑스－선 영상 검출기
JP5705934B2 (ja) 放射線撮像装置およびそれを用いた放射線撮影システム
Abbaszadeh et al. Direct conversion semiconductor detectors for radiation imaging
EP3690489A1 (en) Dual-sensor subpixel radiation detector
CN105455832A (zh) 一种半导体放射线检测器以及核医学诊断装置
KR20160149904A (ko) 감마/엑스선 융합 영상 검출 장치

Legal Events

Date Code Title Description
FA92 Acknowledgement of application withdrawn (lack of supplementary materials submitted)

Effective date: 20170116